JP3778554B2 - 記録パルス発生装置 - Google Patents
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Description
【発明が属する技術分野】
本発明は、CD−R/RW及びDVDなどにデータを熱記録する際にレーザーのオン/オフ時間(データのランレングス)を補償するための時間分解能管理機能であるライトストラテジを実現させるために必要な分解能でオリジナルデータを制御可能な記録パルス発生装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
CD−R/RW及びDVDなどにおけるデータの書き込みは、ディスク表面上ヘレーザーによる熱記録を行ない、色素の変化、結晶化或いは非結晶化(“0”または“1”)することで行うが、記録すべき所定長さのピットデータをそのままLDD(Laser Diode Driver)に送っても目的どおりのピットデータが記録できるわけではない。そこで、熱記録時のレーザーのオン/オフの時間(データのランレングス)を管理してできる限り目標となるピットデータに近いピットデータを記録する補正機能としてライトストラテジ(Write Strategy、以下、WSという)が知られている。
【0003】
本発明はWSを実現させるために必要な分解能でオリジナルデータを制御可能な記録パルス発生装置に関するものであるが、本発明を説明する前にディスク表面へのデータの書き込み方法について説明する。
ディスク表面上へのレーザによる熱記録は、レーザーオン/オフの時間とディスク表面の熱分布を考慮することによって、正確なデータのラングレンスを記録することができる。
ライトストラレジは、データのラングレンスの記録精度を高める為に、レーザーダイオードの発光量を補正する機能である。以下にその動作例を示す。
図8は、ディスク表面へ長さ3Tのピット(Pit)データ(”1”)を書き込む場合の理想的な書き込む状態を示し、図8(a)は記録すべきピットデータをまた図8(b)は記録後のピットデータを示している。
理想的な状態では図8に示すように、3Tのピットデータに対して、ディスク表面には図8(b)に示すような形状のピットデータが記録される。
【0004】
しかしながら、実際には、ディスク表面へ形成すべき長さ3TのピットデータをそのままLDD(Laser Diode Driver)に送るとその出力は立ち上がり及び立ち下がりが歪んだものとなる。
即ち、図9はこの場合におけるディスク上へのデータの書き込みを説明している。図9(a)は記録すべきピットデータ波形を示す。このピットデータはそのまま第1の入力信号としてLDDに送る。図9(b)はその信号波形を示す。当然ながらピットデータと同じ同期した同じ波形である。図9(c)はLDDへの第2の入力信号(ここではLOWの状態を維持している)を表す。図9(d)は前記第1及び第2の信号を元に実際に出力されるレーザーによって、ディスク表面の温度分布を示す。図9(e)は、ディスク表面に記録したピットデータを示している。図8(b)に示す理想的なピットデータと比べればその形状の崩れは明白である。このようにピットデータはデータ品質があまり良くないため、誤ったデータとして認識される可能性がある。
これは、LDDにおけるレーザーダイオードの反応時間の遅れやディスク表面の熱伝達(分布)の遅れ時間が影響しているためで、記録したいピットデータに合わせてそのままの長さの信号をLDDに送ると図9(e)のような形状のピットデータとなるためこれらをWSで補正することが必要となるのである。
【0005】
図10はWSで補正を行ってディスク表面へのピットデータの書き込みを行う方法について説明した図である。
この記録方法では、図10(a)に示すピットデータに対して、図10(b)に示すように、LDDへの入力信号1の立ち上がり/下がりに関して、ディスク表面の熱反応時間を考慮して、ピットデータの上がり/下がりよりも早い時間へシフトしている。また、同時に信号2に関しては、図10(c)に示すように、LDDの立ち上がりを俊敏にして立ち上がり直後の記録面での熱伝達遅れをカバーする為に、オーバーライトのためのパルス信号波形を付加する補正を行う。
以上のように、ディスク表面へ長さ3Tのピットデータを書き込む為の補正信号をLDDに送ることで、図10(d)のような波形のレーザー出力が得られ、これによってディスク表面には図10(e)に示すような改善されたピットデータが記録されるため、正しいピットデータとして認識される。
【0006】
図11は、EFMデータをEFMクロックで制御してCD−R及びCD−RWに書き込む場合の制御対象の波形を示した図である。
図11(a)はEFMクロックデータの波形である。同(b)はEFMデータの波形であって、5T(T:周期)はHIGH、次の3TはLOW、次の3TはHIGHであるときの、レーザー出力の出力をCD−Rの場合は(c)に、また、CD−RWの場合は(d)に示している。いずれの場合もEFMクロック1周期(1T)以下、具体的にはその16分の1以下の時間周期でライトの補正、或いはクーリングレベル、イレースレベル、又はライトレベルの補正がなされていることが分かる。
【0007】
このようにWSによる補正を施して正確な記録を行うためには、各記録速度の周期T/16以下の分解能でオリジナル信号を制御することが必要である。
図12は、実際の記録速度に対応したEFMクロックとT(周期:1/EFMクロック)、T/16を示す数表である。この表から明らかなように、CD−R48x記録のためには、図12のT/16の値から0.3ns、即ち、最小300ps単位の時間制御が必要であることが分かる。
また、上記のような補正は、ディスクの種類、書き込みスピード(倍速)、LDDの種類などにより異なり、WSはそれぞれの特性に合わせて、随時時間の補正を行う必要がある。
【0008】
次に、先行技術文献として知られたものではないが、以上のような時間制御によりWS補正された記録パルスを得るための従来の記録パルス発生装置を図13を参照して説明する。
従来の記録パルス発生装置は、PLL発振回路1と、ディレーライン(遅延素子回路)11、システムクロック(基準クロック)発生回路12、そして図示しないコントローラ等、選択回路20等からなる。なお、ここでのシステムクロック発生回路12は、クリスタル発振器等で構成され、その発振周波数は外部環境の変化にほとんど影響されないものである。PLL発振回路1は、システムクロック発生回路12からのシステムクロックCLK(以下クロックCLK)を受けてこれの周波数にロックされ発振する発振回路であって、ディレーライン11の各インバータ素子の動作遅延時間を設定する電源電圧信号を出力する回路である。この回路には、VCO2と、1/N分周器であるカウンタ3、位相比較回路4、フィルタ(ローパスフィルタ)6、ボルテージフォロア7、1/M分周器であるカウンタ8が設けれている。
そして、ディレーライン11に加えられる前記の電圧信号は、VCO2に加えられる制御電圧Vsが当てられる。
【0009】
ここで、VCO2は、インバータ2a,2a,2a…を従属接続して出力を入力に帰還したリング発振器で構成され、ディレーライン11は、インバータ2aと同時に同じICの中の回路として集積化された等価のインバータ2bを複数段、インバータ2b,2b,2b…として同様に従属接続して構成される。インバータ2a、2bは、ここではそれぞれに加えられる電源電圧が制御電圧Vsであって、電源電圧の値に応じて1個のインバータ動作の遅延時間が変化するので、これらに加えられる電源電圧が等しいときには1個当たりのインバータの動作遅延時間は等しいものになる。両者のインバータ2a、2bの電源電圧となる制御電圧Vsは、PLL発振回路1において、システムクロック発生回路12のクロックCLKの周波数にあるいはこれに所定の係数値をかけた周波数に一致するように制御されている。すなわち、PLL発振回路1において、VCO2の出力は、1/N分周器であるカウンタ3により1/Nに分周されて位相比較回路4の一方に入力され、その他方に入力される1/M分周器であるカウンタ8を経て供給されたクロックCLKと位相比較される。
位相比較回路4の出力信号は、LPF6に加えられ、平滑化されてボルテージフォロア7に入力される。そこで、ボルテージフォロア7からは、VCO2の発振周波数をクロックCLKの周波数にロックあるいは所定の周波数比率で一致させるように制御する制御電圧Vsが発生する。
【0010】
このように、遅延素子回路を構成する各インバータ2a,2bの動作電圧を決定する電力受給ラインをボルテージフォロア7の出力にして発振回路を駆動し、ボルテージフォロア7の入力側に周波数を制御する制御電圧信号をフィルタ(LPF)6を介して入力することにより、入力側の制御電圧と等しい電圧Vsの電力供給をVCO2(リング発振器)に与えてその発振周波数をクロックCLKの周波数にロックすることができる。その結果、PLL発振回路1の発振周波数は、システムクロック発生回路12の周波数にそれぞれのカウンタ3,8の分周率1/N,1/Mに対応する比率で一致するように制御され、ロックされる。
このときの制御電圧Vsは、1個のインバータ2aの動作の遅延時間がシステムクロック発生回路12の周波数に応じて決定され、一定値となる。このことは、同じ制御電圧Vsを受けて動作するインバータ2bにも適用される。インバータ2bは、インバータ2aと同時にICの中の回路として集積化された等価のディレーライン11の素子であるからである。そこで、ディレーライン11のその入力端子の入力信号(EFMDATA−1T)に対する遅延時間は、インバータ2bの1個当たりの遅延時間τに対してその接続段数をP個とすればτ×Pにより決定される。
図中20は選択回路であって、ディレーライン11の各インバータ2段毎に設けた16個のタップ11aから前記時間差を持ったクロックを得、そのクロックを選択手段21で選択されたクロックをレベルシフタ22を通して、OR回路23の一端側に入力し、EFMDATA−1TがOR回路23の他端側に入力され、OR回路23からは記録用パルスが出力される。
【0011】
以上の従来の記録パルス発生装置では、PLLのVCO2で生成された電圧をディレイライン11へ供給し、オリジナル端子から図14(2)のEFMDATA−1Tをディレイラインへ入力し、遅延信号T’0〜T’15発生用の各タップから各々バッファ2段分ずつ位相の違う信号を出力し、次に、オリジナル信号EFMDATA−1Tとディレーラインで得られたその遅延信号T’0〜T’15を用い、800〜900ps時間の分解能で信号制御を行なっている。
【0012】
図14は、図13に示す従来の記録パルス発生装置においける各パルスの波形を示した図である。
図14(1)はEFMデータの波形であり、同(2)はEFMデータから発生した1T分短いデータであるEFMDATA−1Tの波形を示す。このデータEFMDATA−1Tを図13におけるディレーライン11の入力段に加え、選択回路で所定の時間差(位相差)を持った遅延データを選択回路出力として得たものが同(3)に示すパルス波形である。そして同(4)はOR回路23によりその両者の論理和を取ることで得られた記録パルスの波形である。
【0013】
以上説明したように、この従来の記録パルス発生装置では、時間制御をしたいオリジナル信号をディレイライン11ヘ入力し、その遅延信号とオリジナル信号を用い、信号を変化させていたため、1つのディレイライン11で複数の信号処理を行うことができない。即ち、ディレーライン11の入力はクロック1周期分短いEFMDATA−1Tのパルスであるため、原理的に複数個の記録パルスを発生することができない。例えば、ある記録パルスでT’1を選択したときには、同じ記録サイクルで他の記録パルスT’2を選択することができない、つまり一つの信号制御につき一つのディレイラインが必要であるから、複数の信号を制御するためには、制御信号の数だけのディレイラインを持たねばならず、チップサイズが増大してしまうという問題がある。
また、複雑な信号制御ができず、更に選択回路20を切り換えるタイミングを与えるクロック周期以下の記録パルスは発生はできないという問題もある。
【0014】
なお、本発明について公知発明に係る先行技術文献は見い出せない。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は以上の問題を解決すべくなされたものであって、その目的は、EFMCLK(Eight to Fourteen Modulation Clock)をディレイラインヘ入力してそれを1/16に細分化したクロックを生成し、マルチプレクサ及びフリッププロップ等から成る信号発生回路により自由にEFMデータのランレングスを変化(制御)できるようにすることであり、記録パルス発生回路を増やすだけで、一つの遅延素子回路(ディレイライン)でつまり、遅延素子回路を共通にして複数の信号処理が行なえるようにすることである。
【0016】
請求項1の発明は、複数の回路素子を多段に従属接続して構成した第1の遅延素子回路と、該遅延素子回路の前記複数の回路素子の段数に応じて初段に入力するクロックとそれぞれ異なる位相差を持った複数のファインクロックを生成する手段と、生成した複数のファインクロックから任意のファインクロックを選択する手段と、選択されたファインクロックに基づき記録パルスを発生する記録パルス発生手段と、を備えた記録パルス発生装置において、複数の回路素子を多段従属接続した発振回路を有しかつ前記初段のクロックと位相比較してこの位相比較結果に応じて電力受給ラインの電圧を制御するPLL発振回路を備え、前記第1の遅延素子回路は前記発振回路と共通の電力受給ラインに接続されており、かつ、前記第1の遅延素子回路の回路素子は前記発振回路素子と等価であることを特徴とする。
請求項2の発明は、請求項1に記載された記録パルス発生装置において、前記第1の遅延素子回路の初段に入力するクロックは記録速度に応じて周波数が変化するEFMクロックであることを特徴とする。
請求項3の発明は、請求項1又は2に記載された記録パルス発生装置において、前記クロック選択手段は前記ファインクロックと同位相でシフトとする選択信号で制御されるマルチプレクサであることを特徴とする。
請求項4の発明は、請求項4に記載された記録パルス発生装置において、前記記録パルス発生手段は、前記マルチプレクサで選択されたファインクロックに基づき動作するフリップフロップ回路を備えていることを特徴とする。
【0017】
【発明の実施の形態】
本発明の1実施形態を添付図面について説明する。
図1は、本発明の1実施形態に係る記録パルス発生装置を示す。
この装置は、CD−R/RW及びDVDの記録時に必要とされる、微細な分解能で、しかも記録パルス長に応じてリアルタイムに記録パルス幅を変化させるライトストラテジを実現するため、EFMCLK(EFMクロック)の周波数に対応して、リアルタイムでEFMCLKの1/16時間で分解能制御を行う。
図中、従来の記録パルス発生装置と同一の部分には同一の番号を付し、かつ同様の部分は既に従来装置として説明したとおりであるのでここでの説明は省略する。
この実施形態の記録パルス発生装置は、従来のそれがディレーライン11から選択したクロックとEFMデータ1Tとの論理和をとり記録用パルスを得ていたのに対し、EFMCLKをディレーライン11で遅延させる、つまり、既に説明したインバータ2bからなるリングオシレーター方式のVCO(リング発振器)を利用して、EFMCLKの遅延信号(ファインクロック)を発生させて、この信号で記録パルス発生装置25を制御して、記録パルスを発生させている。
具体的には、PLL1のVCO2の制御電圧を遅延素子回路VCO2と同等のインバーター列からなるディレーライン11に供給し、インバーター2段毎に設けた16個のタップ2bから所定の時間差を持ったファインクロックT0〜T15を得る。
既に述べたように、これらのクロック間の時間差はVCOの発振周波数に依存し、VCOの発振周波数に合わせ図中のカウンタからなる分周器3,8を設定することにより、EFMCLKの1/16の所望するファインクロックT0〜T15を得ることができる。
【0018】
ファインクロックT0〜T15を図1に示す記録パルス発生装置25のマルチプレクサ(MUX)25aで選択し、後段のフリップフロップ25bへ供給することにより、EFMCLKの1/16の時間分解能で信号制御が可能となる。
尚、図1から明らかなように、複数の信号を制御する場合には単に記録パルス発生装置25を増やすだけで、それぞれ異なる遅延パルスを発生させることができる。つまり、マルチプレクサ(MUX)25aを前記ファインクロックと同位相でシフトする選択信号で制御することにより、ファインクロックT0〜T15の1つを選択し、選択した任意のファインクロックをフリップフロップ25bのクロックに供給することにより、微細な分解能でプログラムできる記録パルスを発生することができる。
尚、記録パルスは1個に限らず各記録パルス発生装置25において、記録パルス1,2,3・・・の様に複数個発生可能で、各々独立にパルス幅の設定ができる。
【0019】
図2は、図1の記録パルス発生装置のディレーライン11の出力をレベルシフタ(LVS)回路22を通して得たファインクロック(Fine Clock)T0〜T15の1例である。
この例で示す様に、ディレーライン11は、EFMクロックをT/16ずつシフトした16個のファインクロックT0〜T15を出力する。
次に、適切なタイミングでMUX25aに前記選択信号を与えることで、この16個のファインクロックから特定のファインクロックを選択し、そのファインクロックでFF(フリップフロップ回路)25bを動作することが出来る。
尚、MUXの16チャンネルの入力から出力までの遅延時間は、各チャンネルで実用上等しくしている。
【0020】
図3はFF(フリップ・フロップ回路)25bのクロック入力を示す。
このクロック入力は、MUX(16チャンネルマルチプレクサ)25aの選択信号(Select信号)をファインクロックT0で切り換えた時、MUXに接続されたFFのクロック入力が変化する様子を示している。例えばファインクロックT0で切り換えた時、選択信号を4〜15に設定した場合、立ち上がりがT/16づつシフトした図示のような入力ファインクロックT4〜T15が得られる例に示している。
【0021】
図4は、実際の記録パルス発生装置(1),(2)のブロック図である。ここでは、3台のMUX1〜MUX3に各々ファインクロックT0〜T15が入力され、対応するFF1〜FF3では、ファインクロックT0〜T15を独立に選択出来るようになっている。
例えば、最上段のFF1に於いて、MUX1にクロック選択信号AIRO−3(APC1 Leadig CLK Selct信号:第1の記録パルス出力用立ち上がりクロック選択信号)を与えファインクロックT0〜T15から任意のクロックを選択し、適切なタイミングでデータ信号DA1(APC1 Leading Data:第1の記録パルス出力用立ち上がりデータ信号)及び許可信号ERA1(APC1 Leading Enable 信号:第1の記録パルス用立ち上がり許可信号)を与えることでFF1は選択されたファインクロック(T0〜T15)のタイミングで動作して、第1の記録パルス出力(APC1)を発生する。
他のFF2,3も同様な原理で動作させることが出来るので、複数チャンネルの記録パルス全てに、ファインクロックの分解能を与え、それぞれ記録パルスを発生することが出来る。
尚、ファインクロック(T0〜T15)以外の信号は図示しないディジタル制御回路から入来するよう構成されている。
【0022】
図5は、図4の記録パルス発生装置の動作例を示したタイミングチャートであり、ファインクロックT0〜T15は本来16クロックの信号であるが、図中ではそれらを1つのT0クロックで代表させている。
図中、AIR0−3は上述のようにMUX25aの第1の記録パルス出力(APC1)のための選択信号つまり第1の記録パルス出力(APC1)のための立ち上がりクロック選択(Leading CLK Select)信号、ERA1は第1の記録パルス出力(APC1)のための許可(Enable)信号(LOWがアクティブ)、DA1は第1の記録パルス出力(APC1)のための立ち上がりデータ(Leading data)、AIT0−3は第1の記録パルス出力(APC1)の立ち下がりクロック選択(Trailing CLK Select)信号、ETA1は第1の記録パルス出力(APC1)のための立ち上がり許可(Trailing Enable)信号(LOWがアクティブ)、A20−3は第2の記録パルス出力(APC2)のクロック選択(CLK Select)信号、EA2は第2の記録パルス出力(APC2)の許可(Enable)信号(LOWがアクティブ)、DA2は第2の記録パルス出力(APC2)のデータである。
なお、図6は以上で説明した各信号を表にまとめたものである。
【0023】
本実施形態の記録パルス発生装置は、図5に示すようにファインクロック(T0〜T15)で第1の記録パルス出力(ACP1)用の立ち上がりクロック選択(Leading CLK Select)信号に基づき、立ち上がり許可(Trailing Enable)信号ERA1がアクティブ(LOW)となるタイミングで第1の記録パルス出力(ACP1)を立ち上げる。そして、第1の記録パルス出力(ACP1)の立ち下がりクロック選択(Trailing CLK Select)信号(AIT0−3)に基づき、第1の記録パルス出力(ACP1)のための立ち下がり許可(Trailing Enable)信号ETA1がLOW(アクティブ)になるタイミングで前記第1の記録パルス出力を立ち下げる。
また、第2の記録パルス出力(ACP2)のクロック選択(CLK Select)信号A20−3に基づき、第2の記録パルス出力(ACP2)の許可(Enable)信号EA2がLOW(アクティブ)になるタイミングで前記第2の記録パルス出力(APC2)を立ち上げ、次に第2の記録パルス出力(ACP2)の許可(Enable)信号EA2が再びLOW(アクティブ)になるタイミングで前記第2の記録パルス出力(APC2)を立ち下げる。
以上のように、ファインクロックT0〜T16でオリジナルデータを補正することにより、つまりWS機能で補正された記録パルスを発生することができる。
【0024】
図7は、ファインクロックT0〜T15のシミュレーション波形例を参考までに示したものである。この波形はレイアウト後のネットワークを使用しているのでIC内部で観測できる波形と同じである。
以上の構成において、ファインクロックの分解能は、ディレーラインを構成するゲートの動作スピード限界まで高めることができる。また、ファインクロックのエッジとフリップフロップを組み合わせて使用することで複雑な出力波形を発生させることができる。
【0025】
【発明の効果】
本発明によれば、ファインクロック(T0〜T15)の分解能を所定の範囲(例えば、1.8ns〜300psの範囲)で任意に設定することができ、かつその分解能を例えば、ディレーラインを構成するインバータの段数を増やすことで容易に上げることができるため、狭パルス(例えば、3ns〜4nsの狭パルス)を発生できるため、発振器としては高周波帯(ギガヘルツ帯)の発振器を用いる必要がない。或いはライトパルストレイン発生が容易である。
更に、複数チャンネルの記録パルスを容易に発生することができだけでなく、ディスクにピットデータの記録を行う場合、その記録密度がディスク上で常に一定となるように、ディスクの径に従って自動的にEFMクロック周波数が変化するが、その際にも、ファインクロックはEFMクロックの変化に応じて自動的に追従するから、つねに正しい記録を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の1実施形態に係る記録パルス発生装置を示す。
【図2】 図1に示す記録パルス発生装置の遅延素子回路で得たクロックの1例を示す。
【図3】 図2クロックを変化させてFFに入力クロックの1例を示す。
【図4】 記録パルス発生装置の1実施例を示すブロック図である。
【図5】 図4の記録パルス発生装置の動作例を示したタイムチャートである。
【図6】 図5に示すタイムチャート中の信号の内容の説明図である。
【図7】 ファインクロックのシュミレーション波形例を示す。
【図8】 ディスク表面へピットデータを書き込む場合の理想的な書き込み例を模式的に示す図である。
【図9】 ディスク表面へピットデータを書き込む場合の実際の書き込み例を模式的に示す図である。
【図10】 ライトストレージで補正を行ってディスク表面へピットデータを書き込む方法を模式的に説明した図である。
【図11】 EFMデータを記録する場合においてWSを行った場合の実際の書き込み例を説明した図である。
【図12】 記録速度とEFMCLK(クロック)と周知T及びT/16の関係を示した数表である。
【図13】従来の記録パルス発生装置を示すブロック図である。
【図14】図13に示す従来の記録パルス発生装置においける各パルスの波形を示した図である。
【符号の説明】
1…PLL発振回路、2…VCO、2a、2b…インバータ、3…カウンタ、4…位相比較回路、6…フィルタ(ローパスフィルタ)、7…ボルテージフォロア、8…カウンタ、12…システムクロック発生回路、20…選択回路、22…レベルシフタ、25…記録パルス発生装置、25a…マルチプレクサ、25b…FF(フリップフロップ回路)
Claims (4)
- 複数の回路素子を多段に従属接続して構成した第1の遅延素子回路と、該遅延素子回路の前記複数の回路素子の段数に応じて初段に入力するクロックとそれぞれ異なる位相差を持った複数のファインクロックを生成する手段と、生成した複数のファインクロックから任意のファインクロックを選択する手段と、選択されたファインクロックに基づき記録パルスを発生する記録パルス発生手段と、を備えた記録パルス発生装置において、
複数の回路素子を多段従属接続した発振回路を有しかつ前記初段のクロックと位相比較してこの位相比較結果に応じて電力受給ラインの電圧を制御するPLL発振回路を備え、前記第1の遅延素子回路は前記発振回路と共通の電力受給ラインに接続されており、かつ、前記第1の遅延素子回路の回路素子は前記発振回路素子と等価であることを特徴とする記録パルス発生装置。 - 請求項1に記載された記録パルス発生装置において、
前記第1の遅延素子回路の初段に入力するクロックは記録速度に応じて周波数が変化するEFMクロックであることを特徴とする記録パルス発生装置。 - 請求項1又は2に記載された記録パルス発生装置において、
前記クロック選択手段は前記ファインクロックと同位相でシフトとする選択信号で制御されるマルチプレクサであることを特徴とする記録パルス発生装置。 - 請求項4に記載された記録パルス発生装置において、
前記記録パルス発生手段は、前記マルチプレクサで選択されたファインクロックに基づき動作するフリップフロップ回路を備えていることを特徴とする記録パルス発生装置。
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