JP3670366B2 - 化学分析装置 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、供給源から細菌培養器へのキュベットのコンベアに関し、詳細には１つより多いキュベットが供給源から細菌培養器へと送られているかどうかを検知することのできるキュベットの運搬装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
カップ形状のキュベットを、例えば米国特許第５，２７１，８９６号（第４図から第８図）と米国特許第５，２４４，６３３号に示されるように、供給源、例えば積層体からある種のコンベア上に落下させることが知られている。しかし、これが行われている時１つのキュベットだけが１度に分配されることが重要である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
本発明以前には、コンベアの１つの部署に１つより多いキュベットが配置されていることを詳細に知らせる装置が必要とされていた。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
上記の要求を満たす装置が提供される。
【０００５】
さらに、詳細には、本発明の１つの形態によれば、選択された反応キュベットを分析装置のキュベット分配部署から分配されたキュベットのための処理部署に運ぶコンベアを具備する化学分析装置が提供され、前記コンベアは、キュベットをコンベア上に保持しまたキュベットをコンベアから解放する手段を含んでいる。分析装置は、これがさらに、コンベア上に分配されたキュベットの数が１つより多いかどうかを、選択されたキュベットの頂端より上に突出するキュベットが存在するか存在しないかを検知することによって、検出するセンサーを含んでいる点において改良されている。
【０００６】
本発明の他の形態によれば、分配されたキュベットの数が零であるかどうかをコンベアの頂部の上方を通過したエネルギーのビームを邪魔しないことを検知することにより検出するセンサーを改良した分析装置が提供される。
【０００７】
本発明の他の形態によればキュベット内の湿式検定のため分析装置の反応キュベットを提供する方法が提供され、この方法は、
（ａ）分析装置の内部に反応キュベットの供給源を設ける段階と、
（ｂ）キュベットを前記供給源から取出しコンベア上に移動させる段階と、
（ｃ）取出されたキュベットをコンベアを動かすことにより分析装置の他の部分に運ぶ段階と、
（ｄ）前記段階（ｃ）に関連して、１つのキュベットのみが前記段階（ｂ）によりコンベア上に移動されたかどうかを検出する段階
とを含んでいる。
【０００８】
【発明の実施の形態】
本発明は、好適な型の反応キュベットを免疫学的検定のため好適な型の湿式検定分析装置で処理するよう運搬し、キュベットがコンベアから落下され光ビームにより検知される好適な実施態様について記載される。さらに、本発明は（ａ）用いられる反応キュベットの型、（ｂ）用いられる湿式検定分析装置の型、（ｃ）キュベットで行われる検定の型式、（ｄ）キュベットがコンベアから解放されるかどうか、及び（ｅ）検知のために用いられるエネルギービームの型に、それぞれ関係なく有用である。
【０００９】
したがって、図１の好適なキュベットＣは、好適な湿式検定分析装置１０に加えて、米国特許第５，２４４，６３３号に記載されたキュベットであり、さらに詳細には普通に所有された、「試薬を除去することなく積重ね可能な試薬カップ形状」なる名称の米国特許第５，４４１，８９５号に記載されているキュベットである。すなわち、このようなキュベットはキュベットの内部の表面に取付けられた抗体を用いる湿式免疫学的検定のために提供される。前記米国特許第５，４４１，８９５号の詳細は参照例として本明細書に明瞭に記載されている。
【００１０】
好ましくは、図１で、キュベットＣは多くのキュベットを積層体１４の形式で保持している供給源１２から供給される。最も底側のキュベットは矢示１８のように下方に押される適当なプランジャー１６により積層体から分配され又は取出される。複数の積層体（図示しない）が普通に所有された「固定瓶保持装置」なる名称の米国特許第５，３２２，６６８号に示されているような試薬包装を介して供給することができる。例えば前記の米国特許第５，２７１，８９６号に教示されているような、プランジャー機構が有用である。
【００１１】
キュベットＣ’が仮想矢印２０に示すように積層体から落下し離れるとき、キュベットＣ’はさらに十分に後述されるように、本発明のコンベア５０により受け止められる。このコンベアはキュベットを、軸線３４の周りに回転されキュベットを処理部署３６，３８及び４０を通って運ぶ細菌培養器リング３２に移送する。部署３６は例えば、患者標本が置かれる部署であり、部署３８と４０は試薬が必要なときに加えられる部署である。洗浄と読取りがさらに他の部署（図示しない）で行われ、この読取りは好ましくは光学的計量器で行われる。これらの他の部署のうちのある部署には好ましくは、前記米国特許第５，２４４，６３３号に記載されているような、図示しない第２の同心のリングにキュベットを移送することにより到達する。
【００１２】
図２から４のコンベア５０は好ましくは、固定された基体５８の周りを図１の矢印５６の方向に回動するよう一端５４に回動自在に取付けられたアーム５２を具備している。図示のように相互に接合された２つの部材を具備することのできる図２のアーム５２はアーム５２の一端５４の近くでアーム５２に端部６４が取付けられた一対の弾性顎６０，６２を含んでいる。アーム５２は図５の頂面６５と開口６７とを有している。これらの弾性顎は矢印６６のように内側に向って押すようこの取付けにより付勢されている。したがって、弾性顎は平常時距離“ｄ”だけ離間され、この距離“ｄ”は積層体１４から解放されたキュベットＣ''を端部６４の反対側の顎の自由端６８，７０の間に受け取り保持するのに十分な距離となっている。さらに、図３を参照されたい。
【００１３】
アーム５２が図１でリング３２の上方で仮想位置へと回動された時にキュベットＣ''を解放するため、カム部材７４が設けられる。カム部材７４は図４の矢印７６のように適当な機構によって押され顎６０と６２の端部６８，７０の間を通過する。カム部材７４の増大する傾斜は、端部６８，７０を図３の矢印８０のように端部６８，７０を離間するよう拡げる作用をし、それによりキュベットＣ''を解放しキュベットＣ''は図１のリング３２の開口８４の中に矢印８２のように落下する。拡げられ離間された端部を仮想線で示す図３をも参照されたい。
【００１４】
本発明によれば、１つより多いキュベットがコンベア５０上に分配され又は解放されたか否かを検知するため、センサー１００が図示のようにコンベアの一部として又は仮想線で示される分析装置における別の部署として、図５のように設けられる。いずれの場合も、センサー１００は電磁放射線の源１１０、例えば赤外線ビーム１１２を発するＬＥＤ（発光ダイオード）と、少なくとも１つの鏡１１４と上記の電磁放射線のためのフォトダイオード１１５のような検知器とを具備している。一対の反射面、例えば鏡１１４，１１６が用いられ、それぞれが光ビームに対し４５°の角度で、アーム５２の回動端部５４に取付けられた端部１２２から延びるアーム１２０の部分１１８と１１９にそれぞれ取付けられており、アーム１２０は１２４で上方に向って曲げられ第１の支持部（鏡１１６のための）を提供し、また１２６で下方に向って曲げられ第２の支持部（鏡１１４のための）を提供する。アームの開口１２７はキュベットＣがアーム５２を通って落下し顎６０，６２上に載ることができるようにする。（電磁線源１１０と検知器１１５は好ましくは、弾性顎６０，６２が解放した時矢印１３４のようにキュベットＣ''' が落下できる図示しない開口を有するアーム５２に平行なアーム１３２上に支持される。）図示しない公知のマイクロプロセッサーが検知器１１５からの信号を読み取り処理するために用いられる。
【００１５】
センサーの作用は好ましくは、図５で１つのキュベットＣ''' が又は他の数の、すなわち零もしくは１つより多い数のキュベットが受け取られたかどうかを検出する作用である。これは、その幅Ｗが実線で示される単一のキュベット又はキュベットＣ''' の頂部に積重ねられた第２の（又はさらに第３の）キュベットによって生じる１つより多いキュベットの両方に及ぶ、幅広のビーム１１２の、アーム５２の頂面６５を横切る投射により行われる。検知器１１５は次に、全ビームもしくはビームの一部を、又はビームの実質的にないのを検出する。これらの３つの条件はそれぞれ、キュベットが分配されない、１つだけ分配される、及び１つより多くが分配される、を表わす。受け取られた信号の強さはそれから公知のソフトウェアにより分析装置への“進行”又は“停止”の信号に変換され、ここで“進行”の信号はビームの一部が検出された時のみに生じる。
【００１６】
“停止”信号が発せられたならば、この信号は検査され受けられたビームが十分に強いか又は本質的に零の強さであるかどうかを知るようにする。前者の場合は、他の１つのキュベットが分配される。後者の場合は、コンベア５０上の１つより多いキュベットの許されない積層体が適当な部署で排除され、そしてアーム５２が１つのキュベットだけが受け取られたのを検出するまでキュベットの分配段階を繰返すため戻される。
【００１７】
このほかに（図示しないが）、ビーム１１２はその幅を狹くし、１つのキュベットだけが分配されたかもしくは分配されなかったこと（ビームは第１のキュベットによってのみ、邪魔されるように狹くなっている）又は１つの積層体（１つより多いキュベット）だけが分配されもしくは分配されなかったこと（この狹いビームが単一の分配され受け取られたキュベットの上方を通過する）を検出するようにすることができる。しかし、より良好な方法は幅広のビームＷを用い３つの条件の全てを検出することであることが理解されるであろう。
【００１８】
上記の実施態様において、センサー１００がコンベア５０と共に連続して動き、それにより１つより多いキュベットが所定位置にあるのを検知するのを、コンベアがキュベットを運んでいる間でも何時も行うことができるようにする。
【００１９】
このほかに、仮想線で示すように、鏡１１４と１１６を取付けるアーム１２０の部分１１８，１１９の代わりに、部分１１８，１１９が適当な角度で取付けられる頂部バー２０２を有する固定された部署から延びる突起とすることができる。この場合は、アーム１２０と１３２が省略されそして代わりにエネルギー源１１０と検知器１１６が仮想線で示すように部署２００の底部バー２０４上に取付けられる。そして検知は、コンベア５０を回転させ途中で部署２００を通過しキュベットをリング３２に運ぶことにより、行われる。
【００２０】
さらに他の方法は、２つの鏡の代わりに単一の鏡を用いることである。これは図６の実施態様において、行われ、鏡面がわん曲部分３００によって相互に接合された２つの平坦部分１１４Ａと１１６Ａを有する単一の鏡である。この鏡の取付けは、鏡がコンベアにより担持されるか又は所定位置に固定されるかによって、仮想線で示すようになる。
【００２１】
またさらに他の図７の実施態様においては、１つの平坦部分のみを有する単一の鏡が用いられる。さきに記載されたのと同様の部品は区別する“Ｂ”が添付された同一の参照番号が付けられている。したがって、コンベア５０ＢがＣ''' のようなキュベットを受け取るためのアーム５２Ｂを有し、またエネルギー源１１０Ｂが上記のように零、１つ、又は１つより多いキュベットを検出するよう検知器１１５Ｂと共に用いられる。しかし、鏡１１４Ｂがアーム１２０Ｂ上に取付けられ、そして他の実施態様で用いられた反射面１１６に代えて検知器１１５Ｂが取付けられている。
【００２２】
【発明の効果】
本発明の有利な技術的特徴は、分析装置がたまたま１つより多いキュベットを１度にコンベア上に分配するのを自動的に検出しそして適当な処理をとることである。
【００２３】
本発明の関連した有利の技術的特徴は、このような検知が、別の部署で検知を行うために停止することなく細菌培養器がキュベットの供給源から分析装置の載せ台へと動いている間に行われることである。
【図面の簡単な説明】
【図１】１つのキュベットをキュベットの積層源から離れるよう移送するコンベアと共に構成された分析装置の破截部分概略切断正面図である。
【図２】図１のII−II線に沿った断面図である。
【図３】図２のIII −III 線に沿った端面図である。
【図４】運搬されたキュベットの解放を示す図２と同様の断面図である。
【図５】本発明のセンサーと検知方法の破截正面図である。
【図６】他の実施態様における鏡を示す部分図である。
【図７】他の実施態様を示す図５と同様の破截正面図である。
【符号の説明】
Ｃ，Ｃ’，Ｃ''，Ｃ''' …キュベット
１０…湿式検定分析装置
１２…キュベット供給源
１４…積層体
１６…プランジャー
３２…細菌培養器リング
３６，３８，４０…処理部署
５０…コンベア
５２…アーム
５４…アーム一端
５８…基体
６０，６２…弾性顎
６５…頂面
６７…開口
６８，７０…顎自由端
７４…カム部材
１００…センサー
１１０…放射線源
１１２…赤外線ビーム
１１４，１１６…鏡
１１５…フォトダイオード
１２０…アーム
１２７…アーム開口
１３２…アーム

Claims (6)

1. 選択された１つの反応キュベットを分析装置のキュベット分配部署から処理部署へと運搬するコンベアを具備している化学分析装置であって、前記コンベアが、キュベットをコンベア上で保持しまたキュベットをコンベアから解放する手段を含んでいる化学分析装置において、コンベア上に分配されたキュベットの数が１つより多いかどうかを、選択されたキュベットの頂端より上方に突出するキュベットが存在するか存在しないかを検出することにより検知するセンサーをさらに含んでいることを特徴とする化学分析装置。
2. 前記センサーは前記コンベアの一部分であることを特徴とする請求項１に記載の化学分析装置。
3. 前記センサーは前記コンベアの一部分でなく、もしあるならば第２のキュベットを検出するのに十分に前記センサーに隣接した位置へ前記コンベアを移動させる及び前記位置から前記コンベアを移動させる手段をさらに有することを特徴とする請求項１に記載の化学分析装置。
4. 前記センサーは、光源と、光検知器と、前記光源から前記選択されたキュベットの頂端を横断して前記光検知器へ光を向けるように機能的に配置された少なくとも一つの鏡とを備えていることを特徴とする請求項１に記載の化学分析装置。
5. 前記センサーは前記コンベアの一部分であることを特徴とする請求項４に記載の化学分析装置。
6. 前記センサーは前記コンベアの一部分でなく、もしあるならば第２のキュベットを検出するのに十分に前記センサーに隣接した位置へ前記コンベアを移動させる及び前記位置から前記コンベアを移動させる手段をさらに有することを特徴とする請求項４に記載の化学分析装置。

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