JP3663953B2 - 高周波モジュールとその製造方法 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、携帯電話等に使用される高周波モジュールとその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
以下、従来の高周波モジュールについて説明する。従来の高周波モジュールは図10に示すように、セラミック等の絶縁物で形成された基台1に電子部品が装着され、その上から金属製のシールドケース2が被せられたものであった。そして、その基台には図11に示すようにワイヤー3で接続された集積回路4と、リフロー半田接続されたチップコンデンサ5及び水晶振動子(フィルタの一例として用いた)6とで温度に対して安定した性能を有する温度補償発振器(高周波モジュールの一例として用いた)が構成されていた。
【0003】
また、この温度補償発振器の小型化を図るために図12に示すように基台7に凹部10を設け、この凹部10の底面に集積回路4をワイヤーボンディング接続し、この凹部10側の天面に水晶振動子6を被せるとともにこの天面側12に縦1.0mm横0.5mmのチップコンデンサ5をクリーム半田11でリフロー接続していた。このように水晶振動子6を集積回路4に重ねることにより小型化を図っていた。
【0004】
次にその製造方法は、図13に示すように、凹部10を有するとともにこの凹部10の底面に集積回路4をワイヤーボンディング接続する第1の工程13と、この第1の工程13の後に集積回路4を接着材で封止する第2の工程14と、この第2の工程14の後に接着材を硬化させる第3の工程15と、この第3の工程15の後に凹部10の天面側12にクリーム半田を印刷する第4の工程16と、この第4の工程16の後に塗布されたクリーム半田11上にチップコンデンサ5と水晶振動子6を実装する第5の工程17と、この第5の工程17の後に熱を加えてチップコンデンサ5と水晶振動子6を基台7の天面側12に接着する第6の工程18とを有した製造方法であった。このように集積回路4の上方に水晶振動子6を装着することにより、高周波モジュールはますます小型化されてきた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、近年の更成る小型化の要求に対しては、このような従来の構成ではどうしても水晶振動子6とチップコンデンサ5を合わせた大きさより小型化するには限界があった。一方、近年の半導体技術の進歩により、集積回路は一段とサイズの小型化が進むとともにバンプ接続をベースにしたフリップチップ実装技術が開発されて、集積回路は非常に小さなスペースでの実装が可能になっている。また、チップコンデンサも例えば縦0.6mm横0.3mmという小型部品が出現し、結果として集積回路とチップコンデンサの専有面積が水晶振動子の専有面積より小さくなり、この現実に合致した構造の提案が必要となってきた。
【0006】
この発明は、このような問題点を解決するもので、小型化された高周波モジュールを提供することを目的としたものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するために本発明の高周波モジュールは、凹部内に集積回路と、この集積回路と電気的に接続されたチップコンデンサとを収納した高周波モジュールにおいて、高周波信号が入力される第1の入力端子と、この第1の入力端子に入力された信号が第1のチップコンデンサを介して供給される増幅回路と、この増幅回路の出力が供給されるフィルタと、このフィルタの出力が一方の入力に供給される混合回路と、この混合回路の出力が第2のチップコンデンサを介して供給される出力端子と、前記混合回路の他方の端子に第3のチップコンデンサを介して局部発振周波数が入力される第2の入力端子とを設けて受信器を形成し、前記フィルタは、前記基台の凹部の天面側に被せるとともに前記集積回路と電気的に接続し、フィルタと基台の大きさを略等しくした構成とするものである。これにより、小型化された高周波モジュールが実現できる。
【0008】
【発明の実施の形態】
本発明の請求項1に記載の発明は、絶縁体で形成された基台と、この基台に設けられた凹部と、この凹部の底面にフリップチップ実装された集積回路と前記凹部内に収納されるとともに前記集積回路と電気的に接続されたチップコンデンサとを備えた高周波モジュールにおいて、高周波信号が入力される第1の入力端子と、この第1の入力端子に入力された信号が第1のチップコンデンサを介して供給される増幅回路と、この増幅回路の出力が供給されるフィルタと、このフィルタの出力が一方の入力に供給される混合回路と、この混合回路の出力が第2のチップコンデンサを介して供給される出力端子と、前記混合回路の他方の端子に第3のチップコンデンサを介して局部発振周波数が入力される第2の入力端子とを設けて受信器を形成し、前記フィルタは、前記基台の凹部の天面側に被せるとともに前記集積回路と電気的に接続し、前記フィルタと前記基台の大きさを略等しくした高周波モジュールであり、このように凹部内にフリップチップ実装された集積回路とチップコンデンサを収納することにより、基台を略フィルタの大きさに等しくすることができるので、小型化された高周波モジュールが実現できる。
さらに、第1の入力端子に高周波信号を入力し、第2の入力端子に局部発振周波数を入力することにより、小型化された受信器を実現することができる。
【0009】
請求項2に記載の発明のチップコンデンサは、フィルタにクリーム半田で固着された請求項1に記載の高周波モジュールであり、フィルタ側にクリーム半田を印刷してチップコンデンサを固着することができるので、凹部内にクリーム半田を塗布する必要がなく生産効率が向上する。
【0010】
請求項3に記載の発明は、絶縁体で形成された基台と、この基台に設けられた凹部と、この凹部の底面にフリップチップ実装された集積回路と、前記基台の凹部の天面側に被せるとともに前記集積回路と電気的に接続されたフィルタと、前記凹部内に収納されるとともに前記集積回路へ電気的に接続されたチップコンデンサとを備え、前記フィルタの大きさは前記基台と略等しくするとともに、前記チップコンデンサはフィルタにクリーム半田で固着した高周波モジュールであり、フィルタ側にクリーム半田を印刷してチップコンデンサを固着することができるので、凹部内にクリーム半田を塗布する必要がなく生産効率が向上する。
【0012】
請求項に記載の発明は、絶縁体で形成された基台と、この基台に設けられた凹部と、この凹部の底面にフリップチップ実装された集積回路と、前記凹部内に収納されるとともに前記集積回路へ電気的に接続されたチップコンデンサとを備えた高周波モジュールにおいて、高周波信号が入力される入力端子と、この入力端子に入力された信号が第1のチップコンデンサを介して供給されるフィルタと、このフィルタの出力が供給される増幅回路と、この増幅回路の出力が第2のチップコンデンサを介して供給される出力端子とを設けて送信器を形成し、前記フィルタは、前記基台の凹部の天面側に被せるとともに前記集積回路と電気的に接続し、前記フィルタと前記基台との大きさを略等しくした高周波モジュールであり、入力端子に変調信号を入力し、出力端子から出力される信号をアンテナに接続することにより、小型化された送信器を実現できる。
【0013】
請求項に記載の発明は、絶縁体で形成された基台と、この基台に設けられた凹部と、この凹部の底面にフリップチップ実装されたPLL集積回路と、このPLL集積回路と電気的に接続されるとともに前記基台の凹部の天面側に被せられた電圧制御発振器とを備え、前記凹部内に前記PLL集積回路と電気的に接続されたチップ部品で形成されたローパスフィルタとを収納するとともに、前記電圧制御発振器と前記基台の大きさを略等しくした高周波モジュールであり、このように凹部内にフリップチップ実装されたPLL集積回路とチップ部品で形成されたローパスフィルタを収納することにより、基台を略電圧制御発振器の大きさに等しくすることができるので、小型化された高周波モジュールが実現される。
【0015】
請求項に記載の発明は、凹部を有するとともにこの凹部の底面に集積回路をフリップチップ実装する第1の工程と、この第1の工程の後に前記集積回路を接着材で封止する第2の工程と、この第2の工程の後に前記接着材を硬化させる第3の工程と、この第3の工程の後に前記基台凹部側の天面にクリーム半田を印刷する第4の工程とを有する第1の部品と、この第1の部品とは別であって、フィルタにクリーム半田を印刷する第1の工程と、この第1の工程の後で前記印刷されたクリーム半田上にチップコンデンサを実装する第2の工程と、この第2の工程の後で熱を加えて前記チップコンデンサを接着する第3の工程とを有する第2の部品を前記第1の部品の基台の天面に実装し、その後の熱を加えて接着する工程とから成る高周波モジュールの製造方法であり、第2の部品においてはチップコンデンサをフィルタ側に装着するため、クリーム半田を印刷することができ、生産効率が向上する。
【0016】
請求項に記載の発明は、凹部を有するとともにこの凹部の底面に集積回路をフリップチップ実装する第1の工程と、この第1の工程の後に前記集積回路を接着材で封止する第2の工程と、この第2の工程の後に前記接着材を硬化させる第3の工程とを有する第1の部品と、この第1の部品とは別であって、フィルタにクリーム半田を印刷する工程と、この工程の後で前記印刷されたクリーム半田上に前記第1の部品とチップコンデンサを実装する第4の工程と、この第4の工程の後で熱を加えて前記チップコンデンサと前記第1の部品とを同時に接着させる第5の工程とから成る高周波モジュールの製造方法であり、第5の工程でチップコンデンサと第1の部品とが同時に接着されるので、生産効率が更に向上する。
【0017】
以下、本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。
【0018】
(実施の形態1)
図1は実施の形態1における温度補償発振器(高周波モジュールの一例として用いた)の断面図である。図1において、21はセラミックで形成された基台であり、4枚のセラミックシート21a,21b,21c,21dが積層されている。その大きさは略縦3.0mm、横5.0mm、高さ0.6mmであり、中央に凹部22が形成されている。そして、この凹部22の底面22aにはチップコンデンサ23a,23bと、フリップチップ実装された集積回路24がバンプ24aで接続されている。また、25は、絶縁材としての封止剤(アンダーフィル)であり、集積回路24を底面22aに固着するとともに集積回路の回路面の保護をしている。26は、基台21の凹部22を形成する側に設けられた天面であり、集積回路24の端子がセラミック上を配線パターンで導出されている。
【0019】
27は、10〜20MHz帯の水晶振動子であり、その大きさは略縦3.0mm、横5.0mm、高さ0.7mmである。この水晶発振子27の電極は配線パターンで天面26に対応する位置28に導出され、クリーム半田で半田付けされて水晶振動子27の電極と集積回路24の端子とは電気的に接続される。また、このように、凹部22を覆うように水晶振動子27を被せて固着することにより、全体として、略縦3.0mm、横5.0mm、高さ1.3mmの大きさを有する温度補償発振器が完成する。
【0020】
このように、フリップチップ型の集積回路24をバンプ24aで接続し、縦0.6mm、横0.3mmの小型のチップコンデンサ23a,23bを凹部22内に埋設することにより、水晶振動子27と同一の形状まで小型化することができる。
【0021】
図2はその回路図である。図2において、29a,29bは集積回路24内に設けられた増幅器であり、30は温度補正回路であり、31は安定化電源回路であり、32はバリキャップダイオード(可変容量ダイオード)であり共に集積回路24内に収納されている。増幅器29aの入力と出力との間には水晶振動子27が接続されており、この増幅器29aの入力とグランドとの間に接続されたバリキャップダイオード32とで共振回路を形成し、発振周波数を決定している。そして、この増幅器29aで形成された発振器の出力は次の増幅器29bを介して出力端子33aに接続されている。また、この出力端子33aはチップコンデンサ23c(図1には示さず)を介して基台21に設けられた端子34aに接続されている。温度補正回路30は増幅器29aの入力に接続され、共振回路の温度に対する周波数変化の補正を行っている。また、33e,34eは周波数制御電圧の入力端子であり、バリキャップダイオード32に接続されて、制御電圧に応じて発振周波数を制御している。33dと34dは電源入力端子であり、電圧安定化回路31を介して各回路に安定した電圧を供給している。33b,34bはグランド端子である。また、電圧安定化回路31は、端子33cを介してチップコンデンサ23aが接続されている。
【0022】
次にその製造方法を図3を用いて説明する。本実施の形態1における温度補正発振器の製造方法は、凹部22を有するとともにこの凹部22の底面22aに集積回路24をフリップチップ実装する第1の工程35と、この第1の工程35の後に集積回路24を接着材25で封止する第2の工程36と、この第2の工程36の後に接着材25を硬化させる第3の工程37と、この第3の工程37の後に凹部22の底面22aにクリーム半田をディスペンサ等で塗布する第4の工程38と、この第4の工程38の後に塗布されたクリーム半田上にチップコンデンサ23a,23bを実装する第5の工程39と、この第5の工程39の後に熱を加えてチップコンデンサ23a,23bを接着する第6の工程40と、この第6の工程40の後に基台21の天面26側にクリーム半田を印刷する第7の工程41と、この第7の工程41の後に水晶振動子27を実装する第8の工程42と、この第8の工程42の後に水晶振動子27を天面26側に熱を加えて接着する第9の工程43とから成る温度補償発振器の製造方法であり、第4の工程38で凹部22の底面22aにクリーム半田を塗布し、第5の工程39でチップコンデンサ23a,23bを凹部22内に実装し、第6の工程40で接着するので、小型化された温度補償発振器が実現できる。
【0023】
(実施の形態2)
図4は実施の形態2における温度補償発振器(高周波モジュールの一例として用いた)の断面図である。図4において、実施の形態1と異なるところはチップコンデンサ23a,23bを水晶振動子27側にクリーム半田で固着したことである。即ち、チップコンデンサ23a,23bの配線は基台21の凹部22を形成する側の天面26と対向する面28に導出し、クリーム半田で集積回路24と電気的に接続されている。このチップコンデンサ23a,23bは(実施の形態1に於いても同様であるが)凹部22の内面22cと集積回路24の間に収納されることにより薄型化を図っている。
【0024】
このように、チップコンデンサ23a,23bを水晶振動子27側に設けることにより、クリーム半田を印刷することが可能となり、実施の形態1のようにディスペンサでクリーム半田を塗布する必要がなく、生産性が向上する。
【0025】
従って、その製造方法は図5に示すようになる。即ち、凹部22を有するとともにこの凹部22の底面22aに集積回路24をフリップチップ実装する第1の工程45と、この第1の工程45の後に集積回路24を接着材25で封止する第2の工程46と、この第2の工程46の後に接着材25を硬化させる第3の工程47と、この第3の工程47の後に基台21の凹部22の天面側26にクリーム半田を印刷する第4の工程48とを有する第1の部品49と、この第1の部品49とは別工程で、水晶振動子27にクリーム半田を印刷する第1の工程50と、この第1の工程50の後で印刷されたクリーム半田上にチップコンデンサ23a,23bを実装する第2の工程51と、この第2の工程51の後で熱を加えてチップコンデンサ23a,23bを接着する第3の工程52とを有する第2の部品53を第1の部品49の基台21の天面側26に実装する工程54と、その後で熱を加えて接着する工程55とから成る温度補償発振器の製造方法であり、第2の部品53においてはチップコンデンサ23a,23bを水晶振動子27側に装着するため、クリーム半田を印刷することが可能となり、生産効率が向上する。
【0026】
(実施の形態3)
図6は実施の形態3における温度補償発振器(高周波モジュールの一例として用いた)の製造方法の工程図である。図6において実施の形態2との相違は、基台21とチップコンデンサ23a,23bと水晶振動子27とを同時に一括して接着して生産効率を更に向上させるところにある。即ち、凹部22を有するとともにこの凹部22の底面22aに集積回路24をフリップチップ実装する第1の工程56と、この第1の工程56の後に集積回路24を接着材25で封止する第2の工程57と、この第2の工程57の後に接着材25を硬化させる第3の工程58とを有する第1の部品59と、この第1の部品59とは別の工程であって、水晶振動子27にクリーム半田を印刷する工程60と、この工程60の後で印刷されたクリーム半田上に第1の部品59とチップコンデンサ23a,23bを実装する工程61と、この工程61の後で熱を加えてチップコンデンサ23a,23bと第1の部品59とを同時に接着する工程62とから成る温度補償発振器の製造方法であり、工程62でチップコンデンサ23a,23bと第1の部品59とを同時に接着するので、生産効率が更に向上する。
【0027】
(実施の形態4)
図7は、携帯電話等に使用される受信器(高周波モジュールの一例として用いた)のブロック図である。図7において、65a,65bはSAW(表面弾性波)フィルタであり、UHF帯の周波数を通過させるバンドパスフィルタである。また、66は増幅器であり、67は混合器であり、共に集積回路69内に収納されている。また、68a,68b,68c,68dはチップコンデンサである。そして、これらの集積回路69やチップコンデンサ68a,68b,68c,68dは、絶縁性を有するセラミック製の基台70に設けられた凹部70a(図示せず)に収納されている。この実施の形態4に於いても65a,65bで形成されたSAWフィルタ65の大きさは通過させる周波数によって決定されるものであり、基台70の大きさをSAWフィルタ65の大きさに合わせることによって小型化を図っている。
【0028】
次に、この受信器の回路は図7に示すように、UHF帯の高周波信号が入力される入力端子71aと、この入力端子71aが接続されたチップコンデンサ68aと、このチップコンデンサ68aに接続されたSAWフィルタ65aと、このSAWフィルタ65aの出力に接続された増幅器66と、この増幅器66の出力に接続されたSAWフィルタ65bと、このSAWフィルタ65bの出力に接続されたチップコンデンサ68bと、このチップコンデンサ68bの出力に一方の端子が接続された混合器67と、この混合器67の出力がチップコンデンサ68cを介して接続された出力端子71bと、局部発振周波数がチップコンデンサ68dを介して混合器67の他方の端子に接続される入力端子72とから構成されている。
【0029】
なお、その製造方法は実施の形態2或いは実施の形態3と同様である。
【0030】
(実施の形態5)
図8は、携帯電話等に使用される送信器(高周波モジュールの一例として用いた)のブロック図である。図8において、73はSAWフィルタであり、UHF帯の周波数を通過させるバンドパスフィルタである。また、74は電力増幅器であり集積回路(図示せず)内に収納されている。また、76a,76b,76cはチップコンデンサである。そして、これらの集積回路やチップコンデンサ76a,76b,76cは、絶縁性を有するセラミック製の基台77に設けられた凹部(図示せず)に収納されている。この実施の形態5に於いてもSAWフィルタ73の大きさは通過させる周波数によって決定されるものであり、基台77の大きさをSAWフィルタ73の大きさに合わせることによって小型化を図っている。
【0031】
次に、この送信器の回路は図8に示すように、UHF帯の変調された高周波信号が入力される入力端子79と、この入力端子79が接続されたチップコンデンサ76aと、このチップコンデンサ76aに接続されたSAWフィルタ73と、このSAWフィルタ73の出力に接続されたチップコンデンサ76bと、このチップコンデンサ76bの出力に接続された増幅器74と、この増幅器74の出力に接続されたチップコンデンサ76cと、このチップコンデンサ76cの出力に接続された出力端子80とから構成されている。また、その製造方法は実施の形態2或いは実施の形態3と同様である。
【0032】
(実施の形態6)
図9は、実施の形態6におけるVCO(電圧制御発振器)/PLLモジュール(高周波モジュールの一例として用いた)のブロック図である。図9において、本発明のVCO/PLLモジュールは、絶縁体で形成された基台81と、この基台81に設けられた凹部82と、この凹部82の底面にフリップチップ実装されたPLL集積回路83と、このPLL集積回路83と電気的に接続されるとともに基台81の凹部の天面側に被せられたVCO85とを備えた構成である。そして、凹部82内にPLL集積回路83と電気的に接続され、チップ部品で形成されたローパスフィルタ84とを収納するとともに、VCO85と基台81の大きさを略等しくしたものであり、このように凹部82内にバンプ接続されたPLL集積回路83とチップ部品で形成されたローパスフィルタ84を収納することにより、基台81を略VCO85の大きさに等しくすることができるので、小型化されたVCO/PLLモジュールが実現できる。
【0033】
このVCO/PLLモジュールは、VCO85の出力端子85aからチップコンデンサ86(2pF)を介してPLL集積回路83の一方の入力に接続されるとともに発振器出力として出力端子87に出力している。88は基準周波数信号が入力される入力端子であり、PLL集積回路83の他方の入力に接続されている。また、このPLL集積回路83の出力はチップ部品で形成されたローパスフィルタ84を介してVCO85の入力端子85bに接続されている。
【0034】
ここで、ローパスフィルタ84は、入力に抵抗89(1キロオーム)が接続され、この出力90とグランドとの間にコンデンサ91(1000ピコファラッド)と、抵抗92(5.6キロオーム)とコンデンサ93(0.047マイクロファラッド)の直列接続体とが接続されている。また、抵抗92の出力90には抵抗94(8.2キロオーム)が接続されてVCO85の入力85bに接続されている。また、この抵抗94の出力とグランドとの間にはコンデンサ95(4700ピコファラッド)が接続されている。
【0035】
なお、その製造方法は実施の形態2或いは実施の形態3と同様であり、フィルタの代わりにVCO85を用いたものである。
【0036】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、凹部内に集積回路と、この集積回路と電気的に接続されたチップコンデンサとを収納した高周波モジュールにおいて、高周波信号が入力される第1の入力端子と、この第1の入力端子に入力された信号が第1のチップコンデンサを介して供給される増幅回路と、この増幅回路の出力が供給されるフィルタと、このフィルタの出力が一方の入力に供給される混合回路と、この混合回路の出力が第2のチップコンデンサを介して供給される出力端子と、前記混合回路の他方の端子に第3のチップコンデンサを介して局部発振周波数が入力される第2の入力端子とを設けて受信器を形成し、前記フィルタは、前記基台の凹部の天面側に被せるとともに前記集積回路と電気的に接続し、フィルタと基台の大きさを略等しくした構成としたものであり、このように凹部内に集積回路とチップコンデンサを収納することにより、基台を略フィルタの大きさに等しくすることができるので、小型化された高周波モジュールが実現できる。
さらに、第1の入力端子に高周波信号を入力し、第2の入力端子に局部発振周波数を入力することにより、小型化された高周波モジュールを実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1による温度補償発振器の断面図
【図2】同ブロック図
【図3】同工程図
【図4】本発明の実施の形態2による温度補償発振器の断面図
【図5】同工程図
【図6】同実施の形態3による温度補償発振器の工程図
【図7】同実施の形態4による受信器のブロック図
【図8】同実施の形態5による送信器のブロック図
【図9】同実施の形態6によるPCO/PLLのブロック図
【図10】従来の温度補償発振器の斜視図
【図11】同断面図
【図12】同第2の例による従来の温度制御発振器の斜視図
【図13】同工程図
【符号の説明】
21 基台
22 凹部
22a 底面
23a チップコンデンサ
23b チップコンデンサ
24 集積回路
24a バンプ
26 天面
27 水晶振動子

Claims (7)

  1. 絶縁体で形成された基台と、この基台に設けられた凹部と、この凹部の底面にフリップチップ実装された集積回路と、前記凹部内に収納されるとともに前記集積回路へ電気的に接続されたチップコンデンサとを備えた高周波モジュールにおいて、高周波信号が入力される第1の入力端子と、この第1の入力端子に入力された信号が第1のチップコンデンサを介して供給される増幅回路と、この増幅回路の出力が供給されるフィルタと、このフィルタの出力が一方の入力に供給される混合回路と、この混合回路の出力が第2のチップコンデンサを介して供給される出力端子と、前記混合回路の他方の端子に第3のチップコンデンサを介して局部発振周波数が入力される第2の入力端子とを設けて受信器を形成し、前記フィルタは、前記基台の凹部の天面側に被せるとともに前記集積回路と電気的に接続し、前記フィルタと前記基台の大きさを略等しくした高周波モジュール。
  2. チップコンデンサはフィルタにクリーム半田で固着された請求項1に記載の高周波モジュール。
  3. 絶縁体で形成された基台と、この基台に設けられた凹部と、この凹部の底面にフリップチップ実装された集積回路と、前記基台の凹部の天面側に被せるとともに前記集積回路と電気的に接続されたフィルタと、前記凹部内に収納されるとともに前記集積回路へ電気的に接続されたチップコンデンサとを備え、前記フィルタの大きさは前記基台と略等しくするとともに、前記チップコンデンサは前記フィルタにクリーム半田で固着した高周波モジュール。
  4. 絶縁体で形成された基台と、この基台に設けられた凹部と、この凹部の底面にフリップチップ実装された集積回路と、前記凹部内に収納されるとともに前記集積回路へ電気的に接続されたチップコンデンサとを備えた高周波モジュールにおいて、高周波信号が入力される入力端子と、この入力端子に入力された信号が第1のチップコンデンサを介して供給されるフィルタと、このフィルタの出力が供給される増幅回路と、この増幅回路の出力が第2のチップコンデンサを介して供給される出力端子とを設けて送信器を形成し、前記フィルタは、前記基台の凹部の天面側に被せるとともに前記集積回路と電気的に接続し、前記フィルタと前記基台との大きさを略等しくした高周波モジュール。
  5. 絶縁体で形成された基台と、この基台に設けられた凹部と、この凹部の底面にフリップチップ実装されたPLL集積回路と、このPLL集積回路と電気的に接続されるとともに前記基台の凹部の天面側に被せられた電圧制御発振器とを備え、前記凹部内に前記PLL集積回路と電気的に接続されたチップ部品で形成されたローパスフィルタとを収納するとともに、前記電圧制御発振器と前記基台の大きさを略等しくした高周波モジュール。
  6. 凹部を有するとともにこの凹部の底面に集積回路をフリップチップ実装する第1の工程と、この第1の工程の後に前記集積回路を接着材で封止する第2の工程と、この第2の工程の後に前記接着材を硬化させる第3の工程と、この第3の工程の後に前記基台凹部側の天面にクリーム半田を印刷する第4の工程とを有する第1の部品と、この第1の部品とは別であって、フィルタにクリーム半田を印刷する第1の工程と、この第1の工程の後で前記印刷されたクリーム半田上にチップコンデンサを実装する第2の工程と、この第2の工程の後で熱を加えて前記チップコンデンサを接着する第3の工程とを有する第2の部品を前記第1の部品の基台の天面に実装し、その後で熱を加えて接着する工程とから成る高周波モジュールの製造方法。
  7. 凹部を有するとともにこの凹部の底面に集積回路をフリップチップ実装する第1の工程と、この第1の工程の後に前記集積回路を接着材で封止する第2の工程と、この第2の工程の後に前記接着材を硬化させる第3の工程とを有する第1の部品と、この第1の部品とは別であって、フィルタにクリーム半田を印刷する工程と、この工程の後で前記印刷されたクリーム半田上に前記第1の部品とチップコンデンサを実装する第4の工程と、この第4の工程の後で熱を加えて前記チップコンデンサと前記第1の部品とを同時に接着させる第5の工程とから成る高周波モジュールの製造方法。
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003110396A (ja) * 2001-09-27 2003-04-11 Hokuriku Electric Ind Co Ltd 振動素子ユニット
JP2003110049A (ja) * 2001-09-28 2003-04-11 Fujitsu Ten Ltd 高周波icパッケージ、高周波icパッケージを使用する高周波ユニット及び、その製造方法
US6873529B2 (en) * 2002-02-26 2005-03-29 Kyocera Corporation High frequency module
KR100435042B1 (ko) * 2002-04-27 2004-06-07 엘지이노텍 주식회사 듀플렉스 패키지 제조방법
JP4072005B2 (ja) * 2002-06-12 2008-04-02 日本電波工業株式会社 温度補償水晶発振器
JP2004254212A (ja) * 2003-02-21 2004-09-09 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 温度補償水晶発振器
JP2004357094A (ja) * 2003-05-30 2004-12-16 Fujitsu Media Device Kk 電子部品及びパッケージ
US7965180B2 (en) * 2006-09-28 2011-06-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Wireless sensor device
US8059425B2 (en) * 2008-05-28 2011-11-15 Azurewave Technologies, Inc. Integrated circuit module with temperature compensation crystal oscillator

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4750246A (en) * 1984-10-29 1988-06-14 Hughes Aircraft Company Method of making compensated crystal oscillator
US5103283A (en) * 1989-01-17 1992-04-07 Hite Larry R Packaged integrated circuit with in-cavity decoupling capacitors
US5438305A (en) * 1991-08-12 1995-08-01 Hitachi, Ltd. High frequency module including a flexible substrate
US5405476A (en) * 1993-11-24 1995-04-11 Motorola, Inc. Method of mounting a piezoelectric element to a substrate using compliant conductive materials
SE517185C2 (sv) * 1993-12-28 2002-05-07 Ericsson Telefon Ab L M Komponentmodulanpassad oscillerande kretsanordning
US5582461A (en) * 1994-06-17 1996-12-10 Itt Automotive, Inc. Infinitely adjustable linear actuator
JPH0883882A (ja) * 1994-09-09 1996-03-26 Kokusai Electric Co Ltd 周波数シンセサイザ装置
EP0732107A3 (en) * 1995-03-16 1997-05-07 Toshiba Kk Screen device for circuit substrate
US5798557A (en) * 1996-08-29 1998-08-25 Harris Corporation Lid wafer bond packaging and micromachining
JP2974622B2 (ja) 1996-09-20 1999-11-10 松下電器産業株式会社 発振器
US6081164A (en) * 1997-01-09 2000-06-27 Seiko Epson Corporation PLL oscillator package and production method thereof
JPH10294421A (ja) * 1997-04-17 1998-11-04 Hitachi Ltd マルチチップモジュールおよびその製造方法
JPH11220090A (ja) * 1998-02-03 1999-08-10 Kenwood Corp 多層基板構造
US6133674A (en) * 1998-10-27 2000-10-17 Cts Low profile integrated oscillator having a stepped cavity

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