JP3659407B2 - 発光装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、画像表示装置等に好適な発光装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、画像表示装置の光源や画素に発光ダイオード(LED)が用いられているが、例えば図10に示すように、LEDモジュール2を基体1上に二次元的に配置して固定した後、各LEDモジュール2のアノード電極3及びカソード電極4をワイヤボンディングやハンダ付けにより基体1上の配線に接続している。
【0003】
このような画像表示装置10では、LEDモジュール2としてウエーハから切り出したLEDチップを1画素分として使用し、例えば数十万画素の画面を形成しているが、モジュールの占有面積が大きくてその面密度を高められない。
【0004】
図11には、各LEDモジュール2、例えば2R(赤色発光用)、2G(緑色発光用)及び2B(青色発光用)を基板1の面に配置し、これらを駆動制御するための画素用トランジスタ5を同一面上の異なる位置に接続固定し、配線(ワイヤボンディングも含む。)6、7によって所定の制御信号等を供給している。これでは、LEDモジュール2のみならず、画素用トランジスタ5の占有面積によって画素密度が上らず、また画素用トランジスタ5を画像領域の周辺に配置しても、配線領域の確保等により結果的に画素密度の向上に限度があることになる。
【0005】
【発明に至る経過】
本出願人は、図10に示した画像表示装置に対し、単位面積当りの半導体発光素子の占有面積を小さくし、また配線を単純化させ、コストを格段に低下させた表示装置を特願2001−67238等において既に提起した。
【0006】
この表示装置(以下、先願発明と称する。)は、例えば図12に示す構造からなっている。即ち、エポキシ樹脂からなる第1絶縁層21に埋め込んだGaN系半導体発光素子11を表示パネルとなる透明な基体31の面に所定ピッチで配置して固定するが、この場合、基体31の上面に設けられた接続用電極32−32間に半導体発光素子11を透明接着剤33で固定した後、これらの全面を覆うようにエポキシ樹脂溶液を塗布し、乾燥、加熱硬化させてエポキシ樹脂からなる第2絶縁層34を形成する。
【0007】
そして、この状態において、第2絶縁層34の上面から、内部の半導体発光素子11の引き出し電極18dと、基体31の上面の接続用電極32とにそれぞれ至る接続孔35、36を設けると共に、第2絶縁層34の上面からGaN系半導体発光素子11の引き出し電極19dに至る接続孔37を設けた後、全面にアルミニウムの蒸着又はスパッタリングを行い、フォトリソグラフィによってパターニングし、半導体発光素子11の後記のp電極18は導電層38を介して基体31の面上において接続用電極32に、また後記のn電極19は導電層39を介して第2絶縁層34の上面に導き、更にそれぞれ駆動制御回路に接続する。
【0008】
このように、半導体発光素子11を第1絶縁層21に埋め込んだ状態で、所定間隔を置いてパネル面となる基体31の面に配置して固定し、これらを第2絶縁層34で覆って電極18d、19dを引き出しているので、表示装置の単位面積当りの半導体発光素子の占める面積が小さくなり、また配線を単純化させ、コストを格段に低下させることができる。
【0009】
しかも、微小な寸法形状としたGaN系半導体発光素子11を第1絶縁層21に埋め込んで見掛けサイズの大きい半導体発光素子11とすることによって、ハンドリングを容易化できる上に、第1絶縁層21の上面に比較的大きい面積の引き出し電極18d、19dを設けることができるので、第2絶縁層34からの電極の引き出しを容易に行えるという利点もある。
【0010】
なお、上記のGaN系半導体発光素子11は、図13(A)の断面図、図13(B)の平面図に示す構造からなっている。これを製造するには、例えば、図示省略したサファイア基板の(0001)面に温度500℃でAl又はGaN等のバッファ層、続いて1000℃でシリコンをドーピングしたn型の窒化ガリウム(GaN:Si)層12を平板状に成長させ、更にこの上に設けたSiO2又はSiNマスク13の開口部に1000℃でシリコンをドーピングしたn型の窒化ガリウムを結晶成長させることにより、六角錐形状のn型半導体(GaN:Si)層14を形成する。
【0011】
そして、この六角錐の(1−101)面及びこれに等価な傾斜面上に、成長温度を下げてInGaNからなる活性層15を形成し、更にこの上にマグネシウムをドーピングしたp型の窒化ガリウム(GaN:Mg)層16を成長させた後、その表層部のp型(GaN:Mg)層16にNi/Auを蒸着して発光の反射面ともなるp電極18を形成し、また平板状の下地部(GaN:Si)12の上面のマスク13に開口を開け、Ti/Auを蒸着してn電極19を形成する。
【0012】
このようにして得られる半導体発光素子11はサファイア基板から剥離した後、支持体上に設けた第1絶縁層21中に埋め込み、これを透明支持体上に剥離転写し、各電極18d、19dを形成する。更に、半導体発光素子11が略中央部に位置するように、第1絶縁層21を所定サイズでダイシングしてチップ化し、透明支持体側からのレーザービームの照射によって接着剤を劣化させて、半導体発光素子11を第1絶縁層21に埋め込んだチップ40を透明支持体から分離する。このチップ40は、上記したように透明基体31に固定した後、第2絶縁層34を形成し、更に上記した方法で表示装置41を作製する。なお、半導体発光素子11は、LEDからなっているが、これ以外にも半導体レーザー等であってもよい(以下、同様)。
【0013】
このようにプラスチックに埋め込んで見掛けのサイズを大きくした半導体発光素子11は、引き出し電極18d、19dを駆動回路に接続し、電流を注入することにより、下地層12又は透明基体31の側へ青色の光30を放射する表示装置として作動させることができる。
【0014】
なお、上記の半導体発光素子11は、例えばp型半導体とn型半導体との接合面に順方向に電流を注入した時にキャリアである電子と正孔とが再結合して発光するものであればよく、半導体発光素子の構成材料は特に限定されない。このような発光性半導体材料としては、青色発光用の窒化ガリウム(GaN)、緑色発光用のリン化ガリウム(GaP)、赤色発光用のヒ化リン化ガリウム(GaAsP)、ヒ化アルミニウムガリウム(AlGaAs)等のガリウム系の化合物半導体、セレン化亜鉛(ZnSe)、シリコンカーバイド(SiC)等、公知の半導体であってよい。
【0015】
このような各種の半導体発光素子の材料となる化合物半導体は、有機金属化合物気相成長法(MOCVD法)、分子線エピタキシー法(MBE法)、ハイドライド気相成長法(HVPE法)などによって製造可能であるが、ハンドリングが可能である限り、なるべく微小な寸法形状とすることが望ましい。こうした微小な半導体発光素子は、化合物半導体のウエーハからチップ状に切り出すよりも、例えばサファイア基板上で化合物半導体を選択的に結晶成長させることによって比較的容易に得られる。この選択的な結晶成長によって、下端面の一辺の寸法が100〜200μm程度又はそれ以下、例えば10〜50μm程度のサイズの半導体発光素子を得ることができる。必要によっては、結晶成長させた後に、立体形状を調整するための加工処理を施してもよい。
【0016】
そして、この微小な半導体発光素子のp型半導体には、例えばNi/Auを蒸着してp電極を形成し、またn型半導体には、例えばTi/Auを蒸着してn電極を形成する。これらの電極を形成した微小な半導体発光素子はそのまま基体面に配置して固定してもよいが、半導体発光素子を特に微小な形状とし、上述したようにその周囲を第1絶縁層で覆うことにより、見掛け上のサイズを大にしてハンドリングを容易化することができる。
【0017】
また、透明な基体面に配置して固定する半導体発光素子11は、その形状によって、基体面側、即ち半導体発光素子の下端面側への発光光の輝度を向上させることが可能である。半導体発光素子11の発光領域(活性層)からの発光のうち、発光領域から上方へ向かう光は上端部の電極面等を反射面として下端面側へ向かう光とし得るが、下端面に垂直な側面へ向う光は側面で反射させても下端面へ向かう光とはなりにくいので、半導体発光素子は下端面となす角度が45±20度の範囲内にある傾斜面を有することが望ましい。このような傾斜面に反射面を設けることにより、側方へ向かう発光成分を反射させて効果的に下端面側へ向かう光とすることができる。
【0018】
この傾斜面は、片側斜面、両側斜面、方形斜面であってもよい。更には、半導体発光素子が角錐形状又は角錐台形状を有することが望ましい。角錐、角錐台及び多角錐台にあっては、上面も反射面とすることにより、半導体発光素子の発光を一層効果的に下端面側へ向けることができる。ここで言う角錐又は角錐台には、三角錐、四角錐、五角錐、六角錐から、円錐に近似した多角錐等の各種の角錐と、それらに対応する角錐台が含まれる。
【0019】
また、上記の第1絶縁層21及び第2絶縁層34等の絶縁層に使用する材料は、有機物又は無機物の何れであってもよく、その種類、形成方法は特に限定されないが、無機物のSiO2やSi34を採用する場合には、CVD法(化学的気相成長法)や蒸着又はスパッタリング法を適用するが、有機物であるエポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、合成ゴム等の高分子化合物を採用する場合には、簡易な塗布法によって基体面が大面積の場合にも容易に形成することができ、表示装置を低コスト化することが可能である。塗布による絶縁層としては、スピンオングラス法によるガラス膜も使用し得る。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、先願発明は、上記した如き特長を有しているが、なお改善すべき問題点が存在することが判明した。
【0021】
即ち、上記の半導体発光素子11を埋め込んだチップ(LIP)40は、これを駆動制御するための画素用トランジスタ(図11中のトランジスタ5に相当するが、図示省略)と互いに異なる位置にて基体31の同一面上に配置されているので、上述したと同様に、画素用トランジスタの占有面積によって画素密度がそれ程上がらないことがあり、また画素用トランジスタを画像領域の周辺に配置しても、配線領域の確保等により結果的に画素密度の向上に限度があることになる。
【0022】
また、表示装置のパネル面積(画像部の面積)に制約があるため、画素用トランジスタの占有面積によって、各チップ40のサイズを縮小させざるを得ないことがある。このために、上記の接続孔35、37の径(ビア径)が小さくなり、各チップ又は素子の固定(ボンディング)時のアライメント精度を高くしなければならず、かつ絶縁層21、34の熱膨張、収縮などによって応力が発生し、接続孔(ビア)35、37にストレスが生じ、或いは断線を引き起こす可能性がある。
【0023】
そこで、本発明の目的は、上記の先願発明とは異なる構造によってそれと同等の特長と共に画素密度等の素子密度の向上を実現することができる上に、チップサイズを必要以上に小さくすることなしに配線用のビア径を大きくして接続信頼性を高くし、歩留りを向上させ、かつチップ(又は素子)面積を大きくしてボンディングなどのハンドリングを容易化し、チップ(又は素子)のアライメント精度の要求仕様を低くした発光装置、更には各チップ(又は素子)と画素用トランジスタ等の駆動制御素子を配置し易い両面発光装置を提供することにある。
【0024】
【課題を解決するための手段】
即ち、本発明は、GaN系半導体発光素子等の発光素子を樹脂等に埋設してなるチップに、前記発光素子に接続された外部端子が設けられ、かつ前記発光素子の駆動制御用の画素用トランジスタ等の駆動制御素子が、前記チップと全域で重なり合った状態で前記外部端子に接続されており、かつ前記発光素子からの発光光が前記チップの一方の面側と他方の面側との双方から導出されるように構成されている、発光装置に係るものである。
【0025】
本発明の発光装置によれば、前記発光素子を埋設した前記チップと前記駆動制御素子とが全域で重なり合っているので、これらを3次元的に配置することができることから、チップ(又は素子)サイズを大きくして配線用ビア径を大きくすることが可能となり、これによって、接続信頼性が高くなり、歩留りが向上し、かつチップ又は素子)面積を大きくして、ボンディングなどのハンドリング及びボンディング率を向上させて歩留りを良好とし、チップ(又は素子)のアライメント精度の要求仕様を低くすることができる。
【0026】
しかも、前記発光素子を埋設してチップ化し、このチップに設けた外部端子に接続すると共に、この外部端子に前記駆動制御素子を接続しているので、表示装置の単位面積当りの前記発光素子の占める面積が小さくなり、また配線を単純化させ、コストを格段に低下させることができる。
【0027】
そして、微小な寸法形状とした前記発光素子を埋め込んで見掛けサイズの大きいチップとすることによって、ハンドリングを容易化できる。
【0030】
しかも、前記発光素子を埋設してチップ化し、このチップに設けた前記外部端子と前記駆動制御素子とを接続しているので、表示装置の単位面積当りの前記発光素子の占める面積が小さくなり、また配線を単純化させ、コストを格段に低下させることができる。そして、前記発光素子からの発光光は前記チップの一方の面側からだけでなく、その他方の面側からも導出でき、画像表示面を両側に有する両面画像表示装置を提供することできる。
【0031】
また、微小な寸法形状とした前記発光素子を埋め込んで見掛けサイズの大きいチップとすることによって、ハンドリングを容易化できる。
【0032】
【発明の実施の形態】
本発明の発光装置においては、前記駆動制御素子が、前記チップよりも小さくて前記チップの占有面積内に包含される状態で絶縁層上に固定されており、前記絶縁層上に設けられた電極端子に前記チップの前記外部端子と前記駆動制御素子とがそれぞれ接続されているのがよい。
【0034】
また、前記発光素子と前記駆動制御素子とが互いに重なり合わない位置に配置されていると、前記絶縁層を透光性にすることによって、チップ側及び絶縁層側(特に駆動回路基板側)の双方からそれぞれ発光光を取り出すことができ、かつ前記チップと前記駆動制御素子との位置決め(又はタイリング)も容易となる。
【0035】
この場合、前記駆動制御素子が、前記電極端子と前記チップの前記外部端子との接続位置とは異なる位置に固定され、前記電極端子にワイヤ等の導体によって接続されてよい。
【0036】
そして、前記絶縁層上に前記駆動制御素子が固定され、この上方に前記チップが配置されていると、前記チップのリペア(修理)等が容易となる。また、前記絶縁層上に前記チップが固定され、この上方に前記駆動制御素子が配置されていてよい。
【0037】
また、前記駆動制御素子又は前記チップの少なくとも側面が絶縁によって覆われ、前記絶縁層上に前記駆動制御素子又は前記チップと接続された配線が延設されているのがよい。
【0038】
また、互いに異なる発光色を生じる発光素子を用いる場合、これらをそれぞれ埋設した複数のチップが、前記駆動制御素子と重なり合った状態で並置若しくは積層され、前記駆動制御素子にそれぞれ接続されていると、複数のチップを位置ずれしないで配置することができ、マルチカラー又はフルカラーの画像表示用として好適となる。
【0039】
また、前記発光素子は、窒化ガリウム系半導体等からなるLED、半導体レーザー等の半導体発光素子であって、透光性のある樹脂中に埋設されるのがよい。
【0040】
なお、本発明の発光装置は、画像表示装置又は光源装置として構成されることができる。
【0041】
次に、本発明の好ましい実施の形態を図面参照下に具体的に説明する。
【0042】
<参考例1>
まず、本発明の参考例1について述べると、この参考例では、図1に示すように、ガラス製、プラスチック製等の駆動回路基板(配線基板)51に画素制御用の駆動トランジスタ55をダイボンディング材60によってフェイスアップでダイボンディングし、その上に絶縁層61を形成して積層配線を施し、各パッド62、63、64をそれぞれ形成する。これらのパッドはいずれも再配線用として形成され、図2に示すように、信号線(p電極)用のパッド62、アドレス線又は電源線又はグランド線用のパッド63、n電極用のパッド64とする。トランジスタ55の周囲は絶縁層65によって囲み、この上に各パッド62、63から延設されて複数のトランジスタ同士を接続するライン66、67、68、69をそれぞれ形成する。
【0043】
そして、半導体発光素子11(LED)が埋め込まれている樹脂からなるチップ50をフェイスダウンで駆動トランジスタ55に重なり合うように接続する。この場合、樹脂のチップ50には、バンプ70、71が形成されており、これらを駆動トランジスタ55のパッド62、64に接続する。この接続は、ACF(異方性導電フィルム)接続や超音波接合により行ってもよい。この接続後は、アンダーフィル材72で封止してよい。なお、チップ50を仮接合した時に、半導体発光素子11に駆動トランジスタ55から電流を供給して発光光80を発生させ、その点灯チェックを行い、不良のチップのリペアをアンダーフィル材72の充填前に行うことができるが、これは、チップ50を駆動トランジスタ55上に配置しているので容易に行える。
【0044】
図2には、フルカラー用として、例えばR(赤色)用の半導体発光素子11R、G(緑色)用の半導体発光素子11G、B(青色)用の半導体発光素子11Bをそれぞれ埋設した各樹脂チップ50R、50G、50Bを共通の画素制御用駆動トランジスタ55上に平面的に並置した状態を示している。
【0045】
図3には、図1及び図2に示した発光単位(ユニット)82の多数個を共通の基板(図示せず)上にマトリクス状に配列した画像表示装置81を示す(但し、上記した絶縁層65、アンダーフィル材72等は図示省略している)。
【0046】
上記したLIP50は、図4〜図5に示すプロセスフローによって製造可能である。
【0047】
まず、図4(1)に示すように、例えば図13に示した如くエポキシ樹脂からなる第1絶縁層21に埋め込んだGaN系半導体発光素子11を表示パネルとなる透明な基体31の面に所定ピッチで配置して固定する。この場合、基体31の上面に半導体発光素子11を透明接着剤33で固定する。
【0048】
次いで、図4(2)に示すように、第1絶縁層21を介して引き出しp電極18d、引き出しn電極19dを形成し、更に図5(3)に示すように、全面を覆うようにエポキシ樹脂溶液を塗布し、乾燥、加熱硬化させてエポキシ樹脂からなる第2の絶縁層34を形成する。
【0049】
そして、この状態において、図5(4)に示すように、第2絶縁層34の上面から、内部の半導体発光素子11の引き出し電極18dと、引き出し電極19dとにそれぞれ至る接続孔35、37を設けた後、全面にアルミニウムの蒸着又はスパッタリングを行い、フォトリソグラフィによってパターニングし、半導体発光素子11のp電極18は外部端子(パッド)58に、またn電極19は外部端子(パッド)59に導く。
【0050】
こうしてLIP50を作製した後、外部接続端子58、59に例えばはんだバンプ70、71を付着させ、更に図1に示したように、基板51上に固定された駆動トランジスタ55のパッド62、64に対しフェイスダウンで接合し、両者を接続固定して、発光単位82を作製する。
【0051】
なお、上記の半導体発光素子11、第1絶縁層21、第2絶縁層34等の絶縁層の構成材料や形成方法、形状、構造等は、図12及び図13で述べたものと同様であるのがよいが、異なるものであってもよい。
【0052】
上記したように、この参考例1によれば、半導体発光素子11を埋設した樹脂チップ50を駆動トランジスタ55上に重ね合せて接続しているので、これらを3次元的に配置することができることから、駆動トランジスタ55の占有面積を実質的になくし、これに対応して画素密度を向上させると共に、各チップ50のサイズを大きくしても高画素密度を保持できることになる。
【0053】
この結果、上記の接続孔35、37の径(ビア径)を大きくすることができるので、各電極18d、19dと外部端子58、59との接続信頼性が高くなり、歩留りが向上する。そして、チップ又は(素子)面積を大きくして、ボンディングなどのハンドリング及びボンディング率を向上させて歩留りを良好とし、チップ(又は素子)のアライメント精度の要求仕様を低くすることができる。
【0054】
しかも、半導体発光素子11を埋設してチップ化し、このチップ50に設けた外部端子58、59に接続すると共に、これらの外部端子に駆動トランジスタ55を接続しているので、表示装置の単位面積当りの発光素子11の占める面積が小さくなり、また配線を単純化させ、コストを格段に低下させることができる。そして、微小な寸法形状とした発光素子11を埋め込んで見掛けサイズの大きいチップ50とすることによって、ハンドリングを容易化できる。
【0055】
また、チップ50が駆動トランジスタ55の上部に存在するため、アンダーフィル材72の充填前に発光素子11の点灯チェックを行って不良のチップを容易にリペアすることができ、製品の信頼性を向上させることができる。
【0056】
<参考例2>
この参考例では、図6に示すように、図1及び図2に示した構造とは異なって、半導体発光素子11を埋設した樹脂チップ50と、これを駆動する駆動トランジスタ55とを上下逆にし、前者を下段(透明基板51側)、後者を上段側としている。
【0057】
このように構成すれば、半導体発光素子11からの発光光80を透明な基板51を通して導出でき、基板51の面を画像表示面とすることができる。その他は上述の参考例1と同様であるので、同等の効果を得ることができる。但し、ボンディング材60は樹脂チップ50の固定に用い、絶縁層72はアンダーフィル材と同等の機能をなし、この上に配線層66を形成してよい。
【0058】
<参考例3>
この参考例では、図7に示すように、図1及び図2に示した構造とは異なって、各色用の樹脂チップ50R、50G、50Bを平面的に並置せずに、これらを駆動トランジスタ55上で重ね合せると共に、各半導体発光素子11R、11G、11Bの位置を互いにずらせている。なお、各素子の引き出し電極と駆動トランジスタ55との接続は、赤色用の素子11Rについてのみ図示したが、他の緑色用及び青色用の素子11G及び11Bについては図示省略した接続孔を介して行うことができ、例えば各チップを通して形成した接続孔のスルーホールめっき、及び最下方のチップの底面に設けた外部端子を介して行える。
【0059】
このように構成すれば、各半導体発光素子11R、11G、11Bからの発光光80R、80G、80Bをそれぞれ上方へ導出でき、コンパクトで小型のフルカラー用の画像表示装置を得ることができる。また、各チップは同一位置で重ね合せるため、位置ずれがなく、高画質化が可能となる。その他は上述の参考例1と同様であるので、同等の効果を得ることができる。
【0060】
実施の形態
本実施の形態では、図8及び図9に示すように、図1及び図2に示した構造とは異なって、半導体発光素子11を埋設した樹脂チップ50と比べて駆動トランジスタ55を微小なサイズに作製し、透明基板51上に設けた透明な絶縁層90(但し、これは必ずしも設けることを要しない。)上の電極パッド63上に、各色に共通の微小駆動トランジスタ55をボンディングしており、更に絶縁層90上の電極パッド62、64に対し例えばワイヤ91によりワイヤボンディングしている。なお、図9では、簡略化のためにチップ間を結ぶ各信号線は図示省略している。
【0061】
本実施の形態によれば、駆動トランジスタ55を微小化し、半導体発光素子11を埋設したチップ50よりも小さくてチップ50に包含される状態で絶縁層90上に固定し、かつ駆動トランジスタ55を各色用のチップに共通として各パッドに接続しているので、チップ50と駆動トランジスタ55とを3次元的に配置できることから、上述した参考例1と同様に、駆動トランジスタ55の占有面積を実質的になくし、これに対応して画素密度を向上させると共に、各チップ50のサイズを大きくしても高画素密度を保持できることになる。
【0062】
この結果、上記の接続孔35、37の径(ビア径)を大きくすることができるので、各電極18d、19dと外部端子58、59との接続信頼性が高くなり、歩留りが向上する。かつチップ又は(素子)面積を大きくしてボンディングなどのハンドリング及びボンディング率を向上させて歩留りを良好とし、チップ(又は素子)のアライメント精度の要求仕様を低くすることができる。
【0063】
しかも、半導体発光素子11を埋設してチップ化し、このチップ50に設けた外部端子58、59と駆動トランジスタ55とを絶縁層90上の電極端子62、64にそれぞれ接続しているので、表示装置の単位面積当りの発光素子11の占める面積が小さくなり、また配線を単純化させ、コストを格段に低下させることができる。そして、駆動トランジスタ55は微小サイズであるため、発光素子11からの発光光はチップ50側からだけでなく、透明基板51側からも導出でき、画像表示面を両側に有する両面画像表示装置を提供することができ、タイリングし易い構造を形成することができる。
【0064】
また、微小な寸法形状とした発光素子11を埋め込んで見掛けサイズの大きいチップ50とすることによって、ハンドリングを容易化でき、またチップ50が上部に存在することから、不良なチップのリペアも容易となる。
【0065】
以上に述べた本実施の形態は、本発明の技術的思想に基づいて更に変形が可能である。
【0067】
例えば、微小トランジスタを用いる例では、発光素子に対し位置をずらしてトランジスタを配置すればよいので、その配置は任意であってよい。また、各色用のチップを平面的に並置する以外にも積み重ねるようにしてもよい。
【0068】
また、上述した発光装置は、画像表示装置に関するものであるが、これ以外にも光源装置としても適用することができる。
【0069】
【発明の作用効果】
上述したように、本発明の発光装置によれば、発光素子を埋設したチップと駆動制御素子とが全域で重なり合っているので、これらを3次元的に配置することができることから、チップ(又は素子)サイズを大きくして配線用ビア径を大きくすることが可能となり、これによって接続信頼性が高くなり、歩留りが向上し、かつチップ又は素子)面積を大きくしてボンディングなどのハンドリング及びボンディング率を向上させて歩留りを良好とし、チップ(又は素子)のアライメント精度の要求仕様を低くすることができる。
【0070】
しかも、発光素子を埋設してチップ化し、このチップに設けた外部端子に接続すると共に、この外部端子に駆動制御素子を接続しているので、表示装置の単位面積当りの発光素子の占める面積が小さくなり、また配線を単純化させ、コストを格段に低下させることができる。
【0071】
そして、微小な寸法形状とした発光素子を埋め込んで見掛けサイズの大きいチップとすることによって、ハンドリングを容易化できる。
【0072】
また、本発明の第2の発光装置によれば、駆動制御素子が、発光素子を埋設した前記チップよりも小さくて前記チップに包含される状態で絶縁層上に固定されているので、チップと駆動制御素子とを3次元的に配置できることから、本発明の第1の発光装置と同様に、チップ(又は素子)サイズを大きくして配線用ビア径を大きくすることが可能となり、これによって、接続信頼性が高くなり、歩留りが向上し、かつチップ又は(素子)面積を大きくしてボンディングなどのハンドリングを向上させて歩留りを良好とし、チップ(又は素子)のアライメント精度の要求仕様を低くすることができる。
【0073】
しかも、発光素子からの発光光は前記チップの一方の面側からだけでなく、その他方の面側からも導出でき、画像表示面を両側に有する両面画像表示装置を提供することできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の参考例1による表示装置の要部断面図(図2のI−I線断面図)である。
【図2】同、表示装置の要部平面図である。
【図3】同、表示装置(表示パネル)の概略斜視図である。
【図4】同、表示装置の樹脂チップの製造プロセスを順次示す要部概略断面図である。
【図5】同、表示装置の樹脂チップの製造プロセスを順次示す要部概略断面図である。
【図6】
本発明の参考例2による表示装置の要部断面図である。
【図7】 本発明の参考例3による表示装置の要部断面図である。
【図8】 本発明の実施の形態による表示装置の要部断面図(図9のVIII−VIII線断面図)である。
【図9】同、表示装置の要部平面図である。
【図10】従来例の表示装置の概略斜視図である。
【図11】同、表示装置の要部平面図である。
【図12】先願発明による表示装置の要部断面図である。
【図13】同、表示装置の半導体発光素子の拡大断面図(A)とその平面図(B)である。
【符号の説明】
11…半導体発光素子、18…p電極、18d…引き出しp電極、
19…n電極、19d…引き出しn電極、21…第1絶縁層、
31…透明基体、33…透明接着剤、34…第2絶縁層、
50、50R、50G、50B…LED入り樹脂チップ、
51…基板、55…駆動トランジスタ、58、59…外部端子、
60…ダイボンディング材、61、65…絶縁層、62、62R、62G、62B、63、63R、63G、63B、64、64R、64G、64B…パッド、70、71…バンプ、72…アンダーフィル材、
80、80R、80G、80B…発光光、82…発光単位(ユニット)、
90…絶縁層、91…ワイヤ

Claims (9)

  1. 発光素子を埋設してなるチップに、前記発光素子に接続された外部端子が設けられ、かつ前記発光素子の駆動制御用の駆動制御素子が、前記チップと全域で重なり合った状態で前記外部端子接続されており、かつ前記発光素子からの発光光が前記チップの一方の面側と他方の面側との双方から導出されるように構成されている、発光装置。
  2. 前記駆動制御素子が、前記チップよりも小さくて前記チップの占有面積内に包含される状態で絶縁層上に固定されており、前記絶縁層上に設けられた電極端子に前記チップの前記外部端子と前記駆動制御素子とがそれぞれ接続されている、請求項1に記載した発光装置。
  3. 前記発光素子と前記駆動制御素子とが互いに重なり合わない位置に配置されている、請求項に記載した発光装置。
  4. 前記駆動制御素子が、前記電極端子と前記チップの前記外部端子との接続位置とは異なる位置に固定され、前記電極端子に導体によって接続されている、請求項に記載した発光装置。
  5. 前記絶縁層上に前記駆動制御素子が固定され、この上方に前記チップが配置されている、請求項に記載した発光装置。
  6. 前記絶縁層が透光性を有している、請求項に記載した発光装置。
  7. 前記駆動制御素子又は前記チップの少なくとも側面が絶縁物によって覆われ、前記絶縁層上に前記駆動制御素子又は前記チップと接続された配線が延設されている、請求項5又は6に記載した発光装置。
  8. 互いに異なる発光色を生じる発光素子をそれぞれ埋設した複数のチップが、前記駆動制御素子と重なり合った状態で並置若しくは積層され、前記駆動制御素子にそれぞれ接続されている、請求項に記載した発光装置。
  9. 前記発光素子が半導体発光素子であって、透光性のある樹脂中に埋設されている、請求項に記載した発光装置。
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