JP3595137B2 - 液晶タブレット装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子手帳や携帯情報処理機器などに搭載されて、ペンタッチやフィンガータッチにより入力操作等を行う液晶タブレット装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
液晶タブレット装置は、液晶ディスプレイの上に座標読み取り装置としてのタブレットを貼り合わせ、タブレットにおける入力と液晶ディスプレイの表示出力とを一致させるように構成したものである。
【０００３】
表示信号を液晶ドットに印加するときは直流成分を付与することになるため、液晶の寿命劣化をもたらす。そこで、液晶ドットに印加する電圧の極性を一定時間おきに反転させて交流信号にするのが一般的である。つまり、一定時間ごとに立ち上がり・立ち下がりを繰り返す方形波である交流化信号（極性反転信号）を生成し、液晶ドライバが出力する表示信号の極性を交流化信号のエッジのタイミングで反転する状態でその表示信号を液晶表示素子に与えるようにしている。
【０００４】
タブレットは、均一な抵抗分布を有する２枚の透明な導電膜を微小間隔隔てて対向させ、一方の導電膜には上下両辺に電極を設け、他方の導電膜には左右両辺に電極を設け、互いに異なるタイミングで電極間に電圧を印加してそれぞれの導電膜に一定の電流を流すことによりＸ方向とＹ方向とに電圧勾配を作り出すようにしたものである。ペン等でタブレットを圧迫すると、その圧迫された指示点で２枚の導電膜が接触する。まず、Ｘ方向に電圧勾配を作り、接触点での電圧値を読み取ると、それがＸ座標の信号となる。次に、Ｙ方向に電圧勾配を作り、接触点での電圧値を読み取ると、それがＹ座標の信号となる。これらのＸ座標信号・Ｙ座標信号はアナログ信号であるため、Ａ／Ｄ変換によりデジタル信号に変換されてＣＰＵに入力される。
【０００５】
液晶ディスプレイにおいて液晶ドットに印加する表示信号を交流化信号に基づいて極性反転したとき強いインパルス状の電磁波が発生し、この電磁波が液晶ディスプレイに貼り合わされたタブレットの座標信号に対してノイズとなって重畳し、座標測定精度の低下をもたらすおそれがある。というのは、交流化信号による表示信号の極性反転のタイミングとタブレット検出タイミングとが非同期となっているために、双方のタイミングが一致する場合があり、そうなると、座標信号にノイズが重畳されることになるためである。
【０００６】
この不都合を解消するための技術として特開平６−１６１６５８号公報に開示の液晶タブレット装置がある。それは、交流化信号を所定時間遅延させる遅延回路を設け、その遅延させた信号をタブレット検出タイミング信号としてタブレット駆動回路に導き、そのタブレット検出タイミング信号のエッジでタブレット駆動回路のＡ／ＤコンバータのＡ／Ｄ変換動作をスタートさせるように構成している。座標信号のＡ／Ｄ変換タイミングを交流化信号のエッジすなわち表示信号極性反転のタイミングからずれさせることができ、ノイズの重畳しないタイミングで座標信号をＡ／Ｄ変換することができる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、交流化信号は周波数が低く周期が長いために、これを遅延させたタブレット検出タイミング信号も同様に周期が長く、座標信号のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせるまでの待ち時間が長くなり、タブレットに対する入力座標点の測定に時間がかかるという問題がある。
【０００８】
また、より根本的な問題として、液晶ディスプレイ側からタブレット側に与える電磁波ノイズは何も交流化信号のエッジのタイミングだけではなく、液晶ディスプレイの液晶ドット列に与えるラインパルス（ゲートパルス信号）がアクティブになったときにも強いインパルス状の電磁波が発生し、その電磁波がタブレットの座標信号に対してノイズとして重畳するおそれがある。しかし、上記公報の従来技術では、このラインパルスに起因したノイズによる悪影響を除去することはできない。
【０００９】
さらに、交流化信号のエッジのタイミングとラインパルスのアクティブのタイミングとが時間的に重なると、座標信号に重畳するノイズはさらに大きなものとなるが、遅延回路による一定時間の遅延の後にタブレット検出タイミング信号を出力していたのでは、ノイズが充分に減衰し切らないうちでの座標信号のＡ／Ｄ変換動作のスタートとなってしまい、座標測定精度が低下する。
【００１０】
本発明はこのような事情に鑑みて創案されたものであって、液晶ディスプレイのラインパルスに起因したノイズの悪影響を除去して座標測定精度を向上させるとともに、座標測定に要する時間を短縮化することを目的としている。さらに、新たに採用した構成に派生する問題点の解消を併せて図ることを目的としている。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る請求項１の液晶タブレット装置は、次のような構成となっている。すなわち、液晶ディスプレイ上に透明なタブレットが貼り合わされており、タブレット上にタッチ指示された点の座標信号をＡ／Ｄコンバータでデジタルの座標、データに変換するように構成されている。そして、液晶ディスプレイコントロール回路が生成するラインパルスがアクティブになったタイミングから一定時間後に前記Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートさせ、液晶ディスプレイコントロール回路が生成する交流化信号の反転を検出し、その反転検出があったときは前記ラインパルスがアクティブ毎になったタイミングから一定時間後であってもＡ／Ｄコンバータの動作をスタートさせないように構成してある。
【００１２】
本発明に係る請求項２の液晶タブレット装置は、次のような構成になっている。すなわち、液晶ディスプレイ上に透明なタブレットが貼り合わされており、タブレット上にタッチ指示された点の座標信号をＡ／Ｄコンバータでデジタルの座標データに変換するように構成された液晶タブレット装置であって、タブレット上にタッチ指示されたときから液晶ディスプレイコントロール回路が生成するラインパルスがアクティブになる毎に、このラインパルスの数をカウントし、そのカウント値がタブレット測定回路のスイッチング素子が安定するに足る時間に対応したカウント値になったときから、前記ラインパルスがアクティブ毎になったタイミングから一定時間後に前記Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートさせ、液晶ディスプレイコントロール回路が生成する交流化信号の反転を検出し、その反転検出があったときは前記ラインパルスがアクティブ毎になったタイミングから一定時間後であっても前記Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートさせないように構成してある。また、Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートするのを待つ一定時間として、ラインパルスがアクティブになったことに起因する相対的に小さいノイズが減衰するのを待つより短い時間を設定することが可能となり、早めにＡ／Ｄ変換を済ませることができ、また、次のラインパルスがアクティブになるまでの間の時間が長く、その時間内に確実にＡ／Ｄ変換を完了させることができる。
【００１９】
本発明に係る請求項３の液晶タブレット装置は、タブレットに対するＸ方向またはＹ方向のいずれかの押し圧を測定し、次いでタブレットにおいて指示点のＸ座標およびＹ座標を測定し、その後に未だ測定していない方の方向の押し圧を測定するように構成してある。最後に押し圧測定を行うから、その前に行われたＸ座標およびＹ座標の測定の信頼性が高いものとなる。
【００２０】
本発明に係る請求項４の液晶タブレット装置は、タブレットに対するＸ方向およびＹ方向の押し圧を測定し、次いでタブレットにおいて指示点のＸ座標およびＹ座標を測定し、その後に再びＸ方向およびＹ方向の押し圧を測定するように構成してある。指示点のＸ座標・Ｙ座標の測定の前と後の両方においてＸ方向・Ｙ方向の押し圧の測定をはさむようにして実行するから、測定に時間がかかっても、タブレットに対する押し操作の状態がきわめて正常である条件下でＸ座標・Ｙ座標を測定するので、その測定の信頼性が充分に高いものとなる。
【００２１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る液晶タブレット装置の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【００２２】
〔実施の形態１〕
図１は実施の形態１に係る液晶タブレット装置の電気的構成を示すブロック図である。図１において、１１は演算処理を行うＣＰＵ（中央演算処理装置）、１２はプログラムを格納しているＲＯＭ（リードオンリーメモリ）、１３は各種データの一時記憶を行うＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）、１４は液晶ディスプレイコントロール回路、１５は液晶ディスプレイ、１６はタブレットコントロール回路、１７は抵抗膜方式で感圧型の透明なタブレット、１８はタブレット１７が検出したアナログのＸ座標信号・Ｙ座標信号をデジタルデータに変換するＡ／Ｄコンバータである。図示は省略しているが、タブレット１７は液晶ディスプレイ１５の表面に貼り合わされている。また、液晶ディスプレイコントロール回路１４およびタブレットコントロール回路１６はＣＰＵ１１から延出のバスライン１９に対して所要のインターフェイス（図示せず）を介して接続されている。
【００２３】
図２は液晶ディスプレイコントロール回路１４において生成されるラインパルスＬＰと交流化信号Ｍとタブレット１７に誘起されるノイズＸＬの関係を示している。ラインパルスＬＰが“Ｈ”レベルとなってアクティブになったタイミングｔ１ ，ｔ３ ，ｔ５ ，ｔ７ や交流化信号Ｍの立ち上がり・立ち下がりのエッジで表示信号の極性が反転されたタイミングｔ５ ，ｔ１１において強いインパルス状の電磁波が発生し、この電磁波がタブレット１７においてノイズＸＬを誘起する。特に、交流化信号Ｍのエッジのタイミングｔ５ ，ｔ１１ではノイズＸＬのレベルが大きくなっている。ラインパルスＬＰのみに起因して発生するノイズは、発生から時間Ｔ１ （＝ｔ２ −ｔ１ ）の経過後にゼロレベルとなる。交流化信号Ｍに起因して発生するノイズが発生からゼロレベルになるまでの時間Ｔ２ （＝ｔ６ −ｔ５ ）はＴ１ よりも大きい。
【００２４】
タブレット１７をペン等で圧迫すると、その圧迫された指示点のＸ座標信号とＹ座標信号がアナログの形で出力され、Ａ／Ｄコンバータ１８においてデジタルデータに変換され、ＣＰＵ１１に取り込まれる。
【００２５】
もし、ランダムなタイミングでタブレット１７の検出座標信号をＡ／Ｄコンバータ１８においてＡ／Ｄ変換すると、ＣＰＵ１１はノイズ成分を含んだ誤ったデータを取り込んでしまうことになる。そこで、ラインパルスＬＰがアクティブになったタイミングから一定時間Ｔ２ （レベルの大きい方のノイズがゼロレベルとなるまでの時間）だけ待った後に検出座標信号をＡ／Ｄ変換すれば、ノイズの悪影響を回避でき、座標測定精度を改善できる。ここで従来技術との対比上注意すべき点は、一定時間を待つ基点が交流化信号Ｍのエッジのタイミングではなく、ラインパルスＬＰがアクティブになったタイミングであるということである。
【００２６】
そのようにする制御動作を図３のフローチャートに基づいて説明する。このフローチャートにおいては、すでに、タブレット１７のある点がペン等により圧迫されたことが検出されているものとする（ペンタッチ）。ステップＳ１１においてラインパルスＬＰがアクティブ（“Ｈ”レベル）に立ち上がるのを待ってステップＳ１２に進み、一定時間Ｔ２ のアイドリングを行う。そして、ステップＳ１３においてＡ／Ｄコンバータ１８のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせることによりタブレット１７からＡ／Ｄコンバータ１８に出力されているアナログのＸ座標信号・Ｙ座標信号をデジタルデータに変換し、その変換後のＸ座標データ・Ｙ座標データをＣＰＵ１１に取り込んでペン等により圧迫された指示点の座標測定を行う。
【００２７】
必要な待ち時間Ｔ２ は貼り合わされている液晶ディスプレイ１５とタブレット１７との間隔等によって変動するが、ラインパルスＬＰの周期を６０μｓｅｃとして、例えば、Ｔ２ を５０μｓｅｃと設定することができる。なお、Ｔ１ は３０μｓｅｃ程度である。この場合、時刻ｔ６ からｔ７ までの１０μｓｅｃの間にＡ／Ｄ変換を完了すればよい。
【００２８】
一定時間Ｔ２ が経過する間にノイズは減衰し、その時間の経過直後においてノイズは実質的にゼロとなっているから、Ａ／Ｄ変換されたＸ座標データ・Ｙ座標データにはノイズ成分は含まれておらず、座標測定精度が高いものとなる。
【００２９】
一定時間Ｔ２ を待つ基点を周期の長い交流化信号Ｍのエッジのタイミングとするのではなく、周期が短いラインパルスＬＰのアクティブのタイミングを基点としているので、どのようなタイミングでタブレット１７がペン等により圧迫されたとしても、Ｘ座標信号・Ｙ座標信号のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせるまでの待ち時間が短くなり、タブレット１７に対する入力座標点の測定に要する実時間を短縮化することができる。
【００３０】
さらに、より根本的な機能として、交流化信号Ｍのエッジに起因したノイズの悪影響だけでなくラインパルスＬＰのアクティブ化に起因したノイズの悪影響をも回避することができるのである。もちろん、交流化信号ＭのエッジのタイミングとラインパルスＬＰのアクティブ化のタイミングとが時間的に重なった場合でも、ノイズの悪影響を回避することができる。
【００３１】
〔実施の形態２〕
実施の形態２は、タブレットコントロール回路１６に内蔵のタブレット測定回路を起動した後に、タブレットコントロール回路１６内のトランジスタが安定してからタブレット１７上の指示点の座標測定を行うものである。
【００３２】
タブレット測定回路は常時的にアクティブになっているものではなく、タブレット１７がペン等によって圧迫されたことを感圧で検出し、そのタイミングからタブレット測定回路がアクティブになる。このように構成することにより電力消費を抑えている。したがって、タブレット測定回路を起動した直後はトランジスタが安定しておらず、トランジスタの不安定の状態で指示点の座標測定を行うと座標測定精度が低下することになる。しかし、前述したように一定時間を待つタイミングの基点をラインパルスＬＰがアクティブになったタイミングに定めると、ラインパルスＬＰの周期が短いことから、タブレット測定回路のトランジスタが不安定の状態で指示点の座標測定を開始してしまうおそれがある。この不都合を解消するのが本実施の形態２に係る液晶タブレット装置である。
【００３３】
実施の形態２の場合の制御動作を図４のフローチャートに基づいて説明する。このフローチャートにおいては、すでに、タブレット１７のある点がペン等により圧迫されたことが検出されているものとする。ステップＳ２１においてタブレットコントロール回路１６に内蔵のタブレット測定回路をアクティブにする。ラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルから“Ｈ”レベルになった回数を示す変数をＡとする。ステップＳ２２において変数Ａをゼロクリアして初期化する。ステップＳ２３においてラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルになるのを待ってステップＳ２４に進み、ラインパルスＬＰが次に“Ｈ”レベルになるのを待ってステップＳ２５に進み、変数Ａを１だけインクリメントする。すなわち、変数ＡはラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルから“Ｈ”レベルに変化した回数をカウントしている。そして、ステップＳ２６において変数Ａが所定値Ｎになったかどうかを判断し、なっていないときはステップＳ２３に戻り、ラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルから“Ｈ”レベルになった回数のカウントを続ける。タブレット測定回路をアクティブ（そのトランジスタをＯＮ）にしてからトランジスタが安定するに至ったときには変数Ａが所定値Ｎになっているようにあらかじめ所定値Ｎの値を定めておく。変数Ａが所定値ＮになったときはステップＳ２７に進み、一定時間Ｔ２ のアイドリングを行う。このアイドリングは前述のとおりラインパルスＬＰがアクティブになったことに起因するノイズはもちろん交流化信号Ｍのエッジに起因するノイズのゼロレベルへの減衰を待つものである。したがって、アイドリングも座標測定の処理の期間に含まれる。換言すれば、トランジスタが安定してから座標測定の処理に入るのである。そして、ステップＳ２８においてＡ／Ｄコンバータ１８のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせることによりタブレット１７からＡ／Ｄコンバータ１８に出力されているアナログのＸ座標信号・Ｙ座標信号をデジタルデータに変換し、その変換後のＸ座標データ・Ｙ座標データをＣＰＵ１１に取り込んでペン等により圧迫された指示点の座標測定を行う。
【００３４】
所定値Ｎの値についての例を以下に示す。ラインパルスＬＰの周期が例えば１００μｓｅｃであり、トランジスタの安定時間が例えば５０μｓｅｃであるとすると、Ｎ＝２に設定すればよい。トランジスタがＯＮになった直後にラインパルスＬＰがアクティブになった場合を想定すると、これで変数Ａ＝１であるが、トランジスタの安定時間５０μｓｅｃが経過した後にラインパルスＬＰがアクティブになったことを検出して初めてトランジスタの安定化が保証され、このとき変数Ａ＝２となるからである。また、ラインパルスＬＰの周期が例えば７０μｓｅｃであり、トランジスタの安定時間が例えば８０μｓｅｃであるとすると、Ｎ＝３に設定すればよい。トランジスタがＯＮになった直後にラインパルスＬＰがアクティブになった場合を想定すると、これで変数Ａ＝１であるが、トランジスタの安定時間８０μｓｅｃが経過するまでにつまり７０μｓｅｃの経過により次のラインパルスＬＰがアクティブとなり変数Ａ＝２となっている。この時点ではまだトランジスタは安定化していない。トランジスタ安定時間８０μｓｅｃが経過した後にラインパルスＬＰがアクティブになったことを検出して初めてトランジスタの安定化が保証されるが、このとき変数Ａ＝３となるからである。
【００３５】
本実施の形態２によれば、タブレット測定回路を起動した後においてトランジスタが確実に安定化してから座標測定の処理を開始するので、周期の短いラインパルスＬＰがアクティブになったタイミングを一定時間Ｔ２ の待ちの基点としているにもかかわらず、座標測定精度を高い状態に保つことができる。
【００３６】
〔実施の形態３〕
実施の形態３は、ラインパルスＬＰがアクティブになったとしても、交流化信号Ｍが反転したタイミングであるのなら、座標測定の処理に進まないようにするものである。図２に示すように交流化信号Ｍの反転に起因したノイズが大きいので座標測定の誤差が大きくなりがちであるためである。それに、交流化信号Ｍの反転に起因したノイズがゼロレベルまで減衰するのに要する時間Ｔ２ が長く、次のラインパルスＬＰがアクティブになるまでの間（ｔ６ 〜ｔ７ ）の時間が短く、この短い時間内にＡ／Ｄ変換を完了することがむずかしくなるからである。
【００３７】
実施の形態３の場合の制御動作を図５のフローチャートに基づいて説明する。このフローチャートにおいては、すでに、タブレット１７のある点がペン等により圧迫されたことが検出されているものとする。ステップＳ３１においてラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルになるのを待ってステップＳ３２に進み、変数Ｂに交流化信号Ｍのレベル（“Ｈ”レベルか“Ｌ”レベルかいずれか一方）を設定し、ステップＳ３３においてまだラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルであるか否かをチェックする。もし、ラインパルスＬＰがアクティブになって“Ｈ”レベルになっているのであればステップＳ３１に戻り、交流化信号Ｍのレベルを変数Ｂに設定し直すが、まだラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルのままであれば次のステップＳ３４に進む。このようにするのは、変数Ｂに設定した交流化信号ＭのレベルがラインパルスＬＰが継続して“Ｌ”レベルとなっているときのものであることを保証するためである。
【００３８】
次に、座標測定の処理を開始する前提として、ステップＳ３４においてラインパルスＬＰがアクティブ（“Ｈ”レベル）に立ち上がるのを待つ。そして、ステップＳ３５に進み、そのときの交流化信号Ｍのレベルと変数Ｂに設定している交流化信号Ｍのレベルとが一致するかどうかを判断する。つまり、両方とも“Ｈ”レベルであるか、それとも両方とも“Ｌ”レベルであるか、換言すれば、交流化信号Ｍの反転が生じていないかどうかを判定する。この判断が否定的となるときつまり交流化信号Ｍに反転が生じたときにはステップＳ３６からの座標測定の処理には進まず、ステップＳ３１に戻って交流化信号Ｍが反転しなくなる状態まで待つ。交流化信号Ｍに反転が生じておらずステップＳ３５の判断が肯定的となったときはステップＳ３６に進んで一定時間Ｔ１ のアイドリングを行う。このアイドリングの時間Ｔ１ は実施の形態１や実施の形態２の場合のステップＳ１２，Ｓ２７のアイドリングの時間Ｔ２ よりも小さい。それは交流化信号Ｍの反転によるノイズの影響をもとから避けているためであり、ラインパルスＬＰがアクティブになったことに起因する相対的に小さいノイズの減衰を待つだけでよいからである。このときの一定時間Ｔ１ は例えば３０μｓｅｃである。そして、ステップＳ３７においてＡ／Ｄコンバータ１８のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせることによりタブレット１７からＡ／Ｄコンバータ１８に出力されているアナログのＸ座標信号・Ｙ座標信号をデジタルデータに変換し、その変換後のＸ座標データ・Ｙ座標データをＣＰＵ１１に取り込んでペン等により圧迫された指示点の座標測定を行う。
【００３９】
本実施の形態３によれば、交流化信号Ｍが反転したタイミングでは座標測定の処理を避けるから、交流化信号Ｍの反転に起因した大きなノイズによる座標測定の誤差の影響を受けないですむ。また、アイドリングの時間Ｔ１ が短く、早めにＡ／Ｄ変換を済ませることができ、また、次のラインパルスＬＰがアクティブになるまでの間（ｔ２ 〜ｔ３ ）の時間が長く、その時間内に確実にＡ／Ｄ変換を完了させることができる。
【００４０】
〔実施の形態４〕
実施の形態４は一部の機能をハードウェアで達成するように構成したものである。後述する実施の形態５についても同様である。
【００４１】
図６は実施の形態４で用いるハードウェア構成を示すブロック図である。図６において、２１はタブレット測定回路のトランジスタの安定時間を計測するためにシステムクロックをカウントする第１のカウンタ、２２は第１のカウンタ２１のカウントアップ値を設定するための第１のレジスタ、２３は液晶ディスプレイコントロール回路１４から入力したラインパルスＬＰをカウントするための第２のカウンタ、２４は第２のカウンタ２３のカウントアップ値を設定するための第２のレジスタ、２５はラインパルスＬＰがアクティブになってからＡ／Ｄ変換スタートまでの待ち時間を計測するためにシステムクロックをカウントする第３のカウンタ、２６は第３のカウンタ２５のカウントアップ値を設定するための第３のレジスタ、２７は交流化信号Ｍの反転を検出する交流化信号反転検出回路である。各レジスタ２２，２４，２６にはそれぞれ個別的にＣＰＵ１１より所定のカウントアップ値が設定されるようになっている。各カウンタ２１，２３，２５はイネーブル端子／ＥＮが“Ｌ”になったときにカウントを開始する。また、データ端子Ｄに各レジスタ２２，２４，２６からのカウントアップ値が入力され、カウント値がカウントアップ値に一致したときに出力端子Ｏのレベルを“Ｈ”から“Ｌ”に切り換えて出力するようになっている。第１のカウンタ２１はそのイネーブル端子／ＥＮにＣＰＵ１１からイネーブル信号ＯＥＮを入力し、第２のカウンタ２３のイネーブル端子／ＥＮは第１のカウンタ２１の出力端子Ｏに接続され、第３のカウンタ２５のイネーブル端子／ＥＮは第２のカウンタ２３の出力端子Ｏに接続されている。交流化信号反転検出回路２７は液晶ディスプレイコントロール回路１４から交流化信号Ｍを入力し、交流化信号Ｍが反転したときに出力端子Ｃを“Ｈ”レベルから“Ｌ”レベルにするようになっている。この出力端子Ｃは第２のカウンタ２３と第３のカウンタ２５の各リセット端子／Ｒに接続されており、リセット端子／Ｒが“Ｌ”レベルになったときはいかなるカウント値の状態であっても各カウンタ２３，２５はリセットされて“０”となり、最初からカウントをスタートすることになる。
【００４２】
各レジスタ２２，２４，２６に設定するカウントアップ値について説明する。システムクロックＣＬＫが例えば１３ＭＨｚ、タブレット測定回路のトランジスタの安定時間が例えば５０μｓｅｃであるとした場合、第１のレジスタ２２に設定するカウントアップ値は、
５０×１０−６÷（１／１３×１０６）＝６５０
となる。第２のレジスタ２４に設定するカウントアップ値としては、通常、第１のカウンタ２１がカウントアップしてその出力端子Ｏが“Ｌ”となり、第２のカウンタ２３がカウントを開始したときはタブレット測定回路のトランジスタはすでに安定しているので、１回目のラインパルスＬＰの入力でカウントアップとしてよいことから、第２のレジスタ２４に設定するカウントアップ値は、“１”としてよい。また、ラインパルスＬＰのアクティブのタイミングからノイズがゼロレベルまで減衰するのに要する時間Ｔ１ を例えば３０μｓｅｃとすると、第３のレジスタ２６に設定するカウントアップ値は、
３０×１０−６÷（１／１３×１０６）＝３９０
となる。以上のカウントアップ値があらかじめの計算により求められたら、ＲＯＭ１２に格納するプログラムを作成するときに、その値を設定しておく。ＣＰＵ１１がプログラムを読んで、各カウントアップ値を各レジスタ２２，２４，２６に設定するのである。このように、カウンタとレジスタとに分け、レジスタに対してＣＰＵからカウントアップ値を設定できるように構成したのは次のような理由による。それは図６のハードウェア構成を汎用型にするためである。液晶タブレット装置の機種が変更になったり仕様が変更になったときでも、それぞれの機種・仕様に合わせて、カウントアップ値を計算し、プログラムに組み込んでおけば、様々の機種・仕様に汎用的に対応することができる。
【００４３】
実施の形態４の液晶タブレット装置の動作を図７のフローチャートに従って説明する。このフローチャートにおいては、すでに、タブレット１７のある点がペン等により圧迫されたことが検出されているものとする。実施の形態４においては、交流化信号反転検出回路２７は使用しないものとする。ステップＳ４１においてＣＰＵ１１はＲＯＭ１２のプログラムを読んでそこに書き込まれているカウントアップ値（６５０，１，３９０）を各レジスタ２２，２４，２６に設定する。ステップＳ４２においてＣＰＵ１１は第１のカウンタ２１に対してイネーブル信号ＯＥＮを出力し、そのイネーブル端子／ＥＮを“Ｌ”に切り換えることにより第１のカウンタ２１がシステムクロックをカウントする動作をスタートさせる。そして、ステップＳ４３に進んでＣＰＵ１１自体はホールト（停止）する。あとは図６のハードウェアが動作する。ＣＰＵ１１が第１のカウンタ２１のイネーブル端子／ＥＮを“Ｌ”に切り換える手段としては、イネーブル端子／ＥＮの前にＣＰＵ１１より書き込み可能な１ビットのフリップフロップを設けておけばよい。ＣＰＵ１１がホールトしても第１のカウンタ２１の動作は継続される。ＣＰＵ１１は割り込み（インタラプト）がかかるまでホールト状態で待機しておればよい。
【００４４】
図６のハードウェアの動作を説明する。第１のカウンタ２１はイネーブル端子／ＥＮが“Ｌ”になった瞬間からシステムクロックのカウントを開始し、常にそのカウント値を第１のレジスタ２２に設定のカウントアップ値（６５０）と比較し、カウントアップするまでは出力端子Ｏを“Ｈ”レベルの状態に保っている。第１のカウンタ２１のカウント値がカウントアップ値に達すると、その出力端子Ｏを“Ｌ”レベルに切り換えるため、第２のカウンタ２３のイネーブル端子／ＥＮが“Ｌ”となり、第２のカウンタ２３がラインパルスＬＰのカウントを開始する。一般的には、イネーブル端子／ＥＮが“Ｌ”となった瞬間にはラインパルスＬＰの入力はなく、しばらく時間がたってからラインパルスＬＰが入力され、第２のカウンタ２３のカウント値が“１”となり、第２のレジスタ２４に設定のカウントアップ値と一致すると（ということは結局、ラインパルスＬＰが１つ入力されると）、その出力端子Ｏを“Ｈ”レベルから“Ｌ”レベルに切り換える。すると、第３のカウンタ２５のイネーブル端子／ＥＮが“Ｌ”レベルとなるため、第３のカウンタ２５がシステムクロックのカウントを開始し、常にそのカウント値を第３のレジスタ２６に設定のカウントアップ値（３９０）と比較し、カウントアップするまでは出力端子Ｏを“Ｈ”レベルの状態に保っている。第３のカウンタ２５のカウント値がカウントアップ値に達すると、その出力端子Ｏを“Ｌ”レベルに切り換える。第３のカウンタ２５の出力端子ＯはＣＰＵ１１のインタラプト端子／ＩＮＴに接続されており、これが“Ｌ”レベルに反転するためＣＰＵ１１に割り込みがかかる。
【００４５】
すなわち、ステップＳ５１において割り込みを検出すると、ＣＰＵ１１はホールト状態から動作を再開し、ステップＳ５２に進んでＡ／Ｄコンバータ１８のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせることによりタブレット１７からＡ／Ｄコンバータ１８に出力されているアナログのＸ座標信号・Ｙ座標信号をデジタルデータに変換し、その変換後のＸ座標データ・Ｙ座標データをＣＰＵ１１に取り込んでペン等により圧迫された指示点の座標測定を行う。
【００４６】
本実施の形態４によれば、ＣＰＵ１１は第１のカウンタ２１のイネーブル端子／ＥＮをアクティブにした後は次に割り込みがかかるまでホールト（停止）できるから、電力消費を抑えることができる。
【００４７】
また、液晶タブレット装置の機種が変更になったり仕様が変更になったときでも、それぞれの機種・仕様に合わせて、カウントアップ値を計算し、プログラムに組み込んでおけば、様々の機種・仕様に汎用的に対応することができる。
【００４８】
タブレット測定回路のトランジスタとして安定時間が比較的に長い安価なものを採用した場合には、第１のレジスタ２２に設定するカウントアップ値をより大きく設定すればよい。逆に安定時間が短いトランジスタを採用したときはより小さなカウントアップ値を設定することで待ち時間を短縮化するとよい。また、ノイズが立ち上がってからゼロレベルに減衰するまでの時間が長い機種・仕様においては、第３のレジスタ２６に設定するカウントアップ値をより大きく設定し、その減衰の時間が短い機種・仕様においては、カウントアップ値をより小さく設定すればよい。このように機種・仕様が変更になり、トランジスタの安定時間やノイズの持続時間が変化しても、それぞれに最適なカウントアップ値を設定することができる。
【００４９】
なお、本実施の形態の変形として、第３のレジスタ２６および第３のカウンタ２５を省略するものが考えられる。この場合、第２のカウンタ２３の出力端子ＯをＣＰＵ１１のインタラプト端子／ＩＮＴに接続するものとする。そして、制御フローとして、図７のステップＳ５１とステップＳ５２との間に、図５のステップＳ３６と同様に一定時間Ｔ１ のアイドリングを行うステップを挿入すればよい。このアイドリングの時間Ｔ１ はラインパルスＬＰがアクティブになったことに起因する相対的に小さいノイズの減衰を待つだけの時間で、第３のカウンタ２５のカウントアップに要する時間と同じく３０μｓｅｃである。
【００５０】
また、機種・仕様の変更に対応しないのであれば、ＣＰＵ１１から各レジスタへのカウントアップ値の設定の動作は必要ないし、さらには各レジスタを省略して、各カウンタとしてカウントアップ値内蔵の専用カウンタを使用するようにしてもよい。
【００５１】
〔実施の形態５〕
実施の形態５は液晶ディスプレイコントロール回路１４および液晶ディスプレイ１５が駆動されておらず、したがってラインパルスＬＰが出力されていない状態でも、タブレット１７をペン等により圧迫して指示したときには座標測定の処理を行えるようにしたものである。すなわち、図６のハードウェア構成であると、第２のカウンタ２３にラインパルスＬＰが入力されてこない場合には、いくら時間待ちをしても第２のカウンタ２３の出力端子Ｏが“Ｌ”レベルに切り換わらず、したがって第３のカウンタ２５もいくら時間待ちをしてもその出力端子Ｏは“Ｌ”レベルに切り換わることがなく、ＣＰＵ１１に対して割り込みがかからないことになる。実施の形態５はこのような不都合を解消するものである。
【００５２】
実施の形態５を図８のブロック図を用いて説明する。２８はシステムクロックをカウントする第４のカウンタ、２９は第４のカウンタ２８のカウントアップ値を設定するための第４のレジスタ、３０は第２のカウンタ２３の出力端子Ｏと第４のカウンタ２８の出力端子Ｏとをその２入力端子に接続し、その出力端子を次段の第３のカウンタ２５のイネーブル端子／ＥＮに接続するＡＮＤゲートである。第４のカウンタ２８のイネーブル端子／ＥＮは第２のカウンタ２３のイネーブル端子／ＥＮとともに前段の第１のカウンタ２１の出力端子Ｏに接続されている。その他の構成は実施の形態４（図６）と同様であるので、対応する部分に同一符号を付すにとどめ、説明を省略する。
【００５３】
ラインパルスＬＰの周期が例えば１００μｓｅｃとして、その間に生じるシステムクロックの数を計算すると、
１００×１０−６÷（１／１３×１０６）＝１３００
であるから、第４のレジスタ２９に例えば“１４００”を設定するものとする。
【００５４】
第２のカウンタ２３は第１のカウンタ２１の出力端子Ｏが“Ｌ”レベルに切り換わった瞬間からラインパルスＬＰのカウントを開始する。第４のカウンタ２８は第１のカウンタ２１の出力端子Ｏが“Ｌ”レベルに切り換わった瞬間からシステムクロックのカウンタを開始する。第２のカウンタ２３および第４のカウンタ２８がカウントアップせず、それぞれの出力端子Ｏが“Ｈ”レベルのときはＡＮＤゲート３０の出力も“Ｈ”レベルであり、第３のカウンタ２５のイネーブル端子／ＥＮが“Ｈ”であるため、第３のカウンタ２５は起動しない。ラインパルスＬＰをカウントする第２のカウンタ２３は、液晶ディスプレイコントロール回路１４および液晶ディスプレイ１５が動作しておらず、したがってラインパルスＬＰが入力されてこないときはカウントアップすることがなく、第２のカウンタ２３の出力端子Ｏは“Ｈ”レベルのままとなる。しかし、第４のカウンタ２８はシステムクロックをカウントし、やがてそのカウント値が第４のレジスタ２９に設定のカウントアップ値に達することとなり、そうすると第４のカウンタ２８の出力端子Ｏが“Ｌ”レベルに切り換わるため、ＡＮＤゲート３０の出力が“Ｌ”となって第３のカウンタ２５を起動する。すなわち、液晶ディスプレイ１５が非動作の状態でもタブレット１７をペン等で圧迫して指示すると、その指示点の座標測定の処理が実行されるのである。このような機能により、電子手帳などの携帯情報処理機器において、液晶ディスプレイ１５のＯＦＦ状態で例えば電卓の表示領域を指示して、その表示領域を表示させるといった利用が考えられる。
【００５５】
〔実施の形態６〕
実施の形態６は図６における交流化信号反転検出回路２７を使用するものであり、これは実施の形態３（図５）の場合の処理（ラインパルスＬＰがアクティブになったとしても、交流化信号Ｍが反転したタイミングであるのなら、座標測定の処理に進まないようにする）をハードウェアで実現するものである。
【００５６】
ラインパルスＬＰを第２のカウンタ２３でカウントしているとき、あるいは第３のカウンタ２５がシステムクロックをカウントしているとき、交流化信号Ｍが反転したとする。すると、交流化信号反転検出回路２７がその反転を検出し、その出力端子Ｃを“Ｌ”レベルに切り換え、第２のカウンタ２３および第３のカウンタ２５のリセット端子／Ｒに入力するので、両カウンタ２３，２５をリセットする。両カウンタ２３，２５は“０”からのカウントをリスタートすることになる。第３のカウンタ２５がカウントアップし座標測定の処理が開始されるのは、交流化信号反転検出回路２７が交流化信号Ｍの反転を検出しない場合に限られることになる。したがって、ラインパルスＬＰがアクティブになっても交流化信号Ｍが反転したときには座標測定の処理に移らないため、交流化信号Ｍの反転に起因した大きなノイズによる座標測定の誤差の影響を受けないですむ。
【００５７】
〔実施の形態７〕
実施の形態７はＣＰＵ１１のホールト時間をより長くするものである。図６における第３のカウンタ２５の出力端子ＯをＣＰＵ１１のインタラプト端子／ＩＮＴに接続することに代えて、図９に示すようにＡ／Ｄコンバータ１８のスタート端子／ＳＴＡＲＴに接続し、Ａ／Ｄコンバータ１８のエンド端子／ＥＮＤをＣＰＵ１１のインタラプト端子／ＩＮＴに接続してある。Ａ／Ｄコンバータ１８のデータ入力端子はタブレット１７の出力端子に接続され、データ出力端子はＣＰＵ１１のデータ入力ポートに接続されている。その他の構成は実施の形態４（図６）と同様であるので、対応する部分に同一符号を付すにとどめ、説明を省略する。
【００５８】
ＣＰＵ１１は第１のカウンタ２１を起動した後はホールト状態になっている。第３のカウンタ２５がカウントアップしてその出力端子Ｏが“Ｌ”レベルに切り換わると、Ａ／Ｄコンバータ１８のスタート端子／ＳＴＡＲＴが“Ｌ”レベルとなってＡ／Ｄコンバータ１８が起動し、タブレット１７から入力したアナログのＸ座標信号・Ｙ座標信号をデジタルのＸ座標データ・Ｙ座標データに変換する動作がスタートする。変換されたＸ座標データ・Ｙ座標データはＣＰＵ１１に送出される。このＡ／Ｄ変換が終了すると、エンド端子／ＥＮＤが“Ｌ”レベルに切り換わり、ＣＰＵ１１のインタラプト端子／ＩＮＴに割り込みがかかる。
【００５９】
本実施の形態７によれば、Ａ／Ｄコンバータ１８のＡ／Ｄ変換動作が終了するまでＣＰＵ１１をホールトすることができるので、電力消費をより削減することができる。また、ＣＰＵ１１のホールト状態でＡ／Ｄ変換するので、ノイズがより少ない状態でのＡ／Ｄ変換が可能となり、精度がアップする。
【００６０】
〔実施の形態８〕
実施の形態８はタブレット測定回路のトランジスタの安定時間をカウントするための第１のカウンタ２１を省略し、第１のカウンタ２１の機能を第２のカウンタ２３に併せもたせるものである。
【００６１】
システムクロックＣＬＫが例えば１３ＭＨｚ、タブレット測定回路のトランジスタの安定時間が例えば５０μｓｅｃであるとした場合、第１のレジスタ２２に設定するカウントアップ値は、
５０×１０−６÷（１／１３×１０６）＝６５０
であった。
【００６２】
２９＝５１２＜６５０＜２１０＝１０２４
より、第１のカウンタ２１を構成するフリップフロップの数は１０個となり、第１のカウンタ２１は比較的に複雑なものとなる。また、第１のレジスタ２２も必要である。
【００６３】
トランジスタの安定時間５０μｓｅｃはラインパルスＬＰの周期１００μｓｅｃ内のものとなるから、５０μｓｅｃを１３ＭＨｚのクロックの６５０カウントで計測することに代えて、ラインパルスＬＰを１つ余分にカウントすればよい。そこで、第２のレジスタ２４にカウントアップ値として“２”を設定するようにする。第２のカウンタ２３を構成するフリップフロップは２個でよい。
【００６４】
実施の形態８の場合、図６の構成において、第１のカウンタ２１と第１のレジスタ２２を省略し、ＣＰＵ１１からのイネーブル信号ＯＥＮを第２のカウンタ２３のイネーブル端子／ＥＮに入力するように構成すればよい。
【００６５】
〔実施の形態９〕
実施の形態９はペン等によるタブレット１７上の所望の点の指示のための圧迫が不充分な状態での座標測定を回避し、座標測定精度を向上させるものである。
【００６６】
図１０のフローチャートに基づいて制御動作を説明する。タブレット１７に対してペン等により所望の点を圧迫して指示点を指定する。この圧迫によりタブレット１７を構成する２枚の導電膜が指示点において接触する。この接触抵抗が所定値かどうかでタブレット１７に対する押し圧が測定される。Ｘ方向に電圧勾配を作る導電膜とＹ方向に電圧勾配を作る導電膜とは別である。押し圧も各導電膜ごとに測定される。この場合に、Ｘ方向に電圧勾配を作る導電膜での押し圧の測定を「Ｘ方向の押し圧」と称し、Ｙ方向に電圧勾配を作る導電膜での押し圧の測定を「Ｙ方向の押し圧」と称することとする。
【００６７】
ステップＳ６１においてタブレット１７に対するＸ方向の押し圧Ｐ１ の測定を行い、ステップＳ６２において押し圧Ｐ１ が所定値Ｐ０ 以上あってタブレット１７に対する圧迫が正常か否かを判断し、所定値Ｐ０ 未満であればステップＳ６８に進んでタブレット１７が正常に押し操作されていないと判定し、動作を終了する。Ｘ方向の押し圧Ｐ１ が所定値Ｐ０ 以上あるときはステップＳ６３に進み、タブレット１７における指示点のＸ座標を測定する。引き続いてステップＳ６４においてタブレット１７における指示点のＹ座標を測定し、そのあとでステップＳ６５においてタブレット１７に対するＹ方向の押し圧Ｐ２ の測定を行い、ステップＳ６６において押し圧Ｐ２ が所定値Ｐ０ 以上あるか否かを判断し、所定値Ｐ０未満であればステップＳ６８に進んでタブレット１７が正常に押し操作されていないと判定し、動作を終了するが、Ｙ方向の押し圧Ｐ２ が所定値Ｐ０ 以上あるときはステップＳ６７に進み、タブレット１７が正常に押し操作された状態で指示点のＸ座標・Ｙ座標が正しく測定されたものと判定する。
【００６８】
従来の一般的な手順は、▲１▼Ｘ方向押し圧測定→▲２▼Ｘ座標測定→▲３▼Ｙ方向押し圧測定→▲４▼Ｙ座標測定の順であったが、この場合、▲４▼のＹ座標測定の時点でＹ方向押し圧が不足する状態になっている可能性があり、Ｙ座標測定の精度の信頼性が低いという問題があった。
【００６９】
これに対し、本実施の形態９のように、Ｙ座標測定の後にＹ方向の押し圧Ｐ２を測定して押し圧が正常のときは全体として正常な測定が行われたと判定し、押し圧が不足するときは測定は正常でないと判定するから、Ｘ座標・Ｙ座標ともに測定の信頼性が高いものとなる。
【００７０】
なお、ステップＳ６８の次にステップＳ６１に戻って、測定を繰り返すようにしてもよい。
【００７１】
〔実施の形態１０〕
実施の形態１０もペン等によるタブレット１７上の所望の点の指示のための圧迫が不充分な状態での座標測定を回避し、座標測定精度を向上させるものである。
【００７２】
図１１のフローチャートに基づいて制御動作を説明する。ステップＳ７１においてタブレット１７に対するＸ方向の押し圧Ｐ１ の測定を行い、ステップＳ７２において押し圧Ｐ１ が所定値Ｐ０ 以上あってタブレット１７に対する圧迫が正常か否かを判断し、所定値Ｐ０ 未満であればステップＳ８２に進んでタブレット１７が正常に押し操作されていないと判定し、動作を終了する。Ｘ方向の押し圧Ｐ１ が所定値Ｐ０ 以上あるときはステップＳ７３に進み、今度はＹ方向の押し圧Ｐ２ の測定を行い、ステップＳ７４において押し圧Ｐ２ が所定値Ｐ０ 以上か否かを判断し、所定値Ｐ０ 未満であればステップＳ８２に進んでタブレット１７が正常に押し操作されていないと判定し、動作を終了する。Ｙ方向の押し圧Ｐ２ が所定値Ｐ０ 以上あるときはステップＳ７５に進み、タブレット１７における指示点のＸ座標を測定し、引き続いてステップＳ７６においてタブレット１７における指示点のＹ座標を測定する。そして、再びステップＳ７７においてＸ方向の押し圧Ｐ１ の測定を行い、ステップＳ７８において押し圧Ｐ１ が所定値Ｐ０ 以上あるか否かを判断し、所定値Ｐ０ 未満であればステップＳ８２に進んでタブレット１７が正常に押し操作されていないと判定し、動作を終了するが、所定値Ｐ０ 以上あればステップＳ７９に進んでＹ方向の押し圧Ｐ２ の測定を行い、ステップＳ８０において押し圧Ｐ２ が所定値Ｐ０ 以上あるか否かを判断し、所定値Ｐ０ 未満であればステップＳ８２に進んでタブレット１７が正常に押し操作されていないと判定し、動作を終了するが、所定値Ｐ０ 以上あればステップＳ８１に進んでタブレット１７が正常に押し操作された状態で指示点のＸ座標・Ｙ座標が正しく測定されたものと判定する。
【００７３】
つまり、Ｘ方向の押し圧Ｐ１ の測定とＹ方向の押し圧Ｐ２ の測定とを対にして連続して実行し、次に、指示点のＸ座標の測定とＹ座標の測定とを対にして連続して実行し、最後に念をいれてもう一度Ｘ方向の押し圧Ｐ１ の測定とＹ方向の押し圧Ｐ２ の測定とを対にして連続して実行している。
【００７４】
本実施の形態１０においては、Ｘ方向の押し圧Ｐ１ の測定とＹ方向の押し圧Ｐ２ の測定とを２回ずつ行うが、換言すると、指示点のＸ座標・Ｙ座標の測定の前後にＸ方向・Ｙ方向の押し圧Ｐ１ ，Ｐ２ の測定をはさむようにして実行するから、測定に時間がかかっても、タブレット１７に対する押し操作の状態がきわめて正常である条件下でＸ座標・Ｙ座標を測定するので、その測定の信頼性が充分に高いものとなる。
【００７５】
なお、ステップＳ８２の次にステップＳ７１に戻って、測定を繰り返すようにしてもよい。
【００７６】
【発明の効果】
本発明に係る請求項１の液晶タブレット装置によれば、一定時間を待つ基点を周期の長い交流化信号のエッジのタイミングとするのではなく、周期が短いラインパルスのアクティブのタイミングを基点としているので、Ｘ座標信号・Ｙ座標信号のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせるまでの待ち時間が短くなり、タブレットに対する入力座標点の測定に要する実時間を短縮化することができる。さらに、根本的には、交流化信号のエッジに起因したノイズの悪影響だけでなくラインパルスのアクティブ化に起因したノイズの悪影響をも回避することができる。また、Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートするのを待つ一定時間として、ラインパルスがアクティブになったことに起因する相対的に小さいノイズが減衰するのを待つより短い時間を設定すことが可能となり、早めにＡ／Ｄ変換を済ませることができ、また、次のラインパルスがアクティブになるまでの間の時間が長く、その時間内に確実にＡ／Ｄ変換を完了させることができる。
【００７７】
本発明に係る請求項２の液晶タブレット装置によれば、タブレット測定回路を起動した後においてトランジスタなどのスイッチング素子が安定化してから座標測定の処理を開始するので、周期の短いラインパルスがアクティブになったタイミングを一定時間の待ちの基点としているにもかかわらず、ノイズの悪影響を回避して座標測定精度を高い状態に保つことができる。また、Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートするのを待つ一定時間として、ラインパルスがアクティブになったことに起因する相対的に小さいノイズが減衰するのを待つより短い時間を設定すことが可能となり、早めにＡ／Ｄ変換を済ませることができ、また、次のラインパルスがアクティブになるまでの間の時間が長く、その時間内に確実にＡ／Ｄ変換を完了させることができる。
【００８４】
本発明に係る請求項３の液晶タブレット装置によれば、最後に押し圧測定を行うから、その前に行われたＸ座標およびＹ座標の測定の信頼を高いものとできる。
【００８５】
本発明に係る請求項４の液晶タブレット装置によれば、指示点のＸ座標・Ｙ座標の測定の前と後の両方においてＸ方向・Ｙ方向の押し圧の測定をはさむようにして実行するから、測定に時間がかかっても、タブレットに対する押し操作の状態がきわめて正常である条件下でＸ座標・Ｙ座標を測定するので、その測定の信頼性を充分に高いものとできる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１に係る液晶タブレット装置の電気的構成を示すブロック図
【図２】液晶ディスプレイコントロール回路において生成されるラインパルスと交流化信号とタブレットに誘起されるノイズの関係を示す波形図
【図３】実施の形態１の場合の動作説明に供するフローチャート
【図４】実施の形態２の場合の動作説明に供するフローチャート
【図５】実施の形態３の場合の動作説明に供するフローチャート
【図６】実施の形態４の液晶タブレット装置に用いるハードウェア構成を示すブロック図
【図７】実施の形態４の場合の動作説明に供するフローチャート
【図８】実施の形態５に係る液晶タブレット装置の電気的構成を示すブロック図
【図９】実施の形態７に係る液晶タブレット装置の電気的構成を示すブロック図
【図１０】実施の形態９の場合の動作説明に供するフローチャート
【図１１】実施の形態１０の場合の動作説明に供するフローチャート
【符号の説明】
１１……ＣＰＵ
１２……ＲＯＭ
１３……ＲＡＭ
１４……液晶ディスプレイコントロール回路
１５……液晶ディスプレイ
１６……タブレットコントロール回路
１７……タブレット
１８……Ａ／Ｄコンバータ
２１……タブレット測定回路のトランジスタの安定時間をカウントするための第１のカウンタ
２２……第１のカウンタにカウントアップ値を設定するための第１のレジスタ
２３……ラインパルスをカウントするための第２のカウンタ
２４……第２のカウンタにカウントアップ値を設定するための第１のレジスタ
２５……ノイズが減衰するまでの時間をカウントするための第３のカウンタ
２６……第３のカウンタにカウントアップ値を設定するための第１のレジスタ
２７……交流化信号反転検出回路
２８……ラインパルスの入力がなく第２のカウンタが動作しないときでも第３のカウンタを起動するための第４のカウンタ
２９……第４のカウンタにカウントアップ値を設定するための第１のレジスタ
３０……ＡＮＤゲート
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子手帳や携帯情報処理機器などに搭載されて、ペンタッチやフィンガータッチにより入力操作等を行う液晶タブレット装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
液晶タブレット装置は、液晶ディスプレイの上に座標読み取り装置としてのタブレットを貼り合わせ、タブレットにおける入力と液晶ディスプレイの表示出力とを一致させるように構成したものである。
【０００３】
表示信号を液晶ドットに印加するときは直流成分を付与することになるため、液晶の寿命劣化をもたらす。そこで、液晶ドットに印加する電圧の極性を一定時間おきに反転させて交流信号にするのが一般的である。つまり、一定時間ごとに立ち上がり・立ち下がりを繰り返す方形波である交流化信号（極性反転信号）を生成し、液晶ドライバが出力する表示信号の極性を交流化信号のエッジのタイミングで反転する状態でその表示信号を液晶表示素子に与えるようにしている。
【０００４】
タブレットは、均一な抵抗分布を有する２枚の透明な導電膜を微小間隔隔てて対向させ、一方の導電膜には上下両辺に電極を設け、他方の導電膜には左右両辺に電極を設け、互いに異なるタイミングで電極間に電圧を印加してそれぞれの導電膜に一定の電流を流すことによりＸ方向とＹ方向とに電圧勾配を作り出すようにしたものである。ペン等でタブレットを圧迫すると、その圧迫された指示点で２枚の導電膜が接触する。まず、Ｘ方向に電圧勾配を作り、接触点での電圧値を読み取ると、それがＸ座標の信号となる。次に、Ｙ方向に電圧勾配を作り、接触点での電圧値を読み取ると、それがＹ座標の信号となる。これらのＸ座標信号・Ｙ座標信号はアナログ信号であるため、Ａ／Ｄ変換によりデジタル信号に変換されてＣＰＵに入力される。
【０００５】
液晶ディスプレイにおいて液晶ドットに印加する表示信号を交流化信号に基づいて極性反転したとき強いインパルス状の電磁波が発生し、この電磁波が液晶ディスプレイに貼り合わされたタブレットの座標信号に対してノイズとなって重畳し、座標測定精度の低下をもたらすおそれがある。というのは、交流化信号による表示信号の極性反転のタイミングとタブレット検出タイミングとが非同期となっているために、双方のタイミングが一致する場合があり、そうなると、座標信号にノイズが重畳されることになるためである。
【０００６】
この不都合を解消するための技術として特開平６−１６１６５８号公報に開示の液晶タブレット装置がある。それは、交流化信号を所定時間遅延させる遅延回路を設け、その遅延させた信号をタブレット検出タイミング信号としてタブレット駆動回路に導き、そのタブレット検出タイミング信号のエッジでタブレット駆動回路のＡ／ＤコンバータのＡ／Ｄ変換動作をスタートさせるように構成している。座標信号のＡ／Ｄ変換タイミングを交流化信号のエッジすなわち表示信号極性反転のタイミングからずれさせることができ、ノイズの重畳しないタイミングで座標信号をＡ／Ｄ変換することができる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、交流化信号は周波数が低く周期が長いために、これを遅延させたタブレット検出タイミング信号も同様に周期が長く、座標信号のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせるまでの待ち時間が長くなり、タブレットに対する入力座標点の測定に時間がかかるという問題がある。
【０００８】
また、より根本的な問題として、液晶ディスプレイ側からタブレット側に与える電磁波ノイズは何も交流化信号のエッジのタイミングだけではなく、液晶ディスプレイの液晶ドット列に与えるラインパルス（ゲートパルス信号）がアクティブになったときにも強いインパルス状の電磁波が発生し、その電磁波がタブレットの座標信号に対してノイズとして重畳するおそれがある。しかし、上記公報の従来技術では、このラインパルスに起因したノイズによる悪影響を除去することはできない。
【０００９】
さらに、交流化信号のエッジのタイミングとラインパルスのアクティブのタイミングとが時間的に重なると、座標信号に重畳するノイズはさらに大きなものとなるが、遅延回路による一定時間の遅延の後にタブレット検出タイミング信号を出力していたのでは、ノイズが充分に減衰し切らないうちでの座標信号のＡ／Ｄ変換動作のスタートとなってしまい、座標測定精度が低下する。
【００１０】
本発明はこのような事情に鑑みて創案されたものであって、液晶ディスプレイのラインパルスに起因したノイズの悪影響を除去して座標測定精度を向上させるとともに、座標測定に要する時間を短縮化することを目的としている。さらに、新たに採用した構成に派生する問題点の解消を併せて図ることを目的としている。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る請求項１の液晶タブレット装置は、次のような構成となっている。すなわち、液晶ディスプレイ上に透明なタブレットが貼り合わされており、タブレット上にタッチ指示された点の座標信号をＡ／Ｄコンバータでデジタルの座標、データに変換するように構成されている。そして、液晶ディスプレイコントロール回路が生成するラインパルスがアクティブになったタイミングから一定時間後に前記Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートさせ、液晶ディスプレイコントロール回路が生成する交流化信号の反転を検出し、その反転検出があったときは前記ラインパルスがアクティブ毎になったタイミングから一定時間後であってもＡ／Ｄコンバータの動作をスタートさせないように構成してある。
【００１２】
本発明に係る請求項２の液晶タブレット装置は、次のような構成になっている。すなわち、液晶ディスプレイ上に透明なタブレットが貼り合わされており、タブレット上にタッチ指示された点の座標信号をＡ／Ｄコンバータでデジタルの座標データに変換するように構成された液晶タブレット装置であって、タブレット上にタッチ指示されたときから液晶ディスプレイコントロール回路が生成するラインパルスがアクティブになる毎に、このラインパルスの数をカウントし、そのカウント値がタブレット測定回路のスイッチング素子が安定するに足る時間に対応したカウント値になったときから、前記ラインパルスがアクティブ毎になったタイミングから一定時間後に前記Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートさせ、液晶ディスプレイコントロール回路が生成する交流化信号の反転を検出し、その反転検出があったときは前記ラインパルスがアクティブ毎になったタイミングから一定時間後であっても前記Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートさせないように構成してある。また、Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートするのを待つ一定時間として、ラインパルスがアクティブになったことに起因する相対的に小さいノイズが減衰するのを待つより短い時間を設定することが可能となり、早めにＡ／Ｄ変換を済ませることができ、また、次のラインパルスがアクティブになるまでの間の時間が長く、その時間内に確実にＡ／Ｄ変換を完了させることができる。
【００１９】
本発明に係る請求項３の液晶タブレット装置は、タブレットに対するＸ方向またはＹ方向のいずれかの押し圧を測定し、次いでタブレットにおいて指示点のＸ座標およびＹ座標を測定し、その後に未だ測定していない方の方向の押し圧を測定するように構成してある。最後に押し圧測定を行うから、その前に行われたＸ座標およびＹ座標の測定の信頼性が高いものとなる。
【００２０】
本発明に係る請求項４の液晶タブレット装置は、タブレットに対するＸ方向およびＹ方向の押し圧を測定し、次いでタブレットにおいて指示点のＸ座標およびＹ座標を測定し、その後に再びＸ方向およびＹ方向の押し圧を測定するように構成してある。指示点のＸ座標・Ｙ座標の測定の前と後の両方においてＸ方向・Ｙ方向の押し圧の測定をはさむようにして実行するから、測定に時間がかかっても、タブレットに対する押し操作の状態がきわめて正常である条件下でＸ座標・Ｙ座標を測定するので、その測定の信頼性が充分に高いものとなる。
【００２１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る液晶タブレット装置の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【００２２】
〔実施の形態１〕
図１は実施の形態１に係る液晶タブレット装置の電気的構成を示すブロック図である。図１において、１１は演算処理を行うＣＰＵ（中央演算処理装置）、１２はプログラムを格納しているＲＯＭ（リードオンリーメモリ）、１３は各種データの一時記憶を行うＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）、１４は液晶ディスプレイコントロール回路、１５は液晶ディスプレイ、１６はタブレットコントロール回路、１７は抵抗膜方式で感圧型の透明なタブレット、１８はタブレット１７が検出したアナログのＸ座標信号・Ｙ座標信号をデジタルデータに変換するＡ／Ｄコンバータである。図示は省略しているが、タブレット１７は液晶ディスプレイ１５の表面に貼り合わされている。また、液晶ディスプレイコントロール回路１４およびタブレットコントロール回路１６はＣＰＵ１１から延出のバスライン１９に対して所要のインターフェイス（図示せず）を介して接続されている。
【００２３】
図２は液晶ディスプレイコントロール回路１４において生成されるラインパルスＬＰと交流化信号Ｍとタブレット１７に誘起されるノイズＸＬの関係を示している。ラインパルスＬＰが“Ｈ”レベルとなってアクティブになったタイミングｔ１ ，ｔ３ ，ｔ５ ，ｔ７ や交流化信号Ｍの立ち上がり・立ち下がりのエッジで表示信号の極性が反転されたタイミングｔ５ ，ｔ１１において強いインパルス状の電磁波が発生し、この電磁波がタブレット１７においてノイズＸＬを誘起する。特に、交流化信号Ｍのエッジのタイミングｔ５ ，ｔ１１ではノイズＸＬのレベルが大きくなっている。ラインパルスＬＰのみに起因して発生するノイズは、発生から時間Ｔ１ （＝ｔ２ −ｔ１ ）の経過後にゼロレベルとなる。交流化信号Ｍに起因して発生するノイズが発生からゼロレベルになるまでの時間Ｔ２ （＝ｔ６ −ｔ５ ）はＴ１ よりも大きい。
【００２４】
タブレット１７をペン等で圧迫すると、その圧迫された指示点のＸ座標信号とＹ座標信号がアナログの形で出力され、Ａ／Ｄコンバータ１８においてデジタルデータに変換され、ＣＰＵ１１に取り込まれる。
【００２５】
もし、ランダムなタイミングでタブレット１７の検出座標信号をＡ／Ｄコンバータ１８においてＡ／Ｄ変換すると、ＣＰＵ１１はノイズ成分を含んだ誤ったデータを取り込んでしまうことになる。そこで、ラインパルスＬＰがアクティブになったタイミングから一定時間Ｔ２ （レベルの大きい方のノイズがゼロレベルとなるまでの時間）だけ待った後に検出座標信号をＡ／Ｄ変換すれば、ノイズの悪影響を回避でき、座標測定精度を改善できる。ここで従来技術との対比上注意すべき点は、一定時間を待つ基点が交流化信号Ｍのエッジのタイミングではなく、ラインパルスＬＰがアクティブになったタイミングであるということである。
【００２６】
そのようにする制御動作を図３のフローチャートに基づいて説明する。このフローチャートにおいては、すでに、タブレット１７のある点がペン等により圧迫されたことが検出されているものとする（ペンタッチ）。ステップＳ１１においてラインパルスＬＰがアクティブ（“Ｈ”レベル）に立ち上がるのを待ってステップＳ１２に進み、一定時間Ｔ２ のアイドリングを行う。そして、ステップＳ１３においてＡ／Ｄコンバータ１８のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせることによりタブレット１７からＡ／Ｄコンバータ１８に出力されているアナログのＸ座標信号・Ｙ座標信号をデジタルデータに変換し、その変換後のＸ座標データ・Ｙ座標データをＣＰＵ１１に取り込んでペン等により圧迫された指示点の座標測定を行う。
【００２７】
必要な待ち時間Ｔ２ は貼り合わされている液晶ディスプレイ１５とタブレット１７との間隔等によって変動するが、ラインパルスＬＰの周期を６０μｓｅｃとして、例えば、Ｔ２ を５０μｓｅｃと設定することができる。なお、Ｔ１ は３０μｓｅｃ程度である。この場合、時刻ｔ６ からｔ７ までの１０μｓｅｃの間にＡ／Ｄ変換を完了すればよい。
【００２８】
一定時間Ｔ２ が経過する間にノイズは減衰し、その時間の経過直後においてノイズは実質的にゼロとなっているから、Ａ／Ｄ変換されたＸ座標データ・Ｙ座標データにはノイズ成分は含まれておらず、座標測定精度が高いものとなる。
【００２９】
一定時間Ｔ２ を待つ基点を周期の長い交流化信号Ｍのエッジのタイミングとするのではなく、周期が短いラインパルスＬＰのアクティブのタイミングを基点としているので、どのようなタイミングでタブレット１７がペン等により圧迫されたとしても、Ｘ座標信号・Ｙ座標信号のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせるまでの待ち時間が短くなり、タブレット１７に対する入力座標点の測定に要する実時間を短縮化することができる。
【００３０】
さらに、より根本的な機能として、交流化信号Ｍのエッジに起因したノイズの悪影響だけでなくラインパルスＬＰのアクティブ化に起因したノイズの悪影響をも回避することができるのである。もちろん、交流化信号ＭのエッジのタイミングとラインパルスＬＰのアクティブ化のタイミングとが時間的に重なった場合でも、ノイズの悪影響を回避することができる。
【００３１】
〔実施の形態２〕
実施の形態２は、タブレットコントロール回路１６に内蔵のタブレット測定回路を起動した後に、タブレットコントロール回路１６内のトランジスタが安定してからタブレット１７上の指示点の座標測定を行うものである。
【００３２】
タブレット測定回路は常時的にアクティブになっているものではなく、タブレット１７がペン等によって圧迫されたことを感圧で検出し、そのタイミングからタブレット測定回路がアクティブになる。このように構成することにより電力消費を抑えている。したがって、タブレット測定回路を起動した直後はトランジスタが安定しておらず、トランジスタの不安定の状態で指示点の座標測定を行うと座標測定精度が低下することになる。しかし、前述したように一定時間を待つタイミングの基点をラインパルスＬＰがアクティブになったタイミングに定めると、ラインパルスＬＰの周期が短いことから、タブレット測定回路のトランジスタが不安定の状態で指示点の座標測定を開始してしまうおそれがある。この不都合を解消するのが本実施の形態２に係る液晶タブレット装置である。
【００３３】
実施の形態２の場合の制御動作を図４のフローチャートに基づいて説明する。このフローチャートにおいては、すでに、タブレット１７のある点がペン等により圧迫されたことが検出されているものとする。ステップＳ２１においてタブレットコントロール回路１６に内蔵のタブレット測定回路をアクティブにする。ラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルから“Ｈ”レベルになった回数を示す変数をＡとする。ステップＳ２２において変数Ａをゼロクリアして初期化する。ステップＳ２３においてラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルになるのを待ってステップＳ２４に進み、ラインパルスＬＰが次に“Ｈ”レベルになるのを待ってステップＳ２５に進み、変数Ａを１だけインクリメントする。すなわち、変数ＡはラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルから“Ｈ”レベルに変化した回数をカウントしている。そして、ステップＳ２６において変数Ａが所定値Ｎになったかどうかを判断し、なっていないときはステップＳ２３に戻り、ラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルから“Ｈ”レベルになった回数のカウントを続ける。タブレット測定回路をアクティブ（そのトランジスタをＯＮ）にしてからトランジスタが安定するに至ったときには変数Ａが所定値Ｎになっているようにあらかじめ所定値Ｎの値を定めておく。変数Ａが所定値ＮになったときはステップＳ２７に進み、一定時間Ｔ２ のアイドリングを行う。このアイドリングは前述のとおりラインパルスＬＰがアクティブになったことに起因するノイズはもちろん交流化信号Ｍのエッジに起因するノイズのゼロレベルへの減衰を待つものである。したがって、アイドリングも座標測定の処理の期間に含まれる。換言すれば、トランジスタが安定してから座標測定の処理に入るのである。そして、ステップＳ２８においてＡ／Ｄコンバータ１８のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせることによりタブレット１７からＡ／Ｄコンバータ１８に出力されているアナログのＸ座標信号・Ｙ座標信号をデジタルデータに変換し、その変換後のＸ座標データ・Ｙ座標データをＣＰＵ１１に取り込んでペン等により圧迫された指示点の座標測定を行う。
【００３４】
所定値Ｎの値についての例を以下に示す。ラインパルスＬＰの周期が例えば１００μｓｅｃであり、トランジスタの安定時間が例えば５０μｓｅｃであるとすると、Ｎ＝２に設定すればよい。トランジスタがＯＮになった直後にラインパルスＬＰがアクティブになった場合を想定すると、これで変数Ａ＝１であるが、トランジスタの安定時間５０μｓｅｃが経過した後にラインパルスＬＰがアクティブになったことを検出して初めてトランジスタの安定化が保証され、このとき変数Ａ＝２となるからである。また、ラインパルスＬＰの周期が例えば７０μｓｅｃであり、トランジスタの安定時間が例えば８０μｓｅｃであるとすると、Ｎ＝３に設定すればよい。トランジスタがＯＮになった直後にラインパルスＬＰがアクティブになった場合を想定すると、これで変数Ａ＝１であるが、トランジスタの安定時間８０μｓｅｃが経過するまでにつまり７０μｓｅｃの経過により次のラインパルスＬＰがアクティブとなり変数Ａ＝２となっている。この時点ではまだトランジスタは安定化していない。トランジスタ安定時間８０μｓｅｃが経過した後にラインパルスＬＰがアクティブになったことを検出して初めてトランジスタの安定化が保証されるが、このとき変数Ａ＝３となるからである。
【００３５】
本実施の形態２によれば、タブレット測定回路を起動した後においてトランジスタが確実に安定化してから座標測定の処理を開始するので、周期の短いラインパルスＬＰがアクティブになったタイミングを一定時間Ｔ２ の待ちの基点としているにもかかわらず、座標測定精度を高い状態に保つことができる。
【００３６】
〔実施の形態３〕
実施の形態３は、ラインパルスＬＰがアクティブになったとしても、交流化信号Ｍが反転したタイミングであるのなら、座標測定の処理に進まないようにするものである。図２に示すように交流化信号Ｍの反転に起因したノイズが大きいので座標測定の誤差が大きくなりがちであるためである。それに、交流化信号Ｍの反転に起因したノイズがゼロレベルまで減衰するのに要する時間Ｔ２ が長く、次のラインパルスＬＰがアクティブになるまでの間（ｔ６ 〜ｔ７ ）の時間が短く、この短い時間内にＡ／Ｄ変換を完了することがむずかしくなるからである。
【００３７】
実施の形態３の場合の制御動作を図５のフローチャートに基づいて説明する。このフローチャートにおいては、すでに、タブレット１７のある点がペン等により圧迫されたことが検出されているものとする。ステップＳ３１においてラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルになるのを待ってステップＳ３２に進み、変数Ｂに交流化信号Ｍのレベル（“Ｈ”レベルか“Ｌ”レベルかいずれか一方）を設定し、ステップＳ３３においてまだラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルであるか否かをチェックする。もし、ラインパルスＬＰがアクティブになって“Ｈ”レベルになっているのであればステップＳ３１に戻り、交流化信号Ｍのレベルを変数Ｂに設定し直すが、まだラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルのままであれば次のステップＳ３４に進む。このようにするのは、変数Ｂに設定した交流化信号ＭのレベルがラインパルスＬＰが継続して“Ｌ”レベルとなっているときのものであることを保証するためである。
【００３８】
次に、座標測定の処理を開始する前提として、ステップＳ３４においてラインパルスＬＰがアクティブ（“Ｈ”レベル）に立ち上がるのを待つ。そして、ステップＳ３５に進み、そのときの交流化信号Ｍのレベルと変数Ｂに設定している交流化信号Ｍのレベルとが一致するかどうかを判断する。つまり、両方とも“Ｈ”レベルであるか、それとも両方とも“Ｌ”レベルであるか、換言すれば、交流化信号Ｍの反転が生じていないかどうかを判定する。この判断が否定的となるときつまり交流化信号Ｍに反転が生じたときにはステップＳ３６からの座標測定の処理には進まず、ステップＳ３１に戻って交流化信号Ｍが反転しなくなる状態まで待つ。交流化信号Ｍに反転が生じておらずステップＳ３５の判断が肯定的となったときはステップＳ３６に進んで一定時間Ｔ１ のアイドリングを行う。このアイドリングの時間Ｔ１ は実施の形態１や実施の形態２の場合のステップＳ１２，Ｓ２７のアイドリングの時間Ｔ２ よりも小さい。それは交流化信号Ｍの反転によるノイズの影響をもとから避けているためであり、ラインパルスＬＰがアクティブになったことに起因する相対的に小さいノイズの減衰を待つだけでよいからである。このときの一定時間Ｔ１ は例えば３０μｓｅｃである。そして、ステップＳ３７においてＡ／Ｄコンバータ１８のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせることによりタブレット１７からＡ／Ｄコンバータ１８に出力されているアナログのＸ座標信号・Ｙ座標信号をデジタルデータに変換し、その変換後のＸ座標データ・Ｙ座標データをＣＰＵ１１に取り込んでペン等により圧迫された指示点の座標測定を行う。
【００３９】
本実施の形態３によれば、交流化信号Ｍが反転したタイミングでは座標測定の処理を避けるから、交流化信号Ｍの反転に起因した大きなノイズによる座標測定の誤差の影響を受けないですむ。また、アイドリングの時間Ｔ１ が短く、早めにＡ／Ｄ変換を済ませることができ、また、次のラインパルスＬＰがアクティブになるまでの間（ｔ２ 〜ｔ３ ）の時間が長く、その時間内に確実にＡ／Ｄ変換を完了させることができる。
【００４０】
〔実施の形態４〕
実施の形態４は一部の機能をハードウェアで達成するように構成したものである。後述する実施の形態５についても同様である。
【００４１】
図６は実施の形態４で用いるハードウェア構成を示すブロック図である。図６において、２１はタブレット測定回路のトランジスタの安定時間を計測するためにシステムクロックをカウントする第１のカウンタ、２２は第１のカウンタ２１のカウントアップ値を設定するための第１のレジスタ、２３は液晶ディスプレイコントロール回路１４から入力したラインパルスＬＰをカウントするための第２のカウンタ、２４は第２のカウンタ２３のカウントアップ値を設定するための第２のレジスタ、２５はラインパルスＬＰがアクティブになってからＡ／Ｄ変換スタートまでの待ち時間を計測するためにシステムクロックをカウントする第３のカウンタ、２６は第３のカウンタ２５のカウントアップ値を設定するための第３のレジスタ、２７は交流化信号Ｍの反転を検出する交流化信号反転検出回路である。各レジスタ２２，２４，２６にはそれぞれ個別的にＣＰＵ１１より所定のカウントアップ値が設定されるようになっている。各カウンタ２１，２３，２５はイネーブル端子／ＥＮが“Ｌ”になったときにカウントを開始する。また、データ端子Ｄに各レジスタ２２，２４，２６からのカウントアップ値が入力され、カウント値がカウントアップ値に一致したときに出力端子Ｏのレベルを“Ｈ”から“Ｌ”に切り換えて出力するようになっている。第１のカウンタ２１はそのイネーブル端子／ＥＮにＣＰＵ１１からイネーブル信号ＯＥＮを入力し、第２のカウンタ２３のイネーブル端子／ＥＮは第１のカウンタ２１の出力端子Ｏに接続され、第３のカウンタ２５のイネーブル端子／ＥＮは第２のカウンタ２３の出力端子Ｏに接続されている。交流化信号反転検出回路２７は液晶ディスプレイコントロール回路１４から交流化信号Ｍを入力し、交流化信号Ｍが反転したときに出力端子Ｃを“Ｈ”レベルから“Ｌ”レベルにするようになっている。この出力端子Ｃは第２のカウンタ２３と第３のカウンタ２５の各リセット端子／Ｒに接続されており、リセット端子／Ｒが“Ｌ”レベルになったときはいかなるカウント値の状態であっても各カウンタ２３，２５はリセットされて“０”となり、最初からカウントをスタートすることになる。
【００４２】
各レジスタ２２，２４，２６に設定するカウントアップ値について説明する。システムクロックＣＬＫが例えば１３ＭＨｚ、タブレット測定回路のトランジスタの安定時間が例えば５０μｓｅｃであるとした場合、第１のレジスタ２２に設定するカウントアップ値は、
５０×１０−６÷（１／１３×１０６）＝６５０
となる。第２のレジスタ２４に設定するカウントアップ値としては、通常、第１のカウンタ２１がカウントアップしてその出力端子Ｏが“Ｌ”となり、第２のカウンタ２３がカウントを開始したときはタブレット測定回路のトランジスタはすでに安定しているので、１回目のラインパルスＬＰの入力でカウントアップとしてよいことから、第２のレジスタ２４に設定するカウントアップ値は、“１”としてよい。また、ラインパルスＬＰのアクティブのタイミングからノイズがゼロレベルまで減衰するのに要する時間Ｔ１ を例えば３０μｓｅｃとすると、第３のレジスタ２６に設定するカウントアップ値は、
３０×１０−６÷（１／１３×１０６）＝３９０
となる。以上のカウントアップ値があらかじめの計算により求められたら、ＲＯＭ１２に格納するプログラムを作成するときに、その値を設定しておく。ＣＰＵ１１がプログラムを読んで、各カウントアップ値を各レジスタ２２，２４，２６に設定するのである。このように、カウンタとレジスタとに分け、レジスタに対してＣＰＵからカウントアップ値を設定できるように構成したのは次のような理由による。それは図６のハードウェア構成を汎用型にするためである。液晶タブレット装置の機種が変更になったり仕様が変更になったときでも、それぞれの機種・仕様に合わせて、カウントアップ値を計算し、プログラムに組み込んでおけば、様々の機種・仕様に汎用的に対応することができる。
【００４３】
実施の形態４の液晶タブレット装置の動作を図７のフローチャートに従って説明する。このフローチャートにおいては、すでに、タブレット１７のある点がペン等により圧迫されたことが検出されているものとする。実施の形態４においては、交流化信号反転検出回路２７は使用しないものとする。ステップＳ４１においてＣＰＵ１１はＲＯＭ１２のプログラムを読んでそこに書き込まれているカウントアップ値（６５０，１，３９０）を各レジスタ２２，２４，２６に設定する。ステップＳ４２においてＣＰＵ１１は第１のカウンタ２１に対してイネーブル信号ＯＥＮを出力し、そのイネーブル端子／ＥＮを“Ｌ”に切り換えることにより第１のカウンタ２１がシステムクロックをカウントする動作をスタートさせる。そして、ステップＳ４３に進んでＣＰＵ１１自体はホールト（停止）する。あとは図６のハードウェアが動作する。ＣＰＵ１１が第１のカウンタ２１のイネーブル端子／ＥＮを“Ｌ”に切り換える手段としては、イネーブル端子／ＥＮの前にＣＰＵ１１より書き込み可能な１ビットのフリップフロップを設けておけばよい。ＣＰＵ１１がホールトしても第１のカウンタ２１の動作は継続される。ＣＰＵ１１は割り込み（インタラプト）がかかるまでホールト状態で待機しておればよい。
【００４４】
図６のハードウェアの動作を説明する。第１のカウンタ２１はイネーブル端子／ＥＮが“Ｌ”になった瞬間からシステムクロックのカウントを開始し、常にそのカウント値を第１のレジスタ２２に設定のカウントアップ値（６５０）と比較し、カウントアップするまでは出力端子Ｏを“Ｈ”レベルの状態に保っている。第１のカウンタ２１のカウント値がカウントアップ値に達すると、その出力端子Ｏを“Ｌ”レベルに切り換えるため、第２のカウンタ２３のイネーブル端子／ＥＮが“Ｌ”となり、第２のカウンタ２３がラインパルスＬＰのカウントを開始する。一般的には、イネーブル端子／ＥＮが“Ｌ”となった瞬間にはラインパルスＬＰの入力はなく、しばらく時間がたってからラインパルスＬＰが入力され、第２のカウンタ２３のカウント値が“１”となり、第２のレジスタ２４に設定のカウントアップ値と一致すると（ということは結局、ラインパルスＬＰが１つ入力されると）、その出力端子Ｏを“Ｈ”レベルから“Ｌ”レベルに切り換える。すると、第３のカウンタ２５のイネーブル端子／ＥＮが“Ｌ”レベルとなるため、第３のカウンタ２５がシステムクロックのカウントを開始し、常にそのカウント値を第３のレジスタ２６に設定のカウントアップ値（３９０）と比較し、カウントアップするまでは出力端子Ｏを“Ｈ”レベルの状態に保っている。第３のカウンタ２５のカウント値がカウントアップ値に達すると、その出力端子Ｏを“Ｌ”レベルに切り換える。第３のカウンタ２５の出力端子ＯはＣＰＵ１１のインタラプト端子／ＩＮＴに接続されており、これが“Ｌ”レベルに反転するためＣＰＵ１１に割り込みがかかる。
【００４５】
すなわち、ステップＳ５１において割り込みを検出すると、ＣＰＵ１１はホールト状態から動作を再開し、ステップＳ５２に進んでＡ／Ｄコンバータ１８のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせることによりタブレット１７からＡ／Ｄコンバータ１８に出力されているアナログのＸ座標信号・Ｙ座標信号をデジタルデータに変換し、その変換後のＸ座標データ・Ｙ座標データをＣＰＵ１１に取り込んでペン等により圧迫された指示点の座標測定を行う。
【００４６】
本実施の形態４によれば、ＣＰＵ１１は第１のカウンタ２１のイネーブル端子／ＥＮをアクティブにした後は次に割り込みがかかるまでホールト（停止）できるから、電力消費を抑えることができる。
【００４７】
また、液晶タブレット装置の機種が変更になったり仕様が変更になったときでも、それぞれの機種・仕様に合わせて、カウントアップ値を計算し、プログラムに組み込んでおけば、様々の機種・仕様に汎用的に対応することができる。
【００４８】
タブレット測定回路のトランジスタとして安定時間が比較的に長い安価なものを採用した場合には、第１のレジスタ２２に設定するカウントアップ値をより大きく設定すればよい。逆に安定時間が短いトランジスタを採用したときはより小さなカウントアップ値を設定することで待ち時間を短縮化するとよい。また、ノイズが立ち上がってからゼロレベルに減衰するまでの時間が長い機種・仕様においては、第３のレジスタ２６に設定するカウントアップ値をより大きく設定し、その減衰の時間が短い機種・仕様においては、カウントアップ値をより小さく設定すればよい。このように機種・仕様が変更になり、トランジスタの安定時間やノイズの持続時間が変化しても、それぞれに最適なカウントアップ値を設定することができる。
【００４９】
なお、本実施の形態の変形として、第３のレジスタ２６および第３のカウンタ２５を省略するものが考えられる。この場合、第２のカウンタ２３の出力端子ＯをＣＰＵ１１のインタラプト端子／ＩＮＴに接続するものとする。そして、制御フローとして、図７のステップＳ５１とステップＳ５２との間に、図５のステップＳ３６と同様に一定時間Ｔ１ のアイドリングを行うステップを挿入すればよい。このアイドリングの時間Ｔ１ はラインパルスＬＰがアクティブになったことに起因する相対的に小さいノイズの減衰を待つだけの時間で、第３のカウンタ２５のカウントアップに要する時間と同じく３０μｓｅｃである。
【００５０】
また、機種・仕様の変更に対応しないのであれば、ＣＰＵ１１から各レジスタへのカウントアップ値の設定の動作は必要ないし、さらには各レジスタを省略して、各カウンタとしてカウントアップ値内蔵の専用カウンタを使用するようにしてもよい。
【００５１】
〔実施の形態５〕
実施の形態５は液晶ディスプレイコントロール回路１４および液晶ディスプレイ１５が駆動されておらず、したがってラインパルスＬＰが出力されていない状態でも、タブレット１７をペン等により圧迫して指示したときには座標測定の処理を行えるようにしたものである。すなわち、図６のハードウェア構成であると、第２のカウンタ２３にラインパルスＬＰが入力されてこない場合には、いくら時間待ちをしても第２のカウンタ２３の出力端子Ｏが“Ｌ”レベルに切り換わらず、したがって第３のカウンタ２５もいくら時間待ちをしてもその出力端子Ｏは“Ｌ”レベルに切り換わることがなく、ＣＰＵ１１に対して割り込みがかからないことになる。実施の形態５はこのような不都合を解消するものである。
【００５２】
実施の形態５を図８のブロック図を用いて説明する。２８はシステムクロックをカウントする第４のカウンタ、２９は第４のカウンタ２８のカウントアップ値を設定するための第４のレジスタ、３０は第２のカウンタ２３の出力端子Ｏと第４のカウンタ２８の出力端子Ｏとをその２入力端子に接続し、その出力端子を次段の第３のカウンタ２５のイネーブル端子／ＥＮに接続するＡＮＤゲートである。第４のカウンタ２８のイネーブル端子／ＥＮは第２のカウンタ２３のイネーブル端子／ＥＮとともに前段の第１のカウンタ２１の出力端子Ｏに接続されている。その他の構成は実施の形態４（図６）と同様であるので、対応する部分に同一符号を付すにとどめ、説明を省略する。
【００５３】
ラインパルスＬＰの周期が例えば１００μｓｅｃとして、その間に生じるシステムクロックの数を計算すると、
１００×１０−６÷（１／１３×１０６）＝１３００
であるから、第４のレジスタ２９に例えば“１４００”を設定するものとする。
【００５４】
第２のカウンタ２３は第１のカウンタ２１の出力端子Ｏが“Ｌ”レベルに切り換わった瞬間からラインパルスＬＰのカウントを開始する。第４のカウンタ２８は第１のカウンタ２１の出力端子Ｏが“Ｌ”レベルに切り換わった瞬間からシステムクロックのカウンタを開始する。第２のカウンタ２３および第４のカウンタ２８がカウントアップせず、それぞれの出力端子Ｏが“Ｈ”レベルのときはＡＮＤゲート３０の出力も“Ｈ”レベルであり、第３のカウンタ２５のイネーブル端子／ＥＮが“Ｈ”であるため、第３のカウンタ２５は起動しない。ラインパルスＬＰをカウントする第２のカウンタ２３は、液晶ディスプレイコントロール回路１４および液晶ディスプレイ１５が動作しておらず、したがってラインパルスＬＰが入力されてこないときはカウントアップすることがなく、第２のカウンタ２３の出力端子Ｏは“Ｈ”レベルのままとなる。しかし、第４のカウンタ２８はシステムクロックをカウントし、やがてそのカウント値が第４のレジスタ２９に設定のカウントアップ値に達することとなり、そうすると第４のカウンタ２８の出力端子Ｏが“Ｌ”レベルに切り換わるため、ＡＮＤゲート３０の出力が“Ｌ”となって第３のカウンタ２５を起動する。すなわち、液晶ディスプレイ１５が非動作の状態でもタブレット１７をペン等で圧迫して指示すると、その指示点の座標測定の処理が実行されるのである。このような機能により、電子手帳などの携帯情報処理機器において、液晶ディスプレイ１５のＯＦＦ状態で例えば電卓の表示領域を指示して、その表示領域を表示させるといった利用が考えられる。
【００５５】
〔実施の形態６〕
実施の形態６は図６における交流化信号反転検出回路２７を使用するものであり、これは実施の形態３（図５）の場合の処理（ラインパルスＬＰがアクティブになったとしても、交流化信号Ｍが反転したタイミングであるのなら、座標測定の処理に進まないようにする）をハードウェアで実現するものである。
【００５６】
ラインパルスＬＰを第２のカウンタ２３でカウントしているとき、あるいは第３のカウンタ２５がシステムクロックをカウントしているとき、交流化信号Ｍが反転したとする。すると、交流化信号反転検出回路２７がその反転を検出し、その出力端子Ｃを“Ｌ”レベルに切り換え、第２のカウンタ２３および第３のカウンタ２５のリセット端子／Ｒに入力するので、両カウンタ２３，２５をリセットする。両カウンタ２３，２５は“０”からのカウントをリスタートすることになる。第３のカウンタ２５がカウントアップし座標測定の処理が開始されるのは、交流化信号反転検出回路２７が交流化信号Ｍの反転を検出しない場合に限られることになる。したがって、ラインパルスＬＰがアクティブになっても交流化信号Ｍが反転したときには座標測定の処理に移らないため、交流化信号Ｍの反転に起因した大きなノイズによる座標測定の誤差の影響を受けないですむ。
【００５７】
〔実施の形態７〕
実施の形態７はＣＰＵ１１のホールト時間をより長くするものである。図６における第３のカウンタ２５の出力端子ＯをＣＰＵ１１のインタラプト端子／ＩＮＴに接続することに代えて、図９に示すようにＡ／Ｄコンバータ１８のスタート端子／ＳＴＡＲＴに接続し、Ａ／Ｄコンバータ１８のエンド端子／ＥＮＤをＣＰＵ１１のインタラプト端子／ＩＮＴに接続してある。Ａ／Ｄコンバータ１８のデータ入力端子はタブレット１７の出力端子に接続され、データ出力端子はＣＰＵ１１のデータ入力ポートに接続されている。その他の構成は実施の形態４（図６）と同様であるので、対応する部分に同一符号を付すにとどめ、説明を省略する。
【００５８】
ＣＰＵ１１は第１のカウンタ２１を起動した後はホールト状態になっている。第３のカウンタ２５がカウントアップしてその出力端子Ｏが“Ｌ”レベルに切り換わると、Ａ／Ｄコンバータ１８のスタート端子／ＳＴＡＲＴが“Ｌ”レベルとなってＡ／Ｄコンバータ１８が起動し、タブレット１７から入力したアナログのＸ座標信号・Ｙ座標信号をデジタルのＸ座標データ・Ｙ座標データに変換する動作がスタートする。変換されたＸ座標データ・Ｙ座標データはＣＰＵ１１に送出される。このＡ／Ｄ変換が終了すると、エンド端子／ＥＮＤが“Ｌ”レベルに切り換わり、ＣＰＵ１１のインタラプト端子／ＩＮＴに割り込みがかかる。
【００５９】
本実施の形態７によれば、Ａ／Ｄコンバータ１８のＡ／Ｄ変換動作が終了するまでＣＰＵ１１をホールトすることができるので、電力消費をより削減することができる。また、ＣＰＵ１１のホールト状態でＡ／Ｄ変換するので、ノイズがより少ない状態でのＡ／Ｄ変換が可能となり、精度がアップする。
【００６０】
〔実施の形態８〕
実施の形態８はタブレット測定回路のトランジスタの安定時間をカウントするための第１のカウンタ２１を省略し、第１のカウンタ２１の機能を第２のカウンタ２３に併せもたせるものである。
【００６１】
システムクロックＣＬＫが例えば１３ＭＨｚ、タブレット測定回路のトランジスタの安定時間が例えば５０μｓｅｃであるとした場合、第１のレジスタ２２に設定するカウントアップ値は、
５０×１０−６÷（１／１３×１０６）＝６５０
であった。
【００６２】
２９＝５１２＜６５０＜２１０＝１０２４
より、第１のカウンタ２１を構成するフリップフロップの数は１０個となり、第１のカウンタ２１は比較的に複雑なものとなる。また、第１のレジスタ２２も必要である。
【００６３】
トランジスタの安定時間５０μｓｅｃはラインパルスＬＰの周期１００μｓｅｃ内のものとなるから、５０μｓｅｃを１３ＭＨｚのクロックの６５０カウントで計測することに代えて、ラインパルスＬＰを１つ余分にカウントすればよい。そこで、第２のレジスタ２４にカウントアップ値として“２”を設定するようにする。第２のカウンタ２３を構成するフリップフロップは２個でよい。
【００６４】
実施の形態８の場合、図６の構成において、第１のカウンタ２１と第１のレジスタ２２を省略し、ＣＰＵ１１からのイネーブル信号ＯＥＮを第２のカウンタ２３のイネーブル端子／ＥＮに入力するように構成すればよい。
【００６５】
〔実施の形態９〕
実施の形態９はペン等によるタブレット１７上の所望の点の指示のための圧迫が不充分な状態での座標測定を回避し、座標測定精度を向上させるものである。
【００６６】
図１０のフローチャートに基づいて制御動作を説明する。タブレット１７に対してペン等により所望の点を圧迫して指示点を指定する。この圧迫によりタブレット１７を構成する２枚の導電膜が指示点において接触する。この接触抵抗が所定値かどうかでタブレット１７に対する押し圧が測定される。Ｘ方向に電圧勾配を作る導電膜とＹ方向に電圧勾配を作る導電膜とは別である。押し圧も各導電膜ごとに測定される。この場合に、Ｘ方向に電圧勾配を作る導電膜での押し圧の測定を「Ｘ方向の押し圧」と称し、Ｙ方向に電圧勾配を作る導電膜での押し圧の測定を「Ｙ方向の押し圧」と称することとする。
【００６７】
ステップＳ６１においてタブレット１７に対するＸ方向の押し圧Ｐ１ の測定を行い、ステップＳ６２において押し圧Ｐ１ が所定値Ｐ０ 以上あってタブレット１７に対する圧迫が正常か否かを判断し、所定値Ｐ０ 未満であればステップＳ６８に進んでタブレット１７が正常に押し操作されていないと判定し、動作を終了する。Ｘ方向の押し圧Ｐ１ が所定値Ｐ０ 以上あるときはステップＳ６３に進み、タブレット１７における指示点のＸ座標を測定する。引き続いてステップＳ６４においてタブレット１７における指示点のＹ座標を測定し、そのあとでステップＳ６５においてタブレット１７に対するＹ方向の押し圧Ｐ２ の測定を行い、ステップＳ６６において押し圧Ｐ２ が所定値Ｐ０ 以上あるか否かを判断し、所定値Ｐ０未満であればステップＳ６８に進んでタブレット１７が正常に押し操作されていないと判定し、動作を終了するが、Ｙ方向の押し圧Ｐ２ が所定値Ｐ０ 以上あるときはステップＳ６７に進み、タブレット１７が正常に押し操作された状態で指示点のＸ座標・Ｙ座標が正しく測定されたものと判定する。
【００６８】
従来の一般的な手順は、▲１▼Ｘ方向押し圧測定→▲２▼Ｘ座標測定→▲３▼Ｙ方向押し圧測定→▲４▼Ｙ座標測定の順であったが、この場合、▲４▼のＹ座標測定の時点でＹ方向押し圧が不足する状態になっている可能性があり、Ｙ座標測定の精度の信頼性が低いという問題があった。
【００６９】
これに対し、本実施の形態９のように、Ｙ座標測定の後にＹ方向の押し圧Ｐ２を測定して押し圧が正常のときは全体として正常な測定が行われたと判定し、押し圧が不足するときは測定は正常でないと判定するから、Ｘ座標・Ｙ座標ともに測定の信頼性が高いものとなる。
【００７０】
なお、ステップＳ６８の次にステップＳ６１に戻って、測定を繰り返すようにしてもよい。
【００７１】
〔実施の形態１０〕
実施の形態１０もペン等によるタブレット１７上の所望の点の指示のための圧迫が不充分な状態での座標測定を回避し、座標測定精度を向上させるものである。
【００７２】
図１１のフローチャートに基づいて制御動作を説明する。ステップＳ７１においてタブレット１７に対するＸ方向の押し圧Ｐ１ の測定を行い、ステップＳ７２において押し圧Ｐ１ が所定値Ｐ０ 以上あってタブレット１７に対する圧迫が正常か否かを判断し、所定値Ｐ０ 未満であればステップＳ８２に進んでタブレット１７が正常に押し操作されていないと判定し、動作を終了する。Ｘ方向の押し圧Ｐ１ が所定値Ｐ０ 以上あるときはステップＳ７３に進み、今度はＹ方向の押し圧Ｐ２ の測定を行い、ステップＳ７４において押し圧Ｐ２ が所定値Ｐ０ 以上か否かを判断し、所定値Ｐ０ 未満であればステップＳ８２に進んでタブレット１７が正常に押し操作されていないと判定し、動作を終了する。Ｙ方向の押し圧Ｐ２ が所定値Ｐ０ 以上あるときはステップＳ７５に進み、タブレット１７における指示点のＸ座標を測定し、引き続いてステップＳ７６においてタブレット１７における指示点のＹ座標を測定する。そして、再びステップＳ７７においてＸ方向の押し圧Ｐ１ の測定を行い、ステップＳ７８において押し圧Ｐ１ が所定値Ｐ０ 以上あるか否かを判断し、所定値Ｐ０ 未満であればステップＳ８２に進んでタブレット１７が正常に押し操作されていないと判定し、動作を終了するが、所定値Ｐ０ 以上あればステップＳ７９に進んでＹ方向の押し圧Ｐ２ の測定を行い、ステップＳ８０において押し圧Ｐ２ が所定値Ｐ０ 以上あるか否かを判断し、所定値Ｐ０ 未満であればステップＳ８２に進んでタブレット１７が正常に押し操作されていないと判定し、動作を終了するが、所定値Ｐ０ 以上あればステップＳ８１に進んでタブレット１７が正常に押し操作された状態で指示点のＸ座標・Ｙ座標が正しく測定されたものと判定する。
【００７３】
つまり、Ｘ方向の押し圧Ｐ１ の測定とＹ方向の押し圧Ｐ２ の測定とを対にして連続して実行し、次に、指示点のＸ座標の測定とＹ座標の測定とを対にして連続して実行し、最後に念をいれてもう一度Ｘ方向の押し圧Ｐ１ の測定とＹ方向の押し圧Ｐ２ の測定とを対にして連続して実行している。
【００７４】
本実施の形態１０においては、Ｘ方向の押し圧Ｐ１ の測定とＹ方向の押し圧Ｐ２ の測定とを２回ずつ行うが、換言すると、指示点のＸ座標・Ｙ座標の測定の前後にＸ方向・Ｙ方向の押し圧Ｐ１ ，Ｐ２ の測定をはさむようにして実行するから、測定に時間がかかっても、タブレット１７に対する押し操作の状態がきわめて正常である条件下でＸ座標・Ｙ座標を測定するので、その測定の信頼性が充分に高いものとなる。
【００７５】
なお、ステップＳ８２の次にステップＳ７１に戻って、測定を繰り返すようにしてもよい。
【００７６】
【発明の効果】
本発明に係る請求項１の液晶タブレット装置によれば、一定時間を待つ基点を周期の長い交流化信号のエッジのタイミングとするのではなく、周期が短いラインパルスのアクティブのタイミングを基点としているので、Ｘ座標信号・Ｙ座標信号のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせるまでの待ち時間が短くなり、タブレットに対する入力座標点の測定に要する実時間を短縮化することができる。さらに、根本的には、交流化信号のエッジに起因したノイズの悪影響だけでなくラインパルスのアクティブ化に起因したノイズの悪影響をも回避することができる。また、Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートするのを待つ一定時間として、ラインパルスがアクティブになったことに起因する相対的に小さいノイズが減衰するのを待つより短い時間を設定すことが可能となり、早めにＡ／Ｄ変換を済ませることができ、また、次のラインパルスがアクティブになるまでの間の時間が長く、その時間内に確実にＡ／Ｄ変換を完了させることができる。
【００７７】
本発明に係る請求項２の液晶タブレット装置によれば、タブレット測定回路を起動した後においてトランジスタなどのスイッチング素子が安定化してから座標測定の処理を開始するので、周期の短いラインパルスがアクティブになったタイミングを一定時間の待ちの基点としているにもかかわらず、ノイズの悪影響を回避して座標測定精度を高い状態に保つことができる。また、Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートするのを待つ一定時間として、ラインパルスがアクティブになったことに起因する相対的に小さいノイズが減衰するのを待つより短い時間を設定すことが可能となり、早めにＡ／Ｄ変換を済ませることができ、また、次のラインパルスがアクティブになるまでの間の時間が長く、その時間内に確実にＡ／Ｄ変換を完了させることができる。
【００８４】
本発明に係る請求項３の液晶タブレット装置によれば、最後に押し圧測定を行うから、その前に行われたＸ座標およびＹ座標の測定の信頼を高いものとできる。
【００８５】
本発明に係る請求項４の液晶タブレット装置によれば、指示点のＸ座標・Ｙ座標の測定の前と後の両方においてＸ方向・Ｙ方向の押し圧の測定をはさむようにして実行するから、測定に時間がかかっても、タブレットに対する押し操作の状態がきわめて正常である条件下でＸ座標・Ｙ座標を測定するので、その測定の信頼性を充分に高いものとできる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１に係る液晶タブレット装置の電気的構成を示すブロック図
【図２】液晶ディスプレイコントロール回路において生成されるラインパルスと交流化信号とタブレットに誘起されるノイズの関係を示す波形図
【図３】実施の形態１の場合の動作説明に供するフローチャート
【図４】実施の形態２の場合の動作説明に供するフローチャート
【図５】実施の形態３の場合の動作説明に供するフローチャート
【図６】実施の形態４の液晶タブレット装置に用いるハードウェア構成を示すブロック図
【図７】実施の形態４の場合の動作説明に供するフローチャート
【図８】実施の形態５に係る液晶タブレット装置の電気的構成を示すブロック図
【図９】実施の形態７に係る液晶タブレット装置の電気的構成を示すブロック図
【図１０】実施の形態９の場合の動作説明に供するフローチャート
【図１１】実施の形態１０の場合の動作説明に供するフローチャート
【符号の説明】
１１……ＣＰＵ
１２……ＲＯＭ
１３……ＲＡＭ
１４……液晶ディスプレイコントロール回路
１５……液晶ディスプレイ
１６……タブレットコントロール回路
１７……タブレット
１８……Ａ／Ｄコンバータ
２１……タブレット測定回路のトランジスタの安定時間をカウントするための第１のカウンタ
２２……第１のカウンタにカウントアップ値を設定するための第１のレジスタ
２３……ラインパルスをカウントするための第２のカウンタ
２４……第２のカウンタにカウントアップ値を設定するための第１のレジスタ
２５……ノイズが減衰するまでの時間をカウントするための第３のカウンタ
２６……第３のカウンタにカウントアップ値を設定するための第１のレジスタ
２７……交流化信号反転検出回路
２８……ラインパルスの入力がなく第２のカウンタが動作しないときでも第３のカウンタを起動するための第４のカウンタ
２９……第４のカウンタにカウントアップ値を設定するための第１のレジスタ
３０……ＡＮＤゲート
Claims (4)
- 液晶ディスプレイ上に透明なタブレットが貼り合わされており、タブレット上にタッチ指示された点の座標信号をＡ／Ｄコンバータでデジタルの座標データに変換するように構成された液晶タブレット装置であって、液晶ディスプレイコントロール回路が生成するラインパルスがアクティブになったタイミングから一定時間後に前記Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートさせ、液晶ディスプレイコントロール回路が生成する交流化信号の反転を検出し、その反転検出があったときは前記ラインパルスがアクティブ毎になったタイミングから一定時間後であってもＡ／Ｄコンバータの動作をスタートさせないように構成してあることを特徴をする液晶タブレット装置。
- 液晶ディスプレイ上に透明なタブレットが貼り合わされており、タブレット上にタッチ指示された点の座標信号をＡ／Ｄコンバータでデジタルの座標データに変換するように構成された液晶タブレット装置であって、タブレット上にタッチ指示されたときから液晶ディスプレイコントロール回路が生成するラインパルスがアクティブになる毎に、このラインパルスの数をカウントし、そのカウント値がタブレット測定回路のスイッチング素子が安定するに足る時間に対応したカウント値になったときから、前記ラインパルスがアクティブ毎になったタイミングから一定時間後に前記Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートさせ、液晶ディスプレイコントロール回路が生成する交流化信号の反転を検出し、その反転検出があったときは前記ラインパルスがアクティブ毎になったタイミングから一定時間後であっても前記Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートさせないように構成してあることを特徴とする液晶タブレット装置。
- タブレットに対するＸ方向またはＹ方向のいずれかの押し圧を測定し、次いでタブレットにおいて指示点のＸ座標およびＹ座標を測定し、その後に未だ測定していない方の方向の押し圧を測定するように構成してある請求項１または請求項２に記載の液晶タブレット装置。
- タブレットに対するＸ方向およびＹ方向の押し圧を測定し、次いでタブレットにおいて指示点のＸ座標およびＹ座標を測定し、その後に再びＸ方向およびＹ方向の押し圧を測定するように構成してある請求項１または請求項２に記載の液晶タブレット装置。
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