JP3565199B2

JP3565199B2 - Ｃｄｍａ受信装置、基地局、携帯端末、パス選定方法及びプログラム

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Publication number: JP3565199B2
Application number: JP2001321568A
Authority: JP
Inventors: 拓也大谷
Original assignee: NEC Corp
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 2001-10-19
Filing date: 2001-10-19
Publication date: 2004-09-15
Anticipated expiration: 2021-10-19
Also published as: DE60215753D1; EP1304814B1; JP2003124847A; US20030076800A1; EP1304814A2; EP1304814A3

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＣＤＭＡ（ＣｏｄｅＤｉｖｉｓｉｏｎＭｕｌｔｉｐｌｅＡｃｃｅｓｓ）受信装置に関し、特に、ＲＡＫＥ合成の対象にするパス間の遅延時間差を、サーチャー回路のパス測定範囲よりも短い一定の範囲内に収めるようにしたＣＤＭＡ受信装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤＭＡ方式では、図９に示すようなマルチパス環境下（周波数選択性フェージング環境下）でも効率の良い通信を実現するため、基地局（或いは携帯端末）においては、図１０に示すような遅延時間差を有する信号（パス）を、図１１に示すように時間的にずらしながら合成するＲＡＫＥ合成受信を行っている。
【０００３】
図１２に基地局や携帯端末で使用されている従来のＣＤＭＡ受信装置の構成例を示す。同図に示すように、従来のＣＤＭＡ受信装置は、無線受信部１０１と、サーチャー回路１０２と、ＲＡＫＥ合成回路１０３と、信号復号回路１０４とから構成されている。
【０００４】
無線受信部１０１は、受信信号に対する周波数変換，ＡＤ変換を行う。サーチャー回路１０２は、無線受信部１０１の出力に基づいて遅延プロファイル（遅延時間に対する信号電力分布）を測定し、この遅延プロファイルに基づいてパス測定範囲内に存在するパスの内の幾つかを選択する。そして、選択したパスのタイミング（遅延時間）を示すタイミング情報をＲＡＫＥ合成回路１０３に通知する。ＲＡＫＥ合成回路１０３では、通知されたタイミング情報に従って各パス毎に逆拡散を行い、ＲＡＫＥ合成を行う。ＲＡＫＥ合成回路１０３から出力されるデータ系列は、信号復号回路１０４において、誤り訂正復号される。
【０００５】
ここで、ＲＡＫＥ合成を行うＲＡＫＥ合成回路１０３は、受信電力を高め通信品質を向上させるために、なるべく多くのパスを合成できるものであることが望ましい。しかし、現実的には、回路規模の制限から合成できるパス数が制限される。このため、従来は、一般に、下記Ａ〜Ｃの何れかの方法を用いて、パス測定範囲内に存在するパスの中からＲＡＫＥ合成回路１０３で合成対象にするパスを幾つか選択するようにしている。
【０００６】
Ａ．レベルが大きい方から所定個数のパスを選択する（例えば、特開２０００−１０１５４９号公報の従来の技術の項）。
【０００７】
Ｂ．遅延プロファイルの平均電力値等に基づいて閾値を決定し、この閾値よりもレベルが大きいパスを選択する（例えば、特開２０００−１０１５４９号公報）。
【０００８】
Ｃ．主波（例えば、受信機に最初に到達したパス）の近傍に存在するパスから順番にレベルが閾値以上であるか否かを判定し、閾値以上のパスを所定個数選択する（例えば、特開２００１−１８６０５６号公報）。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
上述した方法Ａ〜Ｃによれば、レベルの高いパスが選択されるため、受信電力を高いものにし、通信品質を高いものにすることができる。しかし、方法Ａ〜Ｃの内、方法Ａ，Ｂは、パスのレベルのみに注目して合成対象にするパスを選択しているため、選択されたパスの中に、遅延時間差が大きなものとなるパスの組み合わせが含まれる場合がある。上記遅延時間差の最大値は、サーチャー回路１０２のパス測定範囲に相当する時間となる。また、Ｃの方法は、主波から外側に向かって、レベルが閾値以上のパスを所定個数選択するようにしているが、この方法によっても選択されたパスの中に、遅延時間差がサーチャー回路１０２のパス測定範囲と同じになるパスの組み合わせが含まれる場合がある。
【００１０】
このように、従来方法Ａ〜Ｃで合成対象パスを選択すると、選択したパスの中に遅延時間差がサーチャー回路１０２のパス測定範囲と同じになるパスの組み合わせが含まれる場合がある。従って、従来方法Ａ〜Ｃで選択されたパスをＲＡＫＥ合成するＲＡＫＥ合成回路１０３は、遅延時間差がサーチャー回路のパス測定範囲と同じになる、遅延時間差が大きなパスの組み合わせもＲＡＫＥ合成できるものでなければならない。ＲＡＫＥ合成回路１０３の回路規模は、ＲＡＫＥ合成することが可能なパスの遅延時間差が大きくなるほど大きくなるため、従来方法Ａ〜Ｃで合成対象パスを選択するようにすると、ＲＡＫＥ合成回路１０３の回路規模が大きくなってしまうという問題がある。例えば、図１３に示すような、拡散符号発生器１３１，遅延回路１３２，受信信号遅延バッファ１３３，合成回路１３４および相関器１３５から構成されるＲＡＫＥ合成回路に於いては、ＲＡＫＥ合成可能なパスの遅延時間差が大きくなると、受信信号遅延バッファ１３３の回路規模が大きくなってしまう。
【００１１】
そこで、本発明の目的は、通信品質を保ち、且つＲＡＫＥ合成回路の回路規模を小さくすることができるＣＤＭＡ受信装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明のＣＤＭＡ受信装置は、上記目的を達成するため、サーチャー回路のパス測定範囲内に存在する両端のパス（遅延時間差が最も大きいパス）の内の、レベルの小さい方のパスを選択対象から除外するという処理を、除外されずに残っているパスの存在範囲が、ＲＡＫＥ合成回路の合成範囲（パス測定範囲よりも狭い）内となるまで繰り返し行う。そして、合成範囲内に存在することになったパスを、ＲＡＫＥ構成回路における合成対象パスとする。この構成によれば、サーチャー回路のパス測定範囲内に存在するパスの内の連続するパスが、ＲＡＫＥ合成回路における合成対象パスとして選択されるので、合成対象パスの遅延時間差を従来の技術に比較して小さくすることができる。この結果、ＲＡＫＥ合成回路の回路規模を従来よりも小さくすることができる。また、両端のパスの内、レベルの高い方を残しているので、受信電力を高いものにし、通信品質を保つことができる。
【００１３】
より具体的には、本発明のＣＤＭＡ受信装置は、
電波伝播上の遅延プロファイルを測定する測定手段と、
該測定手段の測定結果に基づいて、パス測定範囲内に存在する両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記合成範囲内となるまで繰り返し行うパス選定回路とを含むサーチャー回路を備えている。
【００１４】
また、本発明のＣＤＭＡ受信装置は、ノイズの影響を少なくするため、
前記パス選定回路が、
前記両端のパスのレベルが同じ場合は、前記両端のパスそれぞれについて、隣接する内側パスとの遅延時間差を求め、両端のパスの内の遅延時間差が大きい方のパスを選択対象から外す構成を有している。
【００１５】
図１４（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）は、それぞれ田舎，丘，都会に於ける伝播モデルを示している。同図（Ａ）〜（Ｃ）から分かるように、パスは集中して存在しており、若し、隣接パスとの遅延時間差が大きいパスが存在していれば、それはノイズである可能性が高い。従って、遅延時間差の大きなパスを選択対象から除外することにより、ノイズの影響を少なくすることができる。
【００１６】
また、本発明は、サーチャー回路の処理時間を短縮させるため、
前記パス測定範囲内に存在するレベルが閾値以上のパスを対象にし、両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記パス測定範囲よりも狭い、前記ＲＡＫＥ合成回路における合成範囲内となるまで繰り返し行う。
【００１７】
この構成によれば、レベルが閾値以上のパスのみが処理対象になるので、サーチャー回路の処理時間を短縮することが可能になる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
次に本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００１９】
図１は本発明に係るＣＤＭＡ受信装置の実施例のブロック図である。同図に示すように、本実施例のＣＤＭＡ受信装置は、無線受信部１と、サーチャー回路２と、ＲＡＫＥ合成回路３と、信号復号回路４とを備えている。
【００２０】
無線受信部１は、受信した信号をＩＦ周波数に周波数変換した後、ＡＤ変換する機能を有する。
【００２１】
サーチャー回路２は、ＲＡＫＥ合成回路３で合成対象にするパス（復調対象にするパス）を選択する機能を有するものであり、例えば、ＤＳＰ（ディジタルシグナルプロセッサ）により構成される。本実施例のサーチャー回路２は、遅延プロファイル測定部２１と、遅延プロファイル記憶部２２と、パス選定回路２３と、記録媒体Ｋ１とを備えている。
【００２２】
遅延プロファイル測定部２１は、パス測定範囲内に存在する各パスの遅延時間及びレベルを示す遅延プロファイルを測定し、測定結果を遅延プロファイル記憶部２２に格納する機能や、遅延プロファイルの測定が完了したとき、パス選定回路２３に完了通知を送る機能を有する。
【００２３】
パス選定回路２３は、遅延プロファイル記憶部２２の内容に基づいて、パス測定範囲内に存在する各パスの内の、破棄されておらず且つ遅延時間差が最も大きい２つのパス（両端のパス）のレベルを比較し、レベルの小さい方のパスを破棄するという処理を、破棄されていないパスが存在する範囲がＲＡＫＥ合成回路の合成範囲（パス測定範囲よりも狭い）内となるまで繰り返し行う機能や、残ったパスを合成対象パスとし、各合成対象パスを示すタイミング情報（遅延時間）をＲＡＫＥ合成回路３に出力する機能を有する。更に、パス選定回路２３は、両端のパスのレベルが同じ場合は、両端のパスそれぞれについて、内側パスとの遅延時間差を求め、両端のパスの内、内側パスとの遅延時間差の大きい方のパスを破棄する機能を有する。更に、パス選定回路２３は、両端のパスの、内側パスとの遅延時間差が等しい場合は、両端のパスの内の、内側パスのレベルが低い方を破棄する機能を有する。
【００２４】
このような機能を有するパス選定回路２３は、例えば、図２のブロック図に示す構成を有する。同図に示すように、パス選定回路２３は、範囲判定手段２３１と、パス情報記憶部２３２と、タイミング情報作成手段２３３と、レベル比較手段２３４と、遅延時間差比較手段２３５とを備えている。
【００２５】
範囲判定手段２３１は、次の機能を有する。
【００２６】
・遅延プロファイル測定手段２１から完了通知が送られてきたとき、遅延プロファイル記憶部２２の内容をパス情報記憶部２３２にコピーする機能。
・遅延プロファイル記憶部２２の内容のコピーが完了したとき、及び遅延時間差比較手段２３５から遅延時間差が同じであることが通知されたとき、レベル比較手段２３４に対して、レベルを比較する２個のパスを示す情報（例えば、両端のパスとか、両端のパスそれぞれに対する第ｎ番目の内側パス等）を含む比較指示を出力する機能。
・レベル比較手段２３４からレベルが同じであることが通知されたとき、遅延時間差比較手段２３５に対して、遅延時間差を求める内側パスを示す情報（例えば、両端のパスそれぞれに対する第ｍ番目の内側パス等）を含む比較指示を出力する機能。
・レベル比較手段２３４，遅延時間差比較手段２３５からパス情報を削除したことが通知されたとき、パス情報記憶部２３２の内容に基づいて、破棄されずに残っているパスの存在範囲が、合成範囲内になったか否かを判定する機能。
・破棄されずに残っているパスの存在範囲が、合成範囲内であると判定した場合、タイミング情報作成手段２３３に対してタイミング情報の作成指示を出力する機能。
【００２７】
レベル比較手段２３４は、次の機能を有する。
【００２８】
・範囲判定手段２３１から比較指示が送られてきたとき、パス情報記憶部２３２の内容に基づいて、上記比較指示に含まれている情報によって示されている２個のパスのレベルを比較する機能。
・上記２個のパスのレベルが同一の場合、そのことを範囲判定手段２３１に通知する機能。
・上記２個のパスのレベルが同一でない場合、レベルが小さい方のパスに関するパス情報をパス情報記憶部２３２から削除し、そのことを範囲判定手段２３１に通知する機能。
【００２９】
遅延時間差比較手段２３５は、次の機能を有する。
【００３０】
・範囲判定手段２３１から比較指示が送られてきたとき、両端のパスそれぞれについて、上記比較指示に含まれている情報によって示されている内側パスとの遅延時間差を求め、両者を比較する機能。
・両端のパスの、内側パスとの遅延時間差が同一である場合、そのことを範囲判定手段２３１に通知する機能。
・両端のパスの、内側パスとの遅延時間差が同一でない場合、両端のパスの内、遅延時間差が大きい方のパスに関するパス情報をパス情報記憶部２３２から削除し、そのことを範囲判定手段２３１に通知する機能。
【００３１】
タイミング情報作成手段２３３は、パス情報記憶部２３２にパス情報が格納されているパスそれぞれを、ＲＡＫＥ合成回路３における合成対象パスとするためのタイミング情報（遅延時間）を作成し、それをＲＡＫＥ合成回路３に出力する機能を有する。尚、ＲＡＫＥ合成回路３内に存在するフィンガ部（図示せず）の数が、パス情報記憶部２３２にパス情報が格納されているパスの数よりも少ない場合は、パス情報が格納されているパスの内、レベルが高い方からフィンガ部の数と同じ数のパスを選択し、それを合成対象パスとする。
【００３２】
再び図１に戻り、ＲＡＫＥ合成回路３は、パス選定回路２３から通知されたタイミング情報によって示される各パス毎に逆拡散を行い、ＲＡＫＥ合成を行う機能を有する。
【００３３】
信号復号回路４は、ＲＡＫＥ合成回路３から出力されるデータ系列に対して誤り訂正復号等を行う機能を有する。
【００３４】
記録媒体Ｋ１は、半導体メモリ，ディスク，その他の記録媒体であり、ＤＳＰをサーチャー回路２として機能させるためのプログラムが記録されている。このプログラムは、ＤＳＰによって読み取られ、その動作を制御することで、ＤＳＰ上に、遅延プロファイル測定部２１，パス選定回路２３を実現する。
【００３５】
【実施例の動作】
次の本実施例の動作について詳細に説明する。
【００３６】
サーチャー回路２内の遅延プロファイル測定部２１は、パス測定範囲内に存在する各パスの遅延時間及びレベルを示す遅延プロファイルを測定し、測定結果を遅延プロファイル記憶部２２に格納する。その後、遅延プロファイル測定部２１は、パス選定回路２３に対して遅延プロファイルの測定が完了したことを通知する。
【００３７】
これにより、パス選定回路２３内の、範囲判定手段２３１は、遅延プロファイル記憶部２２の内容をパス情報記憶部２３２にコピーする（図３，Ｓ３１）。この結果、パス情報記憶部２３２には、サーチャー回路２のパス測定範囲内に存在する各パスのパス情報（レベル及び遅延時間）が格納されることになる。その後、範囲判定手段２３１は、パス情報記憶部２３２の内容に基づいて、破棄されずに残っているパスの存在範囲が、サーチャー回路２の測定範囲よりも狭い合成範囲内に収まっているか否かを判断する（Ｓ３２）。
【００３８】
今、例えば、ステップＳ３１おいて、図４（Ａ）に示す各パスＰ１〜Ｐ５のパス情報がパス情報記憶部２３２に格納されたとする。この場合、パスＰ１〜Ｐ５の存在範囲は、合成範囲内に収まらないので、ステップＳ３２の判断結果はＮＯとなる。ステップＳ３２の判断結果がＮＯとなると、範囲判定手段２３１は、レベル比較手段２３４に対して、両端のパスＰ１，Ｐ５のレベルを比較することを指示する。
【００３９】
これにより、レベル比較手段２３４は、パス情報記憶部２３２を参照し、パスＰ１，Ｐ５のレベルを比較する（Ｓ３３）。図４の例の場合、Ｐ１＜Ｐ５であるので、レベル比較手段２３４は、パス情報記憶部２３２からパスＰ１のパス情報を破棄（削除）することによりパスＰ１を選択対象から除外し、そのことを範囲判定手段２３１に通知する（Ｓ３４がＮＯ，Ｓ３５）。
【００４０】
これにより、範囲判定手段２３１は、パス情報記憶部２３２の内容を参照し、破棄されずに残っているパスＰ２〜Ｐ５の存在範囲が、合成範囲内であるか否かを判定する（Ｓ３２）。このとき、図４（Ｂ）に示すように、パスＰ２〜Ｐ５の存在範囲は、合成範囲内に収まらないので、ステップＳ３２の判断結果はＮＯとなる。この結果、レベル比較手段２３４において、両端のパスＰ２，Ｐ５のレベルが比較され、レベルが小さい方のパスＰ５のパス情報がパス情報記憶部２３２から破棄される（Ｓ３３，Ｓ３４がＮＯ，Ｓ３５）。パスＰ５が破棄されると、図４（Ｂ）に示すように、破棄されずに残っているパスＰ２〜Ｐ４の存在範囲が、合成範囲内となるので（Ｓ３２がＹＥＳ）、範囲判定手段２３１は、タイミング情報作成手段２３３に対してタイミング情報の作成指示を出力する。
【００４１】
これにより、タイミング情報作成手段２３３は、パス情報記憶部２３２に格納されているパスＰ２〜Ｐ４のパス情報に基づいて、上記各パスＰ２〜Ｐ４をＲＡＫＥ合成回路３で合成させるためのタイミング情報を作成し、ＲＡＫＥ合成回路３に出力する（Ｓ３６）。これにより、ＲＡＫＥ合成回路３は、タイミング情報に従ってパスＰ２〜Ｐ４を合成する。
【００４２】
図４に示した例では、ステップＳ３４の判断結果がＹＥＳとなることはなかったが、例えば、Ｓ３１において、図５に示す各パスＰ１１〜Ｐ１６（両端のパスＰ１１，Ｐ１６のレベルは同一）のパス情報がパス情報記憶部２３２に格納された場合は、Ｓ３４の判断結果はＹＥＳとなる。
【００４３】
図５の例の場合、パスＰ１１〜Ｐ１６の存在範囲は合成範囲に収まらず、両端のパスＰ１１，Ｐ１６のレベルは同一であるので、ステップＳ３２，Ｓ３４の判断結果はそれぞれＮＯ，ＹＥＳとなる。ステップＳ３４の判断結果がＹＥＳとなると、レベル比較手段２３４は、範囲判定手段２３１に対して、両端のパスＰ１１，Ｐ１６のレベルが同一であることを通知する。
【００４４】
これにより、範囲判定手段２３１は、遅延時間差比較手段２３５に対して、比較指示を出力する。この比較指示には、両端のパスＰ１１，Ｐ１６との遅延時間差を求めるパスが、両端のパスＰ１１，Ｐ１６から内側に向かって第１番目の内側パス（隣接パス）Ｐ１２，ＰＩ５であることを示す情報が含まれている。
【００４５】
遅延時間差比較手段２３５は、上記比較指示が与えられると、パスＰ１１，Ｐ１２間の遅延時間差と、パスＰ１５，Ｐ１６間の遅延時間差を求め、両者を比較する（Ｓ３７）。この例の場合、パスＰ１５，Ｐ１６間の遅延時間差の方が大きいので、遅延時間差比較手段２３５は、パス情報記憶部２３２に格納されているパスＰ１６のパス情報を破棄し、そのことを範囲判定手段２３１に通知する（Ｓ３８がＮＯ，Ｓ３９）。
【００４６】
上記通知を受けると、範囲判定手段２３１は、パス情報記憶部２３２を参照し、廃棄されずに残っているパスＰ１１〜Ｐ１５の存在範囲が、合成範囲内であるか否かを判断する（Ｓ３２）。この図５の例の場合、パスＰ１１〜Ｐ１５の存在範囲は合成範囲内に収まるので（Ｓ３２がＹＥＳ）、範囲判定手段２３１は、タイミング情報作成手段２３３に対してタイミング情報の作成指示を出力する。これにより、タイミング情報作成手段２３３は、パスＰ１１〜Ｐ１５を示すタイミング情報を作成し、ＲＡＫＥ合成回路３に出力する（Ｓ３６）。
【００４７】
図４，図５の例では、ステップＳ３８の判断結果がＹＥＳとなることはなかったが、例えば、Ｓ３１において、図６に示す各パスＰ２１〜Ｐ２６（両端のパスＰ２１，Ｐ２６のレベルが同一で、且つ隣接パスＰ２２，Ｐ２５も同一条件）のパス情報がパス情報記憶部２３２に格納された場合は、Ｓ３８の判断結果はＹＥＳとなる。
【００４８】
図６の例の場合、パスＰ２１〜Ｐ２６の存在範囲は合成範囲内に収まらず、両端のパスＰ２１，Ｐ２６のレベルが等しいので、ステップＳ３２，Ｓ３４の判断結果は、それぞれＮＯ，ＹＥＳとなる。ステップＳ３４の判断結果がＹＥＳとなると、レベル比較手段２３４は、範囲判定手段２３１に対して両端のパスＰ２１，Ｐ２６のレベルが同一であることを通知する。
【００４９】
この通知を受けると、範囲判定手段２３１は、遅延時間差比較手段２３５に対して、両端のパスＰ２１，Ｐ２６の、第１番目の内側パスＰ２２，Ｐ２５との遅延時間差を比較することを指示する。これにより、遅延時間差比較手段２３５は、パスＰ２１，Ｐ２２間の遅延時間差とパスＰ２５，Ｐ２６間の遅延時間差とを求め、両者を比較する（Ｓ３７）。この例の場合、遅延時間差が同一であるので、ステップＳ３８の判断結果がＹＥＳとなり、遅延時間差比較手段２３５が、範囲判定手段２３５に対して遅延時間差が同一であることを通知する。
【００５０】
この通知を受けると、範囲判定手段２３１は、レベル比較手段２３４に対して第１番目の内側パスＰ２２，Ｐ２５のレベルを比較することを指示する。これにより、レベル比較手段２３４は、第１番目の内側パスＰ２２，Ｐ２５のレベルを比較する（Ｓ４０）。この例の場合、パスＰ２２，Ｐ２５のレベルが等しいので（Ｓ４１がＹＥＳ）、レベル比較手段２３４は、第１番目の内側パスＰ２２，Ｐ２５のレベルが等しいことを範囲判定手段２３１に通知する。
【００５１】
この通知を受けると、範囲判定手段２３１は、次の内側パス（第２番目の内側パス）Ｐ２３，Ｐ２４がクロスするか否かを判断する（Ｓ４３）。ここで、クロスするとは、左端のパスに対する第ｎ番目の内側パスが、右端のパスに対する第ｎ番目の内側パスよりも右端のパスに近くなったことをいう。この例の場合、第２番目の内側パスＰ２３，Ｐ２４はクロスしていないので、ステップＳ４３の判断結果はＮＯとなる。そして、ステップＳ４３の判断結果がＮＯとなると、範囲判定手段２３１は、遅延時間差比較手段２３５に対して、両端のパスＰ２１，Ｐ２６の、第２番目の内側パスＰ２３，Ｐ２４との遅延時間差を比較することを指示する。
【００５２】
これにより、遅延時間差比較手段２３５は、パスＰ２１，Ｐ２３間の遅延時間差とパスＰ２４，Ｐ２６間の遅延時間差を求め、両者を比較する（Ｓ３７）。この図６の例の場合、パスＰ２４，Ｐ２６間の遅延時間差の方が大きいので、遅延時間差比較手段２３５は、パス情報記憶部２３２に格納されている右端のパスＰ２６のパス情報を破棄し（Ｓ３９）、そのことを範囲判定手段２３１に通知する。
【００５３】
この通知を受けると、範囲判定手段２３１は、パス情報記憶部２３２を参照し、破棄されずに残っているパスＰ２１〜Ｐ２５の存在範囲が、合成範囲内であるか否かを判定する（Ｓ３２）。この例の場合、パスＰ２１〜パスＰ２５の存在範囲は、合成範囲内となるので（Ｓ３２がＹＥＳ）、範囲判定手段２３１は、タイミング情報作成手段２３３に対してタイミング情報の作成指示を出力する。
【００５４】
この作成指示を受けると、タイミング情報作成手段２３３は、パス情報記憶部２３２を参照し、破棄されずに残っているパスＰ２１〜Ｐ２５に対応するタイミング情報を作成し、ＲＡＫＥ合成回路３に出力する（Ｓ３６）。
【００５５】
図４，図５，図６の例では、ステップＳ４３の判断結果がＹＥＳとなることはないが、ステップＳ３１において、図７に示す各パスＰ３０，Ｐ３１〜Ｐ３８のパス情報がパス情報記憶部２３２に格納された場合、Ｓ４３の判断結果はＹＥＳとなる。尚、パスＰ３１〜Ｐ３８は、同レベルで同間隔のパスであり、左端のパスＰ３０は他のパスＰ３１〜Ｐ３８に比較してレベルが小さいパスである。
【００５６】
図７の例の場合、パスＰ３０〜Ｐ３８の存在範囲が、合成範囲内に収まらないので、両端のパスＰ３０，Ｐ３８のレベルが比較される（Ｓ３２がＮＯ，Ｓ３３）。パスＰ３０のレベルの方が低いので、パスＰ３０は、選択対象から除外される（Ｓ３４がＮＯ，Ｓ３５）。
【００５７】
パスＰ３０を選択対象から除外しても、選択対象にしているパスＰ３１〜Ｐ３８の存在範囲が合成範囲内に収まらないので、両端のパスＰ３１，Ｐ３８のレベルが比較される（Ｓ３２がＮＯ，Ｓ３３）。パスＰ３１，Ｐ３８のレベルは等しいので（Ｓ３４がＹＥＳ）、両端のパスＰ３１，Ｐ３８の、第１番目の内側パスＰ３２，Ｐ３７との遅延時間差が比較される（Ｓ３７）。遅延時間差が等しいので（Ｓ３８がＹＥＳ）、第１番目の内側パスＰ３２，Ｐ３７のレベルが比較される（Ｓ４０）。第１番目の内側パスＰ３２，Ｐ３７のレベルは等しいので（Ｓ４１がＹＥＳ）、次の内側パス（第２番目の内側パス）Ｐ３３，Ｐ３６がクロスするか否かを調べる（Ｓ４３）。
【００５８】
第２番目の内側パスＰ３３，Ｐ３６はクロスしないので（Ｓ４３がＮＯ）、第２番目の内側パスＰ３３，Ｐ３６を対象にして、遅延時間差の比較（Ｓ３７），レベルの比較（Ｓ４０）が行われる。
【００５９】
その後、第３番目の内側パスＰ３４，Ｐ３５を対象にして、遅延時間差の比較（Ｓ３７），レベルの比較（Ｓ４０）が行われる。
【００６０】
その後、ステップＳ４３で、第４番目の内側パスＰ３５，Ｐ３４がクロスしていると判断される。範囲判定手段２３１は、ステップＳ４３の判断結果がＮＯとなると、パス情報記憶部２３２を参照し、合成範囲に収めることのできないパスのパス情報を破棄する（Ｓ４４）。ステップＳ４４に於けるパス情報の破棄方法としては、例えば、左端のパスＰ３１を始点とした合成範囲に収まらないパス（図７の例ではパスＰ３８）のパス情報を破棄する方法や、右端のパスＰ３８を始点とした合成範囲に収まらないパスのパス情報を破棄する方法を採用することができる。このような方法を採用することにより、合成範囲内に存在するパス数を最大にすることができ、受信電力を高いものにすることができる。その後、範囲判定手段２３１は、タイミング情報作成手段２３３に対してタイミング情報の作成指示を出力する。
【００６１】
これにより、タイミング情報作成手段２３３は、パス情報記憶部２３２に格納されているパス情報に基づいて、ＲＡＫＥ合成回路３で合成させるパスを示すタイミング情報を作成し、ＲＡＫＥ合成回路３に出力する（Ｓ３６）。
【００６２】
尚、上述した実施例においては、両端のパスのレベルが同じ場合、内側パスとの遅延時間差や内側パスのレベルに基づいて破棄するパスを決定するようにしたが、両端のパスの内、予め定められている方のパスを破棄するようにしても良い。また、上述した実施例では、内側パスとの遅延時間差が同じ場合、内側パスのレベルに基づいて、破棄するパスを決定するようにしたが、両端のパスの内、予め定められている方のパスを破棄するようにしても良い。また、上述した実施例は、本発明をＣＤＭＡ受信装置に適用した場合について説明したが、本発明は、基地局や携帯端末に適用することもできる。
【００６３】
【他の実施例】
次に、本発明の他の実施例について説明する。
【００６４】
図８は本発明の他の実施例のブロック図であり、図１に示した実施例との相違点は、サーチャー回路２の代わりにサーチャー回路２ａを備えている点である。サーチャー回路２ａは、閾値選定処理部２４が追加されている点、遅延プロファイル測定部２１の代わりに遅延プロファイル測定部２１ａを備えている点、および記録媒体Ｋ１の代わりに記録媒体Ｋ２を備えている点が、図１に示したサーチャー回路２と相違している。尚、他の図１と同一符号は、同一部分を表している。
【００６５】
遅延プロファイル測定部２１ａは、パス測定範囲内に存在する各パスの遅延時間及びレベルを示す遅延プロファイルを測定し、測定結果を閾値選定処理部２４に出力する機能を有する。
【００６６】
閾値選定処理部２４は、遅延プロファイル測定部２１ａの測定結果に基づき、レベルが閾値以上のパスを選定し、選定したパスの遅延時間及びレベルを遅延プロファイル記憶部２２に格納する機能や、遅延プロファイル記憶部２２への格納処理が完了したとき、完了通知をパス選定回路２３に出力する機能を有する。尚、上記閾値は、例えば、ノイズレベルに所定値を加えた値とする。
【００６７】
記録媒体Ｋ２は、半導体メモリ，ディスク，その他の記録媒体であり、ＤＳＰをサーチャー回路２ａとして機能させるためのプログラムが記録されている。このプログラムは、ＤＳＰによって読み取られ、その動作を制御することで、ＤＳＰ上に、遅延プロファイル測定部２１ａ，閾値選定処理部２４，パス選定回路２３を実現する。
【００６８】
次に、本実施例の動作を説明する。
【００６９】
遅延プロファイル測定部２１ａは、パス測定範囲内に存在する各パスの遅延時間及びレベルを示す遅延プロファイルを測定し、測定結果を閾値選定処理部２４に出力する。
【００７０】
閾値選定処理部２４は、遅延プロファイル測定部２１ａの測定結果に基づき、レベルが閾値以上のパスを選定し、選定したパスの遅延時間及びレベルを遅延プロファイル記憶部２２に格納する。その後、閾値設定処理部２４は、完了通知をパス選定回路２３へ送る。
【００７１】
これにより、パス選定回路２３は、前述した図３の流れ図に示す処理を行い、ＲＡＫＥ合成回路３で合成対象にするパスを選択し、そのパスを示すタイミング情報をＲＡＫＥ合成回路３に出力する。
【００７２】
本実施例によれば、パス選定回路２３で処理対象にするパスが、レベルが閾値以上のパスに絞られるので、パス選定回路２３の処理時間を短縮することが可能になる。更に、遅延プロファイル記憶部２２に格納される情報も、レベルが閾値以上のパスに関する情報だけとなるので、遅延プロファイル記憶部２２の記憶容量を小さくすることができる。また、上述した実施例は、本発明をＣＤＭＡ受信装置に適用した場合について説明したが、本発明は、基地局や携帯端末に適用することもできる。
【００７３】
【発明の効果】
第１の効果は、通信品質を保ちつつ、ＲＡＫＥ合成回路の回路規模を小さくできるという点である。
【００７４】
その理由は、サーチャー回路のパス測定範囲内に存在する両端のパス（遅延時間差が最も大きいパス）の内の、レベルの小さい方のパスを選択対象から除外するという処理を、除外されずに残っているパスの存在範囲が、合成範囲内となるまで繰り返し行うからである。つまり、パス測定範囲よりも狭い合成範囲内に存在することになったパスのみを、ＲＡＫＥ合成回路における合成対象パスとしており、合成対象パス間の最大遅延時間差を小さいのにすることができるので、ＲＡＫＥ合成回路の回路規模を小さくすることができる。また、両端のパスの内、レベルの高い方を残しているので、受信電力を高いものにし、通信品質を保つことができる。
【００７５】
第２の効果は、ノイズの影響を少なくすることができるという点である。
【００７６】
その理由は、両端のパスのレベルが同じ場合、内側パスとの遅延時間差が大きい方のパスを破棄するようにしているからである。
【００７７】
第３の効果は、サーチャー回路の処理時間を短縮することができるという点である。
【００７８】
その理由は、レベルが閾値以上のパスのみを処理対象にしているからである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例のブロック図である。
【図２】パス選定回路２３の構成例を示すブロック図である。
【図３】パス選定回路２３の処理例を示す流れ図である。
【図４】実施例の動作を説明するための図である。
【図５】実施例の動作を説明するための図である。
【図６】実施例の動作を説明するための図である。
【図７】実施例の動作を説明するための図である。
【図８】本発明の他の実施例のブロック図である。
【図９】パルチパス伝播環境を示した図である。
【図１０】受信信号の一例を示した図である。
【図１１】ＲＡＫＥ合成を説明するための図である。
【図１２】従来のＣＤＭＡ受信装置の構成例を示す図である。
【図１３】従来の技術の問題点を説明するための図である。
【図１４】田舎，丘，都市に於ける伝播モデルを示した図である。
【符号の説明】
１，１０１…無線受信部
２，２ａ，１０２…サーチャー回路
２１，２１ａ…遅延プロファイル測定部
２２…遅延プロファイル記憶部
２３…パス選定回路
２４…閾値選定処理部
２３１…範囲判定手段
２３２…パス情報記憶部
２３３…タイミング情報作成手段
２３４…レベル比較手段
２３５…遅延時間差比較手段
３，１０３…ＲＡＫＥ合成回路
４，１０４…信号復号回路
Ｋ１，Ｋ２…記録媒体

Claims

電波伝播上の遅延プロファイルから復調対象のパスを選択するサーチャー回路と、該サーチャー回路が選択したパスを合成するＲＡＫＥ合成回路とを備えたＣＤＭＡ受信装置において、
前記サーチャー回路が、
パス測定範囲内に存在する両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記パス測定範囲よりも狭い、前記ＲＡＫＥ合成回路における合成範囲内となるまで繰り返し行うことを特徴とするＣＤＭＡ受信装置。
請求項１記載のＣＤＭＡ受信装置に於いて、
前記サーチャー回路が、
電波伝播上の遅延プロファイルを測定する測定手段と、
該測定手段の測定結果に基づいて、パス測定範囲内に存在する両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記合成範囲内となるまで繰り返し行うパス選定回路とを備えたことを特徴とするＣＤＭＡ受信装置。
請求項２記載のＣＤＭＡ受信装置において、
前記パス選定回路が、
前記両端のパスのレベルが同じ場合は、前記両端のパスそれぞれについて、隣接する内側パスとの遅延時間差を求め、両端のパスの内の遅延時間差が大きい方のパスを選択対象から外す構成を有することを特徴とするＣＤＭＡ受信装置。
請求項３記載のＣＤＭＡ受信装置において、
前記パス選定回路が、
前記両端のパスの、隣接する内側パスとの遅延時間差が等しい場合は、前記両端のパスの内の、隣接する内側パスのレベルが低い方を選択対象から外す構成を有することを特徴とするＣＤＭＡ受信装置。
請求項２記載のＣＤＭＡ受信装置に於いて、
前記パス選定回路が、前記両端のパスのレベルが同じ場合は、下記Ａ〜Ｇの処理を行う構成を有することを特徴とするＣＤＭＡ受信装置。
Ａ．両端のパスそれぞれについて、未処理の内側パスの内の、最も両端のパスに近い内側パスとの遅延時間差を求め、両者を比較する。
Ｂ．Ａにおいて、両者が同一でないと判定した場合は、両端のパスの内の、遅延時間差が大きな方のパスを選択対象から外す。
Ｃ．Ａにおいて、両者が同一であると判定した場合は、未処理の内側パスの内の、最も両端のパスに近い内側パスのレベルを比較する。
Ｄ．Ｃにおいて、両者が同一でないと判定した場合は、両端のパスの内の、内側パスのレベルが低い方のパスを選択対象から外す。
Ｅ．Ｃにおいて、両者が同一であると判定した場合は、次の内側パスがクロスするか否かを調べる。
Ｆ．Ｅにおいて、クロスしないと判定した場合は、次の内側パスを処理対象にしてＡの処理を行う。
Ｇ．Ｅにおいて、クロスすると判定した場合は、選択対象として残っているパスの中から、合成範囲内に存在することになるパスを選択する。
請求項２記載のＣＤＭＡ受信装置に於いて、
前記パス選定回路が、
パス測定範囲内に存在する両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すレベル比較手段と、
選択対象として残ったパスの存在する範囲が、前記合成範囲内であるか否かを調べ、合成範囲内である場合は、前記残ったパスを前記ＲＡＫＥ合成回路の合成対象パスとし、合成範囲内でない場合は、前記レベル比較手段を動作させる範囲判定手段を備えたことを特徴とするＣＤＭＡ受信装置。
請求項６記載のＣＤＭＡ受信装置に於いて、
前記両端のパスのレベルが等しい場合、前記両端のパスそれぞれについて、隣接する内側パスとの遅延時間差を求め、遅延時間差の大きい方のパスを選択対象から外す遅延時間差比較手段を備えたことを特徴とするＣＤＭＡ受信装置。
請求項７記載のＣＤＭＡ受信装置に於いて、
前記レベル比較手段が、
前記両端のパスの、隣接する内側パスとの遅延時間差が同一である場合、前記内側パスのレベルを比較し、前記両端のパスの内の、内側パスのレベルが低い方のパスを選択対象から外す構成を有することを特徴とするＣＤＭＡ受信装置。
請求項１記載のＣＤＭＡ受信装置において、
前記サーチャー回路が、
前記パス測定範囲内に存在するレベルが閾値以上のパスを対象にし、両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記パス測定範囲よりも狭い、前記ＲＡＫＥ合成回路における合成範囲内となるまで繰り返し行うことを特徴とするＣＤＭＡ受信装置。
請求項９記載のＣＤＭＡ受信装置に於いて、
前記サーチャー回路が、
電波伝播上の遅延プロファイルを測定する測定手段と、
該測定手段の測定結果に基づいて、パス測定範囲に存在するレベルが閾値以上のパスを選定する閾値選定処理手段と、
該閾値選定処理手段で選定されたパスを対象にし、両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記合成範囲内となるまで繰り返し行うパス選定回路とを備えたことを特徴とするＣＤＭＡ受信装置。
請求項１０記載のＣＤＭＡ受信装置において、
前記パス選定回路が、
前記両端のパスのレベルが同じ場合は、前記両端のパスそれぞれについて、隣接する内側パスとの遅延時間差を求め、両端のパスの内の遅延時間差が大きい方のパスを選択対象から外す構成を有することを特徴とするＣＤＭＡ受信装置。
請求項１１記載のＣＤＭＡ受信装置において、
前記パス選定回路が、
前記両端のパスの、隣接する内側パスとの遅延時間差が等しい場合は、前記両端のパスの内の、隣接する内側パスのレベルが低い方を選択対象から外す構成を有することを特徴とするＣＤＭＡ受信装置。
電波伝播上の遅延プロファイルから復調対象のパスを選択するサーチャー回路と、該サーチャー回路が選択したパスを合成するＲＡＫＥ合成回路とを備えた基地局に於いて、
前記サーチャー回路が、
パス測定範囲内に存在する両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記パス測定範囲よりも狭い、前記ＲＡＫＥ合成回路における合成範囲内となるまで繰り返し行うことを特徴とする基地局。
請求項１３記載の基地局に於いて、
前記サーチャー回路が、
電波伝播上の遅延プロファイルを測定する測定手段と、
該測定手段の測定結果に基づいて、パス測定範囲内に存在する両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記合成範囲内となるまで繰り返し行うパス選定回路とを備えたことを特徴とする基地局。
請求項１４記載の基地局において、
前記パス選定回路が、
前記両端のパスのレベルが同じ場合は、前記両端のパスそれぞれについて、隣接する内側パスとの遅延時間差を求め、両端のパスの内の遅延時間差が大きい方のパスを選択対象から外す構成を有することを特徴とする基地局。
請求項１５記載の基地局において、
前記パス選定回路が、
前記両端のパスの、隣接する内側パスとの遅延時間差が等しい場合は、前記両端のパスの内の、隣接する内側パスのレベルが低い方を選択対象から外す構成を有することを特徴とする基地局。
請求項１３記載の基地局において、
前記サーチャー回路が、
前記パス測定範囲内に存在するレベルが閾値以上のパスを対象にし、両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記パス測定範囲よりも狭い、前記ＲＡＫＥ合成回路における合成範囲内となるまで繰り返し行うことを特徴とする基地局。
請求項１７記載の基地局に於いて、
前記サーチャー回路が、
電波伝播上の遅延プロファイルを測定する測定手段と、
該測定手段の測定結果に基づいて、パス測定範囲に存在するレベルが閾値以上のパスを選定する閾値選定処理手段と、
該閾値選定処理手段で選定されたパスを対象にし、両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記合成範囲内となるまで繰り返し行うパス選定回路とを備えたことを特徴とする基地局。
請求項１８記載の基地局において、
前記パス選定回路が、
前記両端のパスのレベルが同じ場合は、前記両端のパスそれぞれについて、隣接する内側パスとの遅延時間差を求め、両端のパスの内の遅延時間差が大きい方のパスを選択対象から外す構成を有することを特徴とする基地局。
請求項１９記載の基地局において、
前記パス選定回路が、
前記両端のパスの、隣接する内側パスとの遅延時間差が等しい場合は、前記両端のパスの内の、隣接する内側パスのレベルが低い方を選択対象から外す構成を有することを特徴とする基地局。
電波伝播上の遅延プロファイルから復調対象のパスを選択するサーチャー回路と、該サーチャー回路が選択したパスを合成するＲＡＫＥ合成回路とを備えた携帯端末に於いて、
前記サーチャー回路が、
パス測定範囲内に存在する両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記パス測定範囲よりも狭い、前記ＲＡＫＥ合成回路における合成範囲内となるまで繰り返し行うことを特徴とする携帯端末。
請求項２１記載の携帯端末に於いて、
前記サーチャー回路が、
電波伝播上の遅延プロファイルを測定する測定手段と、
該測定手段の測定結果に基づいて、パス測定範囲内に存在する両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記合成範囲内となるまで繰り返し行うパス選定回路とを備えたことを特徴とする携帯端末。
請求項２２記載の携帯端末において、
前記パス選定回路が、
前記両端のパスのレベルが同じ場合は、前記両端のパスそれぞれについて、隣接する内側パスとの遅延時間差を求め、両端のパスの内の遅延時間差が大きい方のパスを選択対象から外す構成を有することを特徴とする携帯端末。
請求項２３記載の携帯端末において、
前記パス選定回路が、
前記両端のパスの、隣接する内側パスとの遅延時間差が等しい場合は、前記両端のパスの内の、隣接する内側パスのレベルが低い方を選択対象から外す構成を有することを特徴とする携帯端末。
請求項２１記載の携帯端末において、
前記サーチャー回路が、
前記パス測定範囲内に存在するレベルが閾値以上のパスを対象にし、両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記パス測定範囲よりも狭い、前記ＲＡＫＥ合成回路における合成範囲内となるまで繰り返し行うことを特徴とする携帯端末。
請求項２５記載の携帯端末に於いて、
前記サーチャー回路が、
電波伝播上の遅延プロファイルを測定する測定手段と、
該測定手段の測定結果に基づいて、パス測定範囲に存在するレベルが閾値以上のパスを選定する閾値選定処理手段と、
該閾値選定処理手段で選定されたパスを対象にし、両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記合成範囲内となるまで繰り返し行うパス選定回路とを備えたことを特徴とする携帯端末。
請求項２６記載の携帯端末において、
前記パス選定回路が、
前記両端のパスのレベルが同じ場合は、前記両端のパスそれぞれについて、隣接する内側パスとの遅延時間差を求め、両端のパスの内の遅延時間差が大きい方のパスを選択対象から外す構成を有することを特徴とする携帯端末。
請求項２７記載の携帯端末において、
前記パス選定回路が、
前記両端のパスの、隣接する内側パスとの遅延時間差が等しい場合は、前記両端のパスの内の、隣接する内側パスのレベルが低い方を選択対象から外す構成を有することを特徴とする携帯端末。
電波伝播上の遅延プロファイルから、ＲＡＫＥ合成回路で合成する復調対象のパスを選択するパス選定方法において、
パス測定範囲内に存在する両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記パス測定範囲よりも狭い、前記ＲＡＫＥ合成回路における合成範囲内となるまで繰り返し行うことを特徴とするパス選定方法。
請求項２９記載のパス選定方法に於いて、
電波伝播上の遅延プロファイルを測定する測定ステップと、
該測定ステップの測定結果に基づいて、パス測定範囲内に存在する両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記合成範囲内となるまで繰り返し行うパス選定ステップとを含むことを特徴とするパス選定方法。
請求項３０記載のパス選定方法において、
前記パス選定ステップは、
前記両端のパスのレベルが同じ場合は、前記両端のパスそれぞれについて、隣接する内側パスとの遅延時間差を求め、両端のパスの内の遅延時間差が大きい方のパスを選択対象から外すことを特徴とするパス選定方法。
請求項３１記載のパス選定方法において、
前記パス選定ステップは、
前記両端のパスの、隣接する内側パスとの遅延時間差が等しい場合は、前記両端のパスの内の、隣接する内側パスのレベルが低い方を選択対象から外すことを特徴とするパス選定方法。
請求項３０記載のパス選定方法に於いて、
前記パス選定ステップは、前記両端のパスのレベルが同じ場合は、下記Ａ〜Ｇの処理を行うことを特徴とするパス選定方法。
Ａ．両端のパスそれぞれについて、未処理の内側パスの内の、最も両端のパスに近い内側パスとの遅延時間差を求め、両者を比較する。
Ｂ．Ａにおいて、両者が同一でないと判定した場合は、両端のパスの内の、遅延時間差が大きな方のパスを選択対象から外す。
Ｃ．Ａにおいて、両者が同一であると判定した場合は、未処理の内側パスの内の、最も両端のパスに近い内側パスのレベルを比較する。
Ｄ．Ｃにおいて、両者が同一でないと判定した場合は、両端のパスの内の、内側パスのレベルが低い方のパスを選択対象から外す。
Ｅ．Ｃにおいて、両者が同一であると判定した場合は、次の内側パスがクロスするか否かを調べる。
Ｆ．Ｅにおいて、クロスしないと判定した場合は、次の内側パスを処理対象にしてＡの処理を行う。
Ｇ．Ｅにおいて、クロスすると判定した場合は、選択対象として残っているパスの中から、合成範囲内に存在することになるパスを選択する。
請求項２９記載のパス選定方法において、
前記パス測定範囲内に存在するレベルが閾値以上のパスを対象にし、両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記パス測定範囲よりも狭い、前記ＲＡＫＥ合成回路における合成範囲内となるまで繰り返し行うことを特徴とするパス選定方法。
請求項３４記載のパス選定方法に於いて、
電波伝播上の遅延プロファイルを測定する測定ステップと、
該測定ステップの測定結果に基づいて、パス測定範囲に存在するレベルが閾値以上のパスを選定する閾値選定処理ステップと、
該閾値選定処理ステップで選定されたパスを対象にして、両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記合成範囲内となるまで繰り返し行うパス選定ステップとを含むことを特徴とするパス選定方法。
請求項３５記載のパス選定方法において、
前記パス選定ステップは、
前記両端のパスのレベルが同じ場合は、前記両端のパスそれぞれについて、隣接する内側パスとの遅延時間差を求め、両端のパスの内の遅延時間差が大きい方のパスを選択対象から外すことを特徴とするパス選定方法。
請求項３６記載のパス選定方法において、
前記パス選定ステップは、
前記両端のパスの、隣接する内側パスとの遅延時間差が等しい場合は、前記両端のパスの内の、隣接する内側パスのレベルが低い方を選択対象から外すことを特徴とするパス選定方法。
コンピュータに、電波伝播上の遅延プロファイルからＲＡＫＥ合成回路で合成する復調対象のパスを選択させるためのプログラムであって、
前記コンピュータに、
パス測定範囲内に存在する両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記パス測定範囲よりも狭い、前記ＲＡＫＥ合成回路における合成範囲内となるまで繰り返し行わせるプログラム。
コンピュータに、電波伝播上の遅延プロファイルからＲＡＫＥ合成回路で合成する復調対象のパスを選択させるためのプログラムであって、
前記コンピュータに、
パス測定範囲内に存在するレベルが閾値以上のパスを対象にし、両端のパスの内のレベルが低い方のパスを選択対象から外すという処理を、選択対象として残ったパスの存在範囲が前記パス測定範囲よりも狭い、前記ＲＡＫＥ合成回路における合成範囲内となるまで繰り返し行わせるプログラム。