JP3540054B2 - 真直度干渉計 - Google Patents

真直度干渉計 Download PDF

Info

Publication number
JP3540054B2
JP3540054B2 JP15015295A JP15015295A JP3540054B2 JP 3540054 B2 JP3540054 B2 JP 3540054B2 JP 15015295 A JP15015295 A JP 15015295A JP 15015295 A JP15015295 A JP 15015295A JP 3540054 B2 JP3540054 B2 JP 3540054B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
straightness
mirror
straightness interferometer
prism
prism holder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP15015295A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH095060A (ja
Inventor
達也 青木
直樹 畠山
Original Assignee
株式会社ソキア
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社ソキア filed Critical 株式会社ソキア
Priority to JP15015295A priority Critical patent/JP3540054B2/ja
Publication of JPH095060A publication Critical patent/JPH095060A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3540054B2 publication Critical patent/JP3540054B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
この発明は、真直度干渉計に関し、特に、その使い勝手を向上させる技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
工作機械やXYテーブルなどの直線運動を行なう部分の真直性を測定する手段として、光の干渉を利用する真直度測定装置が知られており、例えば、その一例が米国特許第3790284号に開示されている。この米国特許に示されている真直度測定装置は、同じ光軸上に配置されるレーザ光線発射装置と、ウォラストンプリズムで構成された真直度干渉計と、平面鏡で構成された反射ミラーとを有している。
【0003】
レーザ光線発射装置の発光部から出射されたレーザ光は、真直度干渉計で、同一平面内において、微小な角度間隔で拡がる2つの第1および第2レーザ光に分光され、分光した第1および第2レーザ光が反射ミラーに照射され、反射ミラーからのそれぞれの反射光は、入射光と同一光路上に戻り、真直度干渉計で再び合成されて、相互に干渉させられる。
【0004】
真直度干渉計をレーザ光の光軸方向に移動させた時に、真直度干渉計と反射ミラーとの間に移動方向に直交する方向の変位があると、真直度干渉計と反射ミラーとの間で反射する第1および第2レーザ光に光路差が発生する。このような光路差が発生すると、反射ミラーで反射した第1および第2レーザ光の干渉縞が変化し、この干渉縞の変化を求めることにより、真直度が測定される。
【0005】
ところで、この種の真直度測定装置でXYテーブルなどの真直度を測る際には、まず、測定する軸とレーザ光線発射装置から発射されるレーザ光との軸合わせが行なわれ、この操作は、いわゆるアライメント作業と呼ばれている。
このアライメント作業と呼ばれる軸合わせは、レーザ光と測定する軸とが平行になるようにするアライメント操作と、この後に行なわれる正対操作とがある。アライメント操作は、真直度干渉計の前面に、例えば、十字状のターゲットが表示されたターゲット板を磁石等により貼着し、レーザ光線発射装置に近い位置に真直度干渉計を設置した時に、レーザ光線発射装置を平行移動させて、レーザ光が十字状ターゲットを照射するようにし、また、レーザ光線発射装置から遠い位置に真直度干渉計を設置した時に、レーザ光線発射装置の角度を調節して、レーザ光が十字状ターゲットを照射するようにする作業を複数回繰り返して、レーザ光と測定する軸とが平行になるように操作する。
【0006】
そして、この後に、レーザ光に対して、真直度干渉計が正対するように、真直度干渉計の角度を調整する。しかしながら、このような従来のアライメント作業においては、特に、測定する軸と平行が採られたレーザ光に対して、真直度干渉計を正対させる際に、以下に説明する問題があった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
すなわち、上述したアライメント作業における真直度干渉計の正対操作は、従来、一般的には、目視により行なわれていた。ところが、この正対操作は、レーザ光に対して約±2°程度の範囲内で正対させなければ、真直度干渉計のウォラストンプリズムでのP波成分とS波成分との分離が不十分になり、真直度の測定精度に影響を及ぼすといわれている。従って、このような角度範囲内に収めるために、慎重な作業が要求され、面倒な上に、非常に時間がかかるという問題があった。
【0008】
本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、正対操作が簡単かつ確実に行なえる真直度干渉計を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明は、枠体と、この枠体に回転自在に支持されたプリズムホルダーと、このプリズムホルダーに保持されたウォラストンプリズムと、前記プリズムホルダーの回転軸を中心とする同心円上に設けられたレーザ光の入射部および出射部とを備えた真直度干渉計において、前記プリズムホルダーの前面側に、当該プリズムホルダーの回転軸を中心とする同心円上に十字状ターゲットと反射ミラーとを設けたことを特徴とする。
前記十字状ターゲットおよび反射ミラーが設けられた同心円は、前記入射部および反射部が設けられた同心円と一致させることができる。
また、前記反射ミラーは、前記プリズムホルダーの前面に貫設されたミラー窓と、このミラー窓の背面側に設けられ、前記ウォラストンプリズムの前面を覆う防塵ガラスに設けられた反射膜とから構成することができる。
【0010】
【作用】
上記構成の真直度干渉計によれば、プリズムホルダーの前面側に、当該プリズムホルダーの回転軸を中心とする同心円上に十字状ターゲットと反射ミラーとが設けられているので、レーザ光と測定対象軸とを平行にするアライメント操作の際には、十字状ターゲットを使用することができ、この操作が終了すると、プリズムホルターを回転させて、レーザ光が反射ミラーを照射するようにすると、レーザ光の反射状態が目視により確認できるので、レーザ光に対して真直度干渉計を正確かつ簡単に正対させることができる。
また、請求項2の構成によれば、十字状ターゲットおよび反射ミラーが設けられた同心円は、レーザ光の入射部および反射部が設けられた同心円と一致させてあるので、正対操作が完了すると、プリズムホルダーを回転させて、入射部にレーザ光を入射させると、直ちに真直度の測定が行なえる。
さらに、請求項3の構成によれば、反射ミラーは、プリズムホルダーの前面に貫設されたミラー窓と、このミラー窓の背面側に設けられ、ウォラストンプリズムの前面を覆う防塵ガラスに設けられた反射膜とから構成されているので、ウォラストンプリズム側へ塵埃が侵入することも防止できる。
【0011】
【実施例】
以下本発明の好適な実施例について添附図面を参照して詳細に説明する。図1から図5は、本発明にかかる真直度干渉計の一実施例を示している。同図に示す真直度干渉計は、枠体10と、プリズムホルダー12と、ウォラストンプリズム14とを有している。
【0012】
枠体10は、略直方体状に形成された本体10aと、この本体10aの水平方向の中心に貫通形成された円形の孔部10bと、この孔部10bの中心に突設された環状の回転ガイド10cとから構成されている。プリズムホルダー12は、両端が開口した円筒部12aと、この円筒部12aの両端にあって、同軸上に固設される一対の前,後円板部12b,12cとから構成されている。
【0013】
円筒部12aは、その外径が枠体10の孔部10bの内径とほぼ同じ寸法に形成されていて、その長手軸方向の中心外周には、枠体10の回転ガイド10cと嵌合する環状溝12dが設けられている。
なお、この円筒部12aは、その長手方向の中心で2分割され、孔部10b内には、その両側から挿入されて一体化され、この状態において、円筒部12aが枠体10に対して、回転自在に支持される。
【0014】
前,後円板部12b,12cは、概略同一形状に形成されていて、その中心の背面側には、孔部10bの内径と同じ大きさの円筒形凹部12e,12fが形成されている。また、前円板部12bには、レーザ光の入射部12gと出射部12hとが設けられている。この入射部12gと出射部12hとは、略楕円状に穿設された貫通孔であって、これらの楕円の中心は、円板部12bの回転軸を中心とする同心円上に位置している。
【0015】
なお、後円板部12cには、図示はしていないが、前円板部12bと同様な楕円貫通孔で構成された入射部と出射部とが、前円板部12bの入射部12gと出射部12hとに対応して設けられており、これらの後円板部12cの入射部と出射部とは、前円板部12bの入射部12gに対応する部分が出射部となり、出射部12hに対応する部分が入射部となる。
【0016】
ウォラストンプリズム14は、屈折率の異なる複数のプリズムを組み合わせたものであって、円筒状に形成されて、プリズムホルダー12の円筒部12aの内周に保持されている。
このウォラストンプリズム14は、前円板部12bの入射部12gから入射したレーザ光を、微小な角度間隔で2方向に拡がる2つのレーザ光に分光して、後円板部12cの出射部から送出するとともに、このブリズム14の後方に設置される反射鏡から反射した2つのレーザ光が、後円板部12cの入射部から入射すると、この2つのレーザ光を合成して干渉させて前円板部12bの出射部12hから出射させる。
【0017】
また、プリズムホルダー12の前円板部12bの表面には、十字状ターゲット16が表示され、この十字状ターゲット16と対向するようにして反射ミラー18が設けられている。この十字状ターゲット16と反射ミラー18とは、入射部12gと出射部12hとの中心線と直交する線上にあって、その中心が入射部12gと出射部12hの楕円の中心と同心円上に位置している。
【0018】
反射ミラー18は、この実施例では、前円板部12bに貫通形成された円形のミラー窓18aと、この円板部12bの背面側に設けられた円筒形凹部12eに配置された防塵ガラス20の表面に設けられた反射膜18bとから構成されている。防塵ガラス20は、後円板部12cの円筒形凹部12f内にも設置されていて、対向する表裏面が平行なものであって、ウォラストンプリズム14の前後面を覆うように設置されている。
【0019】
前円板部12b側に設けられて防塵ガラス20の前面側には、ミラー窓18aに一対応して、円形の反射膜18bが形成されるとともに、その全面に反射防止膜22が設けられている。同様に、後円板部12bに円形ミラー窓18aが設けられている。また、後円板部12b側に設けられた防塵ガラス20の前面側には、ミラー窓18aに対応して円形の反射膜18bが形成されるとともに、その全面に反射防止膜22が設けられている。
【0020】
以上のように構成された真直度干渉計では、まず、アライメント操作を行なう際には、図1に示すように、矢印で示したレーザ光が十字状ターゲット16を照射するように、プリズムホルダー12を回転させて行なわれる。
そして、レーザ光に対して、真直度干渉計を近接ないしは離間する方向に移動させて、レーザ光の軸と真直度干渉計の移動軸とが平行になると、図2に示すように、今度は、プリズムホルダー12を180°回転させて、ミラー窓18aをレーザ光が照射するようにし、レーザ光に対して真直度干渉計が正対するように角度調整が行なわれる。
【0021】
このとき、ミラー窓18aをレーザ光で照射すると、レーザ光が反射膜18bに当たって反射し、正対が取れていない場合には、入射レーザ光と反射レーザ光との角度が異なり、その方向が目視できるので、簡単かつ確実に、しかも迅速に正対をとることができる。
レーザ光に対して真直度干渉計が正対させられると、測定の準備が終了するので、図3に示すように、プリズムホルダー12を90°回転させて、レーザ光が入射部12gを照射するようにする。真直度干渉計の枠体10には、プリズムホルダ12を回転させるため90°毎の指標を設けて位置決めするようにしている。
【0022】
さて、以上のように構成された本実施例の真直度干渉計によれば、アライメントおよび正対操作が簡単かつ迅速に行なえるだけでなく、以下の効果も得られる。
すなわち、本実施例の場合には、十字状ターゲット16および反射ミラー18が設けられた同心円は、レーザ光の入射部12gおよび反射部12hが設けられた同心円と一致させてあるので、アライメント操作が完了すると、プリズムホルダー12を所定量だけ回転させるだけの操作で、反射ミラー18および入射部12gにレーザ光を照射でき、測定の能率を大幅に向上させることができる。
【0023】
また、反射ミラー18は、プリズムホルダー12の前面に貫設されたミラー窓18aと、このミラー窓18aの背面側に設けられ、ウォラストンプリズム14の前面を覆う防塵ガラス20に設けられた反射膜18bとから構成されているので、ウォラストンプリズム14側へ塵埃が侵入することも防止できる。
なお、上記実施例では、入射部12g,反射部12h,十字状ターゲット16,反射ミラー18の各中心をプリズムホルダー12の回転軸を中心とする同心円上に設けたものを例示したが、本発明の実施は、これに限定されることはなく、例えば、入射部12gおよび反射部12hの同心円と、十字状ターゲット16および反射ミラー18の同心円とを別の径にすることもできる。
【0024】
また、反射ミラー18は、上記実施例の構成に限定されることはなく、例えば、前円板部12bの円形ミラー窓18aの位置に直接反射膜18bを貼着してもよい。また、前後円板部12b,12cに十字状ターゲットおよび反射ミラーを設けているので、前後方向のいずれからも真直度干渉計により正対する調整を行なうことができる。
【0025】
【発明の効果】
以上、実施例で詳細に説明したように、本発明にかかる真直度干渉計によれば、正対操作が簡単かつ確実に行なえる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる真直度干渉計のアライメント操作を行なう際の説明図である。
【図2】本発明にかかる真直度干渉計の正対操作を行なう際の説明図である。
【図3】本発明にかかる真直度干渉計の測定状態の説明図である。
【図4】図1の縦断面図である。
【図5】図4に示した防塵ガラスの正面図と側面図である。
【符号の説明】
10 枠体
10a 本体
10b 孔部
10c 回転ガイド
12 プリズムホルダー
12a 円筒部
12b 前円板部
12c 後円板部
12d 環状溝
12g 入射部
12h 出射部
14 ウォラストンプリズム
16 十字状ターゲット
18 反射ミラー
18a ミラー窓
18b 反射膜
20 防塵ガラス
22 反射防止膜

Claims (3)

  1. 枠体と、この枠体に回転自在に支持されたプリズムホルダーと、このプリズムホルダーに保持されたウォラストンプリズムと、前記プリズムホルダーの回転軸を中心とする同心円上に設けられたレーザ光の入射部および出射部とを備えた真直度干渉計において、
    前記プリズムホルダーの前面側に、当該プリズムホルダーの回転軸を中心とする同心円上に十字状ターゲットと反射ミラーとを設けたことを特徴とする真直度干渉計。
  2. 前記十字状ターゲットおよび反射ミラーが設けられた同心円は、前記入射部および反射部が設けられた同心円と一致することを特徴とする請求項1記載の真直度干渉計。
  3. 前記反射ミラーは、前記プリズムホルダーの前面に貫設されたミラー窓と、このミラー窓の背面側に設けられ、前記ウォラストンプリズムの前面を覆う防塵ガラスに設けられた反射膜とからなることを特徴とする請求項1また2記載の真直度干渉計。
JP15015295A 1995-06-16 1995-06-16 真直度干渉計 Expired - Fee Related JP3540054B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15015295A JP3540054B2 (ja) 1995-06-16 1995-06-16 真直度干渉計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15015295A JP3540054B2 (ja) 1995-06-16 1995-06-16 真直度干渉計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH095060A JPH095060A (ja) 1997-01-10
JP3540054B2 true JP3540054B2 (ja) 2004-07-07

Family

ID=15490644

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15015295A Expired - Fee Related JP3540054B2 (ja) 1995-06-16 1995-06-16 真直度干渉計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3540054B2 (ja)

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8720014D0 (en) * 1987-08-25 1987-09-30 Renishaw Plc Straightness interferometer
JP2949377B2 (ja) * 1991-04-05 1999-09-13 コニカ株式会社 分岐プリズムとそれを用いた干渉真直度計
JP2523340Y2 (ja) * 1991-05-02 1997-01-22 株式会社ソキア レーザー測長装置用補助ターゲット
JP3045567B2 (ja) * 1991-06-21 2000-05-29 オリンパス光学工業株式会社 移動***置測定装置
JPH05302825A (ja) * 1992-04-28 1993-11-16 Olympus Optical Co Ltd アライメント方法とその装置
JP3341779B2 (ja) * 1992-05-28 2002-11-05 富士写真光機株式会社 干渉計におけるアライメント装置
JPH07174510A (ja) * 1993-12-17 1995-07-14 Nikon Corp 測長装置および測長方法
JP3557253B2 (ja) * 1994-08-23 2004-08-25 オリンパス株式会社 干渉計

Also Published As

Publication number Publication date
JPH095060A (ja) 1997-01-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0676629B1 (en) Refractive index measurement of spectacle lenses
US9243898B2 (en) Positioning device comprising a light beam
JPH0216443B2 (ja)
JP3540054B2 (ja) 真直度干渉計
US4932780A (en) Interferometer
JPH06288735A (ja) 放物面鏡形状検査測定用の位相共役干渉計
US5265179A (en) Method of manufacturing fiber-optic collimators
JP3230983B2 (ja) 光波干渉装置の被検***置調整方法
JP2560471B2 (ja) 安全機構を有したエンコーダー
JPS6488304A (en) Measuring instrument using optical system
JPH0517528B2 (ja)
EP0859941B1 (en) Target for laser leveling systems
JPH04151542A (ja) 球面ミラー及び浮遊微粒子計数器
JP2756715B2 (ja) ダハ反射鏡成形金型の検査方法
JPH0821713A (ja) 光学式角度測定装置
JPH0652165B2 (ja) 干渉計
CN116839468A (zh) 一种用于干涉仪快速对点的辅助装置及其测量方法
SU1413441A2 (ru) Астрономический двухканальный фотометр
JPS62278422A (ja) 光源性能計測装置
JPH0510602B2 (ja)
JPH02128107A (ja) シアリング干渉測定に於ける波面回転方法
JPH04174315A (ja) 光軸調整装置
JPS61129516A (ja) 平面度検査装置
JPH10254337A (ja) ホログラム物体光再生装置及びこれを用いた共焦点光学装置
JPS57153206A (en) Light interference measuring device

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040316

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040324

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090402

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100402

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100402

Year of fee payment: 6

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100402

Year of fee payment: 6

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100402

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100402

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110402

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110402

Year of fee payment: 7

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110402

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110402

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120402

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120402

Year of fee payment: 8

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120402

Year of fee payment: 8

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130402

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140402

Year of fee payment: 10

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees