JP3530938B2 - シルセスキオキサン系ポリマーを含む耐熱性樹脂組成物、該組成物を用いて形成された被膜、及びその被膜の作成方法 - Google Patents
シルセスキオキサン系ポリマーを含む耐熱性樹脂組成物、該組成物を用いて形成された被膜、及びその被膜の作成方法Info
- Publication number
- JP3530938B2 JP3530938B2 JP2001091233A JP2001091233A JP3530938B2 JP 3530938 B2 JP3530938 B2 JP 3530938B2 JP 2001091233 A JP2001091233 A JP 2001091233A JP 2001091233 A JP2001091233 A JP 2001091233A JP 3530938 B2 JP3530938 B2 JP 3530938B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- group
- film
- coating
- substituent
- polymer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000000576 coating method Methods 0.000 title claims description 41
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 title claims description 37
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 title claims description 33
- 239000011342 resin composition Substances 0.000 title claims description 14
- 229920006015 heat resistant resin Polymers 0.000 title claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 10
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 31
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 16
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 15
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 claims description 15
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 claims description 15
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 11
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 11
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims description 10
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 9
- 229920003209 poly(hydridosilsesquioxane) Polymers 0.000 claims description 9
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 7
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims description 7
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 7
- 125000003710 aryl alkyl group Chemical group 0.000 claims description 6
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 6
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 claims description 6
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 6
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims description 6
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 claims description 5
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 claims description 5
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 claims description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 150000003440 styrenes Chemical class 0.000 claims 2
- 229920002313 fluoropolymer Polymers 0.000 claims 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 87
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 7
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 6
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 6
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- -1 anisyl group Chemical group 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 4
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000006459 hydrosilylation reaction Methods 0.000 description 3
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 125000004453 alkoxycarbonyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 2
- 238000007611 bar coating method Methods 0.000 description 2
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 2
- MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N chlorobenzene Chemical compound ClC1=CC=CC=C1 MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008034 disappearance Effects 0.000 description 2
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 125000004051 hexyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 2
- 239000008204 material by function Substances 0.000 description 2
- 125000001160 methoxycarbonyl group Chemical group [H]C([H])([H])OC(*)=O 0.000 description 2
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 2
- 125000001624 naphthyl group Chemical group 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229920005573 silicon-containing polymer Polymers 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- 125000003944 tolyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000000026 trimethylsilyl group Chemical group [H]C([H])([H])[Si]([*])(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- LCGLNKUTAGEVQW-UHFFFAOYSA-N Dimethyl ether Chemical group COC LCGLNKUTAGEVQW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001157 Fourier transform infrared spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 1
- 125000002947 alkylene group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000732 arylene group Chemical group 0.000 description 1
- 125000002529 biphenylenyl group Chemical group C1(=CC=CC=2C3=CC=CC=C3C12)* 0.000 description 1
- 239000004566 building material Substances 0.000 description 1
- 239000008199 coating composition Substances 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- USIUVYZYUHIAEV-UHFFFAOYSA-N diphenyl ether Chemical group C=1C=CC=CC=1OC1=CC=CC=C1 USIUVYZYUHIAEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 125000000816 ethylene group Chemical group [H]C([H])([*:1])C([H])([H])[*:2] 0.000 description 1
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 1
- 125000000623 heterocyclic group Chemical group 0.000 description 1
- UQEAIHBTYFGYIE-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisiloxane Chemical compound C[Si](C)(C)O[Si](C)(C)C UQEAIHBTYFGYIE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004678 hydrides Chemical class 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000016507 interphase Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 125000001570 methylene group Chemical group [H]C([H])([*:1])[*:2] 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 125000004957 naphthylene group Chemical group 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 229920001558 organosilicon polymer Polymers 0.000 description 1
- 125000000843 phenylene group Chemical group C1(=C(C=CC=C1)*)* 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 1
- 125000005551 pyridylene group Chemical group 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 125000005373 siloxane group Chemical group [SiH2](O*)* 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 125000005156 substituted alkylene group Chemical group 0.000 description 1
- 125000005649 substituted arylene group Chemical group 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 125000005556 thienylene group Chemical group 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- UHUUYVZLXJHWDV-UHFFFAOYSA-N trimethyl(methylsilyloxy)silane Chemical group C[SiH2]O[Si](C)(C)C UHUUYVZLXJHWDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02109—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates
- H01L21/02112—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer
- H01L21/02123—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon
- H01L21/02126—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon the material containing Si, O, and at least one of H, N, C, F, or other non-metal elements, e.g. SiOC, SiOC:H or SiONC
- H01L21/02134—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon the material containing Si, O, and at least one of H, N, C, F, or other non-metal elements, e.g. SiOC, SiOC:H or SiONC the material comprising hydrogen silsesquioxane, e.g. HSQ
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09D—COATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
- C09D183/00—Coating compositions based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Coating compositions based on derivatives of such polymers
- C09D183/04—Polysiloxanes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09D—COATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
- C09D183/00—Coating compositions based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Coating compositions based on derivatives of such polymers
- C09D183/14—Coating compositions based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Coating compositions based on derivatives of such polymers in which at least two but not all the silicon atoms are connected by linkages other than oxygen atoms
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02225—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer
- H01L21/0226—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process
- H01L21/02282—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process liquid deposition, e.g. spin-coating, sol-gel techniques, spray coating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/31—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
- H01L21/312—Organic layers, e.g. photoresist
- H01L21/3121—Layers comprising organo-silicon compounds
- H01L21/3122—Layers comprising organo-silicon compounds layers comprising polysiloxane compounds
- H01L21/3124—Layers comprising organo-silicon compounds layers comprising polysiloxane compounds layers comprising hydrogen silsesquioxane
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02109—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates
- H01L21/02112—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer
- H01L21/02123—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon
- H01L21/02126—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon the material containing Si, O, and at least one of H, N, C, F, or other non-metal elements, e.g. SiOC, SiOC:H or SiONC
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02109—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates
- H01L21/02205—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates the layer being characterised by the precursor material for deposition
- H01L21/02208—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates the layer being characterised by the precursor material for deposition the precursor containing a compound comprising Si
- H01L21/02214—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates the layer being characterised by the precursor material for deposition the precursor containing a compound comprising Si the compound comprising silicon and oxygen
- H01L21/02216—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates the layer being characterised by the precursor material for deposition the precursor containing a compound comprising Si the compound comprising silicon and oxygen the compound being a molecule comprising at least one silicon-oxygen bond and the compound having hydrogen or an organic group attached to the silicon or oxygen, e.g. a siloxane
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/31504—Composite [nonstructural laminate]
- Y10T428/31652—Of asbestos
- Y10T428/31663—As siloxane, silicone or silane
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Wood Science & Technology (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Silicon Polymers (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
- Paints Or Removers (AREA)
Description
含む耐熱性の含ケイ素ポリマーの硬化性樹脂組成物、そ
のポリマーを用いた被膜及び硬化膜に関するものであ
る。耐熱性の含ケイ素ポリマーは、成膜されて、レジス
ト、保護膜、電気絶縁膜、層間絶縁膜、パッシベーショ
ン膜、耐熱塗膜等に用いられる。
キオキサンの一種であるオクタキス(ヒドリドシルセス
キオキサン)、即ちペンタシクロ[9.5.1.13,9.1
5,15.1 7,13]オクタシロキサンとジイン類又は
モノイン類とのヒドロシリル化重合体、及びペンタシク
ロ[9.5.1.13,9.15,15.17,13]オクタシロキ
サンとジイン類のヒドロシリル化重合体において、ケイ
素上の水素の一部または全部がアルキル基またはアラル
キル基に置換された重合体は、有機溶媒可溶でありなが
ら高い熱安定性を有することを、特許第2884073号、同
第2884074号及び同第3020164号において開示した。
よって成膜することができるものの、有機溶剤に溶解さ
せた溶液中の溶媒を常温で乾燥させたところ、その成膜
にはクラックが発生し易いという問題を有していた。
した課題を解消し、シルセスキオキサン系ポリマーの持
つ有機溶剤への溶解性を利用して容易に塗工でき、基材
との良好な密着性を有し、クラック等の損傷の無い優れ
た被膜を形成できる耐熱性樹脂組成物を提供することに
ある。また、本発明の他の目的は、吸湿性が無く耐水性
であって、良好な電気絶縁性、耐候性、耐薬品性、強度
等の機械的特性を有する被膜及び硬化被膜、さらには、
それらの作成方法を提供することにある。さらに、本発
明の他の目的は、上記した被膜又は硬化被膜を、基材に
保護膜、層間絶縁膜又はパッシベーション膜として形成
された物品を提供することにある。
課題を解決するために、シルセスキオキサン系ポリマー
類の利用について検討を重ねた結果、特定の条件下にお
いて処理することにより、多様な優れた特性を有する薄
膜が形成されることを見出し、この事実に基づいて、本
発明を完成するに至った。
れる。本発明の耐熱性樹脂組成物は、一般式(1) (HSiO3/2)n (1) (式中、nは4〜1000の整数である。)で表される
ヒドリドシルセスキオキサン類又はそれらの混合物と、
一般式(2) R−C≡C−(R')q−C≡C−R (2) (式中、Rは置換基を有していても良い一価の有機基又
は有機ケイ素基を示し、R'は置換基を有していても良
い二価の有機基又は有機金属基を示す。qは0又は1で
ある。)で表されるビス(置換エチニル)化合物との反
応又は 一般式(3) R''−C≡CH (3) (式中、R''は水素、置換基を有していても良い一価の
有機基又は有機ケイ素基を表す。)で表されるモノアセ
チレン類との反応で得られたヒドロシリル化重合体、又
はその重合体のケイ素原子に結合する水素原子の一部が
アルキル基或いはアラルキル基で置換されたヒドロシリ
ル化重合体を含有することを特徴とする。そのヒドロシ
リル化重合体としては、一般式(1)において、nが8
のヒドリドシルセスキオキサンを用いて得られたもので
あることが好ましい。
脂組成物の有機溶媒溶液を、空気又は不活性ガスの雰囲
気下、40℃以上300℃未満の温度に加熱することに
より形成されてなるものである。特に、IRスペクトル
において、2200〜2400cm-1及び850〜930cm-1における吸
収の吸光度が、それぞれの熱処理前の8割以上である被
膜も好ましい。本発明の被膜の作成方法は、上記した耐
熱性樹脂組成物を有機溶媒に溶解させた溶液を基材上に
展開し、空気又は不活性ガスの雰囲気下、40℃以上3
00℃未満の温度で1分〜10時間加熱することを特徴
とする。
を、不活性ガスの雰囲気下、300〜1500℃の高温
で熱処理することにより得られるものである。特に、I
Rスペクトルにおいて、1100cm-1〜1150cm-1の範囲の吸
収に加えて、1000cm-1〜1100cm-1の範囲及び/又は1150
cm-1〜1250cm-1の範囲で吸収又はショルダー吸収を示す
か、または、2200〜2400cm-1及び850〜930cm-1における
吸収の吸光度が、それぞれの熱処理前の7割以下である
硬化被膜が好ましい。本発明の硬化被膜の作成方法は、
上記した被膜を有機溶媒に溶解させた溶液を基材上に展
開し、不活性ガス雰囲気下、300〜1500℃の高温
で1分間以上加熱することを特徴とする。
は硬化被膜が基材に形成されているものである。特に、
その被膜又は硬化被膜は、少なくとも保護膜、層間絶縁
膜及びパッシベーション膜から選ばれる1種以上の膜と
して設けられているものである。
般式(1) (HSiO3/2)n (1) (式中、nは4〜1000の整数である。)で表される
ヒドリドシルセスキオキサン類又はそれらの混合物と、
一般式(2) R−C≡C−(R')q−C≡C−R (2) (式中、Rは置換基を有していても良い一価の有機基又
は有機ケイ素基を示し、R'は置換基を有していても良
い二価の有機基又は有機金属基を示す。qは0又は1で
ある。)で表されるビス(置換エチニル)化合物との反
応又は 一般式(3) R''−C≡CH (3) (式中、R''は水素、置換基を有していても良い一価の
有機基又は有機ケイ素基を表す。)で表されるモノアセ
チレン類との反応で得られたヒドロシリル化重合体、又
はその重合体のケイ素原子に結合する水素原子の一部が
アルキル基或いはアラルキル基で置換されたヒドロシリ
ル化重合体を含有するものである。即ち、本発明にいう
耐熱性樹脂組成物とは、上記したヒドロシリル化重合
体、又はその重合体のケイ素原子に結合する水素原子の
一部がアルキル基或いはアラルキル基で置換されたヒド
ロシリル化重合体の1種から成るものであってもよく、
或いは、少なくともその重合体を主剤とし、被膜を形成
するために必要に応じて適宜混合される他のポリマー、
各種の添加剤、溶剤等が添加されているものでもよい。
この耐熱性樹脂組成物は、各種の被膜の形成に用いられ
るほか、顔料等の他の添加剤を配合することにより塗料
組成物として用いることができる。
れる上記ヒドロシリル化重合体の反応原料として用いる
一般式(1)で表されるヒドリドシルセスキオキサン類
としては、オクタキス(ヒドリドシルセスキオキサ
ン)、デカキス(ヒドリドシルセスキオキサン)、ドデ
カキス(ヒドリドシルセスキオキサン)、ヒドリドシル
セスキオキサンオリゴマー等を挙げることができる。
は有機ケイ素基を示し、R'は置換基を有していても良
い二価の有機基又は有機金属基を示す。qは0又は1で
ある。)で表されるビス(置換エチニル)化合物におい
て、Rの具体例としては、メチル基、エチル基、イソプ
ロピル基、三級ブチル基、ヘキシル基等のアルキル基、
フェニル基、トリル基、アニシル基、ナフチル基等のア
リール基、メトキシカルボニル基等のアルコキシカルボ
ニル基、トリメチルシリル基等の有機ケイ素基を挙げら
れる。また、R'の具体例としては、フェニレン基、ナ
フチレン基、ビフェニレン基等のアリーレン基、ジフェ
ニルエーテル基等の置換アリーレン基、ピリジレン基、
チエニレン基等の複素環基、メチレン基、エチレン基、
2,2'-プロピレン基等のアルキレン基、ジメチルエーテ
ル基等の置換アルキレン基、ジメチルシリレン基、ジフ
ェニルシリレン基等のシリレン基、テトラメチルジシロ
キサン基等のシロキサン基、フェニレンビス(ジメチル
シリレン)基等のカルボシラン基、フェロセニレン基等
の各種の有機金属基が挙げられる。qが0の場合は、2
つのアセチレン基は直結するものである。
有機基又は有機ケイ素基を表す。)で表されるモノアセ
チレン類において、R''の具体例としては、水素、メチ
ル基、エチル基、イソプロピル基、三級ブチル基、ヘキ
シル基等のアルキル基、フェニル基、トリル基、アニシ
ル基、ナフチル基等のアリール基、メトキシカルボニル
基等のアルコキシカルボニル基、トリメチルシリル基等
の有機ケイ素基が挙げられる。
る上記ヒドロシリル化重合体としては、そのヒドロシリ
ル化重合体のケイ素原子に結合している水素原子の一部
をアルキル基又はアラルキル基で置換されているものも
包含される。
機溶媒に溶かした樹脂溶液を基材に展開する、キャスト
法、スピンコート法、バーコート法等の通常の塗工方法
を用いて行う。その有機溶媒としては、上記重合体を溶
解し得る溶剤であれば何ら制限なく使用可能であって、
これを例示すれば、テトラヒドロフラン(THF)、トル
エン、クロロベンゼン、メチルエチルケトン、ヘキサメ
チルジシロキサン等が挙げられる。また、基材として
は、塗工により被膜を形成できる材質、形状、構造体で
あれば使用可能である。その材質としては、木材、プラ
スチック、無機材料、有機材料、金属が挙げられ、また
その形状としては、シート、板、角、管、円、球等の状
物が挙げられ、具体的には、板状ガラス、シリコンウエ
ファー、各種の形状に加工したプラスチック、建材、金
属板等が挙げられる。
ガス等の不活性ガス中において、上記の溶液を基材の表
面に塗布等によって展開した後、適宜の時間、即ち、1
分〜10時間、好ましくは3分から1時間にわたり、加
熱処理して溶媒を乾燥除去することにより被膜が形成さ
れる。その加熱温度は、40℃以上、300℃未満の範
囲であるが、50〜200℃の範囲が望ましい。
性ガス中、高温で1分間以上にわたって熱処理すること
により、硬化被膜とすることができる。その熱処理は3
00〜1500℃の範囲の温度で選ぶことができるが、
重合体被膜上のSi−HとC=Cの間の熱ヒドロシリル
化反応が起って硬化するのに有効な熱処理温度であれば
よく、300〜1000℃の範囲が好ましい。
00℃以上の温度で行ったものは、IRスペクトルにお
いて、1100〜1150cm-1の範囲の吸収に加えて、1150〜12
50cm-1の吸収又はショルダーと、1000〜1100cm-1の吸収
又はショルダーを示すものであるか、または、2200〜24
00cm-1と850〜930cm-1における吸収の吸光度値が、加熱
前の被膜に比べて7割以下になっている。
セスキオキサン系ポリマーの有する耐熱性、耐水性、耐
薬品性、安定性、電気絶縁性及び耐擦傷性等の機械的強
度等において良好な諸特性を有するから、エレクトロニ
クス分野、光機能材料分野を初めとする広範な分野にお
ける物品或いは部品等の被膜や層として用いることがで
きるものであり、半導体等におけるパッシベーション
膜、レジスト膜、層間絶縁膜等に用いることができ、ま
た、各種の保護膜として使用できるものである。
的に説明しするが、本発明は、もとよりこれらの実施例
に限定されるものではない。 実施例1〜4 ペンタシクロ[9.5.1.13,9.15,15.17,13]オ
クタシロキサン(HSiO3/ 2)8と1,3-ビス(フェニルエチ
ニル)ベンゼンからのヒドロシリル化重合体(以下「T8
ジイン」と略する)0.2gに、THFを2ml加え、超音波
洗浄機で1分間処理して樹脂溶液を調製した。次に、そ
の樹脂溶液を、以下のような回転数で30秒間かけて、松
浪社製のマイクロスライドガラスS9111上に、それぞれ
スピンコートした後、直ちに110℃で10分間加熱して、
それぞれ下記する膜厚からなる膜を得た。 実施例2で得られた膜をSEMによって観察した結果を
図1に示す。この膜は、図1に見られるように、クラッ
クのない平滑な膜であった。
2と同様にして樹脂溶液を塗布し成膜した後、加熱して
得た膜を、図2に示す。
ート法によって、松浪社製のマイクロスライドガラスS9
111上に成膜し、直ちに110℃に10分間加熱したところ、
膜厚3μmでクラックのない膜が得られた。
に放置したこと以外は、実施例5と同様に行ったとこ
ろ、クラックの多数発生した膜が得られた。 比較例2 実施例5で成膜した後、加熱することなく室温でTHF
雰囲気で放置したこと以外は、実施例5と同様に行った
ところ、クラックの発生した膜が得られた。
5400碁盤目試験法による密着性試験を行ったところ、評
価点数8点(切り傷の後転にわずかな剥がれがあって、
正方形の1目1目に剥がれがなく、欠損部の面積は全正方
形面積の5%以内)であった。 評価例2 実施例2と同様にして得られた被膜について、JIS規格K
5400手かき法による鉛筆硬度試験を行ったところ、鉛筆
硬度3Hであった。
板ごと水の入った容器に入れ、容器内を飽和水蒸気雰囲
気とした後、重量変化を測定した。さらに容器ごとオー
ブンに入れて80℃に加熱し、1時間後及び2時間後に重量
変化を測定したが、いずれも重量変化は認められなかっ
た。また被膜の剥がれやクラックも認められなかった。
て得られた被膜について、下記のように窒素中で熱処理
することにより、硬化被膜を得た。さらに、比較例とし
て、シリコーン(GE東芝シリコーンSCH200)及びポリイ
ミド(東レセミコファインSP-811)を実施例5と同様に
熱処理して得た被膜の結果を合わせて示した。 熱処理条件 硬化膜 シリコーン ポリイミド (℃、分 ) (外観) (比較例番号) (比較例番号 ) 実施例7 600、30 黄色 3 微小クラック 7 剥離 クラックなし 実施例8 800、30 黒色 4 クラック 8 消滅 クラックなし 実施例9 1000、30 黒色 5 クラック 9 消滅 クラックなし 実施例10 1000、180 黒色 6 クラック 10 消滅 クラックなし 熱処理前及び実施例7〜10で得られた膜を図3に示
す。
と同様に鉛筆硬度試験を行った。その結果を下記に示
す。 即ち、熱処理を行うことによって最高8Hまで鉛筆硬度
が向上した。
られた被膜について、下記のように窒素中で熱処理する
ことにより得た含シルセスキオキサンポリマーの硬化膜
について、FTIRスペクトルを測定した。 熱処理条件 IR νSiH/cm-1 νSiO/cm-1 実施例11 実施例5の被膜 2272 1122 実施例12 300℃、30分 2268 1122 実施例13 400℃、30分 2260 1127, 1070sh (強度1/2)(強度2/3) 実施例14 500℃、30分 なし 1200sh, 1127, 1071 (強度1/2) 実施例15 600℃、30分 なし 1200sh, 1130, 1066 実施例16 700℃、30分 なし 1200sh, 1130, 1070 この結果、300℃までの熱処理ではIRスペクトルに
変化は見られなかったが、400℃以上では、既存の1120
〜1130cm-1の吸収に加えて、1200cm-1前後のショルダー
吸収と、1065〜1075cm-1の吸収が現れることから、被膜
とは異なる硬化被膜が形成されていることが判明した。
なお、実施例11〜16に対応する被膜のそれぞれのFT
IRスペクトルを図4に示す。
得た被膜について、比誘電率を測定したところ、1MHz
〜100MHzの範囲で、2.4〜2.6の比誘電率を示し
た。
て、熱処理温度を250℃としたこと以外は、実施例1
2と同様に熱処理した硬化膜について、比誘電率を測定
した。この膜は、2MHz〜30MHzの範囲で、比誘電率は2.0
〜2.6の値を示した。
組成物を用いて、良好な耐熱性、耐水性、耐薬品性、安
定性、電気絶縁性及び強度や耐擦傷性等の機械的強度、
などの諸特性を有し、クラックがなく、基材への密着性
に優れ、吸湿性がなくて耐水性を有する被膜が提供され
る。また、本発明により、堅牢で、クラックがなく、誘
電率が低いことから優れた電気絶縁性の硬化被膜が提供
される。また、上記被膜又は硬化膜からなる絶縁膜、保
護膜、相間絶縁膜、パッシベーション膜が提供される。
本発明の被膜又は硬化被膜は、上記した優れた特性を有
するから、広範な分野、特に、エレクトロニクス、光機
能材料等を始めとする技術分野における物品或いは部品
等の被膜や層として有用なものであって、半導体等にお
けるパッシベーション膜、レジスト膜、層間絶縁膜等に
用いることができ、また、各種の保護膜として使用でき
るものである。
大(1000倍)し、撮影した写真である。
れた被膜を撮影した写真である。
で乾燥)のもの及び実施例7〜10に対応する膜の拡大
写真である。
膜又は硬化被膜のIRスペクトル図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 一般式(1) (HSiO 3/2) n (1) (式中、nは4〜1000の整数である。)で表される
ヒドリドシルセスキオキサン類又はそれらの混合物と、
一般式(2) R−C≡C− ( R ')q −C≡C−R (2) (式中、Rは置換基を有していても良い一価の有機基又
は有機ケイ素基を示し、R ' は置換基を有していても良
い二価の有機基又は有機金属基を示す。qは0又は1で
ある。)で表されるビス(置換エチニル)化合物との反
応又は 一般式(3) R '' −C≡CH (3) (式中、R '' は水素、置換基を有していても良い一価の
有機基又は有機ケイ素基を表す。)で表されるモノアセ
チレン類との反応で得られたヒドロシリル化重合体、又
はその重合体のケイ素原子に結合する水素原子の一部が
アルキル基或いはアラルキル基で置換されたヒドロシリ
ル化重合体を含有する 耐熱性樹脂組成物を有機溶媒に溶
解させた溶液を基材上に展開し、空気又は不活性ガスの
雰囲気下、40℃以上300℃未満の温度で1分〜10
時間加熱することを特徴とする被膜の作成方法。 - 【請求項2】 一般式(1) (HSiO 3/2) n (1) (式中、nは4〜1000の整数である。)で表される
ヒドリドシルセスキオキサン類又はそれらの混合物と、
一般式(2) R−C≡C− ( R ')q −C≡C−R (2) (式中、Rは置換基を有していても良い一価の有機基又
は有機ケイ素基を示し、R ' は置換基を有していても良
い二価の有機基又は有機金属基を示す。qは0又は1で
ある。)で表されるビス(置換エチニル)化合物との反
応又は 一般式(3) R '' −C≡CH (3) (式中、R '' は水素、置換基を有していても良い一価の
有機基又は有機ケイ素基を表す。)で表されるモノアセ
チレン類との反応で得られたヒドロシリル化重合体、又
はその重合体のケイ素原子に結合する水素原子の一部が
アルキル基或いはアラルキル基で置換されたヒドロシリ
ル化重合体を含有する耐熱性樹脂組成物の有機溶媒溶液
を、空気又は不活性ガスの雰囲気下、40℃以上300
℃未満の温度に加熱することにより形成された 被膜を、
不活性ガスの雰囲気下、300〜1500℃の高温で熱
処理することにより形成されてなる硬化被膜。 - 【請求項3】 IRスペクトルにおいて、1100cm
−1〜1150cm−1の範囲の吸収に加えて、100
0cm−1〜1100cm−1の範囲及び/又は115
0cm−1〜1250cm−1の範囲で吸収又はショル
ダー吸収を示すか、または、2200〜2400cm
−1及び850〜930cm−1における吸収の吸光度
が、それぞれの熱処理前の7割以下である請求項2に記
載の硬化被膜。 - 【請求項4】 請求項1に記載された耐熱性樹脂組成物
を有機溶媒に溶解させた溶液を基材上に展開し、空気又
は不活性ガスの雰囲気下、40℃以上300℃未満の温
度で1分〜10時間加熱して得られた被膜を、不活性ガ
ス雰囲気下、300〜1500℃の高温で1分間以上熱
処理することを特徴とする硬化被膜の作成方法。 - 【請求項5】 請求項2又は3に記載の硬化被膜が基材
に形成されてなる物品。 - 【請求項6】 硬化被膜が、少なくとも保護膜、層間絶
縁膜及びパッシベーション膜から選ばれる1種以上の膜
である請求項5に記載の物品。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001091233A JP3530938B2 (ja) | 2001-03-27 | 2001-03-27 | シルセスキオキサン系ポリマーを含む耐熱性樹脂組成物、該組成物を用いて形成された被膜、及びその被膜の作成方法 |
US10/096,667 US6787241B2 (en) | 2001-03-27 | 2002-03-14 | Film obtained from silsesquioxane polymer and method of preparing same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001091233A JP3530938B2 (ja) | 2001-03-27 | 2001-03-27 | シルセスキオキサン系ポリマーを含む耐熱性樹脂組成物、該組成物を用いて形成された被膜、及びその被膜の作成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002284878A JP2002284878A (ja) | 2002-10-03 |
JP3530938B2 true JP3530938B2 (ja) | 2004-05-24 |
Family
ID=18945893
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001091233A Expired - Lifetime JP3530938B2 (ja) | 2001-03-27 | 2001-03-27 | シルセスキオキサン系ポリマーを含む耐熱性樹脂組成物、該組成物を用いて形成された被膜、及びその被膜の作成方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6787241B2 (ja) |
JP (1) | JP3530938B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4479160B2 (ja) * | 2003-03-11 | 2010-06-09 | チッソ株式会社 | シルセスキオキサン誘導体を用いて得られる重合体 |
TWI278473B (en) * | 2003-03-12 | 2007-04-11 | Chisso Corp | Polymer with the silsesquioxane skeleton in its main chain, method of forming the same, and coating film and membrane of preventing metal ion elution |
JP2007182528A (ja) * | 2005-12-07 | 2007-07-19 | Chisso Corp | シルセスキオキサン誘導体を反応させて得られる重合体およびその製造方法 |
CN103382366B (zh) * | 2013-06-27 | 2016-05-04 | 马鞍山采石矶涂料有限公司 | 一种耐高温有机硅浸渍漆及其制备方法 |
CN103382347B (zh) * | 2013-06-27 | 2016-05-04 | 马鞍山采石矶涂料有限公司 | 一种耐高温浸渍漆及其制备方法 |
CN103382367B (zh) * | 2013-06-27 | 2016-05-04 | 马鞍山采石矶涂料有限公司 | 一种有机硅绝缘浸渍漆及其制备方法 |
CN103409031A (zh) * | 2013-07-02 | 2013-11-27 | 安徽联硕实业有限公司 | 一种耐高温浸渍漆及其制备方法 |
CN103409062A (zh) * | 2013-07-02 | 2013-11-27 | 安徽联硕实业有限公司 | 一种耐高温有机硅浸渍漆及其制备方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2884074B2 (ja) | 1996-03-08 | 1999-04-19 | 工業技術院長 | 新規含シルセスキオキサンポリマーとその製造法および耐熱性素材 |
JP2884073B2 (ja) | 1996-03-08 | 1999-04-19 | 工業技術院長 | 新しい含シルセスキオキサンポリマーとその製造方法、およびハードコート膜、耐熱性素材 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4847162A (en) * | 1987-12-28 | 1989-07-11 | Dow Corning Corporation | Multilayer ceramics coatings from the ceramification of hydrogen silsequioxane resin in the presence of ammonia |
US5336532A (en) * | 1989-02-21 | 1994-08-09 | Dow Corning Corporation | Low temperature process for the formation of ceramic coatings |
JP2751820B2 (ja) * | 1994-02-28 | 1998-05-18 | 日本電気株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
TW354417B (en) * | 1997-10-18 | 1999-03-11 | United Microelectronics Corp | A method for forming a planarized dielectric layer |
US5942638A (en) | 1998-01-05 | 1999-08-24 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Method of functionalizing polycyclic silicones and the resulting compounds |
US6143360A (en) * | 1999-12-13 | 2000-11-07 | Dow Corning Corporation | Method for making nanoporous silicone resins from alkylydridosiloxane resins |
US6175031B1 (en) * | 2000-03-07 | 2001-01-16 | Dow Corning Asia, Ltd. | Method for synthesizing silicon compounds that contain a substituent bonded to silicon through a silicon-carbon linkage |
JP4488582B2 (ja) * | 2000-04-13 | 2010-06-23 | 東レ・ダウコーニング株式会社 | 連続的ヒドロシリル化反応方法、変性された液状有機珪素化合物の連続的製造方法および連続的ヒドロシリル化反応装置 |
-
2001
- 2001-03-27 JP JP2001091233A patent/JP3530938B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-03-14 US US10/096,667 patent/US6787241B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2884074B2 (ja) | 1996-03-08 | 1999-04-19 | 工業技術院長 | 新規含シルセスキオキサンポリマーとその製造法および耐熱性素材 |
JP2884073B2 (ja) | 1996-03-08 | 1999-04-19 | 工業技術院長 | 新しい含シルセスキオキサンポリマーとその製造方法、およびハードコート膜、耐熱性素材 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6787241B2 (en) | 2004-09-07 |
JP2002284878A (ja) | 2002-10-03 |
US20030054180A1 (en) | 2003-03-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1150346B1 (en) | A process for preparing insulating material having low dielectric constant | |
US6225238B1 (en) | Low dielectric constant polyorganosilicon coatings generated from polycarbosilanes | |
KR100251819B1 (ko) | 실리카 함유 세라믹 피복물을 기질 위에 형성시키는 방법 | |
JP5601212B2 (ja) | 珪素含有高分子化合物、耐熱性樹脂組成物及び耐熱性皮膜 | |
TWI702251B (zh) | 被膜形成用組成物及使用其之被膜形成方法 | |
JPH08503510A (ja) | 硬化されたケイ素含有ポリマーの耐熱性および/または非浸潤性コーティング | |
US20070054136A1 (en) | Film forming composition, insulating film and production process of the insulating film | |
JP2007070520A (ja) | 膜形成用組成物、絶縁膜およびその製造方法 | |
EP0869516B1 (en) | Composition and process for forming electrically insulating thin films | |
US6737117B2 (en) | Hydrosilsesquioxane resin compositions having improved thin film properties | |
JP3530938B2 (ja) | シルセスキオキサン系ポリマーを含む耐熱性樹脂組成物、該組成物を用いて形成された被膜、及びその被膜の作成方法 | |
JP2005290352A (ja) | カゴ状シルセスキオキサン構造を有する化合物 | |
EP1247850A2 (en) | Film obtained from silsesquioxane polymer and method of preparing same | |
US20040186223A1 (en) | Etch-stop resins | |
CA2269952A1 (en) | Stable solutions of a silsesquioxane or siloxane resin and a silicone solvent | |
TWI812824B (zh) | 包含嵌段共聚物而成之矽質膜形成組成物、及使用其之矽質膜的製造方法 | |
EP1130632A2 (en) | Electrically insulating crosslinked thin-film-forming organic resin composition | |
JPS584816B2 (ja) | 半導体素子とその製法 | |
KR20010094928A (ko) | 전기 절연성 박막 형성성 수지 조성물 및 이로부터의박막의 형성방법 | |
US7268201B2 (en) | Insulating-film forming material and insulating film using the same | |
KR20190051027A (ko) | 가교된 실리콘 수지, 필름, 전자 디바이스 및 관련 방법 | |
JP7470794B2 (ja) | ポリカルボシラザンを使用してlow-k誘電体ケイ素含有膜を形成するための硬化性配合物 | |
TW202225281A (zh) | 聚碳矽氮烷、包含其之組成物及使用其之含矽膜的製造方法 | |
JP4481755B2 (ja) | 薄膜製造方法 | |
WO2005035632A1 (en) | Carbazolyl-functional hyperbranched polysiloxanes, silicone composition, and organic light-emmitting diode |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20031224 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20040106 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040203 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 3530938 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |