JP3511765B2 - Test board attachment / detachment mechanism - Google Patents
Test board attachment / detachment mechanismInfo
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Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、例えばＩＣテス
タにおいて、テストヘッドにテストボードを着脱自在に
装着し、テストヘッドの電極用スプリング接触子にテス
トボードを圧接させるテストボード着脱機構に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test board attaching / detaching mechanism in an IC tester, for example, in which a test board is detachably attached to a test head and the electrode spring contacts of the test head are pressed against the test board.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来より、ＩＣテスタにあっては、被試
験ＩＣをテストボードに装着し、このテストボードをテ
ストヘッド上に配置して、テストボードの配線パターン
にテストヘッドの電極用スプリング接触子を圧接させる
ことにより、被試験ＩＣに種々のテストパターンを入力
し、測定評価するようになっている。図４及び図５にテ
ストボードをテストヘッドに装着するテストボード着脱
機構の構成を示す。尚、図４は本機構の分解斜視図、図
５は断面図を示している。2. Description of the Related Art Conventionally, in an IC tester, an IC to be tested is mounted on a test board, the test board is placed on a test head, and a wiring pattern on the test board is contacted with a spring for an electrode of the test head. By pressing the child under pressure, various test patterns are input to the IC under test and measured and evaluated. 4 and 5 show the configuration of the test board attaching / detaching mechanism for attaching the test board to the test head. 4 is an exploded perspective view of this mechanism, and FIG. 5 is a sectional view.
【０００３】図４において、１はテストボードであり、
図示しないが被試験ＩＣが搭載され、裏面には搭載され
るＩＣの各ピンに接続される任意の配線パターンが形成
されている。また、図示しないが、中央部には１列に複
数個（ここでは４個とする）の位置決め用ピン用穴が形
成されている。In FIG. 4, 1 is a test board,
Although not shown, the IC to be tested is mounted, and an arbitrary wiring pattern connected to each pin of the mounted IC is formed on the back surface. Although not shown, a plurality of (four in this case) positioning pin holes are formed in one row in the central portion.
【０００４】一方、２はテストヘッドで、内部にはテス
ト信号入出力用の複数のプリント基板２１が並列に配置
される。各プリント基板２１の端部にはテストボード配
置方向に向けて電極用スプリング接触子２２が装着され
ている。また、テストヘッド２の上部中央には支持架２
３ａが形成され、この支持架２３ａにはテストボード１
に形成された４個の穴に対向するように、４個の位置決
め用ピン２４ａ〜２４ｄが形成されている。On the other hand, 2 is a test head, inside of which a plurality of printed circuit boards 21 for test signal input / output are arranged in parallel. Electrode spring contacts 22 are attached to the ends of each printed circuit board 21 in the test board arranging direction. In addition, a support rack 2 is provided at the center of the upper part of the test head 2.
3a is formed, and the test board 1 is mounted on the support rack 23a.
Four positioning pins 24a to 24d are formed so as to face the four holes formed in.
【０００５】また、テストヘッド２の端部上面部の図中
左右両側には支持架２３ａと直交する方向にリニアガイ
ド２５ａ・２５ｂが配置され、その上にリニアガイド２
５ａ・２５ｂに沿ってスライド可能なフレーム３が装着
される。さらに、テストヘッド２の上面部の図中手前側
にはエアシリンダ２６が配置されている。このエアシリ
ンダ２６は、圧縮空気によりピストン２７を支持架２３
ａの形成方向と直交する方向に押し出すことにより、フ
レーム３をリニアガイド２５ａ・２５ｂに沿ってスライ
ドさせるためのものである。Further, linear guides 25a and 25b are arranged on the left and right sides of the upper surface of the end portion of the test head 2 in the direction orthogonal to the support rack 23a, and the linear guides 2 are provided on the linear guides 25a and 25b.
A frame 3 that can slide along 5a and 25b is mounted. Furthermore, an air cylinder 26 is arranged on the front side of the upper surface of the test head 2 in the figure. This air cylinder 26 supports a piston 27 by compressed air
The frame 3 is slid along the linear guides 25a and 25b by being pushed out in a direction orthogonal to the forming direction of a.
【０００６】上記フレーム３はテストボード１より十分
大きな長方形あるいは正方形の枠であり、上記テストヘ
ッド２の支持架２３ａと直交する方向の２つの枠部には
エアシリンダ２６の配置方向に向かって斜めに切られた
複数（図では４箇所）のガイド溝３１ａ〜３１ｄが形成
されている。The frame 3 is a rectangular or square frame which is sufficiently larger than the test board 1, and the two frame portions in the direction orthogonal to the support rack 23a of the test head 2 are inclined toward the arrangement direction of the air cylinder 26. A plurality of (4 places in the figure) guide grooves 31a to 31d cut in are formed.
【０００７】上記テストボード１は圧接用枠４に取り付
けられる。この圧接用枠４は、図中左右の幅がフレーム
３の枠内寸法にほぼ等しく、図中前後の幅がフレーム３
の枠内寸法より十分小さな長方形あるいは正方形の枠
と、その中の十字型の枠を一体形成したもので、底面側
にテストボード１が取り付けられる。The test board 1 is attached to the pressure contact frame 4. The width of the press-fitting frame 4 on the left and right sides in the figure is substantially equal to the internal dimension of the frame 3, and the width on the front and rear sides in the figure is on the frame 3
The test board 1 is attached to the bottom surface side by integrally forming a rectangular or square frame having a size sufficiently smaller than the inner size of the frame and a cross-shaped frame therein.
【０００８】また、圧接用枠４には、十字型の枠のテス
トボード１の穴と対応する部分にテストヘッド２側の位
置決め用ピン２４ａ〜２４ｄが挿入される４個の穴４１
ａ〜４１ｄが形成されている。さらに、図中左右両側の
面には、フレーム３の斜めに切られた溝３１ａ〜３１ｄ
の端面と対向する位置に複数個（ここでは各面でそれぞ
れ２個）のベアリングローラ４２ａ〜４２ｄが配置され
ている。Further, the press-contacting frame 4 has four holes 41 into which the positioning pins 24a to 24d on the test head 2 side are inserted in portions of the cross-shaped frame corresponding to the holes of the test board 1.
a to 41d are formed. Further, on the left and right sides in the figure, the grooves 31a to 31d of the frame 3 which are diagonally cut are formed.
A plurality of bearing rollers 42a to 42d (here, two on each surface) are arranged at positions facing the end surface of the bearing roller.
【０００９】すなわち、上記構成による着脱機構では、
テストヘッド２にフレーム３を装着し、テストボード１
を圧接用枠４に取り付ける。そして、この圧接用枠４を
位置決め用ピン２４ａ〜２４ｄが穴４１ａ〜４１ｄに挿
入されるようにしてフレーム３内に挿入する。このと
き、圧接用枠４のベアリングローラ４２ａ〜４２ｄがフ
レーム３のガイド溝３１ａ〜３１ｄに入り込む。That is, in the attaching / detaching mechanism having the above structure,
Attach the frame 3 to the test head 2 and test board 1
Is attached to the pressure welding frame 4. Then, the press contact frame 4 is inserted into the frame 3 such that the positioning pins 24a to 24d are inserted into the holes 41a to 41d. At this time, the bearing rollers 42a to 42d of the pressure contact frame 4 enter the guide grooves 31a to 31d of the frame 3.
【００１０】この状態でエアシリンダ２６を駆動し、ピ
ストン２７を図４中Ａに示す方向に押し出すことで、フ
レーム３をＡ方向にスライドさせる。このとき、圧接用
枠４は位置決め用ピン２４ａ〜２４ｄが穴４１ａ〜４１
ｄに挿入されているためスライドせず、フレーム３のス
ライドに合わせてガイド溝３１ａ〜３１ｄに沿って下方
に下げられる。これにより、テストボード１にテストヘ
ッド２側の電極用スプリング接触子２２が所定位置で接
触されるようになり、テスト実行が可能となる。In this state, the air cylinder 26 is driven and the piston 27 is pushed out in the direction indicated by A in FIG. 4 to slide the frame 3 in the A direction. At this time, the press-fitting frame 4 has the positioning pins 24a-24d with holes 41a-41.
Since it is inserted in d, it does not slide and is lowered downward along the guide grooves 31a to 31d according to the slide of the frame 3. As a result, the electrode spring contact 22 on the side of the test head 2 comes into contact with the test board 1 at a predetermined position, and the test can be executed.
【００１１】尚、テストボード１をテストヘッド２から
外す場合には、フレーム３を図中Ｂ方向に押し戻し、上
記と逆の順序で動作させるようにしている。When the test board 1 is detached from the test head 2, the frame 3 is pushed back in the direction B in the figure and operated in the reverse order.
【００１２】しかしながら、上記のような従来のテスト
ボード着脱機構では、圧接用枠４の両側面のベアリング
ローラ４２ａ〜４２ｄをフレーム３によって支持してい
るため、電極用スプリング接触子２２の圧力によりテス
トボード１の中心部分が変形しやすい。そのため、テス
トボード１と電極用スプリング接触子２２が垂直に当た
らない、または接触圧が低下するために接触しない場合
がある。However, in the conventional test board attaching / detaching mechanism as described above, since the bearing rollers 42a to 42d on both side surfaces of the press contact frame 4 are supported by the frame 3, the test is performed by the pressure of the electrode spring contact 22. The central part of the board 1 is easily deformed. Therefore, the test board 1 and the electrode spring contact 22 may not hit vertically or may not come into contact with each other because the contact pressure decreases.
【００１３】[0013]
【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、従
来のテストボード着脱機構では、圧接用枠の両端をスラ
イドフレームにて支持しているため、電極用スプリング
接触子の圧力によりテストボードの中心部分が変形して
しまうことがあり、テストボードと電極用スプリング接
触子が垂直に当たらない、または接触圧が低下するため
に接触しない場合があるという問題があった。As described above, in the conventional test board attaching / detaching mechanism, since both ends of the press contact frame are supported by the slide frames, the pressure of the spring contact for the electrode causes the test board to move. There is a problem that the center part may be deformed, and the test board and the electrode spring contact may not hit vertically or may not contact due to a decrease in contact pressure.
【００１４】この発明の目的は、上記の問題を解決し、
テストボードの変形を抑え、電極用スプリング接触子と
の接触を良好に維持することのできるテストボード着脱
機構を提供することにある。The object of the present invention is to solve the above problems,
It is an object of the present invention to provide a test board attaching / detaching mechanism capable of suppressing deformation of the test board and maintaining good contact with the electrode spring contactor.
【００１５】[0015]
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めにこの発明に係るテストボード着脱機構は、それぞれ
底面側にテストボード１ａ・１ｂが装着される複数の圧
接用枠４ａ・４ｂと、前記複数の圧接用枠４ａ・４ｂ間
を連結すると共に底面側が開放される溝を有する１個以
上の連結プレート５と、前記連結プレート５によって連
結された圧接用枠４ａ・４ｂの両側側面及び前記連結プ
レート５の溝内側面に設けられる複数のローラ４２ａ〜
４２ｄ・５１ａ・５１ｂと、内径が前記連結プレート５
によって連結された圧接用枠４ａ・４ｂより大きく、前
記連結プレート５の溝に対向する部分に支持架３２を有
し、当該支持架３２及びこれと平行する両側の架部に同
一方向に斜めに切られたガイド溝３１ａ〜３１ｆを有す
るフレーム３と、前記フレーム３及び前記連結プレート
５によって連結された圧接用枠４ａ・４ｂが搭載され、
内部からテスト信号入出力用の電極スプリング接触子２
２がテストボード１ａ・１ｂ面に向けて垂直に突設され
るテストヘッド２と、このテストヘッド２に搭載された
フレーム３を前記ガイド溝３１ａ〜３１ｆの形成方向と
正逆方向にスライドさせるスライド機構２５ａ〜２５ｃ
・２６・２７と、このスライド機構２５ａ〜２５ｃ・２
６・２７による前記フレーム３のスライドに反して前記
圧接用枠４ａ・４ｂの位置を規制する位置規制手段２４
ａ〜２４ｄ・４１ａ〜４１ｄとを具備し、前記フレーム
３がスライドするとき、前記複数のローラ４２ａ〜４２
ｄ・５１ａ・５１ｂが前記フレーム３のガイド溝３１ａ
〜３１ｆに沿って可動することにより前記圧接用枠４ａ
・４ｂがテストヘッド２に対して垂直方向に移動するよ
うにした。In order to solve the above-mentioned problems, a test board attaching / detaching mechanism according to the present invention comprises a plurality of press-connecting frames 4a, 4b on the bottom side of which test boards 1a, 1b are mounted, respectively. One or more connecting plates 5 that connect the plurality of press-connecting frames 4a and 4b and have a groove whose bottom side is open; both side surfaces of the press-connecting frames 4a and 4b connected by the connecting plate 5; A plurality of rollers 42a provided on the inner surface of the groove of the connecting plate 5
42d, 51a, 51b and the inner diameter of the connecting plate 5
Is larger than the press-fitting frames 4a and 4b connected to each other, and has a supporting frame 32 in a portion facing the groove of the connecting plate 5, and the supporting frame 32 and the supporting portions on both sides parallel to the supporting frame 32 are inclined in the same direction. The frame 3 having the cut guide grooves 31a to 31f and the pressure welding frames 4a and 4b connected by the frame 3 and the connecting plate 5 are mounted.
Electrode spring contactor 2 for input / output of test signal from inside
A slide 2 for sliding the test head 2 vertically projecting toward the surfaces of the test boards 1a and 1b and the frame 3 mounted on the test head 2 in the forward and reverse directions of the guide grooves 31a to 31f. Mechanisms 25a-25c
・ 26 ・ 27 and this slide mechanism 25a-25c ・ 2
Position regulating means 24 for regulating the positions of the press-contact frames 4a, 4b against the slide of the frame 3 by 6.27.
a to 24d and 41a to 41d, the plurality of rollers 42a to 42 when the frame 3 slides.
d. 51a and 51b are guide grooves 31a of the frame 3
~ 31f by moving along the press contact frame 4a
4b is moved in the vertical direction with respect to the test head 2.
【００１６】前記スライド機構は、ピストン２７の先端
に前記フレーム３を取り付け、前記ピストン２７をエア
シリンダ２６によって駆動するようにした。In the slide mechanism, the frame 3 is attached to the tip of the piston 27, and the piston 27 is driven by the air cylinder 26.
【００１７】前記位置規制手段は、前記圧接用枠４ａ・
４ｂ及びテストヘッド２の相互間に位置決めピン２４ａ
〜２４ｄ及び位置決めピン用穴４１ａ〜４１ｄを設ける
ようにした。The position regulating means includes the press contact frame 4a.
4b and the test head 2 have a positioning pin 24a between them.
.About.24d and holes 41a to 41d for positioning pins are provided.
【００１８】すなわち、上記構成によるテストボード着
脱機構では、フレーム３をガイド溝３１ａ〜３１ｆの形
成方向とは逆にスライドさせることにより、複数分割さ
れたテストボード圧接用枠４ａ・４ｂ間を連結しローラ
５１ａ・５１ｂを有する連結プレート５がフレーム３の
斜めに切られたガイド溝３１ｅ・３１ｂに入り込み、テ
ストヘッド２側に垂直に移動する。このため、分割され
た各テストボード１ａ・１ｂは変形することなく、接触
子２２に垂直に当接するようになる。That is, in the test board attaching / detaching mechanism having the above-described structure, the frame 3 is slid in the direction opposite to the forming direction of the guide grooves 31a to 31f to connect the plurality of divided test board pressing frames 4a and 4b. The connecting plate 5 having the rollers 51a and 51b enters into the obliquely cut guide grooves 31e and 31b of the frame 3 and moves vertically to the test head 2 side. Therefore, each of the divided test boards 1a and 1b comes into vertical contact with the contact 22 without being deformed.
【００１９】[0019]
【発明の実施の形態】以下、図１乃至図３を参照してこ
の発明の一実施形態を詳細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to FIGS.
【００２０】図１はこの発明によるテストボード着脱機
構の構成を示す分解斜視図、図２は同機構に用いられる
補強用連結プレートの構成を示す斜視図、図３は同機構
の断面図を示すものである。尚、図１及び図３におい
て、図４及び図５と同一部分には同一符号を付して示
し、ここでは重複した説明を省略する。FIG. 1 is an exploded perspective view showing the construction of a test board attaching / detaching mechanism according to the present invention, FIG. 2 is a perspective view showing the construction of a reinforcing connecting plate used in the same, and FIG. 3 is a sectional view of the same. It is a thing. In FIGS. 1 and 3, the same parts as those in FIGS. 4 and 5 are designated by the same reference numerals, and a duplicate description will be omitted here.
【００２１】まず、テストヘッド２には、中央部に前記
支持架２３ａと直交するように支持架２３ｂが形成さ
れ、この支持架２３ｂの上にも前述のリニアガイド２５
ａ・２５ｂと平行にリニアガイド２５ｃが配置される。
これに対応して、フレーム３にも中央部に支持架２３ｂ
と対向するように支持架３２が形成され、当該支持架３
２にもガイド溝３１ｅ・３１ｆが形成される。First, a support frame 23b is formed in the center of the test head 2 so as to be orthogonal to the support frame 23a, and the linear guide 25 described above is also provided on the support frame 23b.
A linear guide 25c is arranged in parallel with a.25b.
Corresponding to this, the frame 3 also has a support rack 23b at the center.
The support rack 32 is formed so as to face the support rack 3 and
The guide grooves 31e and 31f are also formed in 2.
【００２２】一方、テストボード１及び圧接用枠４は図
中左右に２分割され、それぞれ１ａ・１ｂ、４ａ・４ｂ
となる。圧接用枠４ａ・４ｂは、図２に示すように、桟
の付いたＵ字型の補強用連結プレート５によって一体化
される。この補強用連結プレート５にはＵ字内部に左右
側面からベアリングローラ５１ａ・５１ｂが突設され
る。これらのベアリングローラ５１ａ・５１ｂはそれぞ
れフレーム３のガイド溝３１ｅ・３１ｆに対向配置され
る。On the other hand, the test board 1 and the press contact frame 4 are divided into two parts on the left and right sides in the figure, and 1a and 1b, 4a and 4b, respectively.
Becomes As shown in FIG. 2, the press contact frames 4a and 4b are integrated by a U-shaped reinforcing connecting plate 5 with a crosspiece. Bearing rollers 51a and 51b are projectingly provided on the reinforcing connecting plate 5 inside the U shape from the left and right side surfaces. These bearing rollers 51a and 51b are arranged to face the guide grooves 31e and 31f of the frame 3, respectively.
【００２３】このテストボード着脱機構では、フレーム
３はピストン２７の先端に取り付けられ、リニアガイド
２５ａ〜２５ｃによりテストヘッド２に取り付けられて
いる。エアシリンダ２６はテストヘッド２６に取り付け
られ、駆動されるとピストン２７を押し出す。このた
め、フレーム３はピストン２７の動きに応じて図中Ａ・
Ｂ方向にスライドされる。In this test board attaching / detaching mechanism, the frame 3 is attached to the tip of the piston 27 and attached to the test head 2 by the linear guides 25a to 25c. The air cylinder 26 is attached to the test head 26 and pushes out the piston 27 when driven. For this reason, the frame 3 moves according to the movement of the piston 27.
It is slid in the B direction.
【００２４】上記構成において、以下にその着脱動作に
ついて説明する。The attachment / detachment operation of the above structure will be described below.
【００２５】まず、補強用連結プレート５により連結さ
れた圧接用枠４ａ・４ｂに分割テストボード１ａ・１ｂ
を装着し、テストヘッド２に装着する。このとき、位置
決めピン用穴４１ａ〜４１ｄにそれぞれテストヘッド２
の位置決めピン２４ａ〜２４ｄが入り、ベアリングロー
ラ４２ａ〜４２ｄ・５１ａ・５１ｂがそれぞれフレーム
３の対応するガイド溝３１ａ〜３１ｆに入る。First, the pressure test frames 4a and 4b connected by the reinforcing connection plate 5 are divided into test boards 1a and 1b.
Then, the test head 2 is mounted. At this time, the test head 2 is placed in each of the positioning pin holes 41a to 41d.
Positioning pins 24a to 24d are inserted, and the bearing rollers 42a to 42d, 51a and 51b are inserted into the corresponding guide grooves 31a to 31f of the frame 3, respectively.
【００２６】この状態でエアシリンダ２６をＡ方向に駆
動すると、フレーム３がＡ方向に移動する。このとき、
圧接用枠４ａ・４ｂは位置決め用ピン２４ａ〜２４ｄに
よって規制されているためＡ方向には移動せず、ベアリ
ングローラ４２ａ〜４２ｄ・５１ａ・５１ｂがフレーム
３のガイド溝３１ａ〜３１ｆに沿って下方に移動する。
すなわち、テストヘッド２側に垂直に移動するため、テ
ストボード１ａ・１ｂをプリント基板２１に取り付けら
れた電極用スプリング接触子２２に垂直に圧接する。When the air cylinder 26 is driven in the A direction in this state, the frame 3 moves in the A direction. At this time,
Since the press contact frames 4a and 4b are restricted by the positioning pins 24a to 24d, they do not move in the A direction, and the bearing rollers 42a to 42d, 51a and 51b move downward along the guide grooves 31a to 31f of the frame 3. Moving.
That is, since the test boards 1a and 1b are moved vertically toward the test head 2, the test boards 1a and 1b are vertically pressed against the electrode spring contacts 22 mounted on the printed circuit board 21.
【００２７】テストボード１ａ・１ｂをテストヘッド２
から取り外すにはエアシリンダ２６を逆方向に駆動して
ピストン２７を元の位置に戻す。これによりフレーム３
がＢ方向に移動し、圧接用枠４ａ・４ｂがテストヘッド
２から離れ、圧接用枠４ａ・４ｂをフレーム３から抜き
取り、各テストボード１ａ・１ｂを取り外すことができ
るようになる。The test boards 1a and 1b are connected to the test head 2
To remove it from the air cylinder 26, the air cylinder 26 is driven in the opposite direction to return the piston 27 to its original position. This makes frame 3
Moves in the B direction, the press contact frames 4a and 4b are separated from the test head 2, and the press contact frames 4a and 4b are pulled out from the frame 3 so that the test boards 1a and 1b can be removed.
【００２８】したがって、上記構成によるテストボード
着脱機構によれば、２分割小形化された圧接用枠４ａ・
４ｂ間をベアリングローラ５１ａ・５１ｂを持つ補強連
結プレート５で連結し、この連結プレート５を両側と同
じようにフレーム３にてテストヘッド２方向に垂直に引
き寄せるようにしているので、テストボード１ａ・１ｂ
を変形することなく電極用接触子２２に垂直に当てるこ
とができる。このため、接触を良好にすることができ
る。Therefore, according to the test board attaching / detaching mechanism having the above-mentioned structure, the press-fitting frame 4a, which is miniaturized into two parts,
4b are connected by a reinforcing connecting plate 5 having bearing rollers 51a, 51b, and the connecting plate 5 is pulled vertically by the frame 3 in the direction of the test head 2 in the same manner as on both sides. 1b
Can be vertically applied to the electrode contactor 22 without being deformed. Therefore, good contact can be achieved.
【００２９】尚、上記実施形態ではテストボードを２分
割した場合について説明したが、さらに多分割した場合
でも同様に実施可能である。In the above embodiment, the case where the test board is divided into two has been described, but the present invention can also be implemented in the case where the test board is further divided.
【００３０】また、上記実施形態ではテストヘッド２側
に位置決めピン２４ａ〜２４ｄを配置し、圧接用枠４ａ
・４ｂ側に対応する穴４１ａ〜４１ｄを設けるようにし
たが、逆に圧接用枠４ａ・４ｂ側に位置決めピンを設
け、テストヘッド２側に対応する穴を形成するようにし
てもよい。あるいは、相互にピンと穴を形成するように
してもよい。Further, in the above embodiment, the positioning pins 24a to 24d are arranged on the test head 2 side, and the press contact frame 4a is arranged.
Although the holes 41a to 41d corresponding to the 4b side are provided, conversely, positioning pins may be provided on the pressure contact frames 4a and 4b side to form the corresponding holes on the test head 2 side. Alternatively, pins and holes may be formed on each other.
【００３１】[0031]
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、テスト
ボードの変形を抑え、電極用スプリング接触子との接触
を良好に維持することのできるテストボード着脱機構を
提供することができる。As described above, according to the present invention, it is possible to provide a test board attaching / detaching mechanism capable of suppressing deformation of the test board and maintaining good contact with the electrode spring contacts.
【図１】本発明の一実施形態とするテストボード着脱機
構の構造を示す分解斜視図である。FIG. 1 is an exploded perspective view showing a structure of a test board attaching / detaching mechanism according to an embodiment of the present invention.
【図２】同実施形態に用いる補強用連結プレートの構造
を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing a structure of a reinforcing connection plate used in the same embodiment.
【図３】同実施形態の構造を示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view showing the structure of the same embodiment.
【図４】従来のテストボード着脱機構の構造を示す分解
斜視図である。FIG. 4 is an exploded perspective view showing a structure of a conventional test board attaching / detaching mechanism.
【図５】図４に示す従来機構の構造を示す断面図であ
る。5 is a cross-sectional view showing the structure of the conventional mechanism shown in FIG.
１ テストボード １ａ テストボード １ｂ テストボード ２ テストヘッド ２１ プリント基板 ２２ 電極用スプリング接触子 ２３ａ 支持架 ２３ｂ 支持架 ２４ａ〜２４ｄ 位置決めピン ２５ａ〜２５ｃ リニアガイド ２６ エアシリンダ ２７ ピストン ３ フレーム ３１ａ〜３１ｆ ガイド溝 ３２ 支持架 ４ 圧接用枠 ４ａ圧接用枠 ４ｂ 圧接用枠 ４１ａ〜４１ｄ 位置決めピン用穴 ４２ａ〜４２ｄ ベアリングローラ ５ 補強用連結プレート ５１ａ ベアリングローラ ５１ｂ ベアリングローラ 1 test board 1a test board 1b test board 2 test head 21 Printed circuit board 22 Spring contact for electrode 23a support rack 23b support rack 24a-24d Positioning pin 25a-25c linear guide 26 Air cylinder 27 pistons 3 frames 31a-31f guide groove 32 support rack 4 Pressure welding frame 4a Pressure welding frame 4b Pressure welding frame 41a to 41d Positioning pin holes 42a-42d bearing roller 5 Reinforcing connection plate 51a bearing roller 51b bearing roller
Claims (3)
が装着される複数の圧接用枠(4a・4b) と、 前記複数の圧接用枠(4a・4b) 間を連結すると共に底面側
が開放される溝を有する１個以上の連結プレート(5)
と、 前記連結プレート(5) によって連結された圧接用枠(4a・
4b) の両側側面及び前記連結プレート(5) の溝内側面に
設けられる複数のローラ(42a・42b・42c・42d・51a・51b)
と、 内径が前記連結プレート(5) によって連結された圧接用
枠(4a・4b) より大きく、前記連結プレート(5) の溝に対
向する部分に支持架(32)を有し、当該支持架(32)及びこ
れと平行する両側の架部に同一方向に斜めに切られたガ
イド溝(31a・31b・31c・31d・31e・31f) を有するフレーム
(3) と、 前記フレーム(3) 及び前記連結プレート(5) によって連
結された圧接用枠(4a・4b) が搭載され、内部からテスト
信号入出力用の電極スプリング接触子(22)がテストボー
ド(1a・1b) 面に向けて垂直に突設されるテストヘッド
(2) と、 このテストヘッド(2) に搭載されたフレーム(3) を前記
ガイド溝(31a・31b・31c・31d・31e・31f) の形成方向と正逆
方向にスライドさせるスライド機構(25a・25b・25c・26・2
7) と、 このスライド機構(25a・25b・25c・26・27) による前記フレ
ーム(3) のスライドに反して前記圧接用枠(4a・4b) の位
置を規制する位置規制手段(24a・24b・24c・24d・41a・41b・4
1c・41d) とを具備し、 前記フレーム(3) がスライドするとき、前記複数のロー
ラ(42a・42b・42c・42d・51a・51b) が前記フレーム(3) のガ
イド溝(31a・31b・31c・31d・31e・31f) に沿って可動するこ
とにより前記圧接用枠(4a・4b) がテストヘッド(2) に対
して垂直方向に移動するようにしたことを特徴とするテ
ストボード着脱機構。1. A test board (1a, 1b) on the bottom side of each.
And a plurality of press-fitting frames (4a, 4b) to be mounted, and one or more connecting plates (5) for connecting the plurality of press-connecting frames (4a, 4b) and having a groove whose bottom side is opened.
And a pressure welding frame (4a ・ 4a) connected by the connection plate (5).
A plurality of rollers (42a, 42b, 42c, 42d, 51a, 51b) provided on both side surfaces of 4b) and on the inner surface of the groove of the connecting plate (5)
And the inner diameter is larger than the pressure welding frames (4a, 4b) connected by the connecting plate (5), and the supporting frame (32) is provided at a portion facing the groove of the connecting plate (5). (32) and a frame that has guide grooves (31a, 31b, 31c, 31d, 31e, 31f) cut diagonally in the same direction on both sides of the frame parallel to this
(3) and the press contact frames (4a, 4b) connected by the frame (3) and the connecting plate (5) are mounted, and the electrode spring contactor (22) for inputting and outputting the test signal is tested from the inside. Test head that projects vertically toward the board (1a ・ 1b) surface
(2) and a slide mechanism (25a that slides the frame (3) mounted on the test head (2) in the forward and reverse directions of the formation direction of the guide grooves (31a, 31b, 31c, 31d, 31e, 31f).・ 25b ・ 25c ・ 26 ・ 2
7) and the position regulating means (24a, 24b) that regulates the position of the press contact frame (4a, 4b) against the slide of the frame (3) by the slide mechanism (25a, 25b, 25c, 26, 27).・ 24c / 24d ・ 41a ・ 41b / 4
1c ・ 41d), and when the frame (3) slides, the plurality of rollers (42a ・ 42b ・ 42c ・ 42d ・ 51a ・ 51b) are guided by the guide grooves (31a ・ 31b ・ 31b) of the frame (3). 31c ・ 31d ・ 31e ・ 31f) so that the press-fitting frame (4a ・ 4b) can be moved in the vertical direction with respect to the test head (2). .
端に前記フレーム(3) を取り付け、前記ピストン(27)を
エアシリンダ(26)によって駆動するようにしたことを特
徴とする請求項１記載のテストボード着脱機構。2. The sliding mechanism according to claim 1, wherein the frame (3) is attached to a tip of a piston (27), and the piston (27) is driven by an air cylinder (26). Test board attachment / detachment mechanism described.
4b) 及びテストヘッド(2) の相互間に位置決めピン(24a
・24b・24c・24d) 及び位置決めピン用穴(41a・41b・41c・41
d) を設けるようにしたことを特徴とする請求項１記載
のテストボード着脱機構。3. The position regulating means comprises the press contact frame (4a
4b) and the test head (2) between the positioning pins (24a
・ 24b ・ 24c ・ 24d) and positioning pin holes (41a ・ 41b ・ 41c ・ 41)
The test board attaching / detaching mechanism according to claim 1, wherein d) is provided.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30693195A JP3511765B2 (en) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | Test board attachment / detachment mechanism |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30693195A JP3511765B2 (en) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | Test board attachment / detachment mechanism |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09127197A JPH09127197A (en) | 1997-05-16 |
| JP3511765B2 true JP3511765B2 (en) | 2004-03-29 |
Family
ID=17963009
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30693195A Expired - Lifetime JP3511765B2 (en) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | Test board attachment / detachment mechanism |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3511765B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114324987B (en) * | 2022-01-12 | 2023-07-14 | 江苏本川智能电路科技股份有限公司 | Test fixture that many material numbers were pieced together |
-
1995
- 1995-10-31 JP JP30693195A patent/JP3511765B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09127197A (en) | 1997-05-16 |
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