JP3489707B2 - 光走査装置 - Google Patents

光走査装置

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JP3489707B2
JP3489707B2 JP21780396A JP21780396A JP3489707B2 JP 3489707 B2 JP3489707 B2 JP 3489707B2 JP 21780396 A JP21780396 A JP 21780396A JP 21780396 A JP21780396 A JP 21780396A JP 3489707 B2 JP3489707 B2 JP 3489707B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ポリゴンミラーの
偏向面に変調ビームを入射させてなる光走査装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来から、異なる複数の光源により露光
された感光体の画像を転写体に転写して記録媒体に多色
画像を形成する方法及び装置は種々知られている。これ
らは多色画像であるために、まず、感光体に複数の色に
対応してデータを変調したレーザ光の光源により、感光
体を露光、現像して後に転写体に転写する工程を複数回
行って、転写体の同じ位置に各色の画像を転写してい
る。よって、これらが転写体の同じ位置に転写されない
と、画像の再現性が低下するとともに、コントラストが
悪く、ぼやけた画像が形成される。
【0003】異なる複数の光源による画像が感光体の同
じ位置に転写されない原因は、各機構部品の製作・組立
誤差により転写体に対する感光体の傾き、光学系の倍率
の変化、光学系の傾き等による光学系の特性の変化、感
光体表面に潜像を露光する光学系の露光タイミングのズ
レ等が発生し、また、複数の光源の発光位置が異なるた
めに、感光体への露光位置がずれる。
【0004】前記原因のうち、転写体に対する感光体の
傾きは、機構的に該感光体の傾きを調節して補正するこ
とにより画像ズレを改善する技術が公知であり、その技
術によって解決することができる。また、前記光学系の
倍率及び傾き等による光学系の特性の変化は、f−θレ
ンズのf−θ特性、光学パス上のミラー角度、同ミラー
位置、ポリゴンミラー以降の光学パス長、光学ハウジン
グ等の誤差に影響され、感光体を介して記録媒体に転写
される像の走査方向のズレを惹起するので、該感光体表
面に潜像を露光する光学系の露光タイミングに電気的な
タイムラグを設けて、感光体の同じ位置に画像が転写さ
れるように調整設定することが必要である。
【0005】このような観点から、従来は、図8に示す
ように、1個のポリゴンミラー2と、2個の半導体レー
ザ1A,1Bを使用して、ポリゴンミラー2の反射面2
c、2aに対して、各々のビームSLo、SRoを入射
して、ビームディテクタ6、9による2個の検出器で半
導体レーザの発光を検知していた。したがって、これら
のディテクタから適宜のタイムラグ後に変調信号の頭だ
しを行い、被走査面4Aa、4Baを走査することで露
光タイミングを調整することができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の技術は、ビームディテクタによる光検出器を2
個用いている。図8において、反射面2cで反射された
ビームSLdをディテクタ6が検知して、同期信号10
(図7)を送出し、適宜のタイムラグ(遅延時間)t1
を設けて頭出しが行われ変調ビームSLsがn1として
送出される。したがって、反射面2cは回転方向の前方
に前記ディテクタ6にレーザ光を反射して、反射面が半
導体レーザ1Aの照射領域に侵入したことを検出する検
出部分(非画像領域)と、この検出部分に続いて、変調
ビームを受けて被走査面4Aaを走査する走査部分(画
像領域)とが必要である。
【0007】反射面の前記検出部分と前記走査部分の面
積が十分でないと、ディテクタ6によるレーザ光の検出
が不十分であったり、変調ビームによる被走査面4Aa
への走査が不十分であったりして感光体への画像形成に
支障を来すことになる。したがって、ディテクタ6はポ
リゴンミラーの反射面の回転方向の先頭部分に前記検出
部分が位置し、それに続いて前記走査部分が位置するよ
うに、位置、反射面へ向かう角度等が調整される。
【0008】前記ディテクタ6の取付位置の調整が終了
すると、図示しない回路により前記タイムラグt1が設
定される。前記タイムラグt1は大きすぎると、ポリゴ
ンミラー2の反射面2cに無駄な余裕を取ることにな
り、ポリゴンミラーが大型化するために大きすぎない範
囲で設定される。そして、変調ビームn1に続いて、図
7(A),(B)に示すように各反射面2d〜2aによ
り同期信号10から遅延時間t1後に変調ビームがn
2,n3・・・が送出される。
【0009】次に、反射面2cは図8上反時計方向に回
転し、反射面2cの前記検出部分と前記走査部分は同じ
順序で、半導体レーザ1Bの照射領域に侵入する。そし
て、その領域においても、反射面2cは半導体レーザ1
Aによって走査される被走査面4Aaに対応して設けら
れている被走査面4Baも同じように同期した変調ビー
ムにより走査されなければならない。よって、その領域
にも、反射面2cがその領域に侵入したかどうかを検出
するディテクタ9が設けられる必要がある。
【0010】反射面2cの前記検出部分と前記走査部分
は同じ順序で、半導体レーザ1Bの照射領域に侵入する
ので、前記検出部分に向かって前記ディテクタ9が対向
するように調整する。反射面2cで反射されたビームS
Rdを前記ディテクタ9が検知して、図7(C)に示す
ように同期信号11を送出し、適宜のタイムラグ(遅延
時間)t2を設けて頭だしが行われ変調ビームSRsが
m1として送出される。
【0011】次に、前記ディテクタ9の取付位置の調整
が終了すると、図示しない回路により前記タイムラグt
2が設定される。前記タイムラグt2は大きすぎると、
ポリゴンミラー2の反射面2cに無駄な余裕を取ること
になるとともに、被走査面4Baを走査する走査部分が
反射面2cを外れる恐れがあり、大きすぎない範囲で設
定される。そして、変調ビームm1に続いて、図8
(C),(D)に示すように各反射面2d、2eにより
同期信号11から遅延時間t2後に変調ビームm2,m
3・・・が送出される。
【0012】上述したように、従来技術によると、複数
のディテクタを用い、それら各々を位置調整しているの
で調整に時間がかかり、製造コストの低減のネックとな
っていた。また、多くの調整工程を必要とし、調整が不
十分であると良好な画像形成に支障を来す結果となる。
このような事情に鑑み、本発明の目的は、調整時間を削
減した光走査装置を提供することである。また、本発明
の他の目的は、部品点数を削減した光走査装置を提供す
ることである。また、本発明の他の目的は、良好な画像
形成を行える光走査装置を提供することである。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、ポリゴンミラ
ーに2方向からそれぞれ入射する二つの変調ビームのう
ち、第1変調ビームが入射する第1の偏向位置と、第2
変調ビームが入射する第2の偏向位置とを、ポリゴンミ
ラーの回転軸を通る任意の中心線の一方の側に設けてな
る光走査装置において、前記ポリゴンミラーの偏向面が
前記第1の偏向位置より前記第2の偏向位置に至る前記
ポリゴンミラーの周回時間より前記第2の偏向位置より
前記第1の偏向位置に至る周回時間が大となるように前
記第1及び第2の偏向位置を設定するとともに前記第
1の偏向位置側にのみビーム検出手段を配置して、前記
第1及び前記第2変調ビームがそれぞれ集光される第1
及び第2の被走査面上の走査中心点を結ぶ直線をX軸と
して、Y軸の正の部分に前記ポリゴンミラーの回転中心
がくるように2次元座標X・Yを配置した際、前記ポリ
ゴンミラーが反時計方向に回転しており、前記第1変調
ビーム(レーザ光源の一方の出力ビーム)が2次元座標
の第3象限より入射するとともに、前記第2変調ビーム
(他方のレーザ光源の出力ビーム)が2次元座標の第4
象限より入射し、前記第1変調ビームで前記第1の被走
査面上を走査する第1の状態と前記第2変調ビームで前
記第2の被走査面上を走査する第2の状態とを備え、前
記第1の状態における前記ビーム検出手段の検出出力に
応じて前記第2変調ビームの駆動を制御するとともに、
前記第1の状態と同一の前記ポリゴンミラーの偏向面で
前記第2の状態における走査を行うようにしたことを特
徴とする。
【0014】
【0015】
【0016】 また、前記第1及び前記第2変調ビーム
がそれぞれ集光される第1及び第2の被走査面上の走査
中心点を結ぶ直線をX軸として、Y軸の正の部分に前記
ポリゴンミラーの回転中心がくるように2次元座標X・
Yを配置したとき、前記ポリゴンミラーが時計方向に回
転しており、レーザ光源の一方の出力ビームが2次元座
標の第4象限より入射するとともに、他方のレーザ光源
の出力ビームが2次元座標の第3象限より入射し、前記
第1変調ビームで前記第1の被走査面上を走査する第1
の状態と前記第2変調ビームで前記第2の被走査面上を
走査する第2の状態とを備え、前記第1の状態における
前記ビーム検出手段の検出出力に応じて前記第2変調ビ
ームの駆動を制御するとともに、前記第1の状態と同一
の前記ポリゴンミラーの反射面で前記第2の状態におけ
る走査を行うように構成することも本発明の有効な手段
である。
【0017】本発明は、図4に示すように、単一のポリ
ゴンミラー2を挟んで両側に各々走査用の集光レンズ
(3A,3B)を介して、図1に示すように、被走査面
(第1及び第2の被走査面4Aa,4Ba)を配し、被
走査面と対峙する前記ポリゴンミラー2の偏向面(2a
〜2f)にレーザ光源(1A,1B)からビームを入射
させながら、前記ポリゴンミラー2を回転させて光走査
を行う光走査装置であり、2方向からポリゴンミラー2
の異なった偏向面2c、2aにそれぞれ入射する二つの
変調ビームSLo、SRoのうち、第1変調ビームSL
oが入射する第1の偏向位置(偏向面により偏向する位
置)と、第2変調ビームSRoが入射する第2の偏向位
置(偏向面により偏向する位置)とを、ポリゴンミラー
2の回転軸21を通る中心線Rの下方側に設けている。
【0018】そして、前記ポリゴンミラー2の回転中心
21を前記各々の被走査面(4Aa、4Ba)の走査中
心点(4Aas,4Bas)間を結ぶ直線(X軸)より
上方に変倚して配置され、前記ポリゴンミラー2の偏向
面(反射面)が、図1における第1実施例においては、
レーザ光源の発光を検出するビーム検出手段(ビームデ
ィテクタ)6は、前記各々の変調ビームが入射する第1
の偏向位置(第3象限)より第2の偏向位置(第4象
限)に至る前記ポリゴンミラーの周回時間より、前記第
2の偏向位置(第4象限)より前記第1の偏向位置(第
3象限)に至る前記ポリゴンミラーの周回時間が大とな
る前記第1の偏向位置側(第3象限)にのみ配置した。
【0019】即ち、ビームディテクタ6は第3象限側に
設けられ、ポリゴンミラー2が反時計方向に回転して、
第3象限において前記レーザ光源の変調ビームの一方
(SLs〜SLe)によって前記被走査面の一方(4A
a)を走査する第1状態から、第4象限において前記レ
ーザ光源の変調ビームの他方(SRs〜SRe)によっ
て前記被走査面の他方(4Ba)を走査する第2状態に
至る時間が速くなる側に前記レーザ光源(1A,1B)
が設けられている。
【0020】すなわち、ポリゴンミラー2は図1上反時
計方向に回転しているので、X軸の下方は反射面2c,
2b,2aと2面の回転で次の変調ビーム領域(第4象
限)に反射面2cが至る。これに対して、ビームディテ
クタ6を第4象限に配置し、ポリゴンミラー2を反時計
方向に回転させると、反射面2a,2f,2e,2d,
2cと4面の回転で次の変調ビーム領域(第3象限)に
到達する。
【0021】そして、前記一方のレーザ光源の出力ビー
ムを検出するビームディテクタ6を第3象限に設け、図
2に示すように、レーザ光源1Aによるレーザ光の発光
をビームディテクタ6により受光し、その同期信号10
の発生から遅延時間t1後に、変調ビームSLsを発生
させ画像信号n1を送出し被走査面4Aaを走査し、ま
た、同期信号10から遅延時間t2後に、前記被走査面
4Aaを走査した反射面2cは図1上2aの位置に至
り、前記第1状態と同じ反射面2cによって変調ビーム
SRsを発生させ画像信号m1を送出し被走査面4Ba
を走査する。
【0022】このように、該ビームディテクタ6の前記
第1状態における検出出力により、前記第2状態におけ
る前記他方のレーザ光源の変調ビームの駆動を制御する
とともに、前記第1状態と同じ前記偏向面(反射面)に
より前記第2状態の光走査を制御しているので、ビーム
ディテクタ2の回転中心に対する各反射面の製造誤差を
吸収することができる。
【0023】また、図3における第2実施例において
は、第4象限において前記ポリゴンミラー2の回転中心
21を前記各々の被走査面(4Aa、4Ba)の走査中
心点(4Aas,4Bas)間を結ぶ直線(X軸)より
上方に変倚して配置され、前記ポリゴンミラー2の偏向
面(反射面)からの反射によりレーザ光源の発光を検出
するビームディテクタ6は第4象限に設けられ、ポリゴ
ンミラー2が時計方向に回転して、第4象限において前
記レーザ光源の変調ビームの一方(SRs〜SRe)に
よって前記被走査面の一方(4Ba)を走査する第1状
態から、第3象限において前記レーザ光源の変調ビーム
の他方(SLs〜SLe)によって前記被走査面の他方
(4Aa)を走査する第2状態に至る時間が速くなる側
に前記レーザ光源(1A,1B)が設けられている。
【0024】すなわち、ポリゴンミラー2は図3上時計
方向に回転しているので、X軸の下方は反射面2a,2
b,2cと2面の回転で次の変調ビーム領域(第3象
限)に反射面2aが至る。これに対して、ビームディテ
クタ6を第3象限に配置し、ポリゴンミラー2を時計方
向に回転させると、反射面2c,2d,2e,2f,2
aと4面の回転で次の変調ビーム領域(第4象限)に到
達する。したがって、反射面が前記第1状態(第4象
限)から第2状態(第3象限)へ至る時間が速くなる側
の偏向面に対向して前記変調ビームを発生するレーザ光
源1A,1Bを配置した。
【0025】そして、前記一方のレーザ光源の出力ビー
ムを検出するビームディテクタ6を第4象限に設け、レ
ーザ光源1Bによるレーザ光の発光をビームディテクタ
6により受光し、その同期信号10の発生から遅延時間
t1後に、変調ビームSRsを発生させ画像信号n1を
送出し被走査面4Baを走査し、また、同期信号10か
ら遅延時間t2後に、前記被走査面4Baを走査した反
射面2aは図4上2cの位置に至り、前記第1状態と同
じ反射面2aによって変調ビームSLsを発生させ画像
信号m1を送出し被走査面4Aaを走査する。
【0026】このように、該ビームディテクタ6の前記
第1状態における検出出力により、前記第2状態におけ
る前記他方のレーザ光源の変調ビームの駆動を制御する
とともに、前記第1状態と同じ前記偏向面(反射面)に
より前記第2状態の光走査を制御しているので、ポリゴ
ンミラー2の回転中心に対する各反射面の製造誤差を吸
収することができる。
【0027】 また、前記ビーム検出手段は、前記ポリ
ゴンミラーからの反射光を受光し、前記第1の偏向位置
に入射する前記変調ビームの駆動タイミングを制御する
遅延時間t1及び、前記第2偏向位置に入射する前記変
調ビームの駆動タイミングを制御する遅延時間t2後
に、それぞれ複数の画像信号群を生成してレーザを変調
させるように構成し、前記遅延時間t1及びt2を、
T:ポリゴンミラーの1回転に要する時間、S:ポリゴ
ンミラーの偏向面数とした場合、それぞれt1<(T/
S)、t2≧(T/S)として、上記の第1の状態にお
ける前記ビーム検出手段の検出出力に応じて、前記第2
変調ビームの駆動を制御するとともに、前記第1の状態
と同一の前記ポリゴンミラーの偏向面で上記の第2の状
態における走査を行うようにすることも本発明の有効な
手段である。
【0028】図1及び図2において、前記ビーム検出手
段(ビームディテクタ)6は、前記第1状態におけるポ
リゴンミラーからの反射光を受光し、前記第1状態から
2段階の偏向面の回動による前記第2状態における遅延
時間t2後に、複数の画像信号群を生成してレーザを変
調させるので、遅延時間t2は、t2>(T/S)に構
成される。
【0029】図4に示すように、感光体4Aに走査され
た画像の最初のラインLA1は、中間転写体5に転写さ
れた後に、感光体4Bにむかって回動され、感光体4B
に走査された画像の最初のラインLBが中間転写体5と
接触する位置で前記ラインLA1と一致して中間転写体
5に転写されるので、両ラインの主走査方向の頭出し位
置は一致する必要があり、したがって、このラインLA
1とLB1の頭出しが一致する位置は、図2において
は、[(2T/S)+ts]で決まる遅延時間t2によ
り設定され、該遅延時間t2は(T/S)で決まる遅延
時間より大きい。
【0030】よって、t2>(T/S)の場合は、レー
ザ光源1Aによるレーザ光の発光をビーム検出手段6に
より受光し、その同期信号10から遅延時間t2後に、
前記第1状態と同じ反射面2cによって変調ビームSR
sを発生させ画像信号m1を送出し被走査面4Baを走
査し、前記第2状態における前記他方のレーザ光源の変
調ビームの駆動を制御するので、ポリゴンミラー2の回
転中心に対する各反射面の製造誤差を吸収することがで
きるとともに、一方の前記レーザ光源によって前記被走
査面の一方を走査する第1状態から、他方の前記レーザ
光源によって前記被走査面の他方を走査する第2状態に
至る時間が速くなる側の偏向面に対向して前記レーザ光
源の各々を配置しているので、ポリゴンミラーの1回転
において、速く前記第1状態から、前記第2状態に変化
することができ、ポリゴンミラーの回転数の変動の影響
を最小に防ぐことができる。
【0031】また、該遅延時間t2はポリゴンミラー2
が1回転する間における偏向面の移動時間と等しく、t
2=(T/S)と設定することもでき、この場合は、図
5に示すように、ポリゴンミラー2を三角形状もしくは
四角形状に代表するように、偏向面が2c′、2a′、
もしくは2d″、2a″のように偏向面が隣合っている
場合であり、図6に示す四角形状の場合は、第3象限に
おける(A)のようなディテクタ6による同期信号によ
り、(B)に示す遅延時間t1後に変調ビームn1が送
出され、(C)に示すように遅延時間t2=(T/S)
後に変調ビームm1が送出される。
【0032】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の好
適な実施例を例示的に詳しく説明する。但しこの実施例
に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相
対的配置等は特に特定的な記載がないかぎりは、この発
明の範囲をそれに限定する趣旨ではなく、単なる説明例
にすぎない。
【0033】本発明の実施例に係る光走査装置は、図4
に示すように、単一のポリゴンミラー2を挟んで両側に
各々走査用の集光レンズ(3A,3B)を介して、被走
査面を形成する感光体4A,4Bを配し、被走査面と対
峙する前記ポリゴンミラー2の偏向面にレーザ光源(1
A,1B)からビームを入射させながら、前記ポリゴン
ミラー2を回転させて光走査を行うように構成してい
る。
【0034】図1に示すように、レーザ光源1A、1B
からの光線をポリゴンミラー2、走査用集光レンズ3
A,3B、反射ミラー7A、7B等で構成される光走査
系により、像担持体である感光ドラム(感光体)4A、
4Bに静電潜像が担持される。また、感光ドラム4A、
4Bには、図示していないが、該ドラムを帯電するチャ
ージャ、現像器(たとえば、ブラック色及びマゼンタ
色)及び残留トナーを除去するクリーニングブレード等
が付設される。
【0035】感光ドラム4A,4Bの表面は、中間転写
シート17(外表)に接触し、該中間転写シートは体積
抵抗率が1010〜1014Ωcmの中抵抗領域にある抵抗
体であり、厚さ150μm程度のポリカーボネイト、ポ
リイミド、ポリエーテルエーテルケトン等で成形されて
いる。
【0036】したがって、感光ドラム4A、4Bは、該
ドラムが1回転ごとに現像器から順次一色ずつ現像さ
れ、中間転写シート17にクーロン力により転写され
る。一色の転写が終わると、感光ドラムは図示しないク
リーニングブレードでトナーを取り除いた後に、他の色
が感光ドラムに現像される。具体的には、感光ドラム4
Aから中間転写シート17にブラック色が転写され、そ
の後感光ドラム4Bの位置に回転した中間転写シート1
7は、感光ドラム4Bからシアン色を転写される。
【0037】感光ドラム4Aは中間転写シート17にブ
ラック色を転写後は残留トナーをクリーナーで取り除
き、マゼンタ色を現像し、該マゼンタ色を中間転写シー
ト17に転写する。同じように、感光ドラム4Bにおい
てもシアン色を転写後は、残留トナーをクリーナーで取
り除き、イエローを現像して、転写が行われる。
【0038】次に、上述のごとく動作する画像形成装置
に用いられる光走査装置の詳細を説明する。図1は本発
明に係る光走査装置の第1実施例であり、同図に示すよ
うに、ポリゴンミラー2の回転中心21は、各々の被走
査面(4Aa、4Ba)の走査中心点(4Aas,4B
as)間を結ぶ直線(X軸)より上方に変倚して配置さ
れ、ポリゴンミラー2の偏向面(反射面)により反射さ
れ、レーザ光源の発光を検出するビーム検出手段(ビー
ムディテクタ)6は、第3象限による反射光を受光する
ように配置されている。
【0039】すなわち、ポリゴンミラー2は図1上反時
計方向に回転しているので、X軸の下方は反射面2c,
2b,2aと2面の回転で次の変調ビーム領域(第4象
限)に反射面2cが至る。これに対して、ビームディテ
クタ6を第4象限に配置し、ポリゴンミラー2を反時計
方向に回転させると、反射面2a,2f,2e,2d,
2cと4面の回転で次の変調ビーム領域(第3象限)に
到達する。
【0040】よって、ビームディテクタ6は第2象限に
おける反射光を受光するように設けられ、ポリゴンミラ
ー2が反時計方向に回転して、第3象限において前記レ
ーザ光源の変調ビームの一方(SLs〜SLe)によっ
て前記被走査面の一方(4Aa)を走査する第1状態か
ら、第4象限において前記レーザ光源の変調ビームの他
方(SRs〜SRe)によって前記被走査面の他方(4
Ba)を走査する第2状態に至る時間が速くなる側にレ
ーザ光源(1A,1B)が設けられている。
【0041】そして、図2に示すように、レーザ光源1
Aによるレーザ光の発光をビームディテクタ6により受
光し、その同期信号10の発生から遅延時間t1後に、
変調ビームSLsを発生させ画像信号n1を送出し被走
査面4Aaを走査し、また、同期信号10から遅延時間
t2後に、前記被走査面4Aaを走査した反射面2cは
図1上2aの位置に至り、前記第1状態と同じ反射面2
cによって変調ビームSRsを発生させ画像信号m1を
送出し被走査面4Baを走査する。
【0042】次に、前記被走査面4Aaを走査する反射
面2dにより、レーザ光源1Aによるレーザ光の発光を
ビームディテクタ6により受光し、その同期信号10の
発生から遅延時間t1後に、変調ビームSLsを発生さ
せ画像信号n2を送出し被走査面4Aaを走査し、ま
た、同期信号10から遅延時間t2後に、前記被走査面
4Aaを走査した反射面2dは図1上2aの位置に至
り、前記第1状態と同じ反射面2dによって変調ビーム
SRsを発生させ画像信号m2を送出し被走査面4Ba
を走査する。爾後は、反射面2e〜2bによって、同じ
様な動作が繰り返される。
【0043】また、図3は本発明に係る光走査装置の第
2実施例であり、同図に示すように、ポリゴンミラー2
の回転中心21は、各々の被走査面(4Aa、4Ba)
の走査中心点(4Aas,4Bas)間を結ぶ直線(X
軸)より上方に変倚して配置され、ポリゴンミラー2の
偏向面(反射面)により反射され、レーザ光源の発光を
検出するビーム検出手段(ビームディテクタ)6は、第
4象限による反射光を受光するように配置されている。
【0044】すなわち、ポリゴンミラー2は図3上時計
方向に回転しているので、X軸の下方は反射面2a,2
b,2cと2面の回転で次の変調ビーム領域(第3象
限)に反射面2aが至る。これに対して、ビームディテ
クタ6を第3象限に配置し、ポリゴンミラー2を時計方
向に回転させると、反射面2c,2d,2e,2f,2
aと4面の回転で次の変調ビーム領域(第4象限)に到
達する。
【0045】よって、ビームディテクタ6は第4象限に
よる反射光を受光するように設けられ、ポリゴンミラー
2が時計方向に回転して、第4象限において前記レーザ
光源の変調ビームの一方(SRs〜SRe)によって前
記被走査面の一方(4Ba)を走査する第1状態から、
第3象限において前記レーザ光源の変調ビームの他方
(SLs〜SLe)によって前記被走査面の他方(4A
a)を走査する第2状態に至る時間が速くなる側に前記
レーザ光源(1A,1B)が設けられている。
【0046】そして、第1実施例で説明したように、レ
ーザ光源1Aによるレーザ光の発光をビームディテクタ
6により受光し、その同期信号10の発生から遅延時間
t1後に、変調ビームSLsを発生させ画像信号n1を
送出し被走査面4Baを走査し、また、同期信号10か
ら遅延時間t2後に、前記被走査面4Baを走査した反
射面2aは図3上2cの位置に至り、前記第1状態と同
じ反射面2cによって変調ビームSLsを発生させ画像
信号m1を送出し被走査面4Aaを走査する。爾後は、
反射面2f〜2bによって、同じ様な動作が繰り返され
る。
【0047】すなわち、本第1及び第2実施例において
は、変調ビームが入射する、第1の偏向位置(第3象限
あるいは、第4象限)より第2の偏向位置(第4象限あ
るいは、第3象限)に至る前記ポリゴンミラーの周回時
間より、前記第2の偏向位置(第4象限あるいは、第3
象限)より前記第1の偏向位置(第3象限あるいは、第
4象限)に至る前記ポリゴンミラーの周回時間が大とな
る前記第1の偏向位置側(第3象限あるいは、第4象
限)にのみ配置し、該ビームディテクタ6の前記第1状
態における検出出力により、前記第2状態における前記
他方のレーザ光源の変調ビームの駆動を制御するととも
に、前記第1状態と同じ前記偏向面(反射面)により前
記第2状態の光走査を制御しているので、ビームディテ
クタ2の回転中心に対する各反射面の製造誤差を吸収す
ることができる。
【0048】また、前述においてはポリゴンミラー2の
偏向面の数を6面とした実施例で説明したが、必ずしも
これに限定されるものではない。図5において、Y軸を
対称として左右に、三角形状の場合は、偏向面2c′、
2a′が位置し、四角形状の場合は偏向面2d″、2
a″が位置し、5角形状の場合は偏向面20d,20a
が位置している。したがって、三角形状及び四角形状ま
たは、これら以外の多角形状の場合においても適用可能
である。
【0049】そして、前記遅延時間t1及びt2を、
T:ポリゴンミラーの1回転に要する時間、S:ポリゴ
ンミラーの偏向面数とした場合、それぞれt1<(T/
S)、t2≧(T/S)に構成することができる。
【0050】図1及び図2において上述したように、前
記ビーム検出手段(ビームディテクタ)6は、前記第1
状態におけるポリゴンミラーからの反射光を受光し、前
記第1状態から2段階の偏向面の回動による前記第2状
態における遅延時間t2後に、複数の画像信号群を生成
してレーザを変調させるように構成している。したがっ
て、遅延時間t2は、t2>(T/S)に構成される。
【0051】また、t2=(T/S)と設定することも
でき、その場合は、図5に示すように、ポリゴンミラー
2を三角形状もしくは四角形状に代表するように、偏向
面が2c′、2a′、もしくは2d″、2a″のように
偏向面が隣合っている場合であり、図6に示す四角形状
の場合は、第3象限における(A)のようなディテクタ
6による同期信号により、(B)に示す遅延時間t1後
に変調ビームn1が送出され、(C)に示すように遅延
時間t2=(T/S)後に変調ビームm1が送出され
る。これは、三角形状の場合も同じことであり、また、
三角形状及び四角形状以外の多角形状の場合も同様であ
る。
【0052】上述したように、本実施例は、ポリゴンミ
ラーの同一の反射面によって複数の感光体を走査するの
で、ポリゴンミラーの回転中心に対する各反射面の製造
誤差を吸収することができるとともに、一方の前記レー
ザ光源によって前記被走査面の一方を走査する第1状態
から、他方の前記レーザ光源によって前記被走査面の他
方を走査する第2状態に至る時間が速くなる側の偏向面
に対向して前記レーザ光源の各々を配置しているので、
ポリゴンミラーの1回転において、速く前記第1状態か
ら、前記第2状態に変化することができ、ポリゴンミラ
ーの回転数の変動の影響を最小に防ぐことができる。さ
らに、中間転写体と感光体との接触位置間距離及び、感
光体径等の誤差を調整することができる。
【0053】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明は、部品点
数が削減されることにより調整時間が削減され、正確な
画像形成を行える光走査装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る光走査装置の第1実施例を示す構
成図である。
【図2】光走査装置の作用を説明する説明図である。
【図3】本発明に係る光走査装置の第2実施例を示す構
成図である。
【図4】本発明に係る光走査装置が提供される画像形成
装置の一実施例を示す構成図である。
【図5】ポリゴンミラーの他の実施例を示す構成図であ
る。
【図6】図5の作用を説明する説明図である。
【図7】従来例の作用を説明する説明図である。
【図8】従来例に係る光走査装置を示す構成図である。
【符号の説明】
1 レーザ光源(1A、1B) 2 ポリゴンミラー 3 集光レンズ(3A、3B) 4 感光体(4A,4B) 5 中間転写体 6 ビームディテクタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平6−217086(JP,A) 特開 平4−313776(JP,A) 特開 昭60−28619(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02B 26/10 B41J 2/44

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ポリゴンミラーに2方向からそれぞれ入
    射する二つの変調ビームのうち、第1変調ビームが入射
    する第1の偏向位置と、第2変調ビームが入射する第2
    の偏向位置とを、ポリゴンミラーの回転軸を通る任意の
    中心線の一方の側に設けてなる光走査装置において、前記ポリゴンミラーの 偏向面が前記第1の偏向位置より
    前記第2の偏向位置に至る前記ポリゴンミラーの周回時
    間より前記第2の偏向位置より前記第1の偏向位置に至
    る周回時間が大となるように前記第1及び第2の偏向位
    置を設定するとともに、前記第1の偏向位置側にのみビ
    ーム検出手段を配置して、前記第1及び前記第2変調ビ
    ームがそれぞれ集光される第1及び第2の被走査面上の
    走査中心点を結ぶ直線をX軸として、Y軸の正の部分に
    前記ポリゴンミラーの回転中心がくるように2次元座標
    X・Yを配置した際、前記ポリゴンミラーが反時計方向
    に回転しており、前記第1変調ビームが前記2次元座標の第3象限より入
    射するとともに、前記第2変調ビームが前記2次元座標
    の第4象限より入射し、前記第1変調ビームで前記第1
    の被走査面上を走査する第1の状態と前記第2変調ビー
    ムで前記第2の被走査面上を走査する第2の状態を備
    え、前記第1の状態における前記ビーム検出手段の検出
    出力に応じて、前記第2変調ビームの駆動を制御すると
    ともに、前記第1の状態と同一の前記ポリゴンミラーの
    偏向面で前記第2の状態における走査を行うようにした
    こと を特徴とする光走査装置。
  2. 【請求項2】 ポリゴンミラーに2方向からそれぞれ入
    射する二つの変調ビームのうち、第1変調ビームが入射
    する第1の偏向位置と、第2変調ビームが入射する第2
    の偏向位置とを、ポリゴンミラーの回転軸を通る任意の
    中心線の一方の側に設けてなる光走査装置において、前記ポリゴンミラーの 偏向面が前記第1の偏向位置より
    前記第2の偏向位置に至る前記ポリゴンミラーの周回時
    間より前記第2の偏向位置より前記第1の偏向位置に至
    る周回時間が大となるように前記第1及び第2の偏向位
    置を設定するとともに、前記第1の偏向位置側にのみビ
    ーム検出手段を配置して、前記第1及び前記第2変調ビ
    ームがそれぞれ集光される第1及び第2の被走査面上の
    走査中心点を結ぶ直線をX軸として、Y軸の正の部分に
    前記ポリゴンミラーの回転中心がくるように2次元座標
    X・Yを配置した際、前記ポリゴンミラーが時計方向に
    回転しており、前記第1変調ビームが前記2次元座標の第4象限より入
    射するとともに、前記第2変調ビームが前記2次元座標
    の第3象限より入射し、前記第1変調ビームで前記第1
    の被走査面上を走査する第1の状態と前記第2変調ビー
    ムで前記第2の被走査面上を走査する第2の状態とを備
    え、前記第1の状態における前記ビーム検出手段の検出
    出力に応じて、前記第2変調ビームの駆動を制御すると
    ともに、前記第1の状態と同一の前記ポリゴンミラーの
    偏向面で前記第2の状態における走査を行うようにした
    こと を特徴とする光走査装置。
  3. 【請求項3】 ポリゴンミラーに2方向からそれぞれ入
    射する二つの変調ビームのうち、第1変調ビームが入射
    する第1の偏向位置と、第2変調ビームが入射する第2
    の偏向位置とを、ポリゴンミラーの回転軸を通る任意の
    中心線の一方の側に設けてなる光走査装置において、前記ポリゴンミラーの 偏向面が前記第1の偏向位置より
    前記第2の偏向位置に至る前記ポリゴンミラーの周回時
    間より前記第2の偏向位置より前記第1の偏向位置に至
    る周回時間が大となるように前記第1及び第2の偏向位
    置を設定するとともに、前記第1の偏向位置側にのみビ
    ーム検出手段を配置して、前記ビーム検出手段は、前記
    ポリゴンミラーからの反射光を受光し、前記第1の偏向
    位置に入射する前記第1変調ビームの駆動タイミングを
    制御する遅延時間t1及び前記第2偏向位置に入射する
    前記第2変調ビームの駆動タイミングを制御する遅延時
    間t2後にそれぞれ複数の画像信号群を生成してレーザ
    を変調させて、前記遅延時間t1及びt2は下記の式を
    満足しており、前記第1変調ビームで前記第1の被走査
    面上を走査する第1の状態における前記ビーム検出手段
    の検出出力に応じて前記第2変調ビームの駆動を制御す
    るとともに、前記第1の状態と同一の前記ポリゴンミラ
    ーの偏向面で、前記第2変調ビームで前記第2の被走査
    面上を走査する第2の状態にお ける走査を行うようにし
    たことを特徴とする光走査装置。 t1<(T/S)、t2≧(T/S) 但し、T:ポリゴンミラーの1回転に要する時間、S:
    ポリゴンミラーの偏向面数
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