JP3467049B2 - ビデオ・カメラおよびその測光方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【技術分野】この発明は，固体電子撮像素子から得られ
る映像信号を用いて被写体の測光を行い，露光条件を定
めるビデオ・カメラ（スチル／ムービ・ビデオ・カメラ
およびスチル・ビデオ・カメラを含む）およびその測光
方法に関する。

【０００２】

【背景技術】自動露光（いわゆるＡＥ）機能をもつカメ
ラにおいては，露光条件を定めるために測光が必要であ
る。測光のために種々の方式がある。その１つはカメラ
の前面に測光素子を配置するものである。この方式は構
成が簡単であるが，測光領域が撮影領域と一致しないと
いう本質的な問題を内包している。とくにズーム・レン
ズを用いて視野を変更する場合にこの問題は顕著に現わ
れる。この問題を解決するためには撮像系のズーム・レ
ンズに連動して測光素子の測光領域を変更する必要があ
り，そのために大がかりな機構が必要となる。

【０００３】測光素子を撮像光学系内に組込み，測光領
域を撮像領域と一致させる方式（いわゆるＴＴＬ測光）
もある。この方式では撮像光学系内にビーム・スプリッ
タ，光路変更素子等が必要であり，光学系の大型化と光
の透過率の低下による感度の低下を招く。また，ミラー
を用いた場合には耐久性，信頼性の点で問題がある。

【０００４】そこで，固体電子撮像素子（ＣＣＤ等）を
備え，被写体像を表わす映像信号を得るビデオ・カメラ
においては，固体電子撮像素子から出力される映像信号
を適当な測光領域にわたって積分することにより測光値
を求める方式が考えられている。この方式によると，撮
像領域と測光領域が完全に一致し，しかも大型化を招く
余分な光学系を必要としないという利点がある。また，
固体電子撮像素子から得られる映像信号の電気的な処理
により，平均的な測光，部分的な測光，分割測光等のバ
リエーションが可能であり，様々な撮影環境に対応した
露光条件の設定が可能となって応用範囲が広がる。

【０００５】しかしながら，ＣＣＤのダイナミック・レ
ンジは４ＥＶ程度が限度で狭い。このため測光領域内に
高輝度部分があったりすると，その高輝度部分の映像信
号が飽和して正確な測光値データを得ることができない
ばかりか，測光領域全体の測光値に誤差が生じてしまう
という問題がある。そうすると，ビデオ・カメラに適正
な露光条件が設定されず，被写体が適性露光されないと
いう問題がある。

【０００６】

【発明の開示】この発明は，固体電子撮像素子から得ら
れる映像信号を用いて正確な測光を行い，適正な露光条
件を設定することができるビデオ・カメラおよびその測
光方法を提供することを目的とする。

【０００７】

【０００８】

【０００９】

【００１０】

【００１１】

【００１２】

【００１３】第１の発明は，入射する光像を映像信号に
変換して出力する固体電子撮像素子を含む撮像光学系を
備えたビデオ・カメラにおいて，上記固体電子撮像素子
から出力される映像信号から輝度信号に関する成分を抽
出する輝度信号成分抽出手段，上記輝度信号成分抽出手
段によって抽出される輝度信号に関する成分のうち，撮
影領域内の一部の部分領域から得られる輝度信号に関す
る成分にもとづいて部分測光値を算定する部分測光値算
定手段，上記輝度信号成分抽出手段によって抽出される
輝度信号に関する成分のうち，上記撮影領域内であって
上記部分領域よりも大きい全体領域から得られる輝度信
号に関する成分にもとづいて平均測光値を算定する平均
測光値算定手段，上記部分測光値算定手段によって算定
された部分測光値が，部分測光値用に定められた第１の
範囲内に収まっているかどうかを判定する判定手段，上
記判定手段によって，上記部分測光値が上記第１の範囲
内に収まっていないと判定されたときには上記部分測光
値が上記第１の範囲に，上記平均測光値が平均測光値用
に定められた第２の範囲にそれぞれ近づくように上記部
分測光値および上記平均測光値のうち少なくとも一方に
もとづいて測光値再算定処理用の新たな露出条件を決定
する露出条件決定手段，ならびに上記露出条件決定手段
によって決定された新たな露出条件にしたがって上記部
分領域および上記全体領域に対応する上記固体電子撮像
素子の受光領域からそれぞれ出力される映像信号から輝
度信号に関する成分をそれぞれ抽出し，抽出された輝度
信号に関する成分から部分測光値および平均測光値の測
光値再算定処理をするように上記輝度信号成分抽出手
段，上記部分測光値算定手段および上記平均測光値算定
手段を制御する制御手段を備えていることを特徴とす
る。

【００１４】またこの発明は上記の測光方法も提供して
いる。

【００１５】第１の発明によると，部分測光値および平
均測光値が算定される。算定された部分測光値が部分測
光値用に定められた第１の範囲内に収まっているかどう
かが判定される。部分測光値が第１の範囲内に収まって
いないときには，部分測光値が第１の範囲に，平均測光
値が平均測光値用に定められた第２の範囲にそれぞれ近
づくように部分測光値および平均測光値のうち少なくと
も一方にもとづいて測光値再算定処理用の新たな露出条
件が決定される。決定された新たな露出条件にしたがっ
て再び部分測光値および平均測光値の測光値再算定処理
が行われる。

【００１６】

【００１７】この発明によると算定された部分測光値の
信頼性が低い場合には部分測光値算定処理および平均測
光値算定処理が再び行なわれる。一部の領域に高輝度部
分があり，その高輝度部分の映像信号が飽和しその影響
により正確な平均測光値が得られないような場合であっ
ても，部分測光値が正確でないときは再び部分測光値算
定処理および平均測光値算定処理が繰返される。このた
め比較的正確な平均測光値が得られることになる。

【００１８】測光値再算定処理は所定回数の繰返しで終
了することが好ましい。

【００１９】第２の発明は，入射する光像を映像信号に
変換して出力する固体電子撮像素子を含む撮像光学系を
備えたビデオ・カメラにおいて，上記固体電子撮像素子
から出力される映像信号から輝度信号に関する成分を抽
出する輝度信号成分抽出手段，上記輝度信号成分抽出手
段によって抽出される輝度信号に関する成分のうち，撮
影領域のうちの複数の所定領域から得られる輝度信号に
関する成分にもとづいてそれぞれの測光値を算定する測
光値算定手段，上記測光値算定手段によって算定された
複数の測光値のすべてが，上記複数の所定領域にそれぞ
れ対応する範囲内に収まっているかどうかを判定する判
定手段，上記判定手段によって，上記複数の測光値のう
ち少なくとも１つの測光値が対応する上記範囲内に収ま
っていないと判定されたときには対応する上記範囲内に
収まっていないと判定された測光値が対応する上記範囲
内に近づくように上記複数の測光値のうち少なくとも１
つにもとづいて測光値再算定処理用の新たな露出条件を
決定する露出条件決定手段，ならびに上記露出条件決定
手段によって決定された新たな露出条件にしたがって上
記複数の所定領域に対応する上記固体電子撮像素子の受
光領域から出力される映像信号から輝度信号に関する成
分を抽出し，抽出された輝度信号に関する成分から上記
複数の所定領域に対応するそれぞれの測光値を算定する
ように上記輝度信号成分抽出手段および上記測光値算定
手段を制御する制御手段を備えていることを特徴とす
る。

【００２０】またこの発明は上記の測光方法も提供して
いる。

【００２１】第２の発明によると，撮影領域のうちの複
数の所定領域の明るさを表すそれぞれの測光値が算定さ
れる。算定された複数の測光値のすべてが複数の所定領
域にそれぞれ対応する範囲内に収まっているかどうかが
判定される。複数の測光値の少なくとも１つの測光値が
対応する範囲内に収まっていないときには，対応する範
囲内に近づくように，測光値再算定処理用の新たな露出
条件が決定される。決定された新たな露出条件にしたが
って，複数の所定領域に対応するそれぞれの測光値の再
算定処理が行われる。信頼性が高く，比較的正確な測光
値が得られる。

【００２２】第２の発明においても上記測光値再算定処
理を，対応する上記適正範囲内に収まっていないと判定
された測光値が対応する上記適正範囲内と判定されるよ
うに繰返し，上記測光値再算定処理を所定回数繰返した
かどうかを計数し，所定回数計数したことに応じて，測
光値再算定処理を中止し，すでに算定した値を測光値と
することが好ましい。

【００２３】これにより測光処理が不可能な極めて明る
い又は極めて暗い被写体の測光が行なわれる場合であっ
ても，測光値が得られることになる。

【００２４】上記第１の発明および上記第２の発明のい
ずれにおいても上記範囲は，ビデオ・カメラに用いられ
る精度，誤差等に応じて，試行錯誤のもとにもっとも適
するように経験的に定められる。

【００２５】

【実施例】以下，この発明をディジタル・スチル・カメ
ラに適用した実施例について，図面を参照しながら詳細
を説明する。

【００２６】図１は，この発明の実施例のディジタル・
スチル・カメラの電気的構成を示すブロック図である。

【００２７】クロック信号発生回路（以下，ＣＧとい
う）１は，クロック信号ＣＬＫ，ＣＣＤ４の水平転送路
を駆動するための水平転送パルスＨ，不要電荷掃出しの
ための基板抜きパルスＳＵＢ，Ａフィールド垂直転送パ
ルスＶＡおよびＢフィールド垂直転送パルスＶＢを発生
する。さらに，ＣＧ１はフィールド・インデックス信号
ＦＩ，ストロボ発光のためのＸタイミング信号ＸＴＭを
発生する。

【００２８】クロック信号ＣＬＫは，同期信号発生回路
（以下，ＳＳＧという）２に与えられ，ＳＳＧ２はこの
クロック信号ＣＬＫに基づいて水平同期信号ＨＤおよび
垂直同期信号ＶＤを発生し，ＣＧ１に与える。

【００２９】水平転送パルスＨはＣＣＤ（固体電子撮像
素子）４に与えられ，基板抜きパルスＳＵＢおよびＡフ
ィールド垂直転送パルスＶＡはＶドライバ５を介して，
Ｂフィールド垂直転送パルスＶＢはＶドライバ６を介し
て，それぞれＣＣＤ４に与えられる。

【００３０】フィールド・インデックス信号ＦＩ，Ｘタ
イミング信号ＸＴＭおよび水平同期信号ＨＤは，ＣＰＵ
３に与えられる。このＣＰＵ３からＣＧ１には露光条件
が設定されたことを示すシャッタのイネーブル信号ＴＳ
ＥＮおよびＣＣＤ４における露光を開始するための電子
シャッタ制御信号ＴＳ１が与えられる。

【００３１】ＣＣＤ４では，基板抜きパルスＳＵＢ，Ａ
フィールド垂直転送パルスＶＡ，Ｂフィールド垂直転送
パルスＶＢおよび水平転送パルスＨによって，インター
レース撮影が行われ，ＡフィールドとＢフィールドの映
像信号（ＧＲＧＢの色順次信号）が１フィールド期間ご
とに交互に生成されて，順次読み出される。ＣＣＤ４の
駆動（撮像および映像信号の読出し）は，少なくとも撮
影時と，それに先だつ測光処理において行われる。

【００３２】絞り21はＣＰＵ３によって動作する絞り制
御回路22によって制御される。絞り21を介して被写体像
がＣＣＤ４上に結像され，被写体像を表わす映像信号が
出力される。

【００３３】ＣＣＤ４から出力されるＡフィールドおよ
びＢフィールドの映像信号は，相関二重サンプリング回
路（ＣＤＳ）７を通して色分離回路８に与えられ，被写
体像を表わす３原色，Ｇ（緑），Ｒ（赤）およびＢ
（青）の色信号に分離される。

【００３４】この色信号Ｇ，Ｒ，Ｂはゲイン・コントロ
ール回路（以下，ＧＣＡという）９で色バランスの調整
が行われた後，ガンマ補正回路10で階調補正が行われ
て，クランプおよびリサンプリング回路11に入力する。

【００３５】クランプおよびリサンプリング回路11は，
３つの色信号Ｒ，Ｇ，Ｂをクランプし，かつリサンプリ
ングによってＧＲＧＢ…の色順次信号に再変換する。こ
の色順次信号はゲイン・コントロールおよびブランキン
グ回路12に入力する。ゲイン・コントロールおよびブラ
ンキング回路12は，色順次信号を記録のために適当なレ
ベルに増幅するとともにこれにブランキング信号を加え
る。回路12の出力信号は続いてＡ／Ｄ変換器13でディジ
タル画像データに変換される。

【００３６】後に詳述するように撮影に先だち，測光処
理および測光値に基づく露光制御（アイリスおよびシャ
ッタ速度の制御）が行われる。この測光処理はＧＣＡ９
の出力信号に基づいて行われる。このような測光処理お
よび露光制御の後に撮影が行われる。そして，撮影によ
りＣＣＤ４から得られる映像信号が上述した回路10，1
1，12および13を経てディジタル画像データとなり，画
像データ処理回路（図示略）でＹ／Ｃ分離，データ圧縮
等の加工が加えられたのち，メモリ・カード等の記録媒
体に記録されることになる。

【００３７】測光処理のために，Ｙ_L 合成回路14，ゲー
ト回路15，積分回路16および増幅回路17が設けられてい
る。これら回路の具体的な電気的構成の一例が図２に示
されている。ＣＰＵ３はゲート回路15を制御するウイン
ドウ信号ＷＩＮＤおよび積分回路16をリセットするリセ
ット信号ＨＬＲＳＴを出力する。これらの信号ＷＩＮＤ
およびＨＬＲＳＴのタイミングについては後述する。ま
たこの実施例ではＣＰＵ３はＡ／Ｄ変換器18を内蔵して
いる。

【００３８】ゲイン・コントロール回路９から出力され
る色信号Ｒ，ＧおよびＢはＹ_L 合成回路14で加算され，
相対的に低周波の輝度信号Ｙ_L （以下単に輝度信号Ｙ_L
という）が生成される。この輝度信号Ｙ_L は，所要の水
平走査期間においてウインドウ信号ＷＩＮＤが与えられ
ている期間ゲート回路15を通過する。積分回路16はリセ
ット信号ＨＬＲＳＴが与えられたときにリセットされ，
その後ゲート回路15から入力する輝度信号Ｙ_L を積分す
る。積分回路16の積分信号は増幅回路17で増幅されたの
ち，積分回路16がリセットされる直前にＣＰＵ３のＡ／
Ｄ変換器18によってディジタル積分データに変換され，
ＣＰＵ３に取込まれる。積分回路16および増幅回路17の
基準分圧Ｖ１，Ｖ２はこれに適当なオフセットを与える
ものである。

【００３９】この実施例では，視野内のほぼ全域の平均
的な明るさを測定するアベレージ測光（以下，ＡＶ測光
という），視野内のほぼ１／３の上部の平均的な明るさ
を測定するアベレージ上部測光（以下，ＡＶ上部測光と
いう），視野内のほぼ２／３の下部の平均的な明るさを
測定するアベレージ下部測光（以下，ＡＶ下部測光とい
う）および視野内の主要被写体の明るさを測定するスポ
ット測光（以下，ＳＰ測光という）が行なわれる。

【００４０】視野内の主要被写体と背景との明るさが異
なり，それに応じた適切な露光条件を設定する必要のあ
る場合にＳＰ測光が有効である。また屋外撮影の場合に
は視野内の上部領域に空が写ることが多い。このためＡ
Ｖ測光を行ないそれに応じて露光条件を定めて撮影する
と，視野内の下部領域が暗くなることがある。このよう
な場合にＡＶ下部測光が有効である。

【００４１】また，視野内の特定の部分に非常に暗いま
たは非常に明るい部分があると飽和などのために得られ
た測光値は正確なものではなくなる。このためにそれぞ
れの測光に応じた露出条件に応じた適正範囲がＣＰＵ３
に付随するメモリに記憶されており，得られた測光値が
適正範囲内でない場合には両測光が行なわれる。また，
ＡＶ測光が行なわれるときには，ＡＶ測光として得られ
た測光値が適正な範囲であっても一部では飽和している
ことがある。この場合にＡＶ測光により得られた測光値
が適正なものであるとはいえない。このためＡＶ上部測
光，ＡＶ下部測光またはＳＰ測光により得られた各測光
値のうち１つでも適正範囲外の測光値が得られたときに
はＡＶ測光について再測光が行なわれる。

【００４２】１フレームを構成するＡフィールド画像と
Ｂフィールド画像とはほぼ同時点の視野像を表わしてい
ると考えれるので，この実施例ではＡフィールドの映像
信号がＡＶ上部測光，ＡＶ下部測光およびＡＶ測光のた
めに，Ｂフィールドの映像信号がＳＰ測光のためにそれ
ぞれ用いられる。ＡＶ上部測光はＡフィールドのほぼ前
半部において行なわれ，ＡＶ下部測光はＡフィールドの
ほぼ後半部において行なわれる。ＡＶ測光の測光値はＡ
Ｖ上部測光のための積分値とＡＶ下部測光のための積分
値から算定される。

【００４３】また，この実施例では積分回路16による積
分とＡ／Ｄ変換器18によるＡ／Ｄ変換動作および加算処
理とが，水平走査期間ごとに交互に行なわれる。

【００４４】図３はＣＣＤ４の撮影領域20内に設定され
たＡＶ上部測光領域，ＡＶ下部測光領域，ＡＶ測光領域
およびＳＰ測光領域をそれぞれ示すものである。

【００４５】ＡＶ上部測光領域は，撮影領域20のほぼ１
／３の上部にわたって設定される。この実施例ではＡＶ
上部測光領域は，横方向が水平同期信号ＨＤの立下り
（水平走査期間の開始の時点）から16.15 μｓの経過
後，40μｓの期間に設定され，縦方向が第35番目の水平
走査ラインから第100 番目の水平走査ラインまでの間に
設定される。

【００４６】ＡＶ下部測光領域は，撮影領域20のほぼ２
／３の下部領域にわたって設定される。この実施例では
ＡＶ下部測光領域は，横方向が水平同期信号ＨＤの立下
り（水平走査期間の開始の時点）から16.15 μｓの経過
後，40μｓの期間に設定され，縦方向が第101 番目の水
平走査ラインから第246 番目の水平走査ラインまでの間
に設定される。

【００４７】ＡＶ測光領域はＡＶ上部測光領域とＡＶ下
部測光領域とを合わせた領域であり，基本的に撮影領域
20のほぼ全域にわたって設定される。この実施例ではＡ
Ｖ測光領域は，横方向が水平同期信号ＨＤの立下り（水
平走査期間の開始の時点）から16.15 μｓの経過後，40
μｓの期間となり，縦方向が第35番目の水平走査ライン
から第246 番目の水平走査ラインまでの間となる。

【００４８】ＳＰ測光領域は，撮影領域20内の任意位置
に小さな領域として設定される。この実施例ではＳＰ測
光領域は撮影領域20の中央部に設定され，横方向が水平
同期信号ＨＤの立下りから29.15 μｓの経過後の14μｓ
の期間に，縦方向が第101 番目の水平走査ラインから第
208 番目の水平走査ラインまでの間に設定されている。

【００４９】ＡＶ上部測光とＡＶ下部測光とはいずれも
Ａフィールド期間において行なわれ，縦方向の水平走査
ラインの設定ラインが異なるのみである。このためにＡ
Ｖ上部測光およびＡＶ下部測光のいずれにおいても図４
に示されているように，水平同期信号ＨＤの立下りから
16.15 μｓ後にパルス幅40μｓのウインドウ信号ＷＩＮ
Ｄがゲート回路15に与えられる。このウインドウ信号Ｗ
ＩＮＤが与えられている間，ゲート回路15は入力する輝
度信号Ｙ_L を通過させ，この輝度信号Ｙ_L は積分回路16
に入力する。

【００５０】積分回路16は先行するフィールドにおいて
既にリセットされており，ゲート回路15を通過して入力
する輝度信号Ｙ_L を積分する。ウインドウ信号ＷＩＮＤ
がＬレベルになって輝度信号Ｙ_L の積分回路16への入力
が停止すると，積分回路16の積分出力はそのまま保持さ
れるとともにこの積分回路16の積分出力がＣＰＵ３に内
蔵されたＡ／Ｄ変換器18によってディジタル・データに
変換される。Ａ／Ｄ変換に要する時間はこの実施例では
15μｓである。この後，積分回路16は，ＣＰＵ３から与
えられる水平ライン・リセット信号ＨＬＲＳＴによって
リセットされ次の積分動作に備える。

【００５１】ＣＰＵ３に付属したメモリ（たとえばＲＡ
Ｍ）にはＡＶ上部測光により得られたデータを記憶する
ＡＶ上部積分データ記憶領域と，ＡＶ下部測光により得
られたデータを記憶するＡＶ下部積分データ記憶領域と
がある。

【００５２】ＡＶ上部積分データ記憶領域は第34番目の
水平同期信号ＨＤに同期してクリアされている。Ａ／Ｄ
変換器18によってディジタル・データに変換された積分
値はこのＡＶ上部積分データ記憶領域に先のデータ（第
１番目の場合にはクリアされているので零である）に加
算されて記憶される。

【００５３】Ａ／Ｄ変換器18によるＡ／Ｄ変換，積分回
路16のリセットおよび積分データの加算処理は，次の第
36番目の水平走査期間において行われる。

【００５４】以上のようにして，ＡＶ上部測光領域内に
おける１本の水平走査ラインにそう積分回路16による輝
度信号Ｙ_L の積分と，この積分により得られた積分信号
のＡ／Ｄ変換，積分回路16のリセットおよびメモリへの
積分データの加算とが，水平走査期間毎に交互に繰返し
て行われる。そして，この繰返しは，第100 番目の水平
走査期間まで行われる。

【００５５】第101 番めの水平走査期間になると，ＡＶ
下部測光の処理となる。

【００５６】ＡＶ下部積分データ記憶領域は第100 番目
の水平同期信号ＨＤに同期してクリアされている。Ａ／
Ｄ変換器18によってディジタル・データに変換された積
分値はこのＡＶ下部積分データ記憶領域に先のデータ
（第１番目の場合にはクリアされているので零である）
に加算されて記憶される。

【００５７】Ａ／Ｄ変換器18によるＡ／Ｄ変換，積分回
路16のリセットおよび積分データの加算処理は，ＡＶ上
部測光と同様に次の102 番めの水平走査期間に行なわれ
る。

【００５８】ＡＶ下部測光領域内における１本の水平走
査ラインにそう積分回路16による輝度信号Ｙ_L の積分
と，この積分により得られた積分信号のＡ／Ｄ変換，積
分回路16のリセットおよびメモリへの積分データの加算
とが，ＡＶ上部測光と同様に水平走査期間毎に交互に繰
返して行われる。そして，この繰返しは，第246 番目の
水平走査期間まで，すなわちＡＶ下部測光領域内の全域
に亘って行われる。

【００５９】このようにしてＡＶ上部積分データ記憶領
域に記憶されたデータとＡＶ下部積分データ記憶領域に
記憶されたデータとからＡＶ測光値が得られる。

【００６０】Ｂフィールド期間におけるＳＰ測光におい
ては，図５に示されているように，パルス幅14μｓのウ
インドウ信号ＷＩＮＤが第101 番目の水平同期信号ＨＤ
の立下りから29.15 μｓ後にゲート回路15に与えられ，
この間，積分回路16は入力する輝度信号Ｙ_L を積分す
る。ウインドウ信号ＷＩＮＤは１水平走査期間置きに第
207 番目の水平走査期間まで行われる。積分回路16から
出力される積分信号の積分データへのＡ／Ｄ変換，積分
回路16のリセットおよび積分データのメモリにおける加
算は上述のＡＶ測光の場合と同様に，積分動作の次の一
水平走査期間において行われる。

【００６１】このようにして，一水平走査期間おきに輝
度信号Ｙ_L の積分が行われ，積分後の次の水平走査期間
においてＡ／Ｄ変換，その他の処理が行われるので，低
速のＡ／Ｄ変換器を用いても充分に対応できる。そし
て，一水平走査ラインおきに積分を行っても，ＳＰ測光
でさえ54本の水平走査ラインにそう積分が可能であるか
ら，測光値を得るために充分な量の積分データを得るこ
とができる。

【００６２】上述の説明において，Ａフィールド期間に
ＡＶ上部，ＡＶ下部およびＡＶ測光を，Ｂフィールド期
間にＳＰ測光を行っているが，逆にＡフィールド期間に
ＳＰ測光を，Ｂフィールド期間にＡＶ上部，ＡＶ下部お
よびＡＶ測光を行うようにしてもよいし，両フィールド
または一方のフィールドでＡＶ測光（ＡＶ上部，ＡＶ下
部測光）のみまたはＳＰ測光のみを行うようにしてもよ
いのはいうまでもない。

【００６３】図６は，ＣＰＵ３のＡ／Ｄ変換器18に入力
するＡＶ測光領域の１水平走査範囲ごとの電圧（検出電
圧）と輝度値との関係を示すグラフである。図６におい
て縦軸に示す検出電圧はＡＶ測光領域の１水平走査範囲
（時間にして40［μｓ］）の積分量に対応するものであ
り，この電圧をＡＶ測光領域全体に加算した場合に算出
されるのが図６の横軸に示す輝度値である。

【００６４】輝度値を算定するためのグラフＡ₁ 〜Ａ₄
は露光条件によってどのグラフを用いるかが決定され
る。絞りＦ3.5 ，シャッタ・スピード１／15秒のときは
Ａ₁ のグラフが用いられ，絞りＦ3.5 ，シャッタ／スピ
ード１／120 秒のときはＡ₂ のグラフが用いられ，絞り
Ｆ14，シャッタ・スピード１／60秒のときはＡ₃ のグラ
フが用いられ，絞りＦ14，シャッタ・スピード１／240
秒のときはＡ₄ のグララが用いられる。

【００６５】このディジタル・スチル・カメラでは積分
誤差，Ａ／Ｄ変換誤差などを考慮して比較的信頼できる
測光値を得るために測光精度範囲が定められている。こ
の測光精度範囲は検出電圧で375 ［ｍｖ］程度から3000
［ｍＶ］程度に定められている。測光精度範囲はＥＶ値
を用いて表わすと３ＥＶ程度である。得られた検出電圧
がこの測光範囲外のときは露光条件を変えて両測光が行
なわれる。

【００６６】図６はＡＶ測光領域についてのものである
が，ＡＶ上部測光領域，ＡＶ下部測光領域およびＳＰ測
光領域についてもそれぞれ適正範囲が定められる。ＳＰ
測光領域はその水平走査範囲が狭いから適正範囲での検
出電圧の大きさも小さくなろう。

【００６７】図７はＣＰＵ３が行なう測光処理の全体的
な動作を示すフローチャート，図８から図18は再測光判
定処理の手順を示すフローチャートである。また図19に
ＣＰＵ３によって設定される測光パラメータと露光条件
（絞り値，シャッタ速度）と測光エリアの関係が示され
ている。

【００６８】測光処理を開始するにあたって露光条件の
初期設定を行なうために測光パラメータが０に設定され
る（ステップ31）。また測光回数カウンタは０にセット
される（ステップ32）。

【００６９】つづいて測光パラメータに応じた測光条件
に設定される（ステップ33）。初期設定では測光パラメ
ータが０にセットされているから，参照して測光条件が
ＥＶ10.5となるように絞りがＦ3.5 ，シャッタ速度が１
／120 に設定される。絞り21がその絞り値に設定されて
いなければ（ステップ34でNO），Ｆ3.5 とするのに必要
な駆動パルス数が演算され（ステップ35），測光条件に
合った絞り値となるように絞り駆動回路22によって絞り
21が駆動される（ステップ36）。

【００７０】またドライバ５および６によってＣＣＤ４
測光条件に合ったシャッタ速度となるように駆動される
（ステップ37）。

【００７１】ＣＣＤ４から出力される映像信号は，ＣＤ
Ｓ７，色分離回路８およびＧＣＡ９を経てＹ_L 合成回路
14に与えられる。これにより上述のようにＹ_L 合成回路
14，ゲート回路15，積分回路16および増幅回路17が駆動
される（ステップ38）。ＡＶ上部測光データ，ＡＶ下部
測光データおよびＳＰ測光データからＡＶ上部輝度値，
ＡＶ下部輝度値，ＡＶ輝度値およびＳＰ輝度値がそれぞ
れ演算される（ステップ39）。

【００７２】演算されたそれぞれの輝度値が適正範囲外
ならば正確な露出制御ができない。このためにそれぞれ
の輝度値から再測光が必要かどうかが判定される（ステ
ップ40）。この再測光判定処理についてはその手順が図
８から図18に示されている。この処理については次に述
べる。

【００７３】つづいて測光回数カウンタがインクレメン
トされる（ステップ41）。再測光が不要となると測光処
理が終了する（ステップ42）。

【００７４】図８から図18の再測光判定処理の手順を示
すフローチャートのうち図８から図10が１回めの測光に
よる判定処理を示しており，図11から図17が２回めの測
光による判定処理を示しており，図18が３回めの測光処
理による判定処理を示している。

【００７５】図８を参照して，１回めの測光処理におい
ては測光回数カウンタは０にセットされているからＡＶ
輝度値（ＥＶ値）がＥＶ９〜12の適正範囲内に収まって
いるかどうかが判定される（図８ステップ51でYES ，ス
テップ52）。つづいてＡＶ下部輝度値がＥＶ９〜12の適
正範囲内に収まっているかどうかが判定され（図８ステ
ップ53），適正範囲内に収まっていればさらにＳＰ輝度
値がＥＶ９〜12の適正範囲内に収まっているかどうかが
判断される（図８ステップ54）。ＳＰ輝度値も適正範囲
に収まっているときにはＡＶ上部輝度値がＥＶ９〜12の
適正範囲内に収まっているかどうかが判断される（図８
ステップ55）。

【００７６】ＡＶ測光値，ＡＶ下部測光値，ＳＰ測光値
およびＡＶ上部輝度値のすべてがＥＶ９〜12の適正な輝
度範囲に収まっていると，測光パラメータは１にセット
されて測光処理は終了する（図８ステップ57，図７ステ
ップ42）。

【００７７】ＡＶ輝度値またはＡＶ下部輝度値がＥＶ９
以下であると，測光パラメータが２に設定される（図８
ステップ58）。測光パラメータが２に設定されるとＥＶ
7.5の測光条件となるようにシャッタ速度が遅くされ，
１／15秒に設定される。またすべてのエリアにもとづく
再測光が行なわれる（図７ステップ33）。

【００７８】ＡＶ輝度値およびＡＶ下部輝度値のいずれ
も適正範囲内に収まっていても，ＳＰ輝度値がＥＶ９以
下であるときには（図８ステップ52〜54），ＡＶ上部輝
度値の値に応じて測光パラメータの設定が変えられる
（図８ステップ59）。

【００７９】ＳＰ輝度値がＥＶ９以下であり，かつＡＶ
上部輝度値がＥＶ９以下のときは測光パラメータは３に
設定される（ステップ60）。これにより絞り値Ｆ3.5 ，
シャッタ速度１／15秒にして，ＡＶ領域，ＡＶ上部領
域，ＡＶ下部領域およびＳＰ領域の全エリアの再測光が
行なわれる（図８ステップ60）。

【００８０】ＳＰ輝度値がＥＶ９以下でありかつＡＶ上
部輝度値がＥＶ９〜12のときは測光パラメータは４に設
定され，絞り値がＦ3.5 ，シャッタ速度が１／15秒とな
りＡＶ領域，ＡＶ下部領域およびＳＰ領域の再測光が行
なわれる。ＡＶ上部輝度値は適正範囲であるから再測光
は行なわれない（図８ステップ61）。

【００８１】ＡＶ上部輝度値がＥＶ12以上のときは測光
パラメータは９に設定される。測光パラメータが９に設
定されるときはＳＰ領域が暗いため正確な測光ができな
いときであり（図８ステップ54），かつＡＶ上部領域が
明るすぎて正確な測光ができないときである（図８ステ
ップ59）。このときは誤差をなくしてＡＶ輝度値を求め
ることはできず，すでに算出したＡＶ輝度値をＡＶ領域
の輝度値として用いる。ただし，ＳＰ領域とＡＶ上部領
域における正確な輝度値を算出するためにＡＶ上部領域
とＳＰ領域に対して再測光が行なわれる（図８ステップ
62）。この場合は好ましくは再測光により得られたＡＶ
上部輝度値とＳＰ輝度値を参照してＡＶ輝度値が補正さ
れよう。

【００８２】ＡＶ輝度値，ＡＶ下部輝度値およびＳＰ輝
度値のいずれもが適正範囲内であって，ＡＶ上部輝度値
がＥＶ９以下のときは測光パラメータは５に設定される
（図８ステップ63）。この場合はＡＶ上部領域のみが絞
り値3.5 ，シャッタ速度１／15秒で再測光が行なわれ
る。測光パラメータが５に設定されるときは，ＡＶ輝度
値，ＡＶ下部輝度値およびＳＰ輝度値のすべてがＥＶ９
〜12の適正範囲に入っており，かつＡＶ上部領域のみが
暗い状態である（図８ステップ52〜55）。この状態にお
いては絞り値Ｆ3.5 ，シャッタ速度１／15秒によって再
測光が行なわれるとＡＶ下部輝度値とＳＰ輝度値が大き
くなりいずれも適正範囲に入らなくなってしまう。この
ためＡＶ輝度値に多くの誤差が含まれることになる。し
たがってＡＶ上部のみ再測光が行なわれる。

【００８３】ＡＶ輝度値がＥＶ12.5以上のときは（図８
ステップ52），ＳＰ輝度値の値に応じて測光パラメータ
の設定が変わる（図９ステップ71）。ＳＰ輝度値がＥＶ
12.5以下のときは測光パラメータが12に設定され（図９
ステップ72），ＥＶ12.5以上のときは測光パラメータが
13に設定される（図９ステップ73）。この場合はいずれ
も絞り値Ｆ14，シャッタ速度１／60秒で再測光が行なわ
れるが，ＳＰ輝度値がＥＶ12.5以下のときにはＳＰ輝度
値は適正範囲内と考えられるのでＳＰ領域以外のＡＶ領
域，ＡＶ上部領域，ＡＶ下部領域が再測光される。ＳＰ
輝度値がＥＶ12.5以上のときにはすべての領域が再測光
される。

【００８４】ＡＶ輝度値がＥＶ９〜12の適正範囲内であ
って（図８ステップ52），ＡＶ下部輝度値のＥＶ12.5以
上のときもＳＰ輝度値の値に応じて測光パラメータの設
定が変わる（図９ステップ74）。

【００８５】ＳＰ輝度値がＥＶ12.5以下のときは測光パ
ラメータが10に設定され（図９ステップ75），ＥＶ12.5
以上のときは測光パラメータが11に設定される（図９ス
テップ76）。この場合もいずれも絞り値Ｆ14，シャッタ
速度１／60秒で再測光が行なわれ，ＳＰ輝度値がＥＶ1
2.5以下のときにはＳＰ輝度値は適正範囲内と考えられ
るのでＳＰ領域以外のＡＶ領域，ＡＶ上部領域，ＡＶ下
部領域が再測光される。ＳＰ輝度値がＥＶ12.5以上のと
きにはすべての領域が再測光される。

【００８６】ＡＶ輝度値およびＡＶ下部輝度値のいずれ
もＥＶ９〜12の適正範囲内でかつ，ＳＰ輝度値がＥＶ1
2.5以上のときは（図８ステップ52，53，54），ＡＶ上
部輝度値の値に応じて測光パラメータの設定が変わる
（図10ステップ76）。

【００８７】ＡＶ上部輝度値がＥＶ９以下のときには測
光パラメータが６に設定され（図10ステップ79），ＥＶ
12.5以上のときには測光パラメータが７に設定される
（図10ステップ82）。ＡＶ上部輝度値がＥＶ９〜12のと
きにはＡＶ輝度値の値に応じて測光パラメータが設定さ
れる（図10ステップ78）。

【００８８】ＡＶ上部輝度値がＥＶ12.5以上のときには
ＡＶ上部輝度値がＡＶ輝度値に多くの誤差を与えている
と判断できるので，測光パラメータが７に設定されたと
きには，絞り値Ｆ14，シャッタ速度１／60秒で全エリア
の再測光が行なわれる（図10ステップ82）。

【００８９】ＡＶ上部輝度値がＥＶ９〜12の範囲内で
（図10ステップ76）ＡＶ輝度値がＥＶ11.5以下のときに
も（図10ステップ78），測光パラメータが６に設定さ
れ，絞り値Ｆ14，シャッタ速度１／60秒で全エリアが再
測光される（図10ステップ79）。このときＡＶ輝度値を
再測光により得られるＡＶ輝度値と比較し，より正確な
方を用いるようにするため得られたＡＶ輝度値がストア
される（図10ステップ80）。

【００９０】ＡＶ上部輝度値がＥＶ９〜12の範囲内で
（図10ステップ76）ＡＶ輝度値がＥＶ12.5以上のときに
は（図10ステップ78），測光パラメータが13に設定さ
れ，絞り値Ｆ14，シャッタ速度１／60秒で全エリアが再
測光される（図10ステップ79）。

【００９１】ＡＶ輝度値，ＡＶ下部輝度値およびＳＰ輝
度値のすべてが適正範囲内のときでＡＶ上部輝度値がＥ
Ｖ12以上のときには（図８ステップ52〜55），ＡＶ輝度
値の値に応じて測光パラメータの設定が変わる（図10ス
テップ83）。ＡＶ輝度値がＥＶ11.5以下のときには測光
パラメータは８に設定され（図10ステップ84），ＡＶ輝
度値がＥＶ11.5以上のときには測光パラメータが12に設
定される（図10ステップ86）。これらのときはいずれも
絞り値がＦ14，シャッタ速度が１／60秒に設定され，Ａ
Ｖ領域，ＡＶ上部領域およびＡＶ下部領域の再測光が行
なわれる。但し，ＡＶ輝度値がＥＶ11.5以下のときは再
測光により得られるＡＶ輝度値と比較するためＡＶ輝度
値がストアされる（図10ステップ85）。

【００９２】１回めの測光処理が終了すると測光回数カ
ウンタがインクレメントされるので（図７ステップ4
1），測光回数カウンタは１になる。再測光が行なわれ
るときには測光領域に応じた絞り値およびシャッタ速度
で撮影され，それぞれの輝度値が演算される（図７ステ
ップ33から39）。

【００９３】図11を参照して，測光パラメータが５より
大きければ測光回数カウンタの値が１かどうかが判定さ
れ（ステップ90，91），測光パラメータの大きさに応じ
て再測光判定処理が行なわれる（ステップ92〜99）。

【００９４】測光パラメータが６に設定されていると
（図11ステップ92でYES ），再測光により得られたＳＰ
輝度値の値が判定される（図12ステップ102 ）。ＳＰ輝
度値がＥＶ13〜16の適正範囲内にあるとＡＶ輝度値が判
定される（図12ステップ103 ）。ＡＶ輝度値がＥＶ12.5
以下のときはストアされていたＡＶ輝度値（図９ステッ
プ80）の方が適切な値と判断されるのでロードされ（図
12ステップ104 ）測光処理は終了する（図12ステップ10
5 ）。ＡＶ輝度値がＥＶ12.5以上のときは再測光により
得られた輝度値の方が適切と判定され測光処理が終了す
る（図12ステップ105 ）。

【００９５】ＳＰ輝度値がＥＶ16以上のときであっても
ＡＶ輝度値の大きさが判定される（図12ステップ102 ，
106 ）。ＡＶ輝度値がＥＶ14.5以上のときには測光パラ
メータは15に，ＥＶ14.5以下のときには測光パラメータ
は17にそれぞれ設定されるが（図12ステップ107 ，110
），いずれにしても絞り値Ｆ14，シャッタ速度１／240
秒で全エリアに対して再測光が行なわれる（図12ステ
ップ108 ）。

【００９６】測光パラメータが７に設定されているとき
には（図11ステップ93），ＡＶ上部輝度値の値が判定さ
れ（図12ステップ101 ），ＡＶ上部輝度値がＥＶ12から
15までの間ならば測光パラメータが６のときと同じ処理
が行なわれる（図12ステップ102 〜108 ，110 ）。ＡＶ
上部輝度値がＥＶ15.5以上のときにはＳＰ輝度値の値が
判定され（図12ステップ109 ），ＥＶ16以上のときは測
光パラメータが17に設定される（図12ステップ110 ）。
ＳＰ輝度値がＥＶ13〜16のときはＳＰ輝度値は適正なた
め測光パラメータは16に設定され，ＳＰ領域以外のＡＶ
領域，ＡＶ上部領域およびＡＶ下部領域がそれぞれ再測
光される（図12ステップ111 ）。

【００９７】測光パラメータが９に設定されているとき
は（図11ステップ94）測光パラメータが19に再設定され
（図12ステップ112 ），絞り値Ｆ14，シャッタ速度１／
60秒で，ＡＶ領域，ＡＶ上部領域およびＡＶ下部領域が
それぞれ再測光される。

【００９８】測光パラメータが10に設定されているとき
には（図11ステップ95），再測光されたＡＶ下部輝度値
の値が判定され（図13ステップ113 ），ＡＶ下部輝度値
がＥＶ12〜15の範囲内にあれば適正範囲内であるから測
光処理は終了する（図13ステップ114 ）。ＡＶ下部輝度
値がＥＶ15以上ならば測光パラメータは18に設定され，
絞り値Ｆ14，シャッタ速度１／240 で，ＡＶ領域，ＡＶ
上部領域およびＡＶ下部領域について再測光が行なわれ
る（図13ステップ116 ）。

【００９９】測光パラメータが８に設定されていると
（図10ステップ95），再測光されたＡＶ上部輝度値の値
が判定される（図13ステップ117 ）。ＡＶ上部輝度値が
ＥＶ12〜15のときはさらにＡＶ輝度値の判定が行なわれ
（図13ステップ118 ），ＡＶ輝度値がＥＶ12.5以下のと
きにはストアされていたＡＶ輝度値がロードされ（図12
ステップ119 ）ストアされていたＡＶ輝度値の方が比較
的適正なので測光処理が終了し（図12ステップ120 ），
ＡＶ輝度値がＥＶ12.5以上のときには両測光により得ら
れたＡＶ輝度値の方がストアされているＡＶ輝度値より
も適切な値と判定され測光処理が終了する（図13ステッ
プ120 ）。

【０１００】ＡＶ上部輝度値がＥＶ15.5以上のときには
測定パラメータが23にに設定され（図13ステップ121
），絞り値がＦ14，シャッタ速度が１／240 として再
測光が行なわれる（図13ステップ122 ）。このときはＡ
Ｖ上部領域のみが明るい状態となっている。このときに
絞り値Ｆ14，シャッタ速度１／240 秒で再測光すると，
ＡＶ上部以外の領域の輝度値が低くなりすぎ，結果とし
てＡＶ輝度値に多くの誤差が含まれる。したがってＡＶ
上部輝度値のみが再測光される。

【０１０１】測光パラメータが11のときは（図11ステッ
プ97），再測光されたＡＶ輝度値の値が判定される（図
14ステップ123 ）。

【０１０２】ＡＶ下部輝度値がＥＶ15以下のときはＳＰ
輝度値の値が判定され（図14ステップ124 ），ＳＰ輝度
値がＥＶ13〜16の範囲内にあれば再測光により得られた
それぞれの輝度値は適正と判定され測光処理は終了する
（図14ステップ125 ）。ＳＰ輝度値がＥＶ16以上のとき
は測光パラメータは20に設定され，絞り値Ｆ14，シャッ
タ速度１／240 秒で全エリアの再測光が行なわれる（図
４ステップ126 ，127）。

【０１０３】ＡＶ下部輝度値がＥＶ15以上であってもＳ
Ｐ輝度値の値の判定処理が行なわれる（図14ステップ12
8 ）。このＳＰ輝度値がＥＶ13〜16の範囲内ならば，測
光パラメータは21に設定され（図14ステップ129 ），絞
り値Ｆ14，シャッタ速度１／240 秒でＳＰ領域以外のＡ
Ｖ領域，ＡＶ上部領域およびＡＶ下部領域のそれぞれの
領域の再測光処理が行なわれる（図14ステップ129 ，12
7 ）。ＳＰ輝度値がＥＶ16以上のときは測光パラメータ
が22に設定され全エリアの再測光が行なわれる（図14ス
テップ130 ）。

【０１０４】測光パラメータが12に設定されていると
（図11ステップ98），再測光により得られたＡＶ輝度値
の値が判定される（図15ステップ131 ）。

【０１０５】ＡＶ輝度値の値がＥＶ12〜15の間にあり適
切な値と判定されるとＡＶ下部輝度値の値も判定される
（図15ステップ132 ）。ＡＶ下部輝度値の値もＥＶ12〜
15の間にあり適切な値と判定されると，さらにＡＶ上部
輝度値の値も判定される（図15ステップ133 ），ＡＶ輝
度値，ＡＶ上部輝度値およびＡＶ下部輝度値のすべての
輝度値がＥＶ12〜15の範囲内にあるときは再測光により
得られた輝度値はすべて適切な値と判断できるので測光
処理は終了する（図15ステップ134 ）。

【０１０６】ＡＶ輝度値またはＡＶ下部輝度値がＥＶ15
以上のときは測光パラメータが24に設定され（図15ステ
ップ137 ），絞り値Ｆ14，シャッタ速度１／240 秒でＳ
Ｐ領域以外の領域が再測光される（図15ステップ136 ，
137 ）。また，ＡＶ上部輝度値がＥＶ15以上のときは測
光パラメータが23に設定され絞り値Ｆ14，シャッタ速度
１／240 秒でＡＶ上部領域のみが再測光される（図15ス
テップ135 ，136 ）。

【０１０７】測光パラメータが13に設定されているとき
は（図11でステップ99），必要に応じて再測光により得
られたＡＶ輝度値，ＡＶ下部輝度値，ＡＶ上部輝度値お
よびＳＰ輝度値の値の判定が行なわれる（図16ステップ
137 〜140 ）。

【０１０８】ＡＶ輝度値，ＡＶ下部輝度値およびＡＶ上
部輝度値がすべてＥＶ12〜15の範囲内にあり，かつＳＰ
輝度値がＥＶ13〜16の範囲内にあるときは再測光により
適正な輝度値が得られたと判断でき，測光処理は終了す
る（図16ステップ141 ）。

【０１０９】ＡＶ輝度値，ＡＶ下部輝度値およびＡＶ上
部輝度値がすべてＥＶ12〜15の範囲内にあり，ＳＰ輝度
値のみがＥＶ16以上のときはＡＶ輝度値の値が判定され
る（図16ステップ142 ）。ＡＶ輝度値がＥＶ14.5以下な
らばＡＶ輝度値がストアされ（図16ステップ143 ），Ａ
Ｖ輝度値がＥＶ14.5以上ならばＡＶ輝度値はストアされ
ないで，絞りＦ14，シャッタ速度１／240 秒ですべての
エリアの再測光が行なわれる（図16ステップ144 ，146
）。

【０１１０】ＡＶ輝度値またはＡＶ下部輝度値がＥＶ15
以上のときはＳＰ輝度値の値が判断される（図17ステッ
プ150 ）。ＥＶ輝度値のＥＶ13〜16の範囲内ならば測光
パラメータは28に設定され（図17ステップ151 ），ＥＶ
輝度値がＥＶ16以上ならば測光パラメータは29に設定さ
れる（図17ステップ152 ）。ＳＰ輝度値がＥＶ13〜16の
適正範囲内にあるときはＳＰ領域以外の再測光が行なわ
れ，ＳＰ輝度値がＥＶ16以上のときはすべての領域の再
測光が行なわれる（図17ステップ152 ）。

【０１１１】ＡＶ上部輝度値がＥＶ15以上のときにおい
ても（図16ステップ138 ），ＳＰ輝度値の値が判断され
る（図17ステップ147 ）。ＥＶ輝度値がＥＶ13〜16の適
正範囲内ならば測光パラメータは26に設定され（図17ス
テップ148 ），ＥＶ輝度値がＥＶ16以上ならば測光パラ
メータは27に設定される（図17ステップ149 ）。ＳＰ輝
度値がＥＶ13〜16の範囲内にあるときはＳＰ領域以外の
再測光が行なわれ，ＳＰ輝度値がＥＶ16以上のときはす
べての領域の再測光が行なわれる（図17ステップ149
）。

【０１１２】測光パラメータが５以下に設定されている
ときには（図11ステップ90でYES ），被写体は暗く，測
光不能として測光処理は終了する（図18ステップ155
）。

【０１１３】第１回めの再測光が行なわれると測光回数
カウンタは２となる。したがって第２回めの再測光では
図11のステップ91の判断ではノーとなり図18ステップ15
3 の処理に移る。

【０１１４】測光パラメータが15，20または25のいずれ
かに設定されているかどうかが判断され（図18ステップ
153 ），いずれかのパラメータに設定されているとＡＶ
輝度値の値が判断され（図18ステップ154 ），ＡＶ輝度
値の大きさがＥＶ14.5以上のときはストアされていたＡ
Ｖ輝度値がロードされて測光処理が終了する（図18ステ
ップ155 ，154 ）。

【０１１５】測光パラメータが15，20，25以外のとき
（ステップ153 でNO）またはＡＶ輝度値がＥＶ14.5以下
のときは，すでに得られたＡＶ輝度値がＡＶ領域におけ
る輝度値として測光処理が終了する（図18ステップ156
）。

【０１１６】また図１に示す測光パラメータ判定処理に
おいて，いずれにも適さないときにはエラー処理が行な
われる（図11ステップ100 ）。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施例によるディジタル・スチル・
ビデオ・カメラの電気的構成を示すブロック図である。

【図２】図１のディジタル・スチル・ビデオ・カメラに
おける測光のために必要な回路部分のより具体的な電気
的構成を示す回路図である。

【図３】撮影領域内に設定された測光領域を示す。

【図４】アベレージ測光を行う場合のタイム・チャート
である。

【図５】スポット測光を行う場合のタイム・チャートで
ある。

【図６】ＣＰＵに入力する検出電圧と被写体輝度との関
係を示している。

【図７】ＣＰＵによる測光処理の手順を示すフローチャ
ートである。

【図８】再測光判定処理の手順の一部を示すフローチャ
ートである。

【図９】再測光判定処理の手順の一部を示すフローチャ
ートである。

【図１０】再測光判定処理の手順の一部を示すフローチ
ャートである。

【図１１】再測光判定処理の手順の一部を示すフローチ
ャートである。

【図１２】再測光判定処理の手順を示すフローチャート
である。

【図１３】再測光判定処理の手順を示すフローチャート
である。

【図１４】再測光判定処理の手順を示すフローチャート
である。

【図１５】再測光判定処理の手順を示すフローチャート
である。

【図１６】再測光判定処理の手順を示すフローチャート
である。

【図１７】再測光判定処理の手順を示すフローチャート
である。

【図１８】再測光判定処理の手順を示すフローチャート
である。

【図１９】測光パラメータとそれに対応する露光条件と
の関係を示している。

【符号の説明】

３ ＣＰＵ（制御手段） ４ ＣＣＤ（固体電子撮像素子） 14 Ｙ_L 合成回路 15 ゲート回路 16 積分回路 17 増幅回路 18 Ａ／Ｄ変換器 20 撮影領域

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 三宅 泉 埼玉県朝霞市泉水三丁目11番46号 富士 写真フイルム株式会社内 (56)参考文献 特開 平４−170275（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−78379（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−217429（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) H04N 5/225 - 5/247

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 入射する光像を映像信号に変換して出力
   する固体電子撮像素子を含む撮像光学系を備えたビデオ
   ・カメラにおいて， 上記固体電子撮像素子から出力される映像信号から輝度
   信号に関する成分を抽出する輝度信号成分抽出手段， 上記輝度信号成分抽出手段によって抽出される輝度信号
   に関する成分のうち，撮影領域内の一部の部分領域から
   得られる輝度信号に関する成分にもとづいて部分測光値
   を算定する部分測光値算定手段， 上記輝度信号成分抽出手段によって抽出される輝度信号
   に関する成分のうち，上記撮影領域内であって上記部分
   領域よりも大きい全体領域から得られる輝度信号に関す
   る成分にもとづいて平均測光値を算定する平均測光値算
   定手段， 上記部分測光値算定手段によって算定された部分測光値
   が，部分測光値用に定められた第１の範囲内に収まって
   いるかどうかを判定する判定手段， 上記判定手段によって，上記部分測光値が上記第１の範
   囲内に収まっていないと判定されたときには上記部分測
   光値が上記第１の範囲に，上記平均測光値が平均測光値
   用に定められた第２の範囲にそれぞれ近づくように上記
   部分測光値および上記平均測光値のうち少なくとも一方
   にもとづいて測光値再算定処理用の新たな露出条件を決
   定する露出条件決定手段，ならびに 上記露出条件決定手段によって決定された新たな露出条
   件にしたがって 上記部分領域および上記全体領域に対応
   する上記固体電子撮像素子の受光領域からそれぞれ出力
   される映像信号から輝度信号に関する成分をそれぞれ抽
   出し，抽出された輝度信号に関する成分から部分測光値
   および平均測光値の測光値再算定処理をするように上記
   輝度信号成分抽出手段，上記部分測光値算定手段および
   上記平均測光値算定手段を制御する制御手段， を備えたビデオ・カメラ。
2. 【請求項２】 上記判定手段による判定処理にもとづい
   て行なわれる上記輝度信号成分抽出手段および上記測光
   値算定手段を用いた測光値再算定処理を，上記判定手段
   により上記部分測光値が上記第１の範囲内と，上記平均
   測光値が上記第２の範囲内と判定されるように繰返す測
   光値再算定制御手段， 上記測光値再算定制御手段の制御のもとに測光値再算定
   処理が所定回数繰返されたかどうかを計数する計数手
   段，および 上記計数手段により所定回数計数されたことに応じて，
   すでに算定された値を測光値として測光値再算定処理を
   中止する中止制御手段， を備えた請求項１に記載のビデオ・カメラ。
3. 【請求項３】 入射する光像を映像信号に変換して出力
   する固体電子撮像素子を含む撮像光学系を備えたビデオ
   ・カメラにおいて， 上記固体電子撮像素子から出力される映像信号から輝度
   信号に関する成分を抽出する輝度信号成分抽出手段， 上記輝度信号成分抽出手段によって抽出される輝度信号
   に関する成分のうち，撮影領域のうちの複数の所定領域
   から得られる輝度信号に関する成分にもとづいてそれぞ
   れの測光値を算定する測光値算定手段， 上記測光値算定手段によって算定された複数の測光値の
   すべてが，上記複数の所定領域にそれぞれ対応する範囲
   内に収まっているかどうかを判定する判定手段， 上記判定手段によって，上記複数の測光値のうち少なく
   とも１つの測光値が対応する上記範囲内に収まっていな
   いと判定されたときには対応する上記範囲内に収まって
   いないと判定された測光値が対応する上記範囲内に近づ
   くように上記複数の測光値のうち少なくとも１つにもと
   づいて測光値再算定処理用の新たな露出条件を決定する
   露出条件決定手段，ならびに 上記露出条件決定手段によって決定された新たな露出条
   件にしたがって 上記複数の所定領域に対応する上記固体
   電子撮像素子の受光領域から出力される映像信号から輝
   度信号に関する成分を抽出し，抽出された輝度信号に関
   する成分から上記複数の所定領域に対応するそれぞれの
   測光値を算定するように上記輝度信号成分抽出手段およ
   び上記測光値算定手段を制御する制御手段， を備えたビデオ・カメラ。
4. 【請求項４】 上記判定手段による判定処理にもとづい
   て行なわれる上記輝度信号成分抽出手段および上記測光
   値算定手段を用いた測光値再算定処理を，上記判定処理
   により対応する上記範囲内に収まっていないと判定され
   た測光値が対応する上記範囲内と判定されるように繰返
   す測光値再算定制御手段， 上記測光値再算定制御手段の制御のもとに測光値再算定
   処理が所定回数繰返されたかどうかを計数する計数手
   段，および 上記計数手段により所定回数計数されたことに応じて，
   すでに算定された値を測光値として測光値再算定処理を
   中止する中止制御手段， を備えた請求項３に記載のビデオ・カメラ。
5. 【請求項５】 入射する光像を映像信号に変換して出力
   する固体電子撮像素子を含む撮像光学系を備えたビデオ
   ・カメラにおいて， 上記固体電子撮像素子から出力される映像信号から輝度
   信号に関する成分を抽出し， 抽出される輝度信号に関する成分のうち撮影領域内の一
   部の部分領域に対応する上記固体電子撮像素子の受光領
   域から得られる輝度信号に関する成分にもとづいて部分
   測光値を算定し， 抽出される輝度信号に関する成分のうち上記撮影領域内
   であって上記部分領域よりも大きい全体領域に対応する
   上記固体電子撮像素子の受光領域から得られる輝度信号
   に関する成分にもとづいて平均測光値を算定し， 算定された部分測光値が部分測光値用に定められた第１
   の範囲内に収まっているかどうかを判定し， 上記部分測光値が上記第１の範囲内に収まっていないと
   判定されたときには露出条件を上記部分測光値が上記第
   １の範囲に，上記平均測光値が平均測光値用に定められ
   た第２の適正範囲にそれぞれ近づくように上記部分測光
   値および上記平均測光値のうち少なくとも一方にもとづ
   いて測光値再算定処理用の新たな露出条件を決定し， 決定された新たな露出条件にしたがって 上記部分領域お
   よび上記全体領域に対応する上記固体電子撮像素子の受
   光領域からそれぞれ出力される映像信号から輝度信号に
   関する成分をそれぞれ抽出し，抽出された輝度信号に関
   する成分から部分測光値および平均測光値を再算定す
   る， ビデオ・カメラの測光方法。
6. 【請求項６】 上記測光値再算定処理を，上記部分測光
   値が上記第１の範囲内と上記平均測光値が上記第２の範
   囲内と判定されるように繰返し， 上記測光値再算定処理を所定回数繰返したかどうかを計
   数し， 所定回数計数したことに応じて，測光値再算定処理を中
   止し，すでに算定した値を測光値とする， 請求項５に記載のビデオ・カメラの測光方法。
7. 【請求項７】 入射する光像を映像信号に変換して出力
   する固体電子撮像素子を含む撮像光学系を備えたビデオ
   ・カメラにおいて， 上記固体電子撮像素子から出力される映像信号から輝度
   信号に関する成分を抽出し， 抽出された輝度信号に関する成分のうち，撮影領域のう
   ちの複数の領域に対応する上記固体電子撮像素子の受光
   領域から得られる輝度信号に関する成分にもとづいてそ
   れぞれの測光値を算定し， 算定された複数の測光値のすべてが，複数の所定領域に
   それぞれに対応する範囲内に収まっているかどうかを判
   定し， 上記複数の測光値のうち少なくとも１つの測光値が対応
   する上記範囲内に収まっていないと判定されたときには
   露出条件を，対応する上記範囲内に収まっていないと判
   定された測光値が対応する上記範囲内に近づくように上
   記複数の測光値のうちの少なくとも１つにもとづいて測
   光値再算定処理用の新たな露出条件を決定し， 決定された新たな露出条件にしたがって 上記複数の所定
   領域に対応する上記固体電子撮像素子の受光領域から出
   力される映像信号から輝度信号に関する成分を抽出し，
   抽出された輝度信号に関する成分から測光値を再算定す
   る， ビデオ・カメラの測光方法。
8. 【請求項８】 上記測光値再算定処理を，対応する上記
   範囲内に収まっていないと判定された測光値が対応する
   上記範囲内と判定されるように繰返し， 上記測光値再算定処理を所定回数繰返したかどうかを計
   数し， 所定回数計数したことに応じて，測光値再算定処理を中
   止し，すでに算定した値を測光値とする， 請求項７に記載のビデオ・カメラの測光方法。