JP3361927B2 - 漏電遮断器の遠隔テスト装置 - Google Patents
漏電遮断器の遠隔テスト装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、漏電遮断器の漏
電テストを遠隔操作で行う漏電遮断器の遠隔テスト装置
に関するものである。
電テストを遠隔操作で行う漏電遮断器の遠隔テスト装置
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図６は従来の遠隔テスト装置付き漏電遮
断器の回路図である。図において、１１は漏電遮断器、
Ｃは零相変流器、Ｄは引き外し電磁石、Ｓは開閉接点
部、Ｇは常開の漏電テストスイッチ、Ｂ１、Ｂ２は漏電
テスト回路の端子、１３は漏電検出回路である。１４は
常開の遠隔テストスイッチＨを介した入力端子Ｊ１，Ｊ
２に電圧Ｖ１を供給する外部の制御電源、Ｒ１は抵抗、
Ｃ１はコンデンサ、２は整流回路、３は整流回路２の直
流側に接続された定電流回路、１６は定電流回路３の出
力側と、サイリスタ回路７側とを結合するホトカプラで
あり、その入力側１６ａに電流を流すことにより出力側
１６ｂが導通する。７は上記ホトカプラ１６の出力側１
６ｂに接続されたサイリスタ回路、１０はサイリスタ回
路７に線路側からの電圧を整流して供給する整流回路、
Ｂ１、Ｂ２は整流回路１０の交流側に接続された漏電テ
スト回路端子である。電気的な開閉回路となるサイリス
タ回路７は、上記ホトカプラ１６の出力側１６ｂに接続
されたサイリスタＣＲ１と、このサイリスタＣＲ１のゲ
ートカソード間に接続された抵抗Ｒ１１と、上記サイリ
スタＣＲ１のゲートと整流回路１０との間にホトカプラ
１６の出力側１６ｂを通して接続された抵抗Ｒ１０とよ
りなる。
断器の回路図である。図において、１１は漏電遮断器、
Ｃは零相変流器、Ｄは引き外し電磁石、Ｓは開閉接点
部、Ｇは常開の漏電テストスイッチ、Ｂ１、Ｂ２は漏電
テスト回路の端子、１３は漏電検出回路である。１４は
常開の遠隔テストスイッチＨを介した入力端子Ｊ１，Ｊ
２に電圧Ｖ１を供給する外部の制御電源、Ｒ１は抵抗、
Ｃ１はコンデンサ、２は整流回路、３は整流回路２の直
流側に接続された定電流回路、１６は定電流回路３の出
力側と、サイリスタ回路７側とを結合するホトカプラで
あり、その入力側１６ａに電流を流すことにより出力側
１６ｂが導通する。７は上記ホトカプラ１６の出力側１
６ｂに接続されたサイリスタ回路、１０はサイリスタ回
路７に線路側からの電圧を整流して供給する整流回路、
Ｂ１、Ｂ２は整流回路１０の交流側に接続された漏電テ
スト回路端子である。電気的な開閉回路となるサイリス
タ回路７は、上記ホトカプラ１６の出力側１６ｂに接続
されたサイリスタＣＲ１と、このサイリスタＣＲ１のゲ
ートカソード間に接続された抵抗Ｒ１１と、上記サイリ
スタＣＲ１のゲートと整流回路１０との間にホトカプラ
１６の出力側１６ｂを通して接続された抵抗Ｒ１０とよ
りなる。
【０００３】図６の構成において、漏電遮断器１１の動
作試験をするとき、遠隔テストスイッチＨを閉じること
によって、外部の制御電源１４からの交流または直流の
電圧Ｖ１を遠隔テスト装置の入力端子Ｊ１、Ｊ２に印加
すると、交流の場合は整流回路２によって直流に変換さ
れ、直流の場合はそのまま定電流回路３に通電される。
直流に変換された電圧は、定電流回路３を介してホトカ
プラ入力側１６ａに通電される。ホトカプラ入力側１６
ａに電流が流れると、ホトカプラ出力側１６ｂが導通す
る。漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２間の電圧は、整流回
路１０によって直流に変換される。ホトカプラ出力側１
６ｂが導通すると、ホトカプラ出力側１６ｂ、抵抗Ｒ１
０を介して、サイリスタＣＲ１のゲート・カソード間が
導通し、サイリスタＣＲ１が導通する。サイリスタＣＲ
１が導通すると、漏電遮断器１１の漏電テストスイッチ
Ｇを押して閉じた状態と同じように、漏電テスト回路端
子Ｂ１、Ｂ２が短絡された状態となり、漏電遮断器１１
が漏電時の動作をする。
作試験をするとき、遠隔テストスイッチＨを閉じること
によって、外部の制御電源１４からの交流または直流の
電圧Ｖ１を遠隔テスト装置の入力端子Ｊ１、Ｊ２に印加
すると、交流の場合は整流回路２によって直流に変換さ
れ、直流の場合はそのまま定電流回路３に通電される。
直流に変換された電圧は、定電流回路３を介してホトカ
プラ入力側１６ａに通電される。ホトカプラ入力側１６
ａに電流が流れると、ホトカプラ出力側１６ｂが導通す
る。漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２間の電圧は、整流回
路１０によって直流に変換される。ホトカプラ出力側１
６ｂが導通すると、ホトカプラ出力側１６ｂ、抵抗Ｒ１
０を介して、サイリスタＣＲ１のゲート・カソード間が
導通し、サイリスタＣＲ１が導通する。サイリスタＣＲ
１が導通すると、漏電遮断器１１の漏電テストスイッチ
Ｇを押して閉じた状態と同じように、漏電テスト回路端
子Ｂ１、Ｂ２が短絡された状態となり、漏電遮断器１１
が漏電時の動作をする。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の遠
隔テスト装置の構成では、漏電遮断器内にある漏電テス
ト回路の端子Ｂ１、Ｂ２をサイリスタＣＲ１で直接開閉
するため、サイリスタＣＲ１は耐圧の高いものが必要と
なり、外形が大きく、高価なものを使用しなければなら
ないという問題点があった。
隔テスト装置の構成では、漏電遮断器内にある漏電テス
ト回路の端子Ｂ１、Ｂ２をサイリスタＣＲ１で直接開閉
するため、サイリスタＣＲ１は耐圧の高いものが必要と
なり、外形が大きく、高価なものを使用しなければなら
ないという問題点があった。
【０００５】この発明は、上記のような問題点を解決す
るためになされたもので、漏電テスト回路の端子を開閉
するサイリスタを複数個直列接続し、耐圧の低い小形
で、安価なサイリスタを使用できるようにした遠隔テス
ト装置を得るものである。
るためになされたもので、漏電テスト回路の端子を開閉
するサイリスタを複数個直列接続し、耐圧の低い小形
で、安価なサイリスタを使用できるようにした遠隔テス
ト装置を得るものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明に係る漏電遮断
器の遠隔テスト装置は、零相変流器により線路電流の漏
電等によるアンバランスを検出して上記線路を遮断させ
る引き外し信号を出力する漏電検出回路、複数個直列に
接続されたサイリスタを導通させて上記線路の疑似漏電
状態を作り上記漏電検出回路から引き外し信号を出力さ
せる電気的開閉手段、上記電気的開閉手段を制御する遠
隔テストスイッチ、及び上記遠隔テストスイッチと上記
電気的開閉手段とを電気的に絶縁して結合し、上記遠隔
テストスイッチの操作により上記サイリスタを導通させ
るホトカプラを備えている。
器の遠隔テスト装置は、零相変流器により線路電流の漏
電等によるアンバランスを検出して上記線路を遮断させ
る引き外し信号を出力する漏電検出回路、複数個直列に
接続されたサイリスタを導通させて上記線路の疑似漏電
状態を作り上記漏電検出回路から引き外し信号を出力さ
せる電気的開閉手段、上記電気的開閉手段を制御する遠
隔テストスイッチ、及び上記遠隔テストスイッチと上記
電気的開閉手段とを電気的に絶縁して結合し、上記遠隔
テストスイッチの操作により上記サイリスタを導通させ
るホトカプラを備えている。
【０００７】また、上記構成において、直列接続された
複数個のサイリスタは、線路側からの電圧が分圧抵抗を
介してそれぞれのゲートに供給されている。
複数個のサイリスタは、線路側からの電圧が分圧抵抗を
介してそれぞれのゲートに供給されている。
【０００８】また、上記構成において、直列接続された
複数個のサイリスタの内、１段目のサイリスタの導通に
より２段目以降のサイリスタ用の分圧抵抗に分流回路を
形成させるようにしている。
複数個のサイリスタの内、１段目のサイリスタの導通に
より２段目以降のサイリスタ用の分圧抵抗に分流回路を
形成させるようにしている。
【０００９】また、上記構成において、分流回路はトラ
ンジスタにより形成されている。
ンジスタにより形成されている。
【００１０】また、上記構成において、分流回路は電界
効果トランジスタにより形成されている。
効果トランジスタにより形成されている。
【００１１】また、上記構成において、各分圧抵抗と並
列にサージアブゾーバを接続している。
列にサージアブゾーバを接続している。
【００１２】また、上記構成において、ホトカプラの出
力側にサージアブゾーバを接続している。
力側にサージアブゾーバを接続している。
【００１３】
実施の形態１．図１は遠隔テスト装置付き漏電遮断器の
回路図である。図において、Ｒ１は突入電流制限用抵
抗、Ｃ１は入力端子Ｊ１、Ｊ２に接続したリード線の静
電容量による誤動作防止用コンデンサ、２は整流回路、
３は整流回路２の直流側に接続された定電流回路、１６
は定電流回路３の出力側と、後述するサイリスタ回路７
側とを結合するホトカプラであり、その入力側１６ａに
電流を流すことにより、出力側１６ｂが導通する。
回路図である。図において、Ｒ１は突入電流制限用抵
抗、Ｃ１は入力端子Ｊ１、Ｊ２に接続したリード線の静
電容量による誤動作防止用コンデンサ、２は整流回路、
３は整流回路２の直流側に接続された定電流回路、１６
は定電流回路３の出力側と、後述するサイリスタ回路７
側とを結合するホトカプラであり、その入力側１６ａに
電流を流すことにより、出力側１６ｂが導通する。
【００１４】７は上記ホトカプラ１６の出力側１６ｂに
接続されたサイリスタ回路、１０はサイリスタ回路７に
線路側の電圧を整流して供給する整流回路、Ｂ１、Ｂ２
は整流回路１０の交流側に接続された漏電テスト回路端
子である。電気的な開閉手段となるサイリスタ回路７
は、上記ホトカプラ１６の出力側１６ｂに接続された第
１段目のサイリスタＣＲ２と、このサイリスタＣＲ２の
ゲート・カソード間に接続された抵抗Ｒ２４と、上記サ
イリスタＣＲ２のアノードにカソードが接続された第２
段目のサイリスタＣＲ１と、このサイリスタＣＲ１のゲ
ート・カソード間に接続された抵抗Ｒ２３と、整流回路
１０の直流側の、サイリスタＣＲ１のアノードとゲート
間に接続された抵抗Ｒ２１と、サイリスタＣＲ１のゲー
トとサイリスタＣＲ２のカソード間に接続された抵抗Ｒ
２２よりなる。抵抗Ｒ２１と抵抗Ｒ２２は、線路側の電
圧を分圧する分圧抵抗である。１１は図１で説明した漏
電遮断器で、漏電検出回路１３、変流器Ｃ、開閉接点部
Ｓ、引き外し電磁石Ｄ等を含む。
接続されたサイリスタ回路、１０はサイリスタ回路７に
線路側の電圧を整流して供給する整流回路、Ｂ１、Ｂ２
は整流回路１０の交流側に接続された漏電テスト回路端
子である。電気的な開閉手段となるサイリスタ回路７
は、上記ホトカプラ１６の出力側１６ｂに接続された第
１段目のサイリスタＣＲ２と、このサイリスタＣＲ２の
ゲート・カソード間に接続された抵抗Ｒ２４と、上記サ
イリスタＣＲ２のアノードにカソードが接続された第２
段目のサイリスタＣＲ１と、このサイリスタＣＲ１のゲ
ート・カソード間に接続された抵抗Ｒ２３と、整流回路
１０の直流側の、サイリスタＣＲ１のアノードとゲート
間に接続された抵抗Ｒ２１と、サイリスタＣＲ１のゲー
トとサイリスタＣＲ２のカソード間に接続された抵抗Ｒ
２２よりなる。抵抗Ｒ２１と抵抗Ｒ２２は、線路側の電
圧を分圧する分圧抵抗である。１１は図１で説明した漏
電遮断器で、漏電検出回路１３、変流器Ｃ、開閉接点部
Ｓ、引き外し電磁石Ｄ等を含む。
【００１５】上記構成において、遠隔テストスイッチＨ
を閉じることによって、外部の制御電源１４からの交流
または直流の電圧Ｖ１を遠隔テスト装置の入力端子Ｊ
１、Ｊ２に印加する。この電圧が交流の場合は整流回路
２によって直流に変換され、直流の場合はそのまま定電
流回路３に通電される。直流に変換された電圧は、定電
流回路３により、ある一定の値にされ、電流がホトカプ
ラ入力側１６ａに流れる。ホトカプラ入力側１６ａに電
流が流れると、ホトカプラ出力側１６ｂが導通する。
を閉じることによって、外部の制御電源１４からの交流
または直流の電圧Ｖ１を遠隔テスト装置の入力端子Ｊ
１、Ｊ２に印加する。この電圧が交流の場合は整流回路
２によって直流に変換され、直流の場合はそのまま定電
流回路３に通電される。直流に変換された電圧は、定電
流回路３により、ある一定の値にされ、電流がホトカプ
ラ入力側１６ａに流れる。ホトカプラ入力側１６ａに電
流が流れると、ホトカプラ出力側１６ｂが導通する。
【００１６】漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２間の電圧
は、整流回路１０によって直流に変換され、分圧抵抗Ｒ
２１、Ｒ２２を介してサイリスタＣＲ１、ＣＲ２のゲー
ト電圧を供給している。ホトカプラ出力側１６ｂが導通
すると、ホトカプラ出力側１６ｂ、抵抗Ｒ２１を介し
て、サイリスタＣＲ２のゲート・カソード間に電流が流
れ、サイリスタＣＲ２のアノード・カソード間が導通す
る。サイリスタＣＲ２が導通すると、サイリスタＣＲ１
のゲート・カソード間に電流が流れ、サイリスタＣＲ１
のアノード・カソード間が導通し、漏電遮断器１１の漏
電テストスイッチＧを押して閉じた状態と同じように、
漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２が短絡された状態とな
り、漏電遮断器１１が漏電時の動作をする。
は、整流回路１０によって直流に変換され、分圧抵抗Ｒ
２１、Ｒ２２を介してサイリスタＣＲ１、ＣＲ２のゲー
ト電圧を供給している。ホトカプラ出力側１６ｂが導通
すると、ホトカプラ出力側１６ｂ、抵抗Ｒ２１を介し
て、サイリスタＣＲ２のゲート・カソード間に電流が流
れ、サイリスタＣＲ２のアノード・カソード間が導通す
る。サイリスタＣＲ２が導通すると、サイリスタＣＲ１
のゲート・カソード間に電流が流れ、サイリスタＣＲ１
のアノード・カソード間が導通し、漏電遮断器１１の漏
電テストスイッチＧを押して閉じた状態と同じように、
漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２が短絡された状態とな
り、漏電遮断器１１が漏電時の動作をする。
【００１７】上記構成における遠隔テスト装置のサイリ
スタ回路は、漏電遮断器の漏電テスト回路の端子を開閉
するサイリスタを２個直列に接続し、各サイリスタに並
列に分圧抵抗を接続して、片方のサイリスタに電圧が片
寄らないようにしているため、耐圧の低い、小形で安価
なサイリスタが使用できる。
スタ回路は、漏電遮断器の漏電テスト回路の端子を開閉
するサイリスタを２個直列に接続し、各サイリスタに並
列に分圧抵抗を接続して、片方のサイリスタに電圧が片
寄らないようにしているため、耐圧の低い、小形で安価
なサイリスタが使用できる。
【００１８】実施の形態２．実施の形態１に係る図１に
示す回路では、ホトカプラ出力側１６ｂが導通していな
いときは、整流回路１０から抵抗Ｒ２１、Ｒ２２に例え
ば１ｍＡの電流が常時流れる場合がある。このため、漏
電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２を介して漏電遮断器１１に
例えば１ｍＡの電流が常時流れ、漏電遮断器１１の感度
に影響する。実施の形態２は、漏電テスト回路端子Ｂ
１、Ｂ２を介して漏電遮断器１１に流れる電流を少なく
でき、遠隔テスト装置取り付けによる漏電遮断器１１の
感度への影響を少なくするようにしたものである。
示す回路では、ホトカプラ出力側１６ｂが導通していな
いときは、整流回路１０から抵抗Ｒ２１、Ｒ２２に例え
ば１ｍＡの電流が常時流れる場合がある。このため、漏
電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２を介して漏電遮断器１１に
例えば１ｍＡの電流が常時流れ、漏電遮断器１１の感度
に影響する。実施の形態２は、漏電テスト回路端子Ｂ
１、Ｂ２を介して漏電遮断器１１に流れる電流を少なく
でき、遠隔テスト装置取り付けによる漏電遮断器１１の
感度への影響を少なくするようにしたものである。
【００１９】図２において、７は上記ホトカプラ１６の
出力側１６ｂに接続されたサイリスタ回路である。電気
的な開閉手段となるサイリスタ回路７は、ホトカプラ１
６の出力側１６ｂに接続されたサイリスタＣＲ２と、こ
のサイリスタＣＲ２のゲート・カソード間に接続された
抵抗Ｒ２４と、上記サイリスタＣＲ２のアノードにカソ
ードが接続されたサイリスタＣＲ１と、このサイリスタ
ＣＲ１のゲート・カソード間に接続された抵抗Ｒ２３
と、整流回路１０の直流側に、サイリスタＣＲ１のアノ
ードとともに接続された抵抗Ｒ２１と、これに直列にサ
イリスタＣＲ２のカソードと接続された抵抗Ｒ２２と、
サイリスタＣＲ１のアノードに接続された抵抗Ｒ２５
と、抵抗Ｒ２１と抵抗２２の接続部にベースが接続さ
れ、抵抗Ｒ２５にコレクタが接続されたトランジスタＱ
１と、トランジスタＱ１のベース・エミツタ間に接続さ
れた抵抗Ｒ２６よりなる。なお、その他の構成は図１と
同様なので説明を省略する。
出力側１６ｂに接続されたサイリスタ回路である。電気
的な開閉手段となるサイリスタ回路７は、ホトカプラ１
６の出力側１６ｂに接続されたサイリスタＣＲ２と、こ
のサイリスタＣＲ２のゲート・カソード間に接続された
抵抗Ｒ２４と、上記サイリスタＣＲ２のアノードにカソ
ードが接続されたサイリスタＣＲ１と、このサイリスタ
ＣＲ１のゲート・カソード間に接続された抵抗Ｒ２３
と、整流回路１０の直流側に、サイリスタＣＲ１のアノ
ードとともに接続された抵抗Ｒ２１と、これに直列にサ
イリスタＣＲ２のカソードと接続された抵抗Ｒ２２と、
サイリスタＣＲ１のアノードに接続された抵抗Ｒ２５
と、抵抗Ｒ２１と抵抗２２の接続部にベースが接続さ
れ、抵抗Ｒ２５にコレクタが接続されたトランジスタＱ
１と、トランジスタＱ１のベース・エミツタ間に接続さ
れた抵抗Ｒ２６よりなる。なお、その他の構成は図１と
同様なので説明を省略する。
【００２０】漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２間の電圧
は、整流回路１０によって直流に変換され、分圧抵抗Ｒ
２１、Ｒ２２を介してサイリスタＣＲ１、ＣＲ２のゲー
ト電圧を供給している。ホトカプラ出力側１６ｂが導通
していないときは、整流回路１０を介して抵抗Ｒ２１、
Ｒ２２に常時電流が流れるが、この電流は漏電遮断器１
１の感度に影響しない程度の電流、例えば１００μＡの
値になるよう抵抗Ｒ２１、Ｒ２２が高抵抗になされてい
る。ホトカプラ出力側１６ｂが導通すると、トランジス
タＱ１のベース・エミツタ間に電流が流れ、Ｑ１のコレ
クタ・エミツタ間が導通する。トランジスタＱ１が導通
すると、ホトカプラ出力側１６ｂ、トランジスタＱ１の
コレクタ・エミツタ間、抵抗Ｒ２５を介して、第１段目
のサイリスタＣＲ２のゲート・カソード間に電流が流
れ、このサイリスタＣＲ２のアノード・カソード間が導
通する。サイリスタＣＲ２が導通すると、第２段目のサ
イリスタＣＲ１のゲート・カソード間に電流が流れ、こ
のサイリスタＣＲ１のアノード・カソード間が導通し、
漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２が短絡された状態とな
り、漏電遮断器１１が漏電時の動作をする。
は、整流回路１０によって直流に変換され、分圧抵抗Ｒ
２１、Ｒ２２を介してサイリスタＣＲ１、ＣＲ２のゲー
ト電圧を供給している。ホトカプラ出力側１６ｂが導通
していないときは、整流回路１０を介して抵抗Ｒ２１、
Ｒ２２に常時電流が流れるが、この電流は漏電遮断器１
１の感度に影響しない程度の電流、例えば１００μＡの
値になるよう抵抗Ｒ２１、Ｒ２２が高抵抗になされてい
る。ホトカプラ出力側１６ｂが導通すると、トランジス
タＱ１のベース・エミツタ間に電流が流れ、Ｑ１のコレ
クタ・エミツタ間が導通する。トランジスタＱ１が導通
すると、ホトカプラ出力側１６ｂ、トランジスタＱ１の
コレクタ・エミツタ間、抵抗Ｒ２５を介して、第１段目
のサイリスタＣＲ２のゲート・カソード間に電流が流
れ、このサイリスタＣＲ２のアノード・カソード間が導
通する。サイリスタＣＲ２が導通すると、第２段目のサ
イリスタＣＲ１のゲート・カソード間に電流が流れ、こ
のサイリスタＣＲ１のアノード・カソード間が導通し、
漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２が短絡された状態とな
り、漏電遮断器１１が漏電時の動作をする。
【００２１】従って、実施の形態１において、サイリス
タに並列に接続した分圧抵抗に常時流れ、感度に影響を
及ぼしていた電流は、分圧抵抗に並列にトランジスタを
接続することにより分圧抵抗値を大きくすることができ
るため、より小さくできる。このため、漏電遮断器の感
度への影響を少なくできる。
タに並列に接続した分圧抵抗に常時流れ、感度に影響を
及ぼしていた電流は、分圧抵抗に並列にトランジスタを
接続することにより分圧抵抗値を大きくすることができ
るため、より小さくできる。このため、漏電遮断器の感
度への影響を少なくできる。
【００２２】実施の形態３．図２のような、サイリスタ
ＣＲ１、ＣＲ２のゲートに電流を供給するための、トラ
ンジスタＱ１を、実施の形態３のように、Ｎチヤンネル
電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）とすることで、トラン
ジスタＱ１部に発生する漏れ電流を一層少なくすること
ができ、漏電遮断器１１の感度への影響をさらに少なく
することができる。
ＣＲ１、ＣＲ２のゲートに電流を供給するための、トラ
ンジスタＱ１を、実施の形態３のように、Ｎチヤンネル
電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）とすることで、トラン
ジスタＱ１部に発生する漏れ電流を一層少なくすること
ができ、漏電遮断器１１の感度への影響をさらに少なく
することができる。
【００２３】図３はこの発明の実施の形態３に係る遠隔
テスト装置付き漏電遮断器の回路図である。図３におい
て、７は上記ホトカプラ１６の出力側１６ｂに接続され
たサイリスタ回路である。電気的な開閉手段となるサイ
リスタ回路７は、ホトカプラ１６の出力側１６ｂに接続
されたサイリスタＣＲ２と、このサイリスタＣＲ２のゲ
ート・カソード間に接続された抵抗Ｒ２４と、上記サイ
リスタＣＲ２のアノードにカソードが接続されたサイリ
スタＣＲ１と、このサイリスタＣＲ１のゲート・カソー
ド間に接続された抵抗Ｒ２３と、整流回路１０の直流側
に、サイリスタＣＲ１のアノードとともに接続された抵
抗Ｒ２１と、これに直列にサイリスタＣＲ２のカソード
と接続された抵抗Ｒ２２と、サイリスタＣＲ１のアノー
ドに接続された抵抗Ｒ２５と、抵抗Ｒ２１と抵抗Ｒ２２
の接続部にゲートが接続され、抵抗Ｒ２５にドレインが
接続されたＮチャンネル電界効果トランジスタ（ＦＥ
Ｔ）Ｑ１０と、このＮチャンネルＦＥＴＱ１０のベース
・エミツタ間に接続された抵抗Ｒ２６よりなる。なお、
その他の構成は図１と同様なので説明を省略する。
テスト装置付き漏電遮断器の回路図である。図３におい
て、７は上記ホトカプラ１６の出力側１６ｂに接続され
たサイリスタ回路である。電気的な開閉手段となるサイ
リスタ回路７は、ホトカプラ１６の出力側１６ｂに接続
されたサイリスタＣＲ２と、このサイリスタＣＲ２のゲ
ート・カソード間に接続された抵抗Ｒ２４と、上記サイ
リスタＣＲ２のアノードにカソードが接続されたサイリ
スタＣＲ１と、このサイリスタＣＲ１のゲート・カソー
ド間に接続された抵抗Ｒ２３と、整流回路１０の直流側
に、サイリスタＣＲ１のアノードとともに接続された抵
抗Ｒ２１と、これに直列にサイリスタＣＲ２のカソード
と接続された抵抗Ｒ２２と、サイリスタＣＲ１のアノー
ドに接続された抵抗Ｒ２５と、抵抗Ｒ２１と抵抗Ｒ２２
の接続部にゲートが接続され、抵抗Ｒ２５にドレインが
接続されたＮチャンネル電界効果トランジスタ（ＦＥ
Ｔ）Ｑ１０と、このＮチャンネルＦＥＴＱ１０のベース
・エミツタ間に接続された抵抗Ｒ２６よりなる。なお、
その他の構成は図１と同様なので説明を省略する。
【００２４】上記構成において、漏電テスト回路端子Ｂ
１、Ｂ２間の電圧は、整流回路１０によって直流に変換
され、分圧抵抗Ｒ２１、Ｒ２２を介してサイリスタＣＲ
１、ＣＲ２のゲート電圧を供給している。ホトカプラ出
力側１６ｂが導通していないときは、整流回路１０を介
して抵抗Ｒ２１、Ｒ２２に漏電遮断器１１の感度に影響
しない程度の電流、例えば１００μＡの電流が常時流れ
る。ホトカプラ出力側１６ｂが導通すると、抵抗Ｒ２６
に電流が流れ、ＮチャンネルＦＥＴＱ１０のゲート・ソ
ース間に電位差を生じる。ＮチャンネルＦＥＴＱ１０の
ゲート・ソース間に電位差を生じるとＦＥＴＱ１０のド
レイン・ソース間が導通する。ＮチャンネルＦＥＴＱ１
０が導通すると、ホトカプラ出力側１６ｂ、Ｎチャンネ
ルＦＥＴＱ１０、抵抗Ｒ２５を介して、第１段目のサイ
リスタＣＲ２のゲート・カソード間に電流が流れ、この
サイリスタＣＲ２のアノード・カソード間が導通する。
サイリスタＣＲ２が導通すると、第２段目のサイリスタ
ＣＲ１のゲート・カソード間に電流が流れ、このサイリ
スタＣＲ１のアノード・カソード間が導通し、漏電遮断
器１１の漏電テストスイッチＧを押して閉じた状態と同
じように、漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２が短絡された
状態となり、漏電遮断器１１が漏電時の動作をする。
１、Ｂ２間の電圧は、整流回路１０によって直流に変換
され、分圧抵抗Ｒ２１、Ｒ２２を介してサイリスタＣＲ
１、ＣＲ２のゲート電圧を供給している。ホトカプラ出
力側１６ｂが導通していないときは、整流回路１０を介
して抵抗Ｒ２１、Ｒ２２に漏電遮断器１１の感度に影響
しない程度の電流、例えば１００μＡの電流が常時流れ
る。ホトカプラ出力側１６ｂが導通すると、抵抗Ｒ２６
に電流が流れ、ＮチャンネルＦＥＴＱ１０のゲート・ソ
ース間に電位差を生じる。ＮチャンネルＦＥＴＱ１０の
ゲート・ソース間に電位差を生じるとＦＥＴＱ１０のド
レイン・ソース間が導通する。ＮチャンネルＦＥＴＱ１
０が導通すると、ホトカプラ出力側１６ｂ、Ｎチャンネ
ルＦＥＴＱ１０、抵抗Ｒ２５を介して、第１段目のサイ
リスタＣＲ２のゲート・カソード間に電流が流れ、この
サイリスタＣＲ２のアノード・カソード間が導通する。
サイリスタＣＲ２が導通すると、第２段目のサイリスタ
ＣＲ１のゲート・カソード間に電流が流れ、このサイリ
スタＣＲ１のアノード・カソード間が導通し、漏電遮断
器１１の漏電テストスイッチＧを押して閉じた状態と同
じように、漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２が短絡された
状態となり、漏電遮断器１１が漏電時の動作をする。
【００２５】実施の形態４．図１のように、耐圧の低い
サイリスタ２個を直列接続した場合、サージ等によりサ
イリスタの耐圧の限界を超える高電圧が発生したとき、
サイリスタが破損する場合がある。実施の形態４はこれ
に対処する実施の形態である。
サイリスタ２個を直列接続した場合、サージ等によりサ
イリスタの耐圧の限界を超える高電圧が発生したとき、
サイリスタが破損する場合がある。実施の形態４はこれ
に対処する実施の形態である。
【００２６】図４は実施の形態４の漏電遮断器の遠隔テ
スト装置の回路図である。図のサイリスタ回路７におい
て、ＡＢ１は抵抗Ｒ２１に並列に接続されたサージアブ
ゾーバ、ＡＢ２は抵抗Ｒ２２に並列に接続されたサージ
アブゾーバである。その他の構成は、図３と同様なので
説明を省略する。サージアブゾーバＡＢ１、ＡＢ２によ
り、漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２間に発生するサージ
等による高電圧からサイリスタＣＲ１、ＣＲ２を保護で
きる。なお、サイリスタ回路７におけるサージアブゾー
バＡＢ１、ＡＢ２の接続は、それぞれ抵抗Ｒ２１、Ｒ２
２に並列接続されていれば、他の構成は図１、図２に示
すようなサイリスタ回路７の構成であってもよい。
スト装置の回路図である。図のサイリスタ回路７におい
て、ＡＢ１は抵抗Ｒ２１に並列に接続されたサージアブ
ゾーバ、ＡＢ２は抵抗Ｒ２２に並列に接続されたサージ
アブゾーバである。その他の構成は、図３と同様なので
説明を省略する。サージアブゾーバＡＢ１、ＡＢ２によ
り、漏電テスト回路端子Ｂ１、Ｂ２間に発生するサージ
等による高電圧からサイリスタＣＲ１、ＣＲ２を保護で
きる。なお、サイリスタ回路７におけるサージアブゾー
バＡＢ１、ＡＢ２の接続は、それぞれ抵抗Ｒ２１、Ｒ２
２に並列接続されていれば、他の構成は図１、図２に示
すようなサイリスタ回路７の構成であってもよい。
【００２７】実施の形態５．図５に示す実施の形態５で
は、サイリスタ回路７のサイリスタＣＲ２のゲートに接
続されたホトカプラ１６の出力側１６ｂに、サージ等に
よる電圧保護用として、抵抗Ｒ２７及びサージアブゾー
バＡＢ３を接続している。その他の構成は、図４と同様
なので説明を省略する。図５のような回路構成では、抵
抗Ｒ２７、サージアブゾーバＡＢ３により、サージ発生
時にホトカプラ出力側１６ｂにかかる電圧をサージアブ
ゾーバＡＢ２に加わる電圧よりも低く抑えることができ
る。このため、ホトカプラ１６としてサイリスタＣＲ２
の耐圧よりも低い耐圧のものが使用できる。
は、サイリスタ回路７のサイリスタＣＲ２のゲートに接
続されたホトカプラ１６の出力側１６ｂに、サージ等に
よる電圧保護用として、抵抗Ｒ２７及びサージアブゾー
バＡＢ３を接続している。その他の構成は、図４と同様
なので説明を省略する。図５のような回路構成では、抵
抗Ｒ２７、サージアブゾーバＡＢ３により、サージ発生
時にホトカプラ出力側１６ｂにかかる電圧をサージアブ
ゾーバＡＢ２に加わる電圧よりも低く抑えることができ
る。このため、ホトカプラ１６としてサイリスタＣＲ２
の耐圧よりも低い耐圧のものが使用できる。
【図１】 この発明の実施の形態１に係る漏電遮断器の
遠隔テスト装置を示す回路図である。
遠隔テスト装置を示す回路図である。
【図２】 この発明の実施の形態２に係る漏電遮断器の
遠隔テスト装置を示す回路図である。
遠隔テスト装置を示す回路図である。
【図３】 この発明の実施の形態３に係る漏電遮断器の
遠隔テスト装置を示す回路図である。
遠隔テスト装置を示す回路図である。
【図４】 この発明の実施の形態４に係る漏電遮断器の
遠隔テスト装置を示す回路図である。
遠隔テスト装置を示す回路図である。
【図５】 この発明の実施の形態５に係る漏電遮断器
の遠隔テスト装置を示す回路図である。
の遠隔テスト装置を示す回路図である。
【図６】 従来の漏電遮断器の遠隔テスト装置を示す回
路図である。
路図である。
Ｂ１、Ｂ２ 漏電テスト回路端子、Ｈ 遠隔テストスイ
ッチ、Ｒ２１、Ｒ２２、Ｒ２３、Ｒ２４、Ｒ２５、Ｒ２
６ 抵抗、Ｑ１ トランジスタ、Ｑ１０ 電界効果トラ
ンジスタ、ＡＢ１、ＡＢ２、ＡＢ３ サージアブゾー
バ、ＣＲ１、ＣＲ２ サイリスタ、２ 整流回路、３
定電流回路、７ サイリスタ回路、１０整流回路、１１
漏電遮断器、１３ 漏電検出回路、 １４ 制御電
源、１６ ホトカプラ。
ッチ、Ｒ２１、Ｒ２２、Ｒ２３、Ｒ２４、Ｒ２５、Ｒ２
６ 抵抗、Ｑ１ トランジスタ、Ｑ１０ 電界効果トラ
ンジスタ、ＡＢ１、ＡＢ２、ＡＢ３ サージアブゾー
バ、ＣＲ１、ＣＲ２ サイリスタ、２ 整流回路、３
定電流回路、７ サイリスタ回路、１０整流回路、１１
漏電遮断器、１３ 漏電検出回路、 １４ 制御電
源、１６ ホトカプラ。
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(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
H02H 3/16
H02H 3/33 - 3/347
Claims (7)
- 【請求項１】 零相変流器により線路電流の漏電等によ
るアンバランスを検出して上記線路を遮断させる引き外
し信号を出力する漏電検出回路、複数個直列に接続され
たサイリスタを導通させて上記線路の疑似漏電状態を作
り上記漏電検出回路から引き外し信号を出力させる電気
的開閉手段、上記電気的開閉手段を制御する遠隔テスト
スイッチ、及び上記遠隔テストスイッチと上記電気的開
閉手段とを電気的に絶縁して結合し、上記遠隔テストス
イッチの操作により上記サイリスタを導通させるホトカ
プラを備えたことを特徴とする漏電遮断器の遠隔テスト
装置。 - 【請求項２】 直列接続された複数個のサイリスタは、
線路側からの電圧が分圧抵抗を介してそれぞれのゲート
に供給されていることを特徴とする請求項１記載の漏電
遮断器の遠隔テスト装置。 - 【請求項３】 直列接続された複数個のサイリスタの
内、１段目のサイリスタの導通により２段目以降のサイ
リスタ用の分圧抵抗に分流回路を形成させるようにした
ことを特徴とする請求項２記載の漏電遮断器の遠隔テス
ト装置。 - 【請求項４】 分流回路はトランジスタにより形成され
ることを特徴とする請求項３記載の漏電遮断器の遠隔テ
スト装置。 - 【請求項５】 分流回路は電界効果トランジスタにより
形成されることを特徴とする請求項３記載の漏電遮断器
の遠隔テスト装置。 - 【請求項６】 各分圧抵抗と並列にサージアブゾーバを
接続したことを特徴とする請求項２乃至請求項５のいず
れか一項記載の漏電遮断器の遠隔テスト装置。 - 【請求項７】 ホトカプラの出力側にサージアブゾーバ
を接続したことを特徴とする請求項１乃至請求項６のい
ずれか一項記載の漏電遮断器の遠隔テスト装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02755096A JP3361927B2 (ja) | 1996-02-15 | 1996-02-15 | 漏電遮断器の遠隔テスト装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02755096A JP3361927B2 (ja) | 1996-02-15 | 1996-02-15 | 漏電遮断器の遠隔テスト装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09219924A JPH09219924A (ja) | 1997-08-19 |
| JP3361927B2 true JP3361927B2 (ja) | 2003-01-07 |
Family
ID=12224185
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02755096A Expired - Fee Related JP3361927B2 (ja) | 1996-02-15 | 1996-02-15 | 漏電遮断器の遠隔テスト装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3361927B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105470160B (zh) * | 2015-11-19 | 2018-06-08 | 中冶南方工程技术有限公司 | 一种高压晶闸管触发板测试平台 |
| CN115951207B (zh) * | 2022-12-24 | 2023-08-01 | 北京市科通电子继电器总厂有限公司 | 一种固体继电器的测试电路及*** |
-
1996
- 1996-02-15 JP JP02755096A patent/JP3361927B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09219924A (ja) | 1997-08-19 |
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