JP3354878B2 - 残留塩素濃度測定装置 - Google Patents
残留塩素濃度測定装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、浴場、プール、浄
水場、その他の貯水槽に貯水され、或いは貯水されるこ
となく使用される水、湯或いはその他の水溶液に含まれ
る残留塩素の濃度を測定するための残留塩素濃度測定装
置に関する。
水場、その他の貯水槽に貯水され、或いは貯水されるこ
となく使用される水、湯或いはその他の水溶液に含まれ
る残留塩素の濃度を測定するための残留塩素濃度測定装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えばプールにおいては、病原菌等の繁
殖を防止するために、塩素を適当に投入する等して殺菌
処理が行われている。また最近においては、業務用の比
較的大きな浴槽設備等においても、多数の人が使用する
ことから、浴槽水に雑菌が繁殖しないように塩素処理を
施すことが行われつつある。そして上記プールや浴槽等
においては、雑菌の繁殖に対して残留塩素が経時的に消
費されてゆくことから、水や温水の残留塩素濃度が一定
濃度を下回って消毒・滅菌効果が損なわれないようにす
るため、また一方で、必要以上に濃い残留塩素濃度とな
って好ましくない影響を及ぼさないようにするために、
上記水や湯の残留塩素の濃度を、適当な時間タイミング
で検出する等してチェックし、残留塩素が不足している
場合には次亜塩素酸ナトリウム等による塩素分の補給を
行い、また残留塩素濃度が過多とならないようにして、
浴場やプールを衛生的に且つ健全なものに保持できるよ
うにした滅菌システムが採用される傾向が高まってい
る。
殖を防止するために、塩素を適当に投入する等して殺菌
処理が行われている。また最近においては、業務用の比
較的大きな浴槽設備等においても、多数の人が使用する
ことから、浴槽水に雑菌が繁殖しないように塩素処理を
施すことが行われつつある。そして上記プールや浴槽等
においては、雑菌の繁殖に対して残留塩素が経時的に消
費されてゆくことから、水や温水の残留塩素濃度が一定
濃度を下回って消毒・滅菌効果が損なわれないようにす
るため、また一方で、必要以上に濃い残留塩素濃度とな
って好ましくない影響を及ぼさないようにするために、
上記水や湯の残留塩素の濃度を、適当な時間タイミング
で検出する等してチェックし、残留塩素が不足している
場合には次亜塩素酸ナトリウム等による塩素分の補給を
行い、また残留塩素濃度が過多とならないようにして、
浴場やプールを衛生的に且つ健全なものに保持できるよ
うにした滅菌システムが採用される傾向が高まってい
る。
【０００３】ところで、上記塩素の投入は、例えば次亜
塩素酸ナトリウムを投入して行うが、この次亜塩素酸ナ
トリウムの投入により、水中において次亜塩素酸（ＨＣ
ｌＯ）が生じ、更にこの次亜塩素酸は次亜塩素酸イオン
（ＣｌＯ- ）と平衡する。そしてこの次亜塩素酸と次亜
塩素酸イオンとが遊離残留塩素を構成して、雑菌の殺菌
に寄与している。一方、前記浴槽やプール等を人が使用
すると、水にアンモニアやアンモニア誘導体等が存在す
ることになるが、これによって前記次亜塩素酸（次亜塩
素酸イオン）が前記アンモニアやアンモニア誘導体と反
応し、ｐＨ値に応じてモノクロラミン（ＮＨ2 Ｃｌ）、
ジクロラミン（ＮＨＣｌ2 ）、トリクロラミン（ＮＣｌ
3）を生じる。これらのモノクロラミン、ジクロラミ
ン、トリクロラミンは結合残留塩素として、やはり雑菌
の殺菌に寄与する。残留塩素は前記遊離残留塩素と結合
残留塩素とからなり、それらが残留塩素として水に繁殖
しようとする雑菌の殺菌の役割をになうのである。
塩素酸ナトリウムを投入して行うが、この次亜塩素酸ナ
トリウムの投入により、水中において次亜塩素酸（ＨＣ
ｌＯ）が生じ、更にこの次亜塩素酸は次亜塩素酸イオン
（ＣｌＯ- ）と平衡する。そしてこの次亜塩素酸と次亜
塩素酸イオンとが遊離残留塩素を構成して、雑菌の殺菌
に寄与している。一方、前記浴槽やプール等を人が使用
すると、水にアンモニアやアンモニア誘導体等が存在す
ることになるが、これによって前記次亜塩素酸（次亜塩
素酸イオン）が前記アンモニアやアンモニア誘導体と反
応し、ｐＨ値に応じてモノクロラミン（ＮＨ2 Ｃｌ）、
ジクロラミン（ＮＨＣｌ2 ）、トリクロラミン（ＮＣｌ
3）を生じる。これらのモノクロラミン、ジクロラミ
ン、トリクロラミンは結合残留塩素として、やはり雑菌
の殺菌に寄与する。残留塩素は前記遊離残留塩素と結合
残留塩素とからなり、それらが残留塩素として水に繁殖
しようとする雑菌の殺菌の役割をになうのである。
【０００４】従って、水に存在する残留塩素の濃度を測
定することは、その水が雑菌の殺菌に関して好ましい状
態にあるか否かを判定するために非常に重要であり、こ
れによって不足分の補充も正確に行うことが可能とな
る。
定することは、その水が雑菌の殺菌に関して好ましい状
態にあるか否かを判定するために非常に重要であり、こ
れによって不足分の補充も正確に行うことが可能とな
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記残留塩
素を構成する遊離残留塩素と結合残留塩素とでは、その
殺菌能力において、遊離残留塩素の方が大きく、結合残
留塩素は前記遊離残留塩素よりも１桁程度その殺菌効果
が落ちることから、遊離残留塩素と結合残留塩素との和
としての残留塩素の濃度を単純に測定した場合において
は、同じ残留塩素濃度であっても、結合残留塩素が大半
であるような場合には、殺菌能力があまり期待できない
という問題があった。また結合残留塩素濃度の大小に左
右されて、同じ残留塩素濃度であっても殺菌能力が変動
するという問題があった。従来における残留塩素濃度の
測定においては、上記結合残留塩素濃度の大小がそのま
ま残留塩素濃度の大小に反映されたかたちで残留塩素濃
度を測定することとなっていたため、水に含まれる残留
塩素による殺菌能力の実際の程度が、結合残留塩素濃度
の程度に左右される結果、十分には把握できないものと
なっていた。
素を構成する遊離残留塩素と結合残留塩素とでは、その
殺菌能力において、遊離残留塩素の方が大きく、結合残
留塩素は前記遊離残留塩素よりも１桁程度その殺菌効果
が落ちることから、遊離残留塩素と結合残留塩素との和
としての残留塩素の濃度を単純に測定した場合において
は、同じ残留塩素濃度であっても、結合残留塩素が大半
であるような場合には、殺菌能力があまり期待できない
という問題があった。また結合残留塩素濃度の大小に左
右されて、同じ残留塩素濃度であっても殺菌能力が変動
するという問題があった。従来における残留塩素濃度の
測定においては、上記結合残留塩素濃度の大小がそのま
ま残留塩素濃度の大小に反映されたかたちで残留塩素濃
度を測定することとなっていたため、水に含まれる残留
塩素による殺菌能力の実際の程度が、結合残留塩素濃度
の程度に左右される結果、十分には把握できないものと
なっていた。
【０００６】そこで、本発明は、上記従来の残留塩素濃
度測定装置における問題点を解消し、残留塩素濃度の測
定において、結合残留塩素の濃度の影響を減じ、遊離残
留塩素の濃度をより密接に反映した状態での残留塩素濃
度を測定することができ、これによってその水が保有す
る殺菌効果の程度をより正確に反映した状態での残留塩
素の濃度を測定することができる残留塩素濃度測定装置
の提供を課題としている。
度測定装置における問題点を解消し、残留塩素濃度の測
定において、結合残留塩素の濃度の影響を減じ、遊離残
留塩素の濃度をより密接に反映した状態での残留塩素濃
度を測定することができ、これによってその水が保有す
る殺菌効果の程度をより正確に反映した状態での残留塩
素の濃度を測定することができる残留塩素濃度測定装置
の提供を課題としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を達成するた
め、本発明の残留塩素濃度測定装置は、少なくとも一対
の正負電極を有し、正負電極間に電圧を印加することで
検水を電気分解した際に流れる電流値を検出し、この電
流値から検水に含まれる残留塩素の濃度を測定する装置
であって、前記一対の正負電極間に加える印加電圧を８
８３mV以上９０３mV以下の範囲にある一定電圧に構成し
ていることを特徴としている。
め、本発明の残留塩素濃度測定装置は、少なくとも一対
の正負電極を有し、正負電極間に電圧を印加することで
検水を電気分解した際に流れる電流値を検出し、この電
流値から検水に含まれる残留塩素の濃度を測定する装置
であって、前記一対の正負電極間に加える印加電圧を８
８３mV以上９０３mV以下の範囲にある一定電圧に構成し
ていることを特徴としている。
【０００８】本発明の上記特徴によれば、検水中に配置
された残留塩素濃度測定装置の正負電極間に加える一定
の印加電圧を８８３mV以上９０３mV以下の範囲の電圧と
することで、検水中における遊離残留塩素濃度を密接に
反映した濃度として残留塩素濃度を測定することができ
る。即ち、例え結合残留塩素の濃度が増加した場合で
も、その結合残留塩素濃度の増加を増加として検出する
ことなく、一方、結合残留塩素に対して殺菌能力が大き
い遊離残留塩素の濃度の変化を十分に反映したかたちで
残留塩素濃度が測定せられる。従って、水が現に保有す
る殺菌能力の程度をより正確に知ることができ、よって
必要な塩素分を適切に補充等しすることが可能となり、
浴槽やプール等の水を適切な殺菌能力を保有した、安定
した状態に管理することが可能となる。印加電圧が８８
３mV未満、或いは９０３mVを越えると、結合残留塩素濃
度等が測定濃度に反映されやすくなり、遊離残留塩素濃
度を密接に反映した測定値を得ることができなくなる。
された残留塩素濃度測定装置の正負電極間に加える一定
の印加電圧を８８３mV以上９０３mV以下の範囲の電圧と
することで、検水中における遊離残留塩素濃度を密接に
反映した濃度として残留塩素濃度を測定することができ
る。即ち、例え結合残留塩素の濃度が増加した場合で
も、その結合残留塩素濃度の増加を増加として検出する
ことなく、一方、結合残留塩素に対して殺菌能力が大き
い遊離残留塩素の濃度の変化を十分に反映したかたちで
残留塩素濃度が測定せられる。従って、水が現に保有す
る殺菌能力の程度をより正確に知ることができ、よって
必要な塩素分を適切に補充等しすることが可能となり、
浴槽やプール等の水を適切な殺菌能力を保有した、安定
した状態に管理することが可能となる。印加電圧が８８
３mV未満、或いは９０３mVを越えると、結合残留塩素濃
度等が測定濃度に反映されやすくなり、遊離残留塩素濃
度を密接に反映した測定値を得ることができなくなる。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態による
残留塩素濃度測定装置について、図面を参照して説明す
る。図１は本発明の実施の形態例に係る残留塩素濃度測
定装置を浴槽設備に適用した例を示すシステム構成図、
図２は図１に示す残留塩素濃度測定装置の全体構成図、
図３は残留塩素濃度測定装置の要部を示す構成図、図４
は残留塩素濃度測定装置の一対の正負電極間に８９３mV
の印加電圧を加えた場合における、実際の遊離残留塩素
濃度と実際の結合残留塩素濃度と本発明の装置で測定し
た残留塩素濃度との関係を示す図、図５は残留塩素濃度
測定装置の一対の正負電極間に８９３mVの印加電圧を加
えた場合における、ｐＨの変動と検出遊離残留塩素測定
値との関係を示す図、図６は残留塩素濃度測定装置の一
対の正負電極間に８９３mVの印加電圧を加えた場合にお
ける、導電率の変動と検出遊離残留塩素測定値との関係
を示す図である。
残留塩素濃度測定装置について、図面を参照して説明す
る。図１は本発明の実施の形態例に係る残留塩素濃度測
定装置を浴槽設備に適用した例を示すシステム構成図、
図２は図１に示す残留塩素濃度測定装置の全体構成図、
図３は残留塩素濃度測定装置の要部を示す構成図、図４
は残留塩素濃度測定装置の一対の正負電極間に８９３mV
の印加電圧を加えた場合における、実際の遊離残留塩素
濃度と実際の結合残留塩素濃度と本発明の装置で測定し
た残留塩素濃度との関係を示す図、図５は残留塩素濃度
測定装置の一対の正負電極間に８９３mVの印加電圧を加
えた場合における、ｐＨの変動と検出遊離残留塩素測定
値との関係を示す図、図６は残留塩素濃度測定装置の一
対の正負電極間に８９３mVの印加電圧を加えた場合にお
ける、導電率の変動と検出遊離残留塩素測定値との関係
を示す図である。
【００１０】まず図１について説明すると、浴槽２０か
らの水（湯）は主循環路Ａを通って、一旦バランシング
タンク２１内に貯留された後、ヘアーキャッチャー２２
で毛髪等の異物が取り除かれ、オゾナイザー２３でオゾ
ン処理され、循環ポンプ２４で濾過器２５内に送り込ま
れる。不純物等が濾過された水は熱交換器２６で加熱さ
れた後、再び浴槽２０内へリサイクルされる。濾過器２
５からの一部の水はサンプリング用、即ち検水として検
出用循環路Ｂ側に取り出され、残留塩素濃度測定装置１
によって電気分解され、電流値として検出される。検出
された電流値は、検出信号としてコントローラ４０に入
力され、残留塩素濃度として換算される。コントローラ
４０は、検出した残留塩素濃度が一定の基準濃度を下回
っていれば、次亜塩素酸ナトリウムタンク２７から所定
量の薬剤を注入ポンプ２８によって主循環路Ａに注入さ
せ、適当な残留塩素濃度になるように濃度補正するよう
制御する。このように上記残留塩素濃度測定装置１は、
いわゆるインライン方式による検水の残留塩素の濃度測
定が行えるので、節水効果がある。
らの水（湯）は主循環路Ａを通って、一旦バランシング
タンク２１内に貯留された後、ヘアーキャッチャー２２
で毛髪等の異物が取り除かれ、オゾナイザー２３でオゾ
ン処理され、循環ポンプ２４で濾過器２５内に送り込ま
れる。不純物等が濾過された水は熱交換器２６で加熱さ
れた後、再び浴槽２０内へリサイクルされる。濾過器２
５からの一部の水はサンプリング用、即ち検水として検
出用循環路Ｂ側に取り出され、残留塩素濃度測定装置１
によって電気分解され、電流値として検出される。検出
された電流値は、検出信号としてコントローラ４０に入
力され、残留塩素濃度として換算される。コントローラ
４０は、検出した残留塩素濃度が一定の基準濃度を下回
っていれば、次亜塩素酸ナトリウムタンク２７から所定
量の薬剤を注入ポンプ２８によって主循環路Ａに注入さ
せ、適当な残留塩素濃度になるように濃度補正するよう
制御する。このように上記残留塩素濃度測定装置１は、
いわゆるインライン方式による検水の残留塩素の濃度測
定が行えるので、節水効果がある。
【００１１】図２を参照して、残留塩素濃度測定装置１
は、濃度検出室２、電極部３、不要水逃がし路４、検水
導入手段５、合流室６等からなる。前記濃度検出室２内
には、洗浄用の多数のガラス製等からなる小さなビーズ
７が保有せられている。該濃度検出室２内に導入せられ
た水が検水として電気分解され、残留塩素濃度が測定さ
れる。前記電極部３は、図３も参照して、ホルダ３１の
先端に正電極３２と負電極３３とからなる一対の電気分
解用電極が、その表面を前記ホルダ３１の先端面に対し
て面一状態となるように構成されている。前記一対の電
極３２、３３は、例えば白金電極として構成され、ガラ
ス体３４、３４に埋め込まれて前記ホルダ３１に取り付
けられている。３５はＯリングである。前記一対の正負
電極３２、３３に対してはリード線３６が接続され、こ
れが電源３７及び電流計３８に接続されている。前記電
源３７は前記一対の正負電極３２、３３に対して一定の
直流印加電圧を加えるためのものである。また前記電流
計３８は電気分解電流を検出するためのものである。前
記検水導入手段５は、水受け入れ口５ａと、該水受け入
れ口５ａから分岐され、取り入れた水の一部を検水用と
して導き入れるための分岐通路５ｂと、該分岐通路５ｂ
からの水を濃度検出室２に導入する導入口５ｃを有す
る。水受け入れ口５ａから入った水のうち不要な水は不
要水逃がし路４に流れ、合流室６で前記濃度検出室２か
らの排水と合流して、下流に流れ、検出用循環路Ｂに戻
り、更に主循環路Ａに戻る。前記合流室６にはネット体
６ａが設けられており、前記濃度検出室２内のビーズ７
が下流方向に流出するのを予防している。またネット体
６ａは不要水逃がし路４から合流室６に流入する水の流
れを整流し、これにより合流室６での流入水の乱れによ
って前記濃度検出室２で検出される残留塩素濃度の精度
に悪影響がでるのを防止している。
は、濃度検出室２、電極部３、不要水逃がし路４、検水
導入手段５、合流室６等からなる。前記濃度検出室２内
には、洗浄用の多数のガラス製等からなる小さなビーズ
７が保有せられている。該濃度検出室２内に導入せられ
た水が検水として電気分解され、残留塩素濃度が測定さ
れる。前記電極部３は、図３も参照して、ホルダ３１の
先端に正電極３２と負電極３３とからなる一対の電気分
解用電極が、その表面を前記ホルダ３１の先端面に対し
て面一状態となるように構成されている。前記一対の電
極３２、３３は、例えば白金電極として構成され、ガラ
ス体３４、３４に埋め込まれて前記ホルダ３１に取り付
けられている。３５はＯリングである。前記一対の正負
電極３２、３３に対してはリード線３６が接続され、こ
れが電源３７及び電流計３８に接続されている。前記電
源３７は前記一対の正負電極３２、３３に対して一定の
直流印加電圧を加えるためのものである。また前記電流
計３８は電気分解電流を検出するためのものである。前
記検水導入手段５は、水受け入れ口５ａと、該水受け入
れ口５ａから分岐され、取り入れた水の一部を検水用と
して導き入れるための分岐通路５ｂと、該分岐通路５ｂ
からの水を濃度検出室２に導入する導入口５ｃを有す
る。水受け入れ口５ａから入った水のうち不要な水は不
要水逃がし路４に流れ、合流室６で前記濃度検出室２か
らの排水と合流して、下流に流れ、検出用循環路Ｂに戻
り、更に主循環路Ａに戻る。前記合流室６にはネット体
６ａが設けられており、前記濃度検出室２内のビーズ７
が下流方向に流出するのを予防している。またネット体
６ａは不要水逃がし路４から合流室６に流入する水の流
れを整流し、これにより合流室６での流入水の乱れによ
って前記濃度検出室２で検出される残留塩素濃度の精度
に悪影響がでるのを防止している。
【００１２】前記分岐通路５ｂの導入口５ｃは、前記濃
度検出室２を構成する短筒体の筒部２ａに接続開口させ
ており、しかも導入口５ｃから濃度検出室２内に導入さ
れる検水の流れが、前記正負電極３２、３３の電極面に
対して、斜め方向（例えば３０度）で、且つ筒部２ａに
対しては、略接線方向になるように構成している。
度検出室２を構成する短筒体の筒部２ａに接続開口させ
ており、しかも導入口５ｃから濃度検出室２内に導入さ
れる検水の流れが、前記正負電極３２、３３の電極面に
対して、斜め方向（例えば３０度）で、且つ筒部２ａに
対しては、略接線方向になるように構成している。
【００１３】しかして、水受け入れ口５ａからの水の一
部が検水用として分岐通路５ｂから導入口５ｃを介して
濃度検出室２内に導入せられ、旋回流を構成しながら正
負電極３２、３３に対して斜め方向から当たる。例えば
検水は、上記分岐通路５ｂから濃度検出室２内に６００
cc／分の流量で吐出される。濃度検出室２に流入した検
水は正負電極３２、３３で電気分解され、この際の電流
値が電流計３８で検出され、これがコントローラ４０に
入力され、残留塩素濃度として換算される。
部が検水用として分岐通路５ｂから導入口５ｃを介して
濃度検出室２内に導入せられ、旋回流を構成しながら正
負電極３２、３３に対して斜め方向から当たる。例えば
検水は、上記分岐通路５ｂから濃度検出室２内に６００
cc／分の流量で吐出される。濃度検出室２に流入した検
水は正負電極３２、３３で電気分解され、この際の電流
値が電流計３８で検出され、これがコントローラ４０に
入力され、残留塩素濃度として換算される。
【００１４】本発明の残留塩素濃度測定装置１において
は、前記電源３７によって前記一対の正負電極３２、３
３に加えられる直流印加電圧を８８３〜９０３mVの範囲
内での一定電圧としている。このような電圧範囲内での
一定印加電圧を加えることにより、検水中に含まれる結
合残留塩素の濃度の影響を余り受けることなく、遊離残
留塩素の濃度の大小に密接に関係した値としての残留塩
素濃度を測定することができることを、本願発明者は知
見した。結合残留塩素の濃度に余り影響を受けずに遊離
残留塩素の濃度を十分に反映した残留塩素濃度を測定で
きるということは、同じ残留塩素であっても、殺菌能力
の大きい遊離残留塩素の濃度をより反映させることで、
浴槽等の水に求められる必要で且つ十分な殺菌能力をよ
り適切に維持し、管理することができるということを意
味する。
は、前記電源３７によって前記一対の正負電極３２、３
３に加えられる直流印加電圧を８８３〜９０３mVの範囲
内での一定電圧としている。このような電圧範囲内での
一定印加電圧を加えることにより、検水中に含まれる結
合残留塩素の濃度の影響を余り受けることなく、遊離残
留塩素の濃度の大小に密接に関係した値としての残留塩
素濃度を測定することができることを、本願発明者は知
見した。結合残留塩素の濃度に余り影響を受けずに遊離
残留塩素の濃度を十分に反映した残留塩素濃度を測定で
きるということは、同じ残留塩素であっても、殺菌能力
の大きい遊離残留塩素の濃度をより反映させることで、
浴槽等の水に求められる必要で且つ十分な殺菌能力をよ
り適切に維持し、管理することができるということを意
味する。
【００１５】図４は、検水中にアンモニア水を加えてい
くことで検水中の結合残留塩素濃度を増加させていく場
合、及び検水中に次亜塩素酸ナトリウムを加えていくこ
とで検水中の遊離残留塩素濃度を増加させていく場合に
おいて、検水中に含まれる実際の遊離結合残留塩素濃度
値、実際の遊離残留塩素濃度値、実際の全残留塩素濃度
値、及び本装置によって実際に測定した残留塩素濃度値
とを示したものである。図４に示す例の場合、正負電極
に加える直流印加電圧は、前記範囲８８３〜９０３mVの
中の中心値である、８９３mVとした。尚、検水のｐＨは
７．５に調整している。図４から明らかなように、本発
明の装置により測定された残留塩素濃度値は、結合残留
塩素濃度の影響を余り受けずに、遊離残留塩素濃度に密
接に相関しており、その増減と共に増減する値となって
いる。
くことで検水中の結合残留塩素濃度を増加させていく場
合、及び検水中に次亜塩素酸ナトリウムを加えていくこ
とで検水中の遊離残留塩素濃度を増加させていく場合に
おいて、検水中に含まれる実際の遊離結合残留塩素濃度
値、実際の遊離残留塩素濃度値、実際の全残留塩素濃度
値、及び本装置によって実際に測定した残留塩素濃度値
とを示したものである。図４に示す例の場合、正負電極
に加える直流印加電圧は、前記範囲８８３〜９０３mVの
中の中心値である、８９３mVとした。尚、検水のｐＨは
７．５に調整している。図４から明らかなように、本発
明の装置により測定された残留塩素濃度値は、結合残留
塩素濃度の影響を余り受けずに、遊離残留塩素濃度に密
接に相関しており、その増減と共に増減する値となって
いる。
【００１６】本発明の装置においては、正負電極３２、
３３に加える直流印加電圧を８８３〜９０３mVとするこ
とで、測定値に及ぼす検水のｐＨの影響を僅かに抑制す
ることができる。図５は、遊離残留塩素濃度をそれぞれ
０．６３ppm 、１．００ppm 、１．５０ppm に調整した
検水に対して、印加電圧を８８３〜９０３mVの範囲内の
値である８９３mVにして測定した場合と、８８３〜９０
３mVの範囲外の値である８６８mVにして測定した場合と
における、ｐＨの変化に伴う測定値の変動を示す図であ
る。尚、測定条件は、検水の温度が２９℃、検水の導電
率が４００μS ／cm、検水の流量が３００ml／min であ
る。
３３に加える直流印加電圧を８８３〜９０３mVとするこ
とで、測定値に及ぼす検水のｐＨの影響を僅かに抑制す
ることができる。図５は、遊離残留塩素濃度をそれぞれ
０．６３ppm 、１．００ppm 、１．５０ppm に調整した
検水に対して、印加電圧を８８３〜９０３mVの範囲内の
値である８９３mVにして測定した場合と、８８３〜９０
３mVの範囲外の値である８６８mVにして測定した場合と
における、ｐＨの変化に伴う測定値の変動を示す図であ
る。尚、測定条件は、検水の温度が２９℃、検水の導電
率が４００μS ／cm、検水の流量が３００ml／min であ
る。
【００１７】図５から明らかなように、本発明の装置に
より、８９３mVの印加電圧を用いて測定する場合には、
ｐＨの変化に対して、あまり影響を受けることなく安定
した測定値を得ることができる。一方、８８３〜９０３
mVの範囲を越えた８６８mVの印加電圧の場合にはｐＨの
影響を大きく受けることから、ｐＨの変動に対して安定
した測定値を得ることができない。浴槽水等において
は、長期の使用により水のｐＨが６．８〜８．０程度で
変動する。従って、前記８６８mVの印加電圧を用いて浴
槽水の残留塩素濃度を測定する場合には、ｐＨの影響に
よって安定した値を得ることができなくなる。しかし、
本発明の印加電圧の範囲で測定する場合には、浴槽水で
あっても、ｐＨの変動に左右されることなく安定した正
確な測定値を得ることができる。
より、８９３mVの印加電圧を用いて測定する場合には、
ｐＨの変化に対して、あまり影響を受けることなく安定
した測定値を得ることができる。一方、８８３〜９０３
mVの範囲を越えた８６８mVの印加電圧の場合にはｐＨの
影響を大きく受けることから、ｐＨの変動に対して安定
した測定値を得ることができない。浴槽水等において
は、長期の使用により水のｐＨが６．８〜８．０程度で
変動する。従って、前記８６８mVの印加電圧を用いて浴
槽水の残留塩素濃度を測定する場合には、ｐＨの影響に
よって安定した値を得ることができなくなる。しかし、
本発明の印加電圧の範囲で測定する場合には、浴槽水で
あっても、ｐＨの変動に左右されることなく安定した正
確な測定値を得ることができる。
【００１８】図６は、遊離残留塩素濃度を１．００ppm
に調整した検水に対して、印加電圧を本発明における８
８３〜９０３mVの範囲内の値である８９３mVにして測定
した場合と、従来装置における８８３〜９０３mVの範囲
外の値である８６０mVにして測定した場合とにおける、
検水の導電率の変化に伴う測定値の変動を示す図であ
る。一般に通常の水道水は導電率が１００〜２００μS
／cm（マイクロシーメンス／センチメートル）で、浴槽
では使用によって導電率が１０００μS ／cm位まで上昇
するので、導電率が測定値に及ぼす影響も考慮しておく
必要がある。
に調整した検水に対して、印加電圧を本発明における８
８３〜９０３mVの範囲内の値である８９３mVにして測定
した場合と、従来装置における８８３〜９０３mVの範囲
外の値である８６０mVにして測定した場合とにおける、
検水の導電率の変化に伴う測定値の変動を示す図であ
る。一般に通常の水道水は導電率が１００〜２００μS
／cm（マイクロシーメンス／センチメートル）で、浴槽
では使用によって導電率が１０００μS ／cm位まで上昇
するので、導電率が測定値に及ぼす影響も考慮しておく
必要がある。
【００１９】図６から明らかなように、本発明の装置に
より、８９３mVの印加電圧を用いて測定する場合には、
導電率変化に対して、あまり影響を受けることなく安定
した測定値を得ることができる。一方、従来の装置によ
り、８８３〜９０３mVの範囲を越えた８６０mVの印加電
圧を用いた場合には導電率の影響を受けることから、導
電率変動に対して安定した測定値を得ることができな
い。浴槽水等においては、使用により導電率が１０００
μS ／cm程度まで上昇することから、上記８６０mVの印
加電圧を用いて浴槽水の残留塩素濃度を測定する場合に
は、導電率の影響によって安定した値を得ることができ
なくなる。しかし、本発明の印加電圧の範囲で測定する
場合には、浴槽水であっても、導電率の変動に左右され
ることなく安定した正確な測定値を得ることができる。
より、８９３mVの印加電圧を用いて測定する場合には、
導電率変化に対して、あまり影響を受けることなく安定
した測定値を得ることができる。一方、従来の装置によ
り、８８３〜９０３mVの範囲を越えた８６０mVの印加電
圧を用いた場合には導電率の影響を受けることから、導
電率変動に対して安定した測定値を得ることができな
い。浴槽水等においては、使用により導電率が１０００
μS ／cm程度まで上昇することから、上記８６０mVの印
加電圧を用いて浴槽水の残留塩素濃度を測定する場合に
は、導電率の影響によって安定した値を得ることができ
なくなる。しかし、本発明の印加電圧の範囲で測定する
場合には、浴槽水であっても、導電率の変動に左右され
ることなく安定した正確な測定値を得ることができる。
【００２０】
【発明の効果】本発明は以上のように構成され、請求項
１に記載の残留塩素濃度測定装置によれば、少なくとも
一対の正負電極を有し、正負電極間に電圧を印加するこ
とで検水を電気分解した際に流れる電流値を検出し、こ
の電流値から検水に含まれる残留塩素の濃度を測定する
装置であって、前記一対の正負電極間に加える印加電圧
を８８３mV以上９０３mV以下の範囲にある一定電圧に構
成しているので、残留塩素濃度の測定において、結合残
留塩素の濃度の影響を減じ、遊離残留塩素の濃度をより
密接に反映した状態での残留塩素濃度を測定することが
できる。よってその水に真に必要で且つ十分なる殺菌能
力に対して、必要な塩素を補充することで、浴槽やプー
ル等の水を適切な殺菌能力を保有した、安定した状態に
管理することも可能となる。
１に記載の残留塩素濃度測定装置によれば、少なくとも
一対の正負電極を有し、正負電極間に電圧を印加するこ
とで検水を電気分解した際に流れる電流値を検出し、こ
の電流値から検水に含まれる残留塩素の濃度を測定する
装置であって、前記一対の正負電極間に加える印加電圧
を８８３mV以上９０３mV以下の範囲にある一定電圧に構
成しているので、残留塩素濃度の測定において、結合残
留塩素の濃度の影響を減じ、遊離残留塩素の濃度をより
密接に反映した状態での残留塩素濃度を測定することが
できる。よってその水に真に必要で且つ十分なる殺菌能
力に対して、必要な塩素を補充することで、浴槽やプー
ル等の水を適切な殺菌能力を保有した、安定した状態に
管理することも可能となる。
【図１】本発明の実施の形態例に係る残留塩素濃度測定
装置を浴槽設備に適用した例を示すシステム構成図であ
る。
装置を浴槽設備に適用した例を示すシステム構成図であ
る。
【図２】図１に示す残留塩素濃度測定装置の全体構成図
である。
である。
【図３】残留塩素濃度測定装置の要部を示す構成図であ
る。
る。
【図４】残留塩素濃度測定装置の一対の正負電極間に８
９３mVの印加電圧を加えた場合における、実際の遊離残
留塩素濃度と実際の結合残留塩素濃度と本発明の装置で
測定した残留塩素濃度との関係を示す図である。
９３mVの印加電圧を加えた場合における、実際の遊離残
留塩素濃度と実際の結合残留塩素濃度と本発明の装置で
測定した残留塩素濃度との関係を示す図である。
【図５】残留塩素濃度測定装置の一対の正負電極間に８
９３mVの印加電圧を加えた場合における、ｐＨの変動と
検出遊離残留塩素測定値との関係を示す図である。
９３mVの印加電圧を加えた場合における、ｐＨの変動と
検出遊離残留塩素測定値との関係を示す図である。
【図６】残留塩素濃度測定装置の一対の正負電極間に８
９３mVの印加電圧を加えた場合における、導電率変動と
検出遊離残留塩素測定値との関係を示す図である。
９３mVの印加電圧を加えた場合における、導電率変動と
検出遊離残留塩素測定値との関係を示す図である。
１ 残留塩素濃度測定装置 ２ 濃度検出室 ３ 電極部 ４ 不要水逃がし路 ５ａ 水受け入れ口 ５ｂ 分岐通路 ５ｃ 導入口 ６ 合流室 ７ ビーズ ２０ 浴槽 ３１ ホルダー ３２ 正電極 ３３ 負電極 ３７ 電源 ３８ 電流計 ４０ コントローラ Ａ 主循環路 Ｂ 検出用循環路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山元 良浩 大阪府大阪市中央区南船場２−４−８ 株式会社タクミナ内 (56)参考文献 特開 平８−313481（ＪＰ，Ａ) 特開 平10−82761（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−178699（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−278282（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−4159（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−88356（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−55455（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 27/416
Claims (1)
- 【請求項１】 少なくとも一対の正負電極を有し、正負
電極間に電圧を印加することで検水を電気分解した際に
流れる電流値を検出し、この電流値から検水に含まれる
残留塩素の濃度を測定する装置であって、前記一対の正
負電極間に加える印加電圧を８８３mV以上９０３mV以下
の範囲にある一定電圧に構成していることを特徴とする
残留塩素濃度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25758098A JP3354878B2 (ja) | 1998-08-26 | 1998-08-26 | 残留塩素濃度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25758098A JP3354878B2 (ja) | 1998-08-26 | 1998-08-26 | 残留塩素濃度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000074877A JP2000074877A (ja) | 2000-03-14 |
| JP3354878B2 true JP3354878B2 (ja) | 2002-12-09 |
Family
ID=17308250
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25758098A Expired - Fee Related JP3354878B2 (ja) | 1998-08-26 | 1998-08-26 | 残留塩素濃度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3354878B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
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|---|---|---|---|---|
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| JP7093005B2 (ja) * | 2018-06-29 | 2022-06-29 | 東亜ディーケーケー株式会社 | 無試薬式全有効塩素測定装置とその校正方法および無試薬式全有効塩素測定方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0610663B2 (ja) * | 1986-08-26 | 1994-02-09 | 横河電機株式会社 | 残留塩素測定方法 |
| JPS6488356A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-03 | Yokogawa Electric Corp | Method for measuring residual chlorine |
| JPH034159A (ja) * | 1989-05-31 | 1991-01-10 | Yokogawa Electric Corp | 残留塩素測定方法 |
| JPH08278282A (ja) * | 1995-04-04 | 1996-10-22 | Dkk Corp | 遊離塩素測定装置 |
| JP3469962B2 (ja) * | 1995-05-17 | 2003-11-25 | 東亜ディーケーケー株式会社 | 遊離塩素測定装置 |
| JP3654694B2 (ja) * | 1995-12-28 | 2005-06-02 | 株式会社クボタ | 残留塩素測定方法および残留塩素計 |
| JP3361237B2 (ja) * | 1996-09-05 | 2003-01-07 | 株式会社メルス技研 | 残留塩素測定方法及び装置並びに残留塩素検出プローブ |
-
1998
- 1998-08-26 JP JP25758098A patent/JP3354878B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000074877A (ja) | 2000-03-14 |
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