JP3345496B2 - 電子部品の位置検出方法 - Google Patents
電子部品の位置検出方法Info
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Description
置の視野に納めて位置検出を行う位置検出方法に係り、
特に、電子部品の全体を1つの視野に納めることができ
ないものの位置検出方法に関する。
されたIC部品等の電子部品を基板上に装着する場合、
当該電子部品を吸着する吸着ノズルに中心と、電子部品
の中心とを一致させて、電子部品を吸着ノズルによって
吸着保持することが望ましいが、実際には電子部品が吸
着ノズルの中心と同心状に吸着されるのは希であるた
め、電子部品の装着時には、電子部品を吸着ノズルで吸
着した状態でその吸着位置を検出し、この検出に基づい
て装着位置の補正を行って、電子部品を基板上に正確に
装着している。
として、従来、特開平1ー274281号公報に記載の
位置検出方法が提供されている。この位置検出方法は、
電子部品の第1の角部を画像認識装置の視野に納めて第
1の特定箇所の位置を検出し、次に前記視野を移動して
第1の角部と隣り合う第2の角部を視野に納めて第2の
特定箇所の位置を検出し、さらに前記視野を移動して前
記第1の角部と対角線上に位置する第3の角部を視野に
納めて第3の特定箇所の位置を検出し、上記第1と第2
の特定箇所の検出位置から電子部品における第1の点の
位置を特定し、上記第2と第3の特定箇所の検出位置か
ら前記第1の点とは電子部品の中心に対して対称位置に
ある第2の点の位置を特定し、これら第1と第2の点の
中点の座標を演算して電子部品の中心位置を検出する方
法である。
を用いて、対角線上の2つの点の位置検出を行い、この
2つの点の中点を求めて、電子部品の中心位置を検出す
ることにより、精度の高い位置検出を可能にし、かつデ
ータ処理を容易にするものである。
位置検出方法では、3つの角部を画像認識装置の視野に
納めて、この3つの角部からの位置情報を用いて電子部
品の中心位置を求めるため、画像認識装置のカメラを3
つの角部に移動させる必要がある。一方、電子部品の装
着は、迅速かつ正確に行うことが要求され、装着時間が
電子部品のコストに影響を与えるため、装着時間を短く
するためにも、電子部品の中心位置をなるべく速く検出
する必要がある。このため、前記のようにカメラを3つ
の角部に移動させるのでは、中心位置の検出に時間がか
かるとともに、3つの角部からの位置情報から中心位置
を求めるため演算速度が遅くなり、結局のところ電子部
品の中心位置の検出の処理時間が長くなるという問題が
あった。
あり、電子部品の中心位置の検出を迅速かつ正確に行う
ことができる電子部品の位置検出方法を提供することを
目的としている。
に、本発明の請求項1の電子部品の位置検出方法は、前
記電子部品の第1の角部を画像認識装置の視野に納めて
第1画像を取り込み、前記視野を移動して前記第1の角
部と電子部品の中心に対して対称な位置にある第2の角
部を視野に納めて前記第1画像を基準とする第2画像を
取り込み、次いで、前記第1画像における第1の角部か
ら一方の方向に並設された多数のピンの所定の位置を通
る第1直線を求めるとともに、前記第1の角部から他方
の方向に並設された多数のピンの所定の位置を通る第2
直線を求め、また、前記第2画像における第2の角部か
ら一方向に並設された多数のピンの所定の位置を通る第
3直線を求めるとともに、前記第2の角部から他方の方
向に並設された第4直線を求め、次いで、前記第1直線
および第3直線から等しい距離にある第1中央線を求め
るとともに、前記第2直線および第4直線から等しい距
離にある第2中央線を求め、これら第1および第2中央
線の交点を求めて、前記電子部品の中心位置を検出する
ことを特徴としている。
第1画像、第2画像として取り込まれた、対角線上にあ
る2つの角部に並設されている多数のピンの所定の位置
を通る第1〜第4の直線を求め、第1と第3直線の間を
通る第1中央線と、第2と第3直線の間を通る第2中央
線との交点を電子部品の中心として、検出するので、2
回の画像入力で電子部品の中心の位置を検出することが
でき、これによって、電子部品の中心を短時間でかつ正
確に求める。
実施例を説明する。まず、図1に示すように、電子部品
1の第1の角部2を画像装置の視野Sに納めて、図2に
示すような第1画像G1を取り込み、次いで、視野Sを
電子部品1の対角線上を移動して、第1角部2と電子部
品1の中心に対して対称な位置にある第2の角部3を視
野Sに納めて、図3に示すような第2画像G2を取り込
む。この場合、第1画像G1を基準位置として第2画像
G2を取り込むために、画像装置のカメラ(視野S)を
X方向、Y方向に移動させて第2画像G2を取る。そし
て、座標変換して第1画像G1と連続している仮想空間
を生成し、この仮想空間に第2画像G2を取り込む。図
4で説明すれば、ステップS1で前記第1画像G1と第
2画像G2の2画面を入力し、ステップS2でウインド
ウの位置決めを行う。
おいて、認識されている電子部品1の多数のピン(リー
ド)4…のラベル付けを行う。すなわち、第1の角部2
から一方の方向に並設された多数のピン列w1、第1の
角部2から他方の方向に並設された多数のピン列w2に
対して、各ピン4の中心位置をパターン位置座標列 {Xw1i|i=1……n|}、{Yw1i|i=1……n|} {Xw2i|i=1……n|}、{Yw2i|i=1……n|}
とする。
された多数のピン列w3、第2の角部3から他方の方向
に並設された多数のピン列w4に対して、各ピン4の中
心位置をパターン位置座標列 {Xw3i|i=1……n|}、{Yw3i|i=1……n|} {Xw4i|i=1……n|}、{Yw4i|i=1……n|}
とする。
4の重心を計算する。この重心の計算は、例えば、ピン
4の先端の2値化画像において、ピン4の先端を構成す
る複数の画素の中央部を求める。重心の計算式は次のよ
うになる。 x=ΣΣxf(x,y)/(ΣΣf(x,y)) y=ΣΣyf(x,y)/(ΣΣf(x,y)) ただし、f(x,y):0または1の2値化画像であ
る。次に、上記のようにして算出された各ピンの重心を
通る回帰直線を求める。回帰直線の計算式は、以下のよ
うになる。N個のx,yデータ対をX(N)、Y(N)
で表した時、
となり、X軸の切辺、axは、
Syy となり、X軸の切辺、ayは、
の回帰直線を求め、ピン列w1の回帰直線を第1直線
5、ピン列w2の回帰直線を第2直線6、ピン列w3の回
帰直線を第3直線7、ピン列w4の回帰直線を第4直線
8とする(図2および図3参照)。次いで、前記第1直
線5および第3直線7から等しい距離にある第1中央線
10を求めるとともに、前記第2直線6および第4直線
10から等しい距離にある第2中央線11を求め、これ
ら第1および第2中央線10,11の交点を求める。こ
の交点の座標が電子部品1の中心となる。
する傾きと、第2中央線11の検出座標系に対する傾き
とから電子部品の傾きを検出する。すなわち、第1中央
線と第2中央線とは直交しているので、検出座標系のX
軸(またはY軸)に対する第1中央線10の傾きと、検
出座標系のY軸(またはX軸)に対する第2中央線11
の傾きとの平均値を求め、この値を電子部品の傾きとす
る。
ン列w1〜w4についての、ピン(リード)のラベル付
け、各ピンの重心計算、ピンの重心を通る回帰直線を求
める処理について、ピン列w1〜w4に並行処理を施す
ようにして説明したが、実際の処理では、図4に示すよ
うに、ステップS3〜S5でピン列w1の処理を行い、
次いで、ステップS6〜S8でピン列w3の処理を行
い、次に、ステップS9〜11でピン列w2の処理を行
い、次いで、ステップS12〜14でピン列w4の処理
を行い、ステップS15で第1直線5と第3直線7の中
間を通る第1中央線10を求め、ステップS16で第2
直線6と第4直線8の中間を通る第2中央線11を求
め、ステップS17で第1中央線10と第2中央線11
の交点、すなわち電子部品1の中心を求め、ステップ1
8でこれら第1および第2中央線10,11の傾きの平
均を求め、これを電子部品1の傾きとする。
を検出すれば、大型の電子部品でも中心を通る対角線上
の角部の画像を入力するだけで、すなわち2回の画像入
力で、電子部品の中心、およびその傾きを求めることが
できるため、電子部品の中心位置の検出の処理時間を短
くでき、よって電子部品の装着を迅速かつ正確に行うこ
とができる。
明するためのものである。図5に示す電子部品15は、
ピン(リード)16が太く、ローパス、ハイパスフィル
タでリードピッチを抽出し、上記第1実施例で行ったピ
ンのラベル付けは行わず、ピンの重心計算等を行ない、
ピン列の回帰直線(第1直線〜第4直線)を求め、電子
部品15の中心と傾きを求めるものであり、その他は上
記実施例と同様である。
に示すように、ステップS20で第1角部と第2角部の
2画像を入力し、ステップS21でウインドウの位置決
めを行い、ステップS22〜S23でピン列w1の処理
を行い、次いで、ステップS24〜S25でピン列w3
の処理を行い、次に、ステップS26〜27でピン列w
2の処理を行い、次いで、ステップS28〜29でピン
列w4の処理を行い、ステップS30で第1直線5と第
3直線7の中間を通る第1中央線10を求め、ステップ
S31で第2直線6と第4直線8の中間を通る第2中央
線11を求め、ステップS32で第1中央線10と第2
中央線11の交点、すなわち電子部品15の中心を求
め、ステップ33でこれら第1および第2中央線10,
11の傾きの平均を求め、これを電子部品15の傾きと
する。この実施例では、上記第1実施例に比べ、ピンの
ラベル付けの分だけ、電子部品の中心検出時間を短くす
ることができる。
の電子部品の位置検出方法によれば、電子部品の中心を
通る対角線上にある第1の角部および第2の角部を、そ
れぞれ第1画像、第2画像として取り込み、これら角部
に並設されている多数のピンの所定の位置を通る第1〜
第4の直線を求め、第1と第3直線の間を通る第1中央
線と、第2と第3直線の間を通る第2中央線との交点を
電子部品の中心として、検出するようにしたので、大型
の電子部品でも中心を通る対角線上の角部の画像を入力
するだけで、すなわち2回の画像入力で、電子部品の中
心を求めることができるため、電子部品の中心位置の検
出の処理時間を短くでき、よって電子部品の装着を迅速
かつ正確に行うことができる。
説明するためのもので、電子部品を示す平面図である。
説明するためのもので、第1の角部の画像を示す平面図
である。
説明するためのフロー図である。
を説明するためのもので、電子部品を示す平面図であ
る。
を説明するためのフロー図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 電子部品本体の外周部に多数のピンが突
出形成された電子部品の位置検出方法であって、 前記電子部品の第1の角部を画像認識装置の視野に納め
て第1画像を取り込み、前記視野を移動して前記第1の
角部と電子部品の中心に対して対称な位置にある第2の
角部を視野に納めて前記第1画像を基準とする第2画像
を取り込み、 次いで、前記第1画像における第1の角部から一方の方
向に並設された多数のピンの所定の位置を通る第1直線
を求めるとともに、前記第1の角部から他方の方向に並
設された多数のピンの所定の位置を通る第2直線を求
め、 また、前記第2画像における第2の角部から一方向に並
設された多数のピンの所定の位置を通る第3直線を求め
るとともに、前記第2の角部から他方の方向に並設され
た第4直線を求め、 次いで、前記第1直線および第3直線から等しい距離に
ある第1中央線を求めるとともに、前記第2直線および
第4直線から等しい距離にある第2中央線を求め、これ
ら第1および第2中央線の交点を求めて、前記電子部品
の中心位置を検出すること を特徴とする電子部品の位置
検出方法。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP35277393A JP3345496B2 (ja) | 1993-12-29 | 1993-12-29 | 電子部品の位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP35277393A JP3345496B2 (ja) | 1993-12-29 | 1993-12-29 | 電子部品の位置検出方法 |
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JPH07198325A JPH07198325A (ja) | 1995-08-01 |
JP3345496B2 true JP3345496B2 (ja) | 2002-11-18 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP35277393A Expired - Fee Related JP3345496B2 (ja) | 1993-12-29 | 1993-12-29 | 電子部品の位置検出方法 |
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JP (1) | JP3345496B2 (ja) |
-
1993
- 1993-12-29 JP JP35277393A patent/JP3345496B2/ja not_active Expired - Fee Related
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