JP3314568B2 - Protection device for APD measurement circuit - Google Patents
Protection device for APD measurement circuitInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、APD(アバランシ
ェフォトダイオード、以下「APD」という。)測定回
路の保護装置に関し、特に、APDを用いた測定回路に
おいて、APDを異常状態から保護するために使用され
るAPD測定回路の保護装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a protection device for an APD (avalanche photodiode, hereinafter referred to as "APD") measuring circuit, and more particularly, to protecting an APD from an abnormal state in a measuring circuit using the APD. The present invention relates to a protection device for an APD measurement circuit to be used.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来技術によるAPDを用いた測定回路
を図4により説明する。従来のAPD測定回路は、一端
を終端抵抗器3を介して接地したAPD1と、出力電圧
をAPD1の他端に接続した高電圧発生回路2などから
構成される。高電圧発生回路2には可変抵抗器10、抵
抗器11を介して回路電源が接続されており、この可変
抵抗器10を調節することで高電圧発生回路2の出力電
圧が可変な構成となっている。高電圧発生回路2の出力
電圧はAPD1に逆バイアスされている。そして、光入
力によるAPD1からの出力電流を終端抵抗器3を介し
て測定することで、光強度などを測定している。2. Description of the Related Art A measuring circuit using an APD according to the prior art will be described with reference to FIG. The conventional APD measuring circuit includes an APD 1 having one end grounded via a terminating resistor 3, a high voltage generating circuit 2 having an output voltage connected to the other end of the APD 1, and the like. A circuit power supply is connected to the high-voltage generating circuit 2 via a variable resistor 10 and a resistor 11. By adjusting the variable resistor 10, the output voltage of the high-voltage generating circuit 2 becomes variable. ing. The output voltage of the high voltage generation circuit 2 is reverse biased to the APD 1. Then, by measuring the output current from the APD 1 due to the light input via the terminating resistor 3, the light intensity and the like are measured.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のAPD
測定回路では、過大な強度の光入力があった場合、ある
いは高電圧発生回路からのAPDの定格を超える逆バイ
アス電圧がかかった場合などには、APDの出力電流が
過剰になり、このためAPDが破損するという問題があ
った。However, the conventional APD
In the measurement circuit, when there is an optical input with an excessive intensity, or when a reverse bias voltage exceeding the rating of the APD from the high voltage generation circuit is applied, the output current of the APD becomes excessive. There was a problem that was damaged.
【0004】この発明は、容易かつ自動的にAPDの破
損を防ぐAPD測定回路の保護装置を提供することを目
的とする。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a protection device for an APD measuring circuit that easily and automatically prevents the APD from being damaged.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明は、一端が終端抵抗器を介して接地された
APDを有し、APDからの出力電流を終端抵抗器を介
して測定するAPD測定回路において、APDに逆バイ
アス電圧を供給する電圧供給手段と、APDからの出力
電流が所定の値以上になったことを検出する第1の検出
手段と、第1の検出手段の検出出力により動作して上記
の逆バイアス電圧を下げる電圧調整手段とを備える。To achieve this object, the present invention comprises an APD having one end grounded through a terminating resistor, and measuring the output current from the APD through the terminating resistor. In the APD measurement circuit, voltage supply means for supplying a reverse bias voltage to the APD, first detection means for detecting that the output current from the APD has become equal to or more than a predetermined value, and detection output of the first detection means And a voltage adjusting means for lowering the reverse bias voltage.
【0006】電圧供給手段は、例えば、高電圧発生回路
と、高電圧発生回路からの出力電圧を可変とするための
調整電圧を供給する可変抵抗器と、可変抵抗器に第1の
基準スケール電圧を供給する第1の基準スケール電圧供
給回路とを備え、また、電圧調整手段は、例えば、第1
の検出手段の検出出力により動作するスイッチ手段と、
スイッチ手段の動作により可変抵抗器に第1の基準スケ
ール電圧より低い電圧である第2の基準スケール電圧を
供給する第2の基準スケール電圧供給回路とを備える。The voltage supply means includes, for example, a high voltage generation circuit, a variable resistor for supplying an adjustment voltage for varying the output voltage from the high voltage generation circuit, and a first reference scale voltage supplied to the variable resistor. And a first reference scale voltage supply circuit for supplying the first reference scale voltage.
Switch means operated by the detection output of the detection means of
A second reference scale voltage supply circuit for supplying a second reference scale voltage lower than the first reference scale voltage to the variable resistor by an operation of the switch means.
【0007】または、電圧調整手段は、第1の検出手段
の検出出力により動作するスイッチ手段と、スイッチ手
段の動作により逆バイアス電圧を下げる電圧降下回路と
を有し、さらに電圧調整手段が、前記第1の検出手段の
検出出力により動作するスイッチ手段と、前記スイッチ
手段の動作により前記逆バイアス電圧を下げる電圧降下
回路とを有し、前記電圧供給手段が、高電圧発生回路
と、前記高電圧発生回路からの出力電圧を可変とするた
めの調整電圧を供給する可変抵抗器と、前記可変抵抗器
に基準スケール電圧を供給する基準スケール電圧供給回
路とを備える構成とすることもできる。 [0007] Alternatively, the voltage adjusting means includes a switch means which is operated by detecting the output of the first detecting means, and a voltage drop circuit to reduce the reverse bias voltage by operation of the switch means, the further voltage regulating means, wherein Of the first detecting means
Switch means operated by a detection output, and the switch
Voltage drop that lowers the reverse bias voltage by the operation of the means
Circuit, and the voltage supply means includes a high voltage generation circuit.
And the output voltage from the high voltage generation circuit is made variable.
Variable resistor for providing an adjustment voltage for the variable resistor
Supply the reference scale voltage to the reference scale voltage supply circuit
And a road.
【0008】さらに、電圧供給手段からの逆バイアス電
圧が所定の値以下になったことを検知する第2の検出手
段をさらに有し、第2の検出手段の検出出力により電圧
調整手段が不作動となる構成としても良い。Further, the apparatus further comprises second detecting means for detecting that the reverse bias voltage from the voltage supplying means has become equal to or less than a predetermined value, and the voltage adjusting means is disabled by the detection output of the second detecting means. It is good also as composition which becomes.
【0009】[0009]
【作用】この発明のAPD測定回路の保護装置では、過
大な光入力やAPDそのものの異常などが原因でAPD
から定格を超える電流が出力された、つまりAPDから
の出力電流が所定の値以上になった場合には、第1の検
出手段の検出出力により電圧調整手段が動作してAPD
への逆バイアス電圧を速やかにかつ自動的に安全な低い
電圧まで低下させる。このため、APDの破損を自動的
に防止することができる。According to the protection device of the APD measurement circuit of the present invention, the APD measurement circuit is designed to be operated due to excessive light input or abnormality of the APD itself.
When a current exceeding the rated value is output from the APD, that is, when the output current from the APD becomes a predetermined value or more, the voltage adjustment means operates according to the detection output of the first detection means , and the APD
Quickly and automatically reduce the reverse bias voltage to a safe lower voltage. Therefore, it is possible to automatically prevent the APD from being damaged.
【0010】[0010]
【実施例】つぎに、この発明の第1の実施例について、
図1を参照して説明する。図1において、APD測定回
路の保護回路は、一端を終端抵抗器3を介して接地され
たAPD1と、出力電圧をAPD1の他端に接続した高
電圧発生回路2と、APD1の出力電圧が基準電圧4A
以上になったこと(APD1からの異常出力)を検出す
るための比較器4と、高電圧発生回路2からの出力が基
準電圧5A以下になったことを検出するための比較器5
と、比較器4の検出出力を記憶する(異常状態を記憶す
る)ためのフリップフロップ(以下、「FF」とい
う。)6と、可変抵抗器10の一端に通常時の基準スケ
ール電圧を供給する定電圧素子7と抵抗器11と、FF
6の出力で駆動されて後述するように基準スケール電圧
を切替えるスイッチ素子9と、スイッチ素子9により駆
動される発光ダイオード8および高電圧発生回路2から
の出力電圧を可変とする調整電圧を供給する可変抵抗器
10などから構成される。Next, a first embodiment of the present invention will be described.
This will be described with reference to FIG. In FIG. 1, the protection circuit of the APD measurement circuit includes an APD 1 having one end grounded via a terminating resistor 3, a high voltage generation circuit 2 having an output voltage connected to the other end of the APD 1, and an output voltage of the APD 1 as a reference. Voltage 4A
A comparator 4 for detecting the above (abnormal output from the APD 1) and a comparator 5 for detecting that the output from the high voltage generating circuit 2 has become equal to or lower than the reference voltage 5A.
And a flip-flop (hereinafter referred to as “FF”) 6 for storing the detection output of the comparator 4 (for storing an abnormal state), and supplying a normal reference scale voltage to one end of the variable resistor 10. Constant voltage element 7, resistor 11, FF
6, a switching element 9 for switching the reference scale voltage as described later, and an adjustment voltage for varying the output voltage from the light emitting diode 8 and the high voltage generating circuit 2 which are driven by the switching element 9. It comprises a variable resistor 10 and the like.
【0011】ここで、FF6は、本実施例では例えば図
3に示したような構成のものが用いられる。つまり、リ
セット回路部分も含めてトランジスタ31〜33と抵抗
器34〜38によって構成される。そして、例えば、セ
ット入力Sに供給される電圧が電源電圧+Vの1/2よ
り大きくなったときセット状態になるとともに、リセッ
ト入力Rに供給される電圧が電源電圧+Vより約0.7
V低くなったときにリセット状態になるように設定され
る。In this embodiment, the FF 6 has a configuration as shown in FIG. 3, for example. In other words, it includes the transistors 31 to 33 and the resistors 34 to 38 including the reset circuit. For example, when the voltage supplied to the set input S becomes larger than 電源 of the power supply voltage + V, the apparatus enters the set state, and the voltage supplied to the reset input R becomes about 0.7 times less than the power supply voltage + V.
It is set so as to be in a reset state when V becomes low.
【0012】また、発光ダイオード8は、APD1から
の出力電流が一定値以上、つまりAPD1の出力電圧が
基準電圧4A以上になったこと(異常状態にあること)
を示す表示手段を兼ねており、スイッチ素子9がオンの
間は点灯する。なお、本実施例では、スイッチ素子9に
はNPNトランジスタを用いた。The light-emitting diode 8 detects that the output current from the APD 1 is equal to or higher than a predetermined value, that is, the output voltage of the APD 1 is equal to or higher than the reference voltage 4 A (in an abnormal state).
And is lit while the switch element 9 is on. In this example, an NPN transistor was used for the switch element 9.
【0013】この第1の実施例のAPD測定回路の保護
回路では、電源電圧+Vと抵抗器11、並びに定電圧素
子7により、通常測定時の基準スケール電圧が可変抵抗
器10の一端へ供給される。また、可変抵抗器10から
の調整電圧は、可変抵抗器10により上記の基準スケー
ル電圧を適宜分圧することで変化する。そして、高電圧
発生回路2からAPD1への逆バイアス電圧は、可変抵
抗器10から高電圧発生回路2への調整電圧を適宜変化
させることで変化する。In the protection circuit of the APD measurement circuit according to the first embodiment, the reference scale voltage at the time of normal measurement is supplied to one end of the variable resistor 10 by the power supply voltage + V, the resistor 11 and the constant voltage element 7. You. The adjustment voltage from the variable resistor 10 is changed by appropriately dividing the reference scale voltage by the variable resistor 10. Then, the reverse bias voltage from the high voltage generation circuit 2 to the APD 1 changes by appropriately changing the adjustment voltage from the variable resistor 10 to the high voltage generation circuit 2.
【0014】ここで、本実施例においては例えば、通常
測定時の基準スケール電圧を12V、異常時の基準スケ
ール電圧を1.2Vと設定されるが、これらは基準スケ
ール電圧の供給方法、あるいはAPD1の必要とする逆
バイアス電圧などから任意に変更できることは勿論であ
る。ただし、異常時の基準スケール電圧は、高電圧発生
回路2の出力を確実に下げることができるような電圧に
設定することが必要である。In this embodiment, for example, the reference scale voltage for normal measurement is set to 12 V, and the reference scale voltage for abnormal measurement is set to 1.2 V. Needless to say, it can be arbitrarily changed from the required reverse bias voltage or the like. However, it is necessary to set the reference scale voltage at the time of abnormality to a voltage that can surely reduce the output of the high voltage generation circuit 2.
【0015】そして、APD1の出力電圧が基準電圧4
A以上になり、比較器4によってこの異常状態が検出さ
れた場合には、比較器4からFF6のセット入力Sに出
力がされ、この出力によってFF6がセットされて、異
常が起こったことが記憶される。また、FF6がセット
されたことによるFF6からのQ出力により、スイッチ
素子9がオンし、この結果、発光ダイオード8の順方向
電圧によって上記の異常時の基準スケール電圧が供給さ
れる。この発光ダイオード8による基準スケール電圧
は、定電圧素子7によるものよりも低い電圧であり、ま
た高電圧発生回路2に供給された場合において高電圧発
生回路2がAPD1の増倍率が1に近くなるような電圧
しか出力できないような電圧に設定されている。The output voltage of the APD 1 is equal to the reference voltage 4
If the abnormal state is detected by the comparator 4, the output is output from the comparator 4 to the set input S of the FF 6, and the output sets the FF 6, and the fact that the abnormality has occurred is stored. Is done. In addition, the switch element 9 is turned on by the Q output from the FF 6 due to the setting of the FF 6, and as a result, the forward scale voltage of the light emitting diode 8 supplies the reference scale voltage at the time of the abnormality. The reference scale voltage by the light emitting diode 8 is lower than that by the constant voltage element 7, and when supplied to the high voltage generation circuit 2, the multiplication factor of the APD 1 of the high voltage generation circuit 2 becomes close to 1. The voltage is set so that only such a voltage can be output.
【0016】以上のように、第1の実施例では、高電圧
発生回路2の出力を下げたことにより、APDは保護さ
れる。そして、異常となった原因を取り除き、測定を再
開する場合には、FF6をリセットする必要がある。そ
のために、比較器4からの異常検出出力が無く、且つ、
高電圧発生回路2の出力を基準電圧5Aより小さくする
ことが必要となる。また、FF6をリセットした後は、
可変抵抗器10を動かしてAPD1に対する印加電圧を
上げていく。この過程において、印加電圧の上昇に対す
る終端抵抗器3の電圧変化を見ることで、APD異常発
生時におけるAPD1の特性異常の有無について知るこ
とも可能になる。As described above, in the first embodiment, the APD is protected by lowering the output of the high voltage generation circuit 2. Then, when removing the cause of the abnormality and restarting the measurement, the FF 6 needs to be reset. Therefore, there is no abnormality detection output from the comparator 4 and
It is necessary to make the output of the high voltage generation circuit 2 smaller than the reference voltage 5A. After resetting FF6,
The voltage applied to the APD 1 is increased by moving the variable resistor 10. In this process, by observing the voltage change of the terminating resistor 3 with respect to the rise of the applied voltage, it becomes possible to know whether or not the APD 1 has a characteristic abnormality when the APD abnormality occurs.
【0017】つまり、異常発生後は、過大入力光を取り
去る等して異常の原因を取り除いた後、比較器5の基準
電圧5Aの大きさに対応して高電圧発生回路2の入力電
圧を可変抵抗器10により下げることで、APDへの逆
バイアス電圧を安全な低い電圧状態まで戻し、その後に
復帰操作を行って通常の測定が可能な状態へ復帰させる
ようにしている。That is, after the occurrence of an abnormality, the cause of the abnormality is eliminated by removing excessive input light or the like, and then the input voltage of the high voltage generation circuit 2 is varied according to the magnitude of the reference voltage 5A of the comparator 5. By lowering the voltage by the resistor 10, the reverse bias voltage to the APD is returned to a safe low voltage state, and then a return operation is performed to return to a state where normal measurement can be performed.
【0018】なお、本実施例においては、スイッチ素子
9のオンにより通電して発光する発光ダイオード8を設
けたことで異常を作業者等に通知することができるが、
このような通知が不要な場合には発光ダイオード8を省
略して抵抗器11を直接スイッチ素子9に接続する構成
としても良い。また、発光ダイオード8に代えて、例え
ば、ツェナーダイオードなどの定電圧素子、あるいは、
発光ダイオード8の電圧降下に相当する抵抗値を有する
抵抗器等を用いる構成とすることもできる。In this embodiment, although the light emitting diode 8 that emits light when energized by turning on the switch element 9 is provided, an abnormality can be notified to an operator or the like.
If such notification is not necessary, the light emitting diode 8 may be omitted and the resistor 11 may be directly connected to the switch element 9. Further, instead of the light emitting diode 8, for example, a constant voltage element such as a Zener diode, or
A configuration using a resistor or the like having a resistance value corresponding to the voltage drop of the light emitting diode 8 can also be adopted.
【0019】つぎに、第1の実施例の具体的な動作を説
明する。例えば、正常時の基準スケール電圧が12Vの
ときにおける高電圧発生回路2の出力電圧を200Vと
し、また終端抵抗器3を1kΩ、基準電圧4Aを2V、
基準電圧5Aを2Vとする。そして、APD1に対する
印加電圧が160Vのときに何らかの原因によりAPD
1の出力電流が2mAを超える事態が発生したとする。
すると、FF6は比較器4の異常検出出力を得て一瞬で
異常状態を記憶し、これによりスイッチ素子9がオンに
なって基準スケール電圧が正常時の電圧の1/10に下
がる。この結果、APD1に対する印加電圧が16Vに
低下し、また発光ダイオード8が点灯状態になる。Next, a specific operation of the first embodiment will be described. For example, the output voltage of the high voltage generating circuit 2 when the normal reference voltage is 12 V is 200 V, the terminating resistor 3 is 1 kΩ, the reference voltage 4 A is 2 V,
The reference voltage 5A is set to 2V. When the voltage applied to the APD 1 is 160 V, the APD 1
It is assumed that a situation occurs in which the output current of 1 exceeds 2 mA.
Then, the FF 6 obtains the abnormality detection output of the comparator 4 and stores the abnormal state instantaneously, whereby the switch element 9 is turned on, and the reference scale voltage drops to 1/10 of the normal voltage. As a result, the voltage applied to the APD 1 is reduced to 16 V, and the light emitting diode 8 is turned on.
【0020】一方、この異常状態を解除する場合には、
まず異常要因を取り除き、次に可変抵抗器10を動かし
てAPD1に対する印加電圧を2V未満に下げる。印加
電圧が2V未満になったとき、FF6はリセットされ、
スイッチ素子9がオフして発光ダイオード8が消灯す
る。また、高電圧発生回路2への基準スケール電圧が正
常時の電圧である12Vへ復帰する。なお、この状態で
は、可変抵抗器10が上記のように移動しているため、
APD1への印加電圧は160Vではなく20V未満と
なる。この印加電圧は、当然のことであるが、可変抵抗
器10の操作により適宜増減できる。On the other hand, when canceling this abnormal state,
First, the cause of the abnormality is removed, and then the variable resistor 10 is operated to lower the voltage applied to the APD 1 to less than 2V. When the applied voltage becomes less than 2V, FF6 is reset,
The switch element 9 turns off and the light emitting diode 8 turns off. In addition, the reference scale voltage to the high voltage generation circuit 2 returns to 12V which is a normal voltage. In this state, since the variable resistor 10 is moving as described above,
The voltage applied to the APD 1 is not 160 V but less than 20 V. Of course, the applied voltage can be appropriately increased or decreased by operating the variable resistor 10.
【0021】次に、この発明の第2の実施例を説明す
る。図2は第2の実施例のAPD1の保護回路の構成図
である。なお、図2で図1と同じ機能または性能である
構成要素は同じ番号を用いた。対応させて、図2により
説明する。Next, a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 2 is a configuration diagram of a protection circuit of the APD 1 according to the second embodiment. In FIG. 2, components having the same function or performance as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. Corresponding description will be made with reference to FIG.
【0022】第2の実施例は、第1の実施例において、
発光ダイオード8とスイッチ素子9とを抵抗器11では
なくて高電圧発生回路2の出力側に接続した点が異なる
だけで、その他の点は第1の実施例と同じ構成である。The second embodiment is different from the first embodiment in that
The only difference is that the light emitting diode 8 and the switch element 9 are connected not to the resistor 11 but to the output side of the high voltage generation circuit 2, and the other points are the same as those of the first embodiment.
【0023】この第2の実施例では、APD1の出力電
圧が基準電圧4A以上になって比較器4により異常状態
が検出された場合、比較器4からのセット入力Sへの出
力によってFF6がセットされ、異常が記憶される。そ
して、FF6からのQ出力によるスイッチ素子9のオン
によって、発光ダイオード8の順方向電圧降下によって
高電圧発生回路2からAPD1への逆バイアス電圧を安
全な低い電圧まで下がる。In the second embodiment, when the output voltage of the APD 1 becomes higher than the reference voltage 4A and an abnormal state is detected by the comparator 4, the FF 6 is set by the output from the comparator 4 to the set input S. And the abnormality is stored. When the switch element 9 is turned on by the Q output from the FF 6, the reverse bias voltage from the high voltage generation circuit 2 to the APD 1 is reduced to a safe low voltage due to the forward voltage drop of the light emitting diode 8.
【0024】つまり、第2の実施例では、第1の実施例
のように基準スケール電圧を変更するのではなく、高電
圧発生回路2の出力を発光ダイオード8を介して直接下
げるように構成したものである。そして、この構成によ
れば、高電圧発生回路2からの逆バイアス電圧を直接操
作することから、極めて短時間でAPD1を保護するこ
とが可能となる。また、異常発生後の復帰動作は、第1
の実施例と同様であり、異常の原因を取り除いた後に比
較器5の基準電圧5Aの大きさに対応して高電圧発生回
路2の入力電圧を可変抵抗器10により下げる等の操作
を行なう。That is, in the second embodiment, the output of the high voltage generating circuit 2 is directly lowered via the light emitting diode 8 instead of changing the reference scale voltage as in the first embodiment. Things. According to this configuration, since the reverse bias voltage from the high voltage generating circuit 2 is directly operated, the APD 1 can be protected in a very short time. In addition, the return operation after the occurrence of the abnormality
After removing the cause of the abnormality, an operation such as lowering the input voltage of the high voltage generation circuit 2 by the variable resistor 10 in accordance with the magnitude of the reference voltage 5A of the comparator 5 is performed.
【0025】また、第1の実施例と同様に、発光ダイオ
ード8による異常表示が必要ない場合には、発光ダイオ
ード8に代えて、定電圧素子や抵抗器等を用いる構成と
しても良い。Further, similarly to the first embodiment, when it is not necessary to perform the abnormal display by the light emitting diode 8, a configuration using a constant voltage element, a resistor, or the like may be used instead of the light emitting diode 8.
【0026】[0026]
【発明の効果】この発明によれば、APDからの異常出
力を検出した場合にAPDへの逆バイアス電圧を自動的
に安全な値まで低下させることができ、容易かつ自動的
にAPDの破損を防ぐことができる。According to the present invention, when an abnormal output from the APD is detected, the reverse bias voltage to the APD can be automatically reduced to a safe value, and the APD can be easily and automatically damaged. Can be prevented.
【図1】この発明の第1の実施例によるAPD測定回路
の保護装置の構成を示す回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a protection device for an APD measurement circuit according to a first embodiment of the present invention.
【図2】この発明の第2の実施例によるAPD測定回路
の保護装置の構成を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration of a protection device of an APD measurement circuit according to a second embodiment of the present invention.
【図3】この発明の実施例で用いるFFの構成を示す回
路図である。FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration of an FF used in an embodiment of the present invention.
【図4】従来技術によるAPD測定回路の構成を示す回
路図である。FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration of an APD measurement circuit according to the related art.
1 APD(アバランシェフォトダイオード) 2 高電圧発生回路 3 終端抵抗器 4 比較器 5 比較器 6 FF(フリップフロップ) 7 定電圧素子 8 発光ダイオード 9 スイッチ素子 10 可変抵抗器 11 抵抗器 31〜33 トランジスタ 34〜38 抵抗器 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 APD (avalanche photodiode) 2 High voltage generation circuit 3 Terminating resistor 4 Comparator 5 Comparator 6 FF (Flip-flop) 7 Constant voltage element 8 Light emitting diode 9 Switch element 10 Variable resistor 11 Resistor 31-33 Transistor 34 ~ 38 resistor
Claims (3)
たアバランシェフォトダイオード(1)を有し、前記アバ
ランシェフォトダイオード(1)からの出力電流を前記終
端抵抗器(3)を介して測定するAPD測定回路におい
て、 前記アバランシェフォトダイオード(1)に逆バイアス電
圧を供給する電圧供給手段(2,7,10,11)と、 前記アバランシェフォトダイオード(1)からの出力電流
が所定の値以上になったことを検出する第1の検出手段
(4)と、 前記第1の検出手段(4)の検出出力により動作して前記
逆バイアスを下げる電圧調整手段(6,8,9)とを有し、 前記電圧供給手段(2,7,10,11)が、高電圧発生回路(2)
と、前記高電圧発生回路(2)からの出力電圧を可変とす
るための調整電圧を供給する可変抵抗器(10)と、前記可
変抵抗器(10)に第1の基準スケール電圧を供給する第1
の基準スケール電圧供給回路(7,11)とを有し、また、
前記電圧調整手段(6,8,9)が、前記第1の検出手段(4)の
検出出力により動作するスイッチ手段(6 ,9)と、前記ス
イッチ手段(6,9)の動作により前記可変抵抗器(10)に前
記第1の基準スケール電圧より低い電圧である第2の基
準スケール電圧を供給する第2の基準スケール電圧供給
回路(8)とを有してなることを特徴とするAPD測定回
路の保護装置。 An avalanche photodiode (1) having one end grounded via a terminating resistor (3), and an output current from the avalanche photodiode (1) is supplied via the terminating resistor (3). An APD measuring circuit for measuring the voltage by means of a voltage supply means (2, 7, 10, 11) for supplying a reverse bias voltage to the avalanche photodiode (1); First detecting means for detecting that the value has exceeded the threshold
(4) and, said first operating by the detection output of the detecting means (4) has a voltage adjustment means (6, 8, 9) to reduce the reverse bias, the voltage supply means (2,7, 10, 11), but the high-voltage generation circuit (2)
And the output voltage from the high voltage generation circuit (2) is made variable.
A variable resistor (10) for supplying an adjustment voltage for
A first supply of a first reference scale voltage to the variable resistor (10);
And a reference scale voltage supply circuit (7, 11).
The voltage adjusting means (6, 8, 9) is provided by the first detecting means (4).
Switch means (6, 9) operated by the detection output;
The variable resistor (10) is moved forward by the operation of the switch means (6, 9).
A second base having a voltage lower than the first reference scale voltage;
A second reference scale voltage supply for supplying a quasi-scale voltage
APD measurement circuit characterized by comprising a circuit (8).
Road protection device.
たアバランシェフォトダイオード(1)を有し、前記アバ
ランシェフォトダイオード(1)からの出力電流を前記終
端抵抗器(3)を介して測定するAPD測定回路におい
て、 前記アバランシェフォトダイオード(1)に逆バイアス電
圧を供給する電圧供給手段(2,7,10,11)と、 前記アバランシェフォトダイオード(1)からの出力電流
が所定の値以上になったことを検出する第1の検出手段
(4)と、 前記第1の検出手段(4)の検出出力により動作して前記
逆バイアス電圧を下げる電圧調整手段(6,8,9)とを有
し、 前記電圧調整手段(6,8,9)が、前記第1の検出手段(4)の
検出出力により動作するスイッチ手段(6,9)と、前記ス
イッチ手段(6,9)の動作により前記逆バイアス電 圧を下
げる電圧降下回路とを有し、 前記電圧供給手段(2,7,10,11)が、高電圧発生回路(2)
と、前記高電圧発生回路(2)からの出力電圧を可変とす
るための調整電圧を供給する可変抵抗器(10)と、前記可
変抵抗器(10)に基準スケール電圧を供給する基準スケー
ル電圧供給回路(7,11)とを有してなることを特徴とす
るAPD測定回路の保護装置。 2. One end is grounded via a terminating resistor (3).
An avalanche photodiode (1),
The output current from the Lanche photodiode (1) is
In the APD measurement circuit that measures through the end resistor (3)
And a reverse bias voltage is applied to the avalanche photodiode (1).
Voltage supply means (2, 7, 10, 11) for supplying a voltage, and an output current from the avalanche photodiode (1).
Detecting means for detecting that the value has become equal to or greater than a predetermined value
(4) operating by the detection output of the first detection means (4) and
Voltage adjustment means (6, 8, 9) for lowering reverse bias voltage
And the voltage adjusting means (6, 8, 9) is connected to the first detecting means (4).
Switch means (6, 9) operated by the detection output;
Under the reverse bias voltage by operating the switch means (6,9)
The voltage supply means (2, 7, 10, 11), the high voltage generation circuit (2)
And the output voltage from the high voltage generation circuit (2) is made variable.
A variable resistor (10) for supplying an adjustment voltage for
The reference scale that supplies the reference scale voltage to the rheostat (10)
And a voltage supply circuit (7, 11).
APD measurement circuit protection device.
記逆バイアス電圧が所定の値以下になったことを検知す
る第2の検出手段(5)を更に有し、前記第2の検出手段
(5)の検出出力により前記電圧調整手段(6,8,9)が不作動
となることを特徴とする請求項1または2記載のAPD
測定回路の保護装置。 3. The apparatus according to claim 1, wherein said voltage supply means includes a voltage supply means.
Detects that the reverse bias voltage has fallen below a predetermined value.
Further comprising second detecting means (5), wherein the second detecting means
The voltage adjustment means (6,8,9) does not operate due to the detection output of (5)
3. The APD according to claim 1, wherein
Measurement circuit protection device.
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP33858394A JP3314568B2 (en) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | Protection device for APD measurement circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33858394A JP3314568B2 (en) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | Protection device for APD measurement circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH08186924A JPH08186924A (en) | 1996-07-16 |
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ID=18319546
Family Applications (1)
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1994
- 1994-12-28 JP JP33858394A patent/JP3314568B2/en not_active Expired - Fee Related
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