JP3302347B2 - 分光スペクトル帰属同定方法および分光スペクトル帰属同定装置 - Google Patents
分光スペクトル帰属同定方法および分光スペクトル帰属同定装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、分光スペクトル
の同定技術に係り、特に分光分析を行う装置等により試
料に関する分光スペクトルを測定して得られた分光スペ
クトルデータを基にスペクトル成分を同定するための分
光スペクトル帰属同定方法および分光スペクトル帰属同
定装置に関するものである。
の同定技術に係り、特に分光分析を行う装置等により試
料に関する分光スペクトルを測定して得られた分光スペ
クトルデータを基にスペクトル成分を同定するための分
光スペクトル帰属同定方法および分光スペクトル帰属同
定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】通常、材料計測で得られる分光スペクト
ルのような観測波形の多くは、特定の成分に特有の幾つ
かの孤立ピーク波形の重なりとして現れる。したがっ
て、このような波形を基に各成分の同定や定量などが盛
んに行われている。例えば、試料に関する分光スペクト
ルを測定し、分光スペクトル中の各スペクトル成分の波
長および強度を基に、試料に含まれる物質を同定し、物
質の量を測定することは広く行われている。既知の物質
であれば、その波長や強度は既に知られており、同定に
利用される。
ルのような観測波形の多くは、特定の成分に特有の幾つ
かの孤立ピーク波形の重なりとして現れる。したがっ
て、このような波形を基に各成分の同定や定量などが盛
んに行われている。例えば、試料に関する分光スペクト
ルを測定し、分光スペクトル中の各スペクトル成分の波
長および強度を基に、試料に含まれる物質を同定し、物
質の量を測定することは広く行われている。既知の物質
であれば、その波長や強度は既に知られており、同定に
利用される。
【０００３】この一方で、理論計算による同定も行われ
ている。例えば、物質の分子構造を基に分子軌道法によ
り遷移エネルギーおよび振動子強度を計算し、測定され
た分光スペクトルと比較することで、スペクトル同定が
行われる。この場合、遷移エネルギーと各スペクトル成
分の分光波長を比較し、振動子強度と各スペクトル成分
の吸収強度を比較することになる。理論計算から予想で
きる分光スペクトルはスペクトル幅を持たない単なる線
スペクトルの並びである。
ている。例えば、物質の分子構造を基に分子軌道法によ
り遷移エネルギーおよび振動子強度を計算し、測定され
た分光スペクトルと比較することで、スペクトル同定が
行われる。この場合、遷移エネルギーと各スペクトル成
分の分光波長を比較し、振動子強度と各スペクトル成分
の吸収強度を比較することになる。理論計算から予想で
きる分光スペクトルはスペクトル幅を持たない単なる線
スペクトルの並びである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実測さ
れる分光スペクトルは線スペクトルの並びでなく、より
広い幅を持った帯スペクトルの並びである。そのため
に、実測される分光スペクトルの実測値と理論計算との
形態の違いが大きく、同定できない場合が多いという問
題点があった。
れる分光スペクトルは線スペクトルの並びでなく、より
広い幅を持った帯スペクトルの並びである。そのため
に、実測される分光スペクトルの実測値と理論計算との
形態の違いが大きく、同定できない場合が多いという問
題点があった。
【０００５】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、スペクトル幅がなくピーク高だ
けで比較する従来の分光スペクトル方法よりも容易に分
光スペクトルの帰属を同定ができ、可視分光スペクトル
や紫外分光スペクトル、真空紫外分光スペクトルに限ら
ず赤外分光スペクトルやラマン分光スペクトル、核磁気
共鳴分光スペクトルなど広い分野の分光スペクトルに適
用できる分光スペクトル帰属同定方法および分光スペク
トル帰属同定装置を得ることを目的とする。
ためになされたもので、スペクトル幅がなくピーク高だ
けで比較する従来の分光スペクトル方法よりも容易に分
光スペクトルの帰属を同定ができ、可視分光スペクトル
や紫外分光スペクトル、真空紫外分光スペクトルに限ら
ず赤外分光スペクトルやラマン分光スペクトル、核磁気
共鳴分光スペクトルなど広い分野の分光スペクトルに適
用できる分光スペクトル帰属同定方法および分光スペク
トル帰属同定装置を得ることを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明の請求項１記載
の発明にかかる分光スペクトル帰属同定方法は、帰属同
定すべき分光スペクトルに対して分子軌道法の理論値を
用いて帰属を同定する分光スペクトル帰属同定方法であ
って、分子軌道法で計算した遷移エネルギーを中心エネ
ルギーとして、振動子強度を積分エネルギーとしたピー
ク波形の関数を当てはめてモデル関数を作成する工程を
有するものである。
の発明にかかる分光スペクトル帰属同定方法は、帰属同
定すべき分光スペクトルに対して分子軌道法の理論値を
用いて帰属を同定する分光スペクトル帰属同定方法であ
って、分子軌道法で計算した遷移エネルギーを中心エネ
ルギーとして、振動子強度を積分エネルギーとしたピー
ク波形の関数を当てはめてモデル関数を作成する工程を
有するものである。
【０００７】また、請求項２記載の発明にかかる分光ス
ペクトル帰属同定方法は、上記請求項１記載の発明にお
いて、前記ピーク波形の関数としてガウス関数を当ては
めてモデル関数を作成する工程を有するものである。
ペクトル帰属同定方法は、上記請求項１記載の発明にお
いて、前記ピーク波形の関数としてガウス関数を当ては
めてモデル関数を作成する工程を有するものである。
【０００８】また、請求項３記載の発明にかかる分光ス
ペクトル帰属同定方法は、上記請求項２記載の発明にお
いて、帰属同定すべき分光スペクトルに対して、分子軌
道法で計算した遷移エネルギーを中心エネルギーとする
とともに、振動子強度を積分エネルギーとして、ガウス
関数を当てはめてモデル関数を作成する工程を有するも
のである。
ペクトル帰属同定方法は、上記請求項２記載の発明にお
いて、帰属同定すべき分光スペクトルに対して、分子軌
道法で計算した遷移エネルギーを中心エネルギーとする
とともに、振動子強度を積分エネルギーとして、ガウス
関数を当てはめてモデル関数を作成する工程を有するも
のである。
【０００９】また、請求項４記載の発明にかかる分光ス
ペクトル帰属同定方法は、上記請求項１記載の発明にお
いて、前記ピーク波形の関数としてローレンツ関数を当
てはめてモデル関数を作成する工程を有するものであ
る。
ペクトル帰属同定方法は、上記請求項１記載の発明にお
いて、前記ピーク波形の関数としてローレンツ関数を当
てはめてモデル関数を作成する工程を有するものであ
る。
【００１０】また、請求項５記載の発明にかかる分光ス
ペクトル帰属同定方法は、上記請求項１乃至４のいずれ
か一項に記載の発明において、分子軌道法の計算結果
を、観測値と類似したスペクトル幅を有した前記ピーク
波形で表現する工程を有するものである。
ペクトル帰属同定方法は、上記請求項１乃至４のいずれ
か一項に記載の発明において、分子軌道法の計算結果
を、観測値と類似したスペクトル幅を有した前記ピーク
波形で表現する工程を有するものである。
【００１１】また、請求項６記載の発明にかかる分光ス
ペクトル帰属同定方法は、上記請求項１乃至５のいずれ
か一項に記載の発明において、通常の測定された少なく
とも分光波長、吸光度を含む分光スペクトルを入力デー
タとし入力する第１処理工程と、分子軌道法で対応する
分子構造を基に計算された遷移エネルギーと振動子強度
を入力データとする第２処理工程と、前記ピーク波形の
関数を選択し、モデル関数を作成する第３処理工程と、
分光スペクトルとの残差平方和を最小化し、パラメータ
を決定する第４処理工程と、前記第４処理工程で計算し
て得られたパラメータを用いてモデル関数を計算し、同
定の様子を表示する第５処理工程を有するものである。
ペクトル帰属同定方法は、上記請求項１乃至５のいずれ
か一項に記載の発明において、通常の測定された少なく
とも分光波長、吸光度を含む分光スペクトルを入力デー
タとし入力する第１処理工程と、分子軌道法で対応する
分子構造を基に計算された遷移エネルギーと振動子強度
を入力データとする第２処理工程と、前記ピーク波形の
関数を選択し、モデル関数を作成する第３処理工程と、
分光スペクトルとの残差平方和を最小化し、パラメータ
を決定する第４処理工程と、前記第４処理工程で計算し
て得られたパラメータを用いてモデル関数を計算し、同
定の様子を表示する第５処理工程を有するものである。
【００１２】また、請求項７記載の発明にかかる分光ス
ペクトル帰属同定方法は、上記請求項６に記載の発明に
おいて、分光スペクトルが入力データとして入力され、
出力データを画面上に表示して同定を可能にする端末入
出力工程と、前記第１処理工程乃至前記第５処理工程を
実行するプログラムを格納する記憶工程と、前記残差平
方和を最小にして最適化する前記第４処理工程を実行す
る演算工程と、分子軌道計算値および前記ピーク波形の
関数を入力データとして記憶する入力データメモリ工程
と、パラメータベクトルが格納される出力データメモリ
工程を有し、当該パラメータベクトルを用いてモデル関
数を計算し、出力データとして前記端末入出力工程で用
いる入出力端末の画面上に表示して分光スペクトルの帰
属同定を行うものである。
ペクトル帰属同定方法は、上記請求項６に記載の発明に
おいて、分光スペクトルが入力データとして入力され、
出力データを画面上に表示して同定を可能にする端末入
出力工程と、前記第１処理工程乃至前記第５処理工程を
実行するプログラムを格納する記憶工程と、前記残差平
方和を最小にして最適化する前記第４処理工程を実行す
る演算工程と、分子軌道計算値および前記ピーク波形の
関数を入力データとして記憶する入力データメモリ工程
と、パラメータベクトルが格納される出力データメモリ
工程を有し、当該パラメータベクトルを用いてモデル関
数を計算し、出力データとして前記端末入出力工程で用
いる入出力端末の画面上に表示して分光スペクトルの帰
属同定を行うものである。
【００１３】また、請求項８記載の発明にかかる分光ス
ペクトル帰属同定装置は、帰属同定すべき分光スペクト
ルに対して分子軌道法の理論値を用いて帰属を同定する
分光スペクトル帰属同定装置であって、分子軌道法で計
算した遷移エネルギーを中心エネルギーとして、振動子
強度を積分エネルギーとしたピーク波形の関数を当ては
めてモデル関数を作成する手段を有するものである。
ペクトル帰属同定装置は、帰属同定すべき分光スペクト
ルに対して分子軌道法の理論値を用いて帰属を同定する
分光スペクトル帰属同定装置であって、分子軌道法で計
算した遷移エネルギーを中心エネルギーとして、振動子
強度を積分エネルギーとしたピーク波形の関数を当ては
めてモデル関数を作成する手段を有するものである。
【００１４】また、請求項９記載の発明にかかる分光ス
ペクトル帰属同定装置は、上記請求項８記載の発明にお
いて、前記ピーク波形の関数としてガウス関数を当ては
めてモデル関数を作成する手段を有するものである。
ペクトル帰属同定装置は、上記請求項８記載の発明にお
いて、前記ピーク波形の関数としてガウス関数を当ては
めてモデル関数を作成する手段を有するものである。
【００１５】また、請求項１０記載の発明にかかる分光
スペクトル帰属同定装置は、上記請求項９に記載の発明
において、帰属同定すべき分光スペクトルに対して、分
子軌道法で計算した遷移エネルギーを中心エネルギーと
するとともに、振動子強度を積分エネルギーとして、ガ
ウス関数を当てはめてモデル関数を作成する手段を有す
るものである。
スペクトル帰属同定装置は、上記請求項９に記載の発明
において、帰属同定すべき分光スペクトルに対して、分
子軌道法で計算した遷移エネルギーを中心エネルギーと
するとともに、振動子強度を積分エネルギーとして、ガ
ウス関数を当てはめてモデル関数を作成する手段を有す
るものである。
【００１６】また、請求項１１記載の発明にかかる分光
スペクトル帰属同定装置は、上記請求項８に記載の発明
において、前記ピーク波形の関数としてローレンツ関数
を当てはめてモデル関数を作成する手段を有するもので
ある。
スペクトル帰属同定装置は、上記請求項８に記載の発明
において、前記ピーク波形の関数としてローレンツ関数
を当てはめてモデル関数を作成する手段を有するもので
ある。
【００１７】また、請求項１２記載の発明にかかる分光
スペクトル帰属同定装置は、上記請求項８乃至１１のい
ずれか一項に記載の発明において、少なくともガウス関
数、ローレンツ関数を含む所定の関数群の中から、前記
ピーク波形の関数を分光スペクトルに応じて最適に選択
して設定する手段を有するものである。
スペクトル帰属同定装置は、上記請求項８乃至１１のい
ずれか一項に記載の発明において、少なくともガウス関
数、ローレンツ関数を含む所定の関数群の中から、前記
ピーク波形の関数を分光スペクトルに応じて最適に選択
して設定する手段を有するものである。
【００１８】また、請求項１３記載の発明にかかる分光
スペクトル帰属同定装置は、上記請求項８乃至１２のい
ずれか一項に記載の発明において、通常の測定された少
なくとも分光波長、吸光度を含む分光スペクトルを入力
データとし入力する第１処理工程を実行する手段と、分
子軌道法で対応する分子構造を基に計算された分子軌道
計算値と分子軌道計算値を入力データとする第２処理工
程を実行する手段と、前記ピーク波形の関数を選択し、
モデル関数を作成する第３処理工程を実行する手段と、
分光スペクトルとの残差平方和を最小化し、パラメータ
を決定する第４処理工程を実行する手段と、前記第４処
理工程で計算して得られたパラメータを用いてモデル関
数を計算し、同定の様子を表示する第５処理工程を実行
する手段を有するものである。
スペクトル帰属同定装置は、上記請求項８乃至１２のい
ずれか一項に記載の発明において、通常の測定された少
なくとも分光波長、吸光度を含む分光スペクトルを入力
データとし入力する第１処理工程を実行する手段と、分
子軌道法で対応する分子構造を基に計算された分子軌道
計算値と分子軌道計算値を入力データとする第２処理工
程を実行する手段と、前記ピーク波形の関数を選択し、
モデル関数を作成する第３処理工程を実行する手段と、
分光スペクトルとの残差平方和を最小化し、パラメータ
を決定する第４処理工程を実行する手段と、前記第４処
理工程で計算して得られたパラメータを用いてモデル関
数を計算し、同定の様子を表示する第５処理工程を実行
する手段を有するものである。
【００１９】また、請求項１４記載の発明にかかる分光
スペクトル帰属同定装置は、上記請求項１３に記載の発
明において、分光スペクトルが入力データとして入力さ
れ、出力データを画面上に表示して同定を可能にするた
めの入出力端末と、前記第１処理工程乃至前記第５処理
工程を実行するプログラムが格納されている記憶装置
と、前記残差平方和を最小にして最適化する前記第４処
理工程を実行する演算手段と、分子軌道計算値および前
記ピーク波形の関数を入力データとして記憶する入力デ
ータメモリと、パラメータベクトルが格納される出力デ
ータメモリを有し、当該パラメータベクトルを用いてモ
デル関数を計算し、出力データとして前記入出力端末の
画面上に表示して分光スペクトルの帰属同定を行うよう
に構成されているものである。
スペクトル帰属同定装置は、上記請求項１３に記載の発
明において、分光スペクトルが入力データとして入力さ
れ、出力データを画面上に表示して同定を可能にするた
めの入出力端末と、前記第１処理工程乃至前記第５処理
工程を実行するプログラムが格納されている記憶装置
と、前記残差平方和を最小にして最適化する前記第４処
理工程を実行する演算手段と、分子軌道計算値および前
記ピーク波形の関数を入力データとして記憶する入力デ
ータメモリと、パラメータベクトルが格納される出力デ
ータメモリを有し、当該パラメータベクトルを用いてモ
デル関数を計算し、出力データとして前記入出力端末の
画面上に表示して分光スペクトルの帰属同定を行うよう
に構成されているものである。
【００２０】
【発明の実施の形態】本発明の特徴は、帰属同定すべき
分光スペクトルに対して、分子軌道法で計算した遷移エ
ネルギーを中心エネルギーとするとともに、振動子強度
を積分エネルギーとしたガウス関数をピーク波形の関数
として当てはめる点にある。これにより、スペクトル幅
がなくピーク高だけで比較する従来の分光スペクトル方
法よりも容易に分光スペクトルの帰属を同定ができるよ
うになるといった効果を奏する。その理由は、分子軌道
法の計算結果を、観測値と類似したスペクトル幅を有し
たピーク波形で表現できるからである。さらに加えて、
可視分光スペクトルや紫外分光スペクトル、真空紫外分
光スペクトルに限らず、赤外分光スペクトルやラマン分
光スペクトル、核磁気共鳴分光スペクトルなど広い分野
の分光スペクトルに適用できるようになるといった効果
を奏する。その理由は、ピーク波形の関数を分光スペク
トルに合わせてガウス関数やローレンツ関数などに自由
に設定することができるからである。以下、この発明の
一実施の形態を詳細に説明する。
分光スペクトルに対して、分子軌道法で計算した遷移エ
ネルギーを中心エネルギーとするとともに、振動子強度
を積分エネルギーとしたガウス関数をピーク波形の関数
として当てはめる点にある。これにより、スペクトル幅
がなくピーク高だけで比較する従来の分光スペクトル方
法よりも容易に分光スペクトルの帰属を同定ができるよ
うになるといった効果を奏する。その理由は、分子軌道
法の計算結果を、観測値と類似したスペクトル幅を有し
たピーク波形で表現できるからである。さらに加えて、
可視分光スペクトルや紫外分光スペクトル、真空紫外分
光スペクトルに限らず、赤外分光スペクトルやラマン分
光スペクトル、核磁気共鳴分光スペクトルなど広い分野
の分光スペクトルに適用できるようになるといった効果
を奏する。その理由は、ピーク波形の関数を分光スペク
トルに合わせてガウス関数やローレンツ関数などに自由
に設定することができるからである。以下、この発明の
一実施の形態を詳細に説明する。
【００２１】初めに、本発明の分光スペクトル帰属同定
方法の原理を説明する。分光スペクトル計測において
は、分光スペクトルの分析対象領域に含まれる孤立ピー
ク波形を同定することを目的としている。本実施の形態
では、分子軌道法に基づいて得られた遷移エネルギーお
よび振動子強度を利用して測定分光スペクトルにおける
孤立ピーク波形の幅および強度の推定を行う。
方法の原理を説明する。分光スペクトル計測において
は、分光スペクトルの分析対象領域に含まれる孤立ピー
ク波形を同定することを目的としている。本実施の形態
では、分子軌道法に基づいて得られた遷移エネルギーお
よび振動子強度を利用して測定分光スペクトルにおける
孤立ピーク波形の幅および強度の推定を行う。
【００２２】まず、ｍ点からなる分光スペクトルの測定
値Ｉ（ｊ）；ｊ＝１，２，…，ｍ（自然数）がｎ個のピ
ーク波形ｆi（ｊ；ｐ）；ｉ＝１，２，…，ｎ（自然
数）を含み観測されたとすると、分光スペクトルの測定
値Ｉ（ｊ）は、下記の式（１）で表現される。
値Ｉ（ｊ）；ｊ＝１，２，…，ｍ（自然数）がｎ個のピ
ーク波形ｆi（ｊ；ｐ）；ｉ＝１，２，…，ｎ（自然
数）を含み観測されたとすると、分光スペクトルの測定
値Ｉ（ｊ）は、下記の式（１）で表現される。
【００２３】
【数１】
【００２４】上記式（１）において、ｐは各ピークに含
まれるパラメータを要素とするベクトルであり、ｎ
（ｊ）は雑音を表す。もちろん、観測値にベースライン
の寄与が含まれていたり、装置関数の寄与が含まれるこ
とはあるが、以下の議論は同様に成り立つので、ここで
はベースラインや装置関数は無視できるとして説明を進
める。
まれるパラメータを要素とするベクトルであり、ｎ
（ｊ）は雑音を表す。もちろん、観測値にベースライン
の寄与が含まれていたり、装置関数の寄与が含まれるこ
とはあるが、以下の議論は同様に成り立つので、ここで
はベースラインや装置関数は無視できるとして説明を進
める。
【００２５】分光スペクトルの帰属同定のための推定を
行うためには、測定値から推定曲線への残差の二乗和Ｒ
（ｐ）を最小化すれば良い。
行うためには、測定値から推定曲線への残差の二乗和Ｒ
（ｐ）を最小化すれば良い。
【００２６】
【数２】
【００２７】ここで、Ｗjは重み係数であって、観測値
に含まれる誤差（雑音）の影響を最小限に抑え、高い精
度を得るような適合を行えば良い。
に含まれる誤差（雑音）の影響を最小限に抑え、高い精
度を得るような適合を行えば良い。
【００２８】例えば、各ピーク波形を表す関数をガウス
関数とすれば、下記の式（３）となる。
関数とすれば、下記の式（３）となる。
【００２９】
【数３】
【００３０】すなわち、ピーク波形の中心波長λmaxと
して、当てはめ因子ｐは定数ａとｗになる。
して、当てはめ因子ｐは定数ａとｗになる。
【００３１】分子軌道法により得られた遷移エネルギー
を中心波長λmaxとし、また振動子強度を式（４）に示
すエネルギー積分値になるという拘束条件のもとで、上
記測定値から推定曲線への残差の二乗和Ｒ（ｐ）を最小
化することにより、当てはめ因子ａとｗが定まる。
を中心波長λmaxとし、また振動子強度を式（４）に示
すエネルギー積分値になるという拘束条件のもとで、上
記測定値から推定曲線への残差の二乗和Ｒ（ｐ）を最小
化することにより、当てはめ因子ａとｗが定まる。
【００３２】
【数４】
【００３３】このパラメータ推定は非線型最小二乗法で
あるから、一般的なシンプレックス法やＧａｕｓｓ−Ｎ
ｅｗｔｏｎ（ガウス−ニュートン）法、共役勾配法など
の公知の最適化法が適用できる。
あるから、一般的なシンプレックス法やＧａｕｓｓ−Ｎ
ｅｗｔｏｎ（ガウス−ニュートン）法、共役勾配法など
の公知の最適化法が適用できる。
【００３４】本発明では、線スペクトルでなく、スペク
トル線の広がりを考慮してあるために、実測のスペクト
ルとの対応がつきやすく、容易に分光スペクトルの帰属
を同定できる。
トル線の広がりを考慮してあるために、実測のスペクト
ルとの対応がつきやすく、容易に分光スペクトルの帰属
を同定できる。
【００３５】以上説明したように本実施の形態によれ
ば、以下に掲げる効果を奏する。まず第１の効果は、分
子軌道法の計算結果を、観測値と類似したスペクトル幅
を有したピーク波形で表現できるので、スペクトル幅が
なくピーク高だけで比較する従来の分光スペクトル方法
よりも容易に分光スペクトルの帰属を同定ができること
である。
ば、以下に掲げる効果を奏する。まず第１の効果は、分
子軌道法の計算結果を、観測値と類似したスペクトル幅
を有したピーク波形で表現できるので、スペクトル幅が
なくピーク高だけで比較する従来の分光スペクトル方法
よりも容易に分光スペクトルの帰属を同定ができること
である。
【００３６】また第２の効果は、ピーク波形の関数を分
光スペクトルに合わせてガウス関数やローレンツ関数な
どに自由に設定することができるので、可視分光スペク
トルや紫外分光スペクトル、真空紫外分光スペクトルに
限らず、赤外分光スペクトルやラマン分光スペクトル、
核磁気共鳴分光スペクトルなど広い分野の分光スペクト
ルに適用できることである。
光スペクトルに合わせてガウス関数やローレンツ関数な
どに自由に設定することができるので、可視分光スペク
トルや紫外分光スペクトル、真空紫外分光スペクトルに
限らず、赤外分光スペクトルやラマン分光スペクトル、
核磁気共鳴分光スペクトルなど広い分野の分光スペクト
ルに適用できることである。
【００３７】以下、この発明の一実施の形態を図面に基
づいて詳細に説明する。図１は本発明の分光スペクトル
帰属同定方法を説明するためのフローチャートである。
本実施の形態では、一例として、ポリ（ヒドロキシスチ
レン）の真空紫外分光スペクトルを帰属同定した実施例
について記す。本発明の分光スペクトルの同定方法のフ
ローチャートを図１に示す。
づいて詳細に説明する。図１は本発明の分光スペクトル
帰属同定方法を説明するためのフローチャートである。
本実施の形態では、一例として、ポリ（ヒドロキシスチ
レン）の真空紫外分光スペクトルを帰属同定した実施例
について記す。本発明の分光スペクトルの同定方法のフ
ローチャートを図１に示す。
【００３８】図１を参照すると、本実施例では、まず、
通常の測定された分光スペクトル（分光波長、吸光度
等）を入力データとし入力する（処理１（第１処理工
程））。続いて、分子軌道法で対応する分子構造を基に
計算された遷移エネルギー（分子軌道計算値）と振動子
強度（分子軌道計算値）を入力データとする（処理２
（第２処理工程））。続いて、ピーク波形の関数を選択
し、モデル関数を作成する（処理３（第３処理工
程））。続いて、分光スペクトルとの残差平方和を最小
化し、パラメータを決定する（処理４（第４処理工
程））。続いて、この処理４（第４処理工程）で計算し
て得られたパラメータを用いてモデル関数を計算し、同
定の様子を表示する（処理５（第５処理工程））。
通常の測定された分光スペクトル（分光波長、吸光度
等）を入力データとし入力する（処理１（第１処理工
程））。続いて、分子軌道法で対応する分子構造を基に
計算された遷移エネルギー（分子軌道計算値）と振動子
強度（分子軌道計算値）を入力データとする（処理２
（第２処理工程））。続いて、ピーク波形の関数を選択
し、モデル関数を作成する（処理３（第３処理工
程））。続いて、分光スペクトルとの残差平方和を最小
化し、パラメータを決定する（処理４（第４処理工
程））。続いて、この処理４（第４処理工程）で計算し
て得られたパラメータを用いてモデル関数を計算し、同
定の様子を表示する（処理５（第５処理工程））。
【００３９】次に、図１に示した分光スペクトル帰属同
定方法を実行する本発明の分光スペクトル帰属同定装置
を図２に示す。図２は本発明の分光スペクトル帰属同定
装置１０の構成を説明するためのブロック図である。図
２において、１は入出力端末、２は入力データ、３は記
憶装置、４はＣＰＵ、５は出力データ、６は入力データ
メモリ、７は出力データメモリ、１０は分光スペクトル
帰属同定装置を示している。図２を参照すると、本実施
の形態の分光スペクトル帰属同定装置１０は、分光スペ
クトルが入力データとして入力され、出力データ５を画
面上に表示して同定を可能にするための入出力端末１
と、上記処理１（第１処理工程）乃至処理５（第５処理
工程）を実行するプログラム（例えば、非線型最小二乗
法プログラム）が格納されている記憶装置３と、前記残
差平方和を最小にして最適化する処理４（第４処理工
程）を実行するＣＰＵ４（演算手段）と、分子軌道計算
値およびピーク波形関数を入力データ２として記憶する
入力データメモリ６と、パラメータベクトルが格納され
る出力データメモリ７を備えている。このパラメータベ
クトルを用いてモデル関数を計算し、出力データ５とし
て入出力端末１の画面上に表示し、同定を可能にする。
定方法を実行する本発明の分光スペクトル帰属同定装置
を図２に示す。図２は本発明の分光スペクトル帰属同定
装置１０の構成を説明するためのブロック図である。図
２において、１は入出力端末、２は入力データ、３は記
憶装置、４はＣＰＵ、５は出力データ、６は入力データ
メモリ、７は出力データメモリ、１０は分光スペクトル
帰属同定装置を示している。図２を参照すると、本実施
の形態の分光スペクトル帰属同定装置１０は、分光スペ
クトルが入力データとして入力され、出力データ５を画
面上に表示して同定を可能にするための入出力端末１
と、上記処理１（第１処理工程）乃至処理５（第５処理
工程）を実行するプログラム（例えば、非線型最小二乗
法プログラム）が格納されている記憶装置３と、前記残
差平方和を最小にして最適化する処理４（第４処理工
程）を実行するＣＰＵ４（演算手段）と、分子軌道計算
値およびピーク波形関数を入力データ２として記憶する
入力データメモリ６と、パラメータベクトルが格納され
る出力データメモリ７を備えている。このパラメータベ
クトルを用いてモデル関数を計算し、出力データ５とし
て入出力端末１の画面上に表示し、同定を可能にする。
【００４０】次に分光スペクトル帰属同定装置１０の動
作（分光スペクトル帰属同定方法）について説明する。
図２を参照すると、本実施の形態の分光スペクトル帰属
同定装置１０は、まず最初に、入出力端末１により入力
された分光スペクトル、分子軌道計算値およびピーク波
形関数を入力データ２とし、入力データメモリ６へ記憶
する。記憶装置３には、上記処理１（第１処理工程）乃
至処理５（第５処理工程）を実行するプログラムが格納
されている。処理４（第４処理工程）を実行するために
記憶装置３に格納されている非線型最小二乗法プログラ
ム（計算手段の一例）を用いてＣＰＵ４（演算手段）に
より前記残差平方和を最小にして最適化する（処理４
（第４処理工程））ことによりパラメータベクトルを出
力データメモリ７へ出力する。このパラメータベクトル
を用いてモデル関数を計算し、出力データ５として入出
力端末１の画面上に表示し、同定を可能にする。
作（分光スペクトル帰属同定方法）について説明する。
図２を参照すると、本実施の形態の分光スペクトル帰属
同定装置１０は、まず最初に、入出力端末１により入力
された分光スペクトル、分子軌道計算値およびピーク波
形関数を入力データ２とし、入力データメモリ６へ記憶
する。記憶装置３には、上記処理１（第１処理工程）乃
至処理５（第５処理工程）を実行するプログラムが格納
されている。処理４（第４処理工程）を実行するために
記憶装置３に格納されている非線型最小二乗法プログラ
ム（計算手段の一例）を用いてＣＰＵ４（演算手段）に
より前記残差平方和を最小にして最適化する（処理４
（第４処理工程））ことによりパラメータベクトルを出
力データメモリ７へ出力する。このパラメータベクトル
を用いてモデル関数を計算し、出力データ５として入出
力端末１の画面上に表示し、同定を可能にする。
【００４１】
【実施例】実施例１．以下、この発明の実施例１を図面
に基づいて詳細に説明する。本実施例では、図２に示す
分光スペクトル帰属同定装置１０を用いた分光スペクト
ルの帰属同定の例について示す。本実施例では、まず、
通常の測定された分光スペクトルを入力データとする
（処理１（第１処理工程））。すなわち、弗化マグネシ
ウム基板上にポリ（ヒドロキシスチレン）溶液を回転塗
布し、９０℃程度で１分間程度乾燥させ、厚さ９０ｎｍ
程度のポリ（ヒドロキシスチレン）薄膜の試料を作成
し、真空紫外分光光度計によりポリ（ヒドロキシスチレ
ン）の分光スペクトルを測定し、入力データとする（処
理１（第１処理工程））。その分光スペクトルを図３に
示す。
に基づいて詳細に説明する。本実施例では、図２に示す
分光スペクトル帰属同定装置１０を用いた分光スペクト
ルの帰属同定の例について示す。本実施例では、まず、
通常の測定された分光スペクトルを入力データとする
（処理１（第１処理工程））。すなわち、弗化マグネシ
ウム基板上にポリ（ヒドロキシスチレン）溶液を回転塗
布し、９０℃程度で１分間程度乾燥させ、厚さ９０ｎｍ
程度のポリ（ヒドロキシスチレン）薄膜の試料を作成
し、真空紫外分光光度計によりポリ（ヒドロキシスチレ
ン）の分光スペクトルを測定し、入力データとする（処
理１（第１処理工程））。その分光スペクトルを図３に
示す。
【００４２】続いて、分子軌道法で対応する分子構造を
基に遷移エネルギーと振動子強度を計算して求める（処
理２（第２処理工程））。具体的には半経験的分子軌道
計算プログラムＭＯＰＡＣを用いて、分子軌道法により
ポリ（ヒドロキシスチレン）の遷移エネルギーと振動子
強度を計算する。すなわち、ポリ（ヒドロキシスチレ
ン）のモデル分子として、エチルフェノールの分子構造
を入力ファイルとして、Ｚ−ｍａｔｒｉｘを作成し、そ
の分子構造を最適化し、当該最適化した分子構造におけ
る分子軌道エネルギーおよび分子軌道間の積分値を基
に、遷移エネルギーおよび振動子強度を求める。その結
果の主な値を表１に示す。表１はポリ（ヒドロキシスチ
レン）の分子軌道法により計算された分光波長と振動子
強度を示す表である。
基に遷移エネルギーと振動子強度を計算して求める（処
理２（第２処理工程））。具体的には半経験的分子軌道
計算プログラムＭＯＰＡＣを用いて、分子軌道法により
ポリ（ヒドロキシスチレン）の遷移エネルギーと振動子
強度を計算する。すなわち、ポリ（ヒドロキシスチレ
ン）のモデル分子として、エチルフェノールの分子構造
を入力ファイルとして、Ｚ−ｍａｔｒｉｘを作成し、そ
の分子構造を最適化し、当該最適化した分子構造におけ
る分子軌道エネルギーおよび分子軌道間の積分値を基
に、遷移エネルギーおよび振動子強度を求める。その結
果の主な値を表１に示す。表１はポリ（ヒドロキシスチ
レン）の分子軌道法により計算された分光波長と振動子
強度を示す表である。
【００４３】
【表１】
【００４４】続いて、ピーク波形のモデル関数を選択
し、最適化法によりパラメータを決定する。すなわち、
表１に示す各遷移エネルギーに対応するピーク波形を、
遷移エネルギーを中心波長λmaxとし、式（５）に示す
エネルギー積分値を振動子強度とするガウス分布（式
（６））でモデル化する（処理３（第３処理工程））。
し、最適化法によりパラメータを決定する。すなわち、
表１に示す各遷移エネルギーに対応するピーク波形を、
遷移エネルギーを中心波長λmaxとし、式（５）に示す
エネルギー積分値を振動子強度とするガウス分布（式
（６））でモデル化する（処理３（第３処理工程））。
【００４５】
【数５】
【００４６】
【数６】
【００４７】続いて、１３０ｎｍ程度（ｎｍ：１０億分
の１メートル）から３００ｎｍ程度まで２ｎｍ間隔で８
５点測定した分光スペクトルＩ（ｊ）；ｊ＝１，２，
…，８５との上記モデル波形との残差平方和（式
（７））をシンプレックス法で最適化し、パラメータベ
クトルｐを求める（処理４（第４処理工程））。
の１メートル）から３００ｎｍ程度まで２ｎｍ間隔で８
５点測定した分光スペクトルＩ（ｊ）；ｊ＝１，２，
…，８５との上記モデル波形との残差平方和（式
（７））をシンプレックス法で最適化し、パラメータベ
クトルｐを求める（処理４（第４処理工程））。
【００４８】
【数７】
【００４９】続いて、当該処理４（第４処理工程）で計
算して得られたパラメータを用いてモデル波形（式
（８））を表示し、観測値と比較し、同定の様子を表示
する（処理５（第５処理工程））。
算して得られたパラメータを用いてモデル波形（式
（８））を表示し、観測値と比較し、同定の様子を表示
する（処理５（第５処理工程））。
【００５０】
【数８】
【００５１】以上の処理により得られたモデル波形を図
４に示す。図４はポリ（ヒドロキシスチレン）の分光ス
ペクトルのモデル波形を示す図である。本実施例では、
図４に示すように、容易に観測スペクトルと分子軌道計
算とを対応づけることが可能になり、各ピーク波形の帰
属が容易にできるようになる。すなわち、２００ｎｍ前
後の吸収スペクトルは分子軌道法で良く再現されてお
り、同定可能である。一方、１５０ｎｍよりも短波長側
ではスペクトルを再現することができず、計算による振
動子強度が小さく、計算が不適当であることが分かっ
た。
４に示す。図４はポリ（ヒドロキシスチレン）の分光ス
ペクトルのモデル波形を示す図である。本実施例では、
図４に示すように、容易に観測スペクトルと分子軌道計
算とを対応づけることが可能になり、各ピーク波形の帰
属が容易にできるようになる。すなわち、２００ｎｍ前
後の吸収スペクトルは分子軌道法で良く再現されてお
り、同定可能である。一方、１５０ｎｍよりも短波長側
ではスペクトルを再現することができず、計算による振
動子強度が小さく、計算が不適当であることが分かっ
た。
【００５２】参考として、従来の振動子強度を線スペク
トルで示した同定を図５に示す。図５に示すように、計
算値はスペクトル幅のない線で表されるため、観測値と
の対応が取り難く、同定が難しいことが分かる。
トルで示した同定を図５に示す。図５に示すように、計
算値はスペクトル幅のない線で表されるため、観測値と
の対応が取り難く、同定が難しいことが分かる。
【００５３】実施例２．以下、この発明の実施例２を図
面に基づいて詳細に説明する。以下では、ポリ（メチル
メタクリレート）に適用した実施例を示し、本発明の手
法が、スペクトル同定法として有効であることを示す。
面に基づいて詳細に説明する。以下では、ポリ（メチル
メタクリレート）に適用した実施例を示し、本発明の手
法が、スペクトル同定法として有効であることを示す。
【００５４】本実施例では、まず、弗化マグネシウム基
板上にポリ（メチルメタクリレート）溶液を回転塗布
し、１８０℃程度で１分間程度乾燥させ、厚さ１００ｎ
ｍ程度のポリ（メチルメタクリレート）薄膜の試料を作
成し、真空紫外分光光度計によりポリ（メチルメタクリ
レート）の分光スペクトルを測定する。その分光スペク
トルを図６に示す。
板上にポリ（メチルメタクリレート）溶液を回転塗布
し、１８０℃程度で１分間程度乾燥させ、厚さ１００ｎ
ｍ程度のポリ（メチルメタクリレート）薄膜の試料を作
成し、真空紫外分光光度計によりポリ（メチルメタクリ
レート）の分光スペクトルを測定する。その分光スペク
トルを図６に示す。
【００５５】続いて、半経験的分子軌道計算プログラム
ＭＯＰＡＣを用いて、分子軌道法によりポリ（メチルメ
タクリレート）の遷移エネルギーと振動子強度を計算す
る。すなわち、ポリ（メチルメタクリレート）のモデル
分子として、メチルメタクリレートの分子構造を入力フ
ァイルとして、Ｚ−ｍａｔｒｉｘを作成し、構造最適化
し、当該最適化した分子構造における分子軌道エネルギ
ーおよび、分子軌道間の積分値を基に、遷移エネルギー
および振動子強度を求める。当該各遷移エネルギーに対
応するピーク波形を、遷移エネルギーを中心波長λmax
とし、エネルギー積分値を振動子強度とするローレンツ
分布でモデル化する。
ＭＯＰＡＣを用いて、分子軌道法によりポリ（メチルメ
タクリレート）の遷移エネルギーと振動子強度を計算す
る。すなわち、ポリ（メチルメタクリレート）のモデル
分子として、メチルメタクリレートの分子構造を入力フ
ァイルとして、Ｚ−ｍａｔｒｉｘを作成し、構造最適化
し、当該最適化した分子構造における分子軌道エネルギ
ーおよび、分子軌道間の積分値を基に、遷移エネルギー
および振動子強度を求める。当該各遷移エネルギーに対
応するピーク波形を、遷移エネルギーを中心波長λmax
とし、エネルギー積分値を振動子強度とするローレンツ
分布でモデル化する。
【００５６】続いて、１３０ｎｍ程度から３００ｎｍ程
度まで２ｎｍ間隔で８５点測定した分光スペクトルＩ
（ｊ）；ｊ＝１，２，…，８５との上記モデル波形との
残差平方和をＧａｕｓｓ−Ｎｅｗｔｏｎ（ガウス−ニュ
ートン）法で最適化し、パラメータベクトルｐを求め
た。その結果から得られたモデル波形を図７に示す。
度まで２ｎｍ間隔で８５点測定した分光スペクトルＩ
（ｊ）；ｊ＝１，２，…，８５との上記モデル波形との
残差平方和をＧａｕｓｓ−Ｎｅｗｔｏｎ（ガウス−ニュ
ートン）法で最適化し、パラメータベクトルｐを求め
た。その結果から得られたモデル波形を図７に示す。
【００５７】これより、本実施例では、容易に観測スペ
クトルと分子軌道計算とを対応づけることが可能にな
り、各ピーク波形の帰属が容易にできた。以上の本発明
の方法で分光スペクトルの同定を行うことができるよう
になるといった効果を奏する。
クトルと分子軌道計算とを対応づけることが可能にな
り、各ピーク波形の帰属が容易にできた。以上の本発明
の方法で分光スペクトルの同定を行うことができるよう
になるといった効果を奏する。
【００５８】なお、本発明が上記各実施の形態に限定さ
れず、本発明の技術思想の範囲内において、各実施の形
態は適宜変更され得ることは明らかである。また上記構
成部材の数、位置、形状等は上記実施の形態に限定され
ず、本発明を実施する上で好適な数、位置、形状等にす
ることができる。また、各図において、同一構成要素に
は同一符号を付している。
れず、本発明の技術思想の範囲内において、各実施の形
態は適宜変更され得ることは明らかである。また上記構
成部材の数、位置、形状等は上記実施の形態に限定され
ず、本発明を実施する上で好適な数、位置、形状等にす
ることができる。また、各図において、同一構成要素に
は同一符号を付している。
【００５９】
【発明の効果】本発明は以上のように構成されているの
で、以下に掲げる効果を奏する。まず第１の効果は、分
子軌道法の計算結果を、観測値と類似したスペクトル幅
を有したピーク波形で表現できるので、スペクトル幅が
なくピーク高だけで比較する従来の分光スペクトル方法
よりも容易に分光スペクトルの帰属を同定ができること
である。
で、以下に掲げる効果を奏する。まず第１の効果は、分
子軌道法の計算結果を、観測値と類似したスペクトル幅
を有したピーク波形で表現できるので、スペクトル幅が
なくピーク高だけで比較する従来の分光スペクトル方法
よりも容易に分光スペクトルの帰属を同定ができること
である。
【００６０】また第２の効果は、ピーク波形の関数を分
光スペクトルに合わせてガウス関数やローレンツ関数な
どに自由に設定することができるので、可視分光スペク
トルや紫外分光スペクトル、真空紫外分光スペクトルに
限らず、赤外分光スペクトルやラマン分光スペクトル、
核磁気共鳴分光スペクトルなど広い分野の分光スペクト
ルに適用できることである。
光スペクトルに合わせてガウス関数やローレンツ関数な
どに自由に設定することができるので、可視分光スペク
トルや紫外分光スペクトル、真空紫外分光スペクトルに
限らず、赤外分光スペクトルやラマン分光スペクトル、
核磁気共鳴分光スペクトルなど広い分野の分光スペクト
ルに適用できることである。
【図１】 本発明の分光スペクトル帰属同定方法を説明
するためのフローチャートである。
するためのフローチャートである。
【図２】 本発明の分光スペクトル帰属同定装置の構成
を説明するためのブロック図である。
を説明するためのブロック図である。
【図３】 ポリ（ヒドロキシスチレン）の分光スペクト
ルの測定データを示す図である。
ルの測定データを示す図である。
【図４】 ポリ（ヒドロキシスチレン）の分光スペクト
ルのモデル波形を示す図である。
ルのモデル波形を示す図である。
【図５】 ポリ（ヒドロキシスチレン）の分光スペクト
ルの従来の同定を示す説明図である。
ルの従来の同定を示す説明図である。
【図６】 ポリ（メチルメタクリレート）の分光スペク
トルの測定データを示す図である。
トルの測定データを示す図である。
【図７】 ポリ（メチルメタクリレート）の分光スペク
トルのモデル波形を示す図である。
トルのモデル波形を示す図である。
１ 入出力端末、 ２ 入力データ、 ３ 記憶装置、
４ ＣＰＵ、 ５出力データ、 ６ 入力データメモ
リ、 ７ 出力データメモリ、 １０ 分光スペクトル
帰属同定装置。
４ ＣＰＵ、 ５出力データ、 ６ 入力データメモ
リ、 ７ 出力データメモリ、 １０ 分光スペクトル
帰属同定装置。
フロントページの続き (72)発明者 佐藤 功 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株式会社半導体先端テクノロジーズ内 (72)発明者 渡辺 裕之 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株式会社半導体先端テクノロジーズ内 (56)参考文献 特開 平２−196945（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−44701（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−297101（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−25521（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−82307（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/00 - 21/01 G01N 21/17 - 21/61 G01J 3/00 - 3/52 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ) 実用ファイル（ＰＡＴＯＬＩＳ) 特許ファイル（ＰＡＴＯＬＩＳ)
Claims (14)
- 【請求項１】 帰属同定すべき分光スペクトルに対して
分子軌道法の理論値を用いて帰属を同定する分光スペク
トル帰属同定方法であって、 分子軌道法で計算した遷移エネルギーを中心エネルギー
として、振動子強度を積分エネルギーとしたピーク波形
の関数を当てはめてモデル関数を作成する工程を有する
ことを特徴とする分光スペクトル帰属同定方法。 - 【請求項２】 前記ピーク波形の関数としてガウス関数
を当てはめてモデル関数を作成する工程を有することを
特徴とする請求項１に記載の分光スペクトル帰属同定方
法。 - 【請求項３】 帰属同定すべき分光スペクトルに対し
て、分子軌道法で計算した遷移エネルギーを中心エネル
ギーとするとともに、振動子強度を積分エネルギーとし
て、ガウス関数を当てはめてモデル関数を作成する工程
を有することを特徴とする請求項２に記載の分光スペク
トル帰属同定方法。 - 【請求項４】 前記ピーク波形の関数としてローレンツ
関数を当てはめてモデル関数を作成する工程を有するこ
とを特徴とする請求項１に記載の分光スペクトル帰属同
定方法。 - 【請求項５】 分子軌道法の計算結果を、観測値と類似
したスペクトル幅を有した前記ピーク波形で表現する工
程を有することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか
一項に記載の分光スペクトル帰属同定方法。 - 【請求項６】 通常の測定された少なくとも分光波長、
吸光度を含む分光スペクトルを入力データとし入力する
第１処理工程と、 分子軌道法で対応する分子構造を基に計算された遷移エ
ネルギーと振動子強度を入力データとする第２処理工程
と、 前記ピーク波形の関数を選択し、モデル関数を作成する
第３処理工程と、 分光スペクトルとの残差平方和を最小化し、パラメータ
を決定する第４処理工程と、 前記第４処理工程で計算して得られたパラメータを用い
てモデル関数を計算し、同定の様子を表示する第５処理
工程を有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれ
か一項に記載の分光スペクトル帰属同定方法。 - 【請求項７】 分光スペクトルが入力データとして入力
され、出力データを画面上に表示して同定を可能にする
端末入出力工程と、 前記第１処理工程乃至前記第５処理工程を実行するプロ
グラムを格納する記憶工程と、 前記残差平方和を最小にして最適化する前記第４処理工
程を実行する演算工程と、 分子軌道計算値および前記ピーク波形の関数を入力デー
タとして記憶する入力データメモリ工程と、 パラメータベクトルが格納される出力データメモリ工程
を有し、 当該パラメータベクトルを用いてモデル関数を計算し、
出力データとして前記端末入出力工程で用いる入出力端
末の画面上に表示して分光スペクトルの帰属同定を行う
ことを特徴とする請求項６に記載の分光スペクトル帰属
同定方法。 - 【請求項８】 帰属同定すべき分光スペクトルに対して
分子軌道法の理論値を用いて帰属を同定する分光スペク
トル帰属同定装置であって、 分子軌道法で計算した遷移エネルギーを中心エネルギー
として、振動子強度を積分エネルギーとしたピーク波形
の関数を当てはめてモデル関数を作成する手段を有する
ことを特徴とする分光スペクトル帰属同定装置。 - 【請求項９】 前記ピーク波形の関数としてガウス関数
を当てはめてモデル関数を作成する手段を有することを
特徴とする請求項８に記載の分光スペクトル帰属同定装
置。 - 【請求項１０】 帰属同定すべき分光スペクトルに対し
て、分子軌道法で計算した遷移エネルギーを中心エネル
ギーとするとともに、振動子強度を積分エネルギーとし
て、ガウス関数を当てはめてモデル関数を作成する手段
を有することを特徴とする請求項９に記載の分光スペク
トル帰属同定装置。 - 【請求項１１】 前記ピーク波形の関数としてローレン
ツ関数を当てはめてモデル関数を作成する手段を有する
ことを特徴とする請求項８に記載の分光スペクトル帰属
同定装置。 - 【請求項１２】 少なくともガウス関数、ローレンツ関
数を含む所定の関数群の中から、前記ピーク波形の関数
を分光スペクトルに応じて最適に選択して設定する手段
を有することを特徴とする請求項８乃至１１のいずれか
一項に記載の分光スペクトル帰属同定装置。 - 【請求項１３】 通常の測定された少なくとも分光波
長、吸光度を含む分光スペクトルを入力データとし入力
する第１処理工程を実行する手段と、 分子軌道法で対応する分子構造を基に計算された分子軌
道計算値と分子軌道計算値を入力データとする第２処理
工程を実行する手段と、 前記ピーク波形の関数を選択し、モデル関数を作成する
第３処理工程を実行する手段と、 分光スペクトルとの残差平方和を最小化し、パラメータ
を決定する第４処理工程を実行する手段と、 前記第４処理工程で計算して得られたパラメータを用い
てモデル関数を計算し、同定の様子を表示する第５処理
工程を実行する手段を有することを特徴とする請求項８
乃至１２のいずれか一項に記載の分光スペクトル帰属同
定装置。 - 【請求項１４】 分光スペクトルが入力データとして入
力され、出力データを画面上に表示して同定を可能にす
るための入出力端末と、 前記第１処理工程乃至前記第５処理工程を実行するプロ
グラムが格納されている記憶装置と、 前記残差平方和を最小にして最適化する前記第４処理工
程を実行する演算手段と、 分子軌道計算値および前記ピーク波形の関数を入力デー
タとして記憶する入力データメモリと、 パラメータベクトルが格納される出力データメモリを有
し、 当該パラメータベクトルを用いてモデル関数を計算し、
出力データとして前記入出力端末の画面上に表示して分
光スペクトルの帰属同定を行うように構成されているこ
とを特徴とする請求項１３に記載の分光スペクトル帰属
同定装置。
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| JP34122199A JP3302347B2 (ja) | 1999-11-30 | 1999-11-30 | 分光スペクトル帰属同定方法および分光スペクトル帰属同定装置 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34122199A JP3302347B2 (ja) | 1999-11-30 | 1999-11-30 | 分光スペクトル帰属同定方法および分光スペクトル帰属同定装置 |
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|---|---|
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