JP3295152B2 - 磁気抵抗効果型弱磁界センサ - Google Patents
磁気抵抗効果型弱磁界センサInfo
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Description
ンサに関し、さらに詳細には、そのようなセンサを構成
する材料の層の構造に関する。
界の変化の関数としてそれを形成する少なくとも1つの
材料の抵抗率の変化を使用する型のセンサを特定するの
に用いられる。弱磁界は、例えば磁気記録のテープから
放射される磁界である。
のが知られている。この種のセンサはテープ、ドラムお
よびフロッピーディスクのような磁気記録媒体からの読
み出しのためのシステムで用いられている。これらのセ
ンサには、モノリシック部分すなわち高い磁気抵抗を持
つ、強磁性合金から作られるブロックが含まれるが、そ
れは記録部が流れ去る間に磁気抵抗効果型センサの電気
抵抗の変化を再生する読み出しヘッドの磁気回路内に置
かれる。現在最も多く使用される合金は、高磁気抵抗を
有するNiCo、NiFe(パーマロイ)のようなニッ
ケルを基材とした強磁性合金であるが、これは大気温度
で、わずか2〜3%の抵抗の相対変化しか与えない。
これらはセンサの感知素子が磁気材料と非磁気材料とを
交互に積層した多重層によって構成されるときに生じる
「極めて大きい磁気抵抗」として知られる現象を用いた
ものである。この多重層では、磁気層は磁界外の強磁性
(平行)型結合部、または磁界中の反強磁性(反平行)
型結合部を有し、また1つの状態から他の状態への遷移
が小さな磁界間隔で生じる。これらの多重層センサの欠
点は、層の磁化を平行状態から反平行状態に遷移させる
「反転」のために必要とされる磁界の値が過大なことで
ある。層が正規の厚さを有しかつ相互に結合されるとき
は強い磁界が必要とされる。「反転」のエネルギーは、
1つの層を隣接する2つの層と結合させるのに用いられ
るエネルギーの和に等しい。
果型弱磁界センサ、特に遷移エネルギーが小でありかつ
弱い磁界の測定に適している多層構造物を提案するもの
である。
なくとも1つのセルを有するが、その中に磁気材料の3
つの層とそれらの層間に介在する2つの非磁気材料の層
とが混在している。2つの非磁気材料の厚さは異なり、
中央磁気層が隣接する第1磁気材料層と反強磁性的に結
合され、かつ隣接する第2磁気材料層と強磁性的に結合
され、中央層の磁化の配向にかかわらず、2つの結合の
内の1つはフラストレーションを起こし、すなわちそれ
は他の磁界相互作用および結合がないときに必要なもの
に対応しない。
つの磁気材料層と、隣接する2つの磁気材料層間に介挿
された非磁気材料層とによって形成される金属多重層を
備えた磁気抵抗効果型弱磁界センサに関し、金属多重層
内の中央層である第2磁気材料層の結合が、第1磁気材
料層に対しては反強磁性型であり、また第3磁気材料層
に対しては強磁性型であり、それによってこのセンサで
測定される磁界のいかんにかかわらず結合のフラストレ
ーションの現象が生じる。
部を示すものである。この構造体はそれ自体公知のもの
であるが、本発明によるセンサの基本を構成する。剛性
を有する基板(図示されていない)の上に、例えばカソ
ード・スプレイすることによって、磁気材料層1,3,
5と、隣接する磁気材料層間に介挿された非磁気材料層
2,4とからなる単結晶多層構造体が形成されている。
Ag、Au、Mn、Cr、VaおよびTiである。磁気
材料はとりわけFe、Ni、Coであり、また最も普通
の組合せはFe/Cr、Co/Au、Fe/Cuである
が、Gd/Y、Gd/Dy、Dy/Y、Y/Erなどの
ような希土類の組合せも本発明のために用いることがで
きる。
の精度に関連した非一様性を除く)、また約5オングス
トロームから100オングストロームまでの範囲内であ
り、したがって磁界がないときは、磁気材料層1,3,
5は反強磁性型の結合を有する。この型の結合は、図1
に3つの矢印記号6,7,8によって具体的に示されて
いるが、外部磁界がないときは、磁気材料層1の磁化が
例えば図の右手に向けられるならば(矢印6)、隣接す
る磁気材料層3(非磁気層2は磁化されない)は左手
(矢印7)に向けられ、したがって反平行であり、また
磁気材料層5の磁化は再度右手(矢印8)に向けられ、
その結果再び前の磁気材料層3に関して反平行である。
磁界がないときに磁気材料層1,3,5における磁化の
状態は反平行配列である。
により、図1の反平行配列(反強磁性結合)の状態は図
2に具体的に示される平行配列(強磁性結合)の状態に
変わり、この場合、磁化状態はすべて同じ配向を有す
る。反平行配列の状態から平行配列の状態への遷移は、
磁界の微小間隔に生じる。
り変わる。電流を伝導する電子は、2つの値、+1/2 ま
たは−1/2 を有しかつその軸の回りの電子の回転方向に
対応するスピンを有する。説明を簡潔化するために、こ
れら2つの型の電子を「ハイ」電子および「ロー」電子
と称することにする。反平行状態の多重層(図1)で
は、「ハイ」電子は「ハイ」磁化状態(矢印6,8)を
持つ層との境界部で拡散され、また「ロー」電子は「ロ
ー」磁化状態(矢印7)を持つ層との境界部で拡散され
る。かくして、磁気材料層1,3,5はすべて電流の通
過に対して同じ「ハイ」値の抵抗を有し、さらに多重層
の抵抗はハイである。対照的に、平行状態の多重層では
(図2)、「ハイ」電子は「ハイ」層の上に拡散される
が、「ロー」電子はどんな層の上にも拡散されない(逆
もまた同じである)。したがって、「ロー」電子は多重
層にロー抵抗をもたらす。これは多重層構造体のある一
定の特徴でのみ「巨大磁気抵抗」と呼ばれ、また制限さ
れた磁界における磁界の変化による抵抗の変化が磁気抵
抗効果によってセンサの目的に使用できるような材料の
性質と呼ばれる磁気抵抗である。
厚さを有するFe/Cr多重層の3つの構造体につい
て、磁界Hの関数として、磁界作用下の抵抗と磁界非作
用下の抵抗との比R/RH=0 の変化を示すものである。
図から分かるように、このシステムでは、磁気抵抗比R
/RH=0 は約1と0.5との間で変わるが、この変化は
対照的に、この例の20キロガウス(kG)の逆の強力
な磁界のコストで得られる。
なすわち平行/反平行の反転を得るのに要する飽和磁界
Hsの過大な値は、極めて大きい磁気抵抗によって構成
される有利を相対的なものにする。飽和磁界Hsを減少
させるために、層間の距離を増加させることによって結
合の力を減少させることができるが、磁気抵抗が極めて
速やかに減少するのは、導電性金属の容積が電子の拡散
される境界の数を増加させずに増加されるからである。
層、すなわち層間の磁気結合のフラストレーションとい
う特性を使用する極めて弱い磁界によって作動する磁気
抵抗効果型センサである。これは、これらのセンサの飽
和磁界Hsを減少させることができる。
る特定の組合せの材料について、非磁気材料層の厚さの
関数として発振の現象を受けることは、ごく最近の知識
の事柄である。さらに特定すると、結合の性質は連続磁
気層間の強磁性または反強磁性がそれらの間の非磁気材
料の厚さに左右されるかどうかによる。
の厚さtCuの関数として、材料Co/CuおよびFe/
Cuの2つの組合せに関する磁気抵抗MRの発振のこの
型の2つの例を示すものである。ここで、銅層は多重層
中に一様な厚さを有する。磁化は反平行の形(反磁性結
合)に、微小な銅の厚さ(Co/Cuでは10オングス
トローム以下で、Fe/Cuでは15オングストローム
以下)であり、またそのとき、銅の厚さが増加するとき
平行の形(強磁性結合)を取る。さらに銅の厚さを(そ
れぞれ15オングストロームおよび20オングストロー
ム以上まで)増加させることによって、システムは反平
行の形に戻り、工程はこの方法で連続する。
この現象は、磁気抵抗を減少させずに磁気層間の固定を
減少させる本発明のセンサに使用される。図5は、この
磁気抵抗センサの基本的なセルを示す。
は、3つの磁気材料層9,11および13と、隣接する
磁気材料層間に介挿された非磁気材料層10および12
とによって形成される金属多重層であるという特質を有
する。この多重層を支持する基板は図示されていない。
またそれは、次の図にも示されていない。好適な磁気材
料(9,11,13)は鉄、コバルト、ニッケルであ
り、また好適な非磁気材料(10,12)は銅、銀、
金、マンガン、クロム、バナジウムまたはチタンであ
る。
いろな磁気層を結合する相互作用の配列にある。結合フ
ラストレーションは飽和磁界を減少させ、したがって反
転エネルギーを減少させるように作用する。こうするに
は、第1の非磁気材料層、例えば層10、の厚さe1 が
定められ、その結果第2磁気材料層、セルの中央層、す
なわち層11は第1磁気材料層9との反強磁性結合を有
する。同様に、第2の非磁気材料層の厚さe2 が定めら
れるので、同じ第2磁気材料層11は第3磁気材料層1
3との強磁性結合を有し、この結合は前の反強磁性結合
よりも少し弱い。だが、さらに、第1および第3磁気材
料層9,13はそれらの強い抗電界に対して選ばれるの
で、これら2つの層の磁化(矢印6および8)は強磁性
構造でブロックされる。つまり、層9および13の磁化
がブロックされるので、また3つの磁気材料層間の結合
の性質が2つの非磁気材料層の厚さe1 およびe2 によ
って制御されるので、2つの結合の内の1つは必ず磁化
の配向にかかわらずフラストレーションが起こされる。
ストレーションが結合11−13に関するのは、それが
結合9−11より少し弱くなるように選ばれたからであ
るが、厚さe1 およびe2 および材料の選択は反対の状
況を生じることがある。
材料の選択に関するものである。第1磁気材料が第2非
磁気材料と交互に位置するFe/Cuのようなシステム
は、それが磁気材料層9/11と13/11との間の2
つの結合の内の1つについてフラストレーションを伴う
厚さe1 、e2 に対応するならば、本発明の分野に属す
る。
な基本的セルでは、第1および第3磁気材料層9,13
は「ハード」磁気材料、すなわち強い抗電界を持つ材料
で作られる。センサの正規な動作において、感知すべき
磁界はあまりにも弱すぎるので、強磁性形状でブロック
される2つの層の磁化を逆にする。
は、弱い飽和磁界を有する、すなわち逆の弱磁界型の
「ソフト」磁気材料から作るのが望ましい。それは例え
ば鉄である。
性)から平行位置(強磁性)まで変わるときに大きな磁
気抵抗が現われる。この順列を必要とする磁界は、結合
のフラストレーションによりそれぞれ反強磁性および強
磁性結合に対応するエネルギーEafとEf との間の差に
等しい2つの位置間のエネルギーの差によって定められ
る。その結果、極めて低い磁界によって高い磁気抵抗が
生ずる。すなわち本発明によるセンサは弱い磁界に対し
て敏感である。対照的に、結合フラストレーションを用
いない既知のセンサでは、逆のエネルギーはエネルギー
EafとEf との和に等しく、これらのセンサは敏感では
ない。
事実、磁気抵抗性センサには多数の同様なセル、すなわ
ち30層とか、40層、60層などの例が頻繁に見られ
る。これは図6が本発明によるセンサの領域のみを示す
理由であり、その基板は図示されていない。
センサはA、B…と集合的に示されたセルの積重体を単
位とし、それを積層することによって形成されるが、そ
の場合、セルの第3磁気材料層(13,23)はそれぞ
れ次のセルの第1磁気材料層を構成する。非磁気材料層
の積重ねの順序は、厚さがe1 、e2 、e1 、e2 、e
1 …型またはe1 、e2 、e2 、e1 、e2 …型の順を
形成するようにされるが、e1 の厚さを持つ2つの層
は、そのとき「ソフト」材料(11,21)で作られた
対応する層がフラストレーションを起こさないように相
互に隣接しなければならない。それによってセンサは感
度を失うからである。厚さe1 およびe2の順序の変化
は、「ハード」磁気材料層(9,13,23)および
「ソフト」磁気材料層(11,12)の積重ねの順序の
どのような変化をも伴わない。
気抵抗センサは三重の交互配置構造を持っている。
れ、磁気材料層の中で、強い抗電界を持つ「ハード」型
材料は弱い飽和電界を持つ「ソフト」型材料と交互に配
置され、非磁気材料層の中で、厚さが変わるので、磁気
材料層間の結合は交互に強磁性型および反強磁性型とな
る。
の読み出しに特に好適に使用される。
多層構造体の縦断面図。
層構造体の縦断面図。
図。
て示す曲線図。
型の多層構造体を示す図。
気抵抗効果型の多層構造体を示す図。
Claims (7)
- 【請求項1】少なくとも3つの磁気材料層と、隣接する
2つの磁気材料層間に介挿された非磁気材料層とによっ
て形成される金属多重層を備え、金属多重層中の中央層
である第2磁気材料層の結合が第1磁気材料層に対して
は反強磁性型であって、第3磁気材料層に対しては強磁
性型であり、それにより、測定される磁界のいかんにか
かわらず結合のフラストレーション現象を生じることを
特徴とする磁気抵抗効果型弱磁界センサ。 - 【請求項2】第1非磁気材料層の厚さが第1磁気材料層
と第2磁気材料層との間の反強磁性結合に対して選定さ
れ、また第2非磁気材料層の厚さは第2磁気材料層と第
3磁気材料層との間の強磁性結合に対して選定されるこ
とを特徴とする請求項1による弱磁界センサ。 - 【請求項3】金属多重層において、磁気材料層は強い保
磁力を持つ「ハード」型材料と弱い飽和磁化を持つ「ソ
フト」型材料とが交互に配置されていることを特徴とす
る請求項1による弱磁界センサ。 - 【請求項4】「ハード」型磁気材料層の磁化はそれらの
強い保磁力によってブロックされることを特徴とする請
求項3による弱磁界センサ。 - 【請求項5】「ソフト」型磁気材料層は、隣接する非磁
気材料層の厚さにより磁気結合が「フラストレーショ
ン」される磁気材料層であることを特徴とする請求項3
による弱磁界センサ。 - 【請求項6】「ハード」磁気材料はCoおよびNiの中
から選択され、「ソフト」磁気材料はFeおよびNiF
eの中から選択され、また非磁気材料はCu、Ag、A
u、Mn、Cr、VおよびTiの中から選択されること
を特徴とする請求項3による弱磁界センサ。 - 【請求項7】磁気材料および非磁気材料と、 「ハード」磁気材料および「ソフト」磁気材料と、 選択された厚さを持つ複数の非磁気材料との三重の交互
配置構造を持っており、「ソフト」材料層の結合の内の
一方は反強磁性であり、他方は強磁性であることを特徴
とする請求項1〜6のいずれかによる弱磁界センサ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR9116042 | 1991-12-23 | ||
FR919116042A FR2685489B1 (fr) | 1991-12-23 | 1991-12-23 | Capteur de champ magnetique faible a effet magnetoresistif. |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06181349A JPH06181349A (ja) | 1994-06-28 |
JP3295152B2 true JP3295152B2 (ja) | 2002-06-24 |
Family
ID=9420413
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34259892A Expired - Fee Related JP3295152B2 (ja) | 1991-12-23 | 1992-12-22 | 磁気抵抗効果型弱磁界センサ |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5313186A (ja) |
EP (1) | EP0550306B1 (ja) |
JP (1) | JP3295152B2 (ja) |
DE (1) | DE69219750T2 (ja) |
FR (1) | FR2685489B1 (ja) |
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