JP3279473B2 - 斜角探傷方法および装置 - Google Patents
斜角探傷方法および装置Info
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Description
を特定の入射角で送受信し、検査対象内の欠陥を検出す
るための斜角探傷方法および斜角探傷装置、ならびにこ
の斜角探傷装置を使用した超音波検査装置に関する。
いて、検出信号のSN比を向上させる技術としては、例
えば特開昭63−214664号公報および特開昭63
−262562号公報記載の技術が知られている。一
方、溶接部の欠陥を検出するために用いられる方法とし
て縦波斜角探傷法も知られている。しかし、この方法で
は、検出信号のSN比が低いため、精度が低くなり、使
用範囲に限界があった。そこで、このような斜角探傷法
におけるSN比の向上が望まれ、例えば、特開昭60−
14165号に記載のように探触子と欠陥の距離を一定
にして、複数回超音波を送受信し、受信信号を時間加算
処理してSN比を向上させるようにした方法も知られて
いる。
傷における従来技術では、電気ノイズなどのように時間
軸上でランダムに発生するノイズを加算平均することに
よりこれを相対的に低下させるようにしているが、非対
象物からの反射波のように時間軸上の特定の位置に生ず
るノイズを低減する点については配慮されておらず、結
果的に充分にSN比を向上させるには至っていない。
たもので、その目的は、ランダムノイズおよび特定位置
のノイズを相対的に低減し、斜角探傷における検出信号
のSN比を向上させ、溶接部の微小欠陥を高感度で検出
可能な斜角探傷方法および斜角探傷装置を提供すること
にある。
用して原子力プラントの溶接部の欠陥を検査することの
できる超音波検査装置を提供することにある。
に、第1の手段は、被検査体上で超音波探触子を走査
し、被検査体内に被検査体の表面に対して斜めの入射角
で超音波を送信するとともに対象物からの反射信号を受
信して得られた対象物の反射波データと超音波探触子の
位置信号から対象物の有無と位置を検出する斜角探傷方
法において、前記対象物の反射波データと超音波探触子
の位置信号から対象物の仮想位置を求める工程と、前記
超音波探触子の位置と対象物の仮想位置との相対位置に
応じて遅延時間を設定する工程と、当該設定された遅延
時間ずれた受信信号の波形を加算する工程とを含み、前
記受信信号の波形の加算により反射波強度を高めて前記
検出を行うことを特徴としている。
工程が、計測する各位置のy方向の受信信号を加算処理
した信号のピーク値からx方向の仮想欠陥位置を求め、
この仮想欠陥位置を基準とし、x方向の相対位置に応じ
て時間シフト量を設定して受信信号同志の波形を加算す
る処理を含むように構成するとよい。なお、前記時間シ
フト量(Δt)は、前記仮想欠陥位置からの伝播距離を
L0 、前記仮想欠陥位置から任意の距離だけシフトした
位置からの伝播距離をLi 、音速をCとしたときに、 Δt=2(Li −L0 )/C で設定される量と定義することができる。
波形を加算する領域を予め測定しておいた超音波探触子
のビームの拡がりから設定することもできる。
をバースト波とし、ギャップを介して配された被検体の
欠陥の検出に適用することも可能である。
を走査し、被検査体内に被検査体の表面に対して斜めの
入射角で超音波を送信するとともに対象物からの反射信
号を受信して得られた対象物の反射波データと超音波探
触子の位置信号から対象物の有無と位置を検出する斜角
探傷装置において、前記対象物の反射波データと超音波
探触子の位置信号から対象物の仮想位置を求め、前記超
音波探触子の位置と対象物の仮想位置との相対位置に応
じて遅延時間を設定する演算手段と、受信信号の波形加
算処理を行う波形加算手段とを備えていることを特徴と
している。なお、前記波形加算処理は、計測する各位置
のy方向の受信信号を加算処理した信号のピーク値から
x方向の仮想欠陥位置を求め、この仮想欠陥位置を基準
とし、x方向の相対位置に応じて時間シフト量を設定し
て受信信号の波形を加算する処理を含み、前記時間シフ
ト量(Δt)は、例えば、前記仮想欠陥位置からの伝播
距離をL 0 、前記仮想欠陥位置から任意の距離だけシフ
トした位置からの伝播距離をL i 、音速をCとしたとき
に、 Δt=2(L i −L 0 )/C で設定される量である 。
子のビームの拡がりから設定した波形加算領域を記憶す
る手段をさらに設け、前記波形加算手段が前記波形加算
領域において加算処理を実行するように構成することも
できる。
信する送信手段と、被検査体内のギャップ長に応じてバ
ースト波の周波数を制御する送信制御手段とをさらに設
け、ギャップを介して配された被検査体内の欠陥を検出
するように構成することもできる。
探触子を直線上に並べてなる超音波アレイ探触子から構
成し、当該超音波アレイ探触子の各探触子の遅延時間を
設定する遅延制御手段と、各探触子の動作を切り替える
切替手段とを設け、物理的に探触子を移動させることな
く、電気的に位置を変更して走査するように構成するこ
ともできる。
プラントのシュラウドやCRDスタブチューブにも適用
することが可能であり、これによりシュラウドやCRD
スタブチューブの溶接部の欠陥検出手段として前記斜角
探傷装置を超音波検査装置に組み込んで検査を行うよう
に構成することもできる。
定原理および実施形態について説明する。
方法の原理について図2〜図7を参照して説明する。本
発明では、欠陥と探触子の相対位置に応じて各受信信号
に時間シフト量を設定する必要があるため、欠陥の仮想
位置を求めることが必要である。以下に、この欠陥の仮
想位置の設定法について記述する。
であり、ここでは、被検査体20の溶接部22内の欠陥
21を検出する場合の検査法を示している。この例で
は、被検査体20の上面に配置した探触子14から被検
査体20内へ被検査体20の上面に垂直なz軸(前記上
面に平行にx軸およびy軸が設定されているとする。)
に対してあらかじめ設定された入射角θ(例えば45
°)の方向に超音波ビーム15を送信し、欠陥21から
の反射波を受信するようになっている。ここで、探触子
14を被検査体20上でx,y方向にΔxi ,Δyj ピ
ッチ単位で二次元走査し、各位置(xi,yj )における
受信信号E(i,j)を受信し、波形メモリで記憶す
る。
仮想欠陥位置x0 を求める。ここでは、欠陥は発生頻度
の高い溶接部に平行なy方向の欠陥を対象としている。
したがって、欠陥反射波が受信される位置近傍xi にお
いて、y方向の各受信信号を加算することで欠陥反射波
の強度を高めることができる。この処理により、欠陥の
仮想位置を決定することが可能となる。図3に示すよう
に位置(xi,yj )の受信信号E(i,j)と位置(x
i,yj+1 )の受信信号E(i,j+1)を加算すれば、
欠陥エコー42の強度を高くすることができる。このよ
うにして求めた欠陥エコー42の波高値pとx方向の位
置の関係を求めたものが図4である。この位置xと波高
値pとの関係43で最大波高値p0 となる位置を仮想欠
陥位置x0 とする。このようにして、波形加算処理の基
準となる仮想欠陥位置を求める。
ーを高めるための波形加算処理を用いた本発明の原理に
ついて説明する。
す説明図である。探触子14の仮想欠陥位置x0 で超音
波15を送受信し、欠陥21からの受信信号E0 (t)
を受信する。次に、探触子14をΔxi だけシフトし、
位置xi から超音波15を送受信し、受信信号E
i (t)を受信する。位置xi の受信信号Ei (t)で
は位置x0 より欠陥21までの距離が長くなるため、欠
陥エコー42の伝播時間は特定位置ノイズ41よりΔt
i だけシフトする。このシフト時間Δti は、
距離、Li は位置xi の伝播距離、Cは音速である。
すなわち、特定位置ノイズ41は探触子14の走査に依
存しないため、図6に示すように探触子14をシフトし
ても反射波は同一伝播時間に現われる。ここで、受信信
号Ei (t)を−Δti だけシフトした信号Ei (t−
Δti )を考える。この信号Ei (t−Δti )では、
欠陥エコー42は信号E0 (t)と同一伝播時間に現わ
れる。また、特定位置ノイズ41は、原信号の時間をシ
フトするため、その伝播時間は距離Δxi によって変わ
る。したがって、信号E0 (t)と原信号の時間をシフ
トした信号Ei(t−Δti )を加算することにより、
欠陥エコー42では反射波の位相が同位相になるため強
度は高くなる。一方、特定位置ノイズ41では同位相を
ならないため強度は低くなる。このように探触子14の
位置を変えてEi (t−Δti )をn回加算した信号S
(t)は、
は、特定位置ノイズが低減されて欠陥エコーの強度は高
くなり検出信号のSN比は向上する。
により検出信号のSN比を向上させることができる。
施形態に係る斜角探傷装置について図1および図8を参
照して説明する。図1は第1の実施形態に係る斜角探傷
装置の構成を示すブロック図、図8は送受信信号を示す
図である。
1、受信器2、ゲート回路3、A/D変換器4、波形メ
モリ5、波形データ演算部6、走査制御部7、走査機構
8、位置検出器9、メモリ10、データ記憶部11、波
形データ表示部12、画像表示部13および探触子14
から基本的に構成されている。このような各構成要素を
備えた斜角探傷装置では、まず、送信器1から送信パル
スP(t)を探触子14に送信する。これにより探触子
14から被検査体20内に所定の入射角で超音波ビーム
15が送信され、溶接部22内に欠陥21があると、そ
の欠陥21からの反射波を探触子14で受信する。一
方、探触子14で受信した信号E”(t)には図8に示
すように電気ノイズ40が重畳され、受信器2で増幅さ
れる。この信号E”はゲート回路3で時間ゲート31を
かけられ,特定エコー(位置ノイズ41および欠陥エコ
ー42)のみを抽出され信号E’(t)となる。この信
号E’(t)はA/D変換器4を介して波形メモリ5で
デジタル信号として記憶される。この記憶された波形デ
ータは波形データ演算部6に送られ、前述の時間加算平
均処理が行われて電気ノイズ40が低減され、メモリ1
0に各位置の受信信号E(t)として記憶される。波形
データ演算部6にはメモリ10、データ記憶部11が接
続されており、波形データ同志の加算処理等の演算が実
行される。この演算結果は、波形データ表示部12に波
形の形で、また、画像表示部13に超音波で映像化した
被検査体の断面情報等の形で表示される。さらに、探触
子14は、x,y方向に走査できる走査機構8に接続さ
れており、走査制御部7の指令によりx,y方向に二次
元走査する。この走査における位置信号は位置検出器9
で検出され、波形データ演算部6に送られる。各位置の
受信信号は、探触子14の走査位置(xi , yj )に対
応した波形データとしてメモリ10に記憶される。
る斜角探傷のアルゴリズムを図7のフローチャートに示
す。すなわち、このアルゴリズムでは、まず最初に探触
子14を二次元走査し、特定ピッチ単位で各位置
(xi , yj )の受信信号を時間加算平均し、受信信号
E(t)として波形メモリに記憶する(ステップ70
1)。次に、x方向位置xi においてy方向の各受信信
号を加算し、欠陥と予想される伝播時間の反射波の波高
値を求める(ステップ702)。ここで、x方向で反射
波の波高値が最大となる位置x0 を求め、仮想欠陥位置
とする(ステップ703)。この仮想欠陥位置x0 を基
準として、位置xi の受信信号Ei (t)を−Δti だ
けシフトし信号Ei (t−Δti )を求める(ステップ
704)。さらに位置x0 の受信信号E0 (t)と信号
Ei (t−Δti )の加算処理を実行する(ステップ7
05)。このような波形加算処理をΔxi ピッチずれた
位置で受信した信号Ei (t)を用い、終了するまで継
続して実行する(ステップ706)。さらにこの処理で
求めた欠陥信号強度が最大値かどうか判定する(ステッ
プ707)。ここで、欠陥信号強度が最大でなければ、
仮想欠陥位置x0 を更新しながら最大値になるまで継続
して実行する(ステップ708)。
斜角探傷を行った実験結果は以下のようになる。図9に
実験装置の構成を、図10にその実験結果を示す。
0の溶接部22内に存在する長さ10mmのスリット欠
陥21を検出したもので、探触子14をΔxi =0.2
5mmだけシフトし、入射角θ=45°で斜角探傷した
場合のものである。
42の強度は位置ノイズ41の強度より小さく、SN比
は1以下である。しかし、図10(b)に示すように式
(2)で示す波形加算処理を実施することにより、欠陥
エコー42の強度を位置ノイズ41の強度より高くする
ことができ、SN比を2以上にすることができる。これ
より、本発明が斜角探傷におけるSN比の向上に有効で
あることを確認できた。なお、この実施形態における加
算回数は6回である。
態の概要を示す説明図、図12は欠陥位置におけるx方
向の超音波ビームの拡がりを示す特性図である。
れる超音波ビーム15uは特定の拡がりを持っている。
超音波ビームの拡がりは、位置x0 を中心に図12にお
いて符号43で示すような強度分布を持っている。波形
加算処理において、欠陥エコー強度向上に寄与する領域
はその強度の最大値I0 がI0 /2になる位置xe まで
であると考えられる。したがって、波形加算処理では位
置x0 から位置xe までの波形データを加算すればよ
い。このことから、この実施形態では位置x0 から位置
xe までの波形データを用いて波形加算処理を実行す
る。なお、斜角探傷装置自体は、前述の図1に示したも
のと同等に構成されているので、同等な各部には同一の
参照符号を付し、説明は省略する。
合の処理のアルゴリズムを図13のフローチャートに示
す。このアルゴリズムでは、まず、ステップ700−1
で予め検査位置における探触子のビームの拡がりを測定
し、加算領域x0 〜xe をデータ記憶部11に記憶す
る。そして、前述の図7と同等のステップ701からス
テップ705までの処理を実行し、ステップ706−1
で前記設定した加算領域x0 〜xe において位置x0 か
ら位置xe までの波形データを用いて波形加算処理を実
行する。そして、ステップ707、もしくはステップ7
07およびステップ708の処理を実行して終了する。
すなわち、この実施形態においては、ステップ700と
ステップ706−1の処理を除いて第1の実施形態と同
等のアルゴリズムで処理されることとなる。
14に示すように2つの被検査体の間にギャップがある
場合の超音波検査に本発明を適用した場合の例である。
し、ギャップ35内の媒質52を経由して媒質53に伝
播する場合を想定している。超音波は媒質51と媒質5
2との境界面54で反射し、さらに、媒質52と媒質5
3との境界面55でも反射する。ところが、ギャップ長
がギャップ内波長の1/4の場合には、媒質52と媒質
53との境界面55を通過した超音波とギャップ35を
往復した超音波の位相は逆相になるので、媒質53を伝
播する超音波は打ち消し合う(図14−C)。一方、ギ
ャップ長がギャップ内波長の1/2の場合には、媒質5
2と媒質53との境界面55を通過した超音波とギャッ
プ35を往復した超音波の位相は同相になるので、媒質
53を伝播する超音波は強めあって媒質53へ超音波が
伝播する(図14−F)。このようにギャップ35を介
して伝播する超音波強度が最大になる条件は、
w はギャップ内の波長、nは整数である。
は、
はギャップ内の音速である。
波数を設定することにより、境界面55での通過率を大
きくすることができ、ギャップ35を介した超音波検査
を実現することができる。
を行う斜角探傷装置の概略的な構成を図15に示す。ま
た、図16はこの送受信信号を示す図である。ここで
は、図15のブロック図から分かるように欠陥21の反
射波を受信する第1の探触子14aとギャップ35から
の反射波を受信する第2の探触子14bの2つの探触子
を用いている。また、第1の実施形態における送信器1
に代えて、電力増幅器1a、バースト波発生回路1bお
よび送信制御部1cを設け、送信制御部1cは波形デー
タ演算部6と双方向に送受信可能に構成し、前記電力増
幅器1aから第1の探触子14aに信号が出力され、受
信した信号は受信器2に入力されるように構成し、第2
の探触子14bから受信した信号は受信器2に入力され
るように構成されている。その他の各部は前述の第1の
実施形態における各部と同等に構成されている。
バースト波発生回路1bと電力増幅器1aで発生した高
電圧のP(t)で示されるバースト波45を第1の探触
子14aに印加する。この印加に応じて第1の探触子1
4aからはバースト波状の超音波15aが被検査体20
a,20b内に所定の入射角をもって送信され、欠陥2
1からの反射波E”(t)を受信する。一方、第2の探
触子14bではギャップ35から超音波15bが反射さ
れ反射波g(t)を受信する。送信制御部1cではこの
信号g(t)のギャップエコー強度46(図16)が最
小になるように送信周波数を設定し、高電圧のバースト
波を第1の探触子14aに送信する。受信器2で受信す
る信号はバースト波状の超音波信号E”(t)である。
これ以降の処理は前述の第1の実施形態と同一である。
図19のフローチャートに示す。このアルゴリズムで
は、まず最初に、ギャップ長に応じて送信バースト波P
(t)の周波数を掃引し、ギャップ通過周波数を設定す
る(ステップ700−2)。この設定した周波数の送信
バースト波P(t)を用いて超音波を送信し、さらに受
信した波形データを用いて波形加算処理を実行する。こ
れ以降の処理は図7に示した第1の実施形態における処
理手順と同一である。
斜角探傷を行った実験結果は以下のようになる。図17
に実験装置の構成を、図18にその実験結果を示す。
ギャップ35を介して配置された第2の平板試験体20
bの溶接部22内のスリット欠陥21を検出した実験結
果であり、第1および第2の平板試験体20a,20b
の板厚は、それぞれ16mmおよび19mmであり、欠
陥21の長さ10mmで、Δxi を0.2mmとして実
行した。図18(a)に示す原波形では欠陥エコー42
の強度は位置ノイズ41の強度より小さく、SN比は1
以下である。しかし、図18(b)に示すように本発明
の波形加算処理を実施すると、10回の波形加算処理で
欠陥エコー42の強度を位置ノイズ41の強度より高く
することができ、SN比を2以上にすることができる。
これより、本実施形態における探傷装置および探傷方法
がギャップを介した斜角探傷におけるSN比の向上に有
効であることを確認できた。
の実施形態に係る斜角探傷装置の構成を示すブロック図
である。この実施形態は、複数の振動子を並べたアレイ
探触子を用い、x方向の超音波ビームの走査を電子的に
実施する斜角探傷装置の例である。
の実施形態における探触子14に代えて、アレイ探触子
14c、高電圧スイッチ16、遅延素子17および遅延
制御部17aを設けるともに、スイッチ制御部16aと
位置検出部16bを設けたもので、その他の各部は前述
の第1の実施形態における斜角探傷装置と同等に構成さ
れている。
ルスを遅延素子17および高電圧スイッチ16を介して
アレイ探触子36に送信する。遅延制御部17aでは、
超音波ビームの入射角に対応して各アレイ素子の遅延時
間を遅延素子17に設定しており、アレイ探触子14c
から被検査体20内に超音波ビーム15が送信される。
スイッチ制御部16aでは高電圧スイッチ16の制御デ
ータを設定しており、この高電圧スイッチ16を切り替
えることにより超音波ビーム15を被検査体20のx方
向に電子的に走査することができる。さらにスイッチ制
御部16aは、位置検出部16bに接続されており、x
方向の位置データを波形データ演算部6に入力する。こ
のような操作によりアレイ探触子14cを用いて、x方
向に超音波ビームを走査し、各位置の受信信号を探触子
の走査位置(xi , yj )に対応した波形データとして
メモリ10に記憶され、第1の実施形態と同等に処理さ
れる。
アルゴリズムを図21のフローチャートに示す。このア
ルゴリズムでは、まず最初に、被検査体のx方向はアレ
イ探触子を電子的に走査し、被検査体のy方向はアレイ
探触子を機械的に走査することで超音波ビームを二次元
走査する(ステップ700−3)。このように、この実
施例では探触子の走査がy方向の1軸走査だけで済む。
これ以降の処理は第1実施例と同一である。
斜角探傷装置を原子炉圧力容器内のシュラウド溶接線の
検査装置に適用した第5の実施形態を示す概略図であ
る。
61の上部のフランジ60に取付けられており、走査制
御装置71の制御により周方向および軸方向へ移動する
ことによって検査を実施する。この検査装置63の先端
はリンク構造になっておりジェットポンプ64等の障害
物を回避して溶接線62近傍に探触子14を設置するこ
とが可能である。探傷信号および走査位置信号は超音波
検査装置72へ送られ、前述の処理を含む各種信号処理
を行い検査結果を断面図および平面図の形で映像として
表示する。
波探傷装置を原子炉圧力容器下部のCRDスタブチュー
ブ溶接部の検査装置に適用した第6の実施形態を示す概
略図である。検査はCRDハウジング83に設置した探
触子14から超音波を送信し、ギャップ35を介してC
RDスタブチューブ81と圧力容器下鏡80の溶接部8
2の欠陥84を検出するものである。探触子14は走査
制御装置71に接続されており、CRDハウジング83
内部を走査する。また、探傷信号および走査位置信号は
超音波検査装置72へ送られ前述の処理を含む各種信号
処理を行い検査結果を断面図および平面図の形で映像と
して表示する。なお、このギャップ35が前述の第3の
実施形態におけるギャップ35に相当し、第3の実施形
態がこのような装置の検査に有効なことが分かる。
の反射波データと超音波探触子の位置信号から対象物の
仮想位置を求め、超音波探触子の位置と対象物の仮想位
置との相対位置に応じて遅延時間を設定し、当該設定さ
れた遅延時間ずれた受信信号の波形を加算するので、対
象物からの反射波強度を高め、ランダムノイズおよび特
定位置のノイズを低減させ、相対的に検出信号のSN比
を向上させることができ、これにより、溶接部内の微小
欠陥を高感度で検出することが可能となる。
材の欠陥も高感度で検出することができる。
構成を示すブロック図である。
である。
めの図である。
位置の関係を示す図である。
の探触子のシフト量と探触子の位置の関係を示す図であ
る。
原理を説明するための図である。
ローチャートである。
するための図である。
験結果を説明するための図である。
波形加算処理の状態を示す図である。
状態を示す図である。
波強度と加算領域の関係を示す特性図である。
ーチャートである。
を説明するための図である。
を示すブロック図である。
たときの信号処理の状態を説明するための図である。
の状態を示す図である。
波形加算処理の状態を示す図である。
ーチャートである。
示すブロック図である。
ーチャートである。
ュラウド検査装置に適用した例を示す図である。
RDスタブチューブ検査装置に適用した例を示す図であ
る。
Claims (12)
- 【請求項1】 被検査体上で超音波探触子を走査し、被
検査体内に被検査体の表面に対して斜めの入射角で超音
波を送信するとともに対象物からの反射信号を受信して
得られた対象物の反射波データと超音波探触子の位置信
号から対象物の有無と位置を検出する斜角探傷方法にお
いて、前記対象物の反射波データと超音波探触子の位置信号か
ら対象物の仮想位置を求める工程と、 前記超音波探触子の位置と対象物の仮想位置との相対位
置に応じて遅延時間を設定する工程と、 当該設定された遅延時間ずれた受信信号の波形を加算す
る工程と、 を含み、前記受信信号の波形の加算により反射波強度を
高めて前記検出を行うことを特徴とする斜角探傷方法。 - 【請求項2】 前記波形を加算する工程が、計測する各
位置のy方向の受信信号を加算処理した信号のピーク値
からx方向の仮想欠陥位置を求め、この仮想欠陥位置を
基準とし、x方向の相対位置に応じて時間シフト量を設
定して受信信号の波形を加算する処理を含むことを特徴
とする請求項1記載の斜角探傷方法。 - 【請求項3】 前記時間シフト量(Δt)が、前記仮想
欠陥位置からの伝播距離をL0 、前記仮想欠陥位置から
任意の距離だけシフトした位置からの伝播距離をLi 、
音速をCとしたときに、 Δt=2(Li −L0 )/C で設定される量であることを特徴とする請求項2記載の
斜角探傷方法。 - 【請求項4】 前記受信信号の波形を加算する工程にお
いて、波形を加算する領域を予め測定しておいた超音波
探触子のビームの拡がりから設定することを特徴とする
請求項1または2記載の斜角探傷方法。 - 【請求項5】 前記超音波探触子に送信する送信波がバ
ースト波であり、前記被検体がギャップを介して配され
ていることを特徴とする請求項1記載の斜角探傷方法。 - 【請求項6】 被検査体上で超音波探触子を走査し、被
検査体内に被検査体の表面に対して斜めの入射角で超音
波を送信するとともに対象物からの反射信号を受信して
得られた対象物の反射波データと超音波探触子の位置信
号から対象物の有無と位置を検出する斜角探傷装置にお
いて、前記対象物の反射波データと超音波探触子の位置信号か
ら対象物の仮想位置を求め、 前記超音波探触子の位置と
対象物の仮想位置との相対位置に応じて遅延時間を設定
する演算手段と、 受信信号の波形加算処理を行う波形加算手段と、 を備えていることを特徴とする斜角探傷装置。 - 【請求項7】 前記波形加算処理が、計測する各位置の
y方向の受信信号を加算処理した信号のピーク値からx
方向の仮想欠陥位置を求め、この仮想欠陥位置を基準と
し、x方向の相対位置に応じて時間シフト量を設定して
受信信号の波形を加算する処理を含むことを特徴とする
請求項6記載の斜角探傷装置。 - 【請求項8】 前記時間シフト量(Δt)が、前記仮想
欠陥位置からの伝播距離をL 0 、前記仮想欠陥位置から
任意の距離だけシフトした位置からの伝播距離をL i 、
音速をCとしたときに、 Δt=2(L i −L 0 )/C で設定される量であることを特徴とする請求項 7記載の
斜角探傷装置。 - 【請求項9】 予め測定しておいた超音波探触子のビー
ムの拡がりから設定した波形加算領域を記憶する手段を
さらに備え、前記波形加算手段は前記波形加算領域にお
いて加算処理を実行することを特徴とする請求項6記載
の斜角探傷装置。 - 【請求項10】 前記超音波探触子にバースト波を送信
する送信手段と、被検査体内のギャップ長に応じてバー
スト波の周波数を制御する送信制御手段とをさらに備え
ていることを特徴とする請求項6または9記載の斜角探
傷装置。 - 【請求項11】 前記超音波探触子が複数の超音波探触
子を直線上に並べてなる超音波アレイ探触子からなると
ともに、当該超音波アレイ探触子の各探触子の遅延時間
を設定する遅延制御手段と、各探触子の動作を切り替え
る切替手段とを備えていることを特徴とする請求項6、
9および10のいずれか1項に記載の斜角探傷装置。 - 【請求項12】 請求項6ないし11のいずれか1項に
記載の斜角探傷装置 が、原子力プラントのシュラウドま
たはCRDスタブチューブの溶接部の欠陥検出手段とし
て含まれていることを特徴とする超音波検査装置。
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JPH09243608A JPH09243608A (ja) | 1997-09-19 |
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