JP3256416B2 - 光情報記録制御方法及び光情報記録制御装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光情報記録制御方法
及び光情報記録制御装置に関し、特に光ビームにより情
報が記録される光磁気ディスク等の光記録媒体に対し、
最適な記録条件を求めるための試し書き記録制御方法及
び試し書き記録制御装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来から、熱的な記録により記録媒体上
に形成される記録領域のパターンを制御する記録制御方
法がある。

【０００３】例えば、特開平５−２９８７３７号公報に
は、記録媒体に記録すべき記録マークの長さと幅を制御
する方法として、記録パルスとして記録媒体に照射され
たレーザー光による記録媒体内を拡散する熱の流れを制
御する方法が開示されている。

【０００４】ここでは、上記記録媒体内を拡散する熱の
流れを制御するために、例えば電子情報通信学会技法Ｍ
Ｒ９２−９１（１９９３−０３），ｐ４５〜５０『光記
録制御の解析法』に開示された記録媒体の温度伝搬に関
する特性を確認することから始まり、薄膜上の熱伝達に
関する複雑なコンピュータシミュレーションによる解析
を行うという手法が実施されている。

【０００５】また、このような解析結果に基づいて装置
化を行った例として、特開平５−２９０４３７号公報に
は、光ビームの変調を制御する制御手段を、パワーレベ
ル，パルス幅，若しくは，パルス間隔について予め定め
た値の中から選択された値に基づいて簡易的に動作させ
るようにした光磁気ディスク装置が示されている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
に、記録媒体を保護する誘電体等を有する多層膜構造の
光ディスクにおいて、記録媒体に照射されたレーザー光
により記録媒体内を拡散する熱の流れを制御するには、
例えば上記電子情報通信学会技法ＭＲ９２−９１（１９
９３−０３）に示されているように、記録媒体の温度伝
搬に関する特性を確認し、熱の多層膜間での拡散につい
ての非常に複雑な方程式を解くという作業を要すること
になる。

【０００７】このため、情報の記録再生装置に装着され
る、構造が異なる種々の光ディスクに対応して、記録媒
体内を拡散する熱の流れの制御が行われるように記録条
件を設定することは事実上不可能であるという課題があ
った。

【０００８】また、特開平５−２９０４３７号公報に開
示の光情報記録制御方法では、試し書きしたテスト用記
録パターンと、該テスト用記録パターンの再生信号との
比較結果に基づいて、光パルス列を構成するパルスのパ
ワーレベル，パルス幅，若しくは、パルス間隔について
予め定めた値の中から所要のものを選択し、該選択され
た値により光ビームの制御を簡易的に行っている。とこ
ろがこの場合には、予め解析を行った記録媒体構造に基
づいて、パワーレベル等の設定値が決定されているた
め、解析結果に見合った特性のディスクにしか対応でき
ないという課題があった。

【０００９】本発明は上記のような課題を解決するため
になされたもので、記録媒体の膜構造に伴う温度特性の
違いや膜厚変動、さらには環境温度変動等による記録媒
体に対する記録感度変動等に拘らず、最適記録条件を記
録光のパワーレベルとして直接求めることができ、これ
により記録媒体と記録装置との適合性を、記録媒体の特
性について広い範囲に渡って向上することができる光情
報記録制御方法を得ることを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】この発明に係る光情報記
録制御方法は、記録媒体の所定領域への光スポットの照
射により、該記録媒体上に未記録領域とは物理的に異な
る記録領域を形成して情報の記録を行う記録再生装置に
おける記録条件を設定するための光情報記録制御方法で
あって、記録レーザ波形を規定する３つのレーザパワー
における最大レベルおよびプリヒートレベル設定のため
の第１の試し書きデータの記録再生により、各最大レベ
ルおよびプリヒートレベルを設定し、残る１つのレベル
を設定するための第２の試し書きデータの記録再生によ
り、そのレベルを設定するようにしている。そのことに
より、上記目的が達成される。

【００１１】この発明は、請求項１記載の光情報記録制
御方法において、前記第１の試し書きデータとして、前
記光スポット径よりも短い記憶領域を、隣接する記憶領
域間で熱干渉が十分生ずる間隔で繰り返し配列してなる
繰り返しマークパターンと、該光スポット径よりも短い
記憶領域を、隣接する記憶領域間で熱干渉がほとんど生
じない間隔で繰り返し配列してなる孤立マークパターン
とを組み合わたマークパターンに対応するものを用い、
前記最大レベル及びプリヒートレベルは、該第１の試し
書きデータの再生信号の、該繰り返しマークパターンに
対応する部分のレベルと、該再生信号の、孤立マークパ
ターンに対応する部分のレベルとのレベル差に基づいて
設定するようにしている。

【００１２】この発明は、請求項１記載の光情報記録制
御方法において、前記第２の試し書きデータとして、前
記光スポット径よりも短い記憶領域を、隣接する記憶領
域間で熱干渉が十分生ずる間隔で繰り返し配列してなる
第１の繰り返しマークパターンと、該光スポット径より
も長い記憶領域を、隣接する記憶領域間で熱干渉が十分
生ずる間隔で繰り返し配列してなる第２の繰り返しマー
クパターンとからなるマークパターンに対応するものを
用い、前記残る１つのレベルは、該第２の試し書きデー
タの再生信号の、第１及び第２の繰り返しマークパター
ンに対応する部分を所要の信号成分について比較した比
較結果に応じて設定するようにしている。

【００１３】この発明に係る光情報記録制御装置は、記
録媒体の所定領域への光スポットの照射により、該記録
媒体上に未記録領域とは物理的に異なる記録領域を形成
して情報の記録を行う記録再生装置における記録条件を
設定するための光情報記録制御装置において、記録レー
ザ波形を規定するための、孤立マークパターンと第１の
間隔で繰り返される第１繰り返しマークパターンとから
なる第１の試し書きデータと、該第１の間隔で繰り返さ
れる第１繰り返しマークパターンと該第１の間隔と異な
る第２の間隔で繰り返される第２繰り返しマークパター
ンとからなる第２の試し書きデータとを発生する試し書
きデータ生成手段と、前記第１の試し書きデータを繰り
返し再生して、第１の試し書きデータからの再生信号同
士を比較判別し、前記第２の試し書きデータを繰り返し
再生して、第２の試し書きデータからの再生信号同士を
比較判別する比較判別手段と、前記試し書きデータ生成
手段に前記第１及び第２の試し書きデータを発生させ、
記録媒体へ記録せしめるとともに、前記比較判別手段の
比較判別結果に基づいて前記記録条件である記録レーザ
波形を規定する試し書き制御手段と、を備えている。以
下、作用について説明する。

【００１４】この発明においては、記録再生装置と記録
媒体との適合性を規定する３つの記録条件である３つの
レーザパワーのうちの最大レベル及びプリヒートレベル
を第１の試し書きデータの記録再生により設定し、該３
つの記録条件である３つのレーザパワーのうちの残る１
つのレベルを第２の試し書きデータの記録再生により設
定するようにしたから、試し書きの際には、３つの記録
条件である３つのレーザパワーの変化と記録媒体温度と
の相関を断ち切ることができる。このため、該３つの記
録条件である３つのレーザパワーの変化と記録媒体温度
との相関を断ち切られた状態にて、最大レベル及びプリ
ヒートレベルの最適値を、該両記録条件の間で成立する
２つの関数から第３の記録条件の如何に拘らず求めるこ
とができ、さらに、最大レベル及びプリヒートレベルを
最適値に設定した状態で、残る１つのレベルの最適値
を、上記適合性に関わる１つの基準に基づいて得ること
ができる。

【００１５】このようにして記録媒体に対して記録レー
ザ波形を規定する３つのパワーレベルを設定することに
より、記録波形の強度の最適化により記録媒体と記録装
置との適合性を向上できる。これにより、記録媒体の膜
構造に伴う温度特性の違いや膜厚変動等、さらには環境
温度変動等による記録媒体に対する記録感度変動等に関
係なく、様々な記録媒体（ディスク）に対して良好な記
録を行うことができる。

【００１６】また、試し書きの際、光スポット径よりも
短い記録マークを用いることにより、記録条件を限定
し、また記録マークの長さに記録マーク間の長さを組み
合わせることにより、つまり、第１の試し書きデータ
を、繰り返しマークパターンと孤立マークパターンとを
組み合わたマークパターンに対応するものとすることに
より、最大レベル及びプリヒートレベルの間で成立する
２つの関数として、熱干渉及びデューティーの条件を用
いることができ、これらの条件に基づいて、上記最大レ
ベル及びプリヒートレベルの最適値を記録レーザ波形に
含まれる２つのパワーレベルとして直接求めることがで
きる。

【００１７】また、第２の試し書きデータを、記憶領域
の間隔が異なる第１及び第２の繰り返しマークパターン
からなるマークパターンに対応するものとしたので、最
大レベル及びプリヒートレベルの最適値を用いて、残る
１つのレベルの最適値を、該第２の試し書きデータの再
生信号に基づいて、記録レーザ波形に含まれる第３のパ
ワーレベルとして直接求めることができる。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。

【００１９】（実施の形態１）図１は、本発明の実施の
形態１による記録制御方法を説明するための図であり、
該記録制御方法を適用した情報記録再生装置の概略構成
を示している。

【００２０】図において、１００は情報記録再生装置
で、これは、情報を記憶させるための記録媒体１と、レ
ーザ素子及び受光素子を有し、記録再生を実現するため
の光へッド２と、記録情報を記録パルスに変換して光へ
ッド２に伝える記録系１１０と、光へッド２から得られ
た再生信号から再生情報を得るための再生系１２０とか
ら構成されている。上記記録系１１０には、試し書きデ
ータを生成して符号器３に供給する試し書きデータ生成
器１０２、及び試し書きの際、各部の制御を行う試し書
き制御装置（試し書きコントローラ）１０１が設けられ
ており、上記再生系１２０には、試し書きデータの再生
信号を比較判別する比較判別器８が設けられている。

【００２１】上記記録系１１０においては、記録情報が
符号器３により記録データに変換されて記録パルス生成
器４に入力され、該記録パルス生成器４より得られる記
録パルスがレーザードライバー５に入力され、記録パル
ス列に応じた光強度信号が光ヘッド２に出力される。す
ると、光ヘッド２は、該光強度信号に対応したレーザ光
を上記記録媒体１上に絞り込んで照射する。

【００２２】一方、再生系１２０においては、記録媒体
１から反射された光が、光へッド２により電気信号に変
換される。該変換された電気信号は、波形処理器６にお
いて必要な振幅への増幅処理や波形等化処理が施され、
２値化された後ディジタル信号に変換され、復号器７に
て再生情報に戻される。

【００２３】ここで、試し書き制御装置１０１は、記録
時には、試し書きデータ生成器１０２を、これが所定の
パターンの試し書きデータを発生するよう制御して、試
し書きデータを符号器３に入力させ、これにより試し書
きデータの記録媒体１への記録を行う。

【００２４】また、再生時には、上記試し書き制御装置
１０１は、波形処理器６を制御して、該波形処理器６よ
り波形等化処理を施さない所定振幅の再生信号を比較判
別器８に入力させ、再生信号の状態の比較判別を行う。
そして、試し書き制御装置１０１は、該比較判別結果に
基づいて記録条件を設定する。つまりここでは、レーザ
ドライバ５を調整して、記録レーザ波形の３つのパワー
レベルを、記録装置１００と記録媒体（ディスク）１と
の適合性が満たされるよう最適値に設定する。図２は、
光へッド２から出射するレーザー波形の例を示す図であ
る。ここでは、レーザ光の変調信号として、一般によく
知られている（１，７）ＲＬＬ方式の１．３３Ｔ〜５．
３３Ｔ変調信号を用い、記録レーザ波形として、該各変
調信号に対応する７種類の記録波形を用いている。

【００２５】図に示すようにレーザー波形は、検出窓幅
と等しい周期Ｔｗの記録クロックに同期してパワーレベ
ルが変化するものであり、オフレベルＰoff（例えば０
レベルである。）とともに、記録時に用いられる３つの
パワーレベルＰｂ，Ｐｅ，Ｐｗを有している。つまり、
レーザ波形は、再生時に使用する再生パワーＰｒと異な
る４つのパワーレベルを有している。ただし、１．３３
Ｔレーザ波形は、パワーレベルＰｅは有していない。な
お、Ｐｂはプリヒートレベル、Ｐｗは記録時の最大レベ
ル、Ｐｅは記録時の中間レベルである。

【００２６】上記各パワーレベルの光強度は、０≦Ｐof
f≦Ｐｒ＜Ｐｂ，Ｐｅ＜Ｐｗとしており、パワーレベル
Ｐｂ，Ｐｅは、ディスクの温度特性により順位が異な
る。また、ここで、パワーレベルＰoffとは、記録マー
クを形成するレーザー波形のパワーレベルＰｗを示す最
後のパルスの次に来る、再生パワーＰｒよりも低いパワ
ーレベルをいう。

【００２７】以上のような条件で記録する場合、３つの
記録条件、つまり３つのパワーレベルＰｂ，Ｐｅ，Ｐｗ
の変化による記録媒体温度は、３つの記録条件による変
化がお互いに影響し合うため１回の試し書きにより最適
記録条件を求めることは困難である。

【００２８】このため、試しが書きにおいて３つ記録条
件の変化と記録媒体温度との相関を断ち切るための検討
を行い、２段階の試し書き処理方法の有効性を確認し
た。

【００２９】２段階の試し書き処理方法とは、第１の試
し書き処理において、第１の試し書きデータを用いて上
記パワーレベルＰｂとＰｗを求め、第２の試し書き処理
において第２の試し書きデータを用いて残るパワーレベ
ルＰｅを求める方法である。まず、第１の試し書き制御
における２つのパワーレベルＰｂとＰｗの最適化につい
て説明する。

【００３０】この場合は後述する２つの相対関係を求
め、これらを同時に満足させることによってＰｂ、Ｐｗ
の絶対値を求める。

【００３１】図３は、第１の試し書きデータを記録再生
した時の記録媒体１上の記録マークと再生信号を模式的
に示している。

【００３２】この時のレーザー波形は、１．３３Ｔ記録
パルスのみにより構成されており、Ｐｂ，Ｐｗのパワー
レベルを用いて表される。図３において、△Ｖｔは、再
生信号の密間隔部分（繰り返しマークパターン）Ｘ₁の
再生信号レベルと、疎間隔部分（孤立マークパターン）
Ｘ₂の再生信号レベルとの差を示しており、パワーレベ
ルＰｗの立ち上がり時の記録媒体温度が記録マーク間の
長さによらず等しければ、△Ｖｔ＝０となるため、△Ｖ
ｔ＝０となる（Ｐｂ，Ｐｗ）のパワーレベルの組み合わ
せを熱干渉条件とした。

【００３３】なお、Ｘm，Ｘsは記録マークのパターン，
及び再生信号であり、Ｘm’，Ｘs’はそれぞれ、△Ｖｔ
≠０である場合、つまり記録条件であるＰｂとＰｗとが
最適化されていない場合の、疎間隔部分Ｘ₂における記
録マークのパターン，及び再生信号である。また、Ｌc
は再生信号Ｘsの中心レベルである。ここで、上記記録
マークＸmは光スポット径より短いものとなっている。

【００３４】また、非マーク部分の再生信号振幅を示す
値としてＶａ，Ｖｂを用い、密間隔部分Ｘ₁の全再生信
号振幅の半分の値をＶａとし、疎間隔部分Ｘ₂の全再生
信号振幅からＶａを差し引いた値をＶｂとした。これに
より、（２Ｖａ）／（２Ｖｂ）が短信号の繰り返し全信
号振幅と長信号の繰り返し全信号振幅の比（つまり光へ
ッドのＯＴＦ）に相当することとなるため、（２Ｖａ）
／（２Ｖｂ）＝ＯＴＦとなる（Ｐｂ，Ｐｗ）のパワーレ
ベルの組み合わせをデューティー条件とした。

【００３５】この２つの条件，つまり熱干渉条件とデュ
ーティー条件について、Ｐｂ，Ｐｗの相関関係を求め、
これらの条件を同時に満足させるＰｂ、Ｐｗの絶対値を
求める。これによりパワーレベルＰｂ、Ｐｗの最適化を
行うことができる。

【００３６】この２条件に基づいて試し書きを行った結
果を図４に示す。上記各条件により規定されるパワーレ
ベルＰｂ、Ｐｗの関係は、両条件についてほぼ線形な関
係となっており、これらの関係を示す２直線の交点よ
り、該２条件を満たす（Ｐｂ，Ｐｗ）のパワーレベルの
組み合わせが求まる。

【００３７】次に、第２の試し書き制御により、残るパ
ワーレベルＰｅの最適化について説明する。この場合
は、第１の試し書きによりＰｂ，Ｐｗは、既知であるた
め、試し書き処理における記録条件の変数はＰｅのみと
なる。

【００３８】図５は、第２の試し書きデータを記録再生
した時の記録媒体１上の記録マークと再生信号を模式的
に示す。この時のレーザー波形は、１．３３Ｔ記録パル
スと４Ｔ記録パルスを組み合わせて構成しており、プリ
ヒートレベルとしてＰｂ、記録レベルとしてＰｗ，Ｐｅ
のパワーレベルを用いている。図５において、パワーレ
ベルＰｅの影響は４Ｔ記録パルスにおける記録マーク部
Ｙ₂の後半部分に現れるためマークエッジ条件とした。
マークエッジ条件の判別は、１．３３Ｔ信号の繰り返し
部分Ｙ₁のＤＣ成分と４Ｔ信号繰り返し部分Ｙ₂のＤＣ成
分とを比較することにより、両者の一致，不一致に基づ
いて行うことができる。

【００３９】図６は第２の試し書き処理を行った結果を
示す。この図６から分かるように、１．３３Ｔ信号と４
Ｔ信号の両ＤＣ成分の変化を示す直線の交点からパワー
レベルＰｅが求まる。

【００４０】なお、図５中、Ｙm1，Ｙs1は、上記１．３
３Ｔ信号の繰り返し部分Ｙ₁における記録マークのパタ
ーン，及び再生信号であり、Ｙm2，Ｙs2は、上記４Ｔ信
号の繰り返し部分Ｙ₂における記録マークのパターン，
及び再生信号である。Ｙm2’，Ｙs2’は、Ｐｅが最適化
されていない場合の、４Ｔ信号の繰り返し部分Ｙ₂にお
ける記録マークのパターン，及び再生信号である。ま
た、Ｌcは再生信号Ｙs1，Ｙs2の中心レベルである。こ
こで、記録マークＹm1は、光スポット径より短いもの、
記録マークＹm2は、光スポット径より長いものとなって
いる。

【００４１】このようにして、２回の試し書き処理によ
り３つのパワーレベルＰｂ，Ｐｅ，Ｐｗの組み合わせを
求めることが出来た。

【００４２】図７は、上述の試し書きの手順についての
フローチャートを示し、以下このフローチャートに沿っ
て上記試し書き処理を簡単に説明する。

【００４３】すなわち、まずディスクの試し書き領域の
情報を消去し（ステップＳ１）、その後、記録条件とし
てのプリヒート（非マーク）領域のパワーレベルＰｂに
ついて第１の初期値を設定する（ステップＳ２）。次
に、記録パルスのデータ記録（マーク形成）領域におけ
る最大パワーレベルＰｗについて初期値を設定し（ステ
ップＳ３）、第１の試し書き記録を行う（ステップＳ
４）。その後、該最大パワーレベルＰｗの値を変えて、
上記第１の試し書き記録を所定回数行う（ステップＳ
６，Ｓ４，Ｓ５）。

【００４４】次に、上記記録された試し書きデータの再
生を行い（ステップＳ７）、再生信号のピークレベル差
ΔＶｔ，再生信号レベル差Ｖａ，Ｖｂを検出し（ステッ
プＳ８）、これらの検出結果を取り込む（ステップＳ
９）。

【００４５】その後、これらのステップＳ７〜Ｓ９によ
る処理が所定回数行われたか否かを判定し（ステップＳ
１０）、該処理の回数が所定回数に満たない場合は、こ
れらの処理を繰り返す。

【００４６】上記ステップＳ７〜Ｓ９による処理を所定
回数行った後、パワーレベルＰｂの設定値が第２の初期
値であるか否かの判定を行い（ステップＳ１１）、パワ
ーレベルＰｂの設定値が第２の初期値でない場合は、パ
ワーレベルＰｂの設定値を第２の初期値として（ステッ
プＳ１２）、上記ステップＳ３〜１１までの処理を再度
行う。

【００４７】一方、パワーレベルＰｂの設定値が第２の
初期値である場合は、上記ピークレベル差ΔＶｔが０と
なり、かつ再生信号レベル差Ｖａ，ＶｂがＶａ／Ｖｂ＝
ＯＴＦとなる条件下で、パワーレベルＰｂ，Ｐｗの判
定，設定を行う（ステップＳ１３）。

【００４８】続いて、パワーレベルＰｅの判別，設定を
行う。

【００４９】すなわち、上記試し書き記録領域の情報を
消去した後（ステップＳ１４）、パワーレベルＰｅにつ
いて初期値を設定し（ステップＳ１５）、上記設定した
パワーレベルＰｂ，Ｐｗの最適値を用いて第２の試し書
き記録を行う（ステップＳ１６）。このとき、記録レー
ザ波形として１．３３Ｔレーザ波形及び４Ｔレーザ波形
を用いる。その後、該パワーレベルＰｅの値を変えて、
上記第２の試し書き記録を所定回数行う（ステップＳ１
８，Ｓ１６，Ｓ１７）。

【００５０】次に、上記記録された試し書きデータの再
生を行い（ステップＳ１９）、再生信号の１．３３Ｔ信
号の繰り返し部分のＤＣ成分と、４Ｔ信号の繰り返し部
分のＤＣ成分とを検出し（ステップＳ２０）、その値を
取り込む（ステップＳ２１）。

【００５１】そして上記ステップＳ１９〜Ｓ２１による
処理が所定回数行われた後、１．３３Ｔ信号の繰り返し
部分のＤＣ成分と、４Ｔ信号の繰り返し部分のＤＣ成分
との差が０となる条件下で、パワーレベルＰｅの判定，
設定を行い（ステップＳ２３）、試し書き領域の情報を
消去する（ステップＳ２４）。

【００５２】図８は、以上の処理による効果を確認する
ために行った、ランダム記録パターンの記録再生試験の
結果を示している。

【００５３】この記録再生試験では、光磁気ディスクを
用い、最短記録マーク長ｌ＝０．６４μｍ，線速ｖ＝
９．０ｍ／ｓ，記録クロック周期Ｔｗ＝３５．４ｎｓと
し、上記２段階の試し書き処理により求めた記録条件
（Ｐｂ，Ｐｅ，Ｐｗ）＝（２．８５，３．８，６．９）
ｍＷにてランダムパターンを記録再生した。

【００５４】図８（ａ）は信号長とジッターとの関係、
図８（ｂ）は信号長とエッジシフト量との関係を示して
いる。ここで、白四角，及び黒四角は、例えば図３ある
いは図５に示す再生信号波形の中間レベルＬcよりプラ
ス側の信号幅、及びマイナス側の信号幅に対応するもの
である。図８（ａ）では、白四角及び黒四角は、上記プ
ラス側及びマイナス側の信号幅についての、要素１００
万個に対する標準偏差として、各信号長に対するジッタ
ーを示しており、図８（ｂ）では、白四角及び黒四角
は、上記プラス側及びマイナス側の信号幅についての、
要素１００万個に対する平均値として、各信号長に対す
るエッジシフト量を示している。

【００５５】この図から分かるように、ランダムパター
ンにおける平均ジッターα＝３．１９ｎｓ，平均エッジ
シフト量Ｔｅ＝０．８７ｎｓと良好な値を得た。これら
の値は、その評価基準であるＴｗ／１０(＝３．５４)に
比べて小さい値となっており、非常に良好な記録条件を
実現できた。

【００５６】また、図２に示す変調波形を用いた記録方
法では、パワーレベルＰｂ，ＰｅをＰｂ＜Ｐｅとする条
件においては、種々の記録媒体（ディスク）に対して記
録装置と記録媒体との適合性を満足する最適記録条件を
設定することができた。

【００５７】このような構成の本実施の形態では、
（１，７）変調方式の１．３３Ｔ信号に基づく記録レー
ザ波形を用いて第１の試し書きデータの記録を行い、該
第１の試し書きデータの再生信号レベルのパルス密間隔
部分とパルス粗間隔部分でのピークレベル差ΔＶｔが０
となる熱干渉条件と、パルス密間隔部分とパルス粗間隔
部分での振幅レベルの比Ｖａ／ＶｂがＯＴＦに基づく理
想的な比率となるデューティ条件とに基づいて、記録レ
ーザ波形のパワーレベルを設定するようにしている。

【００５８】このため、１．３３Ｔ信号に基づく記録レ
ーザ波形が、記録領域の最高パワーレベルＰｗと非記録
部分のプリヒートレベルＰｂにより規定されていること
から、該両パワーレベルＰｗ及びＰｂを、上記熱干渉条
件とデューティ条件を共に満たす値として求めることが
できる。

【００５９】また、（１，７）変調方式の１．３３Ｔ信
号及び４Ｔ信号に基づく記録レーザ波形を用いて第２の
試し書きデータの記録を行い、該第２の試し書きデータ
の再生信号レベルのＤＣ成分が、１．３３Ｔ信号部分と
４Ｔ信号部分とで一致する条件下にて、記録レーザ波形
のパワーレベルを設定するようにしている。

【００６０】このため、（１，７）変調方式の１．３３
Ｔ信号以外の信号に基づく記録レーザ波形の、記録領域
における中間パワーレベルＰｅを、上記パワーレベルＰ
ｗ及びＰｂと独立して求めることができる。

【００６１】このようにして記録レーザ波形を規定する
３つのパワーレベルの設定を、２種類の試し書きデータ
を用いて行うことにより、記録感度変動等の影響を小さ
く抑え込み、良好な再生信号を得ることができる。

【００６２】このような試し書き方法により記録媒体に
対して記録レーザ波形を規定する３つのパワーレベルを
設定することにより、記録波形の強度の最適化により記
録媒体と記録装置との適合性を向上できる。これによ
り、記録媒体の膜構造に伴う温度特性の違いや膜厚変動
等、さらには環境温度変動等による記録媒体に対する記
録感度変動等に関係なく、様々な記録媒体（ディスク）
に対して良好な記録を行うことができる。

【００６３】また、試し書きの際、光スポット径よりも
短い記録マークを用いることにより、記録条件を限定さ
せて、記録マークの長さに記録マーク間の長きを組み合
わせて熱干渉及びデューティーの条件を調べることがで
きる。

【００６４】さらに、光スポットより短い記録マークの
繰り返し信号に対する再生信号のデューティーは、光へ
ッドの光学特性（ＯＴＦ）により規定される条件に常に
等しく、この条件のデューティと長い記録マークの繰り
返し信号に対する再生信号のデューティーとを比較する
ことにより、長い記録マークの繰り返し部分の記録マー
クの形状を調べることができる。

【００６５】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、記
録媒体の膜構造に伴う温度特性に違いや膜厚変動等、さ
らには環境温度変動等による記録媒体に対する記録感度
変動等に関係なく、試し書きデータの記録再生により最
適記録条件を、記録レーザ波形のパワーレベルとして直
接求めることができる。このため、光ディスクと記録装
置の適合性を、光ディスクの記録媒体特性の幅広い範囲
に渡って向上することができる。また、この試し書きに
より得られる最適記録条件を用いて記録することによ
り、良好な記録再生特性を確保することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態における光情報記録制御方
法を適用した記録再生装置の概略構成を示す図である。

【図２】上記実施の形態における記録レーザー波形を示
す図である。

【図３】第１の試し書きに用いる記録マークのパターン
及び再生信号を模式的に示す図である。

【図４】第１の試し書きに用いた１．３３Ｔ変調信号に
よる記録レーザ波形における、最大パワーレベルＰｗと
プリヒートレベルＰｂとの関係を示す図である。

【図５】第２の試し書きに用いた記録マークのパターン
及び再生信号を模式的に示す図である。

【図６】第２の試し書きに用いた１．３３Ｔ変調信号及
び４Ｔ変調信号による記録レーザ波形のパワーレベルＰ
ｅと、それぞれの変調信号による記録レーザ波形のＤＣ
成分との関係を示す図である。

【図７】上記実施の形態の光情報記録制御方法における
試し書きの手順をフローチャートで示す図である。

【図８】上記試し書きにより求めた最適記録条件につい
ての記録再生の評価結果を示す図である。

【符号の説明】

１ 光記録媒体 ２ 光へッド ３ 符号器 ４ 記録パルス生成器 ５ レーザードライバー ６ 波形処理器 ７ 復号器 ８ 比較判別器 １００ 情報記録再生装置 １０１ 試し書き用コントローラ １０２ 試し書き用データ生成器 １１０ 記録系 １２０ 再生系

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平７−153078（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−195716（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−73468（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−73469（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/00 - 7/013 G11B 7/125 G11B 11/105

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 記録媒体の所定領域への光スポットの照
   射により、該記録媒体上に未記録領域とは物理的に異な
   る記録領域を形成して情報の記録を行う記録再生装置に
   おける記録条件を設定するための光情報記録制御方法で
   あって、 記録レーザ波形を規定する３つのレーザパワーにおける
   最大レベルおよびプリヒートレベル設定のための第１の
   試し書きデータの記録再生により、各最大レベルおよび
   プリヒートレベルを設定し、 残る１つのレベルを設定するための第２の試し書きデー
   タの記録再生により、そのレベルを設定する、光情報記
   録制御方法。
2. 【請求項２】 請求項１記載の光情報記録制御方法にお
   いて、 前記第１の試し書きデータは、 前記光スポット径よりも短い記憶領域を、隣接する記憶
   領域間で熱干渉が十分生ずる間隔で繰り返し配列してな
   る繰り返しマークパターンと、該光スポット径よりも短
   い記憶領域を、隣接する記憶領域間で熱干渉がほとんど
   生じない間隔で繰り返し配列してなる孤立マークパター
   ンとを組み合わたマークパターンに対応するものであ
   り、 前記最大レベル及びプリヒートレベルは、該第１の試し
   書きデータの再生信号の、該繰り返しマークパターンに
   対応する部分のレベルと、該再生信号の、孤立マークパ
   ターンに対応する部分のレベルとのレベル差に基づいて
   設定される光情報記録制御方法記。
3. 【請求項３】 請求項１記載の光情報記録制御方法にお
   いて、 前記第２の試し書きデータは、 前記光スポット径よりも短い記憶領域を、隣接する記憶
   領域間で熱干渉が十分生ずる間隔で繰り返し配列してな
   る第１の繰り返しマークパターンと、該光スポット径よ
   りも長い記憶領域を、隣接する記憶領域間で熱干渉が十
   分生ずる間隔で繰り返し配列してなる第２の繰り返しマ
   ークパターンとからなるマークパターンに対応するもの
   であり、 前記残る１つのレベルは、該第２の試し書きデータの再
   生信号の、第１及び第２の繰り返しマークパターンに対
   応する部分を所要の信号成分について比較した比較結果
   に応じて設定される光情報記録制御方法。
4. 【請求項４】 記録媒体の所定領域への光スポットの照
   射により、該記録媒体上に未記録領域とは物理的に異な
   る記録領域を形成して情報の記録を行う記録再生装置に
   おける記録条件を設定するための光情報記録制御装置に
   おいて、 記録レーザ波形を規定するための、孤立マークパターン
   と第１の間隔で繰り返される第１繰り返しマークパター
   ンとからなる第１の試し書きデータと、該第１の間隔で
   繰り返される第１繰り返しマークパターンと該第１の間
   隔と異なる第２の間隔で繰り返される第２繰り返しマー
   クパターンとからなる第２の試し書きデータとを発生す
   る試し書きデータ生成手段と、前記第１の試し書きデータを繰り返し再生して、第１の
   試し書きデータからの再生信号同士を比較判別し、前記
   第２の試し書きデータを繰り返し再生して、第２の試し
   書きデータからの再生信号同士を 比較判別する比較判別
   手段と、前記 試し書きデータ生成手段に前記第１及び第２の試し
   書きデータを発生させ、記録媒体へ記録せしめるととも
   に、前記比較判別手段の比較判別結果に基づいて前記記
   録条件である記録レーザ波形を規定する試し書き制御手
   段と、を備えたことを特徴とする光情報記録制御装置。