JP3251486B2 - 回路遮断器およびそのテスト装置 - Google Patents
回路遮断器およびそのテスト装置Info
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- JP3251486B2 JP3251486B2 JP01346996A JP1346996A JP3251486B2 JP 3251486 B2 JP3251486 B2 JP 3251486B2 JP 01346996 A JP01346996 A JP 01346996A JP 1346996 A JP1346996 A JP 1346996A JP 3251486 B2 JP3251486 B2 JP 3251486B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、検出電流の一部
を電子回路の作動電源としている電子式回路遮断器とそ
のテスト装置に関するもので、特にテスト時の消費電力
を少なくし、また、引外し検出回路が瞬時引外しと時限
引外しとに分けて構成された回路に対し個別にオフライ
ンで動作テストを行うテスト装置に関する。
を電子回路の作動電源としている電子式回路遮断器とそ
のテスト装置に関するもので、特にテスト時の消費電力
を少なくし、また、引外し検出回路が瞬時引外しと時限
引外しとに分けて構成された回路に対し個別にオフライ
ンで動作テストを行うテスト装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図７は、例えば特開昭６０−７９６２１
号公報に示された従来の電子式回路遮断器の引外し動作
テスト装置の回路図である。図において、１は電子式回
路遮断器、２は主回路導体、３は主回路導体２の電流を
検出する変流器、４は変流器３の二次出力を直流にする
整流回路、５はこの整流回路４の出力レベルが所定レベ
ルと所定時限とを越えたことを判定してサイリスタ６を
作動させる判定回路である。
号公報に示された従来の電子式回路遮断器の引外し動作
テスト装置の回路図である。図において、１は電子式回
路遮断器、２は主回路導体、３は主回路導体２の電流を
検出する変流器、４は変流器３の二次出力を直流にする
整流回路、５はこの整流回路４の出力レベルが所定レベ
ルと所定時限とを越えたことを判定してサイリスタ６を
作動させる判定回路である。
【０００３】７は引外しコイルであり、サイリスタ６の
作動による電流で図示しない開閉機構を介して主回路接
点８を開離する。１０は引外し動作テスト装置、１１は
外部電源１５からテスト信号を生成するテスト信号発生
回路であり、整流回路や定電圧回路等から構成されてい
る。１２は電流表示器、１３はテスト信号設定器、１４
はテストスイッチ、１６は回路遮断器１と引外し動作テ
スト装置１０とのテスト信号回路を接続する接続コネク
タである。
作動による電流で図示しない開閉機構を介して主回路接
点８を開離する。１０は引外し動作テスト装置、１１は
外部電源１５からテスト信号を生成するテスト信号発生
回路であり、整流回路や定電圧回路等から構成されてい
る。１２は電流表示器、１３はテスト信号設定器、１４
はテストスイッチ、１６は回路遮断器１と引外し動作テ
スト装置１０とのテスト信号回路を接続する接続コネク
タである。
【０００４】電子式回路遮断器ではその動作を主回路導
体２が電源に接続されていない状態のオフラインでテス
トするためには、判定回路５等の電子式回路を駆動させ
るための電源と、変流器３が検出する主回路導体２の電
流に相当する引外しテスト信号を外部から与える必要が
ある。そこで、接続コネクタ１６を介して引外し動作テ
スト装置１０から駆動電源とテスト信号を外部電源１５
から編成して供給してオフライン動作テストを実施す
る。
体２が電源に接続されていない状態のオフラインでテス
トするためには、判定回路５等の電子式回路を駆動させ
るための電源と、変流器３が検出する主回路導体２の電
流に相当する引外しテスト信号を外部から与える必要が
ある。そこで、接続コネクタ１６を介して引外し動作テ
スト装置１０から駆動電源とテスト信号を外部電源１５
から編成して供給してオフライン動作テストを実施す
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の引
外し動作テスト装置では、引外し動作テスト装置１０の
外部電源１５を外部から得なければならず、新設の配電
盤等で全く外部電源が無い所ではオフラインテストが実
施できない。このため電池を用いた引外しテスト信号を
供給する引外し動作テスト装置が考えられるが、この動
作テスト装置は小形で可搬容易なものが望まれる。
外し動作テスト装置では、引外し動作テスト装置１０の
外部電源１５を外部から得なければならず、新設の配電
盤等で全く外部電源が無い所ではオフラインテストが実
施できない。このため電池を用いた引外しテスト信号を
供給する引外し動作テスト装置が考えられるが、この動
作テスト装置は小形で可搬容易なものが望まれる。
【０００６】そのためには重量と体積を最も占有する電
池を小さくする必要があり、電池が小形で長時間使用で
きるように動作テスト電流の省電流構成の動作テスト装
置を得る必要がある。従って、回路遮断器の動作テスト
が少ない消費電力で行えるテスト装置を得ることをこの
発明の第１の目的とする。
池を小さくする必要があり、電池が小形で長時間使用で
きるように動作テスト電流の省電流構成の動作テスト装
置を得る必要がある。従って、回路遮断器の動作テスト
が少ない消費電力で行えるテスト装置を得ることをこの
発明の第１の目的とする。
【０００７】また、回路遮断器において、その動作特性
は図８に示すように時限引外し特性と瞬時引外し特性が
ある。このため最近の電子式回路遮断器において、例え
ば図９のような特願平７−０７４９３３号に示される瞬
時引外しと、時限引外しとの各々の検出回路を設け別々
にレベル判定させているものがある。これは瞬時引外し
は主回路導体２の全電流を、時限引外しは複数相の相電
流を個別に過電流のレベル判定させるためである。
は図８に示すように時限引外し特性と瞬時引外し特性が
ある。このため最近の電子式回路遮断器において、例え
ば図９のような特願平７−０７４９３３号に示される瞬
時引外しと、時限引外しとの各々の検出回路を設け別々
にレベル判定させているものがある。これは瞬時引外し
は主回路導体２の全電流を、時限引外しは複数相の相電
流を個別に過電流のレベル判定させるためである。
【０００８】このように分別して動作テストが可能な回
路遮断器とそのテスト装置を得ると共に、瞬時引外しと
時限引外しの２種類のテスト信号がコネクタの接続点を
極力増やすことなく供給することのできることをこの発
明の第２の目的とする。
路遮断器とそのテスト装置を得ると共に、瞬時引外しと
時限引外しの２種類のテスト信号がコネクタの接続点を
極力増やすことなく供給することのできることをこの発
明の第２の目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】（１）この発明に係る回
路遮断器のテスト装置は、主回路の電流を検出する変流
器の二次出力を整流し、この整流出力を電源として電子
回路で構成された過電流検出用の瞬時引き外し判定回路
および時限引き外し判定回路に供給し、上記いずれかの
判定回路が過電流を検出すると、半導体スイッチを導通
して引き外しコイルに通電し上記主回路を遮断する回路
遮断器に対し、上記瞬時引き外し判定回路および時限引
き外し判定回路のいずれか一方へ選択的にテスト信号を
供給するテスト信号供給手段により上記瞬時引き外し判
定回路および時限引き外し判定回路の何れか一方へテス
ト信号を供給して過電流を検出させ上記半導体スイッチ
を駆動して動作テストを行う回路遮断器のテスト装置に
おいて、電池と、この電池から上記電子回路の作動電源
を供給する第１の作動電源供給手段と、上記半導体スイ
ッチが導通したことを検知する検知手段と、この検知出
力に応じて上記引外しコイルを作動させる電流を供給す
る第２の作動電源供給手段と、で構成したしたものであ
る。
路遮断器のテスト装置は、主回路の電流を検出する変流
器の二次出力を整流し、この整流出力を電源として電子
回路で構成された過電流検出用の瞬時引き外し判定回路
および時限引き外し判定回路に供給し、上記いずれかの
判定回路が過電流を検出すると、半導体スイッチを導通
して引き外しコイルに通電し上記主回路を遮断する回路
遮断器に対し、上記瞬時引き外し判定回路および時限引
き外し判定回路のいずれか一方へ選択的にテスト信号を
供給するテスト信号供給手段により上記瞬時引き外し判
定回路および時限引き外し判定回路の何れか一方へテス
ト信号を供給して過電流を検出させ上記半導体スイッチ
を駆動して動作テストを行う回路遮断器のテスト装置に
おいて、電池と、この電池から上記電子回路の作動電源
を供給する第１の作動電源供給手段と、上記半導体スイ
ッチが導通したことを検知する検知手段と、この検知出
力に応じて上記引外しコイルを作動させる電流を供給す
る第２の作動電源供給手段と、で構成したしたものであ
る。
【００１０】（２）また、上記（１）の回路遮断器のテ
スト装置において、第１の作動電源供給手段の供給電流
はパルス状の電流としたものである。
スト装置において、第１の作動電源供給手段の供給電流
はパルス状の電流としたものである。
【００１１】（３）また、上記（２）の回路遮断器のテ
スト装置において、作動電源供給手段は、第１の作動電
源供給手段のパルス状の電流に対し、電子回路の最低作
動電圧を維持するに必要な直流電流を重畳して供給する
第３の作動電源供給手段とで構成した手段としたしたも
のである。
スト装置において、作動電源供給手段は、第１の作動電
源供給手段のパルス状の電流に対し、電子回路の最低作
動電圧を維持するに必要な直流電流を重畳して供給する
第３の作動電源供給手段とで構成した手段としたしたも
のである。
【００１２】（４）また、上記（１）または（２）の回
路遮断器のテスト装置において、第２の作動電源供給手
段の電源供給動作に対応して、第１の作動電源供給手段
からの電源供給を停止すると共に、テスト信号供給手段
からのテスト信号を停止するリセット手段を設けたもの
である。（５）また、上記（３）の回路遮断器のテスト装置にお
いて、第２の作動電源供給手段の電源供給動作に対応し
て、第１および第３の作動電源供給手段からの電源供給
を停止すると共に、テスト信号供給手段からのテスト信
号を停止するリセット手段を設けたものである。
路遮断器のテスト装置において、第２の作動電源供給手
段の電源供給動作に対応して、第１の作動電源供給手段
からの電源供給を停止すると共に、テスト信号供給手段
からのテスト信号を停止するリセット手段を設けたもの
である。（５）また、上記（３）の回路遮断器のテスト装置にお
いて、第２の作動電源供給手段の電源供給動作に対応し
て、第１および第３の作動電源供給手段からの電源供給
を停止すると共に、テスト信号供給手段からのテスト信
号を停止するリセット手段を設けたものである。
【００１３】（６）また、上記（１）〜（５）のいずれ
か１項に記載の回路遮断器のテスト装置において、テス
ト信号供給手段は、正または負の交番波形のテスト信号
を発生させて、このテスト信号の極性に応じて瞬時引き
外し判定回路および時限引き外し判定回路の何れか一方
にテスト信号を与える手段としたものである。
か１項に記載の回路遮断器のテスト装置において、テス
ト信号供給手段は、正または負の交番波形のテスト信号
を発生させて、このテスト信号の極性に応じて瞬時引き
外し判定回路および時限引き外し判定回路の何れか一方
にテスト信号を与える手段としたものである。
【００１４】（７）また、上記（６）の回路遮断器のテ
スト装置において、テスト信号の極性に応じて瞬時引き
外し判定回路および時限引き外し判定回路の何れか一方
にテスト信号を与える手段として、正のテスト信号を導
通するダイオードと負のテスト信号を導通するダイオー
ドの一対のダイオードを設けた回路遮断器に対し、正の
テスト信号が与えられると、上記正側のダイオードを介
して瞬時引き外し判定回路および時限引き外し判定回路
の何れか一方にテスト信号を与え、負のテスト信号が与
えられると、上記負側のダイオードを介して上記他方の
判定回路にテスト信号を与えるようにしたものである。
スト装置において、テスト信号の極性に応じて瞬時引き
外し判定回路および時限引き外し判定回路の何れか一方
にテスト信号を与える手段として、正のテスト信号を導
通するダイオードと負のテスト信号を導通するダイオー
ドの一対のダイオードを設けた回路遮断器に対し、正の
テスト信号が与えられると、上記正側のダイオードを介
して瞬時引き外し判定回路および時限引き外し判定回路
の何れか一方にテスト信号を与え、負のテスト信号が与
えられると、上記負側のダイオードを介して上記他方の
判定回路にテスト信号を与えるようにしたものである。
【００１５】（８）この発明に係る回路遮断器は、主回
路の電流を検出する変流器の二次出力を整流し、この整
流出力を電源として電子回路で構成された過電流検出用
の瞬時引き外し判定回路および時限引き外し判定回路に
供給し、上記いずれかの判定回路が過電流を検出する
と、半導体スイッチを導通して引き外しコイルに通電し
上記主回路を遮断する回路遮断器において、正のテスト
信号を導通するダイオードと負のテスト信号を導通する
ダイオードの一対のダイオードを設け、正のテスト信号
が与えられると、上記正側のダイオードを介して瞬時引
き外し判定回路および時限引き外し判定回路の何れか一
方にテスト信号を与え、負のテスト信号が与えられる
と、上記負側のダイオードを介して上記他方の判定回路
にテスト信号を与えるようにすると共に、テスト装置と
接続するコネクタを３端子とし、この３端子をテスト時
の電源供給用端子、上記正および負のテスト信号が入力
されるテスト信号入力端子、上記二つの端子に対応する
共通のアース端子で構成したものである。
路の電流を検出する変流器の二次出力を整流し、この整
流出力を電源として電子回路で構成された過電流検出用
の瞬時引き外し判定回路および時限引き外し判定回路に
供給し、上記いずれかの判定回路が過電流を検出する
と、半導体スイッチを導通して引き外しコイルに通電し
上記主回路を遮断する回路遮断器において、正のテスト
信号を導通するダイオードと負のテスト信号を導通する
ダイオードの一対のダイオードを設け、正のテスト信号
が与えられると、上記正側のダイオードを介して瞬時引
き外し判定回路および時限引き外し判定回路の何れか一
方にテスト信号を与え、負のテスト信号が与えられる
と、上記負側のダイオードを介して上記他方の判定回路
にテスト信号を与えるようにすると共に、テスト装置と
接続するコネクタを３端子とし、この３端子をテスト時
の電源供給用端子、上記正および負のテスト信号が入力
されるテスト信号入力端子、上記二つの端子に対応する
共通のアース端子で構成したものである。
【００１６】
実施の形態１．図１はこの発明の実施の形態１の電子式
回路遮断器の動作テスト装置の回路ブロック図、図２は
電子式回路遮断器の回路ブロック図である。図１におい
て、１は電子式回路遮断器、１６は接続コネクタ、１７
は電源供給端子、１８はアース端子、１９はテスト信号
入力端子である。２０は動作テスト装置、２１は動作テ
スト装置２０を作動させる電池である。
回路遮断器の動作テスト装置の回路ブロック図、図２は
電子式回路遮断器の回路ブロック図である。図１におい
て、１は電子式回路遮断器、１６は接続コネクタ、１７
は電源供給端子、１８はアース端子、１９はテスト信号
入力端子である。２０は動作テスト装置、２１は動作テ
スト装置２０を作動させる電池である。
【００１７】２２は第１の作動電源回路、２３は第２の
作動電源回路であり、各々出力値の異なる定電流回路と
外部からの信号により出力開閉制御されるスイッチ２２
ａ、２３ａが設けられており、その出力は電源供給端子
１７を通して回路遮断器１へ供給される。定電流回路の
電流供給能力は第１の作動電源回路２２＜第２の作動電
源回路２３としている。
作動電源回路であり、各々出力値の異なる定電流回路と
外部からの信号により出力開閉制御されるスイッチ２２
ａ、２３ａが設けられており、その出力は電源供給端子
１７を通して回路遮断器１へ供給される。定電流回路の
電流供給能力は第１の作動電源回路２２＜第２の作動電
源回路２３としている。
【００１８】２４は動作テスト装置２０から電子式回路
遮断器１への動作テストを開始させるテストスイッチ、
２５はマルチバイブレータからなる発振回路であり、所
定間隔のパルス信号を出力する。２６は電圧検出回路で
あり、電源供給端子１７とアース端子１８間の電圧変化
を監視して所定以上の変化を検出したとき、ワンショッ
ト回路２７へ信号出力する。２８は電圧検出回路２６と
電源供給端子１７とを発振回路２５の出力に同期して開
閉する同期スイッチである。
遮断器１への動作テストを開始させるテストスイッチ、
２５はマルチバイブレータからなる発振回路であり、所
定間隔のパルス信号を出力する。２６は電圧検出回路で
あり、電源供給端子１７とアース端子１８間の電圧変化
を監視して所定以上の変化を検出したとき、ワンショッ
ト回路２７へ信号出力する。２８は電圧検出回路２６と
電源供給端子１７とを発振回路２５の出力に同期して開
閉する同期スイッチである。
【００１９】２９はスイッチ制御端子、３０はテスト信
号発生回路であり、テスト用の交流信号を発生する。３
１はテスト信号発生回路３０の交流信号を電子式回路遮
断器１が検出できるレベルに増幅するレベルシフト回
路、３２はテスト用の交流信号を半波にしてその極性の
一方のみをテスト信号入力端子１９へ出力する極性切替
スイッチである。３３は信号出力スイッチであり、スイ
ッチ制御素子２９により制御され、テストスイッチ２４
のオンによりテスト用の交流信号を出力可能にして、ワ
ンショット回路２７からの信号によりリセット停止され
る。
号発生回路であり、テスト用の交流信号を発生する。３
１はテスト信号発生回路３０の交流信号を電子式回路遮
断器１が検出できるレベルに増幅するレベルシフト回
路、３２はテスト用の交流信号を半波にしてその極性の
一方のみをテスト信号入力端子１９へ出力する極性切替
スイッチである。３３は信号出力スイッチであり、スイ
ッチ制御素子２９により制御され、テストスイッチ２４
のオンによりテスト用の交流信号を出力可能にして、ワ
ンショット回路２７からの信号によりリセット停止され
る。
【００２０】図２において、１〜４、６〜８、１６〜２
０は上記従来例及び図１で説明のものと同様である。５
１は瞬時引外し判定回路、５２は時限引外し判定回路、
５３は電源回路であり、整流回路４の電流を瞬時引外し
判定回路５１および時限引外し判定回路５２が作動でき
る電圧に調節する。
０は上記従来例及び図１で説明のものと同様である。５
１は瞬時引外し判定回路、５２は時限引外し判定回路、
５３は電源回路であり、整流回路４の電流を瞬時引外し
判定回路５１および時限引外し判定回路５２が作動でき
る電圧に調節する。
【００２１】５４は平滑コンデンサ、５５、５６は分圧
抵抗であり、分圧抵抗５５は整流回路４の出力を瞬時引
外し判定回路５１が判定する検知電圧として与えるよう
にするもので、、主回路導体２の電流に比例した検知電
圧を瞬時引外し判定回路５１にてレベル判定して所定値
以上になればサイリスタ６をオンにさせる。５７、５８
は分流抵抗であり、主回路導体２の各相の電流に比例し
た電圧を時限引外し判定回路５２にてレベル判定して所
定値以上になればサイリスタ６をオンさせる。
抵抗であり、分圧抵抗５５は整流回路４の出力を瞬時引
外し判定回路５１が判定する検知電圧として与えるよう
にするもので、、主回路導体２の電流に比例した検知電
圧を瞬時引外し判定回路５１にてレベル判定して所定値
以上になればサイリスタ６をオンにさせる。５７、５８
は分流抵抗であり、主回路導体２の各相の電流に比例し
た電圧を時限引外し判定回路５２にてレベル判定して所
定値以上になればサイリスタ６をオンさせる。
【００２２】６１は電源供給端子１７と整流回路４のプ
ラス側を接続する接続線である。６２、６３は分別ダイ
オードであり、一方を互いに極性を反対にテスト信号入
力端子１９に接続し、各々の他端は瞬時引外し判定回路
５１と時限引外し判定回路５２の検出端に接続されてい
る。
ラス側を接続する接続線である。６２、６３は分別ダイ
オードであり、一方を互いに極性を反対にテスト信号入
力端子１９に接続し、各々の他端は瞬時引外し判定回路
５１と時限引外し判定回路５２の検出端に接続されてい
る。
【００２３】従って、アース端子１８とテスト信号入力
端子１９間には、テスト信号入力端子１９がプラスのと
き、「ダイオード６２→瞬時引外し判定回路５１の検出
端→分圧抵抗５５→アース端子１８」の閉回路Ａが形成
される。そして、アース端子１８がプラスのとき、「分
流抵抗５７→時限引外し判定回路５２の検出端→ダイオ
ード６３→テスト信号入力端子１９」の閉回路Ｂが形成
される。
端子１９間には、テスト信号入力端子１９がプラスのと
き、「ダイオード６２→瞬時引外し判定回路５１の検出
端→分圧抵抗５５→アース端子１８」の閉回路Ａが形成
される。そして、アース端子１８がプラスのとき、「分
流抵抗５７→時限引外し判定回路５２の検出端→ダイオ
ード６３→テスト信号入力端子１９」の閉回路Ｂが形成
される。
【００２４】また、電源供給端子１７とアース端子１８
間には、「接続線６１→電源回路５３の入力端→分圧抵
抗５６→分圧抵抗５５→アース端子１８」の閉回路Ｃが
形成される。そして、サイリスタ６の導通状態では、
「接続線６１→引外しコイル７→サイリスタ６→アース
端子１８」の閉回路Ｄが形成される。
間には、「接続線６１→電源回路５３の入力端→分圧抵
抗５６→分圧抵抗５５→アース端子１８」の閉回路Ｃが
形成される。そして、サイリスタ６の導通状態では、
「接続線６１→引外しコイル７→サイリスタ６→アース
端子１８」の閉回路Ｄが形成される。
【００２５】次に、上記の動作テストを図３に示す各部
の波形図と共に説明する。 （１）回路遮断器１がオフラインの状態で、テストスイ
ッチ２４をオンすると（図３（イ））、発振回路２５が
作動してオンオフ信号を発信し（図３（ロ））、そのオ
ン・オフ信号に同期してスイッチ２２ａが開閉され、第
１の作動電源回路２２から電源供給端子１７を通して図
３（ハ）に示すパルス状の電源供給電流が電子式回路遮
断器１へ送られる。
の波形図と共に説明する。 （１）回路遮断器１がオフラインの状態で、テストスイ
ッチ２４をオンすると（図３（イ））、発振回路２５が
作動してオンオフ信号を発信し（図３（ロ））、そのオ
ン・オフ信号に同期してスイッチ２２ａが開閉され、第
１の作動電源回路２２から電源供給端子１７を通して図
３（ハ）に示すパルス状の電源供給電流が電子式回路遮
断器１へ送られる。
【００２６】（２）また、テストスイッチ２４のオンに
より、スイッチ制御素子２９を介して信号出力スイッチ
３３をオンにして、テスト信号発生回路３０の交流信号
をレベルシフト回路３１へ伝え、適切なレベルシフトを
行い（図３（ニ））、極性切替スイッチ３２でテストの
目的に合致した極性の半波にしてテスト信号入力端子１
９を通して電子式回路遮断器１へ送られる（図３
（ホ））。なお、図３（ホ）の例ではテスト信号は負側
の極性の半波にしている。
より、スイッチ制御素子２９を介して信号出力スイッチ
３３をオンにして、テスト信号発生回路３０の交流信号
をレベルシフト回路３１へ伝え、適切なレベルシフトを
行い（図３（ニ））、極性切替スイッチ３２でテストの
目的に合致した極性の半波にしてテスト信号入力端子１
９を通して電子式回路遮断器１へ送られる（図３
（ホ））。なお、図３（ホ）の例ではテスト信号は負側
の極性の半波にしている。
【００２７】（３）回路遮断器１では電源供給電流が電
源供給端子１７から閉回路Ｃに流れ、電源回路５３で瞬
時引外し判定回路５１および時限引外し判定回路５２の
作動電源となる。作動電源に使用される以外の電流は分
圧抵抗５５、５６を流れ、アース端子１８を通じて動作
テスト装置２０に帰還される。
源供給端子１７から閉回路Ｃに流れ、電源回路５３で瞬
時引外し判定回路５１および時限引外し判定回路５２の
作動電源となる。作動電源に使用される以外の電流は分
圧抵抗５５、５６を流れ、アース端子１８を通じて動作
テスト装置２０に帰還される。
【００２８】（４）テスト信号入力端子１９から入力さ
れたテスト信号は、その極性によりダイオード６２また
はダイオード６３により流れる閉回路が選択される。図
３（ホ）では閉回路Ｂが選択された例であり、時限引外
し判定回路５２の動作テストを示している。
れたテスト信号は、その極性によりダイオード６２また
はダイオード６３により流れる閉回路が選択される。図
３（ホ）では閉回路Ｂが選択された例であり、時限引外
し判定回路５２の動作テストを示している。
【００２９】（５）時限引外し判定回路５２は、テスト
信号が所定のレベル以上であることを判別してサイリス
タ６を導通にする（図３（ヘ））。
信号が所定のレベル以上であることを判別してサイリス
タ６を導通にする（図３（ヘ））。
【００３０】（６）サイリスタ６の導通により電源供給
電流は引外しコイル７へ分流される。この分流によるイ
ンピーダンスの変化を電圧検出回路２６が図３（ト）に
示す電圧変化で検出してワンショット回路２７へトリガ
出力する（図３（チ））。
電流は引外しコイル７へ分流される。この分流によるイ
ンピーダンスの変化を電圧検出回路２６が図３（ト）に
示す電圧変化で検出してワンショット回路２７へトリガ
出力する（図３（チ））。
【００３１】（７）ワンショット回路２７の出力（図３
（リ））は、発振回路２５および信号出力スイッチ３３
をオフにする。また、ワンショット回路２７の出力はス
イッチ２３ａをオンにして、第２の作動電源回路２３か
ら図３（リ）に示す波形と同一の引外しコイル７の作動
電流（図３（ヌ）参照）が電源供給端子１７を通して電
子式回路遮断器１へ送られ、引外しコイル７が開閉機構
を介して主回路接点８を開離して動作テストが終了す
る。
（リ））は、発振回路２５および信号出力スイッチ３３
をオフにする。また、ワンショット回路２７の出力はス
イッチ２３ａをオンにして、第２の作動電源回路２３か
ら図３（リ）に示す波形と同一の引外しコイル７の作動
電流（図３（ヌ）参照）が電源供給端子１７を通して電
子式回路遮断器１へ送られ、引外しコイル７が開閉機構
を介して主回路接点８を開離して動作テストが終了す
る。
【００３２】ちなみに、第１の作動電源回路２２からの
電子回路の作動可能な最小の電源供給電流は通常２０〜
５０ｍＡであり、引外しコイル７の作動電流は通常１０
０〜２００ｍＡである。
電子回路の作動可能な最小の電源供給電流は通常２０〜
５０ｍＡであり、引外しコイル７の作動電流は通常１０
０〜２００ｍＡである。
【００３３】従って、動作テストの出力電流は図３
（ヌ）のように、動作テスト始めに回路遮断器１の電子
回路の作動可能な最小の電源供給電流をパルス状にして
間引きしながら供給し、サイリスタ６の導通を検知した
後、引外しコイル７を作動させるのに必要な電流値をワ
ンショット通電としているので、電池２１から取り出さ
れるエネルギーは、定常的に引外しコイル７の作動に必
要な電流値を流し続ける場合に比べて少なくなり、電池
２１の消耗を少なくすることができる。
（ヌ）のように、動作テスト始めに回路遮断器１の電子
回路の作動可能な最小の電源供給電流をパルス状にして
間引きしながら供給し、サイリスタ６の導通を検知した
後、引外しコイル７を作動させるのに必要な電流値をワ
ンショット通電としているので、電池２１から取り出さ
れるエネルギーは、定常的に引外しコイル７の作動に必
要な電流値を流し続ける場合に比べて少なくなり、電池
２１の消耗を少なくすることができる。
【００３４】また、電子式回路遮断器とそのテスト装置
間をテスト端子を介して接続し、電路より電源供給をせ
ずにオフラインで動作テストを行う際、瞬時引外し判定
回路および時限引外し判定回路へのテスト信号を分ける
分流回路を設けることにより、瞬時または時限いずれか
の任意の引外し動作がテスト可能となる。また、電子式
回路遮断器とテスト装置間の接続コネクタは３端子と
し、電源供給端子と、二つの判定回路のテスト信号を共
用するテスト信号入力端子と、これらの端子に共通のア
ース端子とから構成したので、端子数を少なくすること
ができる。
間をテスト端子を介して接続し、電路より電源供給をせ
ずにオフラインで動作テストを行う際、瞬時引外し判定
回路および時限引外し判定回路へのテスト信号を分ける
分流回路を設けることにより、瞬時または時限いずれか
の任意の引外し動作がテスト可能となる。また、電子式
回路遮断器とテスト装置間の接続コネクタは３端子と
し、電源供給端子と、二つの判定回路のテスト信号を共
用するテスト信号入力端子と、これらの端子に共通のア
ース端子とから構成したので、端子数を少なくすること
ができる。
【００３５】実施の形態２．図４はこの発明の実施の形
態２の動作テスト装置の回路ブロック図である。図にお
いて、１、１６〜３３は上記実施の形態１で説明のもの
と同一である。３４は第３の作動電源回路、３４ａはス
イッチであり、外部からの信号により第３の作動電源回
路３４を出力開閉制御する。３５はスイッチ制御素子で
あり、テストスイッチ２４のオンにより第３の作動電源
回路３４の電流出力を閉回路Ｃへ供給し、ワンショット
回路２７の出力により閉回路Ｃへの電流出力を停止す
る。
態２の動作テスト装置の回路ブロック図である。図にお
いて、１、１６〜３３は上記実施の形態１で説明のもの
と同一である。３４は第３の作動電源回路、３４ａはス
イッチであり、外部からの信号により第３の作動電源回
路３４を出力開閉制御する。３５はスイッチ制御素子で
あり、テストスイッチ２４のオンにより第３の作動電源
回路３４の電流出力を閉回路Ｃへ供給し、ワンショット
回路２７の出力により閉回路Ｃへの電流出力を停止す
る。
【００３６】この実施の形態２の発明の目的を説明す
る。図５に実施の形態１における第１の作動電源回路２
２からの出力電流と、平滑コンデンサ５４の電圧の波形
を示す。平滑コンデンサ５４の電圧は、閉回路Ｃに流れ
る第１の作動電源回路２２からの出力電流による分圧抵
抗５５、５６の電圧を電源回路５３を通したものであ
り、パルス状の第１の作動電源回路２２の電流波形によ
り変動する。
る。図５に実施の形態１における第１の作動電源回路２
２からの出力電流と、平滑コンデンサ５４の電圧の波形
を示す。平滑コンデンサ５４の電圧は、閉回路Ｃに流れ
る第１の作動電源回路２２からの出力電流による分圧抵
抗５５、５６の電圧を電源回路５３を通したものであ
り、パルス状の第１の作動電源回路２２の電流波形によ
り変動する。
【００３７】第１の作動電源回路２２からのパルス状供
給電流の間隔が長く、電子回路の消費電流が増えると、
電子回路の最低動作電圧より下がってしまい電子回路の
動作が不安定となる。この実施の形態２の発明は電子回
路の最低動作電圧を確保することを目的としている。
給電流の間隔が長く、電子回路の消費電流が増えると、
電子回路の最低動作電圧より下がってしまい電子回路の
動作が不安定となる。この実施の形態２の発明は電子回
路の最低動作電圧を確保することを目的としている。
【００３８】次に動作について図６を用いて説明する。
なお、上記実施の形態１での図３と同一部分は省略す
る。 （１）テストスイッチ２４をオンすると（図６
（イ））、スイッチ制御素子３５を介してスイッチ３４
ａがオン状態にされる。これにより、図６（ロ）に示す
電流が第３の作動電源回路３４から電源供給端子１７を
通して閉回路Ｃへ供給される。
なお、上記実施の形態１での図３と同一部分は省略す
る。 （１）テストスイッチ２４をオンすると（図６
（イ））、スイッチ制御素子３５を介してスイッチ３４
ａがオン状態にされる。これにより、図６（ロ）に示す
電流が第３の作動電源回路３４から電源供給端子１７を
通して閉回路Ｃへ供給される。
【００３９】（２）同時に発振回路２５のオン・オフ信
号（図６（ハ））に同期して、第１の作動電源回路２２
からも電流出力があるので、閉回路Ｃの電流は図６
（ニ）に示すように、第３の作動電源回路３４の電流と
第１の作動電源回路２２の電流の重畳されたものが閉回
路Ｃへ供給される。
号（図６（ハ））に同期して、第１の作動電源回路２２
からも電流出力があるので、閉回路Ｃの電流は図６
（ニ）に示すように、第３の作動電源回路３４の電流と
第１の作動電源回路２２の電流の重畳されたものが閉回
路Ｃへ供給される。
【００４０】（３）平滑コンデンサ５４の電圧は第３の
作動電源回路３４の電流による電圧が必ず確保されるの
で、図６（ト）に示すように電子回路の最低動作電圧の
維持が容易となる。
作動電源回路３４の電流による電圧が必ず確保されるの
で、図６（ト）に示すように電子回路の最低動作電圧の
維持が容易となる。
【００４１】以上のように、第１の作動電源回路２２か
らのパルス状出力電流の実効値を減ずることが可能とな
り、この部分と第３の作動電源回路３４との電流の和
が、実施の形態１の第１の作動電源回路２２からのパル
ス状出力電流の実効値より少なくすることができ、電池
２１の消耗が更に防げる。
らのパルス状出力電流の実効値を減ずることが可能とな
り、この部分と第３の作動電源回路３４との電流の和
が、実施の形態１の第１の作動電源回路２２からのパル
ス状出力電流の実効値より少なくすることができ、電池
２１の消耗が更に防げる。
【００４２】実施の形態３．実施の形態１の図１および
実施の形態２の図４に示すテスト信号発生装置は、テス
ト用の交流信号を発生するようにしたが、交流波形（図
３（ニ）参照）でなくても、正負が交互に表れる矩形波
やパルス状の波形、つまり正負が交互に表れる交番波形
であればよい。
実施の形態２の図４に示すテスト信号発生装置は、テス
ト用の交流信号を発生するようにしたが、交流波形（図
３（ニ）参照）でなくても、正負が交互に表れる矩形波
やパルス状の波形、つまり正負が交互に表れる交番波形
であればよい。
【００４３】実施の形態４．実施の形態２の図４のスイ
ッチ制御素子２９，３５は、スイッチ制御素子２９のみ
を用いて、そのＱ端子から信号出力スイッチ３３と接点
３４ａとをオンオフしてもよい。また、発振回路２５の
入力もテストスイッチ２４からでなく、スイッチ制御素
子２９のＱ端子から入力してもよい。
ッチ制御素子２９，３５は、スイッチ制御素子２９のみ
を用いて、そのＱ端子から信号出力スイッチ３３と接点
３４ａとをオンオフしてもよい。また、発振回路２５の
入力もテストスイッチ２４からでなく、スイッチ制御素
子２９のＱ端子から入力してもよい。
【図１】 この発明の実施の形態１による電子式回路遮
断器の動作テスト装置の回路ブロック図である。
断器の動作テスト装置の回路ブロック図である。
【図２】 この発明の実施の形態１による電子式回路遮
断器の回路ブロック図である。
断器の回路ブロック図である。
【図３】 この発明の実施の形態１による各部の信号の
波形図である。
波形図である。
【図４】 この発明の実施の形態２による電子式回路遮
断器の動作テスト装置の回路ブロック図である。
断器の動作テスト装置の回路ブロック図である。
【図５】 この発明の実施の形態２による要部の波形図
である。
である。
【図６】 この発明の実施の形態３による要部の波形図
である。
である。
【図７】 従来の電子式回路遮断器の引外し動作テスト
装置における動作テスト回路図である。
装置における動作テスト回路図である。
【図８】 回路遮断器の動作テストできる領域を示した
特性曲線図である。
特性曲線図である。
【図９】 従来の電子式回路遮断器の回路ブロック図で
ある。
ある。
１ 電子式回路遮断器、３ 変流器、４ 変流回路、６
サイリスタ、７ 引外しコイル、８ 主回路接点、１
６ 接続コネクタ、１７ 電源供給端子、１８ アース
端子、１９ テスト信号入力端子、２０ 動作テスト装
置、２１ 電池、２２ 第１の作動電源回路、２３ 第
２の作動電源回路、２２ａ、２３ａ、３４ａ スイッ
チ、２４ テストスイッチ、２５ 発振回路、２６ 電
圧検出回路、２７ ワンショット回路、２８ 同期スイ
ッチ、３０ テスト信号発生回路、３１ レベルシフト
回路、３２ 極性切替スイッチ、３３ 信号出力スイッ
チ、３４ 第３の作動電源回路、２９、３５ スイッチ
制御素子、５１ 瞬時引外し判定回路、５２ 時限引外
し判定回路、５３ 電源回路、５４ 平滑コンデンサ、
５５、５６ 分圧抵抗、５７、５８ 分流抵抗、６１
接続線、６２、６３ ダイオード。
サイリスタ、７ 引外しコイル、８ 主回路接点、１
６ 接続コネクタ、１７ 電源供給端子、１８ アース
端子、１９ テスト信号入力端子、２０ 動作テスト装
置、２１ 電池、２２ 第１の作動電源回路、２３ 第
２の作動電源回路、２２ａ、２３ａ、３４ａ スイッ
チ、２４ テストスイッチ、２５ 発振回路、２６ 電
圧検出回路、２７ ワンショット回路、２８ 同期スイ
ッチ、３０ テスト信号発生回路、３１ レベルシフト
回路、３２ 極性切替スイッチ、３３ 信号出力スイッ
チ、３４ 第３の作動電源回路、２９、３５ スイッチ
制御素子、５１ 瞬時引外し判定回路、５２ 時限引外
し判定回路、５３ 電源回路、５４ 平滑コンデンサ、
５５、５６ 分圧抵抗、５７、５８ 分流抵抗、６１
接続線、６２、６３ ダイオード。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/00 G01R 31/327 - 31/333
Claims (8)
- 【請求項１】 主回路の電流を検出する変流器の二次出
力を整流し、この整流出力を電源として電子回路で構成
された過電流検出用の瞬時引き外し判定回路および時限
引き外し判定回路に供給し、上記いずれかの判定回路が
過電流を検出すると、半導体スイッチを導通して引き外
しコイルに通電し上記主回路を遮断する回路遮断器に対
し、上記瞬時引き外し判定回路および時限引き外し判定
回路のいずれか一方へ選択的にテスト信号を供給するテ
スト信号供給手段により上記瞬時引き外し判定回路およ
び時限引き外し判定回路の何れか一方へテスト信号を供
給して過電流を検出させ上記半導体スイッチを駆動して
動作テストを行う回路遮断器のテスト装置において、 電池と、 この電池から上記電子回路の作動電源を供給する第１の
作動電源供給手段と、上記半導体スイッチが導通したことを検知する検知手段
と、 この検知出力に応じて上記引外しコイルを作動させる電
流を供給する第２の作動電源供給手段と、で構成した こ
とを特徴とする回路遮断器のテスト装置。 - 【請求項２】 請求項１の回路遮断器のテスト装置にお
いて、第１の作動電源供給手段の供給電流はパルス状の電流で
ある ことを特徴とする回路遮断器のテスト装置。 - 【請求項３】 請求項２の回路遮断器のテスト装置にお
いて、 作動電源供給手段は、第１の作動電源供給手段のパルス
状の電流に対し、電子回路の最低作動電圧を維持するに
必要な直流電流を重畳して供給する第３の作動電源供給
手段とで構成した手段としたことを特徴とする回路遮断
器のテスト装置。 - 【請求項４】 請求項１または請求項２の回路遮断器の
テスト装置において、第２の作動電源供給手段の電源供
給動作に対応して、第１の作動電源供給手段からの電源
供給を停止すると共に、テスト信号供給手段からのテス
ト信号を停止するリセット手段を設けたことを特徴とす
る回路遮断器のテスト装置。 - 【請求項５】 請求項３の回路遮断器のテスト装置にお
いて、 第２の作動電源供給手段の電源供給動作に対応して、第
１および第３の作動電源供給手段からの電源供給を停止
すると共に、テスト信号供給手段からのテスト信 号を停
止するリセット手段を設けたことを特徴とする回路遮断
器のテスト装置。 - 【請求項６】 請求項１〜５のいずれか１項に記載の回
路遮断器のテスト装置において、 テスト信号供給手段は、正または負の交番波形のテスト
信号を発生させて、このテスト信号の極性に応じて瞬時
引き外し判定回路および時限引き外し判定回路の何れか
一方にテスト信号を与える手段としたことを特徴とする
回路遮断器のテスト装置。 - 【請求項７】 請求項６の回路遮断器のテスト装置にお
いて、 テスト信号の極性に応じて瞬時引き外し判定回路および
時限引き外し判定回路の何れか一方にテスト信号を与え
る手段として、正のテスト信号を導通するダイオードと
負のテスト信号を導通するダイオードの一対のダイオー
ドを設けた回路遮断器に対し、正のテスト信号が与えら
れると、上記正側のダイオードを介して瞬時引き外し判
定回路および時限引き外し判定回路の何れか一方にテス
ト信号を与え、負のテスト信号が与えられると、上記負
側のダイオードを介して上記他方の判定回路にテスト信
号を与えるようにしたことを特徴とする回路遮断器のテ
スト装置。 - 【請求項８】 主回路の電流を検出する変流器の二次出
力を整流し、この整流出力を電源として電子回路で構成
された過電流検出用の瞬時引き外し判定回路および時限
引き外し判定回路に供給し、上記いずれかの判定回路が
過電流を検出すると、半導体スイッチを導通して引き外
しコイルに通電し上記主回路を遮断する回路遮断器にお
いて、 正のテスト信号を導通するダイオードと負のテスト信号
を導通するダイオードの一対のダイオードを設け、正の
テスト信号が与えられると、上記正側のダイオードを介
して上記瞬時引き外し判定回路および上記時限引き外し
判定回路の何れか一方にテスト信号を与え、負のテスト
信号が与えられると、上記負側のダイオードを介して上
記他方の判定回路にテスト信号を与えるようにすると共
に、テスト装置と接続するコネクタを３端子とし、この
３端子をテスト時の電源供給用端子、上記正および負の
テスト信号が入力されるテスト信号入力端子、上記二つ
の端子に対応する共通のアース端子で構成したことを特
徴とする回路遮断器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01346996A JP3251486B2 (ja) | 1996-01-30 | 1996-01-30 | 回路遮断器およびそのテスト装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01346996A JP3251486B2 (ja) | 1996-01-30 | 1996-01-30 | 回路遮断器およびそのテスト装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09211089A JPH09211089A (ja) | 1997-08-15 |
| JP3251486B2 true JP3251486B2 (ja) | 2002-01-28 |
Family
ID=11834004
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP01346996A Expired - Fee Related JP3251486B2 (ja) | 1996-01-30 | 1996-01-30 | 回路遮断器およびそのテスト装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| JP (1) | JP3251486B2 (ja) |
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| JP4509721B2 (ja) * | 2004-09-28 | 2010-07-21 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
| CN103235256A (zh) * | 2013-04-07 | 2013-08-07 | 河海大学 | 一种开关通断状态隔离检测装置及方法 |
| CN103454581A (zh) * | 2013-08-26 | 2013-12-18 | 天津市松正电动汽车技术股份有限公司 | 一种接触器性能测试设备 |
| WO2015039458A1 (zh) * | 2013-09-18 | 2015-03-26 | 国家电网公司 | 一种继电保护用的模拟断路器测试装置及控制方法 |
| CN104502836B (zh) * | 2014-11-30 | 2017-04-19 | 中国计量学院 | 适用于扫描开关内部继电器的阵列式状态检测电路 |
| CN105652117B (zh) * | 2015-12-29 | 2020-10-27 | 国网智能电网研究院 | 一种基于dc/dc变换器的直流电网全功率循环的试验电路 |
| CN106771998A (zh) * | 2016-11-22 | 2017-05-31 | 国网山东省电力公司东营供电公司 | 一种用于测试漏电断路器的测试仪 |
| JP6685465B2 (ja) | 2017-03-10 | 2020-04-22 | 三菱電機株式会社 | 電子式回路遮断器 |
| JP7070133B6 (ja) * | 2018-06-19 | 2022-06-10 | 三菱電機ビルソリューションズ株式会社 | 検査装置 |
| CN109541345B (zh) * | 2018-11-20 | 2020-09-25 | 四川英杰电气股份有限公司 | 一种半波检测方法及半波检测*** |
| CN111830404A (zh) * | 2020-07-03 | 2020-10-27 | 中国人民解放军63602部队 | 多功能断路器检测装置及方法 |
| CN112415356B (zh) * | 2020-11-05 | 2024-06-25 | 阳光电源股份有限公司 | 一种晶闸管关断特性测试装置和测试方法 |
| CN115877201B (zh) * | 2023-03-09 | 2023-05-12 | 广东正超电气有限公司 | 一种开关柜断路器的磨合测试电源车 |
-
1996
- 1996-01-30 JP JP01346996A patent/JP3251486B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JPH09211089A (ja) | 1997-08-15 |
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