JP3231352B2 - 測距装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は測距装置に関し、特に
反射光量検出によるアクティブオートフォーカス装置が
適用されたカメラの測距装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】スチルカメラやビデオカメラ等に適用さ
れるオートフォーカス（以下、ＡＦと略記する）装置に
は、大きく分けて２つの方式がある。１つは被写体の輝
度分布情報を利用するパッシブ方式、他の１つは自ら投
光手段を有し、その投光信号の反射光によって距離を測
定するいわゆるアクティブ方式である。

【０００３】アクティブ方式は、構成が簡単で廉価であ
るため普及率は高い。しかしながら、最大の欠点は、反
射光の大きさが被写体距離が遠くなるにつれて小さくな
り、Ｓ／Ｎ比の劣化からＡＦ演算が不正確になる。した
がって、測距可能なレンジが比較的近距離に限定されて
しまう。特に、反射光が全く返ってこない風景など、無
限遠の被写体に対しては、回路内のノイズ成分のみによ
ってＡＦ演算が行われることとなるが、ノイズは乱数的
に発生するため、遠距離ほど誤測距を起こす可能性が高
かった。

【０００４】そこで従来、被写体の反射率に左右されや
すいものの、比較的遠距離まで判別が可能な、受光手段
へ入射する全反射光の強度を信号として、ある基準電圧
と比較して無限遠の判定を行うような手段が提案されて
いる（特開昭５９−２２８２１２号公報、特開昭６０−
２４４８０７号公報等参照）。

【０００５】そこで本出願人は、投光を何度も繰返し行
い、その度に信号の積分を行いながら上記ノイズを相殺
し、信号光量を検出する高精度なアクティブ式ＡＦを実
現する旨の出願を、特願平２−１５７１１５号（特開平
４−０４８２０８号公報）に於いてすでに行っている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、積分に
よるノイズ相殺効果は、１回の積分に微少なオフセット
ノイズが重畳してくる場合、その影響は、積分されるこ
とにより大きくなってしまう。

【０００７】特に、従来の定常光除去回路では、ホール
ド用のコンデンサを用いたサンプルホールド回路によっ
て信号光以外の成分を除去し、信号成分のみを取出そう
とすると、ホールド用のコンデンサが、より厳密には並
列接続されたコンデンサのような等価回路をとるため
に、微少な誤差を生ずる。

【０００８】従来の測距装置を説明すると、例えば受光
素子が接続される信号光電流の増幅を行うプリアンプの
入力側には、ホールド用のコンデンサ、ホールド用のオ
ペアンプ、トランジスタ、抵抗等から成る定常光除去回
路が接続されている。このプリアンプの出力は、ホール
ド用オペアンプの反転入力端子にフィードバックされ
る。また、上記オペアンプの非反転入力端子には、第１
のダイオードと第１の定電流源が接続されており、この
オペアンプは、その非反転入力端子に接続されたダイオ
ードを定電流源でバイアスしたレベルと、上記プリアン
プの出力のレベルを比較している。

【０００９】ところが、上記プリアンプの出力端子に
は、第２のダイオードと第２の定電流源が接続されてお
り、それぞれ上記第１のダイオード、及び第１の定電流
源とは、同一の構成をとっているため、プリアンプが増
幅信号を出力しようとすると、＋（正）、−（負）の入
力にアンバラスが生じる。このためフィードバックがか
かり、オペアンプの出力はホールド用トランジスタのベ
ース電位を制御する。このオペアンプは、信号用光が投
光されていない状態で作動しているため、プリアンプが
定常光電流を入力し、増幅結果を出力しようとすると、
上記フィードバックがかかってホールドトランジスタ及
び抵抗を介して、定常光電流がグラウンド（ＧＮＤ）に
放出される。

【００１０】つまり、非投光状態では、プリアンプから
出力がない状態でこの回路は安定し、定常光のレベルに
応じてホールド用オペアンプの出力が制御されている。
測距用光が投光されると、ホールドアンプはバイアスカ
ット信号を受けて、機能を停止する。

【００１１】しかし、ホールド用コンデンサによって、
ホールド用トランジスタのベースは固定されているの
で、定常光電流成分は上記トランジスタのコレクタ電流
として除去され、信号光電流のみがプリアンプで増幅さ
れ、第２のダイオードに流入する。このとき、第２の定
電流源はオフし、バイアスカット信号の反射信号によっ
て、プリアンプの出力に接続されたバッファがオンす
る。したがって、バッファの出力側の第２のダイオード
及び第２のトランジスタがカレントミラー回路を形成
し、上記第２のトランジスタに接続された積分用コンデ
ンサに信号電流が積分される。

【００１２】ここで、上記ホールド用コンデンサが、ホ
ールド用抵抗を介して並列に接続されるような等価回路
をとるとき、測距用光受光中に、ホールド用トランジス
タのベース電位ＶHOLDが低下してゆく。つまり、第１の
ホールドコンデンサに蓄えられた電荷は、第１のホール
ド抵抗を介して次第に第２のホールドコンデンサに流れ
込み、また、その電荷が第２のホールド抵抗を介して第
３のホールドコンデンサに流れ込み、…というプロセス
を繰返して減少するからである。

【００１３】このようなリーク現象は、大きな誘電率を
有した物質で作られたコンデンサほど大きく、回路をコ
ンパクトにまた廉価で構成しようとした場合、必ず問題
となるものであった。また、このホールドコンデンサ
は、投光が行われている間、ホールドトランジスタのベ
ース電流を供給する必要から、容量的に大きなものが必
要であった。

【００１４】更に、このホールドトランジスタのベース
電流によるリークも無視できるものではなかった。

【００１５】この発明は、上記課題に鑑みてなされたも
ので、定常光成分除去手段の誤差を排し、正確な測距を
行う測距装置を提供することを目的とする。

【００１６】

【課題を解決するための手段】すなわちこの発明は、対
象物に向けて投光する投光手段と、上記投光手段の投光
により上記対象物から反射された信号光を受光する受光
手段と、上記受光手段に接続され、上記信号光以外の定
常光成分を記憶する記憶手段と、上記受光手段に接続さ
れ、上記記憶手段に記憶された定常光成分を除去する定
常光除去手段と、少なくとも上記定常光除去手段作動時
の、上記受光手段出力を積分する積分手段と、上記投光
時の上記積分手段の出力と、非投光時の上記積分手段の
出力との出力差に基いて、上記対象物までの距離を求め
る演算手段と、を具備することを特徴とする。

【００１７】

【作用】この発明の測距装置にあっては、投光手段から
対象物に向けて投光された光の反射光が受光手段で受光
される。上記反射光の信号光以外の定常光成分は、上記
受光手段に接続された記憶手段に記憶される。また、上
記記憶手段に記憶された定常光成分は、上記受光手段に
接続された定常光除去手段で除去されると共に、上記定
常光除去手段作動時の、上記受光手段の出力が積分手段
で積分される。そして、上記投光時の上記積分手段の出
力と、非投光時の上記積分手段の出力との出力差に基い
て、演算手段によって上記対象物までの距離が求められ
る。

【００１８】

【実施例】以下、図面を参照してこの発明の実施例を説
明する。

【００１９】図１はこの発明の測距装置の構成を概略的
に示すブロック図である。同図に於いて、第１光量積分
回路１０ａ内の定常光除去部１１ａには、受光素子１２
ａ、ホールド用コンデンサ１３ａが接続されており、そ
の出力は信号増幅部１４ａに送られる。光量検出部１５
ａは、上記信号増幅部１４ａの出力を受けてＣＰＵ１６
に供給する一方、定常光除去部１１ａと共にＣＰＵ１６
からのバイアスカットの信号を受ける。

【００２０】同様に、第２光量積分回路１０ｂ内の定常
光除去部１１ｂには、受光素子１２ｂ、ホールド用コン
デンサ１３ｂが接続されており、その出力は信号増幅部
１４ｂに送られる。光量検出部１５ｂは、上記信号増幅
部１４ｂの出力を受けてＣＰＵ１６に供給する一方、定
常光除去部１１ｂと共にＣＰＵ１６からのバイアスカッ
トの信号を受ける。

【００２１】投光選択部１７は、投光部１８を介して投
光素子１９ａ及び１９ｂの何れかを選択するためのもの
で、ＣＰＵ１６の指示により行う。

【００２２】尚、上記第１光量積分回路１０ａ及び第２
光量積分回路１０ｂは、全く同様に構成された回路であ
り、ＣＰＵ１６からイネーブル信号を受けることによ
り、動作するようになっている。そして、第１光量積分
回路１０ａ及び第２光量積分回路１０ｂは、それぞれ投
光素子１９ａ及び１９ｂの投光される方向に対応した受
光素子１２ａ及び１２ｂを有しているが、ＣＰＵ１６に
駆動されるタイミングが異なっているものである。

【００２３】このＣＰＵ１６は、後述するΔｐの補正
や、距離の算出等を行うためのワンチップマイクロコン
ピュータ等で構成される回路である。

【００２４】尚、図中、ＢＣはバイアスカットタイミン
グ信号を表し、ＰＯＵＴは後述する積分コンデンサの出
力、すなわち光量積分結果をＣＰＵ１６に入力するため
のラインである。

【００２５】ここで、光量によって、被写体距離を算出
すると、光量をｐとするとき、下記（１）式に示される
関係となる。

【００２６】

【数１】

【００２７】但し、Ｐ：１ｍ、標準反射率（１８％）か
らの反射光量を示す。これにより、下記（２）式が求め
られる。

【００２８】

【数２】

【００２９】しかしながら、上述したように、ホールド
用コンデンサ１３ａ、１３ｂのリークによって、上記
（１）式は下記（３）式の如くなる。

【００３０】

【数３】

【００３１】したがって、１／ｌとｐとの関係は、被写
体輝度、すなわち定常光量によってシフトし、図２に示
されるような関係となる。

【００３２】つまり、バイアスカット時に、後述する図
５に示されるように、Ｉ1 の電流がリークする場合、バ
イアスカット時間Δｔの間に数５に示される量だけＶHO
LDが低下する。

【００３３】

【数４】

【００３４】図３は、定常光除去回路を概略的に示した
回路構成図である。同図に於いて、受光素子１２は、投
光素子が投射した測距信号光が被写体に当って反射した
反射信号光を受光し、光電流に変換するものである。こ
こで、一般には、被写体からは太陽光や照明等による定
常光が受光素子に入射しているので、これを除去しなけ
れば、測距用光の大きさの正しい検出はできない。

【００３５】また、プリアンプ２０は、オペアンプ２０
ａ、トランジスタ２０ｂ、定電流源２０ｃにより構成さ
れるもので、信号光電流の増幅を行う。このプリアンプ
２０の入力側には、ホールド用のコンデンサ１３、ホー
ルド用のオペアンプ２１、トランジスタ２２、抵抗２３
等から成る回路を接続して、定常光除去回路を構成して
いる。プリアンプ２０の出力は、入力に流しこまれた電
流を増幅し、増幅した信号電流を出力側から吸込む形式
をとっている。

【００３６】このプリアンプ２０の出力は、オペアンプ
２１の反転入力端子にフィードバックされる。上記オペ
アンプ２１の非反転入力端子には、ダイオード２４と定
電流源２５が接続されており、オペアンプ２１に於い
て、ダイオード２４を定電流源２５でバイアスしたレベ
ルと、プリアンプ２０の出力のレベルを比較している。

【００３７】上記プリアンプ２０の出力端子には、ダイ
オード２６と定電流源２７が接続されており、ダイオー
ド２６と２４、及び定電流源２７と２５は、同一の構成
をとっているため、プリアンプ２０が増幅信号を出力し
ようとすると、＋（正）、−（負）の入力にアンバラス
が生じる。このためフィードバックがかかり、オペアン
プ２１の出力はトランジスタ２２のベース電位を制御す
る。このホールドアンプ２１は、信号用光が投光されて
いない状態で作動しているため、プリアンプ２０が定常
光電流を入力し、増幅結果を出力しようとすると、上記
フィードバックがかかってトランジスタ２２及び抵抗２
３を介して、定常光電流がグラウンド（ＧＮＤ）に放出
される。

【００３８】つまり、非投光状態では、プリアンプ２０
から出力がない状態でこの回路は安定し、定常光のレベ
ルに応じてホールドアンプ２１の出力が制御されてい
る。測距用光が投光されると、ホールドアンプ２１はバ
イアスカット信号を受けて、機能を停止する。

【００３９】ところで、ホールド用コンデンサ１３によ
って、ホールド用トランジスタ２２のベースは固定され
ているので、定常光電流成分はトランジスタ２２のコレ
クタ電流として除去され、信号光電流のみがプリアンプ
２０で増幅され、ダイオード２６に流入する。このと
き、定電流源２７はオフし、インバータ２８を介したバ
イアスカット信号の反射信号によって、バッファ２９が
オンする。したがって、ダイオード２６及びトランジス
タ３０がカレントミラー回路を形成し、積分用コンデン
サ３１に信号電流が積分される。尚、この積分コンデン
サ３１、バッファ２９等で構成される回路は、図１の光
量検出部に相当している。

【００４０】ここで、ホールド用コンデンサ１３が、図
５に示されるような等価回路をとると、測距用光受光中
に、トランジスタ２２のベース電位ＶHOLDが低下してゆ
く。つまり、コンデンサ１３１に蓄えられた電荷は、抵
抗２３１を介して次第にコンデンサ１３２に流れ込み、
また、その電荷が抵抗２３２を介してコンデンサ１３２
に流れ込み、…というプロセスを繰返して減少するから
である。

【００４１】次に、定常光除去について詳細に説明す
る。シリコンフォトダイオード（ＳＰＤ）等で構成され
た受光素子１２で発生した光電流は、トランジスタ２２
のコレクタ電流として流れる。このトランジスタ２２
は、上述したように、定常光電流の全てを流すようにベ
ース電位が決定され、コンデンサ１３に記憶される。

【００４２】いま、光電流が減少した場合を考える。フ
ィードバックがかかり、トランジスタ２２に定常光電流
が流れる状態に於いても、定電流源２０ｃ（この定電流
は極めて微小な電流）によって、トランジスタ２０ｂに
コレクタ電流を流すようにトランジスタ２０ｂのベース
電流が流れている。この状態から光電流が減少すると、
トランジスタ２０ｂのベース電流が減少するので、定電
流源２０ｃからの定電流の一部は、トランジスタ２０ｂ
のコレクタではなく、定電流源２０ｃに流れる。

【００４３】このため、ダイオード２６のカソード（図
中ａ点）の電位は上昇する。このカソード電位は、オペ
アンプ２１の反転入力端子に印加され、非反転入力端子
の電圧との差が出力される。この非反転入力端子に印加
される電圧は、定電流源２５によって決定される電流が
ダイオード２４を流れる。このダイオード２４のカソー
ド電位が印加されるので、一定の電圧となる。

【００４４】したがって、光電流が増加すると、オペア
ンプ２１の反転入力端子は非反転入力端子の印加電圧よ
り上昇するので、オペアンプ２１の出力は低下する。こ
のため、トランジスタ２２のベース電位は低下し、トラ
ンジスタ２２のコレクタ電流は減少する。このため、定
電流源２０ｃの電流が定電流源２７に流れ込まなくなる
ので、ａ点の電位が下がり、再び安定する。

【００４５】これに対し、光電流が増加した場合を考え
る。光電流が増加しても、フィードバックがかかるまで
は、定常光電流を流すトランジスタ２２のコレクタ電流
は増加しない。そのため、本来トランジスタ２２を流れ
るはずのコレクタ電流が、トランジスタ２０ｂのベース
に流れ、ベース電流は増加することになる。すると、ト
ランジスタ２０ｂのコレクタにダイオード２６を介して
流れる電流が増加し、ダイオード２６のカソード電位は
低下する。このカソード電位はオペアンプ２１の反転入
力端子に印加され、オペアンプ２１の出力は上昇する。
そのため、トランジスタ２２のコレクタ電流は増加す
る。

【００４６】ここで、トランジスタ２２のベース・エミ
ッタ間電圧ＶBEを無視すると、ホールド抵抗２３をＲHO
LDとした場合、ホールド電流誤差は、下記（５）式に示
される如くなる。

【００４７】

【数５】

【００４８】この１／２は、バイアスカット直後にリー
クは０であり、バイアスカット終了時にΔＶだけ変化し
ているということから考慮したものである。このリーク
電流Ｉ1 は、図４に示される抵抗２３１、２３２の抵抗
値に依存するため、ＶHOLDが大きいほど、すなわち定常
光が大きいほど、大きくなるものである。

【００４９】この発明は、上述した（３）式より非投光
状態、つまりＰ＝０としてΔｐを求め、このΔｐを光量
のデータｐから減ずることにより、正しく１／ｌを求め
ようとしたものである。

【００５０】図５は、この発明の基本となる動作を説明
するフローチャートを示したものである。

【００５１】初めに、ファーストレリーズ若しくはセカ
ンドレリーズスイッチの操作により、測距動作が開始さ
れると、ステップＳ１に於いて、ＣＰＵ１６から投光部
１８に投光命令が出力され、投光素子１９ａまたは１９
ｂから被写体（図示せず）に向けて投光が行われる。ま
た、ＣＰＵ１６は、オペアンプ２１、定電流源２７を不
作動とし、プリアンプ２０を作動状態とする。これによ
って、バイアスカットを行うために、トランジスタ２２
に流れていた定常光電流はバイアスカットを行う前の、
すなわち投光素子１９ａまたは１９ｂが投光する前の定
常光を記憶することになる。これ以後、受光素子１２
ａ、１２ｂが光電変換した光電流が変化した分は、信号
増幅部１４ａ、１４ｂとしてのプリアンプ２０内のオペ
アンプ２０ａに流れ込むことになる。

【００５２】次に、ステップＳ２に於いて、光量検出部
１５ａ、１５ｂの積分コンデンサ（３１）から積分値を
光量ｐとして、出力端（トランジスタ３０及び積分コン
デンサ３１の接続点）より読出され、これが記憶され
る。

【００５３】次いで、ステップＳ３にて、投光素子１９
ａまたは１９ｂが非投光状態の定常光を記憶する。この
場合、バイアスカットのみ行われている。そして、ステ
ップ４にて、光量検出部１５ａ、１５ｂの積分コンデン
サ（３１）から、補正値Δｐが読出される。

【００５４】そして、ステップＳ５に於いて、上記定常
光記憶用のコンデンサ１３のリーク電流による補正演算
が行われる。この演算によって求められた１／ｌの逆数
が求められることにより、距離ｌが算出される。

【００５５】ところで、上述したように、非投光でのシ
ーケンスを追加すると、カメラのレリーズタイムラグに
影響を及ぼしてしまう。このため、この実施例では、図
１に示されるように、複数の測距ポイントを測距するこ
とのできるタイプの測距装置を応用している。この場
合、動作を説明するフローチャートは、図６に示される
ようになる。

【００５６】また、この実施例では、図５のフローチャ
ートと異なり、投光回数を増加し、ＡＦ精度向上を図っ
ている。

【００５７】ここで、このように構成された測距装置の
動作について、図６のフローチャート及び図７のタイミ
ングチャートを参照して説明する。尚、ここでは特に第
１光量積分回路１０ａを使用した測距結果を、より正確
に求める例として説明する。

【００５８】先ず、ステップＳ１１に於いてカウント値
が初期化（ｎ＝０）され、ステップＳ１２にて、第１光
量積分回路１０ａで、ＣＰＵ１６によりイネーブル信号
が供給され（図７（ａ）参照）、投光素子（ＩＲＥＤ）
１９ａの発光が開始される（同図（ｂ）参照）。それと
同期して、図７（ｃ）に示されるように、上述したバイ
アスカット（ＢＣ）が行われる。

【００５９】次いで、ステップＳ１３にて、出力の数で
あるカウント値ｎに１を加え、ステップＳ１４に於い
て、例えばｎ＝４になったか否かが判定される。ここ
で、ｎ＝４未満であればステップＳ１２に戻り、図７
（ｂ）及び（ｃ）に示されるように、ｎ＝４となったな
らばステップＳ１５に進む。

【００６０】ところで、上記ＩＲＥＤ１９ａの出力、バ
イアスカットと同時に、積分コンデンサへの積分がなさ
れる。したがって、図７（ｄ）に示されるように、ＰＯ
ＵＴａは徐々に上昇し、タイミングＴＩＭＥ１に於い
て、ＰＯＵＴ１として光量積分結果が出力される（ステ
ップＳ１５）。この出力はｐ1 となり、この出力がＣＰ
Ｕ１６に内蔵されるＡ／Ｄ変換回路により、ＣＰＵ１６
に入力されて記憶される。

【００６１】次に、ステップＳ１６に於いて、カウント
値がクリア（ｎ＝０）され、ステップＳ１７にて、タイ
ミングＴＩＭＥ２からは、第２光量積分回路１０ｂで、
ＣＰＵ１６によりイネーブル信号が供給される（図７
（ｅ）参照）。これに伴い、上記ＩＲＥＤ１９ａとは異
なる方向を測距するＩＲＥＤ（投光素子）１９ｂの発光
が開始される（同図（ｆ）参照）。それと同期して、図
７（ｇ）に示されるように、上述したバイアスカット
（ＢＣ）が行われる。

【００６２】ここで、ステップＳ１８に於いて、第１光
量積分回路１０ａのＩＲＥＤ１９ａは、図７（ｂ）に示
されるように発光されていない。このステップＳ１８で
は、第１光量積分回路１０ａは、ＩＲＥＤ１９ａは非発
光となり、バイアスカットのみなされる。

【００６３】次いで、ステップＳ１９にて、出力の数で
あるカウント値ｎに１を加え、ステップＳ２０に於い
て、ｎ＝４になったか否かが判定される。ここで、ｎ＝
４未満であればステップＳ１７に戻り、図７（ｆ）及び
（ｇ）に示されるように、ｎ＝４となったならばステッ
プＳ２１に進む。

【００６４】上記第１光量積分回路１０ａと同様に第２
光量積分回路１０ｂでも、上記ＩＲＥＤ１９ｂの出力、
バイアスカットと同時に、積分コンデンサへの積分がな
される。したがって、図７（ｈ）に示されるように、タ
イミングＴＩＭＥ２からＰＯＵＴｂは徐々に上昇し、タ
イミングＴＩＭＥ３に於いて、ＰＯＵＴ３として光量積
分結果が出力される（ステップＳ２１）。この出力はｐ
2 となり、この出力がＣＰＵ１６に内蔵されるＡ／Ｄ変
換回路により、ＣＰＵ１６に入力されて記憶される。

【００６５】ところで、上述したように、第２光量積分
回路１０ｂのイネーブルと同時に、第１光量積分回路１
０ａもイネーブルされており、ＩＲＥＤ１９ａが非発光
の他は、バイアスカット、積分の動作が通常のシーケン
スと同時に行われている。そして、タイミングＴＩＭＥ
３に於いて、出力ＰＯＵＴ２が得られる（ステップＳ２
２）。この出力ＰＯＵＴ２が、上述した補正値Δｐに相
当するものである。

【００６６】ＣＰＵ１６は、ステップＳ１５で記憶され
た出力ＰＯＵＴ１から、出力ＰＯＵＴ２を減算すること
により、補正を行う。すなわち、ステップＳ２３に於い
て、上述した（２）式に従って、下記（６）式の如く演
算がなされて距離が算出される。

【００６７】

【数６】

【００６８】同様に、ステップＳ２４に於いて、上記
（２）式に従って、下記（７）式の如く演算がなされて
距離が算出される。

【００６９】

【数７】

【００７０】これにより、２点の測距を行うことができ
る。

【００７１】尚、上述した実施例では、２点測距を説明
したが、これに限られるものではなく、例えば３点測
距、４点測距の場合でも、考え方は同じである。したが
って、非投光シーケンスが設けられても、タイムラグが
長くなる等の作用は起きないことがわかる。

【００７２】また、図６及び図７に示されるフローチャ
ート及びタイミングチャートの例では、単純化して、第
１光量積分回路による第１測距のタイミングで、第２光
量積分回路による第２測距の非投光シーケンスを行うこ
とはしていない。こうすることにより、第１及び第２測
距結果より、高精度の測距が可能になることはいうまで
もない。

【００７３】更に、高輝度下でない場合は、ホールド用
コンデンサのリークは少ないので、この非投光制御は行
わなくともよい。

【００７４】図６の例では、第１光量積分回路１０ａの
定常光による誤差Δｐと、第２光量積分回路１０ｂの定
常光による誤差Δｐは、略等しいものとして、１／ｌ1
及び１／ｌ2 を求めるものとしている。

【００７５】

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、同一の測距シーケンスを複数の状態で行っているか
ら、正確な測距を行う測距装置を提供することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の測距装置の構成を概略的に示すブロ
ック図である。

【図２】光量と被写体距離の関係を表した図である。

【図３】定常光除去回路及びその周辺部を概略的に示し
た回路構成図である。

【図４】図４のホールド用コンデンサの等価回路を示し
た図である。

【図５】この発明の第１の実施例で、基本となる動作を
説明するフローチャートである。

【図６】この発明の第２の実施例の動作を説明するフロ
ーチャートである。

【図７】この発明の第２の実施例の動作を説明するタイ
ミングチャートである。

【符号の説明】

１０ａ…第１光量積分回路、１０ｂ…第２光量積分回
路、１１ａ、１１ｂ…定常光除去部、１２、１２ａ，１
２ｂ…受光素子、１３、１３ａ、１３ｂ…ホールド用コ
ンデンサ、１４ａ、１４ｂ…信号増幅部、１５ａ、１５
ｂ…光量検出部、１６…ＣＰＵ、１７…投光選択部、１
８…投光部、１９ａ、１９ｂ…投光素子（ＩＲＥＤ）、
２０…プリアンプ、２０ａ…オペアンプ、２０ｂ…トラ
ンジスタ、２０ｃ…定電流源、２１…オペアンプ、２２
…トランジスタ、２３…抵抗、２４、２６…ダイオー
ド、２５、２７…定電流源、２９…バッファ、３０…ホ
ールド用コンデンサ、３１…積分コンデンサ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01C 3/06 G01S 17/32 G02B 7/32 G03B 13/36

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 対象物に向けて投光する投光手段と、 上記投光手段の投光により上記対象物から反射された信
   号光を受光する受光手段と、 上記受光手段に接続され、上記信号光以外の定常光成分
   を記憶する記憶手段と、 上記受光手段に接続され、上記記憶手段に記憶された定
   常光成分を除去する定常光除去手段と、少なくとも上記定常光除去手段作動時の、上記受光手段
   出力を積分する積分手段と、 上記投光時の上記積分手段の出力と、非投光時の上記積
   分手段の出力との出力差に基いて、上記対象物までの距
   離を求める演算手段と、 を具備することを特徴とする測距装置。