JP3225660B2 - Fluorescent powder type automatic flaw detector - Google Patents

Fluorescent powder type automatic flaw detector

Info

Publication number
JP3225660B2
JP3225660B2 JP35972592A JP35972592A JP3225660B2 JP 3225660 B2 JP3225660 B2 JP 3225660B2 JP 35972592 A JP35972592 A JP 35972592A JP 35972592 A JP35972592 A JP 35972592A JP 3225660 B2 JP3225660 B2 JP 3225660B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flaw
average value
abnormality
determining
magnetic powder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP35972592A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH06201613A (en
Inventor
敏夫 遠藤
富一 八木
健一 高田
泰三 矢野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daido Steel Co Ltd
Original Assignee
Daido Steel Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Daido Steel Co Ltd filed Critical Daido Steel Co Ltd
Priority to JP35972592A priority Critical patent/JP3225660B2/en
Publication of JPH06201613A publication Critical patent/JPH06201613A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3225660B2 publication Critical patent/JP3225660B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/91—Investigating the presence of flaws or contamination using penetration of dyes, e.g. fluorescent ink

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、被検査材の表面に付着
した螢光磁粉の模様を撮像して画像処理を行うことによ
り表面傷の有無や傷位置を自動的に検知する螢光磁粉式
自動探傷装置の改良に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a fluorescent magnetic powder which automatically detects the presence or absence of a surface flaw and the position of the flaw by taking an image of a pattern of the fluorescent magnetic powder adhering to the surface of the material to be inspected. The present invention relates to an improvement of an automatic flaw detector.

【０００２】[0002]

【従来の技術】鋼材等の被検査材の表面傷を検知する手
段として螢光磁粉探傷法がある。これは、被検査材の表
面に螢光磁粉をシャワー或いはミスト、ドブ漬け等によ
って付着するとともに被検査材を磁化すると、表面傷に
よる漏れ磁束によって磁粉が傷部分に集まり、紫外線を
照射すればその傷部分で強く発光するため、その発光の
状態（磁粉模様）から傷の有無や位置を知るものであ
る。そして、かかる磁粉模様を撮像装置により撮像し、
その画像信号を予め定められた傷判断閾値と比較するこ
とにより、傷の有無や位置を自動的に検知するようにし
た自動探傷装置が知られている。また、鋼材等の長尺の
被検査材に対しては、その被検査材または上記撮像装置
を長手方向へ移動させ、被検査材の表面を複数のブロッ
クに分割して探傷するようになっている。本出願人が先
に出願した特願平４−１００４２５号に記載されている
自動探傷装置はその一例である。2. Description of the Related Art As a means for detecting a surface flaw of a material to be inspected such as a steel material, there is a fluorescent magnetic particle flaw detection method. This is because fluorescent magnetic powder adheres to the surface of the material to be inspected by showering, misting, immersion, etc. and magnetizes the material to be inspected. Since light is strongly emitted at the scratched portion, the presence or absence and position of the scratch are known from the light emission state (magnetic powder pattern). Then, the magnetic powder pattern is imaged by an imaging device,
There is known an automatic flaw detection device that automatically detects the presence or absence and position of a flaw by comparing the image signal with a predetermined flaw determination threshold value. Further, for a long material to be inspected such as a steel material, the material to be inspected or the imaging device is moved in the longitudinal direction, and the surface of the material to be inspected is divided into a plurality of blocks to detect flaws. I have. The automatic flaw detector described in Japanese Patent Application No. 4-100425 filed earlier by the present applicant is one example.

【０００３】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記螢光磁
粉の散布量や濃度がばらついたり経時変化したりする
と、傷部分の発光強度、更には画像信号の信号強度が変
化するため、傷の検出精度が低下する。紫外線の強度が
ランプの劣化などで変化した場合も同様である。このた
め、一定の探傷性能を維持するためには螢光磁粉の散布
量や紫外線強度などを定期的に測定し、それ等を厳しく
管理する必要があった。However, if the amount or concentration of the fluorescent magnetic powder is varied or changes over time, the light emission intensity of the flaw and the signal intensity of the image signal change, so that the flaw detection is not possible. Accuracy decreases. The same applies to the case where the intensity of the ultraviolet light changes due to deterioration of the lamp or the like. For this reason, in order to maintain a certain flaw detection performance, it is necessary to periodically measure the amount of the fluorescent magnetic powder to be scattered and the intensity of ultraviolet rays, and strictly control them.

【０００４】また、上記のように磁粉散布量や紫外線強
度などを定期的に検査していても、螢光磁粉を散布する
ノズルの目詰りや紫外線のランプ切れなどによる急な変
化には対応できず、次回の定期検査までそのまま放置さ
れ、重大な表面傷を見逃す可能性があった。磁粉散布量
や紫外線強度などを常時監視する方法もあるが、例えば
長尺の鋼材等に螢光磁粉を散布する多数のノズルを監視
するためには、多数の監視装置が必要で、探傷装置が全
体として大掛かりになるとともにコストが高くなるなど
の問題がある。Even if the amount of magnetic powder sprayed and the intensity of ultraviolet light are regularly inspected as described above, it is possible to cope with sudden changes due to clogging of nozzles for spraying fluorescent magnetic powder or burnout of ultraviolet light. However, it was left untouched until the next periodic inspection, and there was a possibility that a serious surface flaw was missed. There is also a method of constantly monitoring the amount of magnetic powder sprayed and the intensity of ultraviolet rays.However, in order to monitor a large number of nozzles for spraying fluorescent magnetic powder on long steel materials, for example, a large number of monitoring devices are required. There are problems such as a large scale and a high cost as a whole.

【０００５】本発明は以上の事情を背景として為された
もので、その第１の目的は、螢光磁粉の散布量や紫外線
強度などが変化しても高い探傷性能を維持できるように
することであり、第２の目的は、磁粉散布量や紫外線強
度などの異常を簡単かつ迅速に検知できるようにするこ
とにある。The present invention has been made in view of the above circumstances, and a first object of the present invention is to maintain high flaw detection performance even when the amount of scattered fluorescent powder or the intensity of ultraviolet light changes. The second object is to make it possible to easily and quickly detect abnormalities such as the amount of magnetic powder sprayed and the intensity of ultraviolet rays.

【０００６】[0006]

【課題を解決するための第１の手段】第１発明は、上記
第１の目的を達成するためのもので、（ａ）螢光磁粉が
付着された被検査材の表面に紫外線を照射する照射手段
と、（ｂ）その表面を撮像して画像信号を出力する撮像
装置と、（ｃ）その画像信号の信号強度を傷判断閾値と
比較して前記表面の傷の有無を判断する傷判断手段とを
有する螢光磁粉式自動探傷装置において、（ｄ）前記画
像信号の信号強度の平均値を求める演算手段と、（ｅ）
その演算手段によって求められた平均値に基づいて前記
傷判断閾値を決定する閾値決定手段とを有することを特
徴とする。According to a first aspect of the present invention, there is provided the first object of the present invention, in which (a) ultraviolet light is applied to the surface of a material to be inspected to which fluorescent magnetic powder is attached. Irradiating means, (b) an imaging device for imaging the surface and outputting an image signal, and (c) flaw judgment for judging the presence or absence of the flaw on the surface by comparing the signal intensity of the image signal with a flaw judgment threshold value Means for obtaining an average value of the signal intensities of the image signals, and (e)
Threshold value determining means for determining the flaw determination threshold value based on the average value obtained by the calculating means.

【０００７】[0007]

【第１発明の作用および効果】このような螢光磁粉式自
動探傷装置においては、画像信号の信号強度の平均値が
演算手段によって求められるとともに、その平均値に基
づいて傷判断閾値が閾値決定手段によって決定され、そ
の傷判断閾値と画像信号の信号強度とを比較することに
より表面傷の有無が判断される。このため、螢光磁粉の
散布量や紫外線強度などの変化に起因して被検査材の表
面全体の発光強度、更には画像信号全体の信号強度が変
化した場合には、その画像信号の強度変化に伴って傷判
断閾値も変化し、常に高い精度で傷の有無を判断できる
ようになる。In such a fluorescent magnetic powder type automatic flaw detector, the average value of the signal intensity of the image signal is obtained by the calculating means, and the flaw judgment threshold value is determined based on the average value. The presence / absence of a surface flaw is determined by comparing the flaw determination threshold value with the signal strength of the image signal. For this reason, if the emission intensity of the entire surface of the inspection material and the signal intensity of the entire image signal change due to changes in the amount of the fluorescent magnetic powder to be scattered and the intensity of the ultraviolet light, the intensity change of the image signal As a result, the flaw determination threshold value also changes, and the presence or absence of a flaw can always be determined with high accuracy.

【０００８】[0008]

【課題を解決するための第２の手段】第２発明は、前記
第２の目的を達成するためのもので、（ａ）螢光磁粉が
付着された被検査材の表面に紫外線を照射する照射手段
と、（ｂ）その表面を撮像して画像信号を出力する撮像
装置と、（ｃ）その画像信号の信号強度を傷判断閾値と
比較して前記表面の傷の有無を判断する傷判断手段とを
有する螢光磁粉式自動探傷装置において、（ｄ）前記画
像信号の信号強度の平均値を求める演算手段と、（ｅ）
その演算手段によって求められた平均値に基づいて探傷
条件の異常を判断する異常判断手段とを有することを特
徴とする。この第２発明は、請求項１に記載の発明であ
る。 A second invention for achieving the second object is to irradiate ultraviolet light to a surface of a material to be inspected to which a fluorescent magnetic powder is adhered. Irradiating means, (b) an imaging device for imaging the surface and outputting an image signal, and (c) flaw judgment for judging the presence or absence of the flaw on the surface by comparing the signal intensity of the image signal with a flaw judgment threshold value Means for obtaining an average value of the signal intensities of the image signals, and (e)
Abnormality determining means for determining an abnormality in the flaw detection condition based on the average value obtained by the calculating means. This second invention is the invention described in claim 1.
You.

【０００９】[0009]

【第２発明の作用および効果】このような螢光磁粉式自
動探傷装置においては、画像信号の信号強度の平均値が
演算手段によって求められ、その平均値に基づいて、螢
光磁粉の散布量や紫外線強度などの探傷条件の異常が異
常判断手段によって判断される。すなわち、螢光磁粉の
散布量や紫外線強度などが変化すると、それに伴って被
検査材の表面全体の発光強度、更には画像信号全体の信
号強度が変化するため、その信号強度の平均値が例えば
予め定められた基準値より低い場合、或いは前回の探傷
時における信号強度の平均値より極端に低い場合などに
は、螢光磁粉の散布量が通常より少ないとか、紫外線強
度が弱いとかの異常があるものと判断できるのである。In such a fluorescent magnetic powder type automatic flaw detector, the average value of the signal intensity of the image signal is obtained by the calculating means, and based on the average value, the amount of the fluorescent magnetic powder sprayed is determined. Abnormalities in the flaw detection conditions such as the intensity and the intensity of ultraviolet light are determined by the abnormality determining means. That is, when the amount of the fluorescent magnetic powder to be scattered or the intensity of the ultraviolet light changes, the emission intensity of the entire surface of the material to be inspected and the signal intensity of the entire image signal change accordingly. If it is lower than the predetermined reference value or extremely lower than the average value of the signal intensity at the time of the previous flaw detection, etc., abnormalities such as the scattering amount of the fluorescent magnetic powder is smaller than usual or the UV intensity is weak. You can judge that there is.

【００１０】このように、第２発明によれば磁粉散布量
や紫外線強度などの異常を、画像信号の信号強度に基づ
いて簡単且つ迅速に検知できるため、かかる異常に起因
する表面傷の見過ごし等を良好に防止でき、信頼性が向
上する。また、大掛かりな監視設備を必要としないた
め、探傷装置が全体としてコンパクトに且つ安価に構成
されるとともに、定期点検などの作業者の負担が軽減さ
れる。As described above, according to the second aspect of the present invention, abnormalities such as the amount of scattered magnetic powder and the intensity of ultraviolet rays can be easily and quickly detected based on the signal intensity of the image signal. Can be satisfactorily prevented, and the reliability is improved. In addition, since large-scale monitoring equipment is not required, the flaw detection device is configured to be compact and inexpensive as a whole, and the burden on the operator for periodic inspections and the like is reduced.

【００１１】[0011]

【課題を解決するための第３の手段】第３発明は、前記
第１および第２の目的を達成するためのもので、（ａ）
螢光磁粉が付着された被検査材の表面に紫外線を照射す
る照射手段と、（ｂ）その表面を撮像して画像信号を出
力する撮像装置と、（ｃ）その画像信号の信号強度を傷
判断閾値と比較して前記表面の傷の有無を判断する傷判
断手段とを有する螢光磁粉式自動探傷装置において、
（ｄ）前記画像信号の信号強度の平均値を求める演算手
段と、（ｅ）その演算手段によって求められた平均値に
基づいて探傷条件の異常を判断する異常判断手段と、
（ｆ）前記演算手段によって求められた平均値に基づい
て前記傷判断閾値を決定する閾値決定手段とを有するこ
とを特徴とする。この第３発明は、請求項２に記載の発
明である。 A third aspect of the present invention is to achieve the first and second objects, wherein (a)
An irradiating means for irradiating the surface of the material to be inspected with the fluorescent magnetic powder with ultraviolet light, (b) an image pickup device for picking up an image of the surface and outputting an image signal, and (c) damaging the signal strength of the image signal. In a fluorescent powder type automatic flaw detector having a flaw determining means for determining the presence or absence of the flaw on the surface in comparison with a determination threshold,
(D) calculating means for calculating an average value of the signal intensity of the image signal; and (e) abnormality determining means for determining an abnormality of the flaw detection condition based on the average value obtained by the calculating means.
(F) threshold value determining means for determining the flaw determination threshold value based on the average value obtained by the calculating means. The third aspect of the present invention is the third aspect of the present invention.
It is clear.

【００１２】[0012]

【第３発明の作用および効果】すなわち、この第３発明
は前記第１発明および第２発明を組み合わせたもので、
画像信号の信号強度の平均値に基づいて傷判断閾値を決
定するとともに探傷条件の異常を判断するようにしたの
であり、螢光磁粉の散布量や紫外線強度などの探傷条件
の異常に拘らず常に高い精度で探傷できるとともに、そ
の探傷条件の異常を簡単且つ迅速に検知できるようにな
り、装置の信頼性が大幅に向上する。[Operation and effect of the third invention] That is, this third invention is a combination of the first invention and the second invention.
The flaw detection threshold is determined based on the average value of the signal strength of the image signal, and the flaw detection conditions are judged to be abnormal. Flaw detection can be performed with high accuracy, and abnormalities in the flaw detection conditions can be detected easily and quickly, thereby greatly improving the reliability of the apparatus.

【００１３】[0013]

【課題を解決するための第４の手段】第４発明は、前記
第１および第２の目的を達成するためのもので、（ａ）
表面に螢光磁粉が付着された長尺の被検査材の長手方向
へ相対移動させられ、前記表面を複数のブロックに分割
して撮像する撮像装置と、（ｂ）その撮像装置と一体的
に前記被検査材に対して相対移動させられて前記表面に
紫外線を照射する照射手段と、（ｃ）前記撮像装置から
１ブロック毎に出力される画像信号の信号強度を傷判断
閾値と比較して前記表面の傷の有無を判断する傷判断手
段とを有する螢光磁粉式自動探傷装置において、（ｄ）
前記１ブロック毎の画像信号の信号強度の平均値を求め
る演算手段と、（ｅ）その演算手段によって求められた
平均値に基づいて１ブロック毎に前記傷判断閾値を決定
する閾値決定手段と、（ｆ）前記演算手段によって求め
られた各ブロックの平均値を相互に比較して探傷条件の
異常を判断する第１異常判断手段と、（ｇ）前記演算手
段によって求められた各ブロックの平均値を平均して予
め設定された基準値と比較することにより探傷条件の異
常を判断する第２異常判断手段とを有することを特徴と
する。この第４発明は、請求項３に記載の発明である。 A fourth aspect of the present invention is to achieve the first and second objects, wherein (a)
An image pickup device which is relatively moved in the longitudinal direction of a long inspection material having fluorescent magnetic powder adhered to its surface, and divides the surface into a plurality of blocks and picks up an image; (b) an image pickup device integrated with the image pickup device (C) comparing the signal intensity of an image signal output for each block from the image pickup device with a flaw determination threshold, and A fluorescent magnetic powder type automatic flaw detector having a flaw determining means for determining the presence or absence of flaws on the surface;
Calculating means for calculating an average value of the signal intensity of the image signal for each block; and (e) threshold value determining means for determining the flaw determination threshold value for each block based on the average value obtained by the calculating means; (F) first abnormality determining means for comparing the average values of the respective blocks obtained by the arithmetic means with each other to determine an abnormality in the flaw detection conditions; and (g) average value of each block obtained by the arithmetic means. And a second abnormality judging means for judging an abnormality of the flaw detection condition by averaging and comparing the average value with a preset reference value. This fourth invention is the invention according to claim 3.

【００１４】[0014]

【第４発明の作用および効果】この第４発明は、長尺の
被検査材の長手方向へその被検査材と撮像装置とを相対
移動させ、被検査材の表面を複数のブロックに分割して
探傷するもので、各ブロック毎に画像信号の信号強度の
平均値を求めて傷判断閾値を決定し、その傷判断閾値に
基づいて傷の有無を判断する。したがって、例えば螢光
磁粉の散布量や濃度にむらが有る場合など、１本の被検
査材の中で探傷条件が異なる場合でも、常に高い精度で
探傷を行うことができる。According to the fourth aspect of the present invention, the inspection object and the imaging device are relatively moved in the longitudinal direction of the long inspection object, and the surface of the inspection object is divided into a plurality of blocks. The flaw detection threshold is determined by calculating the average value of the signal intensity of the image signal for each block, and the presence or absence of a flaw is determined based on the flaw determination threshold. Therefore, flaw detection can always be performed with high accuracy even when flaw detection conditions are different in a single material to be inspected, for example, when the amount and concentration of the fluorescent magnetic powder are uneven.

【００１５】また、上記各ブロックにおける信号強度の
平均値を相互に比較して探傷条件の異常を判断している
ため、例えば多数のノズルを用いて螢光磁粉を散布して
いる場合には、かかる異常判断により目詰り等の異常を
有するノズルを特定することができるなど、磁粉付着装
置や紫外線照射手段の異常を極め細かく検知することが
できる。各ブロックにおける信号強度の平均値を平均
し、予め設定された基準値と比較することによっても探
傷条件の異常を判断しているため、紫外線ランプの劣化
など探傷条件の長期的な変化にも対応でき、探傷条件の
異常を確実に判断することが可能で、高い信頼性が得ら
れる。In addition, since the average value of the signal intensity in each block is compared with each other to determine the abnormality of the flaw detection condition, for example, when the fluorescent magnetic powder is sprayed using a large number of nozzles, The abnormality determination makes it possible to identify a nozzle having an abnormality such as clogging or the like, thereby making it possible to detect an abnormality of the magnetic powder deposition device or the ultraviolet irradiation means very finely. The average value of the signal intensity in each block is averaged and compared with a preset reference value to judge whether the flaw detection condition is abnormal. As a result, it is possible to reliably determine an abnormality in flaw detection conditions, and high reliability is obtained.

【００１６】[0016]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳
細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【００１７】図１は、本発明の一実施例である螢光磁粉
式自動探傷装置（以下、単に探傷装置という）１０の斜
視図で、図２はその断面図、図３は制御系統を説明する
図である。これ等の図において、強磁性体製の鋼材であ
る被検査材１２は、方形断面を有して長尺状を成してお
り、複数の検査台１４により長手方向の稜線が上下左右
に位置する略水平な姿勢で位置固定に支持されている。
そして、その被検査材１２の長手方向に移動させられる
一対の検査ユニット１６によって、外周の表面１８（上
側の２面）に存在する傷が検出されるようになってい
る。磁粉探傷法は、表面若しくは表面近傍の傷（欠陥）
を迂回して流れる漏洩磁束により、強磁性体の粉である
磁粉をその傷部分に集中的に吸着させて、その磁粉模様
から傷の有無や位置を調べる方法であり、上記被検査材
１２は、予め磁場に晒されて磁化されているとともに、
その表面１８には多数のノズルによる散布やドブ漬けな
どにより螢光磁粉が付着されている。FIG. 1 is a perspective view of a fluorescent powder type automatic flaw detector (hereinafter simply referred to as a flaw detector) 10 according to one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view thereof, and FIG. FIG. In these figures, the material to be inspected 12, which is a ferromagnetic steel material, has an elongated shape with a rectangular cross section, and a plurality of inspection tables 14 position longitudinal ridges vertically and horizontally. It is supported in a fixed position in a substantially horizontal posture.
The pair of inspection units 16 that are moved in the longitudinal direction of the inspection target material 12 detect flaws present on the outer peripheral surface 18 (upper two surfaces). The magnetic particle flaw detection method uses scratches (defects) on or near the surface.
This is a method in which magnetic powder, which is a ferromagnetic powder, is intensively adsorbed to the flaw portion by leakage magnetic flux flowing around, and the presence / absence and position of the flaw are checked from the magnetic powder pattern. , Which have been magnetized by being exposed to a magnetic field in advance,
Fluorescent magnetic powder is adhered to the surface 18 by spraying with a number of nozzles or immersing in a dough.

【００１８】被検査材１２の上方には、その被検査材１
２の長手方向と平行に一対のガイドレール２４および２
６が配設されており、前記検査ユニット１６は、この一
対のガイドレール２４および２６に支持されて走行する
台車２８に配設されることにより、被検査材１２の全長
に亘って探傷できるようになっている。この台車２８に
は、制御装置５６から供給される駆動信号ＳＤ１によっ
て正逆両方向へ回転駆動されるサーボモータ３０が配設
されており、このサーボモータ３０の駆動力がタイミン
グベルト３２を介して駆動輪３４および３６に伝達され
ることにより、台車２８はガイドレール２４，２６上を
所定の移動速度Ｖで走行させられる。サーボモータ３０
にはエンコーダ３８が設けられており、台車２８の移動
速度Ｖに対応する回転角度信号ＳＡ１が制御装置５６に
供給される。一方のガイドレール２４にはその上面に噛
合歯４０が形成されているとともに、そのガイドレール
２４上を転動する一方の駆動輪３４の外周には、上記噛
合歯４０と噛み合う噛合歯４２が設けられており、それ
らの噛合歯４０および４２の噛合いによって、台車２８
は駆動輪３４の回転角度に正確に対応してガイドレール
２４上を移動する。Above the material to be inspected 12, the material to be inspected 1
2 and a pair of guide rails 24 and 2
The inspection unit 16 is disposed on a carriage 28 that runs while being supported by the pair of guide rails 24 and 26 so that the inspection unit 16 can detect flaws over the entire length of the inspection target material 12. It has become. The bogie 28 is provided with a servomotor 30 that is driven to rotate in both forward and reverse directions by a drive signal SD1 supplied from a controller 56, and the driving force of the servomotor 30 is driven via a timing belt 32. By being transmitted to the wheels 34 and 36, the carriage 28 is caused to travel on the guide rails 24 and 26 at a predetermined moving speed V. Servo motor 30
Is provided with an encoder 38, and a rotation angle signal SA1 corresponding to the moving speed V of the carriage 28 is supplied to the control device 56. A meshing tooth 40 is formed on the upper surface of one guide rail 24, and a meshing tooth 42 meshing with the meshing tooth 40 is provided on the outer periphery of one drive wheel 34 that rolls on the guide rail 24. The engagement of the engagement teeth 40 and 42 causes the carriage 28
Moves on the guide rails 24 exactly corresponding to the rotation angle of the drive wheels 34.

【００１９】上記台車２８は矩形の箱形状を成してお
り、一対の検査ユニット１６は、その台車２８内におい
て予め定められた所定の位置関係に配置された反射鏡４
４、テレビカメラ４６、紫外線ランプ４８等をそれぞれ
備えて構成されている。一対の検査ユニット１６は被検
査材１２の表面１８のうち斜め上方を向いた２面を同時
に探傷するようになっており、それぞれの反射鏡４４、
テレビカメラ４６、紫外線ランプ４８等は、被検査材１
２の軸心を通る鉛直な平面に対して対称的に配置されて
いる。反射鏡４４はサーボモータ５０の出力軸に取り付
けられて、その出力軸の軸心Ｏを含む平面内に形成され
た鏡面５２が軸心Ｏまわりに回動させられるようになっ
ており、サーボモータ５０は、上記軸心Ｏが被検査材１
２の長手方向すなわち台車２８の移動方向と直角で且つ
被検査材１２の表面１８と平行となる姿勢で台車２８に
固定されている。また、テレビカメラ４６は、その撮像
レンズの光軸が台車２８の移動方向と平行で上記軸心Ｏ
と直交するように取り付けられており、被検査材１２の
表面１８からの光が反射鏡４４を介して入射させられる
ことにより、表面１８の螢光磁粉の模様を撮像するよう
になっている。このテレビカメラ４６は撮像装置に相当
し、入射光量に対応して強度変化する画像信号ＳＶを前
記制御装置５６へ出力する。The cart 28 has a rectangular box shape, and the pair of inspection units 16 includes the reflecting mirrors 4 arranged in a predetermined positional relationship in the cart 28.
4, a television camera 46, an ultraviolet lamp 48, and the like. The pair of inspection units 16 are configured to simultaneously detect flaws on two obliquely upward surfaces of the surface 18 of the inspection object 12.
The television camera 46, the ultraviolet lamp 48, etc.
They are arranged symmetrically with respect to a vertical plane passing through two axes. The reflecting mirror 44 is attached to the output shaft of the servomotor 50, and a mirror surface 52 formed in a plane including the axis O of the output shaft is rotated about the axis O. 50 indicates that the axis O is the material 1 to be inspected.
2 is fixed to the carriage 28 in a posture perpendicular to the moving direction of the carriage 28 and parallel to the surface 18 of the inspection object 12. In the television camera 46, the optical axis of the imaging lens is parallel to the moving direction of the carriage 28 and the axis O
The light from the surface 18 of the material 12 to be inspected is made incident through the reflecting mirror 44 so as to image the pattern of the fluorescent magnetic powder on the surface 18. The television camera 46 corresponds to an imaging device, and outputs an image signal SV whose intensity changes in accordance with the amount of incident light to the control device 56.

【００２０】上記反射鏡４４は、図４に示すように、台
車２８の移動に拘らずテレビカメラ４６による表面１８
の撮像範囲が所定時間一定に維持されるようにするため
のもので、予め定められた所定の角度範囲を台車２８の
移動速度Ｖに同期して回動させられる。サーボモータ５
０は、台車２８の移動速度Ｖに基づいて前記制御装置５
６から供給される駆動信号ＳＤ２に従って作動させられ
るとともに、その回動角度を表す回動角度信号ＳＡ２が
エンコーダ５４から制御装置５６に供給される。この反
射鏡４４の回動は、移動速度Ｖに基づいて定められる所
定のタイミングで繰り返し行われ、これにより、表面１
８が複数のブロックに分割されて順次撮像される。図４
の斜線は、テレビカメラ４６による撮像範囲を表してお
り、図４の（ａ）〜（ｃ）はブロックｎを台車２８の移
動に拘らず略静止状態で撮像している。図４の（ｄ）
は、（ａ）の回動位置まで反射鏡４４が戻り回動させら
れ、これによりテレビカメラ４６の撮像範囲は次のブロ
ックｎ＋１へ移動する。なお、かかるテレビカメラ４６
は、被検査材１２の幅方向すなわち図４の上下方向へ水
平走査するとともに、長手方向へ垂直走査するようにな
っている。As shown in FIG. 4, the reflecting mirror 44 is provided on the surface 18 of the television camera 46 regardless of the movement of the carriage 28.
Is kept constant for a predetermined time, and is rotated in a predetermined angle range in synchronization with the moving speed V of the carriage 28. Servo motor 5
0 is based on the moving speed V of the carriage 28,
6 is operated in accordance with the drive signal SD2 supplied from the controller 6, and a rotation angle signal SA2 indicating the rotation angle is supplied from the encoder 54 to the controller 56. The rotation of the reflecting mirror 44 is repeatedly performed at a predetermined timing determined based on the moving speed V.
8 is divided into a plurality of blocks and sequentially imaged. FIG.
4 indicate the imaging range of the television camera 46. In FIGS. 4A to 4C, the block n is imaged in a substantially stationary state regardless of the movement of the cart 28. FIG. 4D
The reflection mirror 44 is rotated back to the rotation position (a), whereby the imaging range of the television camera 46 moves to the next block n + 1. Note that such a television camera 46
Are designed to scan horizontally in the width direction of the material to be inspected 12, that is, in the vertical direction in FIG. 4, and scan vertically in the longitudinal direction.

【００２１】前記紫外線ランプ４８は照射手段に相当す
るもので、上記反射鏡４４の回動に伴って台車２８に対
して相対的に変化するテレビカメラ４６の撮像範囲の全
てに紫外線を照射できるように、所定の照射範囲を有し
て台車２８に取り付けられている。また、被検査材１２
の長手方向に延びる４本の稜線のうち左右に位置する一
対の稜線５８および６０の下方には、一対のエッジ照射
ランプ６２が台車２８の移動方向において前記反射鏡４
４と略同じ位置に配設されており、稜線５８および６０
にそれぞれ可視光を照射することにより、撮像画像にお
ける稜線５８および６０のエッジを明確にする。そのほ
か、被検査材１２を挟んで両側に位置して一対の投光器
６４および受光器６６が配設されている。これらの投光
器６４および受光器６６は光電スイッチとして機能する
もので、投光器６４から受光器６６に向かって発せられ
た光が遮られていない初期位置から、台車２８が移動を
開始したあと被検査材１２の探傷開始側の端末６８を通
過することによってその光が遮られることを検出し、こ
の検出信号ＳＰに基づいて被検査材１２の探傷開始時点
を制御装置５６が判断できるようになっている。The ultraviolet lamp 48 is equivalent to an irradiating means, and can irradiate ultraviolet rays to the entire imaging range of the television camera 46 which changes relatively to the carriage 28 with the rotation of the reflecting mirror 44. And is attached to the carriage 28 with a predetermined irradiation range. The material to be inspected 12
Below the pair of ridge lines 58 and 60 located on the left and right of the four ridge lines extending in the longitudinal direction, a pair of edge irradiation lamps 62
4 are provided at substantially the same positions as the ridge lines 58 and 60.
Is irradiated with visible light to clarify the edges of the ridgelines 58 and 60 in the captured image. In addition, a pair of light emitters 64 and light receivers 66 are disposed on both sides of the inspection target material 12. The light emitter 64 and the light receiver 66 function as a photoelectric switch, and after the carriage 28 starts moving from the initial position where the light emitted from the light emitter 64 toward the light receiver 66 is not blocked, the material to be inspected is started. 12 detects that the light is interrupted by passing through the terminal 68 on the flaw detection start side, and the control device 56 can determine the flaw detection start time of the inspection material 12 based on the detection signal SP. .

【００２２】制御装置５６は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ
等を有するマイクロコンピュータを備えて構成されてお
り、予めＲＯＭに記憶されたプログラムに従ってＲＡＭ
の一時記憶機能を利用しつつ演算処理を行い、前記駆動
信号ＳＤ１，ＳＤ２を出力することにより、台車２８を
移動させるとともにその台車２８の移動に同期して反射
鏡４４を回動させる。また、テレビカメラ４６から供給
される画像信号ＳＶに基づいて、表面１８の傷マップを
作成する。以下、図５のフローチャートを参照しつつ、
画像信号ＳＶの信号処理を具体的に説明する。The control unit 56 includes a CPU, a ROM, and a RAM.
And the like, and a RAM according to a program stored in a ROM in advance.
By performing arithmetic processing using the temporary storage function described above, and outputting the drive signals SD1 and SD2, the carriage 28 is moved and the reflecting mirror 44 is rotated in synchronization with the movement of the carriage 28. Further, a flaw map of the surface 18 is created based on the image signal SV supplied from the television camera 46. Hereinafter, referring to the flowchart of FIG.
The signal processing of the image signal SV will be specifically described.

【００２３】先ず、ステップＳ１では、反射鏡４４の回
動角度に基づいて画像信号ＳＶの取込みタイミングか否
かを判断し、ＹＥＳになるとステップＳ２で画像信号Ｓ
Ｖを取り込む。この画像信号ＳＶを取り込むタイミング
は、反射鏡４４の回動により表面１８を略静止状態で撮
像している時間に定められ、例えば前記図４の（ａ）〜
（ｃ）の時間である。次のステップＳ３では、取り込ん
だ画像信号ＳＶが表す撮像画像の中から、探傷すべき表
面１８のみから成る探傷エリアを設定する。例えば、図
６の一点鎖線Ａは、前記図２の右側の検査ユニット１６
のテレビカメラ４６の撮像範囲、すなわち画像信号ＳＶ
が表す撮像画像の範囲で、斜線で示す範囲Ｂは探傷エリ
アであるが、この探傷エリアＢのうち被検査材１２の長
手方向の範囲Ｂ1 は撮像画像Ａに対して予め定められて
いる。また、被検査材１２の長手方向と直角な幅方向の
範囲Ｂ2 は、その幅方向における画像信号ＳＶの信号強
度変化に基づいて稜線６０を判別し、設定器等により予
め設定された表面１８の幅寸法に応じて定められる。稜
線６０にはエッジ照射ランプ６２によって可視光が照射
されており、画像信号ＳＶの信号強度Ｉは稜線６０の部
分で急激に変化しているため、稜線６０は高い精度で判
別される。以下の各ステップでは、上記探傷エリアＢの
範囲内の画像信号ＳＶのみが信号処理される。First, in step S1, it is determined whether or not it is time to take in the image signal SV based on the rotation angle of the reflecting mirror 44, and if YES, the image signal S in step S2 is determined.
Take in V. The timing of capturing the image signal SV is determined by the time during which the surface 18 is imaged in a substantially stationary state by the rotation of the reflecting mirror 44. For example, the timing shown in FIG.
This is the time of (c). In the next step S3, a flaw detection area consisting of only the surface 18 to be flaw-detected is set from the captured image represented by the captured image signal SV. For example, an alternate long and short dash line A in FIG.
Imaging range of the television camera 46, that is, the image signal SV
In the range of the captured image represented by, a range B indicated by oblique lines is a flaw detection area, and a range B 1 in the longitudinal direction of the inspection object 12 in the flaw detection area B is predetermined for the captured image A. The range B 2 in the width direction perpendicular to the longitudinal direction of the inspection target material 12 determines the ridgeline 60 based on a change in the signal intensity of the image signal SV in the width direction, and the surface 18 preset by a setting device or the like. Is determined according to the width dimension of. The ridge line 60 is irradiated with visible light by the edge irradiation lamp 62, and the signal intensity I of the image signal SV changes abruptly at the ridge line 60, so that the ridge line 60 is determined with high accuracy. In the following steps, only the image signal SV within the range of the flaw detection area B is subjected to signal processing.

【００２４】ステップＳ４では、被検査材１２の長手方
向すなわち図６の左右方向に関して画像信号ＳＶを平滑
化し、ノイズを除去する。被検査材１２は長手方向に圧
延されたもので、表面傷は通常長手方向に長く、上記の
ように長手方向に平滑化が行われても実際の傷に起因す
る信号は殆ど影響を受けない。ステップＳ５では、上記
探傷エリアＢ内の画像信号ＳＶの信号強度Ｉの平均値Ｉ
avを算出し、ステップＳ６では、その平均値Ｉavに基づ
いて例えばその２〜４倍程度の値を傷判断閾値ＴＨに設
定する。In step S4, the image signal SV is smoothed in the longitudinal direction of the material to be inspected 12, that is, in the horizontal direction in FIG. 6, and noise is removed. The material to be inspected 12 is rolled in the longitudinal direction, the surface flaw is usually long in the longitudinal direction, and even if the smoothing is performed in the longitudinal direction as described above, the signal due to the actual flaw is hardly affected. . In step S5, the average value I of the signal intensity I of the image signal SV in the flaw detection area B is determined.
av is calculated, and in step S6, for example, a value about 2 to 4 times the average value Iav is set as the flaw determination threshold TH.

【００２５】ステップＳ７では、被検査材１２の幅方向
すなわち図６の上下方向に関して微分処理（差分処理）
を行い、画像信号ＳＶの信号強度Ｉの変化を急峻にして
画像を鮮鋭化する。次のステップＳ８では、その信号強
度Ｉと前記傷判断閾値ＴＨとを比較してＩ＞ＴＨの部分
を傷候補として抽出し、ステップＳ９において、その傷
候補の繋がりパターンによりノイズと考えられるものを
除去する。これは、例えば傷候補が被検査材１２の長手
方向に連続していない場合はノイズと判断して除去する
もので、次のステップＳ１０では、ノイズとして除去さ
れた後の傷候補を最終的な傷と判断して、その傷位置を
記憶する。In step S7, the differential processing (difference processing) is performed in the width direction of the material to be inspected 12, that is, in the vertical direction in FIG.
To sharpen the change in the signal intensity I of the image signal SV to sharpen the image. In the next step S8, the signal intensity I is compared with the flaw determination threshold TH to extract a portion where I> TH as a flaw candidate. In step S9, a part considered as noise due to the connection pattern of the flaw candidates is determined. Remove. This is, for example, if the flaw candidates are not continuous in the longitudinal direction of the inspected material 12, it is determined to be noise and removed, and in the next step S10, the flaw candidates after being removed as noise are finally determined. It is determined as a wound and the position of the wound is stored.

【００２６】以上の各ステップにより、複数に分割され
た表面１８の一つのブロックに対する探傷処理は終了す
る。これ等の各ステップは、図４の（ｃ）から（ｄ）の
状態へ反射鏡４４が戻り回動させられ、次のブロックの
画像信号ＳＶの取込みを開始するまでの間に行われる。
そして、次のステップＳ１１では、被検査材１２の一つ
の表面１８に対する探傷が全て終了したか否かを、例え
ば前記受光器６６の検出信号ＳＰ等に基づいて判断し、
探傷が終了するまでステップＳ１以下を繰り返し実行す
る。これにより、表面１８に対する探傷処理が、図４の
各ブロック毎に行われる。なお、総てのブロックの画像
信号ＳＶを取り込んだ後に、各ブロック毎にステップＳ
３以下の探傷処理を実行するようにしても良い。With the above steps, the flaw detection processing for one block of the surface 18 divided into a plurality of parts is completed. These steps are performed until the reflecting mirror 44 is rotated back from the state shown in FIG. 4 (c) to the state shown in FIG. 4 (d) to start taking the image signal SV of the next block.
Then, in the next step S11, it is determined whether or not all the flaw detections on one surface 18 of the inspection object 12 have been completed based on, for example, the detection signal SP of the light receiver 66, and the like.
Step S1 and the subsequent steps are repeatedly executed until the flaw detection ends. Thereby, the flaw detection processing for the surface 18 is performed for each block in FIG. After the image signals SV of all the blocks are fetched, step S is performed for each block.
Three or less flaw detection processes may be executed.

【００２７】一つの表面１８に対する探傷が総て終了
し、ステップＳ１１の判断がＹＥＳになると、ステップ
Ｓ１２において、各ブロックの探傷エリアＢを繋ぎ合わ
せて表面１８全域の傷位置を表す傷マップを作成する。
各ブロックの探傷エリアＢは、被検査材１２の長手方向
において互いにオーバーラップするように予め設定され
ている。When all of the flaw detection for one surface 18 is completed and the determination in step S11 is YES, in step S12, the flaw detection area B of each block is connected to create a flaw map indicating the flaw position of the entire surface 18. I do.
The flaw detection areas B of each block are set in advance so as to overlap with each other in the longitudinal direction of the inspection material 12.

【００２８】次のステップＳ１３では、各ブロックの探
傷処理においてそれぞれ前記ステップＳ５で算出された
平均値Ｉavを相互に比較し、探傷条件の異常判断を行
う。具体的には、例えば各ブロックの平均値Ｉavを平均
してＴＩavを求め、平均値ＩavがＴＩavの例えば５０〜
９０％程度の範囲で定められた所定値以下のブロックで
は、探傷条件に何等かの異常が存在するものと判断す
る。この実施例では、紫外線ランプ４８は台車２８に取
り付けられているため、各ブロックにおける紫外線の照
射条件は略同じであると考えられ、螢光磁粉に分布むら
があると考えられる。例えば、被検査材１２を位置固定
に配置し、同じく位置固定に配設された多数のノズルで
螢光磁粉を散布する場合には、平均値Ｉavが低い部分の
ブロックのノズルに目詰り等の異常が存在するものと考
えられるのであり、そのブロックを表す異常ランプの点
灯等により作業者に異常を知らせる。平均値ＩavとＴＩ
avとの差が比較的小さい場合など、必要に応じて同じブ
ロックの異常が所定回数だけ継続した場合に異常表示を
行うようにしても良い。In the next step S13, in the flaw detection processing of each block, the average value Iav calculated in the step S5 is compared with each other to judge whether the flaw detection conditions are abnormal. Specifically, for example, the average value Iav of each block is averaged to obtain TIav, and the average value Iav is, for example, 50 to 50% of TIav.
In a block that is equal to or less than a predetermined value defined in a range of about 90%, it is determined that some abnormality exists in the flaw detection conditions. In this embodiment, since the ultraviolet lamp 48 is mounted on the carriage 28, the irradiation conditions of the ultraviolet light in each block are considered to be substantially the same, and it is considered that the fluorescent magnetic powder has uneven distribution. For example, when the inspection target material 12 is arranged at a fixed position, and when the fluorescent magnetic powder is sprayed with a large number of nozzles also arranged at the fixed position, the nozzles of the block having a low average value Iav may be clogged. It is considered that there is an abnormality, and the operator is notified of the abnormality by lighting an abnormality lamp or the like representing the block. Average Iav and TI
If necessary, the abnormality display may be performed when the abnormality of the same block continues a predetermined number of times, such as when the difference from av is relatively small.

【００２９】また、次のステップＳ１４では、上記各ブ
ロックの平均値Ｉavの平均ＴＩavが予め定められた基準
値Ｉm より小さいか否かにより、探傷条件の異常判断を
行い、異常ランプの点灯等により作業者に異常を知らせ
る。基準値Ｉm は、螢光磁粉が正常に付着され且つ紫外
線ランプ４８が正しく紫外線を照射している場合の平均
的な信号強度Ｉの例えば５０〜９０％程度の値で、定期
点検の際などに設定され、これにより紫外線ランプ４８
の劣化に伴う経時的な紫外線強度の低下や、螢光磁粉の
経時的な濃度低下などの異常を判断できる。この場合に
も、必要に応じて異常状態が所定回数だけ継続した場合
に異常表示を行うようにしても良い。In the next step S14, it is determined whether or not the average TIav of the average value Iav of each block is smaller than a predetermined reference value Im. Notify the worker of the abnormality. The reference value Im is a value of, for example, about 50 to 90% of the average signal intensity I when the fluorescent magnetic powder is normally attached and the ultraviolet lamp 48 irradiates ultraviolet rays correctly. Is set, and the
It is possible to determine abnormalities such as a decrease in ultraviolet intensity over time due to deterioration of the magnetic powder and a decrease in concentration of fluorescent magnetic powder over time. Also in this case, if necessary, an abnormal state may be displayed when the abnormal state continues a predetermined number of times.

【００３０】ここで、かかる本実施例の探傷装置１０
は、ステップＳ５で画像信号ＳＶの信号強度Ｉの平均値
Ｉavを算出した後、ステップＳ６でその平均値Ｉavに基
づいて傷判断閾値ＴＨを求め、ステップＳ８ではその傷
判断閾値ＴＨと信号強度Ｉとを比較して傷判断を行うよ
うになっているため、螢光磁粉の散布量や濃度、紫外線
強度などの変化に起因して被検査材１２からの光強度が
変化し、更に画像信号ＳＶの信号強度Ｉが変化しても、
その画像信号ＳＶの強度変化に応じて傷判断閾値ＴＨが
変化することにより、常に高い精度で傷の有無を判断で
きるようになる。Here, the flaw detector 10 of the present embodiment is described.
Calculates the average value Iav of the signal intensity I of the image signal SV in step S5, calculates the flaw judgment threshold value TH based on the average value Iav in step S6, and calculates the flaw judgment threshold value TH and the signal intensity I in step S8. The light intensity from the material to be inspected 12 changes due to changes in the amount and concentration of the fluorescent magnetic powder, the intensity of ultraviolet light, and the like. Even if the signal strength I of
By changing the flaw determination threshold value TH in accordance with the change in the intensity of the image signal SV, the presence or absence of a flaw can always be determined with high accuracy.

【００３１】また、本実施例では長尺の被検査材１２の
表面１８を複数のブロックに分けて探傷するとともに、
各ブロック毎に画像信号ＳＶの信号強度Ｉの平均値Ｉav
を求めて傷判断閾値ＴＨを決定し、その傷判断閾値ＴＨ
に基づいて傷の有無を判断するようになっているため、
例えば螢光磁粉の散布量や濃度にむらが有る場合など、
１本の被検査材１２の一つの表面１８の中で探傷条件が
異なる場合でも、常に高い精度で探傷を行うことができ
る。In this embodiment, the surface 18 of the long test piece 12 is divided into a plurality of blocks for flaw detection.
Average value Iav of signal intensity I of image signal SV for each block
Is determined to determine the flaw judgment threshold value TH, and the flaw judgment threshold value TH is determined.
Is used to determine the presence or absence of a scratch,
For example, when the amount and concentration of fluorescent magnetic powder is uneven,
Even when flaw detection conditions are different in one surface 18 of one inspection material 12, flaw detection can always be performed with high accuracy.

【００３２】一方、ステップＳ１３では、各ブロックに
おける信号強度Ｉの平均値Ｉavを相互に比較して探傷条
件の異常判断を行い、ブロック毎におけるノズル目詰り
等の異常を検出するようになっているとともに、ステッ
プＳ１４では、その平均値Ｉavの平均ＴＩavと予め定め
られた基準値Ｉm とを比較して、紫外線ランプ４８の劣
化に伴う経時的な紫外線強度の低下や、螢光磁粉の経時
的な濃度低下などの異常を検出するようになっているた
め、そのような探傷条件の異常を迅速且つ確実に知るこ
とができ、探傷条件の変動に拘らず常に高い精度で探傷
できることと相俟って装置の信頼性が大幅に向上する。
また、そのような紫外線強度や磁粉散布状態等を直接検
知して監視する大掛かりな監視設備が必ずしも必要でな
くなるため、磁粉付着装置等を含めた探傷装置１０が全
体としてコンパクトに且つ安価に構成されるとともに、
定期点検などの作業者の負担が軽減される。On the other hand, in step S13, the average value Iav of the signal intensities I in each block is compared with each other to determine the abnormality of the flaw detection condition, and to detect abnormality such as nozzle clogging in each block. At the same time, in step S14, the average TIav of the average value Iav is compared with a predetermined reference value Im so that the ultraviolet intensity decreases with time due to the deterioration of the ultraviolet lamp 48, and the time of the fluorescent magnetic powder decreases. Abnormalities such as a decrease in concentration are detected, so that such abnormalities in flaw detection conditions can be quickly and reliably known, and in combination with the fact that flaw detection can always be performed with high accuracy regardless of fluctuations in flaw detection conditions. The reliability of the device is greatly improved.
In addition, since large-scale monitoring equipment for directly detecting and monitoring such ultraviolet light intensity and the state of scattering of magnetic particles is not necessarily required, the flaw detection apparatus 10 including the magnetic particle attaching apparatus and the like is configured to be compact and inexpensive as a whole. Along with
The burden on workers during periodic inspections is reduced.

【００３３】本実施例では、制御装置５６による一連の
信号処理のうちステップＳ５を実行する部分が演算手段
に相当し、ステップＳ６を実行する部分が閾値決定手段
に相当し、ステップＳ８を実行する部分が傷判断手段に
相当し、ステップＳ１３を実行する部分が第１異常判断
手段に相当し、ステップＳ１４を実行する部分が第２異
常判断手段に相当する。In the present embodiment, of the series of signal processing by the control device 56, the part for executing step S5 corresponds to the arithmetic means, the part for executing step S6 corresponds to the threshold value determining means, and executes step S8. The part corresponds to the damage determining means, the part performing step S13 corresponds to the first abnormality determining means, and the part performing step S14 corresponds to the second abnormality determining means.

【００３４】以上、本発明の一実施例を図面に基づいて
詳細に説明したが、本発明は他の態様で実施することも
できる。Although the embodiment of the present invention has been described in detail with reference to the drawings, the present invention can be embodied in other forms.

【００３５】例えば、前記実施例では被検査材１２に対
して検査ユニット１６を移動させながら探傷する場合に
ついて説明したが、検査ユニット１６を固定して被検査
材１２を移動させるようにしても良い。被検査材１２を
暗室内に位置固定に配置し、位置固定に配設された多数
の紫外線ランプで表面１８に紫外線を照射した状態でテ
レビカメラ４６を移動させて探傷することもできる。For example, in the above-described embodiment, a case has been described in which flaw detection is performed while moving the inspection unit 16 with respect to the inspection target material 12. However, the inspection unit 16 may be fixed and the inspection target material 12 may be moved. . It is also possible to place the inspection object 12 in a dark room in a fixed position, and detect the flaw by moving the television camera 46 in a state where the surface 18 is irradiated with ultraviolet rays by a number of ultraviolet lamps arranged in a fixed position.

【００３６】また、前記実施例では反射鏡４４を介して
略静止状態で表面１８を撮像するようになっていたが、
台車２８の移動速度が遅い場合などには、反射鏡４４を
用いることなくテレビカメラ４６で直接表面１８を撮像
することもできる。In the above embodiment, the surface 18 is imaged in a substantially stationary state via the reflecting mirror 44.
When the moving speed of the carriage 28 is low, the television camera 46 can directly image the surface 18 without using the reflecting mirror 44.

【００３７】また、前記実施例では方形断面を有する長
尺の被検査材１２を自動探傷する場合について説明した
が、被検査材の断面形状や大きさ等は適宜変更され得
る。表面１８の２面を同時に探傷する場合に限らず、１
面のみを探傷する場合や、３面以上を同時に探傷する場
合であっても良いことは勿論、１面に対して複数の検査
ユニット１６を配設することも可能である。Further, in the above-described embodiment, the case has been described in which the long test piece 12 having a square cross section is automatically flaw-detected. However, the cross-sectional shape and size of the test piece can be changed as appropriate. This is not limited to the case where two surfaces of the surface 18 are simultaneously flaw-detected.
In addition to the case where only one surface is inspected or the case where three or more surfaces are inspected simultaneously, a plurality of inspection units 16 may be provided for one surface.

【００３８】また、前記実施例では画像信号ＳＶの信号
強度Ｉの平均値Ｉavに基づいて傷判断閾値ＴＨを設定す
るとともに、平均値Ｉavに基づいて異常判断を行うよう
になっていたが、何れか一方のみを行うだけでも良い。In the above embodiment, the flaw determination threshold value TH is set based on the average value Iav of the signal intensity I of the image signal SV, and the abnormality is determined based on the average value Iav. Only one or the other may be performed.

【００３９】また、前記実施例では平均値Ｉavの２〜４
倍程度の値を傷判断閾値ＴＨとしていたが、この倍率は
適宜変更され得るとともに、平均値Ｉavに所定値を加算
したり、平均値Ｉavをパラメータとして予め定められた
マップから傷判断閾値ＴＨを算出したりするなど、傷判
断閾値ＴＨの設定の仕方は適宜定められる。In the above embodiment, the average value Iav is 2 to 4
Although the value of about twice was set as the flaw judgment threshold value TH, this magnification may be changed as appropriate, and a predetermined value may be added to the average value Iav, or the flaw judgment threshold value TH may be determined from a predetermined map using the average value Iav as a parameter. A method of setting the scratch determination threshold value TH, such as calculation, is determined as appropriate.

【００４０】また、前記実施例ではステップＳ１３，Ｓ
１４で２種類の異常判断を行うようになっていたが、何
れか一方の異常判断を行うだけでも良い。異常判断を行
う際の判断値、すなわち平均ＴＩavの何％以下とか基準
値Ｉm の設定の仕方は適宜定められる。１ブロック毎の
平均値Ｉavを基準値Ｉm と比較して異常判断を行うこと
もできるなど、平均値Ｉavに基づく異常判断の方法は、
螢光磁粉の付着方法や紫外線の照射方法などに応じて適
宜定めることができる。In the above embodiment, steps S13, S13
Although two types of abnormality determination are performed in step 14, it is also possible to perform only one of the abnormality determinations. The method of setting the determination value for performing the abnormality determination, that is, what percentage or less of the average TIav and the reference value Im is appropriately determined. The abnormality determination method based on the average value Iav, for example, the abnormality determination can be performed by comparing the average value Iav for each block with the reference value Im,
It can be appropriately determined according to the method of attaching the fluorescent magnetic powder or the method of irradiating ultraviolet rays.

【００４１】また、前記実施例では一方の稜線６０に基
づいて探傷エリアＢを設定する場合について説明した
が、例えば図６における上下両側の稜線に光を照射する
などして両側の稜線を検出し、それに基づいて探傷エリ
アＢを設定するようにすることも可能である。In the above embodiment, the case where the flaw detection area B is set on the basis of one of the ridge lines 60 has been described. For example, the upper and lower ridge lines in FIG. It is also possible to set the flaw detection area B based on this.

【００４２】また、前述の実施例では撮像装置としてテ
レビカメラ４６が用いられていたが、入射光量に対応し
た画像信号を出力する他の撮像装置が用いられても良
い。Although the television camera 46 is used as an image pickup device in the above-described embodiment, another image pickup device that outputs an image signal corresponding to the amount of incident light may be used.

【００４３】その他一々例示はしないが、本発明は当業
者の知識に基づいて種々の変更，改良を加えた態様で実
施することができる。Although not specifically exemplified, the present invention can be embodied with various modifications and improvements based on the knowledge of those skilled in the art.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】本発明の一実施例である螢光磁粉式自動探傷装
置の要部構成を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of a main part of a fluorescent magnetic powder type automatic flaw detector according to one embodiment of the present invention.

【図２】図１の自動探傷装置を被検査材の長手方向から
見た断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view of the automatic flaw detector of FIG. 1 as viewed from a longitudinal direction of a material to be inspected.

【図３】図１の自動探傷装置における各種信号の流れを
説明する図である。FIG. 3 is a diagram illustrating the flow of various signals in the automatic flaw detector of FIG. 1;

【図４】図１の自動探傷装置における反射鏡の回動角度
と撮像装置の撮像範囲との関係を説明する図である。FIG. 4 is a diagram illustrating a relationship between a rotation angle of a reflecting mirror and an imaging range of an imaging device in the automatic flaw detector of FIG. 1;

【図５】図１の自動探傷装置の探傷処理に関する作動を
説明するフローチャートである。FIG. 5 is a flowchart illustrating an operation related to a flaw detection process of the automatic flaw detection device of FIG. 1;

【図６】図５のステップＳ３における探傷エリアの設定
方法を説明する図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a method of setting a flaw detection area in step S3 of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１０：螢光磁粉式自動探傷装置 １２：被検査材 １８：表面 ４６：テレビカメラ（撮像装置） ４８：紫外線ランプ（照射手段） ５６：制御装置 ＳＶ：画像信号 ステップＳ５：演算手段 ステップＳ６：閾値決定手段 ステップＳ８：傷判断手段 ステップＳ１３：第１異常判断手段 ステップＳ１４：第２異常判断手段 10: fluorescent powder type automatic flaw detector 12: inspection material 18: surface 46: television camera (imaging device) 48: ultraviolet lamp (irradiation means) 56: control device SV: image signal Step S5: calculation means Step S6: threshold Determination means Step S8: Scratch determination means Step S13: First abnormality determination means Step S14: Second abnormality determination means

フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭54−27491（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/91 Continuation of the front page (56) References JP-A-54-27491 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01N 21/91

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項１】螢光磁粉が付着された被検査材の表面に紫
外線を照射する照射手段と、該表面を撮像して画像信号
を出力する撮像装置と、該画像信号の信号強度を傷判断
閾値と比較して前記表面の傷の有無を判断する傷判断手
段とを有する螢光磁粉式自動探傷装置において、 前記画像信号の信号強度の平均値を求める演算手段と、 該演算手段によって求められた平均値に基づいて探傷条
件の異常を判断する異常判断手段とを有することを特徴
とする螢光磁粉式自動探傷装置。An irradiating means for irradiating an ultraviolet ray to a surface of a material to be inspected to which fluorescent powder is adhered, an imaging device for imaging the surface and outputting an image signal; A fluorescent magnetic powder type automatic flaw detector which has a flaw determining means for determining the presence or absence of a flaw on the surface by comparing with a threshold value; a calculating means for obtaining an average value of signal intensities of the image signals; Abnormality detecting means for judging an abnormality in flaw detection conditions based on the average value obtained. 【請求項２】螢光磁粉が付着された被検査材の表面に紫
外線を照射する照射手段と、該表面を撮像して画像信号
を出力する撮像装置と、該画像信号の信号強度を傷判断
閾値と比較して前記表面の傷の有無を判断する傷判断手
段とを有する螢光磁粉式自動探傷装置において、 前記画像信号の信号強度の平均値を求める演算手段と、 該演算手段によって求められた平均値に基づいて探傷条
件の異常を判断する異常判断手段と、 前記演算手段によって求められた平均値に基づいて前記
傷判断閾値を決定する閾値決定手段とを有することを特
徴とする螢光磁粉式自動探傷装置。2. An irradiating means for irradiating a surface of a material to be inspected with fluorescent magnetic powder with ultraviolet rays, an image pickup device for picking up an image of the surface and outputting an image signal, and judging the signal strength of the image signal for flaws. A fluorescent magnetic powder type automatic flaw detector which has a flaw determining means for determining the presence or absence of a flaw on the surface by comparing with a threshold value; a calculating means for obtaining an average value of signal intensities of the image signals; Abnormality determining means for determining an abnormality in the flaw detection condition based on the average value obtained by the detection, and threshold value determining means for determining the flaw determination threshold value based on the average value obtained by the arithmetic means. Magnetic powder type automatic flaw detector. 【請求項３】表面に螢光磁粉が付着された長尺の被検査
材の長手方向へ相対移動させられ、前記表面を複数のブ
ロックに分割して撮像する撮像装置と、該撮像装置と一
体的に前記被検査材に対して相対移動させられて前記表
面に紫外線を照射する照射手段と、前記撮像装置から１
ブロック毎に出力される画像信号の信号強度を傷判断閾
値と比較して前記表面の傷の有無を判断する傷判断手段
とを有する螢光磁粉式自動探傷装置において、 前記１ブロック毎の画像信号の信号強度の平均値を求め
る演算手段と、 該演算手段によって求められた平均値に基づいて１ブロ
ック毎に前記傷判断閾値を決定する閾値決定手段と、 前記演算手段によって求められた各ブロックの平均値を
相互に比較して探傷条件の異常を判断する第１異常判断
手段と、 前記演算手段によって求められた各ブロックの平均値を
平均して予め設定された基準値と比較することにより探
傷条件の異常を判断する第２異常判断手段とを有するこ
とを特徴とする螢光磁粉式自動探傷装置。3. An image pickup apparatus which is relatively moved in a longitudinal direction of a long test material having fluorescent magnetic powder adhered to a surface thereof, and divides the surface into a plurality of blocks to take an image, and an image pickup apparatus integrated with the image pickup apparatus. Irradiating means for irradiating the surface with ultraviolet light while being relatively moved with respect to the material to be inspected;
A fluorescent magnetic powder type automatic flaw detector having a flaw determining means for determining the presence or absence of the flaw on the surface by comparing the signal intensity of the image signal output for each block with a flaw determination threshold value; Calculating means for calculating an average value of the signal intensities, threshold value determining means for determining the flaw determination threshold for each block based on the average value calculated by the calculating means, First abnormality determining means for comparing the average values with each other to determine an abnormality in the flaw detection condition; and flaw detection by averaging the average value of each block obtained by the arithmetic means and comparing the average value with a preset reference value. A fluorescent magnetic powder type automatic flaw detector which comprises second abnormality determining means for determining an abnormality in the condition.
JP35972592A 1992-12-28 1992-12-28 Fluorescent powder type automatic flaw detector Expired - Fee Related JP3225660B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35972592A JP3225660B2 (en) 1992-12-28 1992-12-28 Fluorescent powder type automatic flaw detector

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35972592A JP3225660B2 (en) 1992-12-28 1992-12-28 Fluorescent powder type automatic flaw detector

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06201613A JPH06201613A (en) 1994-07-22
JP3225660B2 true JP3225660B2 (en) 2001-11-05

Family

ID=18465986

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35972592A Expired - Fee Related JP3225660B2 (en) 1992-12-28 1992-12-28 Fluorescent powder type automatic flaw detector

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3225660B2 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3389692B2 (en) * 1994-09-05 2003-03-24 住友金属工業株式会社 Magnetic particle flaw detection method and apparatus
US6952487B2 (en) * 2001-04-06 2005-10-04 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Detecting the presence of failure(s) in existing man-made structures
JP4818959B2 (en) * 2007-03-14 2011-11-16 富士フイルム株式会社 Tomographic image processing method, apparatus and program
KR101396460B1 (en) * 2014-01-16 2014-05-20 세광테크 주식회사 Apparatus for inpection of ito film pattern and inspection method thereof
WO2021149186A1 (en) * 2020-01-22 2021-07-29 三菱電機株式会社 Predictive maintenance device, predictive maintenance method, and learning device

Also Published As

Publication number Publication date
JPH06201613A (en) 1994-07-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3926055B2 (en) Tire internal inspection method and apparatus
KR100629191B1 (en) Inspection system for edges of glass
JP4158227B2 (en) Inspection method and inspection apparatus for minute unevenness
JP3225660B2 (en) Fluorescent powder type automatic flaw detector
JP4184694B2 (en) Tire X-ray inspection method and apparatus
JPH11271038A (en) Painting defect inspection device
JPH0453255B2 (en)
JP2002365225A (en) Method and apparatus for inspecting sheet material
JP2000018922A (en) Apparatus for thickness defect inspection and its inspection method
JPH11248643A (en) Detection device for foreign matter in transparent film
JPH06201656A (en) Automatic flaw detector of fluorescent magnetic powder type
KR0141196B1 (en) Panel inspection apparatus of cathode ray tube
JP2003121372A (en) Copper plate scratch-inspecting apparatus
KR0183713B1 (en) Apparatus for detecting the fault of crt panel
JPH06207926A (en) Automatic flaw detector of fluorescent magnetic powder type
JPS6312250B2 (en)
JP2007139630A (en) Surface inspection device and method
JPH0477843B2 (en)
JP2955686B2 (en) Surface defect inspection equipment
JP3191397B2 (en) Automatic flaw detector
JPH06198767A (en) Device for painting center line of striplike member
JP2001033223A (en) Lead frame tensing device
JPH10300444A (en) Lead frame inspection device
JP2002090307A (en) Surface defect inspection device and inspected result display method for surface defect inspection device
JPH09101124A (en) Inspection method for hole chamfer amount

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080831

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080831

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090831

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090831

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100831

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100831

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110831

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees