JP3225660B2 - Fluorescent powder type automatic flaw detector - Google Patents
Fluorescent powder type automatic flaw detectorInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、被検査材の表面に付着
した螢光磁粉の模様を撮像して画像処理を行うことによ
り表面傷の有無や傷位置を自動的に検知する螢光磁粉式
自動探傷装置の改良に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a fluorescent magnetic powder which automatically detects the presence or absence of a surface flaw and the position of the flaw by taking an image of a pattern of the fluorescent magnetic powder adhering to the surface of the material to be inspected. The present invention relates to an improvement of an automatic flaw detector.
【0002】[0002]
【従来の技術】鋼材等の被検査材の表面傷を検知する手
段として螢光磁粉探傷法がある。これは、被検査材の表
面に螢光磁粉をシャワー或いはミスト、ドブ漬け等によ
って付着するとともに被検査材を磁化すると、表面傷に
よる漏れ磁束によって磁粉が傷部分に集まり、紫外線を
照射すればその傷部分で強く発光するため、その発光の
状態(磁粉模様)から傷の有無や位置を知るものであ
る。そして、かかる磁粉模様を撮像装置により撮像し、
その画像信号を予め定められた傷判断閾値と比較するこ
とにより、傷の有無や位置を自動的に検知するようにし
た自動探傷装置が知られている。また、鋼材等の長尺の
被検査材に対しては、その被検査材または上記撮像装置
を長手方向へ移動させ、被検査材の表面を複数のブロッ
クに分割して探傷するようになっている。本出願人が先
に出願した特願平4−100425号に記載されている
自動探傷装置はその一例である。2. Description of the Related Art As a means for detecting a surface flaw of a material to be inspected such as a steel material, there is a fluorescent magnetic particle flaw detection method. This is because fluorescent magnetic powder adheres to the surface of the material to be inspected by showering, misting, immersion, etc. and magnetizes the material to be inspected. Since light is strongly emitted at the scratched portion, the presence or absence and position of the scratch are known from the light emission state (magnetic powder pattern). Then, the magnetic powder pattern is imaged by an imaging device,
There is known an automatic flaw detection device that automatically detects the presence or absence and position of a flaw by comparing the image signal with a predetermined flaw determination threshold value. Further, for a long material to be inspected such as a steel material, the material to be inspected or the imaging device is moved in the longitudinal direction, and the surface of the material to be inspected is divided into a plurality of blocks to detect flaws. I have. The automatic flaw detector described in Japanese Patent Application No. 4-100425 filed earlier by the present applicant is one example.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記螢光磁
粉の散布量や濃度がばらついたり経時変化したりする
と、傷部分の発光強度、更には画像信号の信号強度が変
化するため、傷の検出精度が低下する。紫外線の強度が
ランプの劣化などで変化した場合も同様である。このた
め、一定の探傷性能を維持するためには螢光磁粉の散布
量や紫外線強度などを定期的に測定し、それ等を厳しく
管理する必要があった。However, if the amount or concentration of the fluorescent magnetic powder is varied or changes over time, the light emission intensity of the flaw and the signal intensity of the image signal change, so that the flaw detection is not possible. Accuracy decreases. The same applies to the case where the intensity of the ultraviolet light changes due to deterioration of the lamp or the like. For this reason, in order to maintain a certain flaw detection performance, it is necessary to periodically measure the amount of the fluorescent magnetic powder to be scattered and the intensity of ultraviolet rays, and strictly control them.
【0004】また、上記のように磁粉散布量や紫外線強
度などを定期的に検査していても、螢光磁粉を散布する
ノズルの目詰りや紫外線のランプ切れなどによる急な変
化には対応できず、次回の定期検査までそのまま放置さ
れ、重大な表面傷を見逃す可能性があった。磁粉散布量
や紫外線強度などを常時監視する方法もあるが、例えば
長尺の鋼材等に螢光磁粉を散布する多数のノズルを監視
するためには、多数の監視装置が必要で、探傷装置が全
体として大掛かりになるとともにコストが高くなるなど
の問題がある。Even if the amount of magnetic powder sprayed and the intensity of ultraviolet light are regularly inspected as described above, it is possible to cope with sudden changes due to clogging of nozzles for spraying fluorescent magnetic powder or burnout of ultraviolet light. However, it was left untouched until the next periodic inspection, and there was a possibility that a serious surface flaw was missed. There is also a method of constantly monitoring the amount of magnetic powder sprayed and the intensity of ultraviolet rays.However, in order to monitor a large number of nozzles for spraying fluorescent magnetic powder on long steel materials, for example, a large number of monitoring devices are required. There are problems such as a large scale and a high cost as a whole.
【0005】本発明は以上の事情を背景として為された
もので、その第1の目的は、螢光磁粉の散布量や紫外線
強度などが変化しても高い探傷性能を維持できるように
することであり、第2の目的は、磁粉散布量や紫外線強
度などの異常を簡単かつ迅速に検知できるようにするこ
とにある。The present invention has been made in view of the above circumstances, and a first object of the present invention is to maintain high flaw detection performance even when the amount of scattered fluorescent powder or the intensity of ultraviolet light changes. The second object is to make it possible to easily and quickly detect abnormalities such as the amount of magnetic powder sprayed and the intensity of ultraviolet rays.
【0006】[0006]
【課題を解決するための第1の手段】第1発明は、上記
第1の目的を達成するためのもので、(a)螢光磁粉が
付着された被検査材の表面に紫外線を照射する照射手段
と、(b)その表面を撮像して画像信号を出力する撮像
装置と、(c)その画像信号の信号強度を傷判断閾値と
比較して前記表面の傷の有無を判断する傷判断手段とを
有する螢光磁粉式自動探傷装置において、(d)前記画
像信号の信号強度の平均値を求める演算手段と、(e)
その演算手段によって求められた平均値に基づいて前記
傷判断閾値を決定する閾値決定手段とを有することを特
徴とする。According to a first aspect of the present invention, there is provided the first object of the present invention, in which (a) ultraviolet light is applied to the surface of a material to be inspected to which fluorescent magnetic powder is attached. Irradiating means, (b) an imaging device for imaging the surface and outputting an image signal, and (c) flaw judgment for judging the presence or absence of the flaw on the surface by comparing the signal intensity of the image signal with a flaw judgment threshold value Means for obtaining an average value of the signal intensities of the image signals, and (e)
Threshold value determining means for determining the flaw determination threshold value based on the average value obtained by the calculating means.
【0007】[0007]
【第1発明の作用および効果】このような螢光磁粉式自
動探傷装置においては、画像信号の信号強度の平均値が
演算手段によって求められるとともに、その平均値に基
づいて傷判断閾値が閾値決定手段によって決定され、そ
の傷判断閾値と画像信号の信号強度とを比較することに
より表面傷の有無が判断される。このため、螢光磁粉の
散布量や紫外線強度などの変化に起因して被検査材の表
面全体の発光強度、更には画像信号全体の信号強度が変
化した場合には、その画像信号の強度変化に伴って傷判
断閾値も変化し、常に高い精度で傷の有無を判断できる
ようになる。In such a fluorescent magnetic powder type automatic flaw detector, the average value of the signal intensity of the image signal is obtained by the calculating means, and the flaw judgment threshold value is determined based on the average value. The presence / absence of a surface flaw is determined by comparing the flaw determination threshold value with the signal strength of the image signal. For this reason, if the emission intensity of the entire surface of the inspection material and the signal intensity of the entire image signal change due to changes in the amount of the fluorescent magnetic powder to be scattered and the intensity of the ultraviolet light, the intensity change of the image signal As a result, the flaw determination threshold value also changes, and the presence or absence of a flaw can always be determined with high accuracy.
【0008】[0008]
【課題を解決するための第2の手段】第2発明は、前記
第2の目的を達成するためのもので、(a)螢光磁粉が
付着された被検査材の表面に紫外線を照射する照射手段
と、(b)その表面を撮像して画像信号を出力する撮像
装置と、(c)その画像信号の信号強度を傷判断閾値と
比較して前記表面の傷の有無を判断する傷判断手段とを
有する螢光磁粉式自動探傷装置において、(d)前記画
像信号の信号強度の平均値を求める演算手段と、(e)
その演算手段によって求められた平均値に基づいて探傷
条件の異常を判断する異常判断手段とを有することを特
徴とする。この第2発明は、請求項1に記載の発明であ
る。 A second invention for achieving the second object is to irradiate ultraviolet light to a surface of a material to be inspected to which a fluorescent magnetic powder is adhered. Irradiating means, (b) an imaging device for imaging the surface and outputting an image signal, and (c) flaw judgment for judging the presence or absence of the flaw on the surface by comparing the signal intensity of the image signal with a flaw judgment threshold value Means for obtaining an average value of the signal intensities of the image signals, and (e)
Abnormality determining means for determining an abnormality in the flaw detection condition based on the average value obtained by the calculating means. This second invention is the invention described in claim 1.
You.
【0009】[0009]
【第2発明の作用および効果】このような螢光磁粉式自
動探傷装置においては、画像信号の信号強度の平均値が
演算手段によって求められ、その平均値に基づいて、螢
光磁粉の散布量や紫外線強度などの探傷条件の異常が異
常判断手段によって判断される。すなわち、螢光磁粉の
散布量や紫外線強度などが変化すると、それに伴って被
検査材の表面全体の発光強度、更には画像信号全体の信
号強度が変化するため、その信号強度の平均値が例えば
予め定められた基準値より低い場合、或いは前回の探傷
時における信号強度の平均値より極端に低い場合などに
は、螢光磁粉の散布量が通常より少ないとか、紫外線強
度が弱いとかの異常があるものと判断できるのである。In such a fluorescent magnetic powder type automatic flaw detector, the average value of the signal intensity of the image signal is obtained by the calculating means, and based on the average value, the amount of the fluorescent magnetic powder sprayed is determined. Abnormalities in the flaw detection conditions such as the intensity and the intensity of ultraviolet light are determined by the abnormality determining means. That is, when the amount of the fluorescent magnetic powder to be scattered or the intensity of the ultraviolet light changes, the emission intensity of the entire surface of the material to be inspected and the signal intensity of the entire image signal change accordingly. If it is lower than the predetermined reference value or extremely lower than the average value of the signal intensity at the time of the previous flaw detection, etc., abnormalities such as the scattering amount of the fluorescent magnetic powder is smaller than usual or the UV intensity is weak. You can judge that there is.
【0010】このように、第2発明によれば磁粉散布量
や紫外線強度などの異常を、画像信号の信号強度に基づ
いて簡単且つ迅速に検知できるため、かかる異常に起因
する表面傷の見過ごし等を良好に防止でき、信頼性が向
上する。また、大掛かりな監視設備を必要としないた
め、探傷装置が全体としてコンパクトに且つ安価に構成
されるとともに、定期点検などの作業者の負担が軽減さ
れる。As described above, according to the second aspect of the present invention, abnormalities such as the amount of scattered magnetic powder and the intensity of ultraviolet rays can be easily and quickly detected based on the signal intensity of the image signal. Can be satisfactorily prevented, and the reliability is improved. In addition, since large-scale monitoring equipment is not required, the flaw detection device is configured to be compact and inexpensive as a whole, and the burden on the operator for periodic inspections and the like is reduced.
【0011】[0011]
【課題を解決するための第3の手段】第3発明は、前記
第1および第2の目的を達成するためのもので、(a)
螢光磁粉が付着された被検査材の表面に紫外線を照射す
る照射手段と、(b)その表面を撮像して画像信号を出
力する撮像装置と、(c)その画像信号の信号強度を傷
判断閾値と比較して前記表面の傷の有無を判断する傷判
断手段とを有する螢光磁粉式自動探傷装置において、
(d)前記画像信号の信号強度の平均値を求める演算手
段と、(e)その演算手段によって求められた平均値に
基づいて探傷条件の異常を判断する異常判断手段と、
(f)前記演算手段によって求められた平均値に基づい
て前記傷判断閾値を決定する閾値決定手段とを有するこ
とを特徴とする。この第3発明は、請求項2に記載の発
明である。 A third aspect of the present invention is to achieve the first and second objects, wherein (a)
An irradiating means for irradiating the surface of the material to be inspected with the fluorescent magnetic powder with ultraviolet light, (b) an image pickup device for picking up an image of the surface and outputting an image signal, and (c) damaging the signal strength of the image signal. In a fluorescent powder type automatic flaw detector having a flaw determining means for determining the presence or absence of the flaw on the surface in comparison with a determination threshold,
(D) calculating means for calculating an average value of the signal intensity of the image signal; and (e) abnormality determining means for determining an abnormality of the flaw detection condition based on the average value obtained by the calculating means.
(F) threshold value determining means for determining the flaw determination threshold value based on the average value obtained by the calculating means. The third aspect of the present invention is the third aspect of the present invention.
It is clear.
【0012】[0012]
【第3発明の作用および効果】すなわち、この第3発明
は前記第1発明および第2発明を組み合わせたもので、
画像信号の信号強度の平均値に基づいて傷判断閾値を決
定するとともに探傷条件の異常を判断するようにしたの
であり、螢光磁粉の散布量や紫外線強度などの探傷条件
の異常に拘らず常に高い精度で探傷できるとともに、そ
の探傷条件の異常を簡単且つ迅速に検知できるようにな
り、装置の信頼性が大幅に向上する。[Operation and effect of the third invention] That is, this third invention is a combination of the first invention and the second invention.
The flaw detection threshold is determined based on the average value of the signal strength of the image signal, and the flaw detection conditions are judged to be abnormal. Flaw detection can be performed with high accuracy, and abnormalities in the flaw detection conditions can be detected easily and quickly, thereby greatly improving the reliability of the apparatus.
【0013】[0013]
【課題を解決するための第4の手段】第4発明は、前記
第1および第2の目的を達成するためのもので、(a)
表面に螢光磁粉が付着された長尺の被検査材の長手方向
へ相対移動させられ、前記表面を複数のブロックに分割
して撮像する撮像装置と、(b)その撮像装置と一体的
に前記被検査材に対して相対移動させられて前記表面に
紫外線を照射する照射手段と、(c)前記撮像装置から
1ブロック毎に出力される画像信号の信号強度を傷判断
閾値と比較して前記表面の傷の有無を判断する傷判断手
段とを有する螢光磁粉式自動探傷装置において、(d)
前記1ブロック毎の画像信号の信号強度の平均値を求め
る演算手段と、(e)その演算手段によって求められた
平均値に基づいて1ブロック毎に前記傷判断閾値を決定
する閾値決定手段と、(f)前記演算手段によって求め
られた各ブロックの平均値を相互に比較して探傷条件の
異常を判断する第1異常判断手段と、(g)前記演算手
段によって求められた各ブロックの平均値を平均して予
め設定された基準値と比較することにより探傷条件の異
常を判断する第2異常判断手段とを有することを特徴と
する。この第4発明は、請求項3に記載の発明である。 A fourth aspect of the present invention is to achieve the first and second objects, wherein (a)
An image pickup device which is relatively moved in the longitudinal direction of a long inspection material having fluorescent magnetic powder adhered to its surface, and divides the surface into a plurality of blocks and picks up an image; (b) an image pickup device integrated with the image pickup device (C) comparing the signal intensity of an image signal output for each block from the image pickup device with a flaw determination threshold, and A fluorescent magnetic powder type automatic flaw detector having a flaw determining means for determining the presence or absence of flaws on the surface;
Calculating means for calculating an average value of the signal intensity of the image signal for each block; and (e) threshold value determining means for determining the flaw determination threshold value for each block based on the average value obtained by the calculating means; (F) first abnormality determining means for comparing the average values of the respective blocks obtained by the arithmetic means with each other to determine an abnormality in the flaw detection conditions; and (g) average value of each block obtained by the arithmetic means. And a second abnormality judging means for judging an abnormality of the flaw detection condition by averaging and comparing the average value with a preset reference value. This fourth invention is the invention according to claim 3.
【0014】[0014]
【第4発明の作用および効果】この第4発明は、長尺の
被検査材の長手方向へその被検査材と撮像装置とを相対
移動させ、被検査材の表面を複数のブロックに分割して
探傷するもので、各ブロック毎に画像信号の信号強度の
平均値を求めて傷判断閾値を決定し、その傷判断閾値に
基づいて傷の有無を判断する。したがって、例えば螢光
磁粉の散布量や濃度にむらが有る場合など、1本の被検
査材の中で探傷条件が異なる場合でも、常に高い精度で
探傷を行うことができる。According to the fourth aspect of the present invention, the inspection object and the imaging device are relatively moved in the longitudinal direction of the long inspection object, and the surface of the inspection object is divided into a plurality of blocks. The flaw detection threshold is determined by calculating the average value of the signal intensity of the image signal for each block, and the presence or absence of a flaw is determined based on the flaw determination threshold. Therefore, flaw detection can always be performed with high accuracy even when flaw detection conditions are different in a single material to be inspected, for example, when the amount and concentration of the fluorescent magnetic powder are uneven.
【0015】また、上記各ブロックにおける信号強度の
平均値を相互に比較して探傷条件の異常を判断している
ため、例えば多数のノズルを用いて螢光磁粉を散布して
いる場合には、かかる異常判断により目詰り等の異常を
有するノズルを特定することができるなど、磁粉付着装
置や紫外線照射手段の異常を極め細かく検知することが
できる。各ブロックにおける信号強度の平均値を平均
し、予め設定された基準値と比較することによっても探
傷条件の異常を判断しているため、紫外線ランプの劣化
など探傷条件の長期的な変化にも対応でき、探傷条件の
異常を確実に判断することが可能で、高い信頼性が得ら
れる。In addition, since the average value of the signal intensity in each block is compared with each other to determine the abnormality of the flaw detection condition, for example, when the fluorescent magnetic powder is sprayed using a large number of nozzles, The abnormality determination makes it possible to identify a nozzle having an abnormality such as clogging or the like, thereby making it possible to detect an abnormality of the magnetic powder deposition device or the ultraviolet irradiation means very finely. The average value of the signal intensity in each block is averaged and compared with a preset reference value to judge whether the flaw detection condition is abnormal. As a result, it is possible to reliably determine an abnormality in flaw detection conditions, and high reliability is obtained.
【0016】[0016]
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳
細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
【0017】図1は、本発明の一実施例である螢光磁粉
式自動探傷装置(以下、単に探傷装置という)10の斜
視図で、図2はその断面図、図3は制御系統を説明する
図である。これ等の図において、強磁性体製の鋼材であ
る被検査材12は、方形断面を有して長尺状を成してお
り、複数の検査台14により長手方向の稜線が上下左右
に位置する略水平な姿勢で位置固定に支持されている。
そして、その被検査材12の長手方向に移動させられる
一対の検査ユニット16によって、外周の表面18(上
側の2面)に存在する傷が検出されるようになってい
る。磁粉探傷法は、表面若しくは表面近傍の傷(欠陥)
を迂回して流れる漏洩磁束により、強磁性体の粉である
磁粉をその傷部分に集中的に吸着させて、その磁粉模様
から傷の有無や位置を調べる方法であり、上記被検査材
12は、予め磁場に晒されて磁化されているとともに、
その表面18には多数のノズルによる散布やドブ漬けな
どにより螢光磁粉が付着されている。FIG. 1 is a perspective view of a fluorescent powder type automatic flaw detector (hereinafter simply referred to as a flaw detector) 10 according to one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view thereof, and FIG. FIG. In these figures, the material to be inspected 12, which is a ferromagnetic steel material, has an elongated shape with a rectangular cross section, and a plurality of inspection tables 14 position longitudinal ridges vertically and horizontally. It is supported in a fixed position in a substantially horizontal posture.
The pair of inspection units 16 that are moved in the longitudinal direction of the inspection target material 12 detect flaws present on the outer peripheral surface 18 (upper two surfaces). The magnetic particle flaw detection method uses scratches (defects) on or near the surface.
This is a method in which magnetic powder, which is a ferromagnetic powder, is intensively adsorbed to the flaw portion by leakage magnetic flux flowing around, and the presence / absence and position of the flaw are checked from the magnetic powder pattern. , Which have been magnetized by being exposed to a magnetic field in advance,
Fluorescent magnetic powder is adhered to the surface 18 by spraying with a number of nozzles or immersing in a dough.
【0018】被検査材12の上方には、その被検査材1
2の長手方向と平行に一対のガイドレール24および2
6が配設されており、前記検査ユニット16は、この一
対のガイドレール24および26に支持されて走行する
台車28に配設されることにより、被検査材12の全長
に亘って探傷できるようになっている。この台車28に
は、制御装置56から供給される駆動信号SD1によっ
て正逆両方向へ回転駆動されるサーボモータ30が配設
されており、このサーボモータ30の駆動力がタイミン
グベルト32を介して駆動輪34および36に伝達され
ることにより、台車28はガイドレール24,26上を
所定の移動速度Vで走行させられる。サーボモータ30
にはエンコーダ38が設けられており、台車28の移動
速度Vに対応する回転角度信号SA1が制御装置56に
供給される。一方のガイドレール24にはその上面に噛
合歯40が形成されているとともに、そのガイドレール
24上を転動する一方の駆動輪34の外周には、上記噛
合歯40と噛み合う噛合歯42が設けられており、それ
らの噛合歯40および42の噛合いによって、台車28
は駆動輪34の回転角度に正確に対応してガイドレール
24上を移動する。Above the material to be inspected 12, the material to be inspected 1
2 and a pair of guide rails 24 and 2
The inspection unit 16 is disposed on a carriage 28 that runs while being supported by the pair of guide rails 24 and 26 so that the inspection unit 16 can detect flaws over the entire length of the inspection target material 12. It has become. The bogie 28 is provided with a servomotor 30 that is driven to rotate in both forward and reverse directions by a drive signal SD1 supplied from a controller 56, and the driving force of the servomotor 30 is driven via a timing belt 32. By being transmitted to the wheels 34 and 36, the carriage 28 is caused to travel on the guide rails 24 and 26 at a predetermined moving speed V. Servo motor 30
Is provided with an encoder 38, and a rotation angle signal SA1 corresponding to the moving speed V of the carriage 28 is supplied to the control device 56. A meshing tooth 40 is formed on the upper surface of one guide rail 24, and a meshing tooth 42 meshing with the meshing tooth 40 is provided on the outer periphery of one drive wheel 34 that rolls on the guide rail 24. The engagement of the engagement teeth 40 and 42 causes the carriage 28
Moves on the guide rails 24 exactly corresponding to the rotation angle of the drive wheels 34.
【0019】上記台車28は矩形の箱形状を成してお
り、一対の検査ユニット16は、その台車28内におい
て予め定められた所定の位置関係に配置された反射鏡4
4、テレビカメラ46、紫外線ランプ48等をそれぞれ
備えて構成されている。一対の検査ユニット16は被検
査材12の表面18のうち斜め上方を向いた2面を同時
に探傷するようになっており、それぞれの反射鏡44、
テレビカメラ46、紫外線ランプ48等は、被検査材1
2の軸心を通る鉛直な平面に対して対称的に配置されて
いる。反射鏡44はサーボモータ50の出力軸に取り付
けられて、その出力軸の軸心Oを含む平面内に形成され
た鏡面52が軸心Oまわりに回動させられるようになっ
ており、サーボモータ50は、上記軸心Oが被検査材1
2の長手方向すなわち台車28の移動方向と直角で且つ
被検査材12の表面18と平行となる姿勢で台車28に
固定されている。また、テレビカメラ46は、その撮像
レンズの光軸が台車28の移動方向と平行で上記軸心O
と直交するように取り付けられており、被検査材12の
表面18からの光が反射鏡44を介して入射させられる
ことにより、表面18の螢光磁粉の模様を撮像するよう
になっている。このテレビカメラ46は撮像装置に相当
し、入射光量に対応して強度変化する画像信号SVを前
記制御装置56へ出力する。The cart 28 has a rectangular box shape, and the pair of inspection units 16 includes the reflecting mirrors 4 arranged in a predetermined positional relationship in the cart 28.
4, a television camera 46, an ultraviolet lamp 48, and the like. The pair of inspection units 16 are configured to simultaneously detect flaws on two obliquely upward surfaces of the surface 18 of the inspection object 12.
The television camera 46, the ultraviolet lamp 48, etc.
They are arranged symmetrically with respect to a vertical plane passing through two axes. The reflecting mirror 44 is attached to the output shaft of the servomotor 50, and a mirror surface 52 formed in a plane including the axis O of the output shaft is rotated about the axis O. 50 indicates that the axis O is the material 1 to be inspected.
2 is fixed to the carriage 28 in a posture perpendicular to the moving direction of the carriage 28 and parallel to the surface 18 of the inspection object 12. In the television camera 46, the optical axis of the imaging lens is parallel to the moving direction of the carriage 28 and the axis O
The light from the surface 18 of the material 12 to be inspected is made incident through the reflecting mirror 44 so as to image the pattern of the fluorescent magnetic powder on the surface 18. The television camera 46 corresponds to an imaging device, and outputs an image signal SV whose intensity changes in accordance with the amount of incident light to the control device 56.
【0020】上記反射鏡44は、図4に示すように、台
車28の移動に拘らずテレビカメラ46による表面18
の撮像範囲が所定時間一定に維持されるようにするため
のもので、予め定められた所定の角度範囲を台車28の
移動速度Vに同期して回動させられる。サーボモータ5
0は、台車28の移動速度Vに基づいて前記制御装置5
6から供給される駆動信号SD2に従って作動させられ
るとともに、その回動角度を表す回動角度信号SA2が
エンコーダ54から制御装置56に供給される。この反
射鏡44の回動は、移動速度Vに基づいて定められる所
定のタイミングで繰り返し行われ、これにより、表面1
8が複数のブロックに分割されて順次撮像される。図4
の斜線は、テレビカメラ46による撮像範囲を表してお
り、図4の(a)〜(c)はブロックnを台車28の移
動に拘らず略静止状態で撮像している。図4の(d)
は、(a)の回動位置まで反射鏡44が戻り回動させら
れ、これによりテレビカメラ46の撮像範囲は次のブロ
ックn+1へ移動する。なお、かかるテレビカメラ46
は、被検査材12の幅方向すなわち図4の上下方向へ水
平走査するとともに、長手方向へ垂直走査するようにな
っている。As shown in FIG. 4, the reflecting mirror 44 is provided on the surface 18 of the television camera 46 regardless of the movement of the carriage 28.
Is kept constant for a predetermined time, and is rotated in a predetermined angle range in synchronization with the moving speed V of the carriage 28. Servo motor 5
0 is based on the moving speed V of the carriage 28,
6 is operated in accordance with the drive signal SD2 supplied from the controller 6, and a rotation angle signal SA2 indicating the rotation angle is supplied from the encoder 54 to the controller 56. The rotation of the reflecting mirror 44 is repeatedly performed at a predetermined timing determined based on the moving speed V.
8 is divided into a plurality of blocks and sequentially imaged. FIG.
4 indicate the imaging range of the television camera 46. In FIGS. 4A to 4C, the block n is imaged in a substantially stationary state regardless of the movement of the cart 28. FIG. 4D
The reflection mirror 44 is rotated back to the rotation position (a), whereby the imaging range of the television camera 46 moves to the next block n + 1. Note that such a television camera 46
Are designed to scan horizontally in the width direction of the material to be inspected 12, that is, in the vertical direction in FIG. 4, and scan vertically in the longitudinal direction.
【0021】前記紫外線ランプ48は照射手段に相当す
るもので、上記反射鏡44の回動に伴って台車28に対
して相対的に変化するテレビカメラ46の撮像範囲の全
てに紫外線を照射できるように、所定の照射範囲を有し
て台車28に取り付けられている。また、被検査材12
の長手方向に延びる4本の稜線のうち左右に位置する一
対の稜線58および60の下方には、一対のエッジ照射
ランプ62が台車28の移動方向において前記反射鏡4
4と略同じ位置に配設されており、稜線58および60
にそれぞれ可視光を照射することにより、撮像画像にお
ける稜線58および60のエッジを明確にする。そのほ
か、被検査材12を挟んで両側に位置して一対の投光器
64および受光器66が配設されている。これらの投光
器64および受光器66は光電スイッチとして機能する
もので、投光器64から受光器66に向かって発せられ
た光が遮られていない初期位置から、台車28が移動を
開始したあと被検査材12の探傷開始側の端末68を通
過することによってその光が遮られることを検出し、こ
の検出信号SPに基づいて被検査材12の探傷開始時点
を制御装置56が判断できるようになっている。The ultraviolet lamp 48 is equivalent to an irradiating means, and can irradiate ultraviolet rays to the entire imaging range of the television camera 46 which changes relatively to the carriage 28 with the rotation of the reflecting mirror 44. And is attached to the carriage 28 with a predetermined irradiation range. The material to be inspected 12
Below the pair of ridge lines 58 and 60 located on the left and right of the four ridge lines extending in the longitudinal direction, a pair of edge irradiation lamps 62
4 are provided at substantially the same positions as the ridge lines 58 and 60.
Is irradiated with visible light to clarify the edges of the ridgelines 58 and 60 in the captured image. In addition, a pair of light emitters 64 and light receivers 66 are disposed on both sides of the inspection target material 12. The light emitter 64 and the light receiver 66 function as a photoelectric switch, and after the carriage 28 starts moving from the initial position where the light emitted from the light emitter 64 toward the light receiver 66 is not blocked, the material to be inspected is started. 12 detects that the light is interrupted by passing through the terminal 68 on the flaw detection start side, and the control device 56 can determine the flaw detection start time of the inspection material 12 based on the detection signal SP. .
【0022】制御装置56は、CPU、ROM、RAM
等を有するマイクロコンピュータを備えて構成されてお
り、予めROMに記憶されたプログラムに従ってRAM
の一時記憶機能を利用しつつ演算処理を行い、前記駆動
信号SD1,SD2を出力することにより、台車28を
移動させるとともにその台車28の移動に同期して反射
鏡44を回動させる。また、テレビカメラ46から供給
される画像信号SVに基づいて、表面18の傷マップを
作成する。以下、図5のフローチャートを参照しつつ、
画像信号SVの信号処理を具体的に説明する。The control unit 56 includes a CPU, a ROM, and a RAM.
And the like, and a RAM according to a program stored in a ROM in advance.
By performing arithmetic processing using the temporary storage function described above, and outputting the drive signals SD1 and SD2, the carriage 28 is moved and the reflecting mirror 44 is rotated in synchronization with the movement of the carriage 28. Further, a flaw map of the surface 18 is created based on the image signal SV supplied from the television camera 46. Hereinafter, referring to the flowchart of FIG.
The signal processing of the image signal SV will be specifically described.
【0023】先ず、ステップS1では、反射鏡44の回
動角度に基づいて画像信号SVの取込みタイミングか否
かを判断し、YESになるとステップS2で画像信号S
Vを取り込む。この画像信号SVを取り込むタイミング
は、反射鏡44の回動により表面18を略静止状態で撮
像している時間に定められ、例えば前記図4の(a)〜
(c)の時間である。次のステップS3では、取り込ん
だ画像信号SVが表す撮像画像の中から、探傷すべき表
面18のみから成る探傷エリアを設定する。例えば、図
6の一点鎖線Aは、前記図2の右側の検査ユニット16
のテレビカメラ46の撮像範囲、すなわち画像信号SV
が表す撮像画像の範囲で、斜線で示す範囲Bは探傷エリ
アであるが、この探傷エリアBのうち被検査材12の長
手方向の範囲B1 は撮像画像Aに対して予め定められて
いる。また、被検査材12の長手方向と直角な幅方向の
範囲B2 は、その幅方向における画像信号SVの信号強
度変化に基づいて稜線60を判別し、設定器等により予
め設定された表面18の幅寸法に応じて定められる。稜
線60にはエッジ照射ランプ62によって可視光が照射
されており、画像信号SVの信号強度Iは稜線60の部
分で急激に変化しているため、稜線60は高い精度で判
別される。以下の各ステップでは、上記探傷エリアBの
範囲内の画像信号SVのみが信号処理される。First, in step S1, it is determined whether or not it is time to take in the image signal SV based on the rotation angle of the reflecting mirror 44, and if YES, the image signal S in step S2 is determined.
Take in V. The timing of capturing the image signal SV is determined by the time during which the surface 18 is imaged in a substantially stationary state by the rotation of the reflecting mirror 44. For example, the timing shown in FIG.
This is the time of (c). In the next step S3, a flaw detection area consisting of only the surface 18 to be flaw-detected is set from the captured image represented by the captured image signal SV. For example, an alternate long and short dash line A in FIG.
Imaging range of the television camera 46, that is, the image signal SV
In the range of the captured image represented by, a range B indicated by oblique lines is a flaw detection area, and a range B 1 in the longitudinal direction of the inspection object 12 in the flaw detection area B is predetermined for the captured image A. The range B 2 in the width direction perpendicular to the longitudinal direction of the inspection target material 12 determines the ridgeline 60 based on a change in the signal intensity of the image signal SV in the width direction, and the surface 18 preset by a setting device or the like. Is determined according to the width dimension of. The ridge line 60 is irradiated with visible light by the edge irradiation lamp 62, and the signal intensity I of the image signal SV changes abruptly at the ridge line 60, so that the ridge line 60 is determined with high accuracy. In the following steps, only the image signal SV within the range of the flaw detection area B is subjected to signal processing.
【0024】ステップS4では、被検査材12の長手方
向すなわち図6の左右方向に関して画像信号SVを平滑
化し、ノイズを除去する。被検査材12は長手方向に圧
延されたもので、表面傷は通常長手方向に長く、上記の
ように長手方向に平滑化が行われても実際の傷に起因す
る信号は殆ど影響を受けない。ステップS5では、上記
探傷エリアB内の画像信号SVの信号強度Iの平均値I
avを算出し、ステップS6では、その平均値Iavに基づ
いて例えばその2〜4倍程度の値を傷判断閾値THに設
定する。In step S4, the image signal SV is smoothed in the longitudinal direction of the material to be inspected 12, that is, in the horizontal direction in FIG. 6, and noise is removed. The material to be inspected 12 is rolled in the longitudinal direction, the surface flaw is usually long in the longitudinal direction, and even if the smoothing is performed in the longitudinal direction as described above, the signal due to the actual flaw is hardly affected. . In step S5, the average value I of the signal intensity I of the image signal SV in the flaw detection area B is determined.
av is calculated, and in step S6, for example, a value about 2 to 4 times the average value Iav is set as the flaw determination threshold TH.
【0025】ステップS7では、被検査材12の幅方向
すなわち図6の上下方向に関して微分処理(差分処理)
を行い、画像信号SVの信号強度Iの変化を急峻にして
画像を鮮鋭化する。次のステップS8では、その信号強
度Iと前記傷判断閾値THとを比較してI>THの部分
を傷候補として抽出し、ステップS9において、その傷
候補の繋がりパターンによりノイズと考えられるものを
除去する。これは、例えば傷候補が被検査材12の長手
方向に連続していない場合はノイズと判断して除去する
もので、次のステップS10では、ノイズとして除去さ
れた後の傷候補を最終的な傷と判断して、その傷位置を
記憶する。In step S7, the differential processing (difference processing) is performed in the width direction of the material to be inspected 12, that is, in the vertical direction in FIG.
To sharpen the change in the signal intensity I of the image signal SV to sharpen the image. In the next step S8, the signal intensity I is compared with the flaw determination threshold TH to extract a portion where I> TH as a flaw candidate. In step S9, a part considered as noise due to the connection pattern of the flaw candidates is determined. Remove. This is, for example, if the flaw candidates are not continuous in the longitudinal direction of the inspected material 12, it is determined to be noise and removed, and in the next step S10, the flaw candidates after being removed as noise are finally determined. It is determined as a wound and the position of the wound is stored.
【0026】以上の各ステップにより、複数に分割され
た表面18の一つのブロックに対する探傷処理は終了す
る。これ等の各ステップは、図4の(c)から(d)の
状態へ反射鏡44が戻り回動させられ、次のブロックの
画像信号SVの取込みを開始するまでの間に行われる。
そして、次のステップS11では、被検査材12の一つ
の表面18に対する探傷が全て終了したか否かを、例え
ば前記受光器66の検出信号SP等に基づいて判断し、
探傷が終了するまでステップS1以下を繰り返し実行す
る。これにより、表面18に対する探傷処理が、図4の
各ブロック毎に行われる。なお、総てのブロックの画像
信号SVを取り込んだ後に、各ブロック毎にステップS
3以下の探傷処理を実行するようにしても良い。With the above steps, the flaw detection processing for one block of the surface 18 divided into a plurality of parts is completed. These steps are performed until the reflecting mirror 44 is rotated back from the state shown in FIG. 4 (c) to the state shown in FIG. 4 (d) to start taking the image signal SV of the next block.
Then, in the next step S11, it is determined whether or not all the flaw detections on one surface 18 of the inspection object 12 have been completed based on, for example, the detection signal SP of the light receiver 66, and the like.
Step S1 and the subsequent steps are repeatedly executed until the flaw detection ends. Thereby, the flaw detection processing for the surface 18 is performed for each block in FIG. After the image signals SV of all the blocks are fetched, step S is performed for each block.
Three or less flaw detection processes may be executed.
【0027】一つの表面18に対する探傷が総て終了
し、ステップS11の判断がYESになると、ステップ
S12において、各ブロックの探傷エリアBを繋ぎ合わ
せて表面18全域の傷位置を表す傷マップを作成する。
各ブロックの探傷エリアBは、被検査材12の長手方向
において互いにオーバーラップするように予め設定され
ている。When all of the flaw detection for one surface 18 is completed and the determination in step S11 is YES, in step S12, the flaw detection area B of each block is connected to create a flaw map indicating the flaw position of the entire surface 18. I do.
The flaw detection areas B of each block are set in advance so as to overlap with each other in the longitudinal direction of the inspection material 12.
【0028】次のステップS13では、各ブロックの探
傷処理においてそれぞれ前記ステップS5で算出された
平均値Iavを相互に比較し、探傷条件の異常判断を行
う。具体的には、例えば各ブロックの平均値Iavを平均
してTIavを求め、平均値IavがTIavの例えば50〜
90%程度の範囲で定められた所定値以下のブロックで
は、探傷条件に何等かの異常が存在するものと判断す
る。この実施例では、紫外線ランプ48は台車28に取
り付けられているため、各ブロックにおける紫外線の照
射条件は略同じであると考えられ、螢光磁粉に分布むら
があると考えられる。例えば、被検査材12を位置固定
に配置し、同じく位置固定に配設された多数のノズルで
螢光磁粉を散布する場合には、平均値Iavが低い部分の
ブロックのノズルに目詰り等の異常が存在するものと考
えられるのであり、そのブロックを表す異常ランプの点
灯等により作業者に異常を知らせる。平均値IavとTI
avとの差が比較的小さい場合など、必要に応じて同じブ
ロックの異常が所定回数だけ継続した場合に異常表示を
行うようにしても良い。In the next step S13, in the flaw detection processing of each block, the average value Iav calculated in the step S5 is compared with each other to judge whether the flaw detection conditions are abnormal. Specifically, for example, the average value Iav of each block is averaged to obtain TIav, and the average value Iav is, for example, 50 to 50% of TIav.
In a block that is equal to or less than a predetermined value defined in a range of about 90%, it is determined that some abnormality exists in the flaw detection conditions. In this embodiment, since the ultraviolet lamp 48 is mounted on the carriage 28, the irradiation conditions of the ultraviolet light in each block are considered to be substantially the same, and it is considered that the fluorescent magnetic powder has uneven distribution. For example, when the inspection target material 12 is arranged at a fixed position, and when the fluorescent magnetic powder is sprayed with a large number of nozzles also arranged at the fixed position, the nozzles of the block having a low average value Iav may be clogged. It is considered that there is an abnormality, and the operator is notified of the abnormality by lighting an abnormality lamp or the like representing the block. Average Iav and TI
If necessary, the abnormality display may be performed when the abnormality of the same block continues a predetermined number of times, such as when the difference from av is relatively small.
【0029】また、次のステップS14では、上記各ブ
ロックの平均値Iavの平均TIavが予め定められた基準
値Im より小さいか否かにより、探傷条件の異常判断を
行い、異常ランプの点灯等により作業者に異常を知らせ
る。基準値Im は、螢光磁粉が正常に付着され且つ紫外
線ランプ48が正しく紫外線を照射している場合の平均
的な信号強度Iの例えば50〜90%程度の値で、定期
点検の際などに設定され、これにより紫外線ランプ48
の劣化に伴う経時的な紫外線強度の低下や、螢光磁粉の
経時的な濃度低下などの異常を判断できる。この場合に
も、必要に応じて異常状態が所定回数だけ継続した場合
に異常表示を行うようにしても良い。In the next step S14, it is determined whether or not the average TIav of the average value Iav of each block is smaller than a predetermined reference value Im. Notify the worker of the abnormality. The reference value Im is a value of, for example, about 50 to 90% of the average signal intensity I when the fluorescent magnetic powder is normally attached and the ultraviolet lamp 48 irradiates ultraviolet rays correctly. Is set, and the
It is possible to determine abnormalities such as a decrease in ultraviolet intensity over time due to deterioration of the magnetic powder and a decrease in concentration of fluorescent magnetic powder over time. Also in this case, if necessary, an abnormal state may be displayed when the abnormal state continues a predetermined number of times.
【0030】ここで、かかる本実施例の探傷装置10
は、ステップS5で画像信号SVの信号強度Iの平均値
Iavを算出した後、ステップS6でその平均値Iavに基
づいて傷判断閾値THを求め、ステップS8ではその傷
判断閾値THと信号強度Iとを比較して傷判断を行うよ
うになっているため、螢光磁粉の散布量や濃度、紫外線
強度などの変化に起因して被検査材12からの光強度が
変化し、更に画像信号SVの信号強度Iが変化しても、
その画像信号SVの強度変化に応じて傷判断閾値THが
変化することにより、常に高い精度で傷の有無を判断で
きるようになる。Here, the flaw detector 10 of the present embodiment is described.
Calculates the average value Iav of the signal intensity I of the image signal SV in step S5, calculates the flaw judgment threshold value TH based on the average value Iav in step S6, and calculates the flaw judgment threshold value TH and the signal intensity I in step S8. The light intensity from the material to be inspected 12 changes due to changes in the amount and concentration of the fluorescent magnetic powder, the intensity of ultraviolet light, and the like. Even if the signal strength I of
By changing the flaw determination threshold value TH in accordance with the change in the intensity of the image signal SV, the presence or absence of a flaw can always be determined with high accuracy.
【0031】また、本実施例では長尺の被検査材12の
表面18を複数のブロックに分けて探傷するとともに、
各ブロック毎に画像信号SVの信号強度Iの平均値Iav
を求めて傷判断閾値THを決定し、その傷判断閾値TH
に基づいて傷の有無を判断するようになっているため、
例えば螢光磁粉の散布量や濃度にむらが有る場合など、
1本の被検査材12の一つの表面18の中で探傷条件が
異なる場合でも、常に高い精度で探傷を行うことができ
る。In this embodiment, the surface 18 of the long test piece 12 is divided into a plurality of blocks for flaw detection.
Average value Iav of signal intensity I of image signal SV for each block
Is determined to determine the flaw judgment threshold value TH, and the flaw judgment threshold value TH is determined.
Is used to determine the presence or absence of a scratch,
For example, when the amount and concentration of fluorescent magnetic powder is uneven,
Even when flaw detection conditions are different in one surface 18 of one inspection material 12, flaw detection can always be performed with high accuracy.
【0032】一方、ステップS13では、各ブロックに
おける信号強度Iの平均値Iavを相互に比較して探傷条
件の異常判断を行い、ブロック毎におけるノズル目詰り
等の異常を検出するようになっているとともに、ステッ
プS14では、その平均値Iavの平均TIavと予め定め
られた基準値Im とを比較して、紫外線ランプ48の劣
化に伴う経時的な紫外線強度の低下や、螢光磁粉の経時
的な濃度低下などの異常を検出するようになっているた
め、そのような探傷条件の異常を迅速且つ確実に知るこ
とができ、探傷条件の変動に拘らず常に高い精度で探傷
できることと相俟って装置の信頼性が大幅に向上する。
また、そのような紫外線強度や磁粉散布状態等を直接検
知して監視する大掛かりな監視設備が必ずしも必要でな
くなるため、磁粉付着装置等を含めた探傷装置10が全
体としてコンパクトに且つ安価に構成されるとともに、
定期点検などの作業者の負担が軽減される。On the other hand, in step S13, the average value Iav of the signal intensities I in each block is compared with each other to determine the abnormality of the flaw detection condition, and to detect abnormality such as nozzle clogging in each block. At the same time, in step S14, the average TIav of the average value Iav is compared with a predetermined reference value Im so that the ultraviolet intensity decreases with time due to the deterioration of the ultraviolet lamp 48, and the time of the fluorescent magnetic powder decreases. Abnormalities such as a decrease in concentration are detected, so that such abnormalities in flaw detection conditions can be quickly and reliably known, and in combination with the fact that flaw detection can always be performed with high accuracy regardless of fluctuations in flaw detection conditions. The reliability of the device is greatly improved.
In addition, since large-scale monitoring equipment for directly detecting and monitoring such ultraviolet light intensity and the state of scattering of magnetic particles is not necessarily required, the flaw detection apparatus 10 including the magnetic particle attaching apparatus and the like is configured to be compact and inexpensive as a whole. Along with
The burden on workers during periodic inspections is reduced.
【0033】本実施例では、制御装置56による一連の
信号処理のうちステップS5を実行する部分が演算手段
に相当し、ステップS6を実行する部分が閾値決定手段
に相当し、ステップS8を実行する部分が傷判断手段に
相当し、ステップS13を実行する部分が第1異常判断
手段に相当し、ステップS14を実行する部分が第2異
常判断手段に相当する。In the present embodiment, of the series of signal processing by the control device 56, the part for executing step S5 corresponds to the arithmetic means, the part for executing step S6 corresponds to the threshold value determining means, and executes step S8. The part corresponds to the damage determining means, the part performing step S13 corresponds to the first abnormality determining means, and the part performing step S14 corresponds to the second abnormality determining means.
【0034】以上、本発明の一実施例を図面に基づいて
詳細に説明したが、本発明は他の態様で実施することも
できる。Although the embodiment of the present invention has been described in detail with reference to the drawings, the present invention can be embodied in other forms.
【0035】例えば、前記実施例では被検査材12に対
して検査ユニット16を移動させながら探傷する場合に
ついて説明したが、検査ユニット16を固定して被検査
材12を移動させるようにしても良い。被検査材12を
暗室内に位置固定に配置し、位置固定に配設された多数
の紫外線ランプで表面18に紫外線を照射した状態でテ
レビカメラ46を移動させて探傷することもできる。For example, in the above-described embodiment, a case has been described in which flaw detection is performed while moving the inspection unit 16 with respect to the inspection target material 12. However, the inspection unit 16 may be fixed and the inspection target material 12 may be moved. . It is also possible to place the inspection object 12 in a dark room in a fixed position, and detect the flaw by moving the television camera 46 in a state where the surface 18 is irradiated with ultraviolet rays by a number of ultraviolet lamps arranged in a fixed position.
【0036】また、前記実施例では反射鏡44を介して
略静止状態で表面18を撮像するようになっていたが、
台車28の移動速度が遅い場合などには、反射鏡44を
用いることなくテレビカメラ46で直接表面18を撮像
することもできる。In the above embodiment, the surface 18 is imaged in a substantially stationary state via the reflecting mirror 44.
When the moving speed of the carriage 28 is low, the television camera 46 can directly image the surface 18 without using the reflecting mirror 44.
【0037】また、前記実施例では方形断面を有する長
尺の被検査材12を自動探傷する場合について説明した
が、被検査材の断面形状や大きさ等は適宜変更され得
る。表面18の2面を同時に探傷する場合に限らず、1
面のみを探傷する場合や、3面以上を同時に探傷する場
合であっても良いことは勿論、1面に対して複数の検査
ユニット16を配設することも可能である。Further, in the above-described embodiment, the case has been described in which the long test piece 12 having a square cross section is automatically flaw-detected. However, the cross-sectional shape and size of the test piece can be changed as appropriate. This is not limited to the case where two surfaces of the surface 18 are simultaneously flaw-detected.
In addition to the case where only one surface is inspected or the case where three or more surfaces are inspected simultaneously, a plurality of inspection units 16 may be provided for one surface.
【0038】また、前記実施例では画像信号SVの信号
強度Iの平均値Iavに基づいて傷判断閾値THを設定す
るとともに、平均値Iavに基づいて異常判断を行うよう
になっていたが、何れか一方のみを行うだけでも良い。In the above embodiment, the flaw determination threshold value TH is set based on the average value Iav of the signal intensity I of the image signal SV, and the abnormality is determined based on the average value Iav. Only one or the other may be performed.
【0039】また、前記実施例では平均値Iavの2〜4
倍程度の値を傷判断閾値THとしていたが、この倍率は
適宜変更され得るとともに、平均値Iavに所定値を加算
したり、平均値Iavをパラメータとして予め定められた
マップから傷判断閾値THを算出したりするなど、傷判
断閾値THの設定の仕方は適宜定められる。In the above embodiment, the average value Iav is 2 to 4
Although the value of about twice was set as the flaw judgment threshold value TH, this magnification may be changed as appropriate, and a predetermined value may be added to the average value Iav, or the flaw judgment threshold value TH may be determined from a predetermined map using the average value Iav as a parameter. A method of setting the scratch determination threshold value TH, such as calculation, is determined as appropriate.
【0040】また、前記実施例ではステップS13,S
14で2種類の異常判断を行うようになっていたが、何
れか一方の異常判断を行うだけでも良い。異常判断を行
う際の判断値、すなわち平均TIavの何%以下とか基準
値Im の設定の仕方は適宜定められる。1ブロック毎の
平均値Iavを基準値Im と比較して異常判断を行うこと
もできるなど、平均値Iavに基づく異常判断の方法は、
螢光磁粉の付着方法や紫外線の照射方法などに応じて適
宜定めることができる。In the above embodiment, steps S13, S13
Although two types of abnormality determination are performed in step 14, it is also possible to perform only one of the abnormality determinations. The method of setting the determination value for performing the abnormality determination, that is, what percentage or less of the average TIav and the reference value Im is appropriately determined. The abnormality determination method based on the average value Iav, for example, the abnormality determination can be performed by comparing the average value Iav for each block with the reference value Im,
It can be appropriately determined according to the method of attaching the fluorescent magnetic powder or the method of irradiating ultraviolet rays.
【0041】また、前記実施例では一方の稜線60に基
づいて探傷エリアBを設定する場合について説明した
が、例えば図6における上下両側の稜線に光を照射する
などして両側の稜線を検出し、それに基づいて探傷エリ
アBを設定するようにすることも可能である。In the above embodiment, the case where the flaw detection area B is set on the basis of one of the ridge lines 60 has been described. For example, the upper and lower ridge lines in FIG. It is also possible to set the flaw detection area B based on this.
【0042】また、前述の実施例では撮像装置としてテ
レビカメラ46が用いられていたが、入射光量に対応し
た画像信号を出力する他の撮像装置が用いられても良
い。Although the television camera 46 is used as an image pickup device in the above-described embodiment, another image pickup device that outputs an image signal corresponding to the amount of incident light may be used.
【0043】その他一々例示はしないが、本発明は当業
者の知識に基づいて種々の変更,改良を加えた態様で実
施することができる。Although not specifically exemplified, the present invention can be embodied with various modifications and improvements based on the knowledge of those skilled in the art.
【図1】本発明の一実施例である螢光磁粉式自動探傷装
置の要部構成を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of a main part of a fluorescent magnetic powder type automatic flaw detector according to one embodiment of the present invention.
【図2】図1の自動探傷装置を被検査材の長手方向から
見た断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view of the automatic flaw detector of FIG. 1 as viewed from a longitudinal direction of a material to be inspected.
【図3】図1の自動探傷装置における各種信号の流れを
説明する図である。FIG. 3 is a diagram illustrating the flow of various signals in the automatic flaw detector of FIG. 1;
【図4】図1の自動探傷装置における反射鏡の回動角度
と撮像装置の撮像範囲との関係を説明する図である。FIG. 4 is a diagram illustrating a relationship between a rotation angle of a reflecting mirror and an imaging range of an imaging device in the automatic flaw detector of FIG. 1;
【図5】図1の自動探傷装置の探傷処理に関する作動を
説明するフローチャートである。FIG. 5 is a flowchart illustrating an operation related to a flaw detection process of the automatic flaw detection device of FIG. 1;
【図6】図5のステップS3における探傷エリアの設定
方法を説明する図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a method of setting a flaw detection area in step S3 of FIG.
10:螢光磁粉式自動探傷装置 12:被検査材 18:表面 46:テレビカメラ(撮像装置) 48:紫外線ランプ(照射手段) 56:制御装置 SV:画像信号 ステップS5:演算手段 ステップS6:閾値決定手段 ステップS8:傷判断手段 ステップS13:第1異常判断手段 ステップS14:第2異常判断手段 10: fluorescent powder type automatic flaw detector 12: inspection material 18: surface 46: television camera (imaging device) 48: ultraviolet lamp (irradiation means) 56: control device SV: image signal Step S5: calculation means Step S6: threshold Determination means Step S8: Scratch determination means Step S13: First abnormality determination means Step S14: Second abnormality determination means
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭54−27491(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 21/91 Continuation of the front page (56) References JP-A-54-27491 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01N 21/91
Claims (3)
外線を照射する照射手段と、該表面を撮像して画像信号
を出力する撮像装置と、該画像信号の信号強度を傷判断
閾値と比較して前記表面の傷の有無を判断する傷判断手
段とを有する螢光磁粉式自動探傷装置において、 前記画像信号の信号強度の平均値を求める演算手段と、 該演算手段によって求められた平均値に基づいて探傷条
件の異常を判断する異常判断手段とを有することを特徴
とする螢光磁粉式自動探傷装置。An irradiating means for irradiating an ultraviolet ray to a surface of a material to be inspected to which fluorescent powder is adhered, an imaging device for imaging the surface and outputting an image signal; A fluorescent magnetic powder type automatic flaw detector which has a flaw determining means for determining the presence or absence of a flaw on the surface by comparing with a threshold value; a calculating means for obtaining an average value of signal intensities of the image signals; Abnormality detecting means for judging an abnormality in flaw detection conditions based on the average value obtained.
外線を照射する照射手段と、該表面を撮像して画像信号
を出力する撮像装置と、該画像信号の信号強度を傷判断
閾値と比較して前記表面の傷の有無を判断する傷判断手
段とを有する螢光磁粉式自動探傷装置において、 前記画像信号の信号強度の平均値を求める演算手段と、 該演算手段によって求められた平均値に基づいて探傷条
件の異常を判断する異常判断手段と、 前記演算手段によって求められた平均値に基づいて前記
傷判断閾値を決定する閾値決定手段とを有することを特
徴とする螢光磁粉式自動探傷装置。2. An irradiating means for irradiating a surface of a material to be inspected with fluorescent magnetic powder with ultraviolet rays, an image pickup device for picking up an image of the surface and outputting an image signal, and judging the signal strength of the image signal for flaws. A fluorescent magnetic powder type automatic flaw detector which has a flaw determining means for determining the presence or absence of a flaw on the surface by comparing with a threshold value; a calculating means for obtaining an average value of signal intensities of the image signals; Abnormality determining means for determining an abnormality in the flaw detection condition based on the average value obtained by the detection, and threshold value determining means for determining the flaw determination threshold value based on the average value obtained by the arithmetic means. Magnetic powder type automatic flaw detector.
材の長手方向へ相対移動させられ、前記表面を複数のブ
ロックに分割して撮像する撮像装置と、該撮像装置と一
体的に前記被検査材に対して相対移動させられて前記表
面に紫外線を照射する照射手段と、前記撮像装置から1
ブロック毎に出力される画像信号の信号強度を傷判断閾
値と比較して前記表面の傷の有無を判断する傷判断手段
とを有する螢光磁粉式自動探傷装置において、 前記1ブロック毎の画像信号の信号強度の平均値を求め
る演算手段と、 該演算手段によって求められた平均値に基づいて1ブロ
ック毎に前記傷判断閾値を決定する閾値決定手段と、 前記演算手段によって求められた各ブロックの平均値を
相互に比較して探傷条件の異常を判断する第1異常判断
手段と、 前記演算手段によって求められた各ブロックの平均値を
平均して予め設定された基準値と比較することにより探
傷条件の異常を判断する第2異常判断手段とを有するこ
とを特徴とする螢光磁粉式自動探傷装置。3. An image pickup apparatus which is relatively moved in a longitudinal direction of a long test material having fluorescent magnetic powder adhered to a surface thereof, and divides the surface into a plurality of blocks to take an image, and an image pickup apparatus integrated with the image pickup apparatus. Irradiating means for irradiating the surface with ultraviolet light while being relatively moved with respect to the material to be inspected;
A fluorescent magnetic powder type automatic flaw detector having a flaw determining means for determining the presence or absence of the flaw on the surface by comparing the signal intensity of the image signal output for each block with a flaw determination threshold value; Calculating means for calculating an average value of the signal intensities, threshold value determining means for determining the flaw determination threshold for each block based on the average value calculated by the calculating means, First abnormality determining means for comparing the average values with each other to determine an abnormality in the flaw detection condition; and flaw detection by averaging the average value of each block obtained by the arithmetic means and comparing the average value with a preset reference value. A fluorescent magnetic powder type automatic flaw detector which comprises second abnormality determining means for determining an abnormality in the condition.
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