JP3223570B2 - 固体撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置

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  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、固体撮像装置に関し、
特に、複数の有効受光画素から成る有効画素領域とその
周辺部に配された複数画素から成る光学的黒領域とを有
するような固体撮像装置に関する。
【0002】
【従来の技術】CCD(電荷結合素子)等を用いて成る
固体撮像装置において、画素(セル)単位の信号処理、
例えば欠陥画素の補正や、ディジタルシェーディング補
正等の処理を行う場合には、タイミング発生器からのタ
イミング信号を固体撮像素子の位相標準信号として使用
している。これは、カメラコントロール回路等がカメラ
本体に内蔵されているような、いわゆるセルフコンテイ
ン方式のビデオカメラ装置の場合である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、光学系や撮
像装置等を含むカメラヘッドユニットと、動作制御用の
カメラコントロールユニットとが分離されているビデオ
カメラ装置の場合には、カメラヘッドユニットとカメラ
コントロールユニットとの間でのビデオ信号の伝送に時
間を要し、ビデオ信号の遅延を伴うため、単純に上記タ
イミング発生器からの信号を位相標準信号として使用す
ることが困難あるいは不可能となる。ここで、同期信号
を基準とすることも考えられるが、画素単位の基準とし
ては精度を出すことが困難である。
【0004】本発明は、このような実情に鑑みてなされ
たものであり、カメラコントロールユニットがカメラヘ
ッドユニットから分離された形態のビデオカメラ装置に
使用できるような固体撮像装置であって、撮像装置自身
から位相標準信号を発生させることにより、伝送ビデオ
信号の遅延による悪影響を回避できるような固体撮像装
置の提供を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明に係る固体撮像装
置は、複数の有効受光画素から成る有効画素領域と、そ
の周辺部に配され表面に遮光手段が設けられた複数画素
から成る光学的黒領域とを有し、上記光学的黒領域内
の、水平方向の光学的黒領域内と垂直方向の光学的黒領
域内との少なくとも一方の所定位置のみに、表面順位を
空乏化させることにより上記光学的黒領域の他の画素の
出力信号とは異なる出力信号を発生する位置基準画素を
設けて成ることにより、上述の課題を解決する。また、
本発明に係る固体撮像装置は、複数の有効受光画素から
成る有効画素領域と、その周辺部に配され表面に遮光手
段が設けられた複数画素から成る光学的黒領域とを有
し、上記光学的黒領域内の、水平方向の光学的黒領域内
と垂直方向の光学的黒領域内との少なくとも一方の所定
位置のみに、上記遮光手段に対向する部分を窓開けする
ことにより上記光学的黒領域の他の画素の出力信号とは
異なる出力信号を発生する位置基準画素を設けて成るこ
とにより、上述の課題を解決する。さらに、本発明に係
る固体撮像装置は、複数の有効受光画素から成る有効画
素領域と、その周辺部に配され表面に遮光手段が設けら
れた複数画素から成る光学的黒領域とを有し、上記光学
的黒領域内の、水平方向の光学的黒領域内と垂直方向の
光学的黒領域内との少なくとも一方の所定位置のみに、
画素に対向して発光手段を配設することにより上記光学
的黒領域の他の画素の出力信号とは異なる出力信号を発
生する位置基準画素を設けて成ることにより、上述の課
題を解決する。
【0006】ここで、上記位置基準画素としては、該画
素に対向する上記遮光手段の部分を窓開けすることが挙
げられる。また、上記位置基準画素に対向して発光手段
を配設するようにしてもよい。さらに、位置基準画素の
部分のみ表面準位を空乏化させることによって、該基準
画素から出力される暗電流(ダーク信号量)を増加させ
るようにしてもよい。
【0007】上記遮光手段としては、例えばアルミニウ
ム膜が挙げられる。上記受光領域が縦横2次元マトリク
ス状に配置され、上記光学的黒領域が受光領域の水平方
向の一側部及び垂直方向の一側部に配置されている場
合、上記所定位置としては、水平方向の位相合わせのた
めに上記水平方向の一側部に1箇所と、垂直方向の位相
合わせのために上記垂直方向の一側部に1箇所との計2
箇所を採用することが望ましい。
【0008】
【作用】ビデオ信号中に含まれる位置基準画素からの信
号を検出し、これを位相標準信号として使用することに
より、各画素(ピクセル)の座標を確定でき、ビデオ信
号に対して画素単位の信号処理を行わせる際に、ビデオ
信号の伝送時の遅延等による悪影響を受けることがなく
なる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の好ましい実施例について、図
面を参照しながら説明する。図1のAは、本発明に係る
固体撮像装置の一実施例の概略構成を示し、図1のBは
動作を説明するための図である。
【0010】先ず、図1のAにおいて、有効画素領域1
1は、複数の画素(ピクセル)12が縦横2次元のマト
リクス状に配置されて構成されており、レンズ系(図示
せず)を介して光が照射されて有効に受光される部分で
ある。この有効画素領域11の周辺の図中右側部15H
及び図中下側部15Vに渡って、光学的黒(オプティカ
ルブラック)領域15が配設されている。この光学的黒
領域15は、表面に遮光手段としての例えばアルミニウ
ム膜が被着形成されており、光が受光されず、常時黒レ
ベル(光学的黒レベル)の信号が出力されることにな
る。
【0011】さらに、この光学的黒領域15内の所定位
置に、上記光学的黒レベルとは異なる一定のレベルの信
号を出力する位置基準画素16を設けている。図1の例
では、光学的黒領域15中の上記右側部15H内に1個
の水平位置基準画素16Hを、また上記下側部15V内
に1個の垂直位置基準画素16Vをそれぞれ設けてい
る。
【0012】次に、図1のBは、上記水平位置基準画素
16Hを含むライン(走査線)を走査したときの出力ビ
デオ信号波形の一例を示しており、この波形の時間TA
の間が上記有効画素領域11を走査している期間、時間
B の間が上記光学的黒領域15内の右側部15Hを走
査している期間にそれぞれ相当する。この時間TB の間
の信号は所定の光学的黒レベルVBKとなるが、上記水平
位置基準画素16Hを走査したタイミングのパルスRH
のレベルはこの光学的黒レベルVBKとは異なって現れ
る。従って、このパルスRH を検出して位相標準信号と
して用いることができる。
【0013】このような位相標準信号は、ビデオ信号中
に含まれるパルスRH を検出して得られるものであるた
め、カメラヘッドユニットとカメラコントロールユニッ
トとの間でのビデオ信号伝送に遅延が生じても標準信号
としての使用には何ら問題がなく、高精度を保つことが
できる。上記水平位置基準画素16Hは水平位相の基準
として用いられるが、同様に、上記垂直位置基準画素1
6Vは垂直位相の基準として用いることができる。
【0014】上記位置基準画素16は、上記光学的黒領
域15内の水平、垂直方向のいずれの位置でも可能であ
り、タイミング発生器等の設計時に座標を自由に設定す
ればよい。この位置基準画素16を走査したときに、上
記光学的黒レベルVBKに対して区別可能な一定のレベル
の信号を出力させるためには、画素16上に被着形成さ
れているアルミニウム等の遮光膜を除去してフィルタを
設ける等により、この部分のみ窓開けしたり、画素16
の受光部(センサ部)に対向して赤外光等の発光素子を
オンチップ化して設け、アルミニウムでシールドする等
の方法が考えられる。この場合、光の透過、漏れ込み、
回折等を考慮に入れて光学的黒領域15を設計すること
が必要とされる。
【0015】また、固体撮像装置(固体撮像素子)とし
て、日経マイクロデバイス、1987年10月号、p6
0〜p67、「最低照度5lxの高感度インターライン型
CCD」に記載されたものを用いる場合に、画素の受光
部(センサ部)からの暗電流(ダーク信号量)を、上記
位置基準画素16の部分のみ表面準位を空乏化させるこ
とによって増加させるような構成も好ましい。
【0016】ここで、上記文献記載の固体撮像素子につ
いて簡単に説明すると、基板の表面に正孔を蓄積するこ
とによって暗電流を抑制するものであり、その構造を図
2に示す。この図2において、1個の画素(ピクセル)
20は、受光部(センサ部)21、読み出しゲート2
2、垂直レジスタ23及びチャネル・ストッパ24より
成る。n型のシリコン基板25上に(第1の)pウェル
領域26が形成され、このpウェル領域26内のセンサ
部21にn+ 領域27が形成され、このn+ 領域27の
表面に臨んで正孔蓄積層28が形成されている。垂直レ
ジスタ23は、上記(第1)pウェル領域26内に第2
のpウェル領域29が形成され、この第2pウェル領域
29上の表面に臨んでn+ 領域30が形成されている。
チャネル・ストッパ24はpウェル領域26の表面に臨
んで形成されるp+ 領域31より成っている。これらの
表面には、絶縁層としてのSiO2 膜32が被着形成さ
れており、この絶縁層を介して読み出しゲート22、垂
直レジスタ23及びチャネル・ストッパ24を覆うよう
に電極となる多結晶Si層33が形成され、さらにSi
2 等の絶縁層を介して遮光膜となるAl(アルミニウ
ム)層34が被着形成されている。センサ部21上はA
l層34が除去され、透明な多結晶Si層33を介して
受光可能になっている。
【0017】ここで一般の固体撮像素子において、感度
の良し悪しが問題となるのは低照度で撮像する場合であ
り、この場合には、光ショット雑音よりも暗電流による
固定パターン雑音が支配的であることを考慮して、上記
図2に示す構造の画素(ピクセル)を有する固体撮像素
子においては、暗電流の絶対値を減らして感度の向上を
図っている。この暗電流は、基板や中性領域から流れ込
む拡散電流やセンサ表面の界面準位からの発生電流、垂
直レジスタ表面の界面準位からの発生電流が主な成分で
ある。そこで、先ず基板からの拡散によって流れ込む電
流成分(電子)を減らすために、n型基板25上にpウ
ェル領域26を形成し、特にpウェル領域26が空乏化
した状態で動作するようにして、中性領域からの拡散成
分を略々完全に抑えている。次に、センサ表面の発生電
流に対しては、正孔蓄積層28を設けて正孔を蓄積状態
にすることによって抑えている。また、垂直レジスタ表
面から発生する暗電流も同様の原理に基づいて抑えてお
り、ゲート電極(上記多結晶Si層33)に印加する電
圧によって、表面に正孔を蓄積し、垂直レジスタ23の
表面から発生する暗電流の絶対値を小さくしている。
【0018】このような構造の画素を図1の有効画素領
域11に配設し、光学的黒領域15にはセンサ部21上
にも遮光用のAl層34を設けた(除去せずに残した)
構造の画素を配設し、上記位置基準画素16(水平、垂
直の各位置基準画素16H、16V)の部分のみセンサ
部21の表面準位を空乏化させることによって、暗電流
を他の部分に比べて増加させ、上記光学的黒レベルVBK
に対して一定のレベルの信号が得られるようにし、位相
標準信号として検出可能にしている。
【0019】以上の説明した固体撮像装置の実施例によ
れば、カメラヘッドユニットとカメラコントロールユニ
ットとに分離されこれらの間でビデオ信号の伝送が行わ
れることによる遅延のため、ビデオ信号に対する画素単
位の信号処理のための位相標準信号としてタイミング発
生器からのタイミング信号を使用できない場合でも、ビ
デオ信号中に含まれる上記位置基準信号、すなわち上記
位置基準画素16(水平、垂直の各位置基準画素16
H、16V)を検出して得られる信号を、位相標準信号
として使用できる。従って、ビデオ信号の伝送に伴う遅
延の影響を受けることなく、画素単位の信号処理を実現
することができる。
【0020】なお、本発明は上記実施例のみに限定され
るものではなく、例えば、位置基準画素は、1個のみ、
あるいは3個以上設けるようにしてもよい。また、位置
基準画素の座標は、カメラシステムやタイミング発生器
等の設計時に任意に設定できる。
【0021】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明に係る固体撮像装置によれば、有効画素の周辺部の光
学的黒領域内に、該光学的黒領域の他の画素の出力信号
とは異なる出力信号を発生する位置基準画素を、水平方
向の光学的黒領域内と垂直方向の光学的黒領域内との少
なくとも一方の所定位置のみに設けており、位置基準画
素の具体例としては、表面順位を空乏化させたり、遮光
手段に対向する部分を窓開けしたり、画素に対して発光
手段を配設したりすることにより、撮像ビデオ出力信号
から、この位置基準画素を走査したタイミングの信号を
検出することができ、この信号を、ビデオ信号に対して
画素単位の信号処理を施す際の位相基準信号として使用
することにより、ビデオ信号伝送時の遅延等の影響を受
けない高精度の位相標準による信号処理が実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る固体撮像装置の一実施例の概略構
成を示すブロック図である。
【図2】上記実施例に用いられる画素の構造の具体例を
示す概略断面図である。
【符号の説明】
11・・・・・有効画素領域 12・・・・・画素(ピクセル) 15・・・・・光学的黒領域 16・・・・・位置基準画素 16H・・・・・水平位置基準画素 16V・・・・・垂直位置基準画素 20・・・・・画素(ピクセル) 21・・・・・センサ部 22・・・・・読み出しゲート 23・・・・・垂直レジスタ 24・・・・・チャネル・ストッパ 25・・・・・n型基板 26・・・・・p型ウェル 27・・・・・n+ 型領域 28・・・・・正孔蓄積層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04N 5/335 H01L 27/14

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の有効受光画素から成る有効画素領
    域と、その周辺部に配され表面に遮光手段が設けられた
    複数画素から成る光学的黒領域とを有し、 上記光学的黒領域内の、水平方向の光学的黒領域内と垂
    直方向の光学的黒領域内との少なくとも一方の所定位置
    のみに、表面順位を空乏化させることにより上記光学的
    黒領域の他の画素の出力信号とは異なる出力信号を発生
    する位置基準画素を設けて成ることを特徴とする固体撮
    像装置。
  2. 【請求項2】 複数の有効受光画素から成る有効画素領
    域と、その周辺部に配され表面に遮光手段が設けられた
    複数画素から成る光学的黒領域とを有し、 上記光学的黒領域内の、水平方向の光学的黒領域内と垂
    直方向の光学的黒領域内との少なくとも一方の所定位置
    のみに、 上記遮光手段に対向する部分を窓開けすること
    により上記光学的黒領域の他の画素の出力信号とは異な
    る出力信号を発生する位置基準画素を設けて成ることを
    特徴とする固体撮像装置。
  3. 【請求項3】 複数の有効受光画素から成る有効画素領
    域と、その周辺部に配され表面に遮光手段が設けられた
    複数画素から成る光学的黒領域とを有し、 上記光学的黒領域内の、水平方向の光学的黒領域内と垂
    直方向の光学的黒領域内との少なくとも一方の所定位置
    のみに、 画素に対向して発光手段を配設することにより
    上記光学的黒領域の他の画素の出力信号とは異なる出力
    信号を発生する位置基準画素を設けて成ることを特徴と
    する固体撮像装置。
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US8760543B2 (en) 2011-09-26 2014-06-24 Truesense Imaging, Inc. Dark reference in CCD image sensors
EP2719321B1 (en) 2012-04-25 2017-03-15 Olympus Corporation Image pickup unit for endoscope and endoscope
JP6324184B2 (ja) 2014-04-18 2018-05-16 キヤノン株式会社 光電変換装置、撮像システム、および光電変換装置の駆動方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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