JP3178148B2 - イメージセンサ - Google Patents
イメージセンサInfo
- Publication number
- JP3178148B2 JP3178148B2 JP04161993A JP4161993A JP3178148B2 JP 3178148 B2 JP3178148 B2 JP 3178148B2 JP 04161993 A JP04161993 A JP 04161993A JP 4161993 A JP4161993 A JP 4161993A JP 3178148 B2 JP3178148 B2 JP 3178148B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pixel
- monitor
- photosensitive
- pixels
- subject
- Prior art date
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- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はイメージセンサに関し、
特に被写体輝度をモニターするモニター出力の残像低減
に関するものである。
特に被写体輝度をモニターするモニター出力の残像低減
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】被写体像をイメージ信号に変換するイメ
ージセンサは、近年カメラのオートフォーカス用のセン
サとして用いられている。ところでフォーカシングを精
度良く行なうためには、被写体の輝度にかかわりなく、
一定の大きさのイメージ信号が得られるようにする必要
がある。すなわち、被写体の輝度が低い場合には、光電
変換の積分時間を長くし、逆に被写体の輝度が高い場合
には、イメージ信号が飽和しないように光電変換の積分
時間を短かくする必要があった。そのため、被写体輝度
をモニターするためのモニター画素をチップ上に設けて
いた。
ージセンサは、近年カメラのオートフォーカス用のセン
サとして用いられている。ところでフォーカシングを精
度良く行なうためには、被写体の輝度にかかわりなく、
一定の大きさのイメージ信号が得られるようにする必要
がある。すなわち、被写体の輝度が低い場合には、光電
変換の積分時間を長くし、逆に被写体の輝度が高い場合
には、イメージ信号が飽和しないように光電変換の積分
時間を短かくする必要があった。そのため、被写体輝度
をモニターするためのモニター画素をチップ上に設けて
いた。
【0003】以下、従来のモニター画素について図を用
いて説明する。
いて説明する。
【0004】図5は従来のイメージセンサのブロック図
である。感光画素13に入射した光量に応じて発生した
信号電荷は、一定電圧VSTが印加された蓄積部12のゲ
ートFに蓄積される。この時ΦTGはローレベルになっ
ている。次に所定の蓄積時間後ΦTGをハイレベルにす
ることによりトランスファゲート11がオンし、信号電
荷は転送部10に流入し、Φ1,Φ2により順次転送さ
れる。
である。感光画素13に入射した光量に応じて発生した
信号電荷は、一定電圧VSTが印加された蓄積部12のゲ
ートFに蓄積される。この時ΦTGはローレベルになっ
ている。次に所定の蓄積時間後ΦTGをハイレベルにす
ることによりトランスファゲート11がオンし、信号電
荷は転送部10に流入し、Φ1,Φ2により順次転送さ
れる。
【0005】感光画素13に入射する光量すなわち、被
写体の輝度をモニターするためにモニター画素34が設
けられている。さらにモニター画素34で発生した信号
電荷を出力信号に変換するための出力部100がゲート
15,電荷電圧変換部16,リセットゲート17,リセ
ットドレイン18により構成されている。
写体の輝度をモニターするためにモニター画素34が設
けられている。さらにモニター画素34で発生した信号
電荷を出力信号に変換するための出力部100がゲート
15,電荷電圧変換部16,リセットゲート17,リセ
ットドレイン18により構成されている。
【0006】図6(a),(b)は、図5のC−C′線
の断面図及びポテンシャル図である。
の断面図及びポテンシャル図である。
【0007】N型半導体基板1の表面にP型拡散層2を
形成し、さらにモニター画素及び電荷電圧変換部を形成
するN型拡散層4を形成し、基板表面からの暗電流の発
生を抑えている。
形成し、さらにモニター画素及び電荷電圧変換部を形成
するN型拡散層4を形成し、基板表面からの暗電流の発
生を抑えている。
【0008】入射光に応じてモニター画素34で発生し
た信号電荷は、一定電圧VBAが印加されたゲート15下
を通って電荷電圧変換部16に流入する。流入した電荷
量に対応した電荷電圧変換部16の電位変化を出力バッ
ファ19を通して出力端子MOUT より取り出す。
た信号電荷は、一定電圧VBAが印加されたゲート15下
を通って電荷電圧変換部16に流入する。流入した電荷
量に対応した電荷電圧変換部16の電位変化を出力バッ
ファ19を通して出力端子MOUT より取り出す。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】イメージセンサでは通
常100画素程度の関係画素領域の入射光量をモニター
するためにモニター画素は200μm程度の大きさを持
つことになる。したがって、モニター画素の両端の部分
で発生した信号電荷は100μm程度の距離を移動する
こととなる。
常100画素程度の関係画素領域の入射光量をモニター
するためにモニター画素は200μm程度の大きさを持
つことになる。したがって、モニター画素の両端の部分
で発生した信号電荷は100μm程度の距離を移動する
こととなる。
【0010】この場合従来のイメージセンサでは、モニ
ター画素内にポテンシャルの勾配がないために信号電荷
は通常熱拡散による移動となるため、出力部100に流
入するまでの時間が長くなり、残像の原因となってい
た。
ター画素内にポテンシャルの勾配がないために信号電荷
は通常熱拡散による移動となるため、出力部100に流
入するまでの時間が長くなり、残像の原因となってい
た。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明のイメージセンサ
は、モニター画素の画素幅が出力部に向かって広くなっ
ている。
は、モニター画素の画素幅が出力部に向かって広くなっ
ている。
【0012】
【実施例】次に本発明について図面を用いて説明する。
なお、従来と同じ構成の部分は説明を省略する。
なお、従来と同じ構成の部分は説明を省略する。
【0013】図1は本発明の一実施例のブロック図であ
る。感光画素13に入射する光量すなわち、被写体の輝
度をモニターするためのモニター画素14が設けられて
いる。本実施例のモニター画素14は両端に向かって、
画素幅が狭くなっている。このモニター画素以外は従来
と同じ構成である。
る。感光画素13に入射する光量すなわち、被写体の輝
度をモニターするためのモニター画素14が設けられて
いる。本実施例のモニター画素14は両端に向かって、
画素幅が狭くなっている。このモニター画素以外は従来
と同じ構成である。
【0014】図2(a),(b)は図1のA−A′線の
断面図及びポテンシャル図である。N型半導体基板1上
にP型拡散層2を形成し、さらに、モニター画素及び電
荷電圧変換部を形成するN型拡散層3を形成する。モニ
ター画素14の表面にはP+型拡散層4を形成し基板表
面からの暗電流の発生を抑えている。
断面図及びポテンシャル図である。N型半導体基板1上
にP型拡散層2を形成し、さらに、モニター画素及び電
荷電圧変換部を形成するN型拡散層3を形成する。モニ
ター画素14の表面にはP+型拡散層4を形成し基板表
面からの暗電流の発生を抑えている。
【0015】入射光量に応じて、モニター画素14で発
生した信号電荷は一定電圧VBAが印加されたゲート15
下を通って電荷電圧変換部16に流入する。流入した電
荷量に対応した電荷電圧変換部16の電位変化を出力バ
ッファ19を通して出力端子MOUT より取り出す。
生した信号電荷は一定電圧VBAが印加されたゲート15
下を通って電荷電圧変換部16に流入する。流入した電
荷量に対応した電荷電圧変換部16の電位変化を出力バ
ッファ19を通して出力端子MOUT より取り出す。
【0016】この時、a−2点よりA点側はA点側に向
かって画素の幅が狭くなっているため、いわゆる狭チャ
ネル効果により、ポテンシャルが徐々に浅くなるように
なっている。狭チャネル効果は、画素幅が6μm以下で
顕著に現われるので、画素幅が6μmとなるa−1点よ
りA点側ではポテンシャルに勾配ができる。この部分で
は信号電荷は熱拡散+ドリフトで移動するため、従来の
ような熱拡散のみの移動とは異なり、移動が速くなり残
像が低減できる。
かって画素の幅が狭くなっているため、いわゆる狭チャ
ネル効果により、ポテンシャルが徐々に浅くなるように
なっている。狭チャネル効果は、画素幅が6μm以下で
顕著に現われるので、画素幅が6μmとなるa−1点よ
りA点側ではポテンシャルに勾配ができる。この部分で
は信号電荷は熱拡散+ドリフトで移動するため、従来の
ような熱拡散のみの移動とは異なり、移動が速くなり残
像が低減できる。
【0017】次に本発明の第2の実施例について図面を
用いて説明する。
用いて説明する。
【0018】図3は本発明の第2の実施例のブロック図
である。本発明のモニター画素24は例えばb−2点付
近で2つに分岐し、さらにb−1点付近で各々2つに分
岐しているといった様に両端に向かって次々に分岐し、
画素幅が狭くなるようになっている。
である。本発明のモニター画素24は例えばb−2点付
近で2つに分岐し、さらにb−1点付近で各々2つに分
岐しているといった様に両端に向かって次々に分岐し、
画素幅が狭くなるようになっている。
【0019】図4(a),(b)は、図3のB−B′線
の断面図及びポテンシャル図である。モニター画素の端
からb−1点までの間よりb−1点からb−2点までの
間の法が画素の幅が広くなっている。さらにb−2点か
ら出力部側の方がb−1点からb−2点の間よりも広く
なっている。前述したように狭チャネル効果は、画素幅
9μm以下で顕著に表われるので、例えば、モニター画
素の端からb−1点までの間は画素幅を3μm,B−1
点からb−2点までの間は、画素幅を6μm,b−2点
から出力部側の画素幅を12μmというようにすれば、
モニター画素の端から出力部側に向かってポテンシャル
に段差ができ、この段差部でのポテンシャルの勾配信号
電荷の移動が速くなり残像が低減できる。
の断面図及びポテンシャル図である。モニター画素の端
からb−1点までの間よりb−1点からb−2点までの
間の法が画素の幅が広くなっている。さらにb−2点か
ら出力部側の方がb−1点からb−2点の間よりも広く
なっている。前述したように狭チャネル効果は、画素幅
9μm以下で顕著に表われるので、例えば、モニター画
素の端からb−1点までの間は画素幅を3μm,B−1
点からb−2点までの間は、画素幅を6μm,b−2点
から出力部側の画素幅を12μmというようにすれば、
モニター画素の端から出力部側に向かってポテンシャル
に段差ができ、この段差部でのポテンシャルの勾配信号
電荷の移動が速くなり残像が低減できる。
【0020】本実施例では、画素の両端を狭めていない
ので、モニター領域全域にわたり、一定の感度を保つこ
とができる。
ので、モニター領域全域にわたり、一定の感度を保つこ
とができる。
【0021】
【発明の効果】以上したように本発明はモニター画素の
端から出力部に向かってモニター画素の幅を広げること
により、モニター画素内のポテンシャルに勾配をつけ、
信号電荷の移動の速度を速め、残像を低減するという効
果を有する。
端から出力部に向かってモニター画素の幅を広げること
により、モニター画素内のポテンシャルに勾配をつけ、
信号電荷の移動の速度を速め、残像を低減するという効
果を有する。
【図1】本発明の一実施例のブロック図。
【図2】図1に示したA−A′線断面図及びポテンシャ
ル図。
ル図。
【図3】本発明の第2の実施例のブロック図。
【図4】図3に示したB−B′線断面図及びポテンシャ
ル図。
ル図。
【図5】従来例のブロック図。
【図6】図5に示したC−C′線断面図及びポテンシャ
ル図。
ル図。
10 転送部 11 トランスファゲート 12 蓄積部 13 感光画素 14,24,34 モニター画素 15 ゲート 16 電極電圧変換部 17 リセットゲート 18 リセットドレイン 19 出力バッファ 100 出力部
Claims (1)
- 【請求項1】 被写体からの入射光量に応じた信号電荷
を発生する、配列された複数の感光画素と、前記被写体
の輝度をモニターするためのモニター画素と、当該モニ
ター画素で発生した信号電荷量に応じた出力信号を発生
する出力部とを有し、前記モニター画素が、前記感光画
素の配列方向に細長く、且つ、全感光画素に渡って延在
し、前記感光画素よりも大きいイメージセンサにおい
て、前記モニター画素の画素幅が、前記出力部に向かっ
て広くなっていることを特徴とするイメージセンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04161993A JP3178148B2 (ja) | 1993-03-03 | 1993-03-03 | イメージセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04161993A JP3178148B2 (ja) | 1993-03-03 | 1993-03-03 | イメージセンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06261183A JPH06261183A (ja) | 1994-09-16 |
JP3178148B2 true JP3178148B2 (ja) | 2001-06-18 |
Family
ID=12613360
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04161993A Expired - Fee Related JP3178148B2 (ja) | 1993-03-03 | 1993-03-03 | イメージセンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3178148B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5440000B2 (ja) * | 2009-07-17 | 2014-03-12 | リコーイメージング株式会社 | 焦点検出装置 |
-
1993
- 1993-03-03 JP JP04161993A patent/JP3178148B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06261183A (ja) | 1994-09-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20010313 |
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