JP3176770B2 - 流体検査装置 - Google Patents
流体検査装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば蛋白質の分析、
ＤＮＡの塩基配列決定等のクロマトグラフィ、特に液体
クロマトグラフィの技術分野に用いられる流体検査装置
に関するものである。
ＤＮＡの塩基配列決定等のクロマトグラフィ、特に液体
クロマトグラフィの技術分野に用いられる流体検査装置
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】蛋白質の分析、ＤＮＡの塩基配列決定の
ために、各種の液体クロマトグラフィが有効である。ま
た最近では、従来のスラブ方式よりも高感度であるとい
う利点を有するカラム方式が利用されるようになってい
る。
ために、各種の液体クロマトグラフィが有効である。ま
た最近では、従来のスラブ方式よりも高感度であるとい
う利点を有するカラム方式が利用されるようになってい
る。
【０００３】図９は従来のキャピラリ電気泳動装置の構
成図であり、冷媒ユニット１を備えたキャピラリカセッ
ト２にはキャピラリ３が配管され、このキャピラリ３の
両端は例えば蛍光ラベルしたアミノ酸やアミン等のサン
プル液の入った容器４、５に挿入されている。また、容
器４、５内には電極６、７がそれぞれ設けられ、電極
６、７は高電圧電源８に接続されている。更に、キャピ
ラリカセット２内にはキャピラリ３の一部を挟んで光源
９及び光検出器１０が設けられている。 ここで、高電
圧電源７に電圧を印加すると、サンプル液は分離され、
容器４、５内の微粒子は帯電強度、大きさ等により異な
る速さでキャピラリ３を通って互いの容器５、４に向か
って移動する。これらの微粒子は冷媒Ｃによって冷却さ
れながら検出部を通過する際に、光源９からの照射光に
より照射され光検出器１０によって検出される。
成図であり、冷媒ユニット１を備えたキャピラリカセッ
ト２にはキャピラリ３が配管され、このキャピラリ３の
両端は例えば蛍光ラベルしたアミノ酸やアミン等のサン
プル液の入った容器４、５に挿入されている。また、容
器４、５内には電極６、７がそれぞれ設けられ、電極
６、７は高電圧電源８に接続されている。更に、キャピ
ラリカセット２内にはキャピラリ３の一部を挟んで光源
９及び光検出器１０が設けられている。 ここで、高電
圧電源７に電圧を印加すると、サンプル液は分離され、
容器４、５内の微粒子は帯電強度、大きさ等により異な
る速さでキャピラリ３を通って互いの容器５、４に向か
って移動する。これらの微粒子は冷媒Ｃによって冷却さ
れながら検出部を通過する際に、光源９からの照射光に
より照射され光検出器１０によって検出される。
【０００４】このようなキャピラリ電気泳動装置は、
「生化学」誌第６４巻（１９９２）第２号第１１１頁に
説明されており、石英製キャピラリを利用することによ
って、分析時間の短縮、分析精度の向上等の利点があ
る。
「生化学」誌第６４巻（１９９２）第２号第１１１頁に
説明されており、石英製キャピラリを利用することによ
って、分析時間の短縮、分析精度の向上等の利点があ
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このキ
ャピラリ方式はオンカラム測定により高感度で高速な測
定が可能であるという利点を有しているが、キャピラリ
内を毎回洗浄する必要があるため、多数種類の測定を連
続して行うことが困難であると共に、キャピラリを一度
外すと、カラムと光軸の調整が煩雑になるという問題点
がある。
ャピラリ方式はオンカラム測定により高感度で高速な測
定が可能であるという利点を有しているが、キャピラリ
内を毎回洗浄する必要があるため、多数種類の測定を連
続して行うことが困難であると共に、キャピラリを一度
外すと、カラムと光軸の調整が煩雑になるという問題点
がある。
【０００６】本発明の目的は、上述の問題点を解消し、
多数種類のサンプル波の測定を連続して行うことがで
き、かつ簡便で低コストな流体検査装置を提供すること
にある。
多数種類のサンプル波の測定を連続して行うことがで
き、かつ簡便で低コストな流体検査装置を提供すること
にある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めの本発明に係る流体検査装置は、測定用サンプル液を
流通する流路と、本体装置から出射された平行光を前記
流路の一部に集光する第１の光学系と測定用サンプル液
から出射された光束を平行光に変換する第２の光学系の
少なくとも一方とを有するカートリッジを用いる流体検
査装置であって、前記カートリッジを着脱可能に保持す
る保持手段と、前記カートリッジを経た光束を受光する
光検出手段と、光源から出射された光束を平行光に変換
する第３の光学系と前記カートリッジから出射された平
行光を前記光検出手段に集光する第４の光学系の少なく
とも一方を有する本体装置とを備えたことを特徴とす
る。
めの本発明に係る流体検査装置は、測定用サンプル液を
流通する流路と、本体装置から出射された平行光を前記
流路の一部に集光する第１の光学系と測定用サンプル液
から出射された光束を平行光に変換する第２の光学系の
少なくとも一方とを有するカートリッジを用いる流体検
査装置であって、前記カートリッジを着脱可能に保持す
る保持手段と、前記カートリッジを経た光束を受光する
光検出手段と、光源から出射された光束を平行光に変換
する第３の光学系と前記カートリッジから出射された平
行光を前記光検出手段に集光する第４の光学系の少なく
とも一方を有する本体装置とを備えたことを特徴とす
る。
【０００８】
【作用】上述の構成を有する流体検査装置は、測定用サ
ンプル液を注入する流路と測定する部位をカートリッジ
として着脱可能なものとし、カートリッジに入射する光
束及びカートリッジ内の測定用サンプル液から出射され
る光束を平行光とすることにより、カートリッジを取り
付ける際の機械的誤差の影響を受けずに測定を行う。
ンプル液を注入する流路と測定する部位をカートリッジ
として着脱可能なものとし、カートリッジに入射する光
束及びカートリッジ内の測定用サンプル液から出射され
る光束を平行光とすることにより、カートリッジを取り
付ける際の機械的誤差の影響を受けずに測定を行う。
【０００９】
【実施例】本発明を図１〜図８に図示の実施例に基づい
て詳細に説明する。図１は第１の実施例の構成図であ
り、本体装置１１の上部には例えば各種のレーザー、Ｌ
ＥＤ、ハロゲンランプ、タングステンランプ、水銀ラン
プ等から成る光源１２が設けられ、光源１２の光路上に
は光学系１３、ハーフミラー１４、カートリッジ保持手
段１５が配置され、保持手段１５にはカートリッジC1を
装着し得るようになっている。また、ハーフミラー１４
の反射方向には光学系１６を介して受光系１７が設けら
れている。
て詳細に説明する。図１は第１の実施例の構成図であ
り、本体装置１１の上部には例えば各種のレーザー、Ｌ
ＥＤ、ハロゲンランプ、タングステンランプ、水銀ラン
プ等から成る光源１２が設けられ、光源１２の光路上に
は光学系１３、ハーフミラー１４、カートリッジ保持手
段１５が配置され、保持手段１５にはカートリッジC1を
装着し得るようになっている。また、ハーフミラー１４
の反射方向には光学系１６を介して受光系１７が設けら
れている。
【００１０】なお、化学発光、生物発光等のサンプル自
身が発光し、その光束を検出して測定を行う場合には、
光照射は不要であるために光照射部を設ける必要はな
い。また、ハーフミラー１４は光源１２からの光束を透
過し、サンプル液からの蛍光を反射するように構成すれ
ば、ダイクロイックミラー等で置き換えてもよい。
身が発光し、その光束を検出して測定を行う場合には、
光照射は不要であるために光照射部を設ける必要はな
い。また、ハーフミラー１４は光源１２からの光束を透
過し、サンプル液からの蛍光を反射するように構成すれ
ば、ダイクロイックミラー等で置き換えてもよい。
【００１１】図２はカートリッジC1の断面図であり、シ
リコン基板により製作された第１基板２１上に、ガラス
基板により製作された第２基板２２が接合されている。
第２基板２２には注入口２３、搬出口２４が裏面まで貫
通して形成され、サンプル液は第１基板２１と第２基板
２２間の第１基板２１に形成された微小径の流路２５中
を流通するようになっている。更に、第２基板２２にお
ける光源１２の光路上には、モールド成型されたガラス
から成る集光レンズ２６が、これと屈折率が等しい接着
剤により接合され、外部からの平行光を流路２５上に集
光するようになっている。なお、第２基板２２をガラス
又は合成樹脂のモールド成型により製作してもよく、ま
た集光レンズ２６をフレネルレンズ、バイナリレンズ等
により構成しても支障はない。
リコン基板により製作された第１基板２１上に、ガラス
基板により製作された第２基板２２が接合されている。
第２基板２２には注入口２３、搬出口２４が裏面まで貫
通して形成され、サンプル液は第１基板２１と第２基板
２２間の第１基板２１に形成された微小径の流路２５中
を流通するようになっている。更に、第２基板２２にお
ける光源１２の光路上には、モールド成型されたガラス
から成る集光レンズ２６が、これと屈折率が等しい接着
剤により接合され、外部からの平行光を流路２５上に集
光するようになっている。なお、第２基板２２をガラス
又は合成樹脂のモールド成型により製作してもよく、ま
た集光レンズ２６をフレネルレンズ、バイナリレンズ等
により構成しても支障はない。
【００１２】サンプル液は注入口２３から注入され、流
路２５を通って搬出口２４に送出されるようになってい
る。なお、このサンプル液の送出は注入口２３又は搬出
口２４にキャピラリを通してポンプを接続したり、或い
は流路２５に圧電薄膜を設け、表面波振動により発生す
る搬送力を利用することができる。
路２５を通って搬出口２４に送出されるようになってい
る。なお、このサンプル液の送出は注入口２３又は搬出
口２４にキャピラリを通してポンプを接続したり、或い
は流路２５に圧電薄膜を設け、表面波振動により発生す
る搬送力を利用することができる。
【００１３】このようなカートリッジC1は、半導体製造
プロセスを含むマイクロメカニクス技術によって比較的
容易に製造できるため、バッチ処理による大量生産に適
し、複数の流路を並べたアレイ化も容易である。
プロセスを含むマイクロメカニクス技術によって比較的
容易に製造できるため、バッチ処理による大量生産に適
し、複数の流路を並べたアレイ化も容易である。
【００１４】一般的に、カートリッジC1を保持手段１５
に取り付ける際の機械的精度は数１０〜数１００μｍで
あり、例えばカートリッジC1の流路２５の幅を１０μｍ
とすると、光源１２からの光束が流路２５に照射された
際の光軸と流路２５の中心軸とのずれは、上述の精度と
同程度だけ発生する可能性がある。
に取り付ける際の機械的精度は数１０〜数１００μｍで
あり、例えばカートリッジC1の流路２５の幅を１０μｍ
とすると、光源１２からの光束が流路２５に照射された
際の光軸と流路２５の中心軸とのずれは、上述の精度と
同程度だけ発生する可能性がある。
【００１５】光源１２から出射され、光学系１３を透過
した光束が平行光であり、光軸と流路２５の中心軸との
ずれがない場合には、この光束は図３の実線に示すよう
に流路２５に集光され、流路２５内のサンプル液から出
射又は反射される光束はハーフミラー１４により反射さ
れ、光学系１６により集光されて受光系１７に入射し測
定される。
した光束が平行光であり、光軸と流路２５の中心軸との
ずれがない場合には、この光束は図３の実線に示すよう
に流路２５に集光され、流路２５内のサンプル液から出
射又は反射される光束はハーフミラー１４により反射さ
れ、光学系１６により集光されて受光系１７に入射し測
定される。
【００１６】また、流路２５の中心軸が本体装置１１の
光軸からずれて、光源１２、光学系１３が光源１２’、
光学系１３’の位置にある場合でも、光源１２’からの
光束は一点鎖線のように進み、集光レンズ２６を透過し
て光軸のずれに影響されずに流路２５に入射する。更
に、サンプル液からの蛍光又は反射光は同様に集光レン
ズ２６、ハーフミラー１４、光学系１６を介して受光系
１７に入射するため、測定不能とはなることはない。
光軸からずれて、光源１２、光学系１３が光源１２’、
光学系１３’の位置にある場合でも、光源１２’からの
光束は一点鎖線のように進み、集光レンズ２６を透過し
て光軸のずれに影響されずに流路２５に入射する。更
に、サンプル液からの蛍光又は反射光は同様に集光レン
ズ２６、ハーフミラー１４、光学系１６を介して受光系
１７に入射するため、測定不能とはなることはない。
【００１７】これに対して、カートリッジC1に入射する
光束が平行光ではない場合には、光軸のずれがなければ
光源１２からの光束は、図４の実線に示すように流路２
５上に集光されるが、光軸がずれた場合に光源１２’か
らの光束は一点鎖線のような光路を通り、流路２５の中
心には集光されないため測定不能となる。
光束が平行光ではない場合には、光軸のずれがなければ
光源１２からの光束は、図４の実線に示すように流路２
５上に集光されるが、光軸がずれた場合に光源１２’か
らの光束は一点鎖線のような光路を通り、流路２５の中
心には集光されないため測定不能となる。
【００１８】必要とするサンプル液の量を少なくして、
かつ測定時の分離性能を向上するために、カートリッジ
C1の流路２５の径を狭くした場合でも、カートリッジC1
への入射光を平行光とし、集光レンズ８により流路２５
に集光させるように構成することによって、測定精度を
低下させずに、保持手段１５がカートリッジC1を保持す
る際の機械的精度により測定不能となることを防止する
ことができる。
かつ測定時の分離性能を向上するために、カートリッジ
C1の流路２５の径を狭くした場合でも、カートリッジC1
への入射光を平行光とし、集光レンズ８により流路２５
に集光させるように構成することによって、測定精度を
低下させずに、保持手段１５がカートリッジC1を保持す
る際の機械的精度により測定不能となることを防止する
ことができる。
【００１９】なお、第１の実施例では受光系１７を本体
装置１１に配置した場合を示したが、カートリッジC1の
第１基板２１に受光系を成膜し、電極を外部に取り出し
て検出を行うことも可能である。
装置１１に配置した場合を示したが、カートリッジC1の
第１基板２１に受光系を成膜し、電極を外部に取り出し
て検出を行うことも可能である。
【００２０】図５は第２の実施例の構成図であり、図１
と同一の符号は同一の部材を示している。光学系１６の
ハーフミラー１４側にはグレーティングから成る分光素
子３１が設けられ、保持手段１５にはカートリッジC2が
取り付けられるようになっている。
と同一の符号は同一の部材を示している。光学系１６の
ハーフミラー１４側にはグレーティングから成る分光素
子３１が設けられ、保持手段１５にはカートリッジC2が
取り付けられるようになっている。
【００２１】図６はカートリッジC2の斜視図、図７は流
路に沿った断面図であり、共にガラス基板である第１基
板４１、第２基板４２を接合して構成されている。第２
基板４２には注入口４３、搬出口４４が裏面まで貫通す
るように形成され、更に第１基板４１と接する面には注
入口４３と搬出口４４とを結ぶように、幅及び深さが共
に数μｍ〜数１００μｍである流路４５が形成されてい
る。また、第１基板４１には銀、アルミニウム等から成
る電極４６、４７がスパッタリングにより形成され、こ
れらの電極４６、４７はカートリッジC2の外部の電源か
ら電圧を印加することができるように、外部電極４
６’、外部電極４７’にそれぞれ接続されている。更
に、第２基板４２の光源１２からの光路上には集光レン
ズ４８が設けられている。
路に沿った断面図であり、共にガラス基板である第１基
板４１、第２基板４２を接合して構成されている。第２
基板４２には注入口４３、搬出口４４が裏面まで貫通す
るように形成され、更に第１基板４１と接する面には注
入口４３と搬出口４４とを結ぶように、幅及び深さが共
に数μｍ〜数１００μｍである流路４５が形成されてい
る。また、第１基板４１には銀、アルミニウム等から成
る電極４６、４７がスパッタリングにより形成され、こ
れらの電極４６、４７はカートリッジC2の外部の電源か
ら電圧を印加することができるように、外部電極４
６’、外部電極４７’にそれぞれ接続されている。更
に、第２基板４２の光源１２からの光路上には集光レン
ズ４８が設けられている。
【００２２】この集光レンズ４８には、イオン交換によ
り製作されたマイクロレンズ等が使用され、その製法に
ついて説明すると、先ずカリウム＋等のアルカリ酸化物
を含有するガラス基板上に金属の薄膜を蒸着法で形成
し、その上に感光性レジストを塗布する。次に、集光レ
ンズ４８を設ける部位のパターンを介して露光し、エッ
チングによりマスクが得られる。このマスクが形成され
たガラス基板を溶融塩中に浸し、マスクのパターンを通
してイオン交換を行い、ほぼ半球状のアルカリイオンの
濃度勾配が得られた時点で溶融塩から取り出し、最後に
金属薄膜のマスクを酸で溶かして除去する。
り製作されたマイクロレンズ等が使用され、その製法に
ついて説明すると、先ずカリウム＋等のアルカリ酸化物
を含有するガラス基板上に金属の薄膜を蒸着法で形成
し、その上に感光性レジストを塗布する。次に、集光レ
ンズ４８を設ける部位のパターンを介して露光し、エッ
チングによりマスクが得られる。このマスクが形成され
たガラス基板を溶融塩中に浸し、マスクのパターンを通
してイオン交換を行い、ほぼ半球状のアルカリイオンの
濃度勾配が得られた時点で溶融塩から取り出し、最後に
金属薄膜のマスクを酸で溶かして除去する。
【００２３】エッチングにより流路４５を形成する際に
は、集光レンズ４８の表面をレジスト等で扱うか、或い
は流路４５を第１基板４１上に形成し、第１基板４１、
第２基板４２を陽極接合する際に、接合面に炭酸ガスレ
ーザー光を照射して接合温度を低くすることにより、イ
オン交換により製作された集光レンズ４８に対する影響
を低減することができる。
は、集光レンズ４８の表面をレジスト等で扱うか、或い
は流路４５を第１基板４１上に形成し、第１基板４１、
第２基板４２を陽極接合する際に、接合面に炭酸ガスレ
ーザー光を照射して接合温度を低くすることにより、イ
オン交換により製作された集光レンズ４８に対する影響
を低減することができる。
【００２４】測定を行う際には、注入口４３からサンプ
ル液を注入し、外部電極４６’、外部電極４７’に電圧
を印加すると、サンプル液中の被測定物である微粒子は
帯電強度、大きさ等により異なる速度で電極４７側に移
動し、異なる時刻に被測定位置である集光レンズ４８の
下部に到達し、微粒子の種類により分離される。
ル液を注入し、外部電極４６’、外部電極４７’に電圧
を印加すると、サンプル液中の被測定物である微粒子は
帯電強度、大きさ等により異なる速度で電極４７側に移
動し、異なる時刻に被測定位置である集光レンズ４８の
下部に到達し、微粒子の種類により分離される。
【００２５】光源１２から出射された光束は第１の実施
例と同様にカートリッジC2に入射し、集光レンズ４８に
よって集光されて流路４５中のサンプル液を照射する。
このサンプル液から蛍光又は吸収された後の非吸収光が
出射されると、この光束は集光レンズ４８により再度平
行光となってハーフミラー１４により反射され、分光素
子３１により分光分離された後に光学系１６により集光
されて、受光系１７において波長成分ごとに分離された
光量が検出される。
例と同様にカートリッジC2に入射し、集光レンズ４８に
よって集光されて流路４５中のサンプル液を照射する。
このサンプル液から蛍光又は吸収された後の非吸収光が
出射されると、この光束は集光レンズ４８により再度平
行光となってハーフミラー１４により反射され、分光素
子３１により分光分離された後に光学系１６により集光
されて、受光系１７において波長成分ごとに分離された
光量が検出される。
【００２６】カートリッジC2を保持手段１５に取り付け
る際には、第１の実施例と同様に本体装置１１の光軸と
カートリッジC2の流路４５の中心軸とがずれる可能性が
ある。このようなずれが生じた場合でも、カートリッジ
C2に入射する光束が平行光であり、集光レンズ４８がこ
の平行光を流路４５上に集光するように構成されていれ
ば、光源１２からの光束は光軸のずれに影響されずに流
路４５に到達し、サンプル液からの蛍光や反射光も集光
レンズ４８を透過した後に、平行光となってカートリッ
ジC2から出射する。更に、分光素子３１、光学系１６に
おいて分光分離、光検出を行う際にも、光軸のずれに影
響を受けることは殆どない。
る際には、第１の実施例と同様に本体装置１１の光軸と
カートリッジC2の流路４５の中心軸とがずれる可能性が
ある。このようなずれが生じた場合でも、カートリッジ
C2に入射する光束が平行光であり、集光レンズ４８がこ
の平行光を流路４５上に集光するように構成されていれ
ば、光源１２からの光束は光軸のずれに影響されずに流
路４５に到達し、サンプル液からの蛍光や反射光も集光
レンズ４８を透過した後に、平行光となってカートリッ
ジC2から出射する。更に、分光素子３１、光学系１６に
おいて分光分離、光検出を行う際にも、光軸のずれに影
響を受けることは殆どない。
【００２７】図８は第３の実施例の構成図であり、本体
装置５０の下部にはレンズ等を含んだ光源５１が設けら
れ、光源５１の光路上にはミラー５２が設けられ、更に
ミラー５２の反射方向にはカートリッジC3を取り付ける
保持手段５３が設けられている。また、保持手段５３の
透過方向には光学系５４を介してアレイ型受光素子から
成る受光系５５が設けられている。
装置５０の下部にはレンズ等を含んだ光源５１が設けら
れ、光源５１の光路上にはミラー５２が設けられ、更に
ミラー５２の反射方向にはカートリッジC3を取り付ける
保持手段５３が設けられている。また、保持手段５３の
透過方向には光学系５４を介してアレイ型受光素子から
成る受光系５５が設けられている。
【００２８】カートリッジC3は第２の実施例におけるカ
ートリッジC2とほぼ同一であるが、集光レンズ４８の代
りに屈折率分布型レンズ６１及びグレーティングやプリ
ズム等の分光素子６２が設けられている。なお、屈折率
分布型レンズ６１及び分光素子６２に関しては集光機能
と分光機能とを兼ねたゾーンプレートに置き換えてもよ
い。
ートリッジC2とほぼ同一であるが、集光レンズ４８の代
りに屈折率分布型レンズ６１及びグレーティングやプリ
ズム等の分光素子６２が設けられている。なお、屈折率
分布型レンズ６１及び分光素子６２に関しては集光機能
と分光機能とを兼ねたゾーンプレートに置き換えてもよ
い。
【００２９】光源５１からの光束はミラー５２によって
反射され、カートリッジC3内のサンプル液に対して下方
から照射する。サンプル液から出射される蛍光は屈折率
分布型レンズ６１により平行光となり、分光素子６２に
より分光されて受光系５５で各波長成分ごとに受光され
る。
反射され、カートリッジC3内のサンプル液に対して下方
から照射する。サンプル液から出射される蛍光は屈折率
分布型レンズ６１により平行光となり、分光素子６２に
より分光されて受光系５５で各波長成分ごとに受光され
る。
【００３０】このようにして、カートリッジC3に入射す
る光束を平行光とすることにより、カートリッジC3を取
り付けた際の光軸のずれに影響されずに測定を行うこと
ができる。
る光束を平行光とすることにより、カートリッジC3を取
り付けた際の光軸のずれに影響されずに測定を行うこと
ができる。
【００３１】なお、第２、第３の実施例において、カー
トリッジC2、C3の表面に集光レンズを設けずに、広い面
積に均一強度分布の光を入射させ、光束の一部が流路に
入射するように構成することも可能である。また、この
場合に搬出口４４を設けずにカートリッジC2、C3内に蓄
液スペースを設け、検査後のサンプル液が外に漏れない
ようにすることもできる。
トリッジC2、C3の表面に集光レンズを設けずに、広い面
積に均一強度分布の光を入射させ、光束の一部が流路に
入射するように構成することも可能である。また、この
場合に搬出口４４を設けずにカートリッジC2、C3内に蓄
液スペースを設け、検査後のサンプル液が外に漏れない
ようにすることもできる。
【００３２】更に、本発明は液体に限らず気体の分離測
定を行うガスクロマトグラフィにも適用が可能であるこ
とは勿論である。
定を行うガスクロマトグラフィにも適用が可能であるこ
とは勿論である。
【００３３】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る流体検
査装置は、サンプル液を微小径の流路を有する着脱可能
なカートリッジ内に注入し、カートリッジ内のサンプル
液から得られる光を受光して測定を行うことにより、光
学測定の測定精度を低下させずに、キャピラリ内を毎回
洗浄する手間を省略し、多数種類のサンプル液を連続し
て測定することができる。
査装置は、サンプル液を微小径の流路を有する着脱可能
なカートリッジ内に注入し、カートリッジ内のサンプル
液から得られる光を受光して測定を行うことにより、光
学測定の測定精度を低下させずに、キャピラリ内を毎回
洗浄する手間を省略し、多数種類のサンプル液を連続し
て測定することができる。
【図１】第１の実施例の構成図である。
【図２】カートリッジの断面図である。
【図３】カートリッジに平行光を入射した際の説明図で
ある。
ある。
【図４】カートリッジに非平行光を入射した際の説明図
である。
である。
【図５】第２の実施例の構成図である。
【図６】カートリッジの斜視図である。
【図７】カートリッジの断面図である。
【図８】第３の実施例の構成図である。
【図９】従来の液体クロマトグラフィ装置の構成図であ
る。
る。
１１、５０ 本体装置 １２、５１ 光源 １３、１６、５４ 光学系 １４ ハーフミラー １５、５３ 保持手段 １７、５５ 受光系 ２１、４１ 第１基板 ２２、４２ 第２基板 ２３、４３ 注入口 ２４、４４ 搬出口 ２５、４５ 流路 ２６、４８ 集光レンズ ３１ 分光素子 ４６、４７ 電極 ６１ 屈折率分布型レンズ ６２ 分光素子 C1、C2、C3 カートリッジ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 八木 隆行 東京都大田区下丸子３丁目30番２号 キ ャノン株式会社内 (56)参考文献 特開 昭53−8195（ＪＰ，Ａ) 実開 昭58−195860（ＪＰ，Ｕ) 特表 平２−500298（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/00 - 21/83 G01N 30/74 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (4)
- 【請求項１】 測定用サンプル液を流通する流路と、本
体装置から出射された平行光を前記流路の一部に集光す
る第１の光学系と測定用サンプル液から出射された光束
を平行光に変換する第２の光学系の少なくとも一方とを
有するカートリッジを用いる流体検査装置であって、前
記カートリッジを着脱可能に保持する保持手段と、前記
カートリッジを経た光束を受光する光検出手段と、光源
から出射された光束を平行光に変換する第３の光学系と
前記カートリッジから出射された平行光を前記光検出手
段に集光する第４の光学系の少なくとも一方を有する本
体装置とを備えたことを特徴とする流体検査装置。 - 【請求項２】 前記カートリッジには測定用サンプル液
を注入する注入口と搬出口を設け、前記流路は前記注入
口と前記搬出口とを結ぶように形成し、前記流路の一部
の上方又は下方に前記第１及び第２の光学系の少なくと
も一方を設けた請求項１に記載の流体検査装置。 - 【請求項３】 前記カートリッジは分光素子を備えた請
求項１に記載の流体検査装置。 - 【請求項４】 前記第４の光学系内に分光素子を設けた
請求項１に記載の流体検査装置。
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|---|---|---|---|
| JP18200693A JP3176770B2 (ja) | 1993-06-28 | 1993-06-28 | 流体検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18200693A JP3176770B2 (ja) | 1993-06-28 | 1993-06-28 | 流体検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0783900A JPH0783900A (ja) | 1995-03-31 |
| JP3176770B2 true JP3176770B2 (ja) | 2001-06-18 |
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ID=16110681
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18200693A Expired - Fee Related JP3176770B2 (ja) | 1993-06-28 | 1993-06-28 | 流体検査装置 |
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| Country | Link |
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| JP (1) | JP3176770B2 (ja) |
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| CN107907582B (zh) * | 2017-10-27 | 2021-01-26 | 广东顺德工业设计研究院(广东顺德创新设计研究院) | 微流控电泳装置的光学检测*** |
-
1993
- 1993-06-28 JP JP18200693A patent/JP3176770B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JPH0783900A (ja) | 1995-03-31 |
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