JP3166627B2 - 材料試験機 - Google Patents
材料試験機Info
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Description
荷したり繰り返し負荷して、供試体の強度特性を評価す
る材料試験機に関する。
加えて、供試体の疲労試験を行う材料試験機が知られて
いる。このような材料試験機は、基台上に立設された複
数の支柱の上端にヨークを横架するとともに、上下移動
可能な可動ヨークを取り付けて構成される。基台には例
えば電磁式のアクチュエータが設けられ、このアクチュ
エータと可動ヨークとに供試体を把持する治具を取り付
けて供試体を把持し、そして、アクチュエータを任意の
試験波形により振動するように制御し、供試体に変位や
荷重を0.1〜100Hz程度の周波数により繰り返し
付与することにより、供試体の疲労特性を測定するもの
である。
たような電磁式のアクチュエータを備えた材料試験機に
おいては、アクチュエータの駆動範囲が10mm以下と
小さく、例えばゴム、素線などの伸びが比較的大きい供
試体の試験を行うと、供試体の伸びの範囲がアクチュエ
ータの駆動範囲と比較して大きいため、供試体の材料特
性を測定することができない。また、基台にねじ棹を回
転可能に立設するとともにねじ棹と可動ヨークとを螺合
し、ねじ棹を回転させることにより可動ヨークを駆動し
て供試体を静的に試験する材料試験機も知られている
が、上述したような微小変位、微小荷重の動的試験は困
難である。
た材料試験機により長さが異なる供試体を試験する場
合、上下把持間距離を変更する必要がある。このため、
従来は手動で可動ヨークを昇降させて上つかみ具の位置
を調整するようにしている。しかしながら、手動により
可動ヨークを上下動させることはその位置合わせを正確
に行うことが困難であり、大変煩わしいものである。
リニアベアリングにより支持すると、支持抵抗による計
測誤差が大きいという問題もある。
る動的または静的な試験とそれより大きい変位による静
的試験の双方を行うことができる材料試験機を提供する
ことにある。
〜図4を参照して説明すると、請求項1の発明は、基台
2,4と、基台2,4に立設された複数の支柱5A〜5
Cと、基台2,4に立設されたねじ棹6と、ねじ棹6に
螺合されるとともに、各支柱5A〜5Cに上下動可能に
横架された可動ヨーク8と、小荷重小ストロークで供試
体Tを負荷する電磁式負荷手段9と、ねじ棹6を回転さ
せて可動ヨーク8を上下動させることにより、電磁式負
荷手段に比べて大荷重大ストロークで供試体Tを負荷す
るねじ式負荷手段10と、電磁式負荷手段9の変位を検
出する第1の変位検出部21と、電磁式負荷手段9によ
る供試体Tへの負荷を検出する第1の荷重検出部19
と、第1の変位検出部21および第1の荷重検出部19
のいずれか一方と第1の設定信号とに基づいて電磁式負
荷手段9を制御する第1の制御部37,41と、ねじ式
負荷手段10の変位を検出する第2の変位検出部11
と、ねじ式負荷手段10による供試体Tへの負荷を検出
する第2の荷重検出部19と、第2の変位検出部11お
よび第2の荷重検出部19のいずれか一方と第2の設定
信号とに基づいてねじ式負荷手段10の負荷を制御する
第2の制御部36,40とを備え、第1の制御部と前記
第2の制御部とをともに動作させて供試体Tを負荷する
ように構成したことを特徴とする。
部21により電磁式負荷手段9の変位が、第1の荷重検
出部19により電磁式負荷手段9による供試体Tへの負
荷が検出され、この検出結果のいずれか一方と第1の設
定信号とに基づいて第1の制御部37,41が電磁式負
荷手段9を制御する。また、第2の変位検出部11によ
りねじ式負荷手段10の変位が、第2の荷重検出部19
によりねじ式負荷手段10の供試体Tへの負荷が検出さ
れ、この検出結果のいずれか一方と第2の設定信号とに
基づいて第2の制御部36,40がねじ式負荷手段10
を制御する。第1の制御部37,41による電磁式負荷
手段9の制御と、第2の制御部36,40によるねじ式
負荷手段10の制御が並行して行われる。
において、第1の制御部と第2の制御部とをともに動作
させて供試体を負荷するとき、第1の設定信号は第1の
変位検出部の検出信号が変位ゼロを維持するような信号
であることを特徴とする。
解決するための手段の項では、本発明を分かり易くする
ために発明の実施の形態の図を用いたが、これにより本
発明が実施の形態に限定されるものではない。
の形態について説明する。図1は本発明の実施の形態に
係る材料試験機の構成を示す斜視図、図2はその側面断
面図である。図1および図2に示すように、試験機本体
1は、基台2と、基台2に立設された4本の支柱3A〜
3D上に載置された負荷台4と、負荷台4上に立設され
た3本の支柱5A〜5Cと、基台2に回転可能に立設さ
れたねじ棹6と、3本の支柱5A〜5Dおよびねじ棹6
の上端に横架されたヨーク7と、3本の支柱5A〜5C
に上下動可能に取り付けられ、かつねじ棹6に螺合され
た可動ヨーク8と、基台2上に載置された電磁式アクチ
ュエータ9と、ねじ棹6を回転駆動するサーボモータ1
0と、ねじ棹6の上端に取り付けられてねじ棹6の回転
数を検出するエンコーダ11と、電磁式アクチュエータ
9に取り付けられてその変位を検出する変位計21とを
備えてなる。可動ヨーク8にはチャック20A〜20C
(チャック20Cは不図示)が設けられており、このチ
ャック20A〜20Cにより可動ヨーク8と支柱5A〜
5Cとの固定および固定解除がなされる。すなわち、チ
ャック20A〜20Cを締めることにより可動ヨーク8
は支柱5A〜5Cと固定され、チャック20A〜20C
を弛めることにより可動ヨーク8は支柱5A〜5Cに対
して上下方向に移動可能とされる。
9には、コイル9Aと磁石9Bとが設けられており、コ
イル9Aに交流電流を流すことにより出力軸13を駆動
して電磁式アクチュエータ9を駆動することができる。
電磁式アクチュエータ9の出力軸13には継手13Aを
介して負荷軸12が取り付けられており、負荷軸12の
上端は負荷台4に設けられた板ばね14(図3参照)を
貫通して負荷台4の上方へ突出している。また、出力軸
13の下端は基台2に設けられた板ばね(不図示)を貫
通している。
に形成された凹部4A内に収容されたリング状保持第4
B上にねじ4Cにより取り付けられている。板ばね14
の中央部には負荷軸12が貫通する支持孔14Aが形成
され、さらに支持孔14Aの周囲にホルダ15が設けら
れており、このホルダ15と負荷軸12とがねじ16に
より固定される。また、支持孔14Aの周囲には複数の
溝孔部14Bが同心円状に形成されている。板ばね14
はこのように形成されることにより、負荷軸12を保持
しつつ、負荷軸12の長軸方向に所定の付勢力により揺
動し、かつ負荷軸12の長軸に直交する方向にもある程
度変位することが可能である。支持孔14Aおよび溝孔
部14Bはエッチングやワイヤカットによって形成され
る。なお、出力軸13の下端も負荷軸12の上端と同様
に板ばねにより支持される。このようにして、負荷軸1
2および出力軸13を板ばね14によって支持すること
により、負荷軸12および出力軸13をリニア軸受によ
り支持するものと比較して、その摺動抵抗を低減するこ
とができ、供試体Tに対して微小な荷重を正確に付与す
ることができる。
下治具17が取り付けられ、可動ヨーク8にはロードセ
ル19を介して上治具18が取り付けられる。そして、
下治具17および上治具18により供試体Tが把持され
る。
機の駆動を制御する制御回路の構成を示す図である。図
4に示すように、制御回路30は、サーボモータ10の
回転を制御するサーボアンプ31と、エンコーダ11に
接続されたヨーク移動量アンプ32と、ロードセル19
に接続された荷重アンプ33と、出力軸13の変位を検
出する変位計21に接続された変位アンプ34と、電磁
式アクチュエータ9に接続されたパワーアンプ35と、
サーボモータ10を駆動するための制御信号を出力する
信号出力部36と、電磁式アクチュエータ9を駆動する
ための制御信号を出力する信号出力部37と、サーボモ
ータ10の駆動を荷重による制御または変位による制御
に切り換えるための切換スイッチ38と、電磁式アクチ
ュエータ9の駆動を荷重による制御または変位による制
御に切り換えるための切換スイッチ39と、信号出力部
36から出力された制御信号と移動量アンプ32または
荷重アンプ33から出力された検出信号との差を算出す
る差分器40と、信号出力部37から出力された制御信
号と変位アンプ34または荷重アンプ33から出力され
た検出信号との差を算出する差分器41とからなる。ま
た、サーボアンプ31には後述するように可動ヨーク8
を上下動させるための切換スイッチ31Aが接続されて
いる。
する。本実施の形態においては、供試体Tの荷重平均値
Fmを正の値として正方向にのみ振幅Faにより繰り返
し荷重を付与する引張片振り試験を、供試体Tに作用す
る荷重を制御しつつ行うものとする。まず、切換スイッ
チ31Aをオンとして、可動ヨーク8を供試体Tの長さ
に応じて上下に移動させ、可動ヨーク8が所望とする位
置に到達した後、切換スイッチ31Aをオフとし、供試
体Tを下治具17および上治具18に取り付ける。その
後、切換スイッチ38をb側に切り換え、信号出力部3
6より所定の引張荷重Fmを供試体Tに付与するように
信号を出力する。これにより、サーボモータ10を駆動
してねじ棹6を回転させ、可動ヨーク8を上方へ移動す
る。この際、出力軸13および負荷軸12が上方へ移動
すると、供試体Tに所望とする荷重を付与することがで
きないため、変位計21により検出される信号が0とな
るようにパワーアンプ35から電磁式アクチュエータ9
に信号が入力され、出力軸13および負荷軸12の変位
が0とされる。したがって、供試体Tは上方へ引っ張ら
れ、これにより、供試体Tに引張荷重が作用する。そし
て、供試体Tに作用する引張荷重をロードセル19によ
り検出し、その検出信号が荷重アンプ33を経て差分器
40に入力される。差分器40においては、信号出力部
36から出力される信号と、荷重アンプ33から出力さ
れる信号との差分値が算出される。そして、この差分値
が0となった時点で、信号出力部36は信号の出力を停
止する。これにより、供試体Tには荷重平均値Fmが負
荷される。
え、信号出力部37から図5に示すような正弦波信号を
出力する。これにより、パワーアンプ35が電磁式アク
チュエータ9を駆動して出力軸13および負荷軸12を
上下方向に繰り返し移動し、供試体Tに図5に示す正弦
波信号に適合する繰り返し荷重を付与する。そして、供
試体Tに作用する繰り返し荷重をロードセル19により
検出し、その検出信号が荷重アンプ33を経て差分器4
1に入力される。差分器41においては、信号出力部3
7から出力される信号と、荷重アンプ33から出力され
る信号との差分値が算出される。差分器41は、この差
分値が0となるように信号出力部36から出力される正
弦波信号を補正してパワーアンプ35に入力する制御を
行う。これにより、供試体Tには信号出力部36から出
力される正弦波信号に適合した繰り返し荷重が付与され
て疲労試験が行われることとなる。
動される負荷軸12および出力軸13は上述した板ばね
14により支持されているため、リニア軸受によりこれ
らの出力軸13および負荷軸12を支持するものと比較
して、移動時の摩擦抵抗が抑制されるため、供試体Tに
繰り返し荷重を正確に付与することができる。
により供試体Tに荷重を付与すると、供試体Tに引張力
あるいは圧縮力が作用するため、負荷軸12および出力
軸13が上下方向に移動してしまう。このため、負荷軸
12および出力軸13を移動させないようにするため
に、切換スイッチ39をb側に切り換えるとともに、信
号出力部37より出力軸13および負荷軸12の変位を
一定とする信号を出力する。そして、試験中において、
負荷軸12および出力軸13の変位を変位計21により
検出し、その検出信号を変位アンプ34に入力する。変
位アンプ34は入力された信号を差分器41に出力す
る。差分器41においては、変位アンプ34から出力さ
れた信号と、信号出力部37から出力された図6に示す
ような変位を表す信号との差分値を算出し、信号出力部
37に入力する。信号出力部37は入力された差分値が
0となるように電磁式アクチュエータ9を駆動させる信
号をパワーアンプ35に出力し、これにより電磁式アク
チュエータ9は出力軸13および負荷軸12の変位が0
となるように出力軸13および負荷軸12を駆動する。
この結果、サーボモータ10を駆動して供試体Tに荷重
を付与する場合であっても、可動ヨーク8の往復移動に
対応して出力軸13および負荷軸12が移動することが
無くなるため、供試体Tに正確に荷重を付与することが
できる。
Tに作用する荷重を制御しつつ試験を行うようにしてい
るが、供試体Tの変位を制御しつつ試験を行うようにし
てもよい。すなわち、切換スイッチ39をb側に切り換
えて、試験中の負荷軸12の変位を変位計21により検
出し、その検出信号を変位アンプ34に入力する。変位
アンプ34は入力された信号を差分器41に出力する。
差分器41においては、変位アンプ34から出力された
信号と、信号出力部37から出力された図7に示すよう
な変位を表す正弦波信号との差分値を算出し、パワーア
ンプ35に入力する。パワーアンプ35は入力された差
分値が0となるように電磁式アクチュエータ9を駆動す
る信号を出力し、電磁式アクチュエータ9は出力軸13
および負荷軸12の変位が図7に示す正弦波信号に適合
するように出力軸13および負荷軸12を駆動する。こ
れにより、供試体Tの変位を制御しつつ供試体Tの疲労
試験を行うことができる。
行う場合には、切換スイッチ38をa側に切り換え、エ
ンコーダ11により可動ヨーク8の変位を検出し、その
検出信号を移動量アンプ32に入力する。移動量アンプ
32は入力された信号を差分器40に入力する。差分器
40においては、移動量アンプ32から出力された信号
と、信号出力部36から出力された図7に示すような変
位を表す信号との差分値を算出し、サーボアンプ31に
入力する。サーボアンプ31は入力された差分値が0と
なるようにサーボモータ10を駆動させる信号を出力
し、サーボモータ10は可動ヨーク8の変位が信号に適
合するようにねじ棹6を回転して可動ヨーク8を駆動す
る。これにより、供試体Tの変位を制御しつつ供試体T
の静的試験を行うことができる。
38,39を適宜切り換える操作をCPUなどからの指
令により自動的に行うこともできる。この場合、荷重平
均値や変位平均値が電磁アクチュエータ9の使用範囲外
であることをCPUが判断すると、上述した手順を自動
的に実行するようにプログラムすればよい。
軸12の上端および出力軸13の下端を板ばね14によ
って支持しているが、板ばね14の弾性域を越えるよう
なストロークにより供試体Tを移動させると、板ばね1
4が変形してしまい、繰り返し荷重を正確に付与するこ
とができない。この場合は、例えば、図8に示すよう
に、板ばね14の中心部にメタルブッシュ45A,45
Bと、メタルブッシュ45A,45Bを保持するホルダ
46A,46Bとを設け、メタルブッシュ45A,45
Bと負荷軸12および出力軸13とを嵌合させて、負荷
軸12および出力軸13を支持するようにしてもよい。
ここで、メタルブッシュ45A,45Bと負荷軸12お
よび出力軸13との間にはある程度の摺動抵抗が存在す
るため、板ばね14の弾性域内のストロークによっては
負荷軸12および出力軸13は摺動せず、板ばね14の
たわみのみにより往復移動する。一方、板ばね14の弾
性域を越えるようなストロークにより供試体Tを移動さ
せると、負荷軸12および出力軸13はメタルブッシュ
45A,45B内を摺動しながら往復移動する。これに
より、板ばね14の弾性域を越えるストロークにより供
試体Tを負荷しても、板ばね14が変形することが無く
なり、供試体Tに繰り返し荷重を正確に付与することが
できる。
て、電磁式アクチュエータ9が電磁式負荷手段を、サー
ボモータ10がねじ式負荷手段を、変位計21が第1の
変位検出部を、ロードセル19が第1および第2の荷重
検出部を、信号出力部37および差分器41が第1の制
御部を、エンコーダ11が第2の変位検出部を、信号出
力部36および差分器40が第2の制御部を構成する。
また、信号出力部36からの制御信号が第2の設定信号
に、信号出力部37からの制御信号が第1の設定信号に
対応する。
発明によれば、第1の制御部による電磁式負荷手段の制
御と第2の制御部によるねじ式負荷手段の制御とを個別
に併用するようにしたので、電磁式負荷手段とねじ式負
荷手段を併用した材料試験器であっても供試体への負荷
の設定を容易に行うことができる。
示す斜視図
示す側面断面図
を示す図
Claims (2)
- 【請求項1】 基台と、 前記基台に立設された複数の支柱と、 前記基台に立設されたねじ棹と、 前記ねじ棹に螺合されるとともに、前記各支柱に上下動
可能に横架された可動ヨークと、 小荷重小ストロークで供試体を負荷する電磁式負荷手段
と、 前記ねじ棹を回転させて前記可動ヨークを上下動させる
ことにより、前記電磁式負荷手段に比べて大荷重大スト
ロークで前記供試体を負荷するねじ式負荷手段と、 前記電磁式負荷手段の変位を検出する第1の変位検出部
と、 該電磁式負荷手段による前記供試体への負荷を検出する
第1の荷重検出部と、 前記第1の変位検出部および前記第1の荷重検出部によ
る検出結果のいずれか一方と第1の設定信号とに基づい
て前記電磁式負荷手段を制御する第1の制御部と、 前記ねじ式負荷手段の変位を検出する第2の変位検出部
と、 前記ねじ式負荷手段による前記供試体への負荷を検出す
る第2の荷重検出部と、 前記第2の変位検出部および前記第2の荷重検出部によ
る検出結果のいずれか一方と第2の設定信号とに基づい
て前記ねじ式負荷手段を制御する第2の制御部とを備
え、 前記第1の制御部と前記第2の制御部とをともに動作さ
せて前記供試体を負荷するように構成したことを特徴と
する材料試験機。 - 【請求項2】請求項1の材料試験機において、 前記第1の制御部と前記第2の制御部とをともに動作さ
せて前記供試体を負荷するとき、前記第1の設定信号は
前記第1の変位検出部の検出信号が変位ゼロを維持する
ような信号であることを特徴とする材料試験機。
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JP21467796A Expired - Fee Related JP3166627B2 (ja) | 1996-08-14 | 1996-08-14 | 材料試験機 |
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