JP3153447B2 - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JP3153447B2 JP23177595A JP23177595A JP3153447B2 JP 3153447 B2 JP3153447 B2 JP 3153447B2 JP 23177595 A JP23177595 A JP 23177595A JP 23177595 A JP23177595 A JP 23177595A JP 3153447 B2 JP3153447 B2 JP 3153447B2
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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばマスクRO
MやスタティクRAMなど、各ビット線を介してデータ
の読み出しを行う半導体記憶装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体記憶装置の中でもマスクR
OMやスタティクRAMの処理動作は、入力されたアド
レスに対応するワード線の立ち上げ動作と平行して、入
力アドレスに対応するビット線のプリチャージ、イコラ
イズ動作を実行している。この方式では、電源電圧が低
くなるにつれて、ワード線の立ち上げ動作に要する時間
よりも、ビット線のプリチャージ動作に要する時間の方
が長くなり、ビット線のプリチャージ動作時間の遅延が
アクセスタイム遅延の大きな要因になっていた。また、
近年、通常のプリチャージ動作(プリチャージ回路によ
るビット線プリチャージ動作)と並行してビット線の反
対側(プリチャージ回路にてレベルがビット線に供拾さ
れる側と反対例)からプリチャージレベルを供給し、プ
リチャージ時間の短縮化を図るメモリも見られるように
なった。これは、特開平2−12694号公報に示され
ている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来の
マスクROMやスタティクRAMなどの半導体記憶装置
では、ワード線の立ち上げ動作と平行して、ビット線の
プリチャージ、イコライズ動作を実行しているために、
電源電圧が低くなるにつれて、ビット線のプリチャージ
動作時間の遅延がアクセスタイム遅延の大きな要因にな
っていた。
【0004】また、上記したように、ビット線の反対側
から全てのビット線をプリチャージしておき、そのプリ
チャージ時間の短縮を図る手法があるが、この手法で
は、例えばマスクROMの場合には、アドレスがインク
リメントされた場合など、前のサイクルにて近傍のRO
Mセルがアクセスされており、近傍のROMデータがO
NTrの場合には、前のサイクルのバーチャルGND線
によってアクセスすべきビット線が引かれアクセス遅延
を起こす場合が存在する。この場合に最もメモリセルの
アクセスが遅くなる。
【0005】本発明は、上記従来の問題を解決するもの
で、電源立ち上げ時、記憶保持状態時および通常読み出
し動作時に、ビット線のプリチャージ動作をすること
で、プリチャージ動作の時間短縮を図って、読み出し動
作時間の短縮化を図ることができる半導体記憶装置を提
供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体記憶装置
は、メモリセルアレイに接続される各ビット線を介して
該メモリセルアレイに保持された任意アドレスのデータ
の読み出しを行う半導体記憶装置において、電源の立ち
上がり後直ちに、該各ビット線をスキャンして、全ての
該各ビット線のプリチャージ動作を実行するように制御
する第1プリチャージ動作制御回路と、あるアドレスに
対応するコラム列が選択され、アクセスされている期間
に、その他の全てのコラム列に対応するビット線のプリ
チャージ動作を行い、また、該メモリセルアレイが記憶
保持状態にあるときに、全ての該各ビット線のプリチャ
ージ動作を行い、さらに、該アクセスすべきバーチャル
GND線以外のバーチャルGND線にプリチャージレベ
ルの供給を行うように制御する第2プリチャージ動作制
御回路とを備えたものであり、そのことにより上記目的
が達成される。
【0007】また、好ましくは、本発明の半導体記憶装
置における第1プリチャージ動作制御回路に、電源の立
ち上がり後直ちに、発振信号を出力するリングオシレー
タなどの発振手段と、該発振信号を分周する分周手段
と、該分周されたクロックに基づいてプリチャージ用ア
ドレス信号を作成する5ビットアップカウンタなどのプ
リチャージ用アドレス信号作成手段と、該プリチャージ
用アドレス信号をデコードしてコラム列を選択するプリ
チャージ用コラムアドレス信号を作成するセレクタ群よ
りなるセレクタ手段と、該プリチャージ用コラムアドレ
ス信号に基づいて前記各ビット線をプリチャージするプ
リチャージ手段とを設ける。さらに、好ましくは、これ
に加えて、電源の立ち上がり時から、全ビット線のプリ
チャージが完了するまでの期間を検出して該プリチャー
ジ手段による全ビット線のプリチャージ動作を終了させ
るように制御する検出制御手段を設ける。
【0008】さらに、好ましくは、本発明の半導体記憶
装置における第2プリチャージ動作制御回路に、あるア
ドレスに対応するコラム列が選択され、アクセスされて
いる期間に、その他の全てのコラム列を選択するセレク
タ手段と、該その他の全てのコラム列に対応した、選択
される全ての各ビット線をプリチャージするプリチャー
ジ手段とを設ける。
【0009】さらに、好ましくは、本発明の半導体記憶
装置における第2プリチャージ動作制御回路に、メモリ
セルアレイが記憶保持状態にあるときに、該記憶保持状
態を示す信号に基づいて全てのコラム列を選択するセレ
クタ手段と、選択された該全コラム列に対応した全ビッ
ト線のプリチャージを行うプリチャージ手段とを設け
る。
【0010】さらに、好ましくは、本発明の半導体記憶
装置における第2プリチャージ動作制御回路に、メモリ
セルアレイのアクセスされるバーチャルGND線以外の
バーチャルGND線に対してはプリチャージレベルを供
給し、アクセスすべきバーチャルGND線に対してはプ
リチャージレベルの供給を止めるバーチャルGND線選
択回路を設ける。
【0011】上記構成により、以下、その作用について
説明する。
【0012】まず、第1プリチャージ動作制御回路によ
って、電源の立ち上がり時に、各ビット線をスキャンさ
せることによって、全てのビット線をプリチャージさ
せ、電源立ち上がり時の1回目のアクセス時において
も、ビット線のプリチャージが完了して、ビット線がプ
リチャージレベルにあるために、入力アドレスに対応す
るワード線立ち上がり動作完了時に、直ちにビット線セ
ンス動作が実行できるため、大幅な読み出し動作時間
(アクセスタイム)の短縮化が図られる。
【0013】また、あるアドレスに対応するコラム列が
選択され、アクセスされる期間に、その他の全てのコラ
ム列に対応するビット線をプリチャージする第2プリチ
ャージ動作制御回路を、データを格納しているメモリセ
ルアレイの反対側に配置することにより、常時ビット線
がプリチャージレベルを保持することができるために、
入力アドレスに対応するワード線立ち上がり動作完了時
に、直ちにビット線センス動作が実行できるため、大幅
なアクセスタイムの短縮化が図られる。
【0014】さらに、この記憶保持状態(スタンバイ
時)にあるときにも、第2プリチャージ動作制御回路に
より全ビット線のプリチャージを行うことによって、全
ビット線のプリチャージレベルを保持しているために、
保持状態が終了した後の、最初のアクセス時において
も、入力アドレスに対応するワード線立ち上がり動作完
了時に、直ちにビット線センス動作が実行できるため、
大幅なアクセスタイムの短縮化が図られる。
【0015】さらには、従来、アドレスがインクリメン
トされた場合など、前のサイクルにて近傍のROMセル
がアクセスされており、近傍のROMデータがONTr
の場合には、前のサイクルのバーチャルGND線によっ
てアクセスすべきビット線が引かれアクセス遅延が発生
していたが、アクセスされるバーチャルGND線以外の
バーチャルGND線に対してプリチャージレベルを供給
し、アクセスすべきバーチャルGND線に対してはプリ
チャージレベルの供給を止めるように制御することによ
り、上記のようなアクセス遅延は防止されて大幅なアク
セスタイムの改善が図られる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
説明する。
【0017】図1は本発明の一実施形態における半導体
記憶装置の構成を示すブロック図である。
【0018】図1において、アドレスバッファ1はアド
レスデコーダ2を介してコラム列セレクタ3と周辺コラ
ム列セレクタ4に接続されている。また、アドレスバッ
ファ1が接続されるアドレス遷移検出回路5はタイミン
グジェネレータ6に接続されており、このタイミングジ
ェネレータ6はプリチャージ回路7とセンスアンプ8に
接続されている。
【0019】また、発振手段としてのリングオシレータ
9は、電源の立ち上がり後直ちに、発振信号を出力す
る。このリングオシレータ9が接続される分周器10
は、リングオシレータ9からの発振信号を分周する。こ
の分周器10が接続されるプリチャージ用アドレス信号
作成手段としての5ビットアップカウンタ11は、分周
器10で分周されたクロックに基づいてプリチャージ用
アドレス信号を作成する。この5ビットアップカウンタ
11が接続されるセレクタ手段としてのコラム列セレク
タ3は、このプリチャージ用アドレス信号をデコードし
てコラム列を選択するプリチャージ用コラムアドレス信
号を作成する。また、プリチャージ回路7はメモリセル
アレイ12に接続されており、コラム列セレクタ3で作
成されたプリチャージ用コラムアドレス信号に基づいて
各ビット線をプリチャージする。さらに、パワーオンプ
リチャージ(POP)検出回路13は分周器10および
5ビットアップカウンタ11に接続されており、分周器
10および5ビットアップカウンタ11にパワーオンプ
リチャージ信号(POP信号)を出力する。また、パワ
ーオンプリチャージ(POP)検出回路13はコラム列
セレクタ3に接続されており、コラム列セレクタ3にパ
ワーオンプリチャージバー信号(/POP信号)を出力
する。以上のリングオシレータ9、分周器10、5ビッ
トアップカウンタ11、コラム列セレクタ3、プリチャ
ージ回路7およびパワーオンプリチャージ(POP)検
出回路13により第1プリチャージ動作制御回路が構成
され、電源の立ち上がり後直ちに、各ビット線をスキャ
ンして、全ての各ビット線のプリチャージ動作を実行す
るように制御する。
【0020】さらに、周辺プリチャージ回路列14はメ
モリセルアレイ12に接続されており、周辺コラム列セ
レクタ4で作成されたプリチャージ用コラムアドレス信
号に基づいて反対側の各ビット線をプリチャージする。
また、パワーオンプリチャージ(POP)検出回路13
は周辺コラム列セレクタ4に接続されており、周辺コラ
ム列セレクタ4にパワーオンプリチャージバー信号(/
POP信号)を出力する。以上の周辺プリチャージ回路
列14および周辺コラム列セレクタ4により第2プリチ
ャージ動作制御回路が構成され、あるアドレスに対応す
るコラム列が選択され、アクセスされている期間に、そ
の他の全てのコラム列に対応するビット線のプリチャー
ジ動作を行い、また、メモリセルアレイ12が記憶保持
状態にあるときに、全ての各ビット線のプリチャージ動
作を行い、さらに、アクセスすべきバーチャルGND線
以外のバーチャルGND線にプリチャージレベルの供給
を行うように制御する。
【0021】さらには、このメモリセルアレイ12に
は、センスアンプ8が接続されており、このセンスアン
プ8の出力端には出力バッファ15さらに出力パッド1
6が接続され、メモリセルアレイ12に接続される各ビ
ット線、センスアンプ8、出力バッファ15さらに出力
パッド16を介して、メモリセルアレイ12に保持され
た任意アドレスのデータが読み出される。以上により、
本実施形態の半導体記憶装置としてのマスクROMが構
成される。
【0022】ここで、以上のコラム列セレクタ3、パワ
ーオンプリチャージ(POP)検出回路13、周辺コラ
ム列セレクタ4および周辺プリチャージ回路14につい
て、以下にさらに詳しく説明する。
【0023】図2は、図1のコラム列セレクタ3から出
力されるコラム列選択信号Csel−0〜15と周辺コ
ラム列セレクタ4から出力される周辺コラム列選択信号
PCsel−0〜15との関係を示すブロック図であ
り、図3は、図1のコラム列セレクタ3の回路図であ
る。
【0024】このコラム列セレクタ3は、5ビットアッ
プカウンタ11によって作成された電源投入時のプリチ
ャージ用アドレス信号におけるコラム列選択用アドレス
A4a’〜A8a’をデコードしてCA0’〜3’、C
B0’〜3’信号を作成する。また、通常のノーマルア
クセス時のアドレスA4a〜A7aをデコードしてCA
0’〜3,CB0’〜3の信号を作成する。次に、パワ
ーオンプリチャージバー信号(/POP信号)を基にし
て、電源立ち上げ時のプリチャージか否かを識別して、
アドレスの選択を行い、コラム列選択信号Csel−0
〜15を作成する。つまり、電源投入時は、CA0’〜
3’、CB0’〜3’の信号を選択してプリチャージ用
コラムアドレス信号であるコラム列選択信号Csel−
0〜15を作成し、通常のノーマルアクセス時にはCA
0〜3,CB0〜3の信号を選択してコラム列選択信号
Csel−0〜15を作成する。
【0025】図4は図1のパワーオンプリチャージ(P
OP)検出回路13の回路図である。
【0026】このパワーオンプリチャージ(POP)検
出回路13は、まず、電源電圧立ち上がり検出回路13
aにて、電源の立ち上がりを検出して、その検出信号
(ACL信号)を出力する。このACL信号にて、パワ
ーオンプリチャージ信号(POP)をHレベルにする。
このPOP信号がHレベルとなることにより、分周器1
0および5ビットアップカウンタ11のリセット信号が
解除されて、分周器10および5ビットアップカウンタ
11が動作する。すると、5ビットアップカウンタ11
により、電源投入時のコラム列選択用アドレスA4a’
〜A8a’が作成されて、パワーオンプリチャージ(P
OP)検出回路13のオアゲート13bに入力されるこ
とにより、POP信号はHレベルを保持し続ける。全て
のコラム列が選択され、全ビット線がプリチャージされ
ると、アドレスA4a’およびアドレスA8a’がHレ
ベルとなり、この両アドレス信号のAND信号にてアン
ドゲート13cを介してPOP信号をリセットする。
【0027】このように、パワーオンプリチャージ(P
OP)検出回路13には、電源の立ち上がり時から、全
ビット線のプリチャージが完了するまでの期間を検出し
てプリチャージ回路7による全ビット線のプリチャージ
動作を終了させるように制御する検出制御手段が設けら
れている。
【0028】図5は図1の周辺コラム列セレクタ4の回
路図であり、この回路が16回路必要である。
【0029】この周辺コラム列セレクタ4は、パワーオ
ンプリチャージ時には、パワーオンプリチャージ信号
(POP信号)のLレベルを入力するために、全ての周
辺コラム列選択信号PCsel−0〜15をHレベルに
する。したがって、周辺プリチャージ回路14による全
ビット線プリチャージを実行する。
【0030】また、周辺コラム列セレクタ4は、ノーマ
ルアクセス時のアドレスA4a〜A7aを入力して、ノ
ーマルアクセス時における周辺コラム列選択信号PCs
el−0〜15を制御する。例えば、コラム列セレクタ
3により出力されたコラム列選択信号Csel−jがH
レベルであるときには、周辺コラム列選択信号PCse
l−jをLレベルにして、周辺プリチャージ回路14か
らのビット線プリチャージを禁止している。しかし、そ
の他全ての周辺コラム列選択信号PCselをHレベル
にして、周辺からのビット線のプリチャージを可能にし
ている。
【0031】図6は図1の周辺プリチャージ回路14の
回路図である。
【0032】この周辺プリチャージ回路14は、周辺コ
ラム列セレクタ4により出力された周辺コラム列選択信
号PCsel−0〜15に基づいて周辺からのビット線
のプリチャージ、またはプリチャージ禁止を実行する。
【0033】また、アドレスインクリメントによってア
クセスされるメモリセルTrがTrに移動する場合
には、アクセスされるバーチャルGND線もからに
移動する。このときのメモリブロック図を図7に示して
いる。
【0034】図7において、前のサイクルにてGNDレ
ベルにあるバーチャルGND線の立ち上がり(プリチ
ャージレベルに戻す動作)が遅い場合には、ROMTr
、、がONTrである場合には、アクセスされる
ビット線がROMTr、、を介してバーチャル
GND線に引かれる。ここで、アクセスTrがOF
F‐Trである場合にはアクセスすべきビット線のレ
ベルが低下してアクセスタイムに大きな影響を与えるこ
とになる。
【0035】したがって、バーチャルGND線の反対側
よりバーチャルGND線にプリチャージレベルを供給
し、アクセスされるべきバーチャルGND線に対して
はプリチャージレベルの供給を止めることによって、ア
クセスタイムの改善を図ることができる。このように、
バーチャルGND線選択回路が設けられており、メモリ
セルアレイ12のアクセスされるバーチャルGND線以
外のバーチャルGND線に対してはプリチャージレベル
を供給し、アクセスすべきバーチャルGND線に対して
はプリチャージレベルの供給を止めるように制御する。
なお、このプリチャージレベルは、中間電位にプリチャ
ージされ、好ましくは(1/2)Vccである。
【0036】図8は、図1の半導体記憶装置の電源立ち
上がり時におけるプリチャージ用コラムアドレス信号の
作成手順を示すタイミング図である。
【0037】図8に示すように、まず、電源電圧(POWE
R)が立ち上がると、リングオシレータ9が発振を開始
して源振クロックを分周器10に出力するとともに、パ
ワーオンプリチャージ(POP)検出回路13の電源電
圧立ち上がり検出回路13aが電源電圧(POWER)の立
ち上がりを検出して出力される立ち上がり検出信号AC
Lによりパワーオンプリチャージ信号(POP信号)を
Hレベルにする。
【0038】このリングオシレータ9からの源振クロッ
クが入力される分周器10は、その源振クロックを分周
した基本クロック(CK)を作成して、5ビットアップ
カウンタ11に出力する。この基本クロック(CK)が
入力される5ビットアップカウンタ11では、その基本
クロックをカウントして電源立ち上げ時のコラム列選択
用アドレスA4a’〜A8a’を作成する。このアドレ
スA4a’〜A8a’はコラム列セレクタ3に入力され
てデコードされる。
【0039】このとき、POP信号がHレベルにあるた
めに、電源立ち上げ時のアドレスA4a’〜A8a’に
基づくデコード信号が選択されてコラム列選択信号Cs
el−0〜15が作成される。このコラム列選択信号C
sel−0〜15は分周器10から出力された基本クロ
ック(CK)に基づいてCsel−1、Csel−2、
Csel−3、・・・、Csel−15、Csel−0
の順に順次コラム列セレクタ3より出力される。
【0040】一方、アドレス遷移検出回路5は、電源立
ち上げ時のアドレスA4a’〜A8a’と通常アクセス
時のアドレスA4a〜A7aをPOP信号に基づき選択
してアドレス遷移検出信号ATDをタイミングジェネレ
ータ6に出力する。このタイミングジェネレータ6で
は、このATD信号に基づいてプリチャージ信号(C
P)をHレベルにする。ところが、パワーオンプリチャ
ージ信号(POP)がHレベルのときには、ビット線イ
コライズ信号(EQ)、センスアンプイネーブル信号
(SE)はLレベル状態を保持している。したがって、
電源立ち上げ時は、パワーオンプリチャージ信号(PO
P信号)がHレベルになり、コラム列セレクタ3により
選択された各ビット線をプリチャージ回路7によってプ
リチャージする。
【0041】また、コラム列セレクタ3は、分周器10
から出力された基本クロック(CK)に基づいて、コラ
ム列選択信号Csel−0〜15をインクリメントさせ
ることによって、順次、コラム列選択信号Csel−0
〜15により選択されたビット線をプリチャージ回路7
によってプリチャージする。このプリチャージ動作を分
周器10から出力された基本クロック(CK)に基づい
て繰り返すことによって、全ビット線のプリチャージを
行う。全てのCsel信号を出力すると、つまり、全て
のビット線のプリチャージが完了すると、パワーオンプ
リチャージ(POP)検出回路13はパワーオンプリチ
ャージ信号(POP信号)をLレベルにして、電源立ち
上げ時におけるビット線プリチャージ動作を終了する。
【0042】次に、メモリセルアレイ12の末端、つま
り、プリチャージ回路7の配置箇所の反対側に周辺コラ
ム列セレクタ4および周辺プリチャージ回路14を配置
している。これは、通常時のノーマルアクセス時にプリ
チャージ回路7によってアクセスされているコラム列以
外の全コラム列中の全ビット線をプリチャージレベルに
保持する機能を持つ。つまり、例えば、コラム列セレク
タ3により例えばコラム列選択信号Csel−3がHレ
ベルになり、それに対応するコラム列がアクセスされる
サイクル中には、周辺コラム列セレクタ4の出力信号で
ある周辺コラム列選択信号PCsel−3信号のみがL
レベルになり、このコラム列選択信号Csel−3を除
く他の出力である周辺コラム列選択信号PCsel−0
〜15はHレベルになる。よって、周辺コラム列選択信
号PCsel−3信号により、周辺プリチャージ回路1
4がビット線と分離されて、それに対応するビット線の
周辺プリチャージは行われない。しかし、その他のコラ
ム列中の各ビット線は周辺プリチャージ回路14により
プリチャージが実行されており、各ビット線のプリチャ
ージレベルが保持されている。このように、周辺コラム
列セレクタ4および周辺プリチャージ回路14によっ
て、あるアドレスに対応するコラム列が選択され、アク
セスされている期間に、その他の全てのコラム列に対応
するビット線のプリチャージ動作が行われる。
【0043】また、この記憶装置の記憶保持状態(スタ
ンバイ)時には、周辺コラム列セレクタ4からの出力で
ある周辺コラム列選択信号PCselー0〜15の全て
をHレベルにすることによって、周辺プリチャージ回路
列14を使用して全ビット線のプリチャージを実行し
て、プリチャージレベルの保持を図る。
【0044】さらに、プリチャージ回路7がアクティブ
になるのは、/PRE=“L”の時であり、本発明では
周辺プリチャージ回路列14により、予めビット線をプ
リチャージしていることから、メインのプリチャージ回
路7をアクティブにする時間を短くできる。周辺プリチ
ャージ回路14はプリチャージ回路7の補助として用い
ている。この時間短縮を示すタイミング図を図9に示し
ており、図9において従来の回路によるタイミングと、
本発明を使用した場合のタイミングとを比較している。
【0045】例えば、4メガマスクROMのビット線プ
リチャージに要する時間は約30ns(Vcc=4.5
V,Ta=80C)あるが、ワード線の立ち上がり時間
は約15nsである。したがって、本発明を採用するこ
とにより、約15nsのアクセスタイムの短縮を図るこ
とが可能となる。
【0046】以上により本実施形態においては、ビット
線プリチャージ動作時間の短縮化を図るために、電源の
立ち上がり後直ちに、コラムセレクタ3を介してビット
線プリチャージ回路7をスキャンさせることによって、
全てのビット線をプリチャージするように制御するリン
グオシレータ9、分周器10、5ビットアップカウンタ
11およびパワーオンプリチャージ(POP)検出回路
13よりなる回路と、あるアドレスに対応するコラム列
がコラムセレクタ3で選択され、アクセスされている期
間に、その他の全てのコラム列に対応するビット線をプ
リチャージし、また、この記憶装置が記憶保持状態にあ
るときにも、全ビット線のプリチャージを行う周辺コラ
ムセレクタ4および周辺プリチャージ回路14よりなる
回路とを有している。また、アドレスインクリメントな
どにより、近傍のメモリセルがアクセスされる場合に、
アクセスタイムに遅延が発生するが、バーチャルGND
線の切り替え回路をバーチャルGND線の反対側(プリ
チャージ回路7にてプリチャージレベルを供給する側と
反対側)に設置することによって、任意の入力アドレス
に対応するビット線のプリチャージ時間の短縮を実現す
ることによって、アクセスタイムの短縮化を図り得る。
【0047】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、電源の立
ち上がり時に各ビット線をスキャンさせることによっ
て、全てのビット線をプリチャージすることにより、電
源立ち上がり時の1回目のアクセス時においても、ビッ
ト線のプリチャージが早急に完了して、ビット線がプリ
チャージレベルにあるために、入力アドレスに対応する
ワード線立ち上がり動作完了時に直ちに、ビット線セン
ス動作が実行できるため、大幅なアクセスタイムの改善
(減少)を図ることができる。
【0048】また、あるアドレスに対応するコラム列が
選択され、アクセスされる期間に、その他の全てのコラ
ム列に対応するビット線をプリチャージする回路をメモ
リセルアレイの反対側に配置することにより、常時ビッ
ト線がプリチャージレベルを保持することができるため
に、入力アドレスに対応するワード線立ち上がり動作完
了時に直ちに、ビット線センス動作が実行できるため、
大幅なアクセスタイムの改善を図ることができる。
【0049】さらに、この記憶保持状態にあるときに
も、全ビット線のプリチャージレベルの保持を行うこと
により、保持状態が終了した後の最初のアクセス時にお
いても、入力アドレスに対応するワード線立ち上がり動
作完了時に直ちに、ビット線センス動作を実行できるた
め、大幅なアクセスタイムの改善を図ることができる。
さらには、アクセスされるバーチャルGND線以外のバ
ーチャルGND線に対してプリチャージレベルを供給
し、アクセスすべきバーチャルGND線に対してはプリ
チャージレベルの供給を止めるように制御することによ
り、大幅なアクセスタイムの改善を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態における半導体記憶装置の
構成を示すブロック図である。
【図2】図1のコラム列セレクタ3から出力されるコラ
ム列選択信号Csel−0〜15と周辺コラム列セレク
タ4から出力される周辺コラム列選択信号PCsel−
0〜15との関係を示すブロック図である。
【図3】図1のコラム列セレクタ3の回路図である。
【図4】図1のパワーオンプリチャージ検出回路13の
回路図である。
【図5】図1の周辺コラム列セレクタ4の回路図であ
る。
【図6】図1の周辺プリチャージ回路14の回路図であ
る。
【図7】図1のメモリセルアレイ12の一部メモリブロ
ック図である。
【図8】図1の半導体記憶装置の電源立ち上がり時にお
けるプリチャージ用コラムアドレス信号の作成手順を示
すタイミング図である。
【図9】本発明によるアクセスタイムの時間短縮を、従
来例のものと比較して示したタイミング図である。
【符号の説明】
3 コラム列セレクタ 4 周辺コラム列セレクタ 5 アドレス遷移検出回路 6 タイミングジェネレータ 7 プリチャージ回路 8 センスアンプ 9 リングオシレータ 10 分周器 11 5ビットアップカウンタ 12 メモリセルアレイ 13 パワーオンプリチャージ(POP)検出回路 14 周辺プリチャージ回路列

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 メモリセルアレイに接続される各ビット
    線を介して該メモリセルアレイに保持された任意アドレ
    スのデータの読み出しを行う半導体記憶装置において、 電源の立ち上がり後直ちに、該各ビット線をスキャンし
    て、全ての該各ビット線のプリチャージ動作を実行する
    ように制御する第1プリチャージ動作制御回路と、 あるアドレスに対応するコラム列が選択され、アクセス
    されている期間に、その他の全てのコラム列に対応する
    ビット線のプリチャージ動作を行い、また、該メモリセ
    ルアレイが記憶保持状態にあるときに、全ての該各ビッ
    ト線のプリチャージ動作を行い、さらに、該アクセスす
    べきバーチャルGND線以外のバーチャルGND線にプ
    リチャージレベルの供給を行うように制御する第2プリ
    チャージ動作制御回路とを備えた半導体記憶装置。
  2. 【請求項2】 前記第1プリチャージ動作制御回路に、
    電源の立ち上がり後直ちに、発振信号を出力する発振手
    段と、該発振信号を分周する分周手段と、該分周された
    クロックに基づいてプリチャージ用アドレス信号を作成
    するプリチャージ用アドレス信号作成手段と、該プリチ
    ャージ用アドレス信号をデコードしてコラム列を選択す
    るプリチャージ用コラムアドレス信号を作成するセレク
    タ手段と、該プリチャージ用コラムアドレス信号に基づ
    いて前記各ビット線をプリチャージするプリチャージ手
    段とを設けた請求項1記載の半導体記憶装置。
  3. 【請求項3】 前記第2プリチャージ動作制御回路に、
    あるアドレスに対応するコラム列が選択され、アクセス
    されている期間に、その他の全てのコラム列を選択する
    セレクタ手段と、該その他の全てのコラム列に対応し
    た、選択される全ての各ビット線をプリチャージするプ
    リチャージ手段とを設けた請求項1記載の半導体記憶装
    置。
  4. 【請求項4】 前記第2プリチャージ動作制御回路に、
    前記メモリセルアレイが記憶保持状態にあるときに、該
    記憶保持状態を示す信号に基づいて全てのコラム列を選
    択するセレクタ手段と、選択された該全コラム列に対応
    した全ビット線のプリチャージを行うプリチャージ手段
    とを設けた請求項1記載の半導体記憶装置。
  5. 【請求項5】 前記第2プリチャージ動作制御回路に、
    前記メモリセルアレイのアクセスされるバーチャルGN
    D線以外のバーチャルGND線に対してはプリチャージ
    レベルを供給し、アクセスすべきバーチャルGND線に
    対してはプリチャージレベルの供給を止めるバーチャル
    GND線選択回路を設けた請求項1記載の半導体記憶装
    置。
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