JP3147987B2 - 平衡系特性パラメータ測定装置および測定方法 - Google Patents

平衡系特性パラメータ測定装置および測定方法

Info

Publication number
JP3147987B2
JP3147987B2 JP12683592A JP12683592A JP3147987B2 JP 3147987 B2 JP3147987 B2 JP 3147987B2 JP 12683592 A JP12683592 A JP 12683592A JP 12683592 A JP12683592 A JP 12683592A JP 3147987 B2 JP3147987 B2 JP 3147987B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
unbalanced
parameter
under test
measuring device
balanced
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP12683592A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH05297040A (ja
Inventor
健 山中
光一 柳川
Original Assignee
アジレント・テクノロジー株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by アジレント・テクノロジー株式会社 filed Critical アジレント・テクノロジー株式会社
Priority to JP12683592A priority Critical patent/JP3147987B2/ja
Publication of JPH05297040A publication Critical patent/JPH05297040A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3147987B2 publication Critical patent/JP3147987B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ネットワークアナライ
ザ等の不平衡型測定装置を用いた平衡系特性パラメータ
測定装置および測定方法に関し、不平衡系の特性パラメ
ータであるSパラメータの測定値から平衡系でのインピ
ーダンス等の特性パラメータを求めることができる上記
測定装置および測定方法に関する。
【0002】
【技術背景】平衡ケーブル等の平衡系デバイスは、端子
間を差動信号によって駆動し、大地に対する電位を一定
に保った平衡状態で使用される。このような平衡系デバ
イスの特性を、片側の端子が常に大地電位であるような
不平衡状態において測定すると、測定結果は、本来の動
作状態である平衡状態とは異なったものとなる。インピ
ーダンスの測定に用いられているインピーダンスアナラ
イザやネットワークアナライザは、一般に不平衡型の測
定器であり測定端子は片側が接地された不平衡状態とな
っているため、上記不平衡型の測定器は、平衡系デバイ
スのインピーダンス等の特性パラメータの測定には本来
適していない。このため、従来これらの測定器を用いて
平衡系デバイスのインピーダンス等を測定する場合、被
測定デバイスと測定器との間に平衡−不平衡変換回路を
挿入し、被測定デバイスを接続する測定端子を平衡状態
に保っている。
【0003】図4は、平衡−不平衡変換回路としてトラ
ンス回路を用いた従来の平衡系インピーダンス測定装置
の構成図である。同図において、不平衡型測定器20の
不平衡系端子対21(両端子を21aおよび21bで示
す)は、トランス回路22の一次巻線の両端子に接続さ
れ、該トランス回路22の二次巻線(中点は接地されて
いる)の平衡系端子対23(両端子を23aおよび23
bで示す)は被測定デバイス10に接続されている。不
平衡型測定器20は、不平衡側端子21b側のラインが
接地され(大地電位に保たれ)、他方の端子21aに測
定用の信号が加えられるように構成されており、端子2
1aに加えた電圧および被測定デバイス10に流れる電
流を知ることで、該被測定デバイス10のインピーダン
スを測定することができる。
【0004】いま、同図に示すように、端子21a,2
1b間に+Vの電圧信号加えられたものとすると、この
電圧はトランス回路22の二次側巻線に誘導電圧を生じ
させる。トランス回路22の二次側巻線の中点は接地さ
れているので、トランス回路22の巻線比が1:1であ
れば、端子23a,23bには+V/2および−V/2
の平衡差動電圧が誘起される。これらの平衡差動電圧に
より被測定デバイス10に平衡系の電流が流れ、この電
流はトランス回路22を介して不平衡系の電流に変換さ
れる。この電流を不平衡型測定器20で測定することに
より、被測定デバイス10を流れる電流を知ることがで
き、したがって被測定デバイス10の不平衡系でのイン
ピーダンスを求めることができる。
【0005】上記の回路においては、平衡系端子対23
に接続された被測定デバイス10を流れる平衡電流はト
ランス回路22を介して不平衡側端子対21に伝送され
るため、不平衡型測定器20により測定されるインピー
ダンスは、被測定デバイス10のインピーダンスとトラ
ンス回路22の巻線インピーダンスとの和となる。この
ため、測定結果にはトランス回路22の巻線インピーダ
ンスによる誤差が含まれることになるので、測定周波数
帯域におけるトランス回路22のインピーダンス特性や
伝送特性などを、測定精度に大きな影響を与えない程度
に制限する必要がある。しかし、一般にトランス回路2
2では、インピーダンス特性,伝送特性等が安定した状
態で使用できる周波数帯域は限られているので、平衡−
不平衡変換用のトランス回路22を用いた平衡系の測定
では、測定可能な周波数範囲が制限されてしまうという
問題がある。
【0006】また、トランス回路22の影響による誤差
が無視できないような高い精度が要求される場合や、ト
ランス回路22の巻線比が1:1でない場合は、トラン
ス回路22のインピーダンス特性や伝送特性などによる
影響を取り除く補正が必要となる。この誤差補正に使用
する補正係数は、平衡系端子対21に既知のインピーダ
ンスを持つ校正用標準器(たとえば、オープン(0
S)、ショート(0Ω)のもの)および基準負荷抵抗を
測定した結果から決定される。しかし、平衡系ではトレ
ーサビリティが確立し、精度が保証されている標準器は
現存しないので、不平衡標準器を使用した測定結果から
補正係数を求めるか、あるいは平衡系の標準器を新たに
作成しなければならない。不平衡標準器は不平衡状態に
おいて規定されたインピーダンスを持つように設計され
ているので、平衡系で使用した場合は精度が保証され
ず、インピーダンス測定値も不正確なものとなる。この
ため、平衡系の補正係数の導出に不平衡標準器を使用し
た場合、十分な補正を行うことができない。
【0007】一方、平衡系の標準器を作成した場合、余
分なコストがかさむ上に、平衡系での標準器の値付や精
度のトレーサビリティの保証が困難であり、さらに、測
定周波数に応じた多数種の平衡−不平衡変換用のトラン
ス回路22を用意しなけらばならないと言った問題もあ
る。
【0008】
【発明の目的】本発明は、上記のような問題を解決する
ためになされたもので、不平衡型特性パラメータ測定装
置を用いて測定した不平衡状態での被測定デバイスの特
性パラメータから、平衡系でのインピーダンス等の特性
パラメータを求めることができる平衡系特性パラメータ
測定装置および測定方法を提供することを目的とする。
【0009】
【発明の概要】本発明の平衡系特性パラメータ測定装置
は、不平衡型測定装置と、前記不平衡型測定装置の2つ
のポートのそれぞれに接続される方向性ブリッジと、前
記不平衡型測定装置を前記方向性ブリッジを介して4端
子を持つ被測定デバイスの2端子に接続するための接続
手段と、前記被測定デバイスの端子のうち前記方向性ブ
リッジが接続されていない端子を所定のインピーダンス
で終端するための終端手段と、前記不平衡型測定装置に
より測定した被測定デバイスの不平衡系での特性パラメ
ータから、所望の平衡系での特性パラメータを導出する
ための特性パラメータ導出手段と、を備えたことを特徴
とする。また、本発明の平衡系特性パラメータ測定装置
は、前記不平衡型測定装置が、前記方向性ブリッジを介
して接続した被測定デバイスの不平衡系でのSパラメー
タを測定し、前記特性パラメータ導出手段が、前記不平
衡型測定装置により測定した前記不平衡系でのSパラメ
ータを、不平衡系でのZまたはYパラメータに変換した
後に対角化することにより、前記被測定デバイスの平衡
系でのZ又はYパラメーを求める、ことをも特徴とす
る。さらに、本発明の平衡系特性パラメータ測定装置
は、前記デバイスが、ツイストペアケーブルを介して、
前記2つの方向性ブリッジに接続されることを特徴とす
る。本発明の平衡系特性パラメータ測定方法は、不平衡
型測定装置の2つのポートにそれぞれ接続した抵抗分圧
器型方向性ブリッジを、フル2ポート校正して2ポート
不平衡型Sパラメータテストセットを導出しておき、上
記抵抗分圧器型方向性ブリッジを介して上記ポートが接
続される被測定デバイスの接続端子を、順次切り換えて
該被測定デバイスの不平衡系でのSパラメータを測定
し、ついで、前記Sパラメータを不平衡系でZまたはY
パラメータに変換した後に対角化して、前記被測定デバ
イスの平衡系でのZ、Yパラメータを求める、ことを特
徴とする。
【0010】以下に、本発明の概要を述べる。本発明の
平衡系特性パラメータ測定装置は、ネットワークアナラ
イザやインピーダンスアナライザのような不平衡型測定
装置の2つのポートに方向性ブリッジがそれぞれ接続さ
れて構成される。例えば、ツイストペアケーブルや多導
体の平衡系素子が被測定デバイスとして、不平衡型測定
装置のポートに方向性ブリッジを介して接続(具体的に
は、ケーブル、クリップ、コネクタ等の接続手段を用い
て接続)される。不平衡型測定装置により、方向性ブリ
ッジのSパラメータを予め求め、該パラメータにより測
定装置をフル2ポート校正して、2ポート不平衡型Sパ
ラメータテストセットを導出しておく。そして、前記方
向性ブリッジを介して、被測定デバイスに測定信号を出
力するとともに、被測定デバイスからの応答信号を入力
する。そして、特性パラメータ導出手段が、これらの信
号から被測定デバイスのSパラメータを測定する。
た、終端手段は、前記被測定デバイスの端子のうち前記
方向性ブリッジが接続されていない端子があるときは、
当該端子を所定のインピーダンスで終端する。
【0011】なお、この被測定デバイスが、多導体系で
ある場合には、Sパラメータの測定に際しては、マルチ
ポート校正することで誤差補正を行う。この後、不平衡
型測定装置により、Sパラメータによる行列を平衡系Z
またはYパラメータ等の平衡系特性パラメータの行列に
変換し、平衡系での被測定デバイスの特性パラメータを
求める。通常この変換は、SパラメータをZまたはYパ
ラメータに変換した後に、対角化して平衡系ZまたはY
パラメータを求めることにより行われる。
【0012】不平衡型測定装置として、高周波広帯域に
おいて用いられる汎用測定装置であるネットワークアナ
ライザやインピーダンスアナライザが好適に用いられ
る。これらのアナライザを用いることで、平衡−不平衡
トランスを用いた従来の測定装置と比較して、広帯域
(数Hz〜数十GHz)の特性パラメータ(インピーダ
ンス等)を求めることができる。また、上記アナライザ
は、標準器を用いてトレーサビリティを保証することが
容易であるため、信頼度の極めて高い測定結果を得るこ
とが可能となる。
【0013】
【実施例】図1は、本発明の一実施例を示している。本
実施例では、不平衡型測定装置として、ネットワークア
ナライザが用いられている。同図において、ネットワー
クアナライザ1の端子対2(端子2a,2bで示す)に
被測定デバイス10の二端子が接続手段を介して接続さ
れている。また、アナライザ1内の信号源(同図では電
圧源3,4)により、端子対2の各信号端子に電圧+V
/2および−V/2を加え、各端子2a,2bを流れる
電流を測定して不平衡系でのSパラメータを求め、該S
パラメータから被測定デバイス10の平衡系でのインピ
ーダンスを求めている。
【0014】以下、ネットワークアナライザ1による特
性パラメータの不平衡系から平衡系への変換原理を図2
を参照しながら説明する。まず、電圧源3,4により、
電圧VおよびVを端子2a,2bを介して被測定デ
バイス10にそれぞれ加える。ここで、被測定デバイス
10は、平衡系デバイス(通常、平衡状態で使用される
デバイス)であり、2端子対を有しているものとする。
このとき端子2a,2b間の電圧のコモンモード成分お
よび差動成分をV,Vとし、電流のコモンモード成
分および差動成分をIおよびIとすると、これらの
間には以下の関係が成立する。
【0015】
【数1】
【0016】ここで、V,VとI,Iとの関係
を、二端子対回路をインピーダンス行列〔Z〕,アドミ
タンス行列〔Y〕を用いて表すと、以下のようになる。
【0017】
【数2】
【0018】(数1)および(数2)を用いてV,I
およびV,Iの関係を求めると、次の(数3)お
よび(数4)が得られる。
【0019】
【数3】
【0020】
【数4】
【0021】被測定デバイス10の平衡電流駆動状態で
のインピーダンスZ〔i-balance〕はI=0でのV
とIとの比であるので、(数3)の行列の第1行第1
列の要素により次のように与えられる。
【0022】
【数5】Z〔i-balance〕=z11−z12−z21+z22
【0023】一方、平衡電圧駆動状態のアドミタンスは
=0でのVとIとの比なので、(数4)より次
式で与えられる。
【0024】
【数6】 Z〔v-balance〕={(y11−y12−y21+y22)/4}−1
【0025】すなわち、被測定デバイス10が平衡系の
ものである場合に、被測定デバイスを二端子対回路と見
た場合のインピーダンス行列,アドミタンス行列がわか
っていれば、平衡電圧駆動状態および平衡電流駆動状態
でのインピーダンスを求めることができる。ここで、二
端子対回路のインピーダンス行列〔Z〕およびアドミタ
ンス行列〔Y〕はその回路のSパラメータ行列が得られ
ていれば、変換計算により求めることができる。二端子
対被測定デバイスのSパラメータ行列は、ネットワーク
アナライザ1とSパラメータテストセットにより測定す
ることが可能である。上記ネットワークアナライザ1に
上記の式による変換計算機能および結果の表示機能を備
え付けることで、平衡系の特性パラメータを容易に知る
ことができる。
【0026】なお、上記被測定デバイス10は、平衡系
のデバイスであれば誘導性,容量性のいずれであっても
よい。また、図1では信号源として電圧源3,4を用い
たが、電流源を用いることができることは勿論である。
以下、本発明によりツイストペアケーブルのインピーダ
ンスを求める場合の実施例を図3(A)および(B)を
参照しながら説明する。同図(A)において、ネットワ
ークアナライザ1の2つのポート5a,5bには、抵抗
分圧器型の方向性ブリッジ6a,6bがそれぞれ接続さ
れている。ここでは、これらブリッジ6a,6bはフル
2ポート校正により50Ω系に校正してあるものとす
る。
【0027】ここで、被測定デバイス(この場合には、
ツイストペアケーブル7)のSパラメータを求めるため
に、ツイストペアケーブル7の4つの端子8a,8b,
8cおよび8dについて、6種類の接続でS行列測定を
行う。これら測定においては、ツイストペアケーブル7
の被測定端子でない端子は終端手段(終端抵抗z(こ
の場合には50Ω)で接地しておく。なお、図3
(A)では、ツイストペアケーブル7の外被の両端も終
端抵抗zで接地してある。
【0028】なお、詳述はしないが、Sパラメータの行
列の各要素のうち対角要素は各々3回重複して測定され
るが、重複したデータの何れを用いるかは誤差の含まれ
方を検討して決定する。このため、ランダム誤差が予想
されるのであれば、測定値を平均することで誤差を低減
できることは勿論である。芯線でつながれたポートが被
測定ポートをなるような測定では、被測定ポートでない
ポートを終端する負荷抵抗と芯線インピーダンスとを反
射測定することになり、負荷抵抗の反射係数誤差により
測定誤差が拡大する。このため、芯線でつながれた端子
同士(8aと8c、8bと8d)の間で行われた測定
(図3(A)の接続態様参照)におけるデータにより、
上記対角要素を決定することが好ましい。
【0029】上記のようにして、測定した不平衡系での
Sパラメータ行列を(数5)あるいは(数6)に基づ
き、特性パラメータ導出手段によりZまたはYパラメー
タに変換すれば、平衡系でのインピーダンス等を容易に
求めることができる。図3(B)は、上記測定における
特性インピーダンスの周波数特性を示す図である。同図
では、実測値と共に、計算値を併記した。同図(B)か
らわかるように、100kHz〜100MHzまでの周
波数域では、実測値は理論式によるケーブルパラメータ
の計算値とほぼ同様の特性を示していることがわかる。
なお、100kHz未満の周波数域や、100MHzよ
り大きい周波数域については、実測値と計算値とが異な
ってくるが、この場合には、終端インピーダンスや接続
方法を適宜変更したり、芯線の引き出し等による誤差分
を補正することも可能である。
【0030】また、図3(A),(B)では、ツイスト
ペアケーブルについて説明したが、多導体の場合にも拡
張が可能であり、例えば四線式の伝送線路の場合の実回
線,重回線,地回線等の測定にも適用することができ
る。
【0031】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、被測定デバイスを2端子対回路と見た場合の
不平衡状態でのSパラメータの測定結果から、被測定デ
バイスの特性パラメータ(平衡インピーダンス等)を求
めることができる。また、平衡系の測定で必要とされて
いた平衡−不平衡変換回路が不要となるので、従来のよ
うに周波数に応じて多種類の平衡−不平衡トランスを用
意する必要がなくなった。しかも、既存の不平衡系での
標準器によって測定器を校正できるので、信頼性の高い
精度保証が可能となった。さらに、定電流型で定義する
か定電圧型で定義するかにより、平衡インピーダンスの
測定方法を変更する必要があるが、本発明では計算によ
り平衡インピーダンスを求めているので、内蔵ソフトウ
ェアの変更によりどのような定義にも対応した測定装置
をも迅速かつ容易に提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す構成図である。
【図2】本発明における不平衡系から平衡系への特性パ
ラメータの変換原理を説明するための図である。
【図3】本発明をツイストペアケーブルに適用した実施
例を示す説明図であり、(A)は回路構成図、(B)は
特性インピーダンスの実測値と計算値とを示すグラフで
ある。
【図4】従来の測定装置を示す説明図である。
【符号の説明】
1 不平衡型測定装置 3,4 電圧信号源 5a,5b 不平衡型測定装置のポート 6 方向性ブリッジ 7 ツイストペアケーブル 8a〜8d ツイストペアケーブルの端子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 27/28

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 不平衡型測定装置と、 前記不平衡型測定装置の2つのポートのそれぞれに接続
    される方向性ブリッジと、 前記不平衡型測定装置を前記方向性ブリッジを介して被
    測定デバイスに接続するための接続手段と、 前記被測定デバイスの端子のうち前記方向性ブリッジが
    接続されていない端子があるときは、当該端子を所定の
    インピーダンスで終端するための終端手段と、 前記不平衡型測定装置により測定した被測定デバイスの
    不平衡系での特性パラメータから、該被測定デバイスの
    平衡系でのZパラメータあるいはYパラメータを所定の
    変換により導出するための特性パラメータ導出手段と、 を備え前記不平衡系での特性パラメータがSパラメー
    タ、ZパラメータあるいはYパラメータのいずれかであ
    平衡系特性パラメータ測定装置。
  2. 【請求項2】 前記不平衡系での特性パラメータがSパ
    ラメータであることを特徴とする請求項1に記載の平衡
    系特性パラメータ測定装置。
  3. 【請求項3】 前記被測定デバイスがツイストペアケー
    ブルを介して、前記2つの方向性ブリッジに接続される
    ことを特徴とする請求項1または2に記載の平衡系特性
    パラメータ測定装置。
  4. 【請求項4】 前記方向性ブリッジが、予めSパラメー
    タが求められた抵抗分圧器型方向性ブリッジであること
    を特徴とする請求項1〜3に記載の平衡系特性パラメー
    タ測定装置。
  5. 【請求項5】 不平衡型測定装置の2つのポートにそれ
    ぞれ接続した抵抗分圧器型方向性ブリッジを、フル2ポ
    ート校正して2ポート不平衡型Sパラメータテストセッ
    トを導出しておき、 上記抵抗分圧器型方向性ブリッジを介して上記ポートが
    接続される被測定デバイスの接続端子を、順次切り換え
    て該被測定デバイスの不平衡系でのSパラメータを測定
    し、 ついで、前記Sパラメータから所定の変換により、前記
    被測定デバイスの平衡系でのZパラメータまたはYパラ
    メータを求める、 ことを特徴とする平衡系特性パラメータ測定方法。
JP12683592A 1992-04-19 1992-04-19 平衡系特性パラメータ測定装置および測定方法 Expired - Fee Related JP3147987B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12683592A JP3147987B2 (ja) 1992-04-19 1992-04-19 平衡系特性パラメータ測定装置および測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12683592A JP3147987B2 (ja) 1992-04-19 1992-04-19 平衡系特性パラメータ測定装置および測定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05297040A JPH05297040A (ja) 1993-11-12
JP3147987B2 true JP3147987B2 (ja) 2001-03-19

Family

ID=14945084

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12683592A Expired - Fee Related JP3147987B2 (ja) 1992-04-19 1992-04-19 平衡系特性パラメータ測定装置および測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3147987B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005274373A (ja) * 2004-03-25 2005-10-06 Fujitsu Ltd Sパラメータ算出装置,sパラメータ算出方法,sパラメータ算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
DE102006061144A1 (de) * 2006-07-05 2008-01-10 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren zur direkten Messung der Mixed-Mode-Streumatrix mit einem vektoriellen Netzwerkanalysator
JP5483459B2 (ja) * 2008-08-08 2014-05-07 日本電気株式会社 差動型トランスインピーダンスアンプの評価方法、光受信回路評価方法、そのプログラムおよび装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH05297040A (ja) 1993-11-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Marks Formulations of the basic vector network analyzer error model including switch-terms
KR0173490B1 (ko) 펄스계 임피던스 측정계기
US9921287B2 (en) Method for calibrating a test rig
JP3110827B2 (ja) インピーダンス・メータ
US5608330A (en) Method for calibrating a network analyzer according to the seven-term principle
US7865319B1 (en) Fixture de-embedding method and system for removing test fixture characteristics when calibrating measurement systems
JPH11326413A (ja) ネットワ―ク・アナライザにおける測定誤差補正方法
EP4057014B1 (en) Mixed mode vector network analyser
JPH03181870A (ja) マルチ‐ポート誤差モデル補正方法
Dascher Measuring parasitic capacitance and inductance using TDR
JPH0843463A (ja) 回路網測定装置及び校正方法
JPH0718904B2 (ja) 回路網分析器の較正方法
JPH0720172A (ja) 回路定数・材料特性測定装置
JP3147987B2 (ja) 平衡系特性パラメータ測定装置および測定方法
US5627476A (en) Milliohm impedance measurement
JPH04305170A (ja) 伝送線のインピーダンスの精密測定の方法
US4904927A (en) Method for measuring a characteristic impedance and a propagation constant of a two-port network
US5216373A (en) Circuit element measuring apparatus and method for measuring a parameter of a DUT including a compensation network having an admittance characteristic
JPH0779294B2 (ja) 通信ケーブルの故障位置探知方法
Curry How to calibrate through balun transformers to accurately measure balanced systems
Heuermann et al. Results of network analyzer measurements with leakage errors-corrected with direct calibration techniques
JP3155310B2 (ja) コンタクトチェック機能付二端子回路素子測定装置および被測定対象のコンタクトチェック方法
WO2008021907A2 (en) Calibrated s-parameter measurements of probes
JP3976866B2 (ja) ハイブリッドトランスの校正方法及び校正装置
EP0443835B1 (en) Circuit element measuring apparatus and method

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080112

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090112

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090112

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100112

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees