JP3147012B2 - Magnetic disk drive - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、磁気抵抗効果を利
用したＭＲヘッドが、回転駆動する磁気ディスク媒体に
記録された情報を再生する際に、磁気ディスク媒体また
は塵埃等に接触することによる磁気抵抗効果素子の温度
変化によってもたらされた再生信号の中心電圧レベルの
変動を補償することができる磁気ディスク装置に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a magnetic head which contacts a magnetic disk medium or dust when an MR head utilizing a magnetoresistive effect reproduces information recorded on a magnetic disk medium which is driven to rotate. The present invention relates to a magnetic disk drive capable of compensating for a change in a center voltage level of a reproduction signal caused by a temperature change of a resistance effect element.

【０００２】[0002]

【従来の技術】近年、回転駆動する磁気ディスク媒体に
記録された情報を、磁気抵抗効果素子を用いて再生する
磁気記録再生方式が用いられている。ＭＲヘッドの動作
原理は、ＭＲ素子に媒体からの磁界が掛かるとＭＲ素子
の磁化方向が変化し、その磁化方向に比例して電気抵抗
が変化することを利用して媒体に書き込まれた磁気情報
をＭＲ素子の出力変化として検出する点にある。ＭＲヘ
ッドで情報の再生を行なうには、その電気抵抗の変化を
センス電流と称する電流により電圧の変化または電流の
変化として検出する。その検出した信号から信号処理に
より情報を再生する。2. Description of the Related Art In recent years, a magnetic recording / reproducing method for reproducing information recorded on a rotationally driven magnetic disk medium using a magnetoresistive element has been used. The principle of operation of an MR head is that when a magnetic field from a medium is applied to the MR element, the magnetization direction of the MR element changes, and the electrical resistance changes in proportion to the magnetization direction. Is detected as a change in the output of the MR element. To reproduce information with an MR head, a change in the electric resistance is detected as a voltage change or a current change by a current called a sense current. Information is reproduced from the detected signal by signal processing.

【０００３】ＭＲヘッドを搭載した磁気ディスク装置に
おいて、ＭＲヘッドが磁気ディスク媒体または塵埃等に
接触を起こすと、接触による摩擦熱が発生し、ＭＲヘッ
ドの抵抗が変化して再生信号の中心電圧レベルが変動す
る。この現象は一般にサーマルアスペリティと呼ばれて
いる。In a magnetic disk drive equipped with an MR head, when the MR head comes into contact with a magnetic disk medium or dust, frictional heat is generated due to the contact, and the resistance of the MR head changes, resulting in a change in the center voltage level of the reproduced signal. Fluctuates. This phenomenon is generally called thermal asperity.

【０００４】サーマルアスペリティは、媒体に記録され
た情報を読み取る時のエラーとなるため、サーマルアス
ペリティの低減が必要となる。この低減法として、特開
平２−５４４０３では、サーマルアスペリティが発生し
た再生信号の上側と下側のエンベロープ波形を検波し中
心電圧レベルの変動量を求め、その後フィルタにより平
滑化した信号をサーマルアスペリティが発生した再生信
号から差し引く方法が開示されている。しかし、エンベ
ロープ検波では再生信号のピーク値をコンデンサの充放
電時定数は一定で追従させるため検波されるエンベロー
プ波形の立ち上がり時間が、実際のサーマルアスペリテ
ィ波形の立ち上がり時間より少し遅れてしまうことがあ
り、この遅れ分だけサーマルアスペリティを低減するこ
とが困難になる。[0004] Since thermal asperity causes an error when reading information recorded on a medium, it is necessary to reduce thermal asperity. As a method of reducing this, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-54403, the upper and lower envelope waveforms of the reproduced signal in which the thermal asperity has occurred are detected to determine the amount of change in the center voltage level. A method for subtracting from a generated reproduction signal is disclosed. However, in envelope detection, the rise time of the detected envelope waveform may be slightly delayed from the rise time of the actual thermal asperity waveform because the charge / discharge time constant of the capacitor follows the peak value of the reproduced signal at a constant value. It becomes difficult to reduce the thermal asperity by this delay.

【０００５】[0005]

【発明が解決しようとする課題】特開平７−５７２０４
に記載のとおり、サーマルアスペリティによる中心電圧
レベルの立ち上がり時間は約０．１μｓ以下であるのに
対し、上記エンベロープ検波の手段で得られる中心電圧
レベル変動量の波形の立ち上がり追従時間は０．３μｓ
程度となり、その差０．２μｓ程度の遅れ分だけサーマ
ルアスペリティを低減することが困難である。また、エ
ンベロープ検波回路においてサーマルアスペリティが発
生した部分で強制的にコンデンサの充放電を行なうこと
で追従時間を０．３μｓ未満にする手段が開示されてい
るが、再生信号から生成されるエンベロープ検波による
中心電圧レベルの変動量と、サーマルアスペリティを有
する再生信号との間で差し引く演算によると、サーマル
アスペリティが低減された再生信号のＳ／Ｎ比が低下す
る問題がある。この問題を解決する手段としてＳ／Ｎ比
が低下することなく、サーマルアスペリティを低減する
手段が望まれていた。Problems to be Solved by the Invention
As described above, the rise time of the center voltage level due to thermal asperity is about 0.1 μs or less, whereas the rise follow-up time of the waveform of the center voltage level fluctuation amount obtained by the envelope detection means is 0.3 μs.
And it is difficult to reduce the thermal asperity by a delay of about 0.2 μs. Further, there is disclosed a means for making the follow-up time less than 0.3 μs by forcibly charging and discharging the capacitor in a portion where thermal asperity occurs in the envelope detection circuit. According to the subtraction operation between the variation amount of the center voltage level and the reproduction signal having the thermal asperity, there is a problem that the S / N ratio of the reproduction signal having the reduced thermal asperity is reduced. As means for solving this problem, a means for reducing thermal asperity without lowering the S / N ratio has been desired.

【０００６】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は、再生信号Ｓ／
Ｎ比の低下を防いでサーマルアスペリティを相殺する磁
気ディスク装置を提供することに特徴がある。The present invention provides a reproduction signal S /
A feature is to provide a magnetic disk drive that prevents thermal asperity by preventing a decrease in the N ratio.

【０００７】その手段として、回転駆動する磁気ディス
ク媒体に記録された情報を、磁気抵抗効果素子を有する
再生磁気ヘッドを用いて再生する磁気ディスク装置にお
いて、再生信号の中心電圧レベルが変動する現象を相殺
するために、再生信号より大きなスライスレベルを少な
くとも一種類以上発生させる回路、再生信号とスライス
レベルとの比較回路、サーマルアスペリティの有無及び
変動量の検出回路、サーマルアスペリティを模擬した信
号の発生回路、再生信号と模擬ＴＡ信号とを差し引きす
るサーマルアスペリティの相殺回路を設けけたことに特
徴がある。In order to solve this problem, in a magnetic disk device for reproducing information recorded on a rotationally driven magnetic disk medium using a reproducing magnetic head having a magnetoresistive effect element, a phenomenon in which a center voltage level of a reproduced signal fluctuates is considered. A circuit for generating at least one kind of slice level larger than the reproduced signal to cancel out, a circuit for comparing the reproduced signal with the slice level, a circuit for detecting the presence / absence of the thermal asperity and a fluctuation amount, a circuit for generating a signal simulating the thermal asperity Another feature is that a thermal asperity cancellation circuit for subtracting the reproduction signal and the simulated TA signal can be provided.

【０００８】また、比較回路の前段に、再生信号周波数
成分だけを取り除くＢＰＦや、再生信号のエンベロープ
検波を行なう回路を設けたり、模擬ＴＡ信号の発生回路
のうち、コンデンサの充放電特性の制御や、デジタル信
号処理手段を用いて模擬ＴＡ信号を生成することで上記
手段が実現できる。In addition, a BPF for removing only the reproduced signal frequency component, a circuit for performing envelope detection of the reproduced signal, and a control circuit for controlling the charge / discharge characteristics of the capacitor in the simulated TA signal generating circuit are provided in the preceding stage of the comparison circuit. The above means can be realized by generating a simulated TA signal using digital signal processing means.

【０００９】本発明によれば、立ち上がりの速い模擬Ｔ
Ａ信号を予め用意しておくことで、サーマルアスペリテ
ィの立ち上がり時間に追従してサーマルアスペリティを
再生信号のＳ／Ｎ比を低下させることなく相殺すること
ができる。According to the present invention, a simulated T having a fast rise
By preparing the A signal in advance, the thermal asperity can be canceled without lowering the S / N ratio of the reproduced signal, following the rise time of the thermal asperity.

【００１０】[0010]

【発明の実施の形態】本発明について図面を用いて説明
する。図１は本発明のブロック図の一実施例を示す。図
１の再生増幅回路１１はＭＲヘッドが磁気ディスク媒体
に記録されている磁化を通過する時に生ずるＭＲ抵抗値
の変化を電圧または電流の変化に変換された信号が入力
端子１０に入力され、増幅して再生信号を得る回路であ
る。遅延回路１２は演算器１３に入力される再生信号と
ＴＡ有無監視回路部１６から発生される模擬ＴＡ信号の
時間差を補正する回路である。スライスレベル発生回路
１５は、サーマルアスペリティの有無及び変動量（振
幅、時間幅）を計測するのに必要な直流信号である。Ｔ
Ａ有無監視回路部１６は比較回路１７とＴＡ変動量計測
回路１８と模擬ＴＡ信号発生回路１９より構成され、比
較回路１７は、再生信号とスライスレベルとの間で再生
信号の振幅がスライスレベルを越えるか越えないかの比
較を行なう回路である。ＴＡ変動量計測回路１８は、サ
ーマルアスペリティの発生の有無を判別し、サーマルア
スペリティの発生に同期したトリガパルスを出力するこ
とと、サーマルアスペリティによる中心電圧レベルの変
動量（振幅、時間幅）を計測し、後述の変動量の分類ス
テータスを出力する機能を備えてある。模擬ＴＡ信号発
生回路１９は、予め出荷前にサーマルアスペリティによ
る中心電圧レベルの変動量（振幅、時間幅）を登録して
おいた一種類以上の模擬ＴＡ信号のうち、ＴＡ変動量計
測回路１８で決定される分類ステータスに相当する模擬
ＴＡ信号を、サーマルアスペリティの発生に同期したト
リガパルスをトリガとして出力する回路である。演算器
１３はサーマルアスペリティが発生している再生信号と
模擬ＴＡ信号との差し引きを行なう演算回路である。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows an embodiment of a block diagram of the present invention. In the reproduction amplifier circuit 11 shown in FIG. 1, a signal obtained by converting a change in MR resistance value generated when an MR head passes through magnetization recorded on a magnetic disk medium into a change in voltage or current is input to an input terminal 10 and amplified. To obtain a reproduced signal. The delay circuit 12 is a circuit that corrects the time difference between the reproduced signal input to the arithmetic unit 13 and the simulated TA signal generated from the TA presence / absence monitoring circuit unit 16. The slice level generating circuit 15 is a DC signal necessary for measuring the presence / absence of thermal asperity and the amount of fluctuation (amplitude, time width). T
The A presence / absence monitoring circuit section 16 includes a comparison circuit 17, a TA fluctuation amount measurement circuit 18, and a simulated TA signal generation circuit 19, and the comparison circuit 17 determines whether the amplitude of the reproduction signal is between the reproduction signal and the slice level. This is a circuit for comparing whether or not to exceed. The TA fluctuation amount measurement circuit 18 determines whether or not thermal asperity has occurred, outputs a trigger pulse synchronized with the occurrence of thermal asperity, and measures the fluctuation amount (amplitude, time width) of the center voltage level due to thermal asperity. In addition, it has a function of outputting a fluctuation status classification status described later. The simulated TA signal generation circuit 19 includes one or more types of simulated TA signals in which the fluctuation amount (amplitude and time width) of the center voltage level due to thermal asperity is registered before shipment, and the simulated TA fluctuation measurement circuit 18 This circuit outputs a simulated TA signal corresponding to the determined classification status, using a trigger pulse synchronized with the occurrence of thermal asperity as a trigger. The arithmetic unit 13 is an arithmetic circuit for subtracting the reproduction signal in which the thermal asperity has occurred and the simulated TA signal.

【００１１】次に本発明の動作について図１と図２と図
３を用いて説明する。Next, the operation of the present invention will be described with reference to FIGS. 1, 2 and 3.

【００１２】磁気ディスク装置の動作時に図２に示す再
生信号にサーマルアスペリティ（波形１）が発生する。
（波形１）に対しスライスレベル発生回路１５で、スラ
イスレベルを再生信号振幅の大きさＶ０の１％以上、好
ましくは４０％〜２００％の範囲で４０％間隔で再生信
号の最大値を基準に５段階のスライスレベル（スライス
１（４０％）＜スライス２（８０％）＜スライス３（１
２０％）＜スライス４（１６０％）＜スライス５（２０
０％））（波形２）を設け、再生信号（波形１）との間
で比較を比較回路１７にて行なう。また、比較回路１７
では再生信号（波形１）が各スライスレベルを越えてい
る時間のパルス（ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５）が生
成される（波形３）。ＴＡ変動量計測回路１８では、ス
ライスレベル１より生成されたパルスｔ１の時間幅が計
測される。この時のパルスｔ１の立ち上がりに同期した
パルスｔａ（波形４）が生成され、次にパルスｔａの立
ち下がりに同期したｔｂ（波形５）が生成され、パルス
ｔｂを模擬ＴＡ信号発生のトリガパルスとして、模擬Ｔ
Ａ信号発生回路１９に出力する。また、各スライスレベ
ルを越えている時間のパルスの有無により模擬ＴＡ信号
振幅の分類を決定する。図２は再生信号（波形１）が、
スライス１、スライス２、スライス３、スライス４を越
え、スライス５は越えなかった時の例を示しており、こ
の時の模擬ＴＡ信号の振幅分類を振幅Ｄとしている。ま
た、再生信号がスライス１を越えている時間ｔ１の分類
を、例えば、ｔ１≦０．４μｓ（時間幅Ａ）、０．４μ
ｓ＜ｔ１≦０．７μｓ（時間幅Ｂ）、０．７μｓ＜ｔ１
≦１．２μｓ（時間幅Ｃ）、１．２μｓ＜ｔ１≦２μｓ
（時間幅Ｄ）、ｔ１＞２μｓ（時間幅Ｅ）とし、今、波
形４の時間幅が１．５μｓである時、模擬ＴＡ信号の時
間幅の分類は時間幅Ｄとなり、サーマルアスペリティは
振幅Ｄ、時間幅Ｄの分類に属し、分類ステータスを模擬
ＴＡ信号発生回路１９に出力する。分類ステータスを受
けた模擬ＴＡ信号発生回路１９では、図３に示すように
デジタル信号処理手段を用いて予め用意されている模擬
ＴＡ信号のうち、振幅Ｄ、時間幅Ｄの模擬ＴＡ信号が選
択され、トリガパルスｔｂの立上がりに同期して模擬Ｔ
Ａ信号が出力される。また、模擬ＴＡ信号のうちデジタ
ル信号処理手段に代わり、コンデンサの充放電特性を制
御して模擬ＴＡ信号を生成する回路を用いても本発明で
示す模擬ＴＡ信号を生成することは可能である。本来の
サーマルアスペリティが発生した時間とＴＡ有無監視回
路部１６で模擬ＴＡ信号が発生される時間との間に時間
差が生じるが、遅延回路１２にてこの時間差が補正され
る。次に、演算器１３にて遅延回路１２を経由したサー
マルアスペリティの発生した再生信号（波形７）と模擬
ＴＡ信号（波形６）との間で差し引きされた波形（波形
８）が生成されて出力される。再生信号にサーマルアス
ペリティが発生していない時も、常にＴＡ有無監視回路
部１６で監視を行なっているが、模擬ＴＡ信号発生回路
１９からは信号の発生は行なわず、演算器１３と模擬Ｔ
Ａ信号発生回路１９とは開放状態が保たれる。During operation of the magnetic disk drive, a thermal asperity (waveform 1) occurs in the reproduced signal shown in FIG.
With respect to (waveform 1), the slice level generation circuit 15 sets the slice level to 1% or more of the amplitude V0 of the reproduction signal amplitude, preferably in the range of 40% to 200%, based on the maximum value of the reproduction signal at 40% intervals. Five slice levels (slice 1 (40%) <slice 2 (80%) <slice 3 (1
20%) <Slice 4 (160%) <Slice 5 (20
0%)) (waveform 2), and the comparison with the reproduction signal (waveform 1) is performed by the comparison circuit 17. Also, the comparison circuit 17
Then, pulses (t1, t2, t3, t4, t5) are generated (waveform 3) during the time when the reproduction signal (waveform 1) exceeds each slice level. The TA fluctuation amount measurement circuit 18 measures the time width of the pulse t1 generated from the slice level 1. At this time, a pulse ta (waveform 4) synchronized with the rising edge of the pulse t1 is generated, and then a tb (waveform 5) synchronized with the falling edge of the pulse ta is generated. The pulse tb is used as a trigger pulse for generating a simulated TA signal. , Simulation T
The signal is output to the A signal generation circuit 19. Also, the classification of the simulated TA signal amplitude is determined based on the presence or absence of a pulse during the time exceeding each slice level. FIG. 2 shows the reproduction signal (waveform 1)
An example is shown in which the slices exceed slice 1, slice 2, slice 3, and slice 4 but not slice 5, and the amplitude classification of the simulated TA signal at this time is amplitude D. The classification of the time t1 during which the reproduction signal exceeds the slice 1 is, for example, t1 ≦ 0.4 μs (time width A), 0.4 μs
s <t1 ≦ 0.7 μs (time width B), 0.7 μs <t1
≦ 1.2 μs (time width C), 1.2 μs <t1 ≦ 2 μs
(Time width D), t1> 2 μs (time width E), and when the time width of the waveform 4 is 1.5 μs, the classification of the time width of the simulated TA signal is the time width D, and the thermal asperity is the amplitude D , And outputs the classification status to the simulated TA signal generation circuit 19. In the simulated TA signal generating circuit 19 which has received the classification status, a simulated TA signal having an amplitude D and a time width D is selected from simulated TA signals prepared in advance using digital signal processing means as shown in FIG. Simulated T in synchronization with the rise of the trigger pulse tb.
An A signal is output. Also, the simulated TA signal shown in the present invention can be generated by using a circuit for controlling the charging and discharging characteristics of the capacitor and generating the simulated TA signal, instead of the digital signal processing means in the simulated TA signal. There is a time difference between the time when the original thermal asperity is generated and the time when the simulated TA signal is generated in the TA presence / absence monitoring circuit section 16. The time difference is corrected by the delay circuit 12. Next, the arithmetic unit 13 generates and outputs a waveform (waveform 8) subtracted between the reproduced signal (waveform 7) in which the thermal asperity has passed through the delay circuit 12 and the simulated TA signal (waveform 6). Is done. Even when no thermal asperity is generated in the reproduced signal, the TA presence / absence monitoring circuit section 16 always monitors the signal. However, no signal is generated from the simulated TA signal generation circuit 19, and the arithmetic unit 13 and the simulated T
The A signal generation circuit 19 is kept open.

【００１３】上記の実施例は、再生信号の振幅の最大値
を基準にスライスレベルを設けた例を示しているが、比
較回路１７の前段にＢＥＦ２０を設ける手段もある。こ
の場合の実施例を図４、図５を用いて説明する。図４に
示す回路にて再生信号（波形ａ）がカットオフ周波数帯
域が１ＭＨｚ〜１００ＭＨｚの範囲、好ましくは１ＭＨ
ｚ〜４０ＭＨｚの範囲の周波数成分を遮断するＢＥＦを
通過すると立ち上がりの少し遅れた再生信号イレーズ波
形が得られる（波形ｂ）。再生信号イレーズ波形（波形
ｂ）に対し５段階のスライスレベル（波形ｃ）で比較を
行なうと、各スライスレベルを越えている時間のパルス
（ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５）が生成される（波形
ｄ）。この後の信号処理は前述の実施例と同様の処理を
行なう。再生信号振幅が一定レベルを推移しない再生信
号、例えば、同一ディスク面上にサーボ情報等が記録さ
れている管理エリアとユーザが情報を読み書きするユー
ザエリアが混在するような再生信号の場合に非常に効果
的な手段となる。また遮断周波数より低い周波数だけを
通過させるＬＰＦを用いてもＢＥＦと同じ効果を期待で
きる。さらに、ＢＥＦの代わりにエンベロープ検波法で
得られる中心電圧レベルの変動量を再生信号イレーズ波
形として用いてもＢＥＦと同じ効果を期待できる。Although the above embodiment shows an example in which a slice level is provided on the basis of the maximum value of the amplitude of a reproduced signal, there is also a means in which a BEF 20 is provided in a stage preceding the comparison circuit 17. An embodiment in this case will be described with reference to FIGS. In the circuit shown in FIG. 4, the reproduced signal (waveform a) has a cutoff frequency band in the range of 1 MHz to 100 MHz, preferably 1 MHz.
When the signal passes through a BEF that blocks a frequency component in the range of z to 40 MHz, a reproduced signal erase waveform slightly delayed in rising is obtained (waveform b). When the reproduction signal erase waveform (waveform b) is compared at five slice levels (waveform c), pulses (t1, t2, t3, t4, t5) of a time exceeding each slice level are generated. (Waveform d). Subsequent signal processing is the same as in the above-described embodiment. In the case of a reproduction signal in which the reproduction signal amplitude does not change at a certain level, for example, a reproduction signal in which a management area where servo information and the like are recorded on the same disk surface and a user area where the user reads and writes information are mixed. It is an effective means. Also, the same effect as BEF can be expected by using an LPF that passes only a frequency lower than the cutoff frequency. Furthermore, the same effect as BEF can be expected even if the amount of fluctuation of the center voltage level obtained by the envelope detection method is used as the reproduced signal erase waveform instead of BEF.

【００１４】上記の実施例は、波形２に対しＴＡ変動量
計測回路１８でスライスレベルを再生信号振幅の大きさ
Ｖ０の４０％〜２００％の範囲で４０％間隔の５段階の
スライスレベルを設け、再生信号イレーズ波形と比較し
ているが、スライスレベルを少なくとも一つ以上設けて
あれば本発明の目的を達成することができる。In the above embodiment, the waveform 2 is provided with five slice levels at intervals of 40% in the range of 40% to 200% of the reproduced signal amplitude V0 by the TA fluctuation amount measuring circuit 18. Compared with the reproduced signal erase waveform, the object of the present invention can be achieved if at least one slice level is provided.

【００１５】図２に示した実施例では、波形２がスライ
ス１を越えている時間ｔ１の分類を時間幅Ａから時間幅
Ｅまでの５種類に分類したが、少なくとも一つ以上設け
てあれば本発明の目的を達成することができる。In the embodiment shown in FIG. 2, the classification of the time t1 when the waveform 2 exceeds the slice 1 is classified into five types from the time width A to the time width E. The object of the present invention can be achieved.

【００１６】また、スライスレベルの種類を増加し、振
幅と時間幅の分類を増加し、模擬ＴＡ信号の種類を増加
することで本発明の効果が向上することは言うまでもな
い。Further, it goes without saying that the effect of the present invention is improved by increasing the types of slice levels, increasing the classification of amplitude and time width, and increasing the types of simulated TA signals.

【００１７】また、本発明でサーマルアスペリティの波
形を完全に相殺することができなくても媒体に記録され
た情報を読み取る時のエラーを十分に低減する効果を得
ることができる。Further, even if the waveform of the thermal asperity cannot be completely canceled by the present invention, an effect of sufficiently reducing an error when reading information recorded on a medium can be obtained.

【００１８】[0018]

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、磁気抵
抗効果を利用したＭＲヘッドが回転駆動される磁気ディ
スク媒体に記録された情報を再生する際に、磁気ディス
ク媒体または塵埃等に接触することによる磁気抵抗効果
素子の温度変化によってもたらされた再生信号の中心電
圧レベルの変動量を再生信号のＳ／Ｎ比を低下させるこ
となく相殺することができる。As described above, according to the present invention, when reproducing information recorded on a magnetic disk medium driven by rotation of an MR head utilizing the magnetoresistive effect, it is possible to reproduce information on a magnetic disk medium or dust. The fluctuation amount of the center voltage level of the reproduction signal caused by the temperature change of the magnetoresistive element due to the contact can be canceled without lowering the S / N ratio of the reproduction signal.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】本発明の磁気ディスク装置に関するサーマルア
スペリティ相殺システムの一実施例である。FIG. 1 shows an embodiment of a thermal asperity canceling system for a magnetic disk drive according to the present invention.

【図２】図１の一実施例のサーマルアスペリティ相殺原
理図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a principle of canceling thermal asperity according to the embodiment of FIG. 1;

【図３】図１の一実施例の模擬ＴＡ発生回路で用意され
ている模擬ＴＡ信号である。FIG. 3 is a simulated TA signal prepared in the simulated TA generation circuit of the embodiment of FIG. 1;

【図４】図１の一実施例にＢＥＦを導入したサーマルア
スペリティ相殺システムの一実施例である。FIG. 4 is an embodiment of a thermal asperity canceling system in which BEF is introduced into the embodiment of FIG. 1;

【図５】図４の一実施例のサーマルアスペリティ相殺原
理図である。FIG. 5 is a diagram illustrating a principle of canceling thermal asperity according to the embodiment of FIG. 4;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１０ 入力端子 １１ 再生信号増幅回路 １２ 遅延回路 １３ 演算器 １４ 出力端子 １５ スライスレベル発生回路 １６ ＴＡ有無監視回路部 １７ 比較回路 １８ ＴＡ有無変動量計測回路 １９ 模擬ＴＡ信号発生回路 ２０ ＢＥＦ。 Reference Signs List 10 input terminal 11 reproduced signal amplifier circuit 12 delay circuit 13 arithmetic unit 14 output terminal 15 slice level generation circuit 16 TA presence / absence monitoring circuit unit 17 comparison circuit 18 TA presence / absence fluctuation amount measurement circuit 19 simulated TA signal generation circuit 20 BEF.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田辺 正典 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式 会社日立製作所 ストレージシステム事 業部内 (72)発明者 村上 和久 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式 会社日立製作所 ストレージシステム事 業部内 (72)発明者 大野 徒之 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式 会社日立製作所 ストレージシステム事 業部内 (72)発明者 松山 巌 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式 会社日立製作所 ストレージシステム事 業部内 (56)参考文献 特開 平９−320008（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 5/09 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Masanori Tanabe 2880 Kozu, Kozuhara-shi, Kanagawa Pref.Hitachi, Ltd. Storage System Division (72) Inventor Kazuhisa Murakami 2880 Kozu, Kozu, Odawara-shi, Kanagawa Storage System Hitachi, Ltd. Within the Business Division (72) Inventor Toshiyuki Ono 2880 Kozu, Kodawara-shi, Kanagawa Prefecture Storage Systems Division, Hitachi, Ltd. (72) Within the Inventor Iwao Matsuyama 2880 Kozu, Kozu, Odawara-shi, Kanagawa Storage Systems Division, Hitachi, Ltd. (56) References JP-A-9-320008 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. ⁷ , DB name) G11B 5/09

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項１】回転駆動する磁気ディスク媒体に記録され
た情報を、磁気抵抗効果素子を有する再生磁気ヘッド
（以下、ＭＲヘッドと称す）を用いて再生する磁気ディ
スク装置において、再生信号の中心電圧レベルが変動す
る現象（以下、サーマルアスペリティと称す）を相殺す
るために、再生信号より大きなスライスレベルを少なく
とも一種類以上発生させる回路、再生信号とスライスレ
ベルとの比較回路、サーマルアスペリティの有無及びサ
ーマルアスペリティによる変動量（振幅、時間幅）検出
回路（以下、ＴＡ変動量計測回路と称す）、サーマルア
スペリティを模擬した信号（以下、模擬ＴＡ信号と称
す）の発生回路、再生信号と模擬ＴＡ信号とを差し引き
するサーマルアスペリティの相殺回路を設けることを特
徴とした磁気ディスク装置。1. A magnetic disk drive for reproducing information recorded on a rotationally driven magnetic disk medium using a reproducing magnetic head having a magnetoresistive effect element (hereinafter referred to as an MR head). Circuit for generating at least one kind of slice level larger than the reproduction signal, circuit for comparing the reproduction signal with the slice level, presence / absence of thermal asperity, and thermal asperity to cancel the level fluctuation phenomenon (hereinafter referred to as thermal asperity) Asperity variation (amplitude and time width) detection circuit (hereinafter referred to as TA variation measurement circuit), thermal asperity simulated signal (hereinafter referred to as simulated TA signal) generation circuit, reproduced signal and simulated TA signal Magnetic disk characterized by providing a thermal asperity cancellation circuit for subtracting Location. 【請求項２】請求項１に記載の磁気ディスク装置におい
て、比較回路の前段に、再生信号周波数成分だけを取り
除くフィルタ（以下、バンドエルミネートフィルタ：Ｂ
ＥＦと称す）を設けることを特徴とした磁気ディスク装
置。2. A magnetic disk drive according to claim 1, wherein a filter for removing only a reproduced signal frequency component (hereinafter referred to as a band emissive filter: B) is provided before the comparison circuit.
EF). 【請求項３】請求項１に記載の磁気ディスク装置におい
て、比較回路の前段に、再生信号のエンベロープ検波を
行なう回路を設けることを特徴とした磁気ディスク装
置。3. The magnetic disk drive according to claim 1, wherein a circuit for performing envelope detection of the reproduction signal is provided at a stage preceding the comparison circuit. 【請求項４】請求項２又は３に記載の磁気ディスク装置
において、模擬ＴＡ信号の発生回路が、デジタル信号処
理手段を用いて模擬ＴＡ信号を生成することを特徴とし
た磁気ディスク装置。4. A magnetic disk apparatus according to claim 2 or 3, generator of simulated TA signal, a magnetic disk apparatus and generating a simulated TA signal using digital signal processing means. 【請求項５】請求項２又は３に記載の磁気ディスク装置
において、模擬ＴＡ信号の発生回路が、コンデンサの充
放電特性を制御して模擬ＴＡ信号を生成することを特徴
とした磁気ディスク装置。The magnetic disk drive according to 5. A method according to claim 2 or 3, generator of simulated TA signal, a magnetic disk apparatus and generating a simulated TA signal to control the charging and discharging characteristics of the capacitor.