JP3144224B2 - セラミックコンデンサのスクリーニング方法 - Google Patents
セラミックコンデンサのスクリーニング方法Info
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Description
サの製品中から絶縁抵抗の低い不良品を除去するための
スクリーニング方法に関する。
その最終工程で、製造中に生じたコンデンサ素子の欠陥
(ボイド,デラミネーション,クラック等)による不良
品を除去するために、絶縁抵抗の測定を行い、抵抗値の
低いものをスクリーニングしている。
を向上させるためには、測定電圧のアップ,測定時の極
性反転,測定時間のアップ等の方法が採られている。
より絶縁抵抗の低い積層セラミックコンデンサの抵抗値
−時間特性(以下充電特性という)を図1に示す。
時間に対して線(A)のカーブで抵抗値が推移する。即
ち、充電完了までは抵抗は時間に比例して直線で上昇
し、充電が終了すると誘電体の絶縁体としての抵抗値に
飽和する。
コンデンサの充電特性は、欠陥により絶縁抵抗値の低下
が生じた誘電体の上記飽和値が低くなるため一般的に
は、線(B)のカーブを描く。従って、セラミックコン
デンサのスクリーニングを行う際は、より長い時間で測
定を行い、飽和値により近い場所で抵抗値を測定した方
が、良品と不良品の選別が容易となる。
ラミックコンデンサの素子間欠陥部に形成された電流の
パス路が微細な場合、ときとして充電時間の途中で一部
が溶融し、線(C)のカーブで示すように低下が回復し
たり、逆に線(D)のカーブのように、時間が進むにつ
れ劣化が進み、抵抗値が低下したりするものがある。
電流通過中の発熱により抵抗値が変化することもある。
従って、欠陥部分の挙動により一番選別が容易となる時
間(良品と欠陥含有不良品との抵抗に最大の差が生じる
時間)は、一概に長時間が良いとは云えなくなり、製品
中から不良品を確実に除去することができないという問
題がある。
の挙動を示す欠陥含有不良品のスクリーニング精度を向
上させて、製品中に不良品が混入するのを防止すること
ができるセラミックコンデンサのスクリーニング方法を
提供することにある。
するため、この発明は、セラミックコンデンサに所定の
電圧を印加するセラミックコンデンサのスクリーニング
方法であって、異なる充電時間で絶縁抵抗を二回以上測
定し、良品の同じ時間の絶縁抵抗と比較し、少なくとも
1つの時間における絶縁抵抗値が、良品の絶縁抵抗値よ
り低い場合に不良品とする構成を採用したものである。
て、長い時間電圧を印加して飽和値に近い場所で抵抗値
を測定すれば、飽和値の低い一般的な欠陥不良品の除去
が行える。
うと、飽和値に至るまでに種々の抵抗値の挙動を示す欠
陥含有不良品の除去が行なえ、このように時間の異なる
電圧で抵抗値を測定すれば、欠陥含有不良品のスクリー
ニングに洩れがなくなり、精度が向上する。
製造最終工程で、製造中に生じた素子の欠陥による不良
品を除去するため、セラミックコンデンサに二種類以上
の時間の異なる電圧を順次印加し、それぞれの時間にお
ける絶縁抵抗の測定を行い、抵抗値の低い不良品をスク
リーニングする方法である。
印加による絶縁抵抗の測定を行うと、長い時間の電圧印
加により飽和値により近い場所で抵抗値を測定し、一般
的な欠陥による不良品の除去が行なえる。
測定を行うと、飽和値に達するまでの間に抵抗値の変化
の挙動を示す欠陥含有不良品の除去が行なえる。
て絶縁抵抗を測定するスクリーニング時において、欠陥
部分の挙動により、良品と欠陥含有不良品との抵抗に最
大の差が生じるいちばん選別が容易な時間は、先に述べ
たように長時間とは云えず、このため、二種類以上の時
間の異なる電圧を印加して抵抗値の測定を行なうと、欠
陥含有不良品のスクリーニング精度が向上する。
印加時間と回数は、セラミックコンデンサの容量等に応
じて任意に選択すればよい。
ックコンデンサに所定の電圧を印加するセラミックコン
デンサのスクリーニング方法であって、異なる充電時間
で絶縁抵抗を二回以上測定し、良品の同じ時間の絶縁抵
抗と比較し、少なくとも1つの時間における絶縁抵抗値
が、良品の絶縁抵抗値より低い場合に不良品とするよう
にしたので、種々の抵抗値の挙動を示す欠陥含有不良品
のスクリーニング精度が大幅に向上し、不良品の除去が
確実に行なえるので、セラミックコンデンサ使用時の故
障発生率を低下させることができる。
抵抗値の関係を示す特性図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 セラミックコンデンサに所定の電圧を印
加するセラミックコンデンサのスクリーニング方法であ
って、異なる充電時間で絶縁抵抗を二回以上測定し、良
品の同じ時間の絶縁抵抗と比較し、少なくとも1つの時
間における絶縁抵抗値が、良品の絶縁抵抗値より低い場
合に不良品とすることを特徴とするセラミックコンデン
サのスクリーニング方法。
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Family
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