JP3132754B2 - 記録装置、記録媒体及び記録制御方法 - Google Patents
記録装置、記録媒体及び記録制御方法Info
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- JP3132754B2 JP3132754B2 JP09242701A JP24270197A JP3132754B2 JP 3132754 B2 JP3132754 B2 JP 3132754B2 JP 09242701 A JP09242701 A JP 09242701A JP 24270197 A JP24270197 A JP 24270197A JP 3132754 B2 JP3132754 B2 JP 3132754B2
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1883—Methods for assignment of alternate areas for defective areas
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B2220/00—Record carriers by type
- G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、記録媒体にデータ
を記録する記録装置、記録媒体及び記録装置の制御方法
に関し、特に複数のブロックに亙る欠陥を少ないメモリ
領域で処理することができる記録装置、記録媒体及び記
録装置の制御方法に関する。
を記録する記録装置、記録媒体及び記録装置の制御方法
に関し、特に複数のブロックに亙る欠陥を少ないメモリ
領域で処理することができる記録装置、記録媒体及び記
録装置の制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年の記録密度の飛躍的向上に応じて、
ディスクドライブ装置において記録媒体として用いられ
るディスク状記録媒体に要求される条件が厳しくなって
いる。これに応じて、記録領域の全面にわたって完全な
記録媒体を製造することが困難になってきており、完全
な記録媒体は高価になってしまう。
ディスクドライブ装置において記録媒体として用いられ
るディスク状記録媒体に要求される条件が厳しくなって
いる。これに応じて、記録領域の全面にわたって完全な
記録媒体を製造することが困難になってきており、完全
な記録媒体は高価になってしまう。
【０００３】このため、ディスクドライブ装置では、あ
る（物理）セクタに正常な記録乃至再生ができない場合
に、このセクタがディフェクト（defect：欠陥）である
としてディフェクトマップに登録する。例えば容量が２
Ｇバイトのあるディスクドライブ装置では、当該ディス
クドライブ装置が備えるメモリにディフェクトマップと
してエラーセクタ２０００個分に対応する記録領域を有
している。
る（物理）セクタに正常な記録乃至再生ができない場合
に、このセクタがディフェクト（defect：欠陥）である
としてディフェクトマップに登録する。例えば容量が２
Ｇバイトのあるディスクドライブ装置では、当該ディス
クドライブ装置が備えるメモリにディフェクトマップと
してエラーセクタ２０００個分に対応する記録領域を有
している。
【０００４】このような欠陥セクタの検出は、メディア
の製造時、あるいはローレベルフォーマットを行なう際
に行なわれる。そして、論理フォーマットを行なう際に
は、ディフェクトマップに登録されていない残りの正常
なセクタに対して論理ブロックアドレス（ＬＢＡ：Logi
cal Block Address ）が割り当てられる。
の製造時、あるいはローレベルフォーマットを行なう際
に行なわれる。そして、論理フォーマットを行なう際に
は、ディフェクトマップに登録されていない残りの正常
なセクタに対して論理ブロックアドレス（ＬＢＡ：Logi
cal Block Address ）が割り当てられる。
【０００５】また、ディスクドライブ装置を使用してい
るうちに生じた欠陥セクタには、論理フォーマットによ
って既にＬＢＡが割り当てられているため、当該セクタ
がディフェクトマップに登録され、さらに、代替セクタ
が割り当てられるようになっている。
るうちに生じた欠陥セクタには、論理フォーマットによ
って既にＬＢＡが割り当てられているため、当該セクタ
がディフェクトマップに登録され、さらに、代替セクタ
が割り当てられるようになっている。
【０００６】このように、欠陥セクタにＬＢＡを割り当
てず、あるいは、代替セクタを割り当てることにより、
多少の欠陥のある記録媒体を用いて支障なくデータの記
録再生を行なうことができる。従って、記録媒体の歩留
まりを向上させ、記録媒体のコストを低減させることが
できる。
てず、あるいは、代替セクタを割り当てることにより、
多少の欠陥のある記録媒体を用いて支障なくデータの記
録再生を行なうことができる。従って、記録媒体の歩留
まりを向上させ、記録媒体のコストを低減させることが
できる。
【０００７】ところで、連続する複数のセクタに亙る欠
陥は、上述のように記録密度が向上するにしたがって増
加している。例えばあるディスクドライブ装置では、単
一のセクタの欠陥は３０％程度であり、残りの７０％程
度は複数のセクタに亙る欠陥であった。
陥は、上述のように記録密度が向上するにしたがって増
加している。例えばあるディスクドライブ装置では、単
一のセクタの欠陥は３０％程度であり、残りの７０％程
度は複数のセクタに亙る欠陥であった。
【０００８】このような複数のセクタに亙る欠陥を各々
のセクタ毎にディフェクトマップに登録した場合、冗長
度が高くなってしまう。このため、メモリ容量の割に
は、マップアウトすることができるセクタ数がそれほど
多くないことになる（従って、限られたメモリ容量で登
録することができる欠陥の数はそれほど多くない）。
のセクタ毎にディフェクトマップに登録した場合、冗長
度が高くなってしまう。このため、メモリ容量の割に
は、マップアウトすることができるセクタ数がそれほど
多くないことになる（従って、限られたメモリ容量で登
録することができる欠陥の数はそれほど多くない）。
【０００９】このため、セクタ毎に欠陥を登録するので
はなく、複数のセクタ（固定長）を単位として欠陥を登
録することが試みられた。このようにすることにより、
複数のセクタに亙る欠陥を効率よくディフェクトマップ
に登録することができ、複数のセクタに亙る欠陥を登録
するのに要するメモリ容量を低減させることができる。
はなく、複数のセクタ（固定長）を単位として欠陥を登
録することが試みられた。このようにすることにより、
複数のセクタに亙る欠陥を効率よくディフェクトマップ
に登録することができ、複数のセクタに亙る欠陥を登録
するのに要するメモリ容量を低減させることができる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ように（固定長）を単位として欠陥を登録することとす
ると、単一のセクタの欠陥に対しても複数のセクタが欠
陥であるとして登録されてしまい、記録媒体上の記録領
域が有効に利用されなくなる。特に、論理フォーマット
後では、複数のセクタ単位で代替セクタが割り当てられ
るため、多くの代替セクタを必要とする。
ように（固定長）を単位として欠陥を登録することとす
ると、単一のセクタの欠陥に対しても複数のセクタが欠
陥であるとして登録されてしまい、記録媒体上の記録領
域が有効に利用されなくなる。特に、論理フォーマット
後では、複数のセクタ単位で代替セクタが割り当てられ
るため、多くの代替セクタを必要とする。
【００１１】したがって、本発明の目的は、記録媒体上
の欠陥を少ないメモリ容量で処理することができる記録
装置、記録媒体及び記録制御方法を提供することであ
る。
の欠陥を少ないメモリ容量で処理することができる記録
装置、記録媒体及び記録制御方法を提供することであ
る。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明に係る記録装置
は、ブロック化された記録領域を有する記録媒体と、記
録媒体上の欠陥が複数のブロックに亙る際の先頭のアド
レスと欠陥のブロック長とを記録する連続欠陥記録領域
および欠陥が単一のブロックである際のアドレスを記録
する不連続欠陥記録領域を有する欠陥ブロック記録手段
と、欠陥ブロック記録手段により記録されたブロック以
外のブロックに対して記録を行う記録手段とを備えてい
る。
は、ブロック化された記録領域を有する記録媒体と、記
録媒体上の欠陥が複数のブロックに亙る際の先頭のアド
レスと欠陥のブロック長とを記録する連続欠陥記録領域
および欠陥が単一のブロックである際のアドレスを記録
する不連続欠陥記録領域を有する欠陥ブロック記録手段
と、欠陥ブロック記録手段により記録されたブロック以
外のブロックに対して記録を行う記録手段とを備えてい
る。
【００１３】また、本発明に係る記録媒体は、ブロック
化された記録領域を有し、記録装置に備えられ、ディス
ク状記録媒体あるいはメモリ装置からなる。また、記録
媒体の内部に欠陥ブロック記録手段が格納される場合、
欠陥ブロック記録手段は、欠陥が複数のブロックに亙る
際の先頭のアドレスと欠陥のブロック長とを記録する連
続欠陥記録領域および欠陥が単一のブロックである際の
アドレスを記録する不連続欠陥記録領域を有している。
化された記録領域を有し、記録装置に備えられ、ディス
ク状記録媒体あるいはメモリ装置からなる。また、記録
媒体の内部に欠陥ブロック記録手段が格納される場合、
欠陥ブロック記録手段は、欠陥が複数のブロックに亙る
際の先頭のアドレスと欠陥のブロック長とを記録する連
続欠陥記録領域および欠陥が単一のブロックである際の
アドレスを記録する不連続欠陥記録領域を有している。
【００１４】また、本発明に係る記録制御方法は、ブロ
ック化された記録領域を有する記録媒体に対する記録を
制御する記録制御方法であって、複数のブロックに亙る
欠陥の、先頭のアドレスと欠陥のブロック長とを記録す
る連続欠陥記録ステップと、単一のブロックの欠陥を記
録する不連続欠陥記録ステップと、欠陥ブロック記録ス
テップにより記録されたブロック以外のブロックに対し
て記録を行う記録ステップとを有している。
ック化された記録領域を有する記録媒体に対する記録を
制御する記録制御方法であって、複数のブロックに亙る
欠陥の、先頭のアドレスと欠陥のブロック長とを記録す
る連続欠陥記録ステップと、単一のブロックの欠陥を記
録する不連続欠陥記録ステップと、欠陥ブロック記録ス
テップにより記録されたブロック以外のブロックに対し
て記録を行う記録ステップとを有している。
【００１５】
【発明の実施の形態】図１は本発明を適用した第１の実
施形態であるディスクドライブ装置の構成を示すブロッ
ク図である。
施形態であるディスクドライブ装置の構成を示すブロッ
ク図である。
【００１６】このディスクドライブ装置は、データを記
録するための磁気ディスク１と、磁気ディスク１に対し
てデータの記録／再生を行なうヘッド２と、ヘッド２の
位置を制御するサーボ系３と、ヘッド２によるデータの
記録／再生を制御する記録／再生系４と、サーボ制御、
データの記録／再生制御、ホスト装置１０とのデータの
入出力等を制御する制御部５を備えている。
録するための磁気ディスク１と、磁気ディスク１に対し
てデータの記録／再生を行なうヘッド２と、ヘッド２の
位置を制御するサーボ系３と、ヘッド２によるデータの
記録／再生を制御する記録／再生系４と、サーボ制御、
データの記録／再生制御、ホスト装置１０とのデータの
入出力等を制御する制御部５を備えている。
【００１７】磁気ディスク１の記録面上には、所定回転
角毎に、サーボセクタが形成されており、隣接するサー
ボセクタ間には物理セクタ（ブロック）が形成されてい
る。
角毎に、サーボセクタが形成されており、隣接するサー
ボセクタ間には物理セクタ（ブロック）が形成されてい
る。
【００１８】また、制御部５は、サーボ制御等を実行す
るハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）１１と、サー
ボ制御のためのサーボデータの演算、エラー処理等の処
理を実行するＭＰＵ１２と、ＭＰＵ１２を動作させるた
めのマイクロプログラム、データ等が格納されたＲＯＭ
１３と、サーボ制御のためのデータが記憶され、あるい
は記録／再生データがキャッシュされるＲＡＭ１４とを
備えている。
るハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）１１と、サー
ボ制御のためのサーボデータの演算、エラー処理等の処
理を実行するＭＰＵ１２と、ＭＰＵ１２を動作させるた
めのマイクロプログラム、データ等が格納されたＲＯＭ
１３と、サーボ制御のためのデータが記憶され、あるい
は記録／再生データがキャッシュされるＲＡＭ１４とを
備えている。
【００１９】制御部５は、マイクロプログラムの複数の
プロセスを並行して実行することができるようになって
おり、そのうちの１つのプロセスは、磁気ディスク１上
に記録されているサーボセクタが再生される毎に実行さ
れるサーボデータを求めるための演算である。また、他
に情報処理装置１０との間のコマンド、データ等の入出
力の制御、エラー発生時の処理、ホスト装置１０から読
み出されるであろうデータを先読みしてＲＡＭ１４に記
憶しておくリードキャッシュプロセス、ＲＡＭ１４に記
憶されたデータを磁気ディスク１に書き込むライトキャ
ッシュプロセス、エラー処理等のプロセスを実行する。
プロセスを並行して実行することができるようになって
おり、そのうちの１つのプロセスは、磁気ディスク１上
に記録されているサーボセクタが再生される毎に実行さ
れるサーボデータを求めるための演算である。また、他
に情報処理装置１０との間のコマンド、データ等の入出
力の制御、エラー発生時の処理、ホスト装置１０から読
み出されるであろうデータを先読みしてＲＡＭ１４に記
憶しておくリードキャッシュプロセス、ＲＡＭ１４に記
憶されたデータを磁気ディスク１に書き込むライトキャ
ッシュプロセス、エラー処理等のプロセスを実行する。
【００２０】また、このディスクドライブ装置では、デ
ィスクの製造時、あるいはローレベルフォーマットを行
なう際に、各物理セクタのチェックを行なって欠陥セク
タを検出する。そして、欠陥の生じたセクタをディフェ
クト（defect：欠陥）マップ（欠陥ブロック記録手段）
に登録しておき、残りの正常なセクタに対して論理ブロ
ックアドレス（ＬＢＡ：Logical Block Address ）を割
り当てる。このディフェクトマップは、例えば磁気ディ
スク１上の所定の領域に記録される。制御部５のＭＰＵ
１２（記録手段）は、動作時に、ディフェクトマップを
磁気ディスク１からＲＡＭ１４に読み出し、これを参照
してＬＢＡが割り当てられたセクタに対してデータの記
録／再生を指示する。
ィスクの製造時、あるいはローレベルフォーマットを行
なう際に、各物理セクタのチェックを行なって欠陥セク
タを検出する。そして、欠陥の生じたセクタをディフェ
クト（defect：欠陥）マップ（欠陥ブロック記録手段）
に登録しておき、残りの正常なセクタに対して論理ブロ
ックアドレス（ＬＢＡ：Logical Block Address ）を割
り当てる。このディフェクトマップは、例えば磁気ディ
スク１上の所定の領域に記録される。制御部５のＭＰＵ
１２（記録手段）は、動作時に、ディフェクトマップを
磁気ディスク１からＲＡＭ１４に読み出し、これを参照
してＬＢＡが割り当てられたセクタに対してデータの記
録／再生を指示する。
【００２１】このディスクドライブ装置では、図２に示
すような可変長のディフェクトマップを用いている。こ
のディフェクトマップは、欠陥の先頭のセクタのアドレ
スを記録する２バイトの領域と、欠陥の長さ（欠陥セク
タ群の長さ）を記録する１バイトを１組として、例えば
２０００組分の記録領域（６０００バイト相当）からな
る。
すような可変長のディフェクトマップを用いている。こ
のディフェクトマップは、欠陥の先頭のセクタのアドレ
スを記録する２バイトの領域と、欠陥の長さ（欠陥セク
タ群の長さ）を記録する１バイトを１組として、例えば
２０００組分の記録領域（６０００バイト相当）からな
る。
【００２２】この図２は、欠陥が、図３に示すように物
理アドレス（ＡＢＡ：Absolute Block Address）が１、
３、４、５、１０であるセクタに存在する場合について
示している。
理アドレス（ＡＢＡ：Absolute Block Address）が１、
３、４、５、１０であるセクタに存在する場合について
示している。
【００２３】すなわち、最初の欠陥セクタはアドレス１
のセクタのみであるため、このアドレス１と長さ１がデ
ィフェクトマップに登録される。次の欠陥セクタは、ア
ドレス３〜５に連続しているため、先頭のアドレス３と
長さ３がディフェクトマップに登録される。さらに次の
欠陥セクタは、アドレス１０で連続していないため、先
頭アドレス１０と長さ１がディフェクトマップに登録さ
れる。
のセクタのみであるため、このアドレス１と長さ１がデ
ィフェクトマップに登録される。次の欠陥セクタは、ア
ドレス３〜５に連続しているため、先頭のアドレス３と
長さ３がディフェクトマップに登録される。さらに次の
欠陥セクタは、アドレス１０で連続していないため、先
頭アドレス１０と長さ１がディフェクトマップに登録さ
れる。
【００２４】ところで、従来の単一セクタのディフェク
トマップでは、登録する欠陥の長さが一定であるので、
図４に示すように、欠陥の開始セクタのアドレス（２バ
イト）のみを記録していた。従って、上述の図３に示す
ような欠陥セクタがある場合には、各々の欠陥セクタの
アドレス１、３、４、５、１０の５つの欠陥セクタがデ
ィフェクトマップに登録される。
トマップでは、登録する欠陥の長さが一定であるので、
図４に示すように、欠陥の開始セクタのアドレス（２バ
イト）のみを記録していた。従って、上述の図３に示す
ような欠陥セクタがある場合には、各々の欠陥セクタの
アドレス１、３、４、５、１０の５つの欠陥セクタがデ
ィフェクトマップに登録される。
【００２５】また、従来の固定長のディフェクトマップ
においても、登録する欠陥の長さが一定（例えば５セク
タとする。）であるので、図５に示すように、欠陥の開
始セクタのアドレス（２バイト）のみを記録していた。
従って、上述の図３に示すような欠陥セクタがある場合
には、各々の欠陥セクタの先頭のアドレス１、３、１０
の３つの欠陥セクタ群がディフェクトマップに登録され
る。この場合、アドレスが１〜７（１〜５と３〜７）、
１０〜１４の１２セクタに上述のＬＢＡが割り当てられ
ず、不使用状態（スキップアウト）となる。
においても、登録する欠陥の長さが一定（例えば５セク
タとする。）であるので、図５に示すように、欠陥の開
始セクタのアドレス（２バイト）のみを記録していた。
従って、上述の図３に示すような欠陥セクタがある場合
には、各々の欠陥セクタの先頭のアドレス１、３、１０
の３つの欠陥セクタ群がディフェクトマップに登録され
る。この場合、アドレスが１〜７（１〜５と３〜７）、
１０〜１４の１２セクタに上述のＬＢＡが割り当てられ
ず、不使用状態（スキップアウト）となる。
【００２６】これらの例では、同様な欠陥を登録するの
に、単一セクタのディフェクトマップ（図４）では１０
バイト、固定長セクタのディフェクトマップ（図５）で
は６バイト、可変長セクタのディフェクトマップ（図
２）では９バイトの領域を必要とする。
に、単一セクタのディフェクトマップ（図４）では１０
バイト、固定長セクタのディフェクトマップ（図５）で
は６バイト、可変長セクタのディフェクトマップ（図
２）では９バイトの領域を必要とする。
【００２７】単一セクタのディフェクトマップでは、ｎ
個のセクタに連続する欠陥を登録するためには、２ｎバ
イトの領域を必要とする。これに対し、このディスクド
ライブで用いている可変長のディフェクトマップでは、
同様の欠陥を３バイトで登録することができる。従っ
て、欠陥の長さが長くなってｎが増加する程、ディフェ
クトマップのデータ量を減少させることができる。上述
の例では、可変長のディフェクトマップにしたことによ
って減少するデータ量は１バイト（１０％）に過ぎない
が、実際のディスクドライブ装置では、複数セクタに連
続した欠陥（バースト型の欠陥）が多いため、さらにデ
ータ量を減少させることができる。例えばあるディスク
ドライブ装置では、単一のセクタの欠陥は３０％程度で
あり、残りの７０％程度は複数のセクタに亙る欠陥であ
った。このようなディスクドライブ装置において可変長
のディフェクトマップを用いたところ、ディフェクトマ
ップの容量を、単一セクタのディフェクトマップのみの
場合に比較して例えば５０％程度にすることができる。
個のセクタに連続する欠陥を登録するためには、２ｎバ
イトの領域を必要とする。これに対し、このディスクド
ライブで用いている可変長のディフェクトマップでは、
同様の欠陥を３バイトで登録することができる。従っ
て、欠陥の長さが長くなってｎが増加する程、ディフェ
クトマップのデータ量を減少させることができる。上述
の例では、可変長のディフェクトマップにしたことによ
って減少するデータ量は１バイト（１０％）に過ぎない
が、実際のディスクドライブ装置では、複数セクタに連
続した欠陥（バースト型の欠陥）が多いため、さらにデ
ータ量を減少させることができる。例えばあるディスク
ドライブ装置では、単一のセクタの欠陥は３０％程度で
あり、残りの７０％程度は複数のセクタに亙る欠陥であ
った。このようなディスクドライブ装置において可変長
のディフェクトマップを用いたところ、ディフェクトマ
ップの容量を、単一セクタのディフェクトマップのみの
場合に比較して例えば５０％程度にすることができる。
【００２８】また、上述の各ディフェクトマップの比較
結果では、固定長セクタのディフェクトマップが、登録
に要する領域が一番小さいようにも思えるが、欠陥セク
タの長さが固定長（上述の例では）より長い場合には複
数の登録が必要となる。可変長のディフェクトマップで
は、このような場合にも１つの登録で済むため、登録に
要する容量が小さくなる。
結果では、固定長セクタのディフェクトマップが、登録
に要する領域が一番小さいようにも思えるが、欠陥セク
タの長さが固定長（上述の例では）より長い場合には複
数の登録が必要となる。可変長のディフェクトマップで
は、このような場合にも１つの登録で済むため、登録に
要する容量が小さくなる。
【００２９】また、固定長のディフェクトマップでは、
上述のような５セクタの欠陥に対して１２セクタ分がス
キップアウトされてしまうために、磁気ディスク１の記
録領域を効率的に使用することができない。可変長のデ
ィフェクトマップでは、このような場合にも、５セクタ
のみをスキップアウトするため、磁気ディスク１の記録
領域を効率的に使用することができる。
上述のような５セクタの欠陥に対して１２セクタ分がス
キップアウトされてしまうために、磁気ディスク１の記
録領域を効率的に使用することができない。可変長のデ
ィフェクトマップでは、このような場合にも、５セクタ
のみをスキップアウトするため、磁気ディスク１の記録
領域を効率的に使用することができる。
【００３０】上述のように、ディフェクトマップを可変
長とすることにより、複数のセクタに亙る欠陥を登録す
る際に要するメモリ（ＲＡＭ１４）容量を低減させるこ
とができる。また、ディフェクトマップを可変長とする
ことにより、ディフェクトマップを固定長とした場合に
比較して磁気ディスクの記録領域の使用効率を向上させ
ることができる。
長とすることにより、複数のセクタに亙る欠陥を登録す
る際に要するメモリ（ＲＡＭ１４）容量を低減させるこ
とができる。また、ディフェクトマップを可変長とする
ことにより、ディフェクトマップを固定長とした場合に
比較して磁気ディスクの記録領域の使用効率を向上させ
ることができる。
【００３１】ところで、特定のセクタを表す物理アドレ
ス（ＡＢＡ）は、４バイト乃至３バイト程度必要である
が、以下の方法によって、各々の欠陥セクタのアドレス
を２バイトで指示することができる。
ス（ＡＢＡ）は、４バイト乃至３バイト程度必要である
が、以下の方法によって、各々の欠陥セクタのアドレス
を２バイトで指示することができる。
【００３２】具体的には、１トラック６５５３６セクタ
からなる仮想トラックを想定し、欠陥セクタのアドレス
を仮想トラック（Virtual Track ）と、仮想トラック内
の仮想セクタ（Virtual Sector）によって指定する。
からなる仮想トラックを想定し、欠陥セクタのアドレス
を仮想トラック（Virtual Track ）と、仮想トラック内
の仮想セクタ（Virtual Sector）によって指定する。
【００３３】ディフェクトマップは、図６（Ａ）に示す
２バイトのＶＴＴ（Virtual TrackTable ：仮想トラッ
クテーブル）と、同図（Ｂ）に示す２バイトのＶＳＴ
（Virtual Sector Table：仮想セクタテーブル、図５中
の先頭アドレスに相当）と、ＶＴＴの各々に対応するセ
クタ長（図５中の長さに相当）とからなる。
２バイトのＶＴＴ（Virtual TrackTable ：仮想トラッ
クテーブル）と、同図（Ｂ）に示す２バイトのＶＳＴ
（Virtual Sector Table：仮想セクタテーブル、図５中
の先頭アドレスに相当）と、ＶＴＴの各々に対応するセ
クタ長（図５中の長さに相当）とからなる。
【００３４】ＶＳＴには、欠陥セクタの仮想セクタ番号
をＡＢＡの昇順に格納する。また、ＶＴＴには、仮想ト
ラックに対応する最小の欠陥セクタが格納されているＶ
ＳＴの番号を格納する。
をＡＢＡの昇順に格納する。また、ＶＴＴには、仮想ト
ラックに対応する最小の欠陥セクタが格納されているＶ
ＳＴの番号を格納する。
【００３５】仮想トラックと仮想セクタの値は、図６
（Ｃ）に示す疑似的なＬＢＡによって求められる。この
疑似ＬＢＡは同図（Ｄ）に示す欠陥セクタのＡＢＡから
当該欠陥セクタより前の欠陥セクタ数を引いたものであ
る。すなわち、この疑似ＬＢＡは、当該セクタが欠陥で
なかった場合に割り当てられるべきであったＬＢＡに対
応する。
（Ｃ）に示す疑似的なＬＢＡによって求められる。この
疑似ＬＢＡは同図（Ｄ）に示す欠陥セクタのＡＢＡから
当該欠陥セクタより前の欠陥セクタ数を引いたものであ
る。すなわち、この疑似ＬＢＡは、当該セクタが欠陥で
なかった場合に割り当てられるべきであったＬＢＡに対
応する。
【００３６】仮想トラックの数が、例えば７２である場
合には、ＶＴＴの記録領域として１４４バイト（＝７２
×２バイト）の領域を必要とする。これに加え、ＶＳＴ
とこれに対応する長さを記録する領域は、例えば可変長
の欠陥セクタ群２０００個に対応するとすれば、６００
０バイト（＝２０００×３バイト）必要とする。
合には、ＶＴＴの記録領域として１４４バイト（＝７２
×２バイト）の領域を必要とする。これに加え、ＶＳＴ
とこれに対応する長さを記録する領域は、例えば可変長
の欠陥セクタ群２０００個に対応するとすれば、６００
０バイト（＝２０００×３バイト）必要とする。
【００３７】これに対し、同様の規模のディフェクトマ
ップを各々の先頭アドレスを４バイトで表した場合、１
００００バイト（＝２０００×５バイト）必要とする。
従って、ＶＴＴと、ＶＳＴを用いてディフェクトマップ
を構成することにより、ディフェクトマップのサイズを
減少させることができ、制御部５のＲＡＭ１４に占める
領域を低減させることができる。また、同一の容量の領
域をディフェクトマップに割り当てた場合、対応するこ
とができる欠陥セクタ群の数を増加させることができ
る。
ップを各々の先頭アドレスを４バイトで表した場合、１
００００バイト（＝２０００×５バイト）必要とする。
従って、ＶＴＴと、ＶＳＴを用いてディフェクトマップ
を構成することにより、ディフェクトマップのサイズを
減少させることができ、制御部５のＲＡＭ１４に占める
領域を低減させることができる。また、同一の容量の領
域をディフェクトマップに割り当てた場合、対応するこ
とができる欠陥セクタ群の数を増加させることができ
る。
【００３８】以下、可変長のディフェクトセクタを作成
するための処理について図７を用いて説明する。
するための処理について図７を用いて説明する。
【００３９】磁気ディスク１の製造時、あるいは、ロー
レベルのフォーマットを行なう際には、まず、ステップ
Ｓ１において、各セクタのチェックを行ない、従来と同
様な単一セクタのディフェクトマップ｛Ａ［ｘ］、ｘ＝
０、１、・・・、Ｎ−１｝を形成する。
レベルのフォーマットを行なう際には、まず、ステップ
Ｓ１において、各セクタのチェックを行ない、従来と同
様な単一セクタのディフェクトマップ｛Ａ［ｘ］、ｘ＝
０、１、・・・、Ｎ−１｝を形成する。
【００４０】このように単一セクタのディフェクトマッ
プを形成した後、ステップＳ２において、ディフェクト
マップ中の欠陥セクタの登録をＡＢＡの昇順にソートす
る。この後、ステップＳ３以下の処理を行なって、欠陥
の連続セクタ数すなわち上述の図２中の長さを求め、可
変長のディフェクトマップを形成する。
プを形成した後、ステップＳ２において、ディフェクト
マップ中の欠陥セクタの登録をＡＢＡの昇順にソートす
る。この後、ステップＳ３以下の処理を行なって、欠陥
の連続セクタ数すなわち上述の図２中の長さを求め、可
変長のディフェクトマップを形成する。
【００４１】具体的には、ステップＳ３においてカウン
タｉ、ｊの値を０とし、続くステップＳ４において、カ
ウンタｉの値が単一セクタのディフェクトマップの要素
数Ｎより小さいか否かを確認し、カウンタｉの値がＮよ
り小さくなければ終了し、カウンタｉの値がＮより小さ
ければ続くステップＳ５に進み、バースト長（欠陥の長
さ）をカウントするためのカウンタｎの値を１とした
後、続くステップＳ６に進む。
タｉ、ｊの値を０とし、続くステップＳ４において、カ
ウンタｉの値が単一セクタのディフェクトマップの要素
数Ｎより小さいか否かを確認し、カウンタｉの値がＮよ
り小さくなければ終了し、カウンタｉの値がＮより小さ
ければ続くステップＳ５に進み、バースト長（欠陥の長
さ）をカウントするためのカウンタｎの値を１とした
後、続くステップＳ６に進む。
【００４２】ステップＳ６では、単一セクタのディフェ
クトマップのｉ＋ｎ番目の要素Ａ［ｉ＋ｎ］が、ｉ＋ｎ
−１番目の要素Ａ［ｉ＋ｎ−１］に１を加えた値である
か否かを判定している。すなわち、ｉ＋ｎ番目の要素と
して登録されたセクタが、ｉ＋ｎ−１番目の要素として
登録されたセクタの次のセクタであるか否かを判定して
いる。該当するときは、続くステップＳ７に進み、カウ
ンタｎの値に１を加えた後ステップＳ６に戻る。該当し
ないときは、ステップＳ８に進み、単一セクタのディフ
ェクトマップのｉ番目の要素Ａ［ｉ］を可変長ディフェ
クトマップのｊ番目の先頭アドレスＢ．Ｓｔａｒｔ
［ｊ］とし、カウンタｎの値を可変長ディフェクトマッ
プのｊ番目の長さＢ．Ｌｅｎｇｔｈ［ｊ］として登録す
る。そして、カウンタｉの値にｎを加え、カウンタｊの
値に１を加えた後、ステップＳ４に戻る。
クトマップのｉ＋ｎ番目の要素Ａ［ｉ＋ｎ］が、ｉ＋ｎ
−１番目の要素Ａ［ｉ＋ｎ−１］に１を加えた値である
か否かを判定している。すなわち、ｉ＋ｎ番目の要素と
して登録されたセクタが、ｉ＋ｎ−１番目の要素として
登録されたセクタの次のセクタであるか否かを判定して
いる。該当するときは、続くステップＳ７に進み、カウ
ンタｎの値に１を加えた後ステップＳ６に戻る。該当し
ないときは、ステップＳ８に進み、単一セクタのディフ
ェクトマップのｉ番目の要素Ａ［ｉ］を可変長ディフェ
クトマップのｊ番目の先頭アドレスＢ．Ｓｔａｒｔ
［ｊ］とし、カウンタｎの値を可変長ディフェクトマッ
プのｊ番目の長さＢ．Ｌｅｎｇｔｈ［ｊ］として登録す
る。そして、カウンタｉの値にｎを加え、カウンタｊの
値に１を加えた後、ステップＳ４に戻る。
【００４３】ステップＳ６〜Ｓ７の処理を繰り返すこと
により、単一セクタのディフェクトマップのｉ番目の要
素から始まる欠陥の長さをカウンタｎの値として求めて
いる。
により、単一セクタのディフェクトマップのｉ番目の要
素から始まる欠陥の長さをカウンタｎの値として求めて
いる。
【００４４】上述のような処理は、磁気ディスクの製造
時に行なう場合には検査装置等が実行し、ローレベルフ
ォーマットの際に行なう場合には制御部５のＭＰＵ１２
が実行する。この結果得られたディフェクトマップは、
磁気ディスク１上の所定の領域に記録される。このよう
に、ディフェクトマップが記録された磁気ディスク１を
ディスクドライブ装置において用いることにより、上述
の可変長のディフェクトマップを容易に構成することが
できる。
時に行なう場合には検査装置等が実行し、ローレベルフ
ォーマットの際に行なう場合には制御部５のＭＰＵ１２
が実行する。この結果得られたディフェクトマップは、
磁気ディスク１上の所定の領域に記録される。このよう
に、ディフェクトマップが記録された磁気ディスク１を
ディスクドライブ装置において用いることにより、上述
の可変長のディフェクトマップを容易に構成することが
できる。
【００４５】なお、上述の説明では、論理フォーマット
によりＬＢＡを割り当てる前に、欠陥セクタをスキップ
アウトするためのディフェクトマップについて本発明を
適用したが、論理フォーマット後に欠陥が生じた欠陥セ
クタに代替セクタを割り当てるためのディフェクトマッ
プ（リアサイン（再割り当て）テーブル）に本発明を適
用してもよい。この場合、欠陥セクタの先頭アドレスと
長さに応じて代替セクタが割り当てられる。
によりＬＢＡを割り当てる前に、欠陥セクタをスキップ
アウトするためのディフェクトマップについて本発明を
適用したが、論理フォーマット後に欠陥が生じた欠陥セ
クタに代替セクタを割り当てるためのディフェクトマッ
プ（リアサイン（再割り当て）テーブル）に本発明を適
用してもよい。この場合、欠陥セクタの先頭アドレスと
長さに応じて代替セクタが割り当てられる。
【００４６】具体的には、このリアサインテーブルは、
図８に示すように、欠陥の先頭のセクタのアドレスと、
その長さと、代替セクタの先頭のアドレスとからなる。
代替セクタは欠陥の長さに応じて割り当てられるため、
代替セクタの先頭アドレスは、欠陥の長さ分ずつ増加す
るように設定される。
図８に示すように、欠陥の先頭のセクタのアドレスと、
その長さと、代替セクタの先頭のアドレスとからなる。
代替セクタは欠陥の長さに応じて割り当てられるため、
代替セクタの先頭アドレスは、欠陥の長さ分ずつ増加す
るように設定される。
【００４７】このようなリアサインテーブルは、ＭＰＵ
１２が作成してＲＡＭ１４に記録する。あるいは磁気デ
ィスク１上の所定の領域に記録しておき、動作時にＲＡ
Ｍ１４に読み出すようにしてもよい。ＭＰＵ１２は、ホ
スト装置１０からリアサインテーブルに登録されたセク
タに対する記録／再生要求があった場合、代替セクタに
対して記録／再生を行なうように、サーボ系３、記録／
再生系４を制御する。
１２が作成してＲＡＭ１４に記録する。あるいは磁気デ
ィスク１上の所定の領域に記録しておき、動作時にＲＡ
Ｍ１４に読み出すようにしてもよい。ＭＰＵ１２は、ホ
スト装置１０からリアサインテーブルに登録されたセク
タに対する記録／再生要求があった場合、代替セクタに
対して記録／再生を行なうように、サーボ系３、記録／
再生系４を制御する。
【００４８】ところで、欠陥セクタの分布は記録媒体毎
に個体差があるため、単一のセクタの欠陥の比率が多い
場合がある。このような記録媒体に対して上述のように
可変長のディフェクトマップを用いた場合には、ブロッ
ク長を記録する領域を必要とする分だけ、単一のセクタ
のディフェクトマップより多くの容量を必要としてしま
う。この結果、同一のメモリ容量で登録できる欠陥セク
タ数が減少してしまう。
に個体差があるため、単一のセクタの欠陥の比率が多い
場合がある。このような記録媒体に対して上述のように
可変長のディフェクトマップを用いた場合には、ブロッ
ク長を記録する領域を必要とする分だけ、単一のセクタ
のディフェクトマップより多くの容量を必要としてしま
う。この結果、同一のメモリ容量で登録できる欠陥セク
タ数が減少してしまう。
【００４９】このため、本発明を適用した第２の実施形
態に係るディスクドライブ装置では、上述の図２に示す
可変長のディフェクトマップの代わりに、図９（Ａ）に
示す単一セクタのディフェクトマップと、同図（Ｂ）に
示す可変長のディフェクトマップを併用している。
態に係るディスクドライブ装置では、上述の図２に示す
可変長のディフェクトマップの代わりに、図９（Ａ）に
示す単一セクタのディフェクトマップと、同図（Ｂ）に
示す可変長のディフェクトマップを併用している。
【００５０】この図９は、上述の図３に示す欠陥を登録
した場合について図示している。すなわち、アドレス
１、１０のセクタの欠陥は単一セクタの不良であるた
め、図９（Ａ）に示す単一セクタのディフェクトマップ
にアドレス１、１０のみを登録する。また、アドレス３
のセクタから開始する３セクタ分の欠陥は複数セクタに
亙る欠陥であるため、図９（Ｂ）に示す可変長のディフ
ェクトマップに開始セクタのアドレス３と長さ３を登録
する。
した場合について図示している。すなわち、アドレス
１、１０のセクタの欠陥は単一セクタの不良であるた
め、図９（Ａ）に示す単一セクタのディフェクトマップ
にアドレス１、１０のみを登録する。また、アドレス３
のセクタから開始する３セクタ分の欠陥は複数セクタに
亙る欠陥であるため、図９（Ｂ）に示す可変長のディフ
ェクトマップに開始セクタのアドレス３と長さ３を登録
する。
【００５１】このようなディフェクトマップを用いるこ
とにより、上述の図２に示すディフェクトマップでは、
登録するのに９バイト要していた図３に示す欠陥を、７
バイトで登録することができる。従って、ディフェクト
マップのデータ量をさらに減少させることができる。こ
れは、単独セクタの欠陥が多い磁気ディスク１の場合に
特に顕著となる。すなわち、ｍ個の単独セクタの欠陥が
ある場合には、上述の図５に示す可変長のディフェクト
マップに対してｍバイト分、データ量を減少させること
ができる。例えばあるディスクドライブ装置では、単一
のセクタの欠陥は３０％程度であり、残りの７０％程度
は複数のセクタに亙る欠陥であった。このようなディス
クドライブ装置において上述の図９に示す構成のディフ
ェクトマップを用いたところ、ディフェクトマップの容
量を、単一セクタのディフェクトマップのみの場合に比
較して４０％程度にすることができる。
とにより、上述の図２に示すディフェクトマップでは、
登録するのに９バイト要していた図３に示す欠陥を、７
バイトで登録することができる。従って、ディフェクト
マップのデータ量をさらに減少させることができる。こ
れは、単独セクタの欠陥が多い磁気ディスク１の場合に
特に顕著となる。すなわち、ｍ個の単独セクタの欠陥が
ある場合には、上述の図５に示す可変長のディフェクト
マップに対してｍバイト分、データ量を減少させること
ができる。例えばあるディスクドライブ装置では、単一
のセクタの欠陥は３０％程度であり、残りの７０％程度
は複数のセクタに亙る欠陥であった。このようなディス
クドライブ装置において上述の図９に示す構成のディフ
ェクトマップを用いたところ、ディフェクトマップの容
量を、単一セクタのディフェクトマップのみの場合に比
較して４０％程度にすることができる。
【００５２】このようなディフェクトマップを作成する
ためには、上述の検査装置等あるいはＭＰＵ１２は、デ
ィフェクトマップの作成時に、上述の図７に示す処理の
代わりに図１０に示す処理を実行する。
ためには、上述の検査装置等あるいはＭＰＵ１２は、デ
ィフェクトマップの作成時に、上述の図７に示す処理の
代わりに図１０に示す処理を実行する。
【００５３】まず、ステップＳ１１において、上述の図
７中のステップＳ１と同様に、各セクタのチェックを行
ない、従来と同様な単一セクタのディフェクトマップ
｛Ａ［ｘ］、ｘ＝０、１、・・・、Ｎ−１｝を形成す
る。
７中のステップＳ１と同様に、各セクタのチェックを行
ない、従来と同様な単一セクタのディフェクトマップ
｛Ａ［ｘ］、ｘ＝０、１、・・・、Ｎ−１｝を形成す
る。
【００５４】このように単一セクタのディフェクトマッ
プを形成した後、ステップＳ１２において、上述のステ
ップＳ２と同様に、ディフェクトマップ中の欠陥セクタ
の登録をＡＢＡの昇順にソートする。
プを形成した後、ステップＳ１２において、上述のステ
ップＳ２と同様に、ディフェクトマップ中の欠陥セクタ
の登録をＡＢＡの昇順にソートする。
【００５５】この後、ステップＳ１３以下の処理を行な
って、従来と同様な単一セクタのディフェクトマップに
登録された欠陥セクタを単一セクタの欠陥と、複数のセ
クタに亙って連続する欠陥とに分類する。また、複数の
セクタに亙って連続する欠陥についてはその長さを求め
る。
って、従来と同様な単一セクタのディフェクトマップに
登録された欠陥セクタを単一セクタの欠陥と、複数のセ
クタに亙って連続する欠陥とに分類する。また、複数の
セクタに亙って連続する欠陥についてはその長さを求め
る。
【００５６】具体的には、ステップＳ１３においてカウ
ンタｉ、ｊ、ｋの値を０とし、続くステップＳ１４にお
いて、カウンタｉの値が単一セクタのディフェクトマッ
プの要素数Ｎより小さいか否かを確認し、カウンタｉの
値がＮより小さくなければステップＳ１５に進み、その
時のカウンタｊの値を単一セクタのディフェクトマップ
Ｂ［ｙ］の要素数Ｎ１とし、カウンタｋの値を単一セク
タのディフェクトマップＣ［ｚ］の要素数Ｎ２として終
了する。
ンタｉ、ｊ、ｋの値を０とし、続くステップＳ１４にお
いて、カウンタｉの値が単一セクタのディフェクトマッ
プの要素数Ｎより小さいか否かを確認し、カウンタｉの
値がＮより小さくなければステップＳ１５に進み、その
時のカウンタｊの値を単一セクタのディフェクトマップ
Ｂ［ｙ］の要素数Ｎ１とし、カウンタｋの値を単一セク
タのディフェクトマップＣ［ｚ］の要素数Ｎ２として終
了する。
【００５７】一方、カウンタｉの値がＮより小さければ
ステップＳ１６に進み、単一セクタのディフェクトマッ
プのｉ＋１番目の要素Ａ［ｉ＋１］が、ｉ番目の要素Ａ
［ｉ］に１を加えた値であるか否かを判定している。す
なわち、ｉ＋１番目の要素として登録されたセクタが、
ｉ番目の要素として登録されたセクタの次のセクタであ
るか否かを判定している。該当しないときは単一セクタ
の欠陥であるので、ステップＳ１８に進み、単一セクタ
のディフェクトマップのｉ番目の要素Ａ［ｉ］を単一セ
クタのディフェクトマップのｊ番目の要素Ｂ［ｊ］と
し、カウンタｉ、ｊの値にそれぞれ１を加え、ステップ
Ｓ１４に戻る。また、該当するときは、複数のセクタに
亙る欠陥であるため、ステップＳ１７以降の処理を実行
して欠陥の長さを求める。ステップＳ１７では、バース
ト長（欠陥の長さ）をカウントするためのカウンタｎの
値を１とした後、ステップＳ１９に進む。
ステップＳ１６に進み、単一セクタのディフェクトマッ
プのｉ＋１番目の要素Ａ［ｉ＋１］が、ｉ番目の要素Ａ
［ｉ］に１を加えた値であるか否かを判定している。す
なわち、ｉ＋１番目の要素として登録されたセクタが、
ｉ番目の要素として登録されたセクタの次のセクタであ
るか否かを判定している。該当しないときは単一セクタ
の欠陥であるので、ステップＳ１８に進み、単一セクタ
のディフェクトマップのｉ番目の要素Ａ［ｉ］を単一セ
クタのディフェクトマップのｊ番目の要素Ｂ［ｊ］と
し、カウンタｉ、ｊの値にそれぞれ１を加え、ステップ
Ｓ１４に戻る。また、該当するときは、複数のセクタに
亙る欠陥であるため、ステップＳ１７以降の処理を実行
して欠陥の長さを求める。ステップＳ１７では、バース
ト長（欠陥の長さ）をカウントするためのカウンタｎの
値を１とした後、ステップＳ１９に進む。
【００５８】ステップＳ１９では、単一セクタのディフ
ェクトマップのｉ＋ｎ＋１番目の要素Ａ［ｉ＋ｎ＋１］
が、ｉ＋ｎ番目の要素Ａ［ｉ＋ｎ］に１を加えた値であ
るか否かを判定している。すなわち、ｉ＋ｎ＋１番目の
要素として登録されたセクタが、ｉ＋ｎ番目の要素とし
て登録されたセクタの次のセクタであるか否かを判定し
ている。該当するときは、続くステップＳ２０に進み、
カウンタｎの値に１を加えた後ステップＳ１９に戻る。
該当しないときは、ステップＳ２１に進み、単一セクタ
のディフェクトマップのｉ番目の要素Ａ［ｉ］を可変長
ディフェクトマップのｋ番目の先頭アドレスＣ．Ｓｔａ
ｒｔ［ｋ］とし、カウンタｎの値に１を加えた値（ｎ＋
１）を可変長ディフェクトマップのｋ番目の長さＣ．Ｌ
ｅｎｇｔｈ［ｋ］として登録する。そして、カウンタｉ
の値にｎ＋１を加え、カウンタｋの値に１を加えた後、
ステップＳ１４に戻る。
ェクトマップのｉ＋ｎ＋１番目の要素Ａ［ｉ＋ｎ＋１］
が、ｉ＋ｎ番目の要素Ａ［ｉ＋ｎ］に１を加えた値であ
るか否かを判定している。すなわち、ｉ＋ｎ＋１番目の
要素として登録されたセクタが、ｉ＋ｎ番目の要素とし
て登録されたセクタの次のセクタであるか否かを判定し
ている。該当するときは、続くステップＳ２０に進み、
カウンタｎの値に１を加えた後ステップＳ１９に戻る。
該当しないときは、ステップＳ２１に進み、単一セクタ
のディフェクトマップのｉ番目の要素Ａ［ｉ］を可変長
ディフェクトマップのｋ番目の先頭アドレスＣ．Ｓｔａ
ｒｔ［ｋ］とし、カウンタｎの値に１を加えた値（ｎ＋
１）を可変長ディフェクトマップのｋ番目の長さＣ．Ｌ
ｅｎｇｔｈ［ｋ］として登録する。そして、カウンタｉ
の値にｎ＋１を加え、カウンタｋの値に１を加えた後、
ステップＳ１４に戻る。
【００５９】ステップＳ１９〜Ｓ２０の処理を繰り返す
ことにより、単一セクタのディフェクトマップのｉ番目
の要素Ａ［ｉ］から始まる欠陥の長さをカウンタｎの値
として求めている。
ことにより、単一セクタのディフェクトマップのｉ番目
の要素Ａ［ｉ］から始まる欠陥の長さをカウンタｎの値
として求めている。
【００６０】このような処理を実行することにより、上
述の図９に示すような単一セクタのディフェクトマップ
と可変長のディフェクトマップを併有するディフェクト
マップが作成される。
述の図９に示すような単一セクタのディフェクトマップ
と可変長のディフェクトマップを併有するディフェクト
マップが作成される。
【００６１】なお、上述の実施形態では、固定ディスク
装置に本発明を適用した場合について説明しているが、
本発明の適用対象は上述の固定ディスク装置に限らず、
光磁気ディスク等の他のディスク状記録媒体等であって
もよく、あるいは、ブロック化された記録領域を有する
記録媒体であれば、例えばフラッシュメモリ等のメモリ
装置であってもよい。
装置に本発明を適用した場合について説明しているが、
本発明の適用対象は上述の固定ディスク装置に限らず、
光磁気ディスク等の他のディスク状記録媒体等であって
もよく、あるいは、ブロック化された記録領域を有する
記録媒体であれば、例えばフラッシュメモリ等のメモリ
装置であってもよい。
【００６２】
【発明の効果】本発明では、欠陥ブロック長記録手段が
欠陥のあるブロックの先頭のアドレスと欠陥のブロック
長とを記録し、記録手段が欠陥ブロック長記録手段によ
り記録されたブロック以外のブロックに対して記録を行
なうため、記録媒体上の欠陥を少ないメモリ容量で処理
することができる。
欠陥のあるブロックの先頭のアドレスと欠陥のブロック
長とを記録し、記録手段が欠陥ブロック長記録手段によ
り記録されたブロック以外のブロックに対して記録を行
なうため、記録媒体上の欠陥を少ないメモリ容量で処理
することができる。
【図１】 本発明の第１の実施形態に係るディスクドラ
イブ装置の構成を示すブロック図、
イブ装置の構成を示すブロック図、
【図２】 本発明の第１の実施形態に係るディスクドラ
イブ装置で用いるディフェクトマップの一例を示す図、
イブ装置で用いるディフェクトマップの一例を示す図、
【図３】 欠陥が生じたセクタの例を示す図、
【図４】 従来のディスクドライブ装置で用いるディフ
ェクトマップの例、
ェクトマップの例、
【図５】 従来のディスクドライブ装置で用いるディフ
ェクトマップの例、
ェクトマップの例、
【図６】 本発明の第１の実施形態に係るディスクドラ
イブ装置で用いるディフェクトマップにおけるアドレス
の表記法を示す図、
イブ装置で用いるディフェクトマップにおけるアドレス
の表記法を示す図、
【図７】 本発明の第１の実施形態に係るディスクドラ
イブ装置におけるディフェクトマップの生成プロセスを
示すフローチャート、
イブ装置におけるディフェクトマップの生成プロセスを
示すフローチャート、
【図８】 本発明の第１の実施形態に係るディスクドラ
イブ装置で用いるディフェクトマップの他の例を示す
図、
イブ装置で用いるディフェクトマップの他の例を示す
図、
【図９】 本発明の第２の実施形態に係るディスクドラ
イブ装置で用いるディフェクトマップの一例を示す図、
イブ装置で用いるディフェクトマップの一例を示す図、
【図１０】 本発明の第２の実施形態に係るディスクド
ライブ装置におけるディフェクトマップの生成プロセス
を示すフローチャートである。
ライブ装置におけるディフェクトマップの生成プロセス
を示すフローチャートである。
１ 磁気ディスク、４ 記録／再生系、５ 制御部、１
０ ホスト装置、１１ＨＤＣ、１２ ＭＰＵ、１３ Ｒ
ＯＭ、１４ ＲＡＭ
０ ホスト装置、１１ＨＤＣ、１２ ＭＰＵ、１３ Ｒ
ＯＭ、１４ ＲＡＭ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 佳代 神奈川県藤沢市桐原町１番地 日本ア イ・ビー・エム株式会社 藤沢事業所内 (72)発明者 横江 祐司 神奈川県藤沢市桐原町１番地 日本ア イ・ビー・エム株式会社 藤沢事業所内 (72)発明者 菅沼 茂実 神奈川県藤沢市桐原町１番地 日本ア イ・ビー・エム株式会社 藤沢事業所内 (56)参考文献 特開 平８−255467（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−243472（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−317149（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 20/12 G11B 20/10 G06F 12/16 G11C 29/00
Claims (6)
- 【請求項１】 ブロック化された記録領域を有する記録
媒体と、該記録媒体上の欠陥が複数のブロックに亙る際の先頭の
アドレスと欠陥のブロック長とを記録する連続欠陥記録
領域および欠陥が単一のブロックである際のアドレスを
記録する不連続欠陥記録領域を有する欠陥ブロック記録
手段と、 該欠陥ブロック記録手段により記録されたブロック以外
のブロックに対して記録を行う記録手段とを備えること
を特徴とする記録装置。 - 【請求項２】 前記記録媒体は、ディスク状記録媒体か
らなることを特徴とする請求項1に記載の記録装置。 - 【請求項３】 前記記録媒体は、メモリ装置からなるこ
とを特徴とする請求項1に記載の記録装置。 - 【請求項４】 前記記録媒体は、前記欠陥ブロック記録
手段を格納することを特徴とする請求項１から３の何れ
か1項に記載の記録装置。 - 【請求項５】 ブロック化された記録領域を有し、欠陥
が複数のブロックに亙る際の先頭のアドレスと欠陥のブ
ロック長とを記録する連続欠陥記録領域および欠陥が単
一のブロックである際のアドレスを記録する不連続欠陥
記録領域を有する欠陥ブロック記録手段が格納されるこ
とを特徴とする記録媒体。 - 【請求項６】 ブロック化された記録領域を有する記録
媒体に対する記録を制御する記録制御方法であって、 複数のブロックに亙る欠陥の、先頭のアドレスと欠陥の
ブロック長とを記録する連続欠陥記録ステップと、 単一のブロックの欠陥を記録する不連続欠陥記録ステッ
プと、 該欠陥ブロック記録ステップにより記録されたブロック
以外のブロックに対して記録を行う記録ステップとを有
することを特徴とする記録装置の制御方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09242701A JP3132754B2 (ja) | 1997-09-08 | 1997-09-08 | 記録装置、記録媒体及び記録制御方法 |
| US09/149,535 US6336202B1 (en) | 1997-09-08 | 1998-09-08 | Data storage system, storage medium and method of controlling a data storage system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09242701A JP3132754B2 (ja) | 1997-09-08 | 1997-09-08 | 記録装置、記録媒体及び記録制御方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1196684A JPH1196684A (ja) | 1999-04-09 |
| JP3132754B2 true JP3132754B2 (ja) | 2001-02-05 |
Family
ID=17092970
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09242701A Expired - Fee Related JP3132754B2 (ja) | 1997-09-08 | 1997-09-08 | 記録装置、記録媒体及び記録制御方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6336202B1 (ja) |
| JP (1) | JP3132754B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101675009B1 (ko) | 2015-04-28 | 2016-11-10 | 주식회사 엑시아머티리얼스 | 아라미드 복합소재를 이용한 방탄 패널의 제조 방법, 상기 방법에 의해 제조되는 방탄 패널 및 상기 방탄 패널을 이용한 방탄 건축 구조물의 시공 방법 |
Families Citing this family (33)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6496876B1 (en) * | 1998-12-21 | 2002-12-17 | Micron Technology, Inc. | System and method for storing a tag to identify a functional storage location in a memory device |
| JP3224024B2 (ja) * | 1999-06-29 | 2001-10-29 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 欠陥登録方法、ディフェクト・マップ記録媒体、およびディスク装置 |
| US6944742B1 (en) * | 2000-04-28 | 2005-09-13 | Microsoft Corporation | Compressed file system for non-volatile RAM |
| JP2002268829A (ja) * | 2001-03-05 | 2002-09-20 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | コンピュータ装置、ディスクドライブ装置、データのリード／ライト制御方法、ディフェクトマップの登録方法 |
| JP2003030993A (ja) * | 2001-07-17 | 2003-01-31 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
| US7233550B2 (en) * | 2002-09-30 | 2007-06-19 | Lg Electronics Inc. | Write-once optical disc, and method and apparatus for recording management information on write-once optical disc |
| KR20040028469A (ko) * | 2002-09-30 | 2004-04-03 | 엘지전자 주식회사 | 1 회 기록 가능한 광디스크의 디펙트 영역 관리방법 |
| EP1579447B1 (en) * | 2002-12-11 | 2010-03-24 | LG Electronics Inc. | Method of managing overwrite and method of recording management information on an optical disc write once |
| US7355934B2 (en) | 2003-01-27 | 2008-04-08 | Lg Electronics Inc. | Optical disc of write once type, method, and apparatus for managing defect information on the optical disc |
| JP4026518B2 (ja) * | 2003-03-12 | 2007-12-26 | ソニー株式会社 | 記録媒体、記録装置、記録方法 |
| TWI405191B (zh) * | 2003-05-09 | 2013-08-11 | Lg Electronics Inc | 單寫型光碟及由單寫型光碟回復碟片管理資訊的方法與裝置 |
| US7313065B2 (en) * | 2003-08-05 | 2007-12-25 | Lg Electronics Inc. | Write-once optical disc, and method and apparatus for recording/reproducing management information on/from optical disc |
| US7434019B2 (en) * | 2003-09-18 | 2008-10-07 | Seagate Technology Llc | Method and apparatus for managing buffer random access memory |
| US6956786B2 (en) | 2003-12-04 | 2005-10-18 | Infineon Technologies North America Corp. | Random access memory with optional inaccessible memory cells |
| KR100739679B1 (ko) * | 2004-01-05 | 2007-07-13 | 삼성전자주식회사 | 광 기록 정보 저장 매체 및 결함 관리 장치 |
| CN101312064B (zh) * | 2004-01-05 | 2010-12-08 | 三星电子株式会社 | 在光学记录介质上记录数据和/或再现数据的设备 |
| EP1553590A1 (en) * | 2004-01-07 | 2005-07-13 | Thomson Licensing S.A. | Method for playback or recording of an optical recording medium |
| EP1553589A1 (en) * | 2004-01-07 | 2005-07-13 | Deutsche Thomson-Brandt Gmbh | Method for playback or recording of an optical recording medium |
| KR101024916B1 (ko) * | 2004-03-19 | 2011-03-31 | 엘지전자 주식회사 | 1회 기록 가능한 고밀도 광디스크의 데이터 기록 방법 및장치 |
| KR100619023B1 (ko) * | 2004-05-25 | 2006-08-31 | 삼성전자주식회사 | 광 기록 정보 저장 매체, 기록/재생 방법, 기록/재생 장치 |
| JP2006309924A (ja) * | 2005-03-29 | 2006-11-09 | Victor Co Of Japan Ltd | 光記録媒体並びに光記録媒体の欠陥管理装置及び方法 |
| US7788555B2 (en) * | 2005-07-22 | 2010-08-31 | Broadcom Corporation | Using fractional sectors for mapping defects in disk drives |
| JP2007193919A (ja) * | 2006-01-20 | 2007-08-02 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv | メディア・ドライブ及びメディアの欠陥位置を登録するディフェクト・マップを生成する方法 |
| US8089715B1 (en) * | 2006-02-01 | 2012-01-03 | Link—A—Media Devices Corporation | Split sector formatting of storage disks |
| US20100017557A1 (en) * | 2006-07-26 | 2010-01-21 | Panasonic Corporation | Memory controller, nonvolatile memory device,access device, and nonvolatile memory system |
| US8015433B2 (en) * | 2006-09-13 | 2011-09-06 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Disk drive with nonvolatile memory for storage of failure-related data |
| JP5251000B2 (ja) * | 2006-11-01 | 2013-07-31 | 富士通株式会社 | 誤り訂正回路及び媒体記憶装置 |
| JP4544261B2 (ja) * | 2007-05-01 | 2010-09-15 | ソニー株式会社 | 記録媒体、記録装置、再生装置、記録方法、再生方法 |
| US8040625B1 (en) | 2009-03-06 | 2011-10-18 | Western Digital Technologies, Inc. | Condensing a defect scan log for a disk of a disk drive |
| JP2010218590A (ja) * | 2009-03-13 | 2010-09-30 | Hitachi Ltd | 情報の記録媒体、記録方法、記録装置、再生方法及び再生装置 |
| US8345367B1 (en) | 2010-12-23 | 2013-01-01 | Western Digital Technologies, Inc. | Recording defects on a hard drive |
| US8892968B2 (en) * | 2011-12-07 | 2014-11-18 | Skymedi Corporation | Bit-level memory controller and a method thereof |
| KR102002921B1 (ko) | 2012-12-05 | 2019-07-23 | 삼성전자주식회사 | 버퍼 운영 방법 및 그에 따른 반도체 저장 장치 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5905858A (en) * | 1996-11-01 | 1999-05-18 | Micron Electronics, Inc. | System for method memory error handling |
| US5933852A (en) * | 1996-11-07 | 1999-08-03 | Micron Electronics, Inc. | System and method for accelerated remapping of defective memory locations |
| US5995308A (en) * | 1997-03-31 | 1999-11-30 | Stmicroelectronics N.V. | Disk resident defective data sector information management system on a headerless magnetic disk device |
| US6055204A (en) * | 1997-04-29 | 2000-04-25 | Texas Instruments Incorporated | Circuits, systems, and methods for re-mapping memory column redundancy |
| US6034831A (en) * | 1997-05-09 | 2000-03-07 | International Business Machines Corporation | Dynamic reverse reassign apparatus and method for a data recording disk drive |
-
1997
- 1997-09-08 JP JP09242701A patent/JP3132754B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-09-08 US US09/149,535 patent/US6336202B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101675009B1 (ko) | 2015-04-28 | 2016-11-10 | 주식회사 엑시아머티리얼스 | 아라미드 복합소재를 이용한 방탄 패널의 제조 방법, 상기 방법에 의해 제조되는 방탄 패널 및 상기 방탄 패널을 이용한 방탄 건축 구조물의 시공 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6336202B1 (en) | 2002-01-01 |
| JPH1196684A (ja) | 1999-04-09 |
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