JP3101504B2 - 光学ピックアップ装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は光磁気ディスク用の光学
ピックアップ装置に係わり、特に集積化された小型な光
磁気ディスク用の光学ピックアップ装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】図１１は従来の光磁気ディスク用の光学
ピックアップ装置の例を示す構成図である。図１１にお
いて、レーザーダイオード２０から放射されたレーザ光
は、回折格子２１、コリメータレンズ２２、ビームスプ
リッタ２３、対物レンズ２４を通って光磁気ディスク２
５に照射される。上記光磁気ディスク２５には、磁気コ
イル２６から磁界が加えられ、これにより光磁気ディス
ク２５への信号の記録、消去が行われる。光磁気ディス
ク２５で反射されたレーザー光はビームスプリッタ２３
に入射され、ここで入射方向と直交する方向に設置され
ているビームスプリッタ２７に向けて反射される。上記
ビームスプリッタ２７に入射されたレーザ光の一部はこ
こを通過し、集光レンズ２８、シリンドリカルレンズ２
９を通過して４分割されたフォトダイオード３０に入射
され、フォーカスサーボとトラッキングサーボに使用さ
れる。また上記ビームスプリッタ２７に入射された上記
反射光の一部は、入射方向と直交する方向に反射され、
１／２波長板３１、偏光ビームスプリッタ３２に入射さ
れる。上記偏光ビームスプリッタ３２に入射された反射
光は、ここで偏光角に応じて分離され、一方は集光レン
ズ３３を通過した後フォトダイオード３４に入射され
る。またもう一方の透過光は集光レンズ３５を通過した
後フォトダイオード３６に入射される。そしてこれらの
フォトダイオード３４、３６の検出出力の差をとり、上
記光磁気ディスク２５上に記録されている情報を検出し
ている。

【０００３】上記のような従来から用いられている光磁
気ディスク用の光学ピックアップ装置は、構成が複雑で
製造コストが非常に高くついていた。また部品点数が多
いため装置が大きくなり、光磁気ディスクの小型化の妨
げになっていた。そこで、特開平４−２４７３４８号公
報に示されるような光学ピックアップ装置が提案されて
いる。図１２は従来の光磁気ディスク用の集積化された
光学ピックアップ装置の他の例を示す構成図である。図
１２において、レーザダイオード４１から入射されたレ
ーザ光は、上記レーザダイオード４１と同一回路基板上
に設けられているプリズム４２の半透過反射面に当りコ
リメータレンズ４３、対物レンズ４４を経て、光磁気デ
ィスク４５に照射される。光磁気ディスク４５で反射さ
れたレーザ光は再び対物レンズ４４、コリメータレンズ
４３を通った後プリズム４２の半透過反射面に配した偏
光面を回転させる１／２波長板Ｙを透過しプリズム４２
内に入射される。プリズム４２内部に入射されたレーザ
光は第１のフォトダイオード４６上に形成された偏光膜
Ｘにより一方は第１フォトダイオード４６上に入射さ
れ、他方は偏光膜Ｘにより反射され更に全反射膜４８で
全反射された後、全透過膜４９を通過し第２フォトダイ
オード４７に入射される。そして光磁気ディスク４５に
偏光の回転がない場合には上記第１のフォトダイオード
４６および第２のフォトダイオード４７に入射する光量
は等しくなり、また光磁気ディスク４５で偏光の回転が
あると、上記各フォトダイオード４６及び４７に入射す
る光量に差が生じる。従って光磁気ディスクに記録され
ている情報の検出信号Ｓ_MOは次式により得ることができ
る。Ｓ_MO＝（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）−（Ａ′＋Ｂ′＋Ｃ′）、ま
たトラッキングエラー信号Ｓ_TEおよびフォーカスエラー
信号Ｓ_FEに関しては、Ｓ_TE＝（Ａ′＋Ｃ）−（Ａ＋
Ｃ′）、Ｓ_FE＝（Ａ＋Ｃ＋Ｂ′）−（Ａ′＋Ｃ′＋Ｂ）
から求めることができる。

【０００４】また、１／２波長板Ｙの代わりに、レーザ
光の発光点を４５°傾けることが提案されている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上記の構成では、情報
信号を検出するために第１フォトダイオード４６の表面
に光学膜Ｘを設け、第２フォトダイオード４７の表面に
は前記光学膜Ｘと異なる光学膜を設けなくてはならな
い。しかし、この構成では上記のプリズムは非常に小さ
いため、基板上の一部に光学膜を設けることは精密な作
業を要する。

【０００６】また、この方法ではフォーカシングサーボ
やトラッキングサーボを行うための信号を基本的にレベ
ル差がある光磁気信号から得ようとしている。そのため
偏光により第１と第２フォトダイオードに入射する光量
に差が生じてしまい適正な信号を検出することができな
い。これを適正にするには、例えば、オフセット補正を
行うことが考えられるが、その場合においても、光磁気
ディスクに複屈折が生じている場合には補正ができな
い。

【０００７】また、光磁気ディスクの信号は非常に小さ
いため、高いＣ／Ｎを得るためには、上記第１フォトダ
イオード４６に入射するレーザ光の偏光方向を４５°傾
けて差動検出法で信号を検出しなければいけない。また
レーザ光のＳ偏光成分とＰ偏光成分の光量が大きく異な
っているとサーボ信号を検出することも困難になるの
で、やはり第１フォトダイオード４６に入射するレーザ
光の偏光方向が４５°傾いていることが必要である。そ
こで上記の方法では、傾斜つきのサブマウントを用いた
り、レーザダイオードの作製方法を工夫することによ
り、プリズム４２に入射するレーザ光の偏光方向を４５
°傾けている。しかし以上の方法では精巧な作業が必要
であったり、レーザダイオードの作製方法を変更するな
ど、困難な作業が伴う。また、微小なプリズムの傾斜面
に１／２波長板やハーフミラーを設けることも、精密な
作業を必要とする。

【０００８】また、偏光面を回転させるために設けられ
た１／２波長板Ｙは平行光束中でなければその効果を充
分に得ることはできない。そのため、収束光中に配置さ
れた上記構成では所定の偏光角以外の位相差成分が発生
してしまい偏光分離の消光比が著しく劣化してしまう。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明の光学ピックアップ装置では、偏光面を異に
するレーザ光を受光する第１受光素子と第２受光素子と
を設ける基板と、該基板上に載置され、ディスクより反
射されたレーザ光を入射し境界面で反射したレーザ光を
第１受光素子に入射させる第１プリズムと、該第１プリ
ズムの境界面に接する境界面を有し前記第１プリズムを
透過したレーザ光を第２受光素子に入射させる第２プリ
ズムと、前記第１プリズムと前記第２プリズムの各境界
面に介在せしめた偏光膜とを備え、さらに前記第１プリ
ズムと前記第２プリズムとの境界面を入射するレーザ光
の偏光面を４５°回転させる方向に傾斜させたことを特
徴とする。また、前記の構成において、さらに前記基板
上に第３受光素子を設け、且つ前記第１プリズムを２分
割すると共に該分割面の間にハーフミラーを形成し、該
ハーフミラーで反射したレーザ光を前記第３受光素子に
導くことを特徴とする。また、本発明の光学ピックアッ
プ装置では、偏光面を異にするレーザ光を受光する第１
受光素子と第２受光素子とを設けた基板と、該基板上に
載置され、ディスクより反射されたレーザ光を入射し境
界面で反射したレーザ光を第１受光素子に入射させる第
１プリズムと、該第１プリズムの境界面に接する境界面
を有し前記第１プリズムを透過したレーザ光を第２受光
素子に入射させる第２プリズムと、前記第１プリズムと
前記第２プリズムの各境界面に介在せしめた偏光膜とを
備え、前記第１プリズムは光学的に異方性を持つ物質か
らなり、通過するレーザ光の偏光面を４５°回転させる
寸法に設定したことを特徴とする。また、前記の構成に
おいて、さらに前記基板上に第３受光素子を設け、前記
第１プリズムに入射したレーザ光を前記第３受光素子に
導くことを特徴とする。

【００１０】

【作用】第１プリズムと第２プリズムの境界面に偏光膜
を介在させることにより、光学膜の作製が容易になる。
また、分割面の角度を特定することによって偏光面を４
５°回転させることが実現され、または異方性を有する
第１プリズムにより偏光面を回転することによって、偏
光面を４５°回転させる。また、第３受光素子にレーザ
光を入射させることによって、サーボ用の信号及び偏光
特性を持った信号の検出を同時に行うことができる。

【００１１】

【実施例】図１は本発明の光ピックアップの第１の実施
例の構成図である。図２は本発明の光学ピックアップ装
置の第１の実施例の受光素子の配置図である。図１にお
いてレーザーダイオード１及びモニターダイオード２は
サブマウント３上に配置されている。サブマウント３、
第１プリズム４、第２プリズム５、第１受光素子７、第
２受光素子８、第３受光素子６は回路基板９上に配置さ
れている。

【００１２】レーザーダイオード１から出射されたレー
ザ光は第１プリズム４の傾斜面４ａで反射され、対物レ
ンズ１０に入射され、光磁気ディスク１１上に照射され
る。そして前記光磁気ディスク１１で反射されたレーザ
光は第１プリズム４の傾斜面４ａに戻ってくる。そし
て、この光磁気ディスク１１からの反射光であるレーザ
光は、第１プリズム４の傾斜面４ａに設けられている光
学膜（ａ）であるハーフミラー１２を通って第１プリズ
ム４の内部に入り傾斜面４ｂに達する。更に、このレー
ザ光は第１プリズム４の傾斜面４ｂに設けられている光
学膜（ｂ）であるハーフミラー１３により一部は光学膜
（ｂ）を透過して第３受光素子６に入射する。この第３
受光素子６に入射されたレーザ光によってフォーカスサ
ーボ及びトラッキングサーボを行うための信号検出が行
われる。例えば、図２に示すように第３受光素子６を４
分割しておけば、フォーカスエラー検出には非点収差法
やビームサイズ法、トラッキングエラー信号検出にはプ
ッシュプル法を使用することができる。

【００１３】他方傾斜面４ｂで反射されたレーザ光は第
１のプリズム４の上面に設けられている光学膜（ｃ）で
ある全反射膜１４により全反射され、第１のプリズム４
の境面４ｃに到達する。境面４ｃには光学膜（ｄ）であ
る偏光膜１５が設けられており、反射光の偏光特性によ
って一部は反射して第１受光素子７に入射し、残りは透
過して第２のプリズム５の内部を透過して第２受光素子
８に入射する。この傾斜面４ｂの傾きを適当にすること
により光学膜（ｄ）に入射するレーザ光の入射角を最適
化することができ、光学膜（ｄ）である偏光膜１５の形
成が容易になると同時にサーボ信号及び偏光特性をもっ
た信号を同時に行うことができる。

【００１４】また第３受光素子６、第１受光素子７、第
３受光素子８上には光学膜（ｅ）である全透過膜（図示
しない）が設けられており、第３受光素子６、第１受光
素子７、第２受光素子８に入射してきたレーザ光を全て
透過させる。このように構成された第１の実施例の光学
ピックアップ装置に設けられている光学膜の特性を表１
に示す。

【００１５】

【表１】

【００１６】図３は本発明の光学ピックアップ装置の第
１の実施例のプリズム及び偏光面の傾きを示す斜視図で
ある。図３に示す通り、第１の実施例では傾斜面４ｃを
例えばレーザ光の進行方向に垂直な面に対してＸ方向を
４５°、Ｙ方向を４５°傾斜させている。そして、傾斜
面を透過、反射されたレーザ光は偏光面が図に示したよ
うに４５°回転される。これによりコンパクトディスク
の場合などのようにレーザ光が発光基板（発光チップ）
に対して平行なモードであり、ディスクからの反射光が
単一のモードしか持っていなくても、光学膜（ｄ）であ
る偏光膜１５により第１受光素子７、第２受光素子８に
同じ光量が入ることになる。また上記光磁気ディスク１
１で偏光の回転があると上記第１受光素子７、第２受光
素子８に入射する光量に差が生じ、光磁気ディスク１１
に記録されている情報を検出することができる。

【００１７】本第１の実施例では、第１プリズムと第２
プリズムの境界面に偏光膜を介在させ、第３受光素子を
設けることにより、光学膜の作製が容易になり、サーボ
用の信号及び偏光特性を持った信号の検出を同時に行う
ことができる。図４は本発明の光学ピックアップ装置の
第２の実施例を示す構成図である。図４において、レー
ザダイオードから出射されたレーザ光は第１プリズム４
の傾斜面４ａに反射され、対物レンズ１０に入射され、
光磁気ディスク１１上に照射される。次に上記光磁気デ
ィスク１１で反射されたレーザ光は第１プリズム４の傾
斜面４ａに戻ってくる。そして光磁気ディスク１１から
の反射光は第１プリズム４の傾斜面に設けられている前
述の光学膜（ａ）であるハーフミラー１２を通って第１
プリズム４の内部に入り、傾斜面４ｂに達する。傾斜面
４ｂには前述の光学膜（ｃ）である全反射膜１６が設け
られており、反射光は傾斜面４ｂで全反射され、更に第
１プリズム４上面に設けられている前述の光学膜（ｃ）
である全反射膜１４により全反射され、第１プリズム４
の面４ｃに到達する。面４ｃには前述の光学膜（ｂ）で
あるハーフミラー１３が設けられており、これにより一
部は反射されて第３受光素子６に入射され、残りは透過
して第１プリズム４ｄ内部に入射される。第１プリズム
４ｄと第２プリズム５の境面５ｃは図３で説明したよう
にＸ方向を４５°、Ｙ方向を４５°傾けてあり、かつ前
述の光学膜（ｄ）である偏光膜１５が設けられており、
反射光の偏光特性によって、一部は反射されて第１受光
素子７に入射され、残りはプリズム５ｂの内部を通過し
て第２受光素子８に入射される。本実施例では、第１の
実施例と同一の利点を有する。

【００１８】図５は本発明の光学ピックアップ装置の第
３の実施例を示したものである。このピックアップ装置
は、レーザダイオード５１およびモニタフォトダイオー
ド５２が配設されているサブマウント５３と、第２プリ
ズム５４、第１プリズム５５を回路基板５６上に乗せて
構成している。また回路基板５６には、第１、第２受光
素子６０、６１が形成されている。第２プリズム５４は
ガラスなどの光学的に等方性を示す物質からなるプリズ
ムで、第１プリズム５５は水晶などの光学的に異方性を
示す物質からなるプリズムである。また第２プリズム５
４、第１プリズム５５の間には、偏光膜５９が形成され
ている。偏光膜は高屈折率膜と低屈折率膜からなる交互
多層膜で、Ｓ偏光を反射しＰ偏光を透過する。また、第
１プリズム５５の傾斜面５５ａ上にはハーフミラー６７
が設けられている。

【００１９】レーザダイオード５１から放射されたレー
ザ光は対物レンズ５７により集光され、光磁気ディスク
５８上に照射される。そして上記光磁気ディスク５８で
反射された光は、対物レンズ５７を通り第１プリズム５
５の傾斜面５５ａに戻ってくる。そして、この光磁気デ
ィスク５８からの反射光は、上記傾斜面５５ａに貼設さ
れているハーフミラー６７を通って第１プリズム５５の
内部に入り、偏光膜５９に到達する。ここで第１プリズ
ム５５は光学的に異方性を示すため、偏光膜５９にレー
ザ光が到達するまでに、偏光方向は４５°回転する。第
１プリズム５５の大きさは、レーザ光のＳ偏光成分とＰ
偏光成分が(２ｍ＋１)πの位相差を生じるように調整さ
れている。偏光膜５９に到達した光は、偏光膜によりＳ
偏光とＰ偏光に分離され、それぞれ第１、第２受光素子
６０、６１に到達する。

【００２０】従って、第１、第２受光素子６０、６１に
入射した光の光量による信号成分の差から、情報の検出
信号を得ることができる。また、分割受光素子によって
第１、第２受光素子６０、６１を構成することによっ
て、これらの受光素子に入射する光の光量の和や差か
ら、フォーカスやトラッキングなどのサーボ信号を検出
することが可能になる。

【００２１】信号検出、サーボ検出の一例として、第
１、第２受光素子６０、６１の一方を５分割受光素子、
もう一方を３分割受光素子で構成した場合について述べ
る。この場合、フォーカスエラー信号はビームサイズ
法、トラッキングエラー信号は３ビーム法で検出する。
また、レーザ光を分割するための回折格子をレーザ光の
光路中に設ける。

【００２２】図６は光学ピックアップ装置の第３の実施
例における受光素子の配置の第１例を示す構成図であ
る。図６において、（ａ）は第２受光素子６１、（ｂ）
は第１受光素子６０を上部から見た図である。それぞ
れ、３個の受光素子Ａ′、Ｂ′、Ｃ′および５個の受光
素子Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｅ、Ｆにより構成されている。従って
情報の検出信号は、Ｓ＝（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）−（Ａ′＋Ｂ′
＋Ｃ′）から得ることができる。

【００２３】また、この光学ピックアップ装置では、光
磁気ディスクがビームの焦点に位置している場合に、第
１、第２受光素子６０、６１上でビームが一定の大きさ
になるように第１のプリズム５５の大きさが決められて
いる。従って、光磁気ディスクがビームの焦点からずれ
ることによって、受光素子上のビームのサイズは、大き
くなったり小さくなったりする。従って、フォーカスエ
ラー信号は、Ｓ_FE＝（Ａ＋Ｃ）−ＢまたはＳ_FE＝（Ａ′
＋Ｃ′）−Ｂ′から求めることができる。トラッキング
エラー信号はＳ_TE＝Ｅ−Ｆから求めることができる。

【００２４】なお、この実施例ではトラッキングエラー
信号に３ビーム法を用いているが、プッシュプル法でも
検出できる。プッシュプル法では第１、第２受光素子６
０、６１の両方または片方が３分割受光で構成され、ト
ラッキングエラー信号は、Ｓ _TE＝Ａ−ＣまたはＳ_TE＝
Ａ′−Ｃ′から求めることができる。なお、この場合回
折格子は不要になる。

【００２５】図７は光学ピックアップ装置の第３の実施
例における受光素子の配置の第２例を示す構成図であ
る。図７はフォーカスエラー信号検出に非点収差法、ト
ラッキングエラー信号検出に３ビーム法を用いた場合の
第１、第２受光素子６０、６１を上部から見た図であ
る。どちらかの受光素子を（ｂ）のように６分割受光素
子を構成する。また、シリンドリカルレンズと、レーザ
光を３分割するための回折格子を、レーザ光の光路中に
設ける。この場合、情報信号、サーボ信号は、Ｓ＝（Ａ
＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）−Ｇ、Ｓ_FE＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）、
Ｓ_TE＝Ｅ−Ｆから求めることができる。

【００２６】図８は本発明の光学ピックアップ装置の第
４の実施例を示す構成図である。この光学ピックアップ
装置は、レーザダイオード５１およびモニタフォトダイ
オード５２が配設されているサブマウント５３と、第２
のプリズム５４、第１のプリズム５５、第３のプリズム
６２を回路基板５６上に設けて構成している。また、回
路基板５６には、第１、第２、第３受光素子６０、６
１、６３が形成されている。また、第３受光素子６３上
に前述の光学膜（ｂ）である半透過反射膜６４が設けら
れている。第２プリズム５４、第３プリズム６２はガラ
スなどの光学的に等方性を示す物質からなるプリズム
で、第１プリズム５５は水晶などの光学的に異方性を示
す物質からなるプリズムである。また第２プリズム５
４、第３プリズム６２の間には、偏光膜５９が形成され
ている。偏光膜５９は高屈折率膜と低屈折率膜からなる
交互多層膜でＳ偏光を反射しＰ偏光を透過する。また、
第３プリズム６２上面には全反射膜６６が設けられてい
る。レーザダイオード５１から放射されたレーザ光は対
物レンズ５７により集光され、光磁気ディスク５８上に
照射される。そして上記光磁気ディスク５８で反射され
た光は、対物レンズ５７を通り第１プリズム５５のハー
フミラー６７を設けた傾斜面５５ａに戻ってくる。そし
て、この光磁気ディスク５８からの反射光は、上記傾斜
面５５ａに貼設されているハーフミラー６７を通って第
２プリズム５５の内部に入り、第３プリズム６２に到達
する。ここで第１プリズム５５は光学的に異方性を示す
ため、第３プリズム６２にレーザ光が到達するまでに偏
光方向は４５°回転する。第１プリズム５５の大きさ
は、レーザ光のＳ偏光成分とＰ偏光成分が(２ｍ＋１)π
の位相差を生じるように調整されている。第３プリズム
６２に到達し内部に入った光は、第３受光素子６３に到
達する。第３受光素子６３のプリズム側の面には半透過
反射膜６４が形成され、一部の光は第３受光素子６３に
入射し、残りの光は反射する。この反射光は、第３プリ
ズム６２の上面に設けた全反射膜６６で反射され、偏光
膜５９に到達する。偏光膜５９に到達した光は、偏光膜
５９によりＳ偏光とＰ偏光に分離され、それぞれ第１、
第２受光素子６０、６１に到達する。

【００２７】情報の検出信号は、第１、第２受光素子６
０、６１に入射した光の光量による信号成分の差から得
ることができる。またフォーカスやトラッキングのサー
ボ信号は、分割受光素子によって第３受光素子６３を構
成することによって、これらの受光素子に入射する光の
光量の和や差から検出することが可能になる。本実施例
では、１／２波長板の設置やレーザダイオードに工夫を
施しなくてもよい。

【００２８】図９は光学ピックアップ装置の第４の実施
例おける受光素子の配置を示す構成図である。図９はフ
ォーカスエラー信号に非点収差法、トラッキングエラー
信号に３ビーム法を用いた場合の第１、第２、第３受光
素子６０、６１、６３を上部から見た図である。第３受
光素子６３を（ｃ）のように６分割フォトダイオードで
構成する。また、シリンドリカルレンズと、レーザ光を
３分割するための回折格子をレーザ光の光路中に設け
る。この場合、情報信号、サーボ信号は、Ｓ＝Ｇ−Ｈ、
Ｓ_FE＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）、Ｓ_TE＝Ｅ−Ｆを求める
ことができる。

【００２９】以上のような構成を用いると、フォーカス
やトラッキングなどのサーボ信号が情報の検出信号の影
響を受けないという長所がある。また、プリズム内を収
束光または発散光が透過することによって発生する非点
収差を利用すると、シリンドリカルレンズを用いなくて
も非点収差法でフォーカス信号を検出することができ
る。

【００３０】以上の実施例では、フォーカスエラー信号
検出にビームサイズ法、非点収差法、トラッキングエラ
ー信号検出に３ビーム法、プッシュプル法を用いている
が、他の検出方法を用いても同様の効果が得られる。ま
た、トラッキングエラー信号を３ビーム法で検出する場
合、レーザ光の光路中に回折格子を設けてビームを分割
しているが、３ビームのレーザダイオードを用いると、
回折格子がなくても検出が可能になる。

【００３１】図１０は本発明の光学ピックアップ装置の
第５の実施例を示す構成図である。この光学ピックアッ
プ装置は図８における第３受光素子６３と前述の光学膜
（ｂ）である半透過反射膜６４との代わりに全反射膜６
５を設置した場合のものである。

【００３２】

【発明の効果】第１プリズムと第２プリズムの境界面に
偏光膜を介在させることにより、光学膜の作製が容易に
なる。また、偏光面の回転が分割面の角度を特定するこ
とによって実現させることによって、偏光面を４５°回
転させ、１／２波長板を不要にし、レーザダイオードの
作製方法を変更することもない。また、異方性プリズム
によって偏光面を回転することによって、偏光面を４５
°回転させ、１／２波長板を不要にし、レーザダイオー
ドの作製方法を変更することもない。また、第３受光素
子にレーザ光を入射させることによって、サーボ用の信
号及び偏光特性を持った信号の検出を同時に行うことが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光学ピックアップ装置の第１の実施例
を示す構成図である。

【図２】本発明の光学ピックアップ装置の第１の実施例
の受光素子の配置を示す構成図である。

【図３】本発明の光学ピックアップ装置の第１の実施例
のプリズム及び偏光面の傾きを示す斜視図である。

【図４】本発明の光学ピックアップ装置の第２の実施例
を示す構成図である。

【図５】本発明の光学ピックアップ装置の第３の実施例
を示す構成図である。

【図６】本発明の光学ピックアップ装置の第３の実施例
における受光素子の配置の第１例を示す構成図である。

【図７】本発明の光学ピックアップ装置の第３の実施例
における受光素子の配置の第２例を示す構成図である。

【図８】本発明の光学ピックアップ装置の第４の実施例
を示す構成図である。

【図９】本発明の光学ピックアップ装置の第４の実施例
における受光素子の配置を示す構成図である。

【図１０】本発明の光学ピックアップ装置の第５の実施
例を示す構成図である。

【図１１】従来の光磁気ディスク用の光ピックアップの
例を示す構成図である。

【図１２】従来の光磁気ディスク用の集積化された光ピ
ックアップの他の例を示す構成図である。

【符号の説明】

１ レーザーダイオード ４ 第１プリズム ４ｃ 境界面 ５ 第２プリズム ６ 第３受光素子 ７ 第１受光素子 ８ 第２受光素子 ９ 基板 １１ ディスク １５ 偏光膜

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平４−67452（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−177643（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−174441（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−333289（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−4928（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−65429（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 11/105 G11B 7/135

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 偏光面を異にするレーザ光を受光する第
   １受光素子と第２受光素子とを設ける基板と、 該基板上に載置され、ディスクより反射されたレーザ光
   を入射し境界面で反射したレーザ光を第１受光素子に入
   射させる第１プリズムと、 該第１プリズムの境界面に接する境界面を有し前記第１
   プリズムを透過したレーザ光を第２受光素子に入射させ
   る第２プリズムと、 前記第１プリズムと前記第２プリズムの各境界面に介在
   せしめた偏光膜とを備え、さらに前記第１プリズムと前記第２プリズムとの境界面
   を入射するレーザ光の偏光面を４５°回転させる方向に
   傾斜させた ことを特徴とする光学ピックアップ装置。
2. 【請求項２】 請求項１において、さらに前記基板上に
   第３受光素子を設け、且つ前記第１プリズムを２分割す
   ると共に該分割面の間にハーフミラーを形成し、該ハー
   フミラーで反射したレーザ光を前記第３受光素子に導く
   ことを特徴とする光学ピックアップ装置。
3. 【請求項３】 偏光面を異にするレーザ光を受光する第
   １受光素子と第２受光素子とを設けた基板と、 該基板上に載置され、ディスクより反射されたレーザ光
   を入射し境界面で反射したレーザ光を第１受光素子に入
   射させる第１プリズムと、 該第１プリズムの境界面に接する境界面を有し前記第１
   プリズムを透過したレーザ光を第２受光素子に入射させ
   る第２プリズムと、 前記第１プリズムと前記第２プリズムの各境界面に介在
   せしめた偏光膜とを備え、 前記第１プリズムは光学的に異方性を持つ物質からな
   り、通過するレーザ光の偏光面を４５°回転させる寸法
   に設定した ことを特徴とする光学ピックアップ装置。
4. 【請求項４】 請求項３において、さらに前記基板上に
   第３受光素子を設け、前記第１プリズムに入射したレー
   ザ光を前記第３受光素子に導くことを特徴とする光学ピ
   ックアップ装置。