JP3082279B2 - 実機の余寿命予測用小型試験片の製作方法 - Google Patents
実機の余寿命予測用小型試験片の製作方法Info
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- JP3082279B2 JP3082279B2 JP03074424A JP7442491A JP3082279B2 JP 3082279 B2 JP3082279 B2 JP 3082279B2 JP 03074424 A JP03074424 A JP 03074424A JP 7442491 A JP7442491 A JP 7442491A JP 3082279 B2 JP3082279 B2 JP 3082279B2
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はボイラ等、大型プラント
で用いられる高温機器の余寿命を予測するため実機から
微小サンプルを採取して、採取した微小のサンプルから
実機の余寿命予測用小型試験片を製作する方法に関する
ものである。
で用いられる高温機器の余寿命を予測するため実機から
微小サンプルを採取して、採取した微小のサンプルから
実機の余寿命予測用小型試験片を製作する方法に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】火力発電設備、原子力発電設備等の大型
プラントの寿命延長を図るためには、ここに用いられて
いるボイラ等の高温機器の余寿命を予測しておくことが
重要である。
プラントの寿命延長を図るためには、ここに用いられて
いるボイラ等の高温機器の余寿命を予測しておくことが
重要である。
【０００３】従来より、かかる機器の余寿命を予測する
場合に、現場では一般に非破壊的手法が用いられている
が、余寿命予測の精度上の問題がある。余寿命予測の精
度を向上させるためには、試験片を実機から直接採取し
て破壊的手法で試験をすることが必要である。
場合に、現場では一般に非破壊的手法が用いられている
が、余寿命予測の精度上の問題がある。余寿命予測の精
度を向上させるためには、試験片を実機から直接採取し
て破壊的手法で試験をすることが必要である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところが、実機から試
験片を直接採取する場合に、大型の試験片は実機から採
ることができない、という問題があり、実機の余寿命を
予測して評価することが従来できなかった。
験片を直接採取する場合に、大型の試験片は実機から採
ることができない、という問題があり、実機の余寿命を
予測して評価することが従来できなかった。
【０００５】そこで、本発明は、ボイラ等の実機から微
小のサンプルを採取し、この微小のサンプルから実機の
余寿命予測用小型試験片を効率よく製作する方法を提供
しようとするものである。
小のサンプルを採取し、この微小のサンプルから実機の
余寿命予測用小型試験片を効率よく製作する方法を提供
しようとするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、先ず、実機の表面部から放電加工により
微小のサンプルを採取するようにし、一方、予め、上面
の中央部に所要深さの凹部を溝状に長手方向に沿い形成
すると共に該凹部に達する傾斜面を幅方向から形成した
金属製基台を用意しておき、該基台の上記凹部上に上記
採取した多数のサンプルをその長手方向が基台の幅方向
と平行になるように並べて載せ、次に、各サンプルの長
手方向の両端と上記凹部の縁部とを接合し、しかる後、
上記基台の凹部の下方を、上面の傾斜面と同様に切断し
てから各サンプルごとに基台を幅方向の切断線に沿い切
断し、更に、個々のサンプルごとに両端部を加工して多
数の小型試験片を製作する実機の余寿命予測用小型試験
片の製作方法とする。
決するために、先ず、実機の表面部から放電加工により
微小のサンプルを採取するようにし、一方、予め、上面
の中央部に所要深さの凹部を溝状に長手方向に沿い形成
すると共に該凹部に達する傾斜面を幅方向から形成した
金属製基台を用意しておき、該基台の上記凹部上に上記
採取した多数のサンプルをその長手方向が基台の幅方向
と平行になるように並べて載せ、次に、各サンプルの長
手方向の両端と上記凹部の縁部とを接合し、しかる後、
上記基台の凹部の下方を、上面の傾斜面と同様に切断し
てから各サンプルごとに基台を幅方向の切断線に沿い切
断し、更に、個々のサンプルごとに両端部を加工して多
数の小型試験片を製作する実機の余寿命予測用小型試験
片の製作方法とする。
【０００７】
【作用】多数のサンプルを基台の上に並べた後、基台を
幅方向の切断線に沿い切断するまでの加工を、多数のサ
ンプルに対し全体的に行うようにすることから、多数の
小型試験片を効率よく製作することができるようにな
る。
幅方向の切断線に沿い切断するまでの加工を、多数のサ
ンプルに対し全体的に行うようにすることから、多数の
小型試験片を効率よく製作することができるようにな
る。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。
する。
【０００９】図１は実機の余寿命予測の実施段階を示す
もので、Ｉは実機から微小のサンプルを採取する第１段
階、IIは実機から採取した微小のサンプルから小型の試
験片を作る第２段階、III は小型の試験片を不活性ガス
雰囲気中でクリープ試験する第３段階、IVはクリープ試
験結果によるクリープ破断データにより実機の余寿命を
評価する第４段階であり、微小のサンプルから短時間に
得られる結果により実機の余寿命を予測するようにす
る。
もので、Ｉは実機から微小のサンプルを採取する第１段
階、IIは実機から採取した微小のサンプルから小型の試
験片を作る第２段階、III は小型の試験片を不活性ガス
雰囲気中でクリープ試験する第３段階、IVはクリープ試
験結果によるクリープ破断データにより実機の余寿命を
評価する第４段階であり、微小のサンプルから短時間に
得られる結果により実機の余寿命を予測するようにす
る。
【００１０】詳述すると、第１段階Ｉの実機からの微小
サンプルの採取は、図２乃至図４に示す要領で行う。図
２乃至図４はその一例を示すもので、実機１の厚肉部表
面から微小のサンプル２を採取するために中央部分をく
り抜いて周辺部のみの形状にした平面四角形状の成形加
工用電極３を用い、該成形加工用電極３を負に帯電させ
て実機１の表面を放電加工させ、図２の（Ａ）から
（Ｂ）の如く実機１の表面の金属を電極相当分だけ除去
して深さ３mm程度の溝４を成形する。次に、切断用電極
５を用いて放電加工し、実機１の表面に残る突部６を、
切断用電極５にて図２（Ｂ）の如く切断し、切断片をサ
ンプル２として採取するようにする。これにより実機１
の表面から微小のサンプル２を容易に且つ短時間に採取
することができる。この際、放電加工法によるので、熱
影響部はほとんど無視することができる。
サンプルの採取は、図２乃至図４に示す要領で行う。図
２乃至図４はその一例を示すもので、実機１の厚肉部表
面から微小のサンプル２を採取するために中央部分をく
り抜いて周辺部のみの形状にした平面四角形状の成形加
工用電極３を用い、該成形加工用電極３を負に帯電させ
て実機１の表面を放電加工させ、図２の（Ａ）から
（Ｂ）の如く実機１の表面の金属を電極相当分だけ除去
して深さ３mm程度の溝４を成形する。次に、切断用電極
５を用いて放電加工し、実機１の表面に残る突部６を、
切断用電極５にて図２（Ｂ）の如く切断し、切断片をサ
ンプル２として採取するようにする。これにより実機１
の表面から微小のサンプル２を容易に且つ短時間に採取
することができる。この際、放電加工法によるので、熱
影響部はほとんど無視することができる。
【００１１】図示した例は一例を示すものであり、成形
加工用電極３の形状を変えることにより、各種形状のサ
ンプル２を採取することができる。又、サンプル２の採
取個所は、ボイラ等の厚肉容器の寿命予測の場合は当該
厚肉容器の表面から微小のサンプルを採取するように
し、ボイラ等の管寄せ部の溶接個所の余寿命予測の場合
は当該溶接個所から微小のサンプルを採取するようにす
る。
加工用電極３の形状を変えることにより、各種形状のサ
ンプル２を採取することができる。又、サンプル２の採
取個所は、ボイラ等の厚肉容器の寿命予測の場合は当該
厚肉容器の表面から微小のサンプルを採取するように
し、ボイラ等の管寄せ部の溶接個所の余寿命予測の場合
は当該溶接個所から微小のサンプルを採取するようにす
る。
【００１２】図５乃至図７は本発明の特徴をなすもの
で、上記第１段階Ｉで放電加工により採取した微小のサ
ンプル２から小型の試験片７を作る第２段階IIの実施例
を示すものである。すなわち、予め、上面の中央部に多
数の微小サンプル２を並べて置けるように所要深さの凹
部８を溝状に長手方向に沿い形成すると共に該中央部の
凹部８に達する傾斜面１０を幅方向から形成した金属製
基台９を用意しておき、該基台９の凹部８上に、第１段
階Ｉで採取した多数のサンプル２をその長手方向が基台
９の幅方向と平行となるように並べて載せるようにす
る。次に、各サンプル２の長手方向の両端と基台９の凹
部８縁部との接合部１１を、電子ビーム溶接にて接合さ
せる。次いで、基台９の凹部８の下方を上面の傾斜面１
０と同様に切除すると共に、各サンプル２ごとに基台９
を幅方向に切断線１２に沿い切断し、個々のサンプル２
ごとに両端の部材を加工して、図７に示す如き両端に結
合材１３付きの小型の試験片７を作るようにする。
で、上記第１段階Ｉで放電加工により採取した微小のサ
ンプル２から小型の試験片７を作る第２段階IIの実施例
を示すものである。すなわち、予め、上面の中央部に多
数の微小サンプル２を並べて置けるように所要深さの凹
部８を溝状に長手方向に沿い形成すると共に該中央部の
凹部８に達する傾斜面１０を幅方向から形成した金属製
基台９を用意しておき、該基台９の凹部８上に、第１段
階Ｉで採取した多数のサンプル２をその長手方向が基台
９の幅方向と平行となるように並べて載せるようにす
る。次に、各サンプル２の長手方向の両端と基台９の凹
部８縁部との接合部１１を、電子ビーム溶接にて接合さ
せる。次いで、基台９の凹部８の下方を上面の傾斜面１
０と同様に切除すると共に、各サンプル２ごとに基台９
を幅方向に切断線１２に沿い切断し、個々のサンプル２
ごとに両端の部材を加工して、図７に示す如き両端に結
合材１３付きの小型の試験片７を作るようにする。
【００１３】電子ビーム溶接に代えて、接合部１１をテ
ィグ溶接又はミグ溶接で接合させるようにした場合は、
溶接による熱影響部が大き過ぎるため、微小のサンプル
２の場合は使えなくなるおそれがあるが、本発明では、
接合部１１の溶接を電子ビーム溶接によるため、電子ビ
ーム溶接による場合の熱影響部が０．１〜０．２mmと極
めて小さいことから、微小のサンプル２から容易に小型
の試験片７（たとえば、直径２mm、長さ２７mm）を製作
することができる。又、基台９を幅方向の切断線１２に
沿い切断するまでの加工を、多数のサンプル２に対して
全体的に行うようにすることから、多数の小型の試験片
７を効率よく製作することができる。
ィグ溶接又はミグ溶接で接合させるようにした場合は、
溶接による熱影響部が大き過ぎるため、微小のサンプル
２の場合は使えなくなるおそれがあるが、本発明では、
接合部１１の溶接を電子ビーム溶接によるため、電子ビ
ーム溶接による場合の熱影響部が０．１〜０．２mmと極
めて小さいことから、微小のサンプル２から容易に小型
の試験片７（たとえば、直径２mm、長さ２７mm）を製作
することができる。又、基台９を幅方向の切断線１２に
沿い切断するまでの加工を、多数のサンプル２に対して
全体的に行うようにすることから、多数の小型の試験片
７を効率よく製作することができる。
【００１４】次に、図８は第２段階IIでサンプル２の両
端に結合材１３を電子ビーム溶接にて接合して製作した
小型の試験片７を、不活性ガス雰囲気中でクリープ試験
する第３段階III で用いるクリープ試験装置の一例を示
すもので、電気炉１４の軸心部を貫通する筒体１５の上
部を支持材１６を介して支柱１７に支持させると共に、
筒体１５の下部を支持材１８を介して支柱９に支持さ
せ、一方，上記小型の試験片７の一端を上部ロッド１９
の下端に同一軸線方向に取り付け、又、試験片７の他端
を下部ロッド２０の上端に同一軸線方向に取り付けて、
該試験片７と一体の上下のロッド１９，２０を、上記筒
体１５の内部に挿入する。上記筒体１５の下端部には、
フランジ２１を固定し、且つ中央部に下部ロッド２０を
貫通させた下部フランジ２２を上記フランジ２１の下端
面にＯリング２３を挟んで気密状態に取り付け、更に、
上記筒体１５内を気密に保持するため、上記下部ロッド
２０が下部フランジ２２を貫通する部分を気密にするよ
うリング状の冷却ボックス２４と下部ロッド２０間にＯ
リング２５を介在させ、又、筒体１５の上端部に取り付
けたリング状の冷却ボックス２６と上部ロッド１９との
間にＯリング２７を介在させるようにする。又、上記気
密状態にした筒体１５の内部には、図示しない真空ポン
プに真空配管２８を介して接続すると共に、不活性ガス
としてアルゴンガスＡｒを筒体１５内に供給できるよう
アルゴンガス供給配管２９を接続し、筒体１５内を真空
にした後、アルゴンガスＡｒを供給してアルゴンガス雰
囲気に置換できるようにし、又、上記冷却ボックス２４
と２６には、冷却水入口配管３０，３１と冷却水出口配
管３２，３３をそれぞれ接続し、Ｏリング２５と２７に
よるシール部を冷却水で冷却できるようにしてある。更
に、試験片７を上下のロッド１９，２０を介して上下よ
り引張って試験するために、下部ロッド２０には荷重３
４を連結し、上部ロッド１９は架台３５に吊下げ支持さ
せるようにした構成としてある。３６は下部フランジ２
２上に載せた耐熱ブロック、３７は端子箱、３８は熱電
対である。
端に結合材１３を電子ビーム溶接にて接合して製作した
小型の試験片７を、不活性ガス雰囲気中でクリープ試験
する第３段階III で用いるクリープ試験装置の一例を示
すもので、電気炉１４の軸心部を貫通する筒体１５の上
部を支持材１６を介して支柱１７に支持させると共に、
筒体１５の下部を支持材１８を介して支柱９に支持さ
せ、一方，上記小型の試験片７の一端を上部ロッド１９
の下端に同一軸線方向に取り付け、又、試験片７の他端
を下部ロッド２０の上端に同一軸線方向に取り付けて、
該試験片７と一体の上下のロッド１９，２０を、上記筒
体１５の内部に挿入する。上記筒体１５の下端部には、
フランジ２１を固定し、且つ中央部に下部ロッド２０を
貫通させた下部フランジ２２を上記フランジ２１の下端
面にＯリング２３を挟んで気密状態に取り付け、更に、
上記筒体１５内を気密に保持するため、上記下部ロッド
２０が下部フランジ２２を貫通する部分を気密にするよ
うリング状の冷却ボックス２４と下部ロッド２０間にＯ
リング２５を介在させ、又、筒体１５の上端部に取り付
けたリング状の冷却ボックス２６と上部ロッド１９との
間にＯリング２７を介在させるようにする。又、上記気
密状態にした筒体１５の内部には、図示しない真空ポン
プに真空配管２８を介して接続すると共に、不活性ガス
としてアルゴンガスＡｒを筒体１５内に供給できるよう
アルゴンガス供給配管２９を接続し、筒体１５内を真空
にした後、アルゴンガスＡｒを供給してアルゴンガス雰
囲気に置換できるようにし、又、上記冷却ボックス２４
と２６には、冷却水入口配管３０，３１と冷却水出口配
管３２，３３をそれぞれ接続し、Ｏリング２５と２７に
よるシール部を冷却水で冷却できるようにしてある。更
に、試験片７を上下のロッド１９，２０を介して上下よ
り引張って試験するために、下部ロッド２０には荷重３
４を連結し、上部ロッド１９は架台３５に吊下げ支持さ
せるようにした構成としてある。３６は下部フランジ２
２上に載せた耐熱ブロック、３７は端子箱、３８は熱電
対である。
【００１５】試験片７の高温クリープ試験を実施すると
きは、試験片７を上下のロッド１９，２０間に結合して
一体化させた後、図示の如く、該上下のロッド１９，２
０を電気炉１４の筒体１５内に挿入し、上部ロッド１９
と筒体１５との間をＯリング２７で気密に保つようにす
ると共に、下部ロッド２０と筒体１５との間をＯリング
２５で気密に保つようにする。次に、上記気密に保った
筒体１５内を真空配管２８を介し真空ポンプにて真空に
した後、アルゴンガスを供給配管２９より筒体１５内に
供給して、該筒体１５内をアルゴンガス雰囲気にする。
きは、試験片７を上下のロッド１９，２０間に結合して
一体化させた後、図示の如く、該上下のロッド１９，２
０を電気炉１４の筒体１５内に挿入し、上部ロッド１９
と筒体１５との間をＯリング２７で気密に保つようにす
ると共に、下部ロッド２０と筒体１５との間をＯリング
２５で気密に保つようにする。次に、上記気密に保った
筒体１５内を真空配管２８を介し真空ポンプにて真空に
した後、アルゴンガスを供給配管２９より筒体１５内に
供給して、該筒体１５内をアルゴンガス雰囲気にする。
【００１６】上記の状態で試験片７を上下から引張るよ
うに応力をかけて破壊試験をする。アルゴンガス雰囲気
中であるため、小型の試験片７を酸化の影響を受けるこ
となく高温クリープ試験を実施することができ、実機の
余寿命を正確に予測することができる。因に、小型の試
験片７を大気中で試験すると、小型の試験片７が酸化の
影響を受けることになり、小型の試験片７が酸化の影響
を受けると、酸化減肉の効果を受けるので、実機の余寿
命を正確に予測することができないことになる。
うに応力をかけて破壊試験をする。アルゴンガス雰囲気
中であるため、小型の試験片７を酸化の影響を受けるこ
となく高温クリープ試験を実施することができ、実機の
余寿命を正確に予測することができる。因に、小型の試
験片７を大気中で試験すると、小型の試験片７が酸化の
影響を受けることになり、小型の試験片７が酸化の影響
を受けると、酸化減肉の効果を受けるので、実機の余寿
命を正確に予測することができないことになる。
【００１７】上記のクリープ試験結果により実機の余寿
命を評価する第４段階IVでは、上記第３段階III にて短
時間で得た結果から推定して長時間の余寿命を予測する
ようにする。図９は小型の試験片と従来の大型の試験片
によるクリープ破壊試験結果をラーソン・ミラーパラメ
ータＰで整理した結果を示すもので、○印は小型の試験
片をアルゴンガス雰囲気中でクリープ試験したときのデ
ータを示し、●印は小型試験片を大気中でクリープ試験
したときのデータを示し、又、◎印は従来の大型の試験
片を大気中でクリープ試験したときのデータを示す。
命を評価する第４段階IVでは、上記第３段階III にて短
時間で得た結果から推定して長時間の余寿命を予測する
ようにする。図９は小型の試験片と従来の大型の試験片
によるクリープ破壊試験結果をラーソン・ミラーパラメ
ータＰで整理した結果を示すもので、○印は小型の試験
片をアルゴンガス雰囲気中でクリープ試験したときのデ
ータを示し、●印は小型試験片を大気中でクリープ試験
したときのデータを示し、又、◎印は従来の大型の試験
片を大気中でクリープ試験したときのデータを示す。
【００１８】図９に示す試験結果から、小型の試験片を
アルゴンガス雰囲気中でクリープ試験すると、従来の大
型の試験片を大気中でクリープ試験するのと同じに試験
することができることがわかり、又、小型の試験片を大
気中でクリープ試験すると、Ｐ＝１．９×１０4 以上に
なると、酸化の影響が現われてくることがわかる。
アルゴンガス雰囲気中でクリープ試験すると、従来の大
型の試験片を大気中でクリープ試験するのと同じに試験
することができることがわかり、又、小型の試験片を大
気中でクリープ試験すると、Ｐ＝１．９×１０4 以上に
なると、酸化の影響が現われてくることがわかる。
【００１９】上記図９に示される結果から推定して長時
間の余寿命を知ることができる。今、実機の余寿命を予
測する場合は、図９において、実機の応力からＰが求め
られ、このとき実機の温度がわかるのでＴが求められ、
その結果、破断時間ｔｒが求められる。この破断時間ｔ
ｒは、余寿命となるものであるから、図９に基づき実機
の余寿命を評価することができる。
間の余寿命を知ることができる。今、実機の余寿命を予
測する場合は、図９において、実機の応力からＰが求め
られ、このとき実機の温度がわかるのでＴが求められ、
その結果、破断時間ｔｒが求められる。この破断時間ｔ
ｒは、余寿命となるものであるから、図９に基づき実機
の余寿命を評価することができる。
【００２０】
【発明の効果】以上述べた如く、本発明の実機の余寿命
予測用小型試験片の製作方法によれば、先ず、実機の表
面部から放電加工により微小のサンプルを採取するよう
にし、一方、予め、上面の中央部に所要深さの凹部を溝
状に長手方向に沿い形成すると共に該凹部に達する傾斜
面を幅方向から形成した金属製基台を用意しておき、該
基台の上記凹部上に上記採取した多数のサンプルをその
長手方向が基台の幅方向と平行になるように並べて載
せ、次に、各サンプルの長手方向の両端と上記凹部の縁
部とを接合し、しかる後、上記基台の凹部の下方を、上
面の傾斜面と同様に切断してから各サンプルごとに基台
を幅方向の切断線に沿い切断し、更に、個々のサンプル
ごとに両端部を加工して多数の小型試験片を製作するよ
うにするので、多数のサンプルに対する加工を全体的に
施すことができて、多数の小型試験片を効率よく製作す
ることができる。したがって、得られた試験片を不活性
ガス雰囲気中でクリープ試験に用いることにより、実機
の余寿命予測評価や実機の材質劣化調査に寄与すること
ができる。
予測用小型試験片の製作方法によれば、先ず、実機の表
面部から放電加工により微小のサンプルを採取するよう
にし、一方、予め、上面の中央部に所要深さの凹部を溝
状に長手方向に沿い形成すると共に該凹部に達する傾斜
面を幅方向から形成した金属製基台を用意しておき、該
基台の上記凹部上に上記採取した多数のサンプルをその
長手方向が基台の幅方向と平行になるように並べて載
せ、次に、各サンプルの長手方向の両端と上記凹部の縁
部とを接合し、しかる後、上記基台の凹部の下方を、上
面の傾斜面と同様に切断してから各サンプルごとに基台
を幅方向の切断線に沿い切断し、更に、個々のサンプル
ごとに両端部を加工して多数の小型試験片を製作するよ
うにするので、多数のサンプルに対する加工を全体的に
施すことができて、多数の小型試験片を効率よく製作す
ることができる。したがって、得られた試験片を不活性
ガス雰囲気中でクリープ試験に用いることにより、実機
の余寿命予測評価や実機の材質劣化調査に寄与すること
ができる。
【図１】実機の余寿命予測の実施段階を示す図である。
【図２】微小のサンプルを実機表面から採取する実施例
を示すもので、（Ａ）は実機表面に溝を形成するときの
状態を示す側面図、（Ｂ）は溝を形成することにより作
られた突部をサンプルとして切断する側面図である。
を示すもので、（Ａ）は実機表面に溝を形成するときの
状態を示す側面図、（Ｂ）は溝を形成することにより作
られた突部をサンプルとして切断する側面図である。
【図３】図２（Ａ）で用いる成形加工用電極の斜視図で
ある。
ある。
【図４】採取されたサンプルを示す図である。
【図５】本発明の実施例を示すもので、微小サンプルか
ら試験片を製作するときの状態を示す切断面図である。
ら試験片を製作するときの状態を示す切断面図である。
【図６】図５の平面図である。
【図７】得られた小型の試験片を示す図である。
【図８】小型の試験片をクリープ試験するクリープ試験
装置の一例を示す切断側面図である。
装置の一例を示す切断側面図である。
【図９】クリープ試験結果を表わした図である。
Ｉ 第１段階 II 第２段階 III 第３段階 IV 第４段階 １ 実機 ２ サンプル ３ 成形加工用電極 ４ 溝 ５ 切断用電極 ６ 突部 ７ 小型の試験片 ８ 凹部 ９ 基台 １０ 傾斜面 １１ 接合部 １２ 切断線 １４ 電気炉 １５ 筒体 １９ 上部ロッド ２０ 下部ロッド ２３，２５ Ｏリング ２７ Ｏリング ２８ 真空配管 ２９ アルゴンガス供給配管 Ａｒ アルゴンガス（不活性ガス）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−160427（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−33639（ＪＰ，Ａ) 特開 昭52−127290（ＪＰ，Ａ) 特開 昭52−49081（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−158330（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−41344（ＪＰ，Ａ) 材料とプロセス、３［３］（1990）園 家、酒井、北川、ｐ．845 (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 3/00 - 3/62 G01N 1/00 - 1/36
Claims (1)
- 【請求項１】 先ず、実機の表面部から放電加工により
微小のサンプルを採取するようにし、一方、予め、上面
の中央部に所要深さの凹部を溝状に長手方向に沿い形成
すると共に該凹部に達する傾斜面を幅方向から形成した
金属製基台を用意しておき、該基台の上記凹部上に上記
採取した多数のサンプルをその長手方向が基台の幅方向
と平行になるように並べて載せ、次に、各サンプルの長
手方向の両端と上記凹部の縁部とを接合し、しかる後、
上記基台の凹部の下方を、上面の傾斜面と同様に切断し
てから各サンプルごとに基台を幅方向の切断線に沿い切
断し、更に、個々のサンプルごとに両端部を加工して多
数の小型試験片を製作することを特徴とする実機の余寿
命予測用小型試験片の製作方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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| 材料とプロセス、３［３］（１９９０）園家、酒井、北川、ｐ．８４５ |
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