JP3081845U - テストプラグ保護カバー - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 テスト端子に挿入するテストプラグの活線側
導体の電気的絶縁が面倒であった。 【解決手段】 テスト端子２に挿入するテストプラグ３
の活線側導体１８ａの露出する部分１８２を覆うが、非
活線側導体１９ａの露出する部分１９２は覆わない保護
カバー３０を設ける。保護カバー３０をテストプラグ３
に対して着脱自在に構成する。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【考案の属する技術分野】

本考案は、配電盤等に設けられているテスト端子に係合させるためのテスト プラグを保護するためのカバーに関する。

【０００２】

【従来の技術】

図１に概略的に示すように配電盤1には計器即ちメータの校正等のためのテスト 端子2が設けられている。このテスト端子2には計器の校正時等にテストプラグ3 が挿入される。テスト端子2は、図6の電気回路に示すように、第１、第２，第３ 及び第４の電源側端子４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄと、第１、第２、第３及び第４の 負荷側端子５ａ、５ｂ、５ｃ、５ｄと、第１、第２、第３及び第４の電源側導体 ６ａ、６ｂ、６ｃ、６ｄと、第１、第２、第３及び第４の負荷側導体７ａ、７ｂ 、７ｃ、７ｄとを有する。第１、第２、第３及び第４の電源側端子４ａ、４ｂ、 ４ｃ、４ｄは電源側装置８に接続されている。第１、第２及び第３の負荷側端子 ５ａ、５ｂ、５ｃには負荷としての第１、第２及び第３の計器９ａ、９ｂ、９ｃ が接続されている。なお、第４の負荷側端子４ｄ及び第４の負荷側端子５ｄはグ ランドとして使用されている。

【０００３】 図６に示すようにのテスト端子２は第１、第２、第３及び第４のテスト端子部 を有するが、これ等は互いに同一構成であるので、第１のテスト端子部を図１及 び図２を参照して詳しく説明し、第２〜第４のテスト端子部の説明を省略する。 テスト端子２は、図１に示すように第１のテスト端子部の端子４ａ、５ａ及び導 体６ａ、７ａを支持し、且つ図６の第２、第３及び第４のテスト端子部の各端子 及び各導体を支持する絶縁支持体１０を有する。この絶縁支持体１０にはテスト プラグ３の突出係合部１２を挿入するための孔１１が形成されている。弾性変形 可能な第１の電源側導体６ａ及び第１の負荷側導体７ａは、変形可能に支持体１ ０に支持され、これ等の一端が第１の電源側端子４ａ及び第１の負荷側端子５ａ に接続されている。通常時即ち非テスト時には、電源側及び負荷側導体６ａ、７ ａは互いに接触し、電気的に接続されている。弾性を有する電源側及び負荷側導 体６ａ、７ａはテストプラグ３の係合部１２をこれ等の間に挿入することができ るように形成されている。テストプラグ３の係合部１２をテスト端子２の孔１１ 即ち電源側及び負荷側導体６ａ、７ａ間に挿入すると、図２に示すように電源側 及び負荷側導体６ａ、７ａは弾性変形して両者の電気的接続関係が解消される。 従って、計器９ａは電源側装置８から切り離される。この結果、計器９ａを電源 側装置８に拘束されないで校正することができる。

【０００４】 テストプラグ３は、前述の突出係合部１２の他に、図３に示すように第１、第 ２、第３及び第４のプラグ側端子部１３、１４、１５、１６と絶縁支持体１７と を有する。図１及び図２にはテスト端子２の第１のテスト端子部とここに接続さ れる第１のプラグ側端子部１３との関係が詳しく示されているが、第２、第３及 び第４のテスト端子部と第２、第３及び第４のプラグ側端子部１４、１５、１６ との関係も同様である。従って，ここでは、第１のプラグ側端子部１３を詳しく 説明し、第２、第３及び第４のプラグ側端子部１４、１５、１６の説明を省略す る。

【０００５】 第１のプラグ側端子部１３は、活線側導体１８ａと非活線側導体１９ａとを有し 、これ等の相互間は絶縁体２０によって電気的に分離され、且つこれ等は絶縁支 持体１７で支持されている。絶縁支持体１７は、全体として６面体に形成されて いる。活線側導体１８ａ及び非活線側導体１９ａの一端側部分１８１，１９１は 支持体１７の一方の主面側即ち裏面側に絶縁体２０と共に突出してテスト端子２ に対する係合部１２を構成している。係合部１２を図２に示すようにテスト端子 ２の孔１１の中の電源側導体６ａと負荷側導体７ａとの間に挿入すると、テスト 端子２の電源側導体６ａと負荷側導体７ａとの電気的接続が解消され、テストプ ラグ３の活線側導体１８ａがテスト端子２の電源側導体６ａに接続され、非活線 側導体１９ａが負荷側導体７ａに接続される。

【０００６】 活線側導体１８ａ及び非活線側導体１９ａの外部回路への接続を可能にするため に、これ等の他端部分１８２，１９２が支持体１７の他方の主面側即ち正面側に 突出している。図４に示すように非活線側導体１９ａの他端部１９２は棒状に形 成され、活線側導体１８ａの他端部１８２は非活線側導体１９ａの他端部１９２ を絶縁体２１を介して環状に囲むように形成されている。活線側導体１８ａに対 して外部回路を接続するためにこの他端部１８２にはネジ溝が形成され、ここに ナット２２が螺合されている。また、非活線側導体１９ａに対して外部回路を接 続するためにこの他端部１９２にネジ溝が形成され、ここにナット２３が螺合さ れている。なお、活線側導体１８ａの他端部１８２及び非活線側導体１９ａの他 端部１９２は、外部回路接続用露出部をそれぞれ有する。

【０００７】 テスト端子２とテストプラグ３との組み合わせから成るテスト装置においてテス トをしない時にはテストプラグ３がテスト端子２に係合されず、図６の回路が成 立している。テストをするためにテストプラグ３をテスト端子２に係合すると、 図７に示すようにテスト端子２の負荷側端子５ａ、５ｂ、５ｃ、５ｄが電源側端 子４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄから切り離され、非活線状態になる。また、図１に示 すように第１のプラグ側端子部１３の活線側導体１８ａがテスト端子２の電源側 導体６ａに接続され且つ非活線側導体１９ａが負荷側導体７ａに接続されると共 に、図７に示すように第１のプラグ側端子１３と同様に形成されている第２，第 ３及び第４のプラグ側端子部１４，１５，１６の活線側導体１８ｂ、１８ｃ、１ ８ｄが電源側導体６ｂ、６ｃ、６ｄに接続され且つ非活線側導体１９ｂ、１９ｃ 、１９ｄが負荷側導体７ｂ、７ｃ、７ｄに接続される。この結果、例えば、第１ 及び第４の非活線側導体１９ａ、１９ｄに校正用電源２４を接続すると，計器９ ａを校正又はテストすることができる。また、第１及び第４の活線側導体１８ａ 、１８ｄに例えば電圧計を接続すれば，２つの導体１８ａ、１８ｄ間の電圧を測 定することができる。

【０００８】

【考案が解決しようとする課題】

ところで、テストプラグ３をテスト端子２に係合させると、活線側導体１８ａ〜 １８ｄのそれぞれの他端部１８２が活線状態となる。この活線状態の他端部１８ ２に触れると感電、又は送配電に重大な支障を及ぼす短絡又はアース状態になる 恐れがある。従来は、これを防ぐために活線側のテストを実行しない時には絶縁 テープを活線側導体１８ａ〜１８ｄの他端部１８２に巻き付けて対処している。 しかし、絶縁テープの巻き付け及びこの剥しの作業時間が比較的長くなるばかり でなく、使用済の絶縁テープは廃棄物となり、廃棄物の増大を招いた。

【０００９】 そこで、本考案の目的は、テストプラグの保護を容易に達成することができる保 護カバーを提供することにある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】

上記課題を解決し、上記目的を達成するための本考案は、電源側端子と、負荷側 端子と、前記電源側端子に接続された電源側導体と、前記負荷側端子に接続され 且つ常時には前記電源側導体に接続されている負荷側導体とを有するテスト端子 と、前記テスト端子に対して選択的に係合させるための係合部と、前記テスト端 子の前記電源側導体に接続される活線側導体と，前記テスト端子の前記負荷側導 体に接続される非活線側導体と、前記活線側導体と前記非活線側導体とを電気的 に分離して支持する絶縁支持体とを有し、前記テスト端子に係合させた時に前記 電源側導体と前記電源側導体とを非接続状態にすると共に前記活線側導体を前記 テスト端子の前記電源側導体に電気的に接続し且つ前記非活線側導体を前記テス ト端子の前記負荷側導体に電気的に接続するように形成され、且つ前記活線側導 体の一部及び前記非活線側導体の一部がそれぞれ外部回路接続用露出部とされて いるテストプラグとから成るテスト装置における前記テストプラグを電気的に保 護するための保護カバーであって、前記テストプラグに対して装着及び取り外し することができるように形成され且つ前記テストプラグの前記活線側導体の前記 外部回路接続用露出部は覆うが前記テストプラグの前記非活線側導体の前記外部 回路接続用露出部は覆わないように形成されていることを特徴とする保護カバー に係わるものである。

【００１１】 なお、請求項２に示すように位置決め手段を設けること、及び請求項３に示すよ うに弾性係合手段を設けることが望ましい。

【００１２】

【考案の効果】

各請求項の考案によればテストプラグの活線側導体は覆うが非活線側導体は覆わ ない保護カバーを設けたので、非活線側のテスト時に活線側導体による感電、又 は活線側導体の短絡又は接地を防ぐことができる。また、保護カバーはテストプ ラグに対して着脱自在であるので保護又は安全性向上を容易に達成することがで きる。 また、請求項２及び３の考案によれば、保護カバーのテストプラグに対する装着 の安定性が向上する。

【００１３】

【実施形態】

次に、図１〜図８を参照して本考案の実施形態を説明する。

【００１４】

【第１の実施形態】 図１、図２及び図５に示す第１の実施形態の保護カバー３０は、図１、図２、図 ３、図４、図６、図７によって既に説明したテスト端子２とテストプラグ３との 組み合わせから成るテスト装置のテストプラグ３における活線部分を保護するた めのものである。従って、ここではテスト端子２とテストプラグ３との説明は省 略する。

【００１５】 保護カバー３０は、絶縁性合成樹脂によって全体として箱型に形成されており、 主面部３１と第１、第２、第３及び第４の側面部３２、３３、３４、３５とを有 する。四角形の主面部３１には第１、第２、第３及び第４のプラグ側端子部１３ 、１４、１５、１６の一部を挿通させるための第１、第２、第３及び第４の孔３ ６、３７、３８、３９が形成されている。第１、第２、第３及び第４の側面部３ ２、３３、３４、３５の開放端側は非活線側導体１９ａ、１９b、１９c、１９d の他端部１９２及びテストプラグ３のブロック状の絶縁支持体１７を覆うように 形成されている。保護カバー３０とテストプラグ３との位置関係を決めるための 位置決め手段としての位置決め体４０がカバー３０の内部に設けられている。図 １及び図２において位置決め体４０の右端が絶縁支持体１７の主面に当接するこ とによって保護カバー３０の装着位置が決定される。保護カバー３０を図２に示 すように正常に装着すると、テストプラグ３の非活線側導体１９ａ、１９b、１ ９c、１９dの他端部１９２は外部回路を接続することができるようにカバー３０ から突出するが、活線側導体１８ａ、１８b、１８c、１８dの他端部１８２は保 護カバー３０で覆われる。保護カバー３０のテストプラグ３に対する装着状態を 安定的に保つための弾性係合手段としてのバネ片から成る弾性係合体４１が側面 部３２の内側に配置されている。この弾性係合体４１は絶縁支持体１７に弾性を 有して接触して保護カバー３０を絶縁支持体１７に安定的に係合させる。

【００１６】 保護カバー３０は、活線側導体１８ａ〜１８ｄの他端部１８２に対して外部回路 を接続することが不要の時に図２に示すようにテストプラグ３に装着される。保 護カバー３０の図１における右端側は開放されているので、保護カバー３０を矢 印で示す右方向に移動すると非活線側導体１９ａ〜１９ｄの他端部１９２が孔３ ６〜３９を通り、図２に示すように保護カバー３０から露出する。例えば非活線 側導体１９ａ、１９ｄの他端部１９２に校正用電源２４を接続すると、負荷とし ての計器９ａに所定の電圧又は電流を供給することができる。非活線側のテスト 作業が終了したら、保護カバー３０をテストプラグ３から取り外す。

【００１７】 上述から明らかなように、本実施形態の保護カバー３０は次の効果を有する。 （１） 保護カバー３０によって活線側導体１８ａ〜１８ｄの露出部分を覆い、 非活線側導体１９ａ〜１９ｄの他端部１９２の露出部分は覆わないので、活線側 導体１８ａ〜１８ｄにドライバー等の工具又はその他の物体が接触することを防 いで、非活線側導体１９ａ〜１９ｄに基づくテスト作業を進めることができる。 （２） 保護カバー３０は孔３６〜３９から非活線側導体１９ａ〜１９ｄの他端 部１９２を露出させる構成であるので、選択的保護を容易に達成することができ る。 （３） 保護カバー３０はテストプラグ３に対して着脱自在であるので、取扱い 勝手が良く、且つ繰り返して使用することができる。 （４） 位置決め体４０及び弾性係合体４１が設けられているので、保護カバー ３０の所望位置への安定的装着を容易に達成することができる。

【００１８】

【第２の実施形態】 次に、図８を参照して第２の実施形態の保護カバー３０ａを説明する。但し、 図８において図１、図２及び図５と実質的に同一の部分には同一の符号を付して その説明を省略する。図８の保護カバー３０ａは、第１の半体５１と第２の半体 ５２との組み合わせによって構成されている。第１及び第２の半体５１、５２の 組み合わせによって図５の保護カバー３０と実質的に同一の保護カバー３０ａが 形成されている。第１及び第２の半体５１、５２の主面部３１には，図５の第１ 〜第４の孔３６〜３９に対応するものとしてＵ字状又は逆Ｕ字状溝から成る開口 ３６ａ、３７ａ、３８ａ、３９ａが形成されている。なお、開口３６ａ、３７ａ の組み合わせによって１つの長孔となり，開口３８ａ、３９ａの組み合わせによ って別の１つの長孔になっている。第１及び第２の半体５１、５２は係止具５３ によって一体化されている。係止具５３による第１及び第２の半体５１、５２の 結合は、テストプラグ３に保護カバー３０ａを装着する時であってもよいし、装 着前であってもよい。なお，図８の保護カバー３０ａにも、第１の実施形態の保 護カバー３０の位置決め体４０及び弾性係合体４１と同様なものが設けられてい る。

【００１９】 第２の実施形態の分割型の保護カバー３０ａによっても第１の実施形態の保護 カバー３０と同一の効果を得ることができる。

【００２０】

【変形例】

本考案は上述の実施例に限定されるものではなく、例えば次の変形が可能なも のである。 （１） 保護カバー３０、３０ａの挿入位置決めを側面部３２〜３５の長さによ って行ってもよい。即ち、テスト端子２が設けられている配電盤１に側面部３２ 〜３５の端部を当接させて最終的に位置決めをすることができる。 （２） 側面部３２〜３５を弾性変形可能に形成し、側面部３２〜３５を絶縁支 持体１７に弾性的に係合させることができる。 （３） 保護カバー３０、３０aの材料を合成樹脂に限ることなく、紙等の別の 絶縁体とすることができる。 （４） テスト端子２及びテストプラグ３の端子数を増減することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】テスト端子とテストプラグとから成るテスト装
置と第１の実施形態に従う保護カバーとを一部切断して
示す側面図である。

【図２】図１のテスト端子にテストプラグを挿入し且つ
保護カバーを装着した状態を示す一部切断側面図であ
る。

【図３】図１のテストプラグの正面図である。

【図４】テストプラグの１つの端子部を示す断面図であ
る。

【図５】図１の保護カバーを示す斜視図である。

【図６】テストプラグの末挿入状態におけるテスト端子
とこれに関係する部分の電気回路図である。

【図７】テスト端子にテストプラグを挿入した時のこれ
等の電気回路図である。

【図８】第２の実施形態の保護カバーを示す斜視図であ
る。

【符号の説明】

１ 配電盤 ２ テスト端子 ３ テストプラグ ４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄ 電源側端子 ５ａ、５ｂ、５ｃ、５ｄ 負荷側端子 ６ａ、６ｂ、６ｃ、６ｄ 電源側導体 ７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄ 負荷側導体 ８ 電源側装置 ９ａ、９ｂ、９ｃ 計器 １０ テスト端子側絶縁支持体 １１ 孔 １２ 突出係合部 １３、１４、１５、１６ プラグ側端子部 １７ 絶縁支持体 １８ａ 活線側導体 １９ａ 非活線側導体 ３０ 保護カバー ４０ 位置決め体 ４１ 弾性係合体

Claims (3)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 電源側端子と、負荷側端子と、前記電源
   側端子に接続された電源側導体と、前記負荷側端子に接
   続され且つ常時には前記電源側導体に接続されている負
   荷側導体とを有するテスト端子と、 前記テスト端子に対して選択的に係合させるための係合
   部と、前記テスト端子の前記側導体に接続される活線側
   導体と，前記テスト端子の前記負荷側導体に接続される
   非活線側導体と、前記活線側導体と前記非活線側導体と
   を電気的に分離して支持する絶縁支持体とを有し、前記
   テスト端子に係合させた時に前記電源側導体と前記負荷
   側導体とを非接続状態にすると共に前記活線側導体を前
   記テスト端子の前記電源側導体に電気的に接続し且つ前
   記非活線側導体を前記テスト端子の前記負荷側導体に電
   気的に接続するように形成され、且つ前記活線側導体の
   一部及び前記非活線側導体の一部がそれぞれ外部回路接
   続用露出部とされているテストプラグとから成るテスト
   装置における前記テストプラグを電気的に保護するため
   の保護カバーであって、 前記テストプラグに対して装着及び取り外しすることが
   できるように形成され且つ前記テストプラグの前記活線
   側導体の前記外部回路接続用露出部は覆うが前記テスト
   プラグの前記非活線側導体の前記外部回路接続用露出部
   は覆わないように形成されていることを特徴とする保護
   カバー。
2. 【請求項２】 更に、前記絶縁支持体に対して位置決め
   する手段を有していることを特徴とする請求項１記載の
   保護カバー。
3. 【請求項３】 更に、前記絶縁支持体に弾性的に係合さ
   せるための手段を有していることを特徴とする請求項１
   又は２記載の保護カバー。