JP3069360B2 - 表示パネル用プローブ - Google Patents
表示パネル用プローブInfo
- Publication number
- JP3069360B2 JP3069360B2 JP2014169A JP1416990A JP3069360B2 JP 3069360 B2 JP3069360 B2 JP 3069360B2 JP 2014169 A JP2014169 A JP 2014169A JP 1416990 A JP1416990 A JP 1416990A JP 3069360 B2 JP3069360 B2 JP 3069360B2
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- Japan
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- probe
- display panel
- electrode
- liquid crystal
- tab
- Prior art date
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- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、表示パネル用プローブに関し、例えば液
晶表示パネル又はそれを構成するガラス基板の試験に用
いられるものに利用して有効な技術に関するものであ
る。
晶表示パネル又はそれを構成するガラス基板の試験に用
いられるものに利用して有効な技術に関するものであ
る。
液晶パネルの試験に用いられるプローブボードの例と
して、例えば特開昭63−173971号公報がある。この公報
に開示されるているプローブボードは、ゴムに金を混入
してちりばめて導電部分を持たせ、それをガラス基板の
電極へ接触させるプローブとして用いるものである。
して、例えば特開昭63−173971号公報がある。この公報
に開示されるているプローブボードは、ゴムに金を混入
してちりばめて導電部分を持たせ、それをガラス基板の
電極へ接触させるプローブとして用いるものである。
〔発明が解決しようとする課題〕 上記構成のプローブボードでは、ゴムに金を混入させ
る必要があり、その製造に格別の技術ないし装置を必要
としその分コストが高くなるという問題を有する。ま
た、その電極の接触面積が広くなるため、単位面積当た
りの接触圧が小さくなる。このように接触圧が小さくな
ると、上記プローブ電極又は被試験液晶パネルの電極の
表面における絶縁性のゴミや酸化膜等により安定した電
気的接触が得られないという問題が存在する。
る必要があり、その製造に格別の技術ないし装置を必要
としその分コストが高くなるという問題を有する。ま
た、その電極の接触面積が広くなるため、単位面積当た
りの接触圧が小さくなる。このように接触圧が小さくな
ると、上記プローブ電極又は被試験液晶パネルの電極の
表面における絶縁性のゴミや酸化膜等により安定した電
気的接触が得られないという問題が存在する。
この発明の目的は、簡単な構成で安定した電気的接触
を得ることのできる基板用プローブを提供することにあ
る。
を得ることのできる基板用プローブを提供することにあ
る。
この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴
は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるで
あろう。
は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるで
あろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、下記の通りである。すなわち、
（イ）弾性的に変形可能なフィルムベースの表面に測定
すべき電極のピッチに合わせて形成された配線プローブ
として用いる。（ロ）上記プローブの裏面側には、上記
プローブとしての配線を表示パネルの電極に押し付ける
中空の弾性チューブが設けられている。（ハ）上記弾性
チューブの中空部分に押え金具が挿入されている。
要を簡単に説明すれば、下記の通りである。すなわち、
（イ）弾性的に変形可能なフィルムベースの表面に測定
すべき電極のピッチに合わせて形成された配線プローブ
として用いる。（ロ）上記プローブの裏面側には、上記
プローブとしての配線を表示パネルの電極に押し付ける
中空の弾性チューブが設けられている。（ハ）上記弾性
チューブの中空部分に押え金具が挿入されている。
上記した手段にれば、タブ（TAB）技術を利用するこ
とにより、簡単な構成により良好な電気的接触が可能な
多数からなるプローブを得ることができる。
とにより、簡単な構成により良好な電気的接触が可能な
多数からなるプローブを得ることができる。
第１図には、この発明に係る表示パネル用プローブの
一実施例の要部斜視図が示され、第２図にはその概略断
面図が示されている。
一実施例の要部斜視図が示され、第２図にはその概略断
面図が示されている。
同図では、同面が複雑化されてしまうのを防ぐため
に、方形からなる液晶表示パネルの１つの辺に対応して
設けられる表示パネル用プローブが代表として例示的に
示されている。
に、方形からなる液晶表示パネルの１つの辺に対応して
設けられる表示パネル用プローブが代表として例示的に
示されている。
この実施例のプローブは、特に制限されないが、TAB
（Tape Automated Bonding）を利用してプローブを構成
する。すなわち、ポリイミドフィルムのような適度の硬
さと柔軟性を持つフィルムベースの表面（第１図、第２
図では下面側）に、写真技術を利用して表示パネルの電
極に対応したピッチの配線を形成し、それをプローブと
して用いる。表示パネルは多数からなる電極を持つた
め、上記複数のプローブが写真印刷されたTABが複数個
組み合わされ、TAB取付基板により一体化される。これ
により、表示パネルの１つの辺に対応して設けられる多
数の電極に対応して設けられる多数のプローブが構成さ
れる。液晶表示パネルの４つの辺に設けられる全電極
に、プローブを接触させるようにするとき、上記各辺に
対応して設けられるTAB取付基板は、共通の取付板に取
り付けられる。この取付板は、その一部しか図示されて
いないが、その全体の形状はTABの先端側が液晶表示パ
ネルに対応した開口を持つような方形板から構成され
る。言い換えるならば、上記液晶表示パネルに対応した
枠の形状となるものである。
（Tape Automated Bonding）を利用してプローブを構成
する。すなわち、ポリイミドフィルムのような適度の硬
さと柔軟性を持つフィルムベースの表面（第１図、第２
図では下面側）に、写真技術を利用して表示パネルの電
極に対応したピッチの配線を形成し、それをプローブと
して用いる。表示パネルは多数からなる電極を持つた
め、上記複数のプローブが写真印刷されたTABが複数個
組み合わされ、TAB取付基板により一体化される。これ
により、表示パネルの１つの辺に対応して設けられる多
数の電極に対応して設けられる多数のプローブが構成さ
れる。液晶表示パネルの４つの辺に設けられる全電極
に、プローブを接触させるようにするとき、上記各辺に
対応して設けられるTAB取付基板は、共通の取付板に取
り付けられる。この取付板は、その一部しか図示されて
いないが、その全体の形状はTABの先端側が液晶表示パ
ネルに対応した開口を持つような方形板から構成され
る。言い換えるならば、上記液晶表示パネルに対応した
枠の形状となるものである。
上記プローブとしての配線を液晶パネル等の表示パネ
ルの電極表面に所望の接触圧を持って接触させるため
に、上記TABの裏面（第１図、第２図では上面側）先端
部にはそれと平行に押え金具を芯にした弾性体としての
シリコンゴムチューブが設けられる。
ルの電極表面に所望の接触圧を持って接触させるため
に、上記TABの裏面（第１図、第２図では上面側）先端
部にはそれと平行に押え金具を芯にした弾性体としての
シリコンゴムチューブが設けられる。
上記TABには、第２図に示されているように、上面側
にドライブ用ICが搭載される。すなわち、上記プローブ
としての配線はドライブ用ICにより形成された駆動信号
が伝えられる。このようにプローブとしての配線がその
まま延びてドライブ用ICに接続されるので、試験用の回
路が簡単に構成でき、実際の駆動状態と同様に液晶表示
パネルの駆動を行うことができる。
にドライブ用ICが搭載される。すなわち、上記プローブ
としての配線はドライブ用ICにより形成された駆動信号
が伝えられる。このようにプローブとしての配線がその
まま延びてドライブ用ICに接続されるので、試験用の回
路が簡単に構成でき、実際の駆動状態と同様に液晶表示
パネルの駆動を行うことができる。
この実施例の表示パネル用プローブは、第２図に示す
ように、測定すべき液晶パネルの電極と、プローブとし
ての配線の位置合わせを行う。
ように、測定すべき液晶パネルの電極と、プローブとし
ての配線の位置合わせを行う。
この後、第３図に示すように、プローブ側（取付板）
を押し下げ、又は液晶パネル側を押し上げることによ
り、TABの配線と液晶パネルの電極ととの接触を開始さ
せる。このとき、TABのポリイミドフィルムが適度の硬
さと柔軟性を持つため、TABのプローブとしての配線は
液晶パネルの電極表面を擦りながら接触を開始する。こ
れにより、被測定部のITO（Indium Tin Oxide）電極を
スクラッチし、表面酸化膜を破壊して接触を行うものと
なり、良好な電気的接触が可能となる。
を押し下げ、又は液晶パネル側を押し上げることによ
り、TABの配線と液晶パネルの電極ととの接触を開始さ
せる。このとき、TABのポリイミドフィルムが適度の硬
さと柔軟性を持つため、TABのプローブとしての配線は
液晶パネルの電極表面を擦りながら接触を開始する。こ
れにより、被測定部のITO（Indium Tin Oxide）電極を
スクラッチし、表面酸化膜を破壊して接触を行うものと
なり、良好な電気的接触が可能となる。
すなわち、第４図に示すように、最終的にはシリコン
ゴムチューブが押し潰されることにより、所望の接触圧
を持つようにTABが変形し、それに伴いプローブが上記
電極表面を擦るため上記のような表面酸化膜やゴミ等を
除去し、かつ広い接触面により測定電極と接触を行うも
のとなる。これにより、良好で安定的な電気的接触が可
能になるものである。
ゴムチューブが押し潰されることにより、所望の接触圧
を持つようにTABが変形し、それに伴いプローブが上記
電極表面を擦るため上記のような表面酸化膜やゴミ等を
除去し、かつ広い接触面により測定電極と接触を行うも
のとなる。これにより、良好で安定的な電気的接触が可
能になるものである。
なお、より良好で確実な電気的接触を可能にするため
に、上記シリコンゴムチューブの芯である押え金具を超
音波振動させるようにするものであってもよい。これに
より、プローブとしての配線と液晶パネルの電極とが互
いに摩れ合うため、上記ゴミや酸化膜をよりいっそう完
全に除去して良好な電気的接触を得ることができる。
に、上記シリコンゴムチューブの芯である押え金具を超
音波振動させるようにするものであってもよい。これに
より、プローブとしての配線と液晶パネルの電極とが互
いに摩れ合うため、上記ゴミや酸化膜をよりいっそう完
全に除去して良好な電気的接触を得ることができる。
上記表示用プローブを用いた液晶パネルの試験の概略
は、次の通りである。
は、次の通りである。
液晶パネルが単純マトリックス構成である場合、表示
パネルの横方向と縦方向に走査線と信号線が配置され
る。この場合、上記信号線と走査線の両端に上記プロー
ブを押し当てて、その断線チェックを行う。この後、必
要に応じて駆動信号を供給して全点灯試験と全非点灯試
験等のような液晶の表示試験を行う。
パネルの横方向と縦方向に走査線と信号線が配置され
る。この場合、上記信号線と走査線の両端に上記プロー
ブを押し当てて、その断線チェックを行う。この後、必
要に応じて駆動信号を供給して全点灯試験と全非点灯試
験等のような液晶の表示試験を行う。
液晶表示パネルがアクティブマトリックス構成である
場合、上記のような信号線と走査線の断線チェックの他
に、各画素毎に設けられるTFTトランジスタのオン，オ
フ試験を行うことが必要である。このため、最低でも全
点灯状態や全非点灯状態の確認を通して上記TFTトラン
ジスタのオン状態／オフ状態のチェックを行うことが必
要とされる。この場合、この実施例のように、表示パネ
ルの全電極に対して同時接触を行うものであるため、実
際の可動状態と同じ条件での試験が可能になる。
場合、上記のような信号線と走査線の断線チェックの他
に、各画素毎に設けられるTFTトランジスタのオン，オ
フ試験を行うことが必要である。このため、最低でも全
点灯状態や全非点灯状態の確認を通して上記TFTトラン
ジスタのオン状態／オフ状態のチェックを行うことが必
要とされる。この場合、この実施例のように、表示パネ
ルの全電極に対して同時接触を行うものであるため、実
際の可動状態と同じ条件での試験が可能になる。
上記の実施例から得られる作用効果は、下記の通りで
ある。すなわち、 （１）適度の硬さと柔軟性を持つフィルムベースの表面
に測定すべき電極のピッチに合わせて配線を形成し、そ
れをプローブとして用いるようにすることにより、TAB
技術を応用して簡単な構成で良好な電気的接触が可能な
多数からなるプローブを得ることができるという効果が
得られる。
ある。すなわち、 （１）適度の硬さと柔軟性を持つフィルムベースの表面
に測定すべき電極のピッチに合わせて配線を形成し、そ
れをプローブとして用いるようにすることにより、TAB
技術を応用して簡単な構成で良好な電気的接触が可能な
多数からなるプローブを得ることができるという効果が
得られる。
（２）シリコンゴムチューブ等の弾性体を介して上記プ
ローブとして作用するTABと表示パネルとを相互に押し
付けることにより、プローブとしての配線が表示パネル
の電極表面を擦るため、表面酸化膜やゴミを除去するの
で確実で良好な電気的接触を得ることができるという効
果が得られる。
ローブとして作用するTABと表示パネルとを相互に押し
付けることにより、プローブとしての配線が表示パネル
の電極表面を擦るため、表面酸化膜やゴミを除去するの
で確実で良好な電気的接触を得ることができるという効
果が得られる。
（３）上記プローブとして作用させられるTABにドライ
ブ用ICを実装させることにより、製品実装条件と実質的
に等価となり、高信頼性の試験を行うことができるとい
う効果が得られる。
ブ用ICを実装させることにより、製品実装条件と実質的
に等価となり、高信頼性の試験を行うことができるとい
う効果が得られる。
（４）上記（３）により電気的接続部が少なくできるか
ら、接続部での不良を生じる虞れが少なく、構造が極め
て簡単なため、製造の作業性がよいとともに、組立調整
等の工数が少なく、かつ部品交換の場合の作業性がよい
のでメンテナンス性がよいという効果が得られる。
ら、接続部での不良を生じる虞れが少なく、構造が極め
て簡単なため、製造の作業性がよいとともに、組立調整
等の工数が少なく、かつ部品交換の場合の作業性がよい
のでメンテナンス性がよいという効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき
具体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。例えば、プローブとし
てのTABに形成された配線と表示パネルの電極との間で
程度の接触圧を持たせるための手段としては、前記実施
例のようなシリコンゴムチューブのような弾性体を用い
るもの他、TABの上面側に板バネを用いる等種々の実施
形態を採ることができる。また、TABを構成するフィル
ムベースは、前記実施例のようなポリイミドフィルムの
他、同様な機能を持つものであれば何であってもよい。
具体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。例えば、プローブとし
てのTABに形成された配線と表示パネルの電極との間で
程度の接触圧を持たせるための手段としては、前記実施
例のようなシリコンゴムチューブのような弾性体を用い
るもの他、TABの上面側に板バネを用いる等種々の実施
形態を採ることができる。また、TABを構成するフィル
ムベースは、前記実施例のようなポリイミドフィルムの
他、同様な機能を持つものであれば何であってもよい。
被測定物である液晶パネルは、完成された表示パネル
の他、信号線電極や走査線電極及びTFTや画素電極が形
成された半完成状態のガラス基板であってもよい。
の他、信号線電極や走査線電極及びTFTや画素電極が形
成された半完成状態のガラス基板であってもよい。
この発明に係る表示パネル用プローブは、前記液晶パ
ネル等のガラス基板の他、各種表示パネルに広く利用す
ることができる。
ネル等のガラス基板の他、各種表示パネルに広く利用す
ることができる。
本願において開示される発明のうち代表的なものによ
って得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りであ
る。すなわち、適度の硬さと柔軟性を持つフィルムベー
スの表面に測定すべき電極のピッチに合わせて配線を形
成し、それをプローブとして用いるようにすることによ
り、TAB技術を応用して簡単な構成で良好な電気的接触
が可能な多数からなるプローブを得ることができる。そ
して、プローブとドライブICとを一体にできるから多数
配線の組立作業が不要でかつ信頼性が向上する。
って得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りであ
る。すなわち、適度の硬さと柔軟性を持つフィルムベー
スの表面に測定すべき電極のピッチに合わせて配線を形
成し、それをプローブとして用いるようにすることによ
り、TAB技術を応用して簡単な構成で良好な電気的接触
が可能な多数からなるプローブを得ることができる。そ
して、プローブとドライブICとを一体にできるから多数
配線の組立作業が不要でかつ信頼性が向上する。
第１図は、この発明に係る表示パネル用プローブの一実
施例を示す要部概略斜視図、 第２図は、この発明に係る表示パネル用プローブの一実
施例を示す要部断面図、 第３図は、この発明に係る表示パネル用プローブの接触
開始状態を示す要部断面図、 第４図は、この発明に係る表示パネル用プローブの接触
状態を示す要部断面図である。
施例を示す要部概略斜視図、 第２図は、この発明に係る表示パネル用プローブの一実
施例を示す要部断面図、 第３図は、この発明に係る表示パネル用プローブの接触
開始状態を示す要部断面図、 第４図は、この発明に係る表示パネル用プローブの接触
状態を示す要部断面図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 1/06 - 1/073 G01R 31/28 G09F 9/00 352
Claims (3)
- 【請求項１】次の（イ）〜（ハ）の特徴を備えた表示パ
ネル用プローブ。 （イ）弾性的に変形可能なフィルムベースの表面に測定
すべき電極のピッチに合わせて形成された配線をプロー
ブとして用いる。 （ロ）上記プローブの裏面側には、上記プローブとして
の配線を表示パネルの電極に押し付ける中空の弾性チュ
ーブが設けられている。 （ハ）上記弾性チューブの中空部分に押え金具が挿入さ
れている。 - 【請求項２】上記フィルムベースには、上記表示パネル
を駆動するドライブ用ICが実装されることを特徴とする
特許請求の範囲第１項記載の表示パネル用プローブ。 - 【請求項３】上記押え金具を超音波振動させることを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載の表示パネル用プロ
ーブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2014169A JP3069360B2 (ja) | 1990-01-23 | 1990-01-23 | 表示パネル用プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2014169A JP3069360B2 (ja) | 1990-01-23 | 1990-01-23 | 表示パネル用プローブ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03218473A JPH03218473A (ja) | 1991-09-26 |
| JP3069360B2 true JP3069360B2 (ja) | 2000-07-24 |
Family
ID=11853641
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2014169A Expired - Fee Related JP3069360B2 (ja) | 1990-01-23 | 1990-01-23 | 表示パネル用プローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3069360B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07209335A (ja) * | 1994-01-12 | 1995-08-11 | Noboru Shinkai | コンタクトヘッド及びその製造方法と接続方法 |
| WO2001036987A1 (fr) * | 1999-11-16 | 2001-05-25 | Toray Engineering Co., Ltd. | Sonde, son procede de fabrication, et procede de verification d'un substrat a l'aide de la sonde |
| JP2002286750A (ja) * | 2001-03-28 | 2002-10-03 | Hioki Ee Corp | コンタクトプローブ装置 |
| JP6029535B2 (ja) * | 2013-05-27 | 2016-11-24 | 三菱電機株式会社 | コンタクトプローブ |
| CN107025871B (zh) * | 2017-06-13 | 2021-01-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板检测装置及检测方法 |
-
1990
- 1990-01-23 JP JP2014169A patent/JP3069360B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03218473A (ja) | 1991-09-26 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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