JP3066864B2 - ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ装置 - Google Patents

ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ装置

Info

Publication number
JP3066864B2
JP3066864B2 JP63146862A JP14686288A JP3066864B2 JP 3066864 B2 JP3066864 B2 JP 3066864B2 JP 63146862 A JP63146862 A JP 63146862A JP 14686288 A JP14686288 A JP 14686288A JP 3066864 B2 JP3066864 B2 JP 3066864B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
level
access selection
phi
selection signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP63146862A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH023151A (ja
Inventor
裕彦 望月
孝昭 古山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP63146862A priority Critical patent/JP3066864B2/ja
Publication of JPH023151A publication Critical patent/JPH023151A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3066864B2 publication Critical patent/JP3066864B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Dram (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 DRAM装置、特に、外部からロウアクセス選択信号(又
はロウアドレスストローブ信号)▲▼およびコラ
ムアクセス選択信号(又はコラムアドレスストローブ信
号)▲▼を所定のタイミングで印加し、それに基
づき該DRAM装置におけるリフレッシュの制御を行うよう
にした技術に関し、 メモリが長時間アクセスされない場合の外部からのリ
フレッシュ制御を簡単化することを目的とし、 外部からコラムアクセス選択信号およびロウアクセス
選択信号がそれぞれ所定のタイミングで入力された時に
所定レベルの検出信号を出力し、その後内部で生成され
たリフレッシュ要求信号に応答して内部ロウアクセス選
択信号(又は内部ロウアドレスストローブ信号)および
内部コラムアクセス選択信号(又は内部コラムアドレス
ストローブ信号)を出力する制御回路と、メモリ・セル
・アレイと、前記内部ロウアクセス選択信号および内部
コラムアクセス選択信号に応答して前記メモリ・セル・
アレイに対しアクセスを行う周辺回路と、所定の周期で
パルスを発振する回路と、該発振されたパルスを前記検
出信号に応答して計数し、該検出信号が前記所定レベル
になった時点から第1の所定時間(最初のリフレッシュ
を行うまでの時間)経過した時点で第1の信号を出力
し、その後該検出信号が該所定レベルから逸脱する時点
まで第2の所定時間(リフレッシュを行う周期)毎に第
2の信号を出力する回路と、前記検出信号が前記所定レ
ベルにある時に前記第1または第2の信号に応答して前
記リフレッシュ要求信号を発生する回路とを具備するよ
うに構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ダイナミック・ランダム・アクセス・メモ
リ装置(以下、DRAM装置と称する)に関し、特に、外部
からロウアクセス選択信号▲▼およびコラムアク
セス選択信号▲▼を所定のタイミング(例えば▲
▼ before ▲▼、いわゆるCBR方式)で印
加し、それに基づき該DRAM装置におけるリフレッシュの
制御を行うようにした技術に関する。
〔従来の技術、および発明が解決しようとする課題〕
DRAM装置においては、メモリに対するアクセスの有無
にかかわらず、メモリセルに書込まれたデータを保持す
るために一定時間毎に必ず1回は該データのリフレッシ
ュを行う必要がある。
CBR方式を用いてリフレッシュを行う場合、まずロー
・アクティブのコラムアクセス選択信号▲▼のレ
ベルを所定のタイミングで立下げてコラムデコーダ等の
周辺回路を有効にし、次いでロー・アクティブのロウア
クセス選択信号▲▼ のレベルを立下げてロウデ
コーダ等の周辺回路を有効にし、それによってセルアレ
イ内のセルに対しワード線単位で順次リフレッシュを行
い、該リフレッシュが終了する時点を見計らって信号▲
▼および▲▼のレベルを立上げるようにな
っている。つまり、所定の時点で信号▲▼および
▲▼のレベルをCBR方式で立下げ、一定時間後に
該信号のレベルを立上げることにより、リフレッシュ制
御が行われるようになっている。
このようなリフレッシュ制御は、メモリを長時間アク
セスしない場合にも当然必要であり、しかもその場合、
一定時間毎に外部から所定のタイミングで信号▲
▼および▲▼のレベルを立下げたり、あるいは立
上げたりする必要がある。これは、該信号を供給する側
の装置、例えばCPU、から見た場合、リフレッシュ制御
が煩雑になることを意味し、ひいては該装置の構成が複
雑化することにもなるので、好ましいとは言えない。
本発明は、かかる従来技術における課題に鑑み創作さ
れたもので、メモリが長時間アクセスされない場合の外
部からのリフレッシュ制御を簡単化することができるDR
AM装置を提供することを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
上述した従来技術における課題は、所定のタイミング
でコラムアクセス選択信号▲▼およびロウアクセ
ス選択信号▲▼をいったん印加した後は、該タイ
ミングに基づく制御信号を所定レベルに保持するだけ
で、メモリ内部で自動的にリフレッシュ(セルフ・リフ
レッシュ)が行われるように回路構成を工夫することに
より、解決される。
従って、本発明によるDRAM装置は、第1図(a)のブ
ロック構成図に示されるように、外部から所定のレベル
のコラムアクセス選択信号▲▼およびロウアクセ
ス選択信号▲▼がそれぞれ所定のタイミング(CB
R方式)で入力された時に所定レベルの検出信号C0を出
力し、その後内部で生成されたリフレッシュ要求信号C3
に応答して所定レベルの内部ロウアクセス選択信号▲
▼および内部コラムアクセス選択信号▲
▼を出力する制御回路1と、メモリ・セル・アレイ2
と、前記内部ロウアクセス選択信号および内部コラムア
クセス選択信号に応答して前記メモリ・セル・アレイに
対しアクセスを行う周辺回路3と、所定の周期でパルス
Pを発振する回路4と、該発振されたパルスを前記検出
信号に応答して計数し、該検出信号が前記所定レベルに
なった時点から第1の所定時間t1経過した時点で第1の
信号C1を出力し、その後該検出信号が該所定レベルから
逸脱する時点まで第2の所定時間t2毎に第2の信号C2
出力する回路5と、前記検出信号が前記所定レベルにあ
る時に前記第1または第2の信号に応答して前記リフレ
ッシュ要求信号を発生する回路6とを具備している。
ここで、第1の所定時間は前記検出信号が前記所定レ
ベルになった時点から最初のリフレッシュを行うまでの
時間に設定され、前記第2の所定時間はリフレッシュを
行う周期に設定されている。
また、本発明の好適な一形態によれば、外部ロウアク
セス選択信号及び外部コラムアクセス選択信号が、CBR
のタイミングで入力され、該外部ロウアクセス選択信号
が活性状態を維持している間、内部ロウアクセス選択信
号に応答してセルフリフレッシュ動作を繰り返し行うDR
AM装置であって、前記外部ロウアクセス選択信号が活性
状態から非活性状態に遷移する時点で、前記内部ロウア
クセス選択信号が活性状態にある場合、該内部ロウアク
セス選択信号の活性状態から非活性状態への遷移に応答
して前記セルフリフレッシュ動作を解除することを特徴
とするDRAM装置が提供される。
〔作 用〕
上述した構成によれば、第1図(b)のタイミング図
に示されるように、コラムアクセス選択信号▲▼
およびロウアクセス選択信号▲▼が所定のタイミ
ングで所定レベル(図示の例では“L"レベル)に変化す
ると所定レベル(図示の例では“H"レベル)の検出信号
C0が出力され、この検出信号に応答して時間計測回路5
は発振回路4のパルスを計数し始め、第1の所定時間t1
経過した時点で第1の信号C1を出力する。リフレッシュ
要求信号発生回路6は、この第1の信号C1に応答してリ
フレッシュ要求信号C3を出力する(1回目のリフレッシ
ュ)。この1回目のリフレッシュが行われた後は、検出
信号C0が“H"レベルにある限り第2の所定時間t2毎に第
2の信号C2が出力され、それによってリフレッシュ要求
信号C3が出力される。
つまり、外部からコラムアクセス選択信号▲▼
およびロウアクセス選択信号▲▼を所定のタイミ
ングでいったん印加した後は、該タイミングに基づく検
出信号C0を所定レベルに保持し、リフレッシュ要求信号
C3によって内部ロウアクセス選択信号▲▼と内
部コラムアクセス選択信号▲▼を制御し、それ
によって、外部からコラムアクセス選択信号▲▼
およびロウアクセス選択信号▲▼が所定のタイミ
ングで入力された場合と同じ状態を内部的に作り出し、
セルフ・リフレッシュを行うようになっている。
従って、仮にメモリが長時間アクセスされない場合
に、外部から一定時間毎にその都度リフレッシュのため
の信号印加を行う必要がないので、外部からのリフレッ
シュ制御が簡単化される。
また、外部ロウアクセス選択信号が活性状態から非活
性状態に遷移する時点で、内部ロウアクセス選択信号が
活性状態にある場合、該内部ロウアクセス選択信号の活
性状態から非活性状態への遷移に応答してセルフリフレ
ッシュ動作を解除するように構成した場合には、セルフ
リフレッシュ動作中にその動作が中断されてメモリセル
に記憶されている情報が破壊されるといった不都合を解
消することができる。
なお、本発明の他の構成上の特徴および作用の詳細に
ついては、添付図面を参照しつつ以下に記述される実施
例を用いて説明する。
〔実施例〕
第2図には本発明の一実施例としてのDRAM装置の構成
がブロック的に示される。
同図において、10は複数のワード線およびビット線の
交差部にそれぞれダイナミック型メモリ・セル、例えば
1トランジスタ・1キャパシタ型のセル、が配設されて
なる通常のメモリ・セル・アレイ、11は外部からのアド
レス信号ADDのバッファリングを行うアドレス・バッフ
ァ、12はCBR検出信号φ(後述)に応答してアドレス
・バッファ11からの出力アドレスまたはリフレッシュ用
アドレス・カウンタ20からの出力のアドレスのいずれか
を選択するアドレス・セレクタ、13はアドレス・バッフ
ァ11を介して入力されるコラム・アドレスを内部コラム
アクセス選択信号φ(後述)に応答してデコードする
コラム・デコーダ、14はアドレス・セレクタ12を通して
入力されるロウ・アドレスを予めデコードするプリ・ロ
ウ・デコーダ、15はプリ・ロウ・デコードに基づくロウ
・アドレスを内部ロウアクセス選択信号φ(後述)に
応答してデコードするロウ・デコーダ、16は内部ロウア
クセス選択信号φに応答して動作するセンス・アンプ
および入出力(I/0)ゲート、をそれぞれ示す。
21は基板電位発生回路であって、基板を所定の電位に
バイアスするためにDRAMには通常設けられているもの
で、所定の周期でパルス信号を発生する(出力信号をφ
とする)。22は該パルス信号φの波形を短形状に整
形する波形整形回路を示し、その出力信号をφとす
る。
23はカウンタを示し、CBR検出信号φが所定レベル
(本実施例では“H"レベル)にある時にイネーブル状態
となり、波形整形回路を介して入力されるパルス信号φ
を分周する。カウンタ23は、タイマとして機能し、該
カウンタのビット数で決まる所定時間が経過した時点で
“L"レベルの信号φ(下位ビット・カウンタ出力信
号)または“L"レベルの信号φ(上位ビット・カウン
タ出力信号)を出力する。この場合の所定時間は、上位
ビット・カウンタ出力信号φについては、CBR検出信
号φが“H"レベルに変化した時点から最初のリフレッ
シュを行うまでの時間に設定されており、一方、下位ビ
ット・カウンタ出力信号φについては、リフレッシュ
を行う周期に設定されている。
上位ビット・カウンタ出力信号φと下位ビット・カ
ウンタ出力信号φの出力の切換えは、アンドゲート24
の出力信号φ12によって行われる。このアンドゲート24
は、CBR検出信号φおよびカウンタ出力選択信号φ
(後述)応答して信号φ12(上位ビット・カウンタ・イ
ネーブル信号)を出力するもので、本実施例では信号φ
12が“H"レベルの時に上位ビット・カウンタ出力信号φ
が出力され、一方、CBR検出信号φが“H"レベルで
且つカウンタ出力選択信号φが“L"レベルの時に下位
ビット・カウンタ出力信号φが出力されるようになっ
ている。
25はリフレッシュ要求信号発生回路であって、CBR検
出信号φが“H"レベルにある時に、波形整形回路を介
して入力されるパルス信号φに基づき、上位ビット・
カウンタ出力信号φまたは下位ビット・カウン出力信
号φに応答してリフレッシュ要求信号φ11を出力する
機能を有している。また、前述のカウンタ出力選択信号
φは、CBR検出信号φが“L"レベルに変化した時に
“H"レベルとなり、カウンタ23から“L"レベルの上位
ビット・カウンタ出力信号φが出力された時に“L"レ
ベルとなる。
26はアービタであって、ロー・アクティブのロウアク
セス選択信号▲▼とリフレッシュ要求信号φ11
内部▲▼,▲▼発生回路27(後述)から出
力されるロー・アクティブの内部ロウアクセス選択信号
φとに応答してアビータ出力信号φを出力する。こ
のアビータ26は主な機能として、セルフ・リフレッシュ
動作をリセットする際(具体的にはロウアクセス選択信
号▲▼を“H"レベルに立上げた時)に起こり得る
誤動作の可能性を排除する機能を有している。
内部▲▼,▲▼発生回路27は、ロウアク
セス選択信号▲▼とロー・アクティブのコラムア
クセス選択信号▲▼とリフレッシュ要求信号φ11
とアービタ出力信号φとアクティブ・タイムアウト信
号φ10とに応答してロー・アクティブの内部ロウアクセ
ス選択信号φおよび内部コラムアクセス選択信号φ
を発生する機能を有している。
この内部ロウアクセス選択信号φおよび内部コラム
アクセス選択信号φは、まず最初に“L"レベルのコラ
ムアクセス選択信号▲▼およびロウアクセス選択
信号▲▼がCBR方式で入力された時に“L"レベル
となり、次いで最初のリフレッシュ要求信号φ11(“H"
レベル)が出力された時点で“H"レベルとなり、該リフ
レッシュ要求信号φ11が“L"レベルとなった時点で“L"
レベルとなり、さらに、“L"レベルのアクティブ・タイ
ムアウト信号φ10に応答して“H"レベルとなるように制
御される。つまり、内部ロウアクセス選択信号φのパ
ルス幅はこのアクティブ・タイムアウト信号φ10によっ
て規定される。このアクティブ・タイムアウト信号φ10
は、センス・アンプ動作が終了した時点で入力される制
御信号であって、具合的には、該センス・アンプに印加
する電圧が“H"レベルまたは“L"レベルに変化した時に
それに応答して出力される信号である。
最初のリフレッシュが終了すると、それ以降の内部ロ
ウアクセス選択信号φ6 および内部コラムアクセス選択
信号φは、リフレッシュ要求信号φ11の立下がりエッ
ジに応答して“L"レベルとなり、アクティブ・タイムア
ウト信号φ10の立下がりエッジに応答して“H"レベルと
なる。この変化は、ロウアクセス選択信号▲▼が
“H"レベルとなる時点まで自動的に繰り返される。
つまり、外部からコラムアクセス選択信号▲▼
およびロウアクセス選択信号▲▼がCBR方式でい
ったん入力されると、それ以降はメモリ内部でリフレッ
シュ要求信号φ11に基づき内部ロウアクセス選択信号φ
および内部コラムアクセス選択信号φ7 を制御し、そ
れによって、外部からコラムアクセス選択信号▲
▼およびロウアクセス選択信号▲▼がCBR方式で
入力された場合と同じ状態を自動的に作り出し、セルフ
・リフレッシュを行うようになっている。
最後に、28はモード制御回路を示し、該回路は、ロウ
アクセス選択信号▲▼と内部ロウアクセス選択信
号φと内部コラムアクセス選択信号φに応答し、信
号φおよびφ、すなわちロウアクセス選択信号▲
▼およびコラムアクセス選択信号▲▼がCBR
のタイミングで“L"レベルに変化したことを検出して前
述の“H"レベルのCBR検出信号φを出力する機能を有
している。
次に、第2図における主要部の具体的な回路構成につ
いて第3図〜第6図を参照しながら説明する。
第3図にはリフレッシュ要求信号発生回路25の一構成
例が示される。同図において、33および35はそれぞれ2
つのナンドゲートからなるフリップフロップ、36は2つ
のノアゲートからなるフリップフロップを示す。
このリフレッシュ要求信号発生回路は、下位ビット・
カウンタ出力信号φとフリップフロップ35の出力信号
に応答するノアゲート31と、該ノアゲート31の出力信号
と上位ビット・カウンタ出力信号φに応答するノアゲ
ート32と、該ノアゲート32の出力信号とCBR検出信号φ
に応答するフリップフロップ33と、該フリップフロッ
プ33の出力信号とノアゲート2の出力信号に応答するナ
ンドゲート34と、該ナンドゲート34の出力信号とCBR検
出信号φに応答するフリップフロップ35と、波形整形
回路の出力信号φとナンドゲート34の出力信号に応答
するフリップフロップ36と、フリップフロップ35の出力
信号とCBR検出信号φに応答するナンドゲート37と、
フリップフロップ36の出力信号とナンドゲート34の出力
信号に応答してリフレッシュ要求信号φ11を出力するノ
アゲート38と、ナンドゲート37の出力信号を反転させて
カウンタ出力選択信号φを出力するインバータ39とか
ら構成されている。
第4図にはアービタ26の一構成例が示される。同図に
おいて、44は2つのナンドゲートからなるフリップフロ
ップを示す。
このアービタは、ロウアクセス選択信号▲▼に
応答するインバータ41と、該インバータ41の出力信号と
リフレッシュ要求信号φ11に応答するナンドゲート42
と、ロウアクセス選択信号▲▼と内部ロウアクセ
ス選択信号φに応答するナンドゲート43と、該ナンド
ゲート42および43の出力信号に応答してアービタ出力信
号φを出力するフリップフロップ44とから構成されて
いる。
第5図には内部▲▼,▲▼発生回路27の
一構成例が示される。同図において、52は2つのナンド
ゲートからなるフリップフロップを示す。
この内部▲▼,▲▼発生回路は、アクテ
ィブ・タイムアウト信号φ10に応答するインバータ51
と、該インバータ51の出力信号とリフレッシュ要求信号
φ11に応答するフリップフロップ52と、リフレッシュ要
求信号φ11に応答するインバータ53と、フリップフロッ
プ52の出力信号とインバータ51の出力信号に応答するナ
ンドゲート54と、該ナンドゲート54の出力信号とインバ
ータ53の出力信号に応答するナンドゲート55と、該ナン
ドゲート55の出力信号とアービタ出力信号φに応答す
るノアゲート56と、該ノアゲート56の出力信号に応答す
るインバータ57と、該インバータ57の出力信号とロウア
クセス選択信号▲▼に応答するナンドゲート58R
と、該ナンドゲート58Rの出力信号を反転させて内部ロ
ウアクセス選択信号φを出力するインバータ59Rと、
インバータ57の出力信号とコラムアクセス選択信号▲
▼に応答するナンドゲート58Cと、該ナンドゲート5
8Cの出力信号を反転させて内部コラムアクセス選択信号
φを出力するインバータ59Cとから構成されている。
第6図にはモード制御回路28の一構成例が示される。
同図において、68は2つのナンドゲートからなるフリッ
プフロップを示す。
このモード制御回路は、内部ロウアクセス選択信号φ
の変化を所定時間だけ遅延させて伝達する遅延回路64
と、該遅延回路64の出力信号と内部コラムアクセス選択
信号φに応答するノアゲート65と、該ノアゲート65の
出力信号に応答するインバータ66と、ロウアクセス選択
信号▲▼に応答するインバータ67と、該インバー
タ66および67の出力信号に応答してCBR検出信号φ
出力するフリップフロップ68とから構成されている。遅
延回路64は、入力信号に応答するインバータ61と抵抗器
62およびMOSキャパシタ63からなる積分回路とからなる
遅延回路が3段、直列接続された構成を有している。
次に、第2図〜第6図に示されるDRAM装置のセルフ・
リフレッシュ動作について、第7図の動作のタイミング
図を参照しながら説明する。
コラムアクセス選択信号▲▼およびロウアクセ
ス選択信号▲▼がCBRのタイミングで“L"レベル
に変化すると、CBR検出信号φが“H"レベルとなり、
カウンタ23は上位、下位ともイネーブル状態となる。こ
のカウンタ23に、波形整形回路22を介してパルス信号φ
が供給され、セルフ・リフレッシュ・モード(セルフ
・リフレッシュ動作が行われるモード)に入るまでの待
ち時間のタイマ動作が始まる。
このタイマ動作が開始された時点では上位ビット・カ
ウンタ・イネーブル信号φ12が“H"レベルとなっている
ので、カウンタ23の上位ビット・カウンタ出力信号φ
が有効となる。上位ビット・カウンタ出力信号φ
“L"レベルに立下がる時点、すなわち上述の待ち時間が
終了した時点で最初のリフレッシュ要求信号φ11が出力
される。この時点で内部はアクティブ状態となるが、リ
フレッシュ要求信号φ11が“H"レベルになると同時に内
部ロウアクセス選択信号φ6 が “H"レベルに立上がっ
て一度スタンバイ状態となる。
次いで、リフレッシュ要求信号φ11が“L"レベルに立
下がった時点で内部ロウアクセス選択信号φが“L"レ
ベルに立下がる。この時、モード制御回路28がCBRモー
ドであると判定するように内部コラムアクセス選択信号
φも“L"レベルに立下がる。アクティブ・タイムアウ
ト信号φ10は、内部ロウアクセス選択信号φが“L"レ
ベルに立下がった後の時点で“H"レベルとなる。センス
・アンプ動作が終了した時点で該信号φ10は“L"レベル
となり、その立下がりエッジに応答して内部ロウアクセ
ス選択信号φおよび内部コラムアクセス選択信号φ
が“H"レベルとなり、スタンバイ状態となる。
この状態で次のリフレッシュ要求信号φ11が出力され
るまで待機し、該信号φ11が “L"レベルに立下がった
時点で、上述したように内部ロウアクセス選択信号φ
および内部コラムアクセス選択信号φのレベルを制御
して内部的にCBRモードに入る。このような動作すなわ
ちリフレッシュは、ロウアクセス選択信号▲▼が
“H"レベルに立上がるまでの間、リフレッシュ要求信号
φ11の立下がりエッジ毎に繰り返される。
次に、第2図〜第6図に示されるDRAM装置のセルフ・
リフレッシュ・リセット動作について、第8図および第
9図の動作タイミング図を参照しながら説明する。
第8図の例示は、セルフ・リフレッシュ動作の実行中
にロウアクセス選択信号▲▼を“H"レベルに立上
げた場合のタイミング波形を示す。
この場合にはCBRモードの最中であるので、ロウアク
セス選択信号▲▼が“H"レベルになった時点から
該モードが終了する時点、すなわちアクティブ・タイム
アウト信号φ10が“L"レベルになる時点まで内部ロウア
クセス選択信号φを“L"レベルに保ってから通常スタ
ンバイ・モードに入る。なお、リフレッシュ要求信号φ
11の立下がり時点とロウアクセス選択信号▲▼の
立上がり時点が一致した場合には誤動作が起こり得るの
で、前述したように、アービタ26によって、通常スタン
バイ・モードに入るか、あるいは内部CBRモードに入る
かを決定する。
第9図の例示は、セルフ・リフレッシュ動作が行われ
ていない時にロウアクセス選択信号▲▼を“H"レ
ベルに立上げた場合のタイミング波形を示す。
この場合にはCBRモードの最中でないので、ロウアク
セス選択信号▲▼を“H"レベルに立上げた時点で
直ぐに通常スタンバイ・モードに入ることができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明のDRAM装置によれば、仮に
メモリが長時間アクセスされない場合に、外部から一定
時間毎にその都度リフレッシュのための信号印加を行う
必要がなく、それ故、外部からのリフレッシュ制御を簡
単化することができる。また、内部リフレッシュの周期
がμsecオーダーで比較的長いため、平均消費電流も少
なく、バッテリー・バックアップを比較的簡単な構成で
行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)および(b)は本発明のDRAM装置の原理を
示す図であって、(a)はブロック構成図、(b)は動
作を概念的に示したタイミング図、 第2図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、 第3図は第2図におけるリフレッシュ要求信号発生回路
の一構成例を示す回路図、 第4図は第2図におけるアービタの一構成例を示す回路
図、 第5図は第2図における内部▲▼,▲▼発
生回路の一構成例を示す回路図、 第6図は第2図におけるモード制御回路の一構成例を示
す回路図、 第7図は第2図装置によるセルフ・リフレッシュ動作を
説明するための動作タイミング図、 第8図は第2図装置によるセルブ・リフレッシュ・リセ
ット動作の一例を説明するための動作タイミング図、 第9図は第2図装置によるセルフ・リフレッシュ・リセ
ット動作の他の例を説明するための動作タイミング図、 である。 (符号の説明) 1……制御回路、 2……メモリ・セル・アレイ、 3……周辺回路、 4……発振回路、 5……時間計測回路、 6……リフレッシュ要求信号発生回路、 ▲▼……ロウアクセス選択信号、 ▲▼……コラムアクセス選択信号、 ▲▼……内部ロウアクセス選択信号、 ▲▼……内部コラムアクセス選択信号、 C0……CBR検出信号、 C1,C2……時間計測回路の出力信号、 C3……リフレッシュ要求信号、 P……発振回路の出力パルス、 t1,t2……所定時間。
フロントページの続き (72)発明者 古山 孝昭 愛知県春日井市高蔵寺町2丁目1844番2 富士通ヴィエルエスアイ株式会社内 (56)参考文献 特開 昭61−57097(JP,A) 特開 平1−13292(JP,A)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】外部ロウアドレスストローブ信号及び外部
    コラムアドレスストローブ信号が、CBR(▲▼ be
    fore ▲▼)のタイミングで入力され該外部ロウ
    アドレスストローブ信号が活性状態を維持している間セ
    ルフ・リフレッシュ・モードとなり、内部ロウアドレス
    ストローブ信号に応答してセルフ・リフレッシュ動作を
    繰り返し行うダイナミック・ランダム・アクセス・メモ
    リ装置であって、 前記外部ロウアドレスストローブ信号が活性状態から非
    活性状態に遷移する時点で、前記内部ロウアドレススト
    ローブ信号が活性状態にある場合、該内部ロウアドレス
    ストローブ信号が活性状態から非活性状態へ遷移した後
    で前記セルフ・リフレッシュ・モードを解除するアービ
    タを有することを特徴とするダイナミック・ランダム・
    アクセス・メモリ装置。
JP63146862A 1988-06-16 1988-06-16 ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ装置 Expired - Fee Related JP3066864B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63146862A JP3066864B2 (ja) 1988-06-16 1988-06-16 ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63146862A JP3066864B2 (ja) 1988-06-16 1988-06-16 ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH023151A JPH023151A (ja) 1990-01-08
JP3066864B2 true JP3066864B2 (ja) 2000-07-17

Family

ID=15417244

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63146862A Expired - Fee Related JP3066864B2 (ja) 1988-06-16 1988-06-16 ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3066864B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2743548B2 (ja) * 1990-02-06 1998-04-22 日本電気株式会社 ダイナミック型半導体記憶装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6157097A (ja) * 1984-08-27 1986-03-22 Nec Corp ダイナミツク半導体メモリ
JPH061634B2 (ja) * 1987-07-07 1994-01-05 松下電子工業株式会社 ダイナミック型記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH023151A (ja) 1990-01-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3140461B2 (ja) ランダム・アクセス・メモリ
US5262998A (en) Dynamic random access memory with operational sleep mode
US7193919B2 (en) Selective bank refresh
JP3489906B2 (ja) 半導体メモリ装置
JP2856598B2 (ja) ダイナミックランダムアクセスメモリ装置
US6392958B1 (en) Asynchronous SRAM compatible memory device using DRAM cell and method for driving the same
JPH01125795A (ja) 仮想型スタティック半導体記憶装置及びこの記憶装置を用いたシステム
JPH0312395B2 (ja)
JP2002184174A (ja) 半導体記憶装置
JP4289825B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH05282865A (ja) 半導体記憶装置
JPH0770214B2 (ja) 半導体記憶装置
JP3066864B2 (ja) ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ装置
JPH0468714B2 (ja)
JPH03102696A (ja) リフレッシュ制御装置
JPH0325871B2 (ja)
JP2658533B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH05217366A (ja) ダイナミック型半導体メモリ
JPH06101230B2 (ja) 半導体メモリ
US20030182522A1 (en) SRAM compatible and page accessible memory device using dram cells and method for operating the same
JP2004280947A (ja) 半導体記憶装置
JP2868464B2 (ja) 半導体記憶装置およびそのリフレッシュ制御方法
JP3300127B2 (ja) 半導体記憶装置及び電子装置
JP3190119B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH05135576A (ja) 半導体記憶装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees