JP3065858B2 - 加熱調理器 - Google Patents
加熱調理器Info
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- JP3065858B2 JP3065858B2 JP5211304A JP21130493A JP3065858B2 JP 3065858 B2 JP3065858 B2 JP 3065858B2 JP 5211304 A JP5211304 A JP 5211304A JP 21130493 A JP21130493 A JP 21130493A JP 3065858 B2 JP3065858 B2 JP 3065858B2
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- room temperature
- heating
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、室温センサの検出温度
に基づき調理時間を設定する加熱調理器に関する。
に基づき調理時間を設定する加熱調理器に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、加熱調理器、例えば電子レン
ジにおいては、トースター機能を有した構成のものがあ
る。この種の電子レンジにおいて、例えば室温が２５℃
のときに、室温で放置された６枚切りの食パン２枚のト
ースト調理を行うには、実験結果から調理時間は３７０
秒が良いとされている（ただし、機種によって異な
る）。そして、一定の焼き具合となるようにするための
調理時間は、室温が２０℃の場合には３７５秒、１５℃
の場合には３８０秒、３０℃の場合には３６５秒が最適
とされている。
ジにおいては、トースター機能を有した構成のものがあ
る。この種の電子レンジにおいて、例えば室温が２５℃
のときに、室温で放置された６枚切りの食パン２枚のト
ースト調理を行うには、実験結果から調理時間は３７０
秒が良いとされている（ただし、機種によって異な
る）。そして、一定の焼き具合となるようにするための
調理時間は、室温が２０℃の場合には３７５秒、１５℃
の場合には３８０秒、３０℃の場合には３６５秒が最適
とされている。
【０００３】このように、一定の焼き具合とするための
最適な調理時間は室温によって異なるため、室温と最適
な調理時間との関係式として下記の（１）式を設定し、
この（１）式と電子レンジ本体が設置された環境の温度
を検出する室温センサの検出温度とから、最適調理時間
を算出して設定するようにしている。
最適な調理時間は室温によって異なるため、室温と最適
な調理時間との関係式として下記の（１）式を設定し、
この（１）式と電子レンジ本体が設置された環境の温度
を検出する室温センサの検出温度とから、最適調理時間
を算出して設定するようにしている。
【０００４】 Ｆ1 ＝Ｆ＋（２５−Ｔ0 ） …（１） ただし、Ｆ1 ：最適調理時間（秒） Ｆ ：基準室温（２５℃）での調理時間（秒） Ｔ0 ：室温センサの検出温度（℃） そして、（１）式において、Ｆを３７０（秒）と設定し
た場合には、 Ｆ1 ＝−Ｔ0 ＋３９５ …（２） となり、この場合の室温と調理時間との関係は図７に示
すようになる。
た場合には、 Ｆ1 ＝−Ｔ0 ＋３９５ …（２） となり、この場合の室温と調理時間との関係は図７に示
すようになる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記の関係
は、室温センサが正しい室温を検出することを前提とし
て調理時間Ｆ1 を算出する方法であるため、何らかの要
因で室温センサの検出温度Ｔ0 が実際の室温に対して少
しずれただけでも、正しい場合に対して調理時間ひいて
は焼き具合に比較的大きな差が出てしまうことになる。
は、室温センサが正しい室温を検出することを前提とし
て調理時間Ｆ1 を算出する方法であるため、何らかの要
因で室温センサの検出温度Ｔ0 が実際の室温に対して少
しずれただけでも、正しい場合に対して調理時間ひいて
は焼き具合に比較的大きな差が出てしまうことになる。
【０００６】例えば、連続して調理を行った場合におい
て、室温センサが取り付けられた機械室内の温度が冷め
きっていないような場合、或いは、室温センサの近くに
比較的温度の高いものが置かれ、室温センサがその熱の
影響を受けたような場合には、室温センサの検出温度Ｔ
0 は実際の室温よりも高くなってしまう。このように室
温センサの検出温度Ｔ0 が実際の室温よりも高くなった
場合には、上記の（２）式により補正した結果、調理時
間Ｆ1 が必要以上に短くなってしまい、加熱不足を招い
てしまうことになる。また、室温センサ自体の感度のば
らつきによっても、調理時間ひいては焼き具合への影響
が大きくなり、加熱不足や加熱のしすぎとなることがあ
る。
て、室温センサが取り付けられた機械室内の温度が冷め
きっていないような場合、或いは、室温センサの近くに
比較的温度の高いものが置かれ、室温センサがその熱の
影響を受けたような場合には、室温センサの検出温度Ｔ
0 は実際の室温よりも高くなってしまう。このように室
温センサの検出温度Ｔ0 が実際の室温よりも高くなった
場合には、上記の（２）式により補正した結果、調理時
間Ｆ1 が必要以上に短くなってしまい、加熱不足を招い
てしまうことになる。また、室温センサ自体の感度のば
らつきによっても、調理時間ひいては焼き具合への影響
が大きくなり、加熱不足や加熱のしすぎとなることがあ
る。
【０００７】そこで、本発明の目的は、室温センサの検
出温度に基づき調理時間を設定するものにおいて、室温
センサの周囲の状態や室温センサ自体の感度のばらつき
等による調理時間ひいては焼き具合への影響を抑えるこ
とができる加熱調理器を提供するにある。
出温度に基づき調理時間を設定するものにおいて、室温
センサの周囲の状態や室温センサ自体の感度のばらつき
等による調理時間ひいては焼き具合への影響を抑えるこ
とができる加熱調理器を提供するにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、加熱室を有す
る本体と、加熱室内に収容された調理物を加熱する加熱
手段と、前記本体が設置された環境の温度を検出する室
温センサと、この室温センサの検出温度に基づき調理時
間を設定する調理時間設定手段とを備え、調理時間設定
手段は、室温と調理時間との関係式を、室温に応じて一
定の焼き具合となるように設定された直線状をなす最適
調理時間の関係式に対して、その傾きが緩やかで、かつ
基準室温時に交差するように設定したことを特徴とする
ものである。
る本体と、加熱室内に収容された調理物を加熱する加熱
手段と、前記本体が設置された環境の温度を検出する室
温センサと、この室温センサの検出温度に基づき調理時
間を設定する調理時間設定手段とを備え、調理時間設定
手段は、室温と調理時間との関係式を、室温に応じて一
定の焼き具合となるように設定された直線状をなす最適
調理時間の関係式に対して、その傾きが緩やかで、かつ
基準室温時に交差するように設定したことを特徴とする
ものである。
【０００９】また、調理時間設定手段は、検出温度での
最適焼き具合に対して、室温センサによる検出温度が基
準室温よりも低い場合には焼き具合を弱くし、高い場合
には焼き具合を強くするように調理時間を設定しても良
い。
最適焼き具合に対して、室温センサによる検出温度が基
準室温よりも低い場合には焼き具合を弱くし、高い場合
には焼き具合を強くするように調理時間を設定しても良
い。
【００１０】さらに、調理時間設定手段は、一定の基準
時間と室温センサの検出温度に基づき変化する変化時間
とを合わせることによって、室温に応じて一定の焼き具
合となるように設定された直線状をなす最適調理時間の
関係式に対して、その傾きが緩やかで、かつ基準室温時
に交差するように室温と調理時間との関係式を設定する
ことができる。
時間と室温センサの検出温度に基づき変化する変化時間
とを合わせることによって、室温に応じて一定の焼き具
合となるように設定された直線状をなす最適調理時間の
関係式に対して、その傾きが緩やかで、かつ基準室温時
に交差するように室温と調理時間との関係式を設定する
ことができる。
【００１１】また、調理時間設定手段は、室温に応じて
一定の焼き具合となるように設定された最適調理時間に
対して、室温センサによる検出温度が基準室温よりも低
い場合には短くし、高い場合には長くなるように補正し
て調理時間を設定することもできる。
一定の焼き具合となるように設定された最適調理時間に
対して、室温センサによる検出温度が基準室温よりも低
い場合には短くし、高い場合には長くなるように補正し
て調理時間を設定することもできる。
【００１２】
【作用】上記した手段によれば、最適調理時間の関係式
に比べて、室温センサの検出温度が調理時間へ依存する
割合が低くなるため、室温センサの周囲の状態や室温セ
ンサ自体の感度のばらつき等による調理時間ひいては焼
き具合への影響を抑えることができるようになる。
に比べて、室温センサの検出温度が調理時間へ依存する
割合が低くなるため、室温センサの周囲の状態や室温セ
ンサ自体の感度のばらつき等による調理時間ひいては焼
き具合への影響を抑えることができるようになる。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の第１実施例につき、図１ない
し図５を参照して説明する。まず全体構成を示す図２及
び図３において、加熱調理器としての電子レンジの本体
１内には、回動可能な扉２により開閉される加熱室３が
設けられていると共に、この加熱室３の右側に機械室４
が設けられていて、機械室４の前面には操作パネル５が
設けられている。
し図５を参照して説明する。まず全体構成を示す図２及
び図３において、加熱調理器としての電子レンジの本体
１内には、回動可能な扉２により開閉される加熱室３が
設けられていると共に、この加熱室３の右側に機械室４
が設けられていて、機械室４の前面には操作パネル５が
設けられている。
【００１４】加熱室３の機械室４側には、加熱室３内に
マイクロ波を供給する加熱手段としてのマグネトロン６
が設けられ、加熱室３の背部には、加熱室３内に熱風を
供給する加熱手段としての熱風供給装置７が設けられて
いる。熱風供給装置７は、熱風ヒータ８と、熱風ファン
モータ９と、ファン１０とから構成されている。また、
加熱室３の天井部及び底部には、これも加熱手段として
の上ヒータ１１及び下ヒータ１２が設けられている。
マイクロ波を供給する加熱手段としてのマグネトロン６
が設けられ、加熱室３の背部には、加熱室３内に熱風を
供給する加熱手段としての熱風供給装置７が設けられて
いる。熱風供給装置７は、熱風ヒータ８と、熱風ファン
モータ９と、ファン１０とから構成されている。また、
加熱室３の天井部及び底部には、これも加熱手段として
の上ヒータ１１及び下ヒータ１２が設けられている。
【００１５】機械室４内の後部には、機械室４内に設置
されたマグネトロン６やトランス１３等を冷却するため
に、冷却ファンモータ１４とファン１５とからなるファ
ン装置１６が設けられている。また、機械室４内の前部
（操作パネル５の背部）には、本体１が設置される環境
の温度を検出するための室温センサ１７が設けられ、加
熱室３内の前部には、加熱室３内の温度を検出する庫内
センサ１８が設けられている。加熱室３の左側には排気
ダクト１９が設けられていて、この排気ダクト１９にガ
スセンサ２０及びアルコールセンサ２１が設けられてい
る。さらに、加熱室３の底部には、図４に示すように、
加熱室３内に収容される調理物を回転させるＲＴモータ
２２及び調理物の重量を検出するための重量センサ２３
が設けられている。
されたマグネトロン６やトランス１３等を冷却するため
に、冷却ファンモータ１４とファン１５とからなるファ
ン装置１６が設けられている。また、機械室４内の前部
（操作パネル５の背部）には、本体１が設置される環境
の温度を検出するための室温センサ１７が設けられ、加
熱室３内の前部には、加熱室３内の温度を検出する庫内
センサ１８が設けられている。加熱室３の左側には排気
ダクト１９が設けられていて、この排気ダクト１９にガ
スセンサ２０及びアルコールセンサ２１が設けられてい
る。さらに、加熱室３の底部には、図４に示すように、
加熱室３内に収容される調理物を回転させるＲＴモータ
２２及び調理物の重量を検出するための重量センサ２３
が設けられている。
【００１６】上記操作パネル５には、使用者が調理メニ
ューを選択したり、調理開始を指示したりするための各
種のスイッチ２４や、調理時間などを表示するための表
示器２５等が設けられている。
ューを選択したり、調理開始を指示したりするための各
種のスイッチ２４や、調理時間などを表示するための表
示器２５等が設けられている。
【００１７】電気的構成をブロックで示した図４におい
て、制御回路２６はマイクロコンピュータ及びメモリを
含んで構成されており、この制御回路２６の入力端子側
には、上記室温センサ１７、庫内センサ１８、ガスセン
サ２０、アルコールセンサ２１、重量センサ２２、及び
各種のスイッチ２４が接続され、出力端子側には、駆動
回路２７を介してマグネトロン６、熱風ヒータ８、熱風
ファンモータ９、上ヒータ１１、下ヒータ１２、冷却フ
ァンモータ１４、ＲＴモータ２２が接続されていると共
に、表示器２５が接続されている。制御回路２６は、制
御プログラムを有していて、上記各種のスイッチ２４や
センサ１７，１８，２０，２１，２３の出力信号に基づ
き、マグネトロン６、熱風ヒータ８、熱風ファンモータ
９、上ヒータ１１、下ヒータ１２、冷却ファンモータ１
４、ＲＴモータ２２を制御する機能を有している。
て、制御回路２６はマイクロコンピュータ及びメモリを
含んで構成されており、この制御回路２６の入力端子側
には、上記室温センサ１７、庫内センサ１８、ガスセン
サ２０、アルコールセンサ２１、重量センサ２２、及び
各種のスイッチ２４が接続され、出力端子側には、駆動
回路２７を介してマグネトロン６、熱風ヒータ８、熱風
ファンモータ９、上ヒータ１１、下ヒータ１２、冷却フ
ァンモータ１４、ＲＴモータ２２が接続されていると共
に、表示器２５が接続されている。制御回路２６は、制
御プログラムを有していて、上記各種のスイッチ２４や
センサ１７，１８，２０，２１，２３の出力信号に基づ
き、マグネトロン６、熱風ヒータ８、熱風ファンモータ
９、上ヒータ１１、下ヒータ１２、冷却ファンモータ１
４、ＲＴモータ２２を制御する機能を有している。
【００１８】また、上記制御回路２６は、図５に示すよ
うに、特にトースター調理を行う場合に、室温センサ１
７及び重量センサ２３からの情報に基づき調理時間を算
出して設定するための調理時間設定手段２８を有してい
る。この調理時間設定手段２８は、重量に応じた一定の
基準時間αを記憶したメモリＡ２９と、室温に応じて変
化する変化時間βを記憶したメモリＢ３０と、室温セン
サ１７からの出力信号をデジタル化する検出回路３１
と、室温センサ１７による検出温度と重量センサ２３か
らの情報に基づき補正値を決定する補正回路３２と、基
準時間αと変化時間βとを合わせて調理時間Ｆ2 を決定
する調理時間決定回路３３とを有した構成となってい
る。すなわち、調理時間決定回路３３は、調理時間Ｆ2
を下記の（３）式によって算出する。
うに、特にトースター調理を行う場合に、室温センサ１
７及び重量センサ２３からの情報に基づき調理時間を算
出して設定するための調理時間設定手段２８を有してい
る。この調理時間設定手段２８は、重量に応じた一定の
基準時間αを記憶したメモリＡ２９と、室温に応じて変
化する変化時間βを記憶したメモリＢ３０と、室温セン
サ１７からの出力信号をデジタル化する検出回路３１
と、室温センサ１７による検出温度と重量センサ２３か
らの情報に基づき補正値を決定する補正回路３２と、基
準時間αと変化時間βとを合わせて調理時間Ｆ2 を決定
する調理時間決定回路３３とを有した構成となってい
る。すなわち、調理時間決定回路３３は、調理時間Ｆ2
を下記の（３）式によって算出する。
【００１９】 Ｆ2 ＝α＋β …（３） 次に上記構成において、トースト調理を行う際の作用を
図１も参照して説明する。加熱室３に調理物としての食
パンを収容し、扉２を閉めた後、トースト調理のスイッ
チ２４を操作すると、まず、制御回路２６の調理時間設
定手段２８により調理時間Ｆ2 を算出して決定する。
図１も参照して説明する。加熱室３に調理物としての食
パンを収容し、扉２を閉めた後、トースト調理のスイッ
チ２４を操作すると、まず、制御回路２６の調理時間設
定手段２８により調理時間Ｆ2 を算出して決定する。
【００２０】具体的には、重量センサ２３により調理物
としての食パンの重量を検出し、その重量により食パン
の枚数を判別し、また、室温センサ１７により環境の温
度（室温）を検出する。このとき、食パンの枚数が２枚
である場合には、上記基準時間αは３６０秒に設定さ
れ、また、変化時間βは室温Ｔ0 の一次式で（−０．５
×Ｔ0 ＋２２．５）で算出されるようになっており、上
記（３）式は下記の（４）式で表される。
としての食パンの重量を検出し、その重量により食パン
の枚数を判別し、また、室温センサ１７により環境の温
度（室温）を検出する。このとき、食パンの枚数が２枚
である場合には、上記基準時間αは３６０秒に設定さ
れ、また、変化時間βは室温Ｔ0 の一次式で（−０．５
×Ｔ0 ＋２２．５）で算出されるようになっており、上
記（３）式は下記の（４）式で表される。
【００２１】 Ｆ2 ＝３６０＋（−０．５×Ｔ0 ＋２２．５） …（４） この室温Ｔ0 と調理時間Ｆ2 の関係式は図１に実線で示
すように表される。この図１から明らかなように、本実
施例の関係式では、基準となる室温が２５℃のときに、
調理時間Ｆ2 が３７０秒となるように設定されていて、
従来において最適とされた最適調理時間Ｆ1 の関係式と
室温が２５℃のときに交差しており、その最適調理時間
Ｆ1 の関係式に対して、傾きが緩やかとなっている。
すように表される。この図１から明らかなように、本実
施例の関係式では、基準となる室温が２５℃のときに、
調理時間Ｆ2 が３７０秒となるように設定されていて、
従来において最適とされた最適調理時間Ｆ1 の関係式と
室温が２５℃のときに交差しており、その最適調理時間
Ｆ1 の関係式に対して、傾きが緩やかとなっている。
【００２２】そして、制御回路２６は、加熱手段のうち
上ヒータ１１及び下ヒータ１２を通電制御し、これら上
ヒータ１１及び下ヒータ１２により食パンを加熱する。
このときの調理時間は、上記の関係式から決定した加熱
時間Ｆ2 である。
上ヒータ１１及び下ヒータ１２を通電制御し、これら上
ヒータ１１及び下ヒータ１２により食パンを加熱する。
このときの調理時間は、上記の関係式から決定した加熱
時間Ｆ2 である。
【００２３】上記したように、本実施例における室温Ｔ
0 と調理時間Ｆ2 との関係式は、従来の最適調理時間Ｆ
1 の関係式に比べて、その傾きが緩やかになっているた
め、室温センサ１７の検出温度Ｔ0 が調理時間Ｆ2 へ依
存する割合が低くなる。このため、室温センサ１７の周
囲の状態や室温センサ１７自体の感度のばらつき等によ
る調理時間Ｆ2 ひいては焼き具合への影響を極力抑える
ことができるようになる。
0 と調理時間Ｆ2 との関係式は、従来の最適調理時間Ｆ
1 の関係式に比べて、その傾きが緩やかになっているた
め、室温センサ１７の検出温度Ｔ0 が調理時間Ｆ2 へ依
存する割合が低くなる。このため、室温センサ１７の周
囲の状態や室温センサ１７自体の感度のばらつき等によ
る調理時間Ｆ2 ひいては焼き具合への影響を極力抑える
ことができるようになる。
【００２４】また、本実施例における室温Ｔ0 と調理時
間Ｆ2 との関係式は、室温センサ１７による検出温度Ｔ
0 が基準となる室温（２５℃）よりも低い場合には、室
温に応じて一定の焼き具合となるように設定された最適
調理時間Ｆ1 の関係式の場合よりも調理時間が短くなっ
ていることから、検出温度での最適焼き具合に対して焼
き具合が弱くなることになり、また、室温センサ１７に
よる検出温度Ｔ0 が基準となる室温（２５℃）よりも高
い場合には、上記最適調理時間Ｆ1 の関係式の場合より
も調理時間が長くなっていることから、検出温度での最
適焼き具合に対して焼き具合が強くなることになる。
間Ｆ2 との関係式は、室温センサ１７による検出温度Ｔ
0 が基準となる室温（２５℃）よりも低い場合には、室
温に応じて一定の焼き具合となるように設定された最適
調理時間Ｆ1 の関係式の場合よりも調理時間が短くなっ
ていることから、検出温度での最適焼き具合に対して焼
き具合が弱くなることになり、また、室温センサ１７に
よる検出温度Ｔ0 が基準となる室温（２５℃）よりも高
い場合には、上記最適調理時間Ｆ1 の関係式の場合より
も調理時間が長くなっていることから、検出温度での最
適焼き具合に対して焼き具合が強くなることになる。
【００２５】図６は本発明の第２実施例を示したもので
あり、上記した第１実施例とは次の点が異なっている。
すなわち、制御回路２６における調理時間設定手段３４
は、重量に応じた最適調理時間Ｆ1 を記憶したメモリＣ
３５と、室温に応じた補正値を記憶したメモリＤ３６
と、室温センサ１７からの出力信号をデジタル化する検
出回路３１と、室温センサ１７による検出温度と重量セ
ンサ２３からの情報に基づき補正値を決定する補正回路
３７と、最適調理時間Ｆ1 と補正値とから調理時間Ｆ2
を決定する調理時間決定回路３８とを有した構成となっ
ている。
あり、上記した第１実施例とは次の点が異なっている。
すなわち、制御回路２６における調理時間設定手段３４
は、重量に応じた最適調理時間Ｆ1 を記憶したメモリＣ
３５と、室温に応じた補正値を記憶したメモリＤ３６
と、室温センサ１７からの出力信号をデジタル化する検
出回路３１と、室温センサ１７による検出温度と重量セ
ンサ２３からの情報に基づき補正値を決定する補正回路
３７と、最適調理時間Ｆ1 と補正値とから調理時間Ｆ2
を決定する調理時間決定回路３８とを有した構成となっ
ている。
【００２６】この場合、調理時間決定回路３８は、室温
センサ１７による検出温度Ｔ0 が基準となる室温（２５
℃）よりも低い場合には、最適調理時間Ｆ1 よりも補正
値分だけ短くなるように補正して調理時間Ｆ2 を決定
し、また、室温センサ１７による検出温度Ｔ0 が基準と
なる室温（２５℃）よりも高い場合には、最適調理時間
Ｆ1 よりも補正値分だけ長くなるように補正して調理時
間Ｆ2 を決定する。
センサ１７による検出温度Ｔ0 が基準となる室温（２５
℃）よりも低い場合には、最適調理時間Ｆ1 よりも補正
値分だけ短くなるように補正して調理時間Ｆ2 を決定
し、また、室温センサ１７による検出温度Ｔ0 が基準と
なる室温（２５℃）よりも高い場合には、最適調理時間
Ｆ1 よりも補正値分だけ長くなるように補正して調理時
間Ｆ2 を決定する。
【００２７】このような第２実施例においても、結果的
に第１実施例と同様な効果を得ることができる。
に第１実施例と同様な効果を得ることができる。
【００２８】なお、上記した各実施例ではトースト調理
の場合を例示したが、本発明はトースト調理以外の場合
にも適用することができる。
の場合を例示したが、本発明はトースト調理以外の場合
にも適用することができる。
【００２９】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、最適調理時間の関係式に比べて、室温センサ
の検出温度が調理時間へ依存する割合が低くなるため、
室温センサの周囲の状態や室温センサ自体の感度のばら
つき等による調理時間ひいては焼き具合への影響を抑え
ることができるようになる。
によれば、最適調理時間の関係式に比べて、室温センサ
の検出温度が調理時間へ依存する割合が低くなるため、
室温センサの周囲の状態や室温センサ自体の感度のばら
つき等による調理時間ひいては焼き具合への影響を抑え
ることができるようになる。
【図１】本発明の第１実施例を示すもので、室温と調理
時間との関係を表す図
時間との関係を表す図
【図２】全体の外観斜視図
【図３】概略的な横断平面図
【図４】電気的構成を示すブロック図
【図５】制御回路のうち調理時間設定手段部分を機能的
に示したブロック図
に示したブロック図
【図６】本発明の第２実施例を示す図５相当図
【図７】従来例における図１相当図
１は本体、３は加熱室、４は機械室、６はマグネトロン
（加熱手段）、７は熱風供給装置（加熱手段）、１１は
上ヒータ（加熱手段）、１２は下ヒータ（加熱手段）、
１７は室温センサ、２６は制御回路、２８，３４は調理
時間設定手段である。
（加熱手段）、７は熱風供給装置（加熱手段）、１１は
上ヒータ（加熱手段）、１２は下ヒータ（加熱手段）、
１７は室温センサ、２６は制御回路、２８，３４は調理
時間設定手段である。
Claims (4)
- 【請求項１】 加熱室を有する本体と、前記加熱室内に
収容された調理物を加熱する加熱手段と、前記本体が設
置された環境の温度を検出する室温センサと、この室温
センサの検出温度に基づき調理時間を設定する調理時間
設定手段とを備え、 前記調理時間設定手段は、室温と調理時間との関係式
を、室温に応じて一定の焼き具合となるように設定され
た直線状をなす最適調理時間の関係式に対して、その傾
きが緩やかで、かつ基準室温時に交差するように設定し
たことを特徴とする加熱調理器。 - 【請求項２】 加熱室を有する本体と、前記加熱室内に
収容された調理物を加熱する加熱手段と、前記本体が設
置された環境の温度を検出する室温センサと、この室温
センサの検出温度に基づき調理時間を設定する調理時間
設定手段とを備え、 前記調理時間設定手段は、検出温度での最適焼き具合に
対して、室温センサによる検出温度が基準室温よりも低
い場合には焼き具合を弱くし、高い場合には焼き具合を
強くするように調理時間を設定することを特徴とする加
熱調理器。 - 【請求項３】 加熱室を有する本体と、前記加熱室内に
収容された調理物を加熱する加熱手段と、前記本体が設
置された環境の温度を検出する室温センサと、この室温
センサの検出温度に基づき調理時間を設定する調理時間
設定手段とを備え、 前記調理時間設定手段は、一定の基準時間と室温センサ
の検出温度に基づき変化する変化時間とを合わせること
によって、室温に応じて一定の焼き具合となるように設
定された直線状をなす最適調理時間の関係式に対して、
その傾きが緩やかで、かつ基準室温時に交差するように
室温と調理時間との関係式を設定したことを特徴とする
加熱調理器。 - 【請求項４】 加熱室を有する本体と、前記加熱室内に
収容された調理物を加熱する加熱手段と、前記本体が設
置された環境の温度を検出する室温センサと、この室温
センサの検出温度に基づき調理時間を設定する調理時間
設定手段とを備え、 前記調理時間設定手段は、室温に応じて一定の焼き具合
となるように設定された最適調理時間に対して、室温セ
ンサによる検出温度が基準室温よりも低い場合には短く
し、高い場合には長くなるように補正して調理時間を設
定することを特徴とする加熱調理器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5211304A JP3065858B2 (ja) | 1993-08-26 | 1993-08-26 | 加熱調理器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5211304A JP3065858B2 (ja) | 1993-08-26 | 1993-08-26 | 加熱調理器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0763338A JPH0763338A (ja) | 1995-03-07 |
| JP3065858B2 true JP3065858B2 (ja) | 2000-07-17 |
Family
ID=16603731
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5211304A Expired - Fee Related JP3065858B2 (ja) | 1993-08-26 | 1993-08-26 | 加熱調理器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3065858B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100939719B1 (ko) * | 2003-01-29 | 2010-02-01 | 엘지전자 주식회사 | 토스터의 요리 제어방법 |
-
1993
- 1993-08-26 JP JP5211304A patent/JP3065858B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0763338A (ja) | 1995-03-07 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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