JP3018040B2 - ハードディスクの検査装置 - Google Patents
ハードディスクの検査装置Info
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- JP3018040B2 JP3018040B2 JP2121486A JP12148690A JP3018040B2 JP 3018040 B2 JP3018040 B2 JP 3018040B2 JP 2121486 A JP2121486 A JP 2121486A JP 12148690 A JP12148690 A JP 12148690A JP 3018040 B2 JP3018040 B2 JP 3018040B2
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- Japan
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- track
- taa
- measurement
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- G11—INFORMATION STORAGE
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- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1816—Testing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
- G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
- G11B19/04—Arrangements for preventing, inhibiting, or warning against double recording on the same blank or against other recording or reproducing malfunctions
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B27/00—Editing; Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Monitoring; Measuring tape travel
- G11B27/36—Monitoring, i.e. supervising the progress of recording or reproducing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/10—Indicating arrangements; Warning arrangements
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 《産業上の利用分野》 この発明は、ハードディスクの検査装置に係り、特に
基準TAA（トラックの平均レベル値）の測定値とディフ
ェクトの測定が同時、かつ、効率よく行えるハードディ
スクの検査装置に関する。
基準TAA（トラックの平均レベル値）の測定値とディフ
ェクトの測定が同時、かつ、効率よく行えるハードディ
スクの検査装置に関する。
《従来の技術》 従来より、ハードディスクの検査装置では、ハードデ
ィスクに読み／書き手段で信号書き込み後、この書き込
んだ信号を読み／書き手段で読み出した時の平均レベル
値を基準TAA（トラック・アベレージ・アンプリチュー
ド）とし、この基準TAAに対して読み込み値があるレベ
ルよりさらに低いものをMP（ミッシングパルス）、信号
消去後、上記基準TAAに対して読み込み値があるレベル
より高いものをEP（エキストラパルス）と称している。
ィスクに読み／書き手段で信号書き込み後、この書き込
んだ信号を読み／書き手段で読み出した時の平均レベル
値を基準TAA（トラック・アベレージ・アンプリチュー
ド）とし、この基準TAAに対して読み込み値があるレベ
ルよりさらに低いものをMP（ミッシングパルス）、信号
消去後、上記基準TAAに対して読み込み値があるレベル
より高いものをEP（エキストラパルス）と称している。
そうして、読み／書き手段によりハードディスクに書
き込んだのに充分書き込めなかったところ、あるいは消
去したはずなのに充分消せなかったところでディフェク
トと称している。
き込んだのに充分書き込めなかったところ、あるいは消
去したはずなのに充分消せなかったところでディフェク
トと称している。
このディフェクト測定に際し、従来のハードディスク
の検査装置における基準TAAの決め方としては、第５図
（ａ），（ｂ）に示すように次の２通りの方法がある。
の検査装置における基準TAAの決め方としては、第５図
（ａ），（ｂ）に示すように次の２通りの方法がある。
（ａ）前トラックのTAAを基準とする方法；すなわち、
前トラック（１つ前に測定し終わったトラック）のTAA
を基準として自トラック（測定中のトラック）を測定す
るように構成されたもの。
前トラック（１つ前に測定し終わったトラック）のTAA
を基準として自トラック（測定中のトラック）を測定す
るように構成されたもの。
（ｂ）自トラックのTAAを基準とする方法；すなわち、
自トラックのTAAを測定した後、これを自トラックの基
準TAAとして用い自トラックを測定するように構成され
たもの。
自トラックのTAAを測定した後、これを自トラックの基
準TAAとして用い自トラックを測定するように構成され
たもの。
《発明が解決しようとする課題》 しかしながら、このような従来の検査装置によれば、
次のような問題点がある。
次のような問題点がある。
（ａ）の場合には、スループット（検査時間）を上げ
るために測定中のトラックより一つ前のトラックのTAA
を自トラックの基準TAAに代用するもので、基準TAAの測
定とディフェクト測定が同時にできる。
るために測定中のトラックより一つ前のトラックのTAA
を自トラックの基準TAAに代用するもので、基準TAAの測
定とディフェクト測定が同時にできる。
しかしこの方法によれば、基準TAAはディフェクト測
定中のトラックと異なるため、信号の書き込みのバラツ
キ，読み込みのバラツキが基準TAAに含まれ、これによ
りハードディスクのトラックのディフェクト測定をする
際にバラツキを生じさせるという問題がある。
定中のトラックと異なるため、信号の書き込みのバラツ
キ，読み込みのバラツキが基準TAAに含まれ、これによ
りハードディスクのトラックのディフェクト測定をする
際にバラツキを生じさせるという問題がある。
（ｂ）の場合には、ハードディスクの測定トラックの
TAAを基準TAAとするため、基準TAAとディフェクト測定
のために書き込まれた信号とが同じになり、基準TAAに
は読み込みの際のバラツキしか含まれず、ディフェクト
測定が上述したに比べてバラツキが少ないというメリ
ットを有する。
TAAを基準TAAとするため、基準TAAとディフェクト測定
のために書き込まれた信号とが同じになり、基準TAAに
は読み込みの際のバラツキしか含まれず、ディフェクト
測定が上述したに比べてバラツキが少ないというメリ
ットを有する。
しかし、この方法だと、ディフェクト測定の前に基準
TAAの読み込みをしなければならないので、スループッ
トが悪くなるという問題点がある。
TAAの読み込みをしなければならないので、スループッ
トが悪くなるという問題点がある。
この発明は、上記課題を解決するためになされたもの
で、その目的とするところは、ディフェクトを測定する
際に、バラツキの少ない基準TAAを得ることができ、か
つ、ディフェクトの測定が安定し、しかも基準TAAとデ
ィフェクトを同時に出力する構成なので、スループット
の効率化を図ることができるハードディスクの検査装置
の提供をするものである。
で、その目的とするところは、ディフェクトを測定する
際に、バラツキの少ない基準TAAを得ることができ、か
つ、ディフェクトの測定が安定し、しかも基準TAAとデ
ィフェクトを同時に出力する構成なので、スループット
の効率化を図ることができるハードディスクの検査装置
の提供をするものである。
《課題を解決するための手段》 上記目的を達成するため、この発明に係るハードディ
スクの検査装置は、ハードディスクのデータを読み取
り、かつそのディスクにデータを書き込む読み／書き手
段と、 その読み／書き手段から出力される信号から上記ハー
ドディスクの各トラックの平均レベル値を測定し、その
測定信号をデータバスに出力するパラメトリック測定回
路と、 上記データバスに接続され、上記各測定回路の測定値
を同時に出力するためのインターフェイス回路と、 上記パラメトリック測定回路が出力する複数トラック
分の平均レベル値を記憶する記憶手段と、 上記インターフェイス回路に接続され、上記記憶手段
に記憶されている平均レベル値の複数トラック分の平均
値レベル値を演算し、この平均値レベル値に基き上記ト
ラックのディフェクトを測定するための閾値を演算する
演算手段と、 上記演算手段により演算された閾値に基き各トラック
のディフェクトを測定し、その測定信号をデータバスに
出力するディフェクト測定回路と、 を備えたことを特徴とする。
スクの検査装置は、ハードディスクのデータを読み取
り、かつそのディスクにデータを書き込む読み／書き手
段と、 その読み／書き手段から出力される信号から上記ハー
ドディスクの各トラックの平均レベル値を測定し、その
測定信号をデータバスに出力するパラメトリック測定回
路と、 上記データバスに接続され、上記各測定回路の測定値
を同時に出力するためのインターフェイス回路と、 上記パラメトリック測定回路が出力する複数トラック
分の平均レベル値を記憶する記憶手段と、 上記インターフェイス回路に接続され、上記記憶手段
に記憶されている平均レベル値の複数トラック分の平均
値レベル値を演算し、この平均値レベル値に基き上記ト
ラックのディフェクトを測定するための閾値を演算する
演算手段と、 上記演算手段により演算された閾値に基き各トラック
のディフェクトを測定し、その測定信号をデータバスに
出力するディフェクト測定回路と、 を備えたことを特徴とする。
《作用》 以上の構成よりなるこの発明装置によれば、ハードデ
ィスクのトラックのディフェクトを測定する際に、測定
中のトラックの前に測定した数トラックのTAAを記憶手
段に記憶しておき、これら数トラックのTAAを演算手段
で平均化し、これを基準TAAとしてハードディスクのト
ラックのディフェクトを測定するとともに、基準TAAと
ディフェクトの測定結果を同時に出力できる構成なの
で、バラツキの少ない基準TAAを得ることができ、これ
によりハードディスクのディフェクトの安定した測定結
果を得ることができ、かつ、スループットの迅速化を図
ることができる。
ィスクのトラックのディフェクトを測定する際に、測定
中のトラックの前に測定した数トラックのTAAを記憶手
段に記憶しておき、これら数トラックのTAAを演算手段
で平均化し、これを基準TAAとしてハードディスクのト
ラックのディフェクトを測定するとともに、基準TAAと
ディフェクトの測定結果を同時に出力できる構成なの
で、バラツキの少ない基準TAAを得ることができ、これ
によりハードディスクのディフェクトの安定した測定結
果を得ることができ、かつ、スループットの迅速化を図
ることができる。
《実施例》 以下、この発明に係る、ハードディスクの検査装置の
１実施例を図面に基づいて説明する。
１実施例を図面に基づいて説明する。
第１図はこの発明装置の基本回路構成を示す回路ブロ
ック図、第２図は第１図で示す記憶手段に書き込まれる
内容を説明するための説明図、第３図はこの発明装置の
フローを示すフローチャート、第４図はこの発明装置と
従来の装置の特性を比較した特性図である。
ック図、第２図は第１図で示す記憶手段に書き込まれる
内容を説明するための説明図、第３図はこの発明装置の
フローを示すフローチャート、第４図はこの発明装置と
従来の装置の特性を比較した特性図である。
第１図で示すように、1000程度のトラックを有するハ
ードディスク１は、モータ２のスピンドル部３に挿着さ
れ回転されるように構成され、モータ２はスピンドルモ
ータドライバー回路４を介してデータバス５に接続され
ている。
ードディスク１は、モータ２のスピンドル部３に挿着さ
れ回転されるように構成され、モータ２はスピンドルモ
ータドライバー回路４を介してデータバス５に接続され
ている。
一方、ハードディスク１のトラックに対して、データ
を書き込み、かつ、読み取るためのヘッド６は、キャリ
ッジ７に搬送されてハードディスク１のトラックに対し
て順番に読み／書きするように構成され、このキャリッ
ジ７は、キャリッジ７を駆動させるステップモータドラ
イバー回路８を介してデータバス５に接続される。
を書き込み、かつ、読み取るためのヘッド６は、キャリ
ッジ７に搬送されてハードディスク１のトラックに対し
て順番に読み／書きするように構成され、このキャリッ
ジ７は、キャリッジ７を駆動させるステップモータドラ
イバー回路８を介してデータバス５に接続される。
上記ヘッド６は、読み・書き用増幅回路、ここではR/
Wアンプ９を介してデータバス５に接続され、上記R/Wア
ンプ９に別途設けられている出力部は、ハードディスク
１のトラックに対する読み・書き信号をパラメトリック
測定回路10及びディフェクト測定回路11に対して出力す
るように構成されている。
Wアンプ９を介してデータバス５に接続され、上記R/Wア
ンプ９に別途設けられている出力部は、ハードディスク
１のトラックに対する読み・書き信号をパラメトリック
測定回路10及びディフェクト測定回路11に対して出力す
るように構成されている。
上記パラメトリック測定回路10は、R/Wアンプ９から
入力される各トラックの信号の平均レベルすなわちTAA
を測定してデータバス５に入力するように構成されてい
る。
入力される各トラックの信号の平均レベルすなわちTAA
を測定してデータバス５に入力するように構成されてい
る。
また、上記ディフェクト測定回路11は、R/Wアンプ９
から入力される各トラックの信号からディフェクト信号
をデータバス５に入力するように構成されている。
から入力される各トラックの信号からディフェクト信号
をデータバス５に入力するように構成されている。
上記データバス５は、インターフェイス回路12（以
下、I/F回路と称する）を介して演算手段であるCPU13に
接続されている。
下、I/F回路と称する）を介して演算手段であるCPU13に
接続されている。
このCPU13では、第２図に示すようにデータバス５か
らI/F回路12を介して入力される５個のトラック分のTAA
をRAM14にて記憶し、かつ、このRAM14に記憶された５個
のTAAを平均化し、演算する演算手段機能を有してお
り、こうして演算された基準TAAを基に、CPU13は、スレ
ッシュホールドレベルを計算し、これをI/F回路12,デー
タバス５を介しディフェクト測定回路11を設定し、ディ
フェクトを測定する。測定された結果はデータバス5,I/
F回路12を介し、CPU13で集計され、RAM14に記憶され
る。
らI/F回路12を介して入力される５個のトラック分のTAA
をRAM14にて記憶し、かつ、このRAM14に記憶された５個
のTAAを平均化し、演算する演算手段機能を有してお
り、こうして演算された基準TAAを基に、CPU13は、スレ
ッシュホールドレベルを計算し、これをI/F回路12,デー
タバス５を介しディフェクト測定回路11を設定し、ディ
フェクトを測定する。測定された結果はデータバス5,I/
F回路12を介し、CPU13で集計され、RAM14に記憶され
る。
なお、これらの演算や基準TAA及びディフェクト信号
の入・出力制御のプログラミングは、プログラミングRO
M15に記憶されている。
の入・出力制御のプログラミングは、プログラミングRO
M15に記憶されている。
この実施例では前のトラックのTAAを５個分入力し
て、その平均値をCPU13が演算するようにプログラミン
グされているが、必ずしもこれに限定されるものではな
く、前のトラックのTAAの入力は複数トラックであれば
よく、実施例ではその１例を示したものである。
て、その平均値をCPU13が演算するようにプログラミン
グされているが、必ずしもこれに限定されるものではな
く、前のトラックのTAAの入力は複数トラックであれば
よく、実施例ではその１例を示したものである。
また、図中ディスプレイ16は、データバス５を介して
入力されてくる各データ信号を表示するもので、17は操
作用のキーボードである。
入力されてくる各データ信号を表示するもので、17は操
作用のキーボードである。
次に、この実施例における発明装置の作用を第３図の
フローチャートに基づいて説明する。
フローチャートに基づいて説明する。
まず、装置本体の電源をオンし、ヘッド６によりハー
ドディスク１のトラックに信号が書き込み可能な状態に
なるとスタートする。
ドディスク１のトラックに信号が書き込み可能な状態に
なるとスタートする。
そうして、ステップ100では、ハードディスク１のト
ラックにヘッド６により書き込みが行なわれ、ハードデ
ィスク１のトラックに書き込まれた信号が、ヘッド6,R/
Wアンプ９を介してパラメトリック測定回路10にてTAAが
読み込まれる。この実施例では書き込み，読み込みが５
回繰り返され、データバス,I/F回路12,CPU13を介しRAM1
4上のデータテーブルTAA0〜TAA4に記憶される。
ラックにヘッド６により書き込みが行なわれ、ハードデ
ィスク１のトラックに書き込まれた信号が、ヘッド6,R/
Wアンプ９を介してパラメトリック測定回路10にてTAAが
読み込まれる。この実施例では書き込み，読み込みが５
回繰り返され、データバス,I/F回路12,CPU13を介しRAM1
4上のデータテーブルTAA0〜TAA4に記憶される。
次にステップ101ではRAM14上のデータテーブルTAA0〜
TAAn-1の０番目を示すよう、カウンターｉを０にセット
し、ステップ102に移行する。
TAAn-1の０番目を示すよう、カウンターｉを０にセット
し、ステップ102に移行する。
ステップ102では、RAM14に記憶された５回のトラック
分のTAAがCPU13に入力され、平均化のための演算がなさ
れる。
分のTAAがCPU13に入力され、平均化のための演算がなさ
れる。
そこで、ステップ103に移行し、ディフェクト測定と
基準TAAの測定がなされる。ディフェクトの測定は第２
図に示すように、まずハードデイスク１に信号が書き込
まれる。このときCPU13はRAM14に記憶されたTAA0〜TAA4
を平均化し、これをこのトラックの基準TAAとしMP測定
のためのスレッシュホールドレベルを計算する。このス
レッシュホールドレベルはディフェクト測定回路11に設
定され、ハードディスク１に書き込まれた信号はヘッド
6,R/Wアンプ９を介してパラメトリック測定回路10及び
ディフェクト測定回路11に入力され、TAAの測定及びMP
の測定がなされる。測定されたTAAはカウンターｉの示
すデータテーブルTAAiに記憶され、MP測定結果はRAM14
に集計される。
基準TAAの測定がなされる。ディフェクトの測定は第２
図に示すように、まずハードデイスク１に信号が書き込
まれる。このときCPU13はRAM14に記憶されたTAA0〜TAA4
を平均化し、これをこのトラックの基準TAAとしMP測定
のためのスレッシュホールドレベルを計算する。このス
レッシュホールドレベルはディフェクト測定回路11に設
定され、ハードディスク１に書き込まれた信号はヘッド
6,R/Wアンプ９を介してパラメトリック測定回路10及び
ディフェクト測定回路11に入力され、TAAの測定及びMP
の測定がなされる。測定されたTAAはカウンターｉの示
すデータテーブルTAAiに記憶され、MP測定結果はRAM14
に集計される。
次に、ハードディスク１に書き込まれた信号を消去す
る。このときCPU13は、前に計算した基準TAAを基にEP測
定のためのスレッシュホールドレベルを計算する。
る。このときCPU13は、前に計算した基準TAAを基にEP測
定のためのスレッシュホールドレベルを計算する。
このスレッシュホールドレベルは、ディフェクト測定
回路11に設定され、ハードディスク１で消去された信号
はヘッド6,R/Wアンプ９を介してディフェクト測定回路1
1に入力され、EPの測定がなされる。EP測定結果はRAM14
に集計される。
回路11に設定され、ハードディスク１で消去された信号
はヘッド6,R/Wアンプ９を介してディフェクト測定回路1
1に入力され、EPの測定がなされる。EP測定結果はRAM14
に集計される。
ステップ104では、ハードディスク１のディフェクト
測定トラックが最終トラックであると判断し（Yes），
測定が完了する。最終トラックでないとNoと判断されス
テップ105へ移行する。
測定トラックが最終トラックであると判断し（Yes），
測定が完了する。最終トラックでないとNoと判断されス
テップ105へ移行する。
ステップ105では、ハードディスク１の次のトラック
の測定を行うため、ヘッド６をキャリッジ７によりハー
ドディスク１の次のトラックの位置にトラック移動させ
る。
の測定を行うため、ヘッド６をキャリッジ７によりハー
ドディスク１の次のトラックの位置にトラック移動させ
る。
そこでステップ106に移行し、ステップ106では、ハー
ドディスク１に信号の書き込みを行ない、ステップ107
ではカウンターｉに１をたす。
ドディスク１に信号の書き込みを行ない、ステップ107
ではカウンターｉに１をたす。
ステップ108では、ｉの値がｉ＜Ｎ（第３図ではＮ＝
５）であればYesの判断されステップ102へ進み、ｉ＜Ｎ
でない場合はNoと判断され、ステップ109でｉ＝０とし
ステップ102へ進む。
５）であればYesの判断されステップ102へ進み、ｉ＜Ｎ
でない場合はNoと判断され、ステップ109でｉ＝０とし
ステップ102へ進む。
この繰返しが順次行われて、ハードディスク１の最終
トラックに至る測定がなされると測定が完了し、終了と
なる。
トラックに至る測定がなされると測定が完了し、終了と
なる。
このようにして得られた、この発明装置の特性を従来
例と比較したものが、第４図で示した特性図である。
例と比較したものが、第４図で示した特性図である。
なお、この特性図は、EP,MPのバケットカーブでディ
フェクト発生がスレッシュホールドレベルによってどの
様に変化するかを示している。
フェクト発生がスレッシュホールドレベルによってどの
様に変化するかを示している。
この特性図から明らかなように、本発明装置の特性
（グラフＢ）は、自トラックTAAを基準にしたもの（グ
ラフＡ）とほぼ一つ前のトラックのTAAを基準にしたも
の（グラフＣ）に比べ同じスレッシュホールドレベルで
検出されるディフェクト数が大幅に減少していることか
ら、書き込み及び読み出しのバラツキによる影響を効果
的に取り除き、優れた測定精度を達成できることを示し
ている。
（グラフＢ）は、自トラックTAAを基準にしたもの（グ
ラフＡ）とほぼ一つ前のトラックのTAAを基準にしたも
の（グラフＣ）に比べ同じスレッシュホールドレベルで
検出されるディフェクト数が大幅に減少していることか
ら、書き込み及び読み出しのバラツキによる影響を効果
的に取り除き、優れた測定精度を達成できることを示し
ている。
更に、自トラックのTAAを基準としたものに比べ、基
準TAAの測定とディフェクト測定が同時に行われること
により、スループットの迅速化が促進されることにな
る。
準TAAの測定とディフェクト測定が同時に行われること
により、スループットの迅速化が促進されることにな
る。
《発明の効果》 以上説明したきた構成により明らかなように、この発
明装置によれば、ハードディスクのトラックを測定する
際に、測定中トラックの前の数トラックのTAAを記憶手
段に記憶しておき、これら数トラックのTAAを演算手段
で平均化し、これを基準TAAとしてディフェクトを測定
する構成なので、バラツキの少ない基準TAAを得ること
ができ、これによりハードディスクのディフェクトの安
定した測定結果を得ることができ、かつ、基準TAAとデ
ィフェクトを同時に出力できる構成なのでスループット
の迅速化を図ることができる等の効果を有する。
明装置によれば、ハードディスクのトラックを測定する
際に、測定中トラックの前の数トラックのTAAを記憶手
段に記憶しておき、これら数トラックのTAAを演算手段
で平均化し、これを基準TAAとしてディフェクトを測定
する構成なので、バラツキの少ない基準TAAを得ること
ができ、これによりハードディスクのディフェクトの安
定した測定結果を得ることができ、かつ、基準TAAとデ
ィフェクトを同時に出力できる構成なのでスループット
の迅速化を図ることができる等の効果を有する。
第１図はこの発明装置の基本回路構成を示す回路ブロッ
ク図、第２図はこの発明装置で使用する記憶手段の入力
手順を説明するための説明図、第３図はこの発明装置の
フローを示すフローチャート、第４図はこの発明装置と
従来の装置の特性を比較した特性図である、第５図
（ａ），（ｂ）は従来装置のメモリに書き込まれるテー
ブル内容を示す説明図である。 １……ハードディスク ６……ヘッド（読み／書き手段） 10……パラメトリック測定回路 11……ディフェクト測定回路 13……CPU（演算手段，制御手段） 14……RAM
ク図、第２図はこの発明装置で使用する記憶手段の入力
手順を説明するための説明図、第３図はこの発明装置の
フローを示すフローチャート、第４図はこの発明装置と
従来の装置の特性を比較した特性図である、第５図
（ａ），（ｂ）は従来装置のメモリに書き込まれるテー
ブル内容を示す説明図である。 １……ハードディスク ６……ヘッド（読み／書き手段） 10……パラメトリック測定回路 11……ディフェクト測定回路 13……CPU（演算手段，制御手段） 14……RAM
Claims (1)
- 【請求項１】ハードディスクのデータを読み取り、かつ
そのディスクにデータを書き込む読み／書き手段と、 その読み／書き手段から出力される信号から上記ハード
ディスクの各トラックの平均レベル値を測定し、その測
定信号をデータバスに出力するパラメトリック測定回路
と、 上記データバスに接続され、上記各測定回路の測定値を
同時に出力するためのインターフェイス回路と、 上記パラメトリック測定回路が出力する複数トラック分
の平均レベル値を記憶する記憶手段と、 上記インターフェイス回路に接続され、上記記憶手段に
記憶されている平均レベル値の複数トラック分の平均値
レベル値を演算し、この平均値レベル値に基き上記トラ
ックのディフェクトを測定するための閾値を演算する演
算手段と、 上記演算手段により演算された閾値に基き各トラックの
ディフェクトを測定し、その測定信号をデータバスに出
力するディフェクト測定回路と、 を備えたことを特徴とするハードディスクの検査装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2121486A JP3018040B2 (ja) | 1990-05-11 | 1990-05-11 | ハードディスクの検査装置 |
| US07/692,636 US5280395A (en) | 1990-05-11 | 1991-04-29 | Hard disc track defect detecting apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2121486A JP3018040B2 (ja) | 1990-05-11 | 1990-05-11 | ハードディスクの検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0417166A JPH0417166A (ja) | 1992-01-21 |
| JP3018040B2 true JP3018040B2 (ja) | 2000-03-13 |
Family
ID=14812354
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2121486A Expired - Fee Related JP3018040B2 (ja) | 1990-05-11 | 1990-05-11 | ハードディスクの検査装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5280395A (ja) |
| JP (1) | JP3018040B2 (ja) |
Families Citing this family (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3257027B2 (ja) * | 1992-04-17 | 2002-02-18 | ソニー株式会社 | 自己診断情報の記録機構を有する情報記録再生装置 |
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- 1990-05-11 JP JP2121486A patent/JP3018040B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-04-29 US US07/692,636 patent/US5280395A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0417166A (ja) | 1992-01-21 |
| US5280395A (en) | 1994-01-18 |
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