JP2997968B2 - カメラ用測距装置 - Google Patents
カメラ用測距装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、カメラ用測距装置に
係り、特に受光素子で生成された第１、第２の受光電流
が入力され、差動演算結果を距離信号として出力する差
動演算手段を備えたカメラ用測距装置に関する。
係り、特に受光素子で生成された第１、第２の受光電流
が入力され、差動演算結果を距離信号として出力する差
動演算手段を備えたカメラ用測距装置に関する。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来の
カメラ用測距装置は図１に示すように、自動焦点用ＩＣ
６（以下ＡＦＩＣという）、位置検出素子３（以下ＰＳ
Ｄという）、赤外線発光ダイオード１（以下ＩＲＥＤと
いう）を駆動する発光ダイオード駆動回路２、発光ダイ
オード駆動回路２を制御するマイクロプロセッサー２０
（以下ＣＰＵという）、ＣＰＵ２０から制御され鏡胴１
９の撮影レンズ１９ａを合焦作動するレンズ駆動回路１
８で構成され、ＩＲＥＤ１から投光レンズ１ａを介して
被写体ＳＵＢへ投光された光は、被写体ＳＵＢで反射
し、受光レンズ３ａを介してＰＳＤ３で受光される。Ｐ
ＳＤ３に反射光が入射されると、ＡＦＩＣ６のＡＦ信号
出力端子Ｔ３からＣＰＵ２０へ距離信号ＶＬを送出す
る。ＣＰＵ２０はこの距離信号ＶＬにもとづき鏡胴１９
の撮影レンズ１９ａを合焦作動する。
カメラ用測距装置は図１に示すように、自動焦点用ＩＣ
６（以下ＡＦＩＣという）、位置検出素子３（以下ＰＳ
Ｄという）、赤外線発光ダイオード１（以下ＩＲＥＤと
いう）を駆動する発光ダイオード駆動回路２、発光ダイ
オード駆動回路２を制御するマイクロプロセッサー２０
（以下ＣＰＵという）、ＣＰＵ２０から制御され鏡胴１
９の撮影レンズ１９ａを合焦作動するレンズ駆動回路１
８で構成され、ＩＲＥＤ１から投光レンズ１ａを介して
被写体ＳＵＢへ投光された光は、被写体ＳＵＢで反射
し、受光レンズ３ａを介してＰＳＤ３で受光される。Ｐ
ＳＤ３に反射光が入射されると、ＡＦＩＣ６のＡＦ信号
出力端子Ｔ３からＣＰＵ２０へ距離信号ＶＬを送出す
る。ＣＰＵ２０はこの距離信号ＶＬにもとづき鏡胴１９
の撮影レンズ１９ａを合焦作動する。
【０００３】ＡＦＩＣ６は受光信号処理回路７、ＡＦ信
号出力用差動増幅器８、クランプレベル設定回路３９
（本願ではクランプレベル設定回路９）で構成され、図
４に示すように受光信号処理回路７は距離電流用オペア
ンプＯＰ２、ＯＰ３でＰＳＤ３から出力される距離電流
Ｉ１、Ｉ２を増幅する。距離電流用オペアンプＯＰ２、
ＯＰ３で増幅された距離電流Ｉ１、Ｉ２は圧縮ダイオー
ドＤ１、 Ｄ２の作用で差動電流Ｉ３、Ｉ４となりＡＦ
信号出力用差動増幅器８に設けられたトランジスタ
Ｑ９、Ｑ８の それぞれのベースへ送出される。トラン
ジスタＱ９のコレクタは抵抗８を介して電源＋ＶＥに接
続され、トランジスタＱ ９のコレクタと抵抗８の接続点
からＡＦＩ Ｃ６のＡＦ信号出力端子Ｔ３を経由して距
離信号ＶＬをＣＰＵ２０へ送出する。 ＡＦＩＣ６には
一端が基準電位点に接続された定常光ホールドコンデン
サＣ１、 Ｃ２が外付けされ、定常光ホールドコンデン
サＣ１、Ｃ２の他端は定常光カット用 トランジスタＱ
６、Ｑ７のそれぞれのベースに接続され、コレクタは距
離電流用オペアンプＯＰ２、ＯＰ３の入力側と接続され
る。また、エミッタには一端が基準電位点に接続された
抵抗Ｒ６、Ｒ７の他端を接続する。更に、定常光カツト
用オペアンプＯＰ４、ＯＰ５の出力側は受光信号処理回
路制御端子Ｔ４に制御側が接続された 定常光カツト用
スイッチＳＷ１、ＳＷ２を介して定常光カット用トラン
ジスタＱ６ 、Ｑ７のそれぞれのベースに接続される。
定常光カツト用オペアンプＯＰ４、ＯＰ５ の非反転入
力端子となる（＋）側はアノードが電源＋ＶＥに接続さ
れた圧縮ダイオードＤ１、 Ｄ２のカソードと共に距離
電流用オペアンプＯＰ２、ＯＰ３の出力側 と接続す
る。なお、定常光カツト用オペアンプＯＰ４、ＯＰ５の
（−）側には第１基準電圧ＶＲＥＦ１が印加される。
号出力用差動増幅器８、クランプレベル設定回路３９
（本願ではクランプレベル設定回路９）で構成され、図
４に示すように受光信号処理回路７は距離電流用オペア
ンプＯＰ２、ＯＰ３でＰＳＤ３から出力される距離電流
Ｉ１、Ｉ２を増幅する。距離電流用オペアンプＯＰ２、
ＯＰ３で増幅された距離電流Ｉ１、Ｉ２は圧縮ダイオー
ドＤ１、 Ｄ２の作用で差動電流Ｉ３、Ｉ４となりＡＦ
信号出力用差動増幅器８に設けられたトランジスタ
Ｑ９、Ｑ８の それぞれのベースへ送出される。トラン
ジスタＱ９のコレクタは抵抗８を介して電源＋ＶＥに接
続され、トランジスタＱ ９のコレクタと抵抗８の接続点
からＡＦＩ Ｃ６のＡＦ信号出力端子Ｔ３を経由して距
離信号ＶＬをＣＰＵ２０へ送出する。 ＡＦＩＣ６には
一端が基準電位点に接続された定常光ホールドコンデン
サＣ１、 Ｃ２が外付けされ、定常光ホールドコンデン
サＣ１、Ｃ２の他端は定常光カット用 トランジスタＱ
６、Ｑ７のそれぞれのベースに接続され、コレクタは距
離電流用オペアンプＯＰ２、ＯＰ３の入力側と接続され
る。また、エミッタには一端が基準電位点に接続された
抵抗Ｒ６、Ｒ７の他端を接続する。更に、定常光カツト
用オペアンプＯＰ４、ＯＰ５の出力側は受光信号処理回
路制御端子Ｔ４に制御側が接続された 定常光カツト用
スイッチＳＷ１、ＳＷ２を介して定常光カット用トラン
ジスタＱ６ 、Ｑ７のそれぞれのベースに接続される。
定常光カツト用オペアンプＯＰ４、ＯＰ５ の非反転入
力端子となる（＋）側はアノードが電源＋ＶＥに接続さ
れた圧縮ダイオードＤ１、 Ｄ２のカソードと共に距離
電流用オペアンプＯＰ２、ＯＰ３の出力側 と接続す
る。なお、定常光カツト用オペアンプＯＰ４、ＯＰ５の
（−）側には第１基準電圧ＶＲＥＦ１が印加される。
【０００４】クランプレベル設定回路３９にはオペアン
プＯＰ１とクランプ電流出力トランジスタＱ５及びクラ
ンプ電流設定用抵抗Ｒ１１、Ｒ１２が設けられ、オペア
ンプＯＰ１の（＋）側は一端が基準電位点に接続された
クランプ電流設定用抵抗Ｒ１２の他端を接続する。ま
た、クランプ電流設定用抵抗Ｒ１１の一端には第２基準
電圧ＶＲＥＦ２が接続され、他端はオペアンプＯＰ１の
（＋）側と接続される。更に、クランプ 電流出力トラ
ンジスタＱ５のコレクタは基準電位点と、ベースはオペ
アンプＯＰ１の出力側と接続され、エミッタはオペアン
プＯＰ１の（−）側と接続されると共 にＡＦ信号出力
用差動増幅器８に設けられたトランジスタＱ９のベース
に接続さ れる。
プＯＰ１とクランプ電流出力トランジスタＱ５及びクラ
ンプ電流設定用抵抗Ｒ１１、Ｒ１２が設けられ、オペア
ンプＯＰ１の（＋）側は一端が基準電位点に接続された
クランプ電流設定用抵抗Ｒ１２の他端を接続する。ま
た、クランプ電流設定用抵抗Ｒ１１の一端には第２基準
電圧ＶＲＥＦ２が接続され、他端はオペアンプＯＰ１の
（＋）側と接続される。更に、クランプ 電流出力トラ
ンジスタＱ５のコレクタは基準電位点と、ベースはオペ
アンプＯＰ１の出力側と接続され、エミッタはオペアン
プＯＰ１の（−）側と接続されると共 にＡＦ信号出力
用差動増幅器８に設けられたトランジスタＱ９のベース
に接続さ れる。
【０００５】一般にＰＳＤ３はＩＲＥＤ１で発光される
発光波長の信号のみを受光することが望ましい。このた
め、ＩＲＥＤ１で発光される発光波長以外をカツトする
よう、例えば樹脂等で形成された光学フィルタを設け、
外光成分を除去する。しかし、外光成分にはＩＲＥＤ１
と同じ波長の成分も含まれているので、ＰＳＤ３からは
ＩＲＥＤ１の発光による距離電流Ｉ１、Ｉ２のほか、外
光成分によるノイズ電流が出力される。そこで、ＩＲＥ
Ｄ１の発光タイミングをＣＰＵ２０で制御し、この外光
成分によるノイズ電流を除去するようになつている。つ
まり、ＣＰＵ２０が受光信号処理回路制御端子Ｔ４を介
して、定常光カツト用スイッチＳＷ１、ＳＷ２を閉成し
た侭に制御していると、定常光カット用トランジスタＱ
６、Ｑ７のそれ ぞれのベースは定常光カット用トラン
ジスタＱ６、Ｑ７によりベースバイアスされるので距離
電流Ｉ１、Ｉ２以外の外光成分によるノイズ電流は圧縮
ダイオードＤ１ 、 Ｄ２及び第１基準電圧ＶＲＥＦ１で
定められたクリップレベルでクリップされる。ＩＲＥＤ
１が発光されると、定常光カツト用スイッチＳＷ１、Ｓ
Ｗ２が開成され、定常光カット用トランジスタＱ６、Ｑ
７のベースは定常光ホールドコンデンサＣ１、Ｃ２の電
位に固定される。したがつて、ＩＲＥＤ１の発光による
距離電流Ｉ１、Ｉ ２ のみが距離電流用オペアンプＯ
Ｐ２、ＯＰ３で増幅され、圧縮ダイオードＤ１、 Ｄ２
に流しこまれる。このあとで、圧縮ダイオードＤ１、
Ｄ２による差動電流Ｉ３、Ｉ４がＡＦ信号出力用差動増
幅器８に設けられたトランジスタＱ９、Ｑ８のそれ ぞ
れのベースへ印加され、ＡＦＩＣ６のＡＦ信号出力端子
Ｔ３を経由して距離信 号ＶＬとしてＣＰＵ２０へ送出
される。この、距離信号ＶＬを調整するには、クランプ
レベル設定回路３９のクランプ電流設定用抵抗Ｒ１１、
Ｒ１２の抵抗値を変更する。クランプ電流設定用抵抗Ｒ
１１、Ｒ１２の抵抗値を変更すると、オペアンプＯＰ 1
とクランプ電流出力トランジスタＱ５によりＡＦ信号出
力用差動増幅器８に設けられたトランジスタＱ９のベー
ス電流が調整される。
発光波長の信号のみを受光することが望ましい。このた
め、ＩＲＥＤ１で発光される発光波長以外をカツトする
よう、例えば樹脂等で形成された光学フィルタを設け、
外光成分を除去する。しかし、外光成分にはＩＲＥＤ１
と同じ波長の成分も含まれているので、ＰＳＤ３からは
ＩＲＥＤ１の発光による距離電流Ｉ１、Ｉ２のほか、外
光成分によるノイズ電流が出力される。そこで、ＩＲＥ
Ｄ１の発光タイミングをＣＰＵ２０で制御し、この外光
成分によるノイズ電流を除去するようになつている。つ
まり、ＣＰＵ２０が受光信号処理回路制御端子Ｔ４を介
して、定常光カツト用スイッチＳＷ１、ＳＷ２を閉成し
た侭に制御していると、定常光カット用トランジスタＱ
６、Ｑ７のそれ ぞれのベースは定常光カット用トラン
ジスタＱ６、Ｑ７によりベースバイアスされるので距離
電流Ｉ１、Ｉ２以外の外光成分によるノイズ電流は圧縮
ダイオードＤ１ 、 Ｄ２及び第１基準電圧ＶＲＥＦ１で
定められたクリップレベルでクリップされる。ＩＲＥＤ
１が発光されると、定常光カツト用スイッチＳＷ１、Ｓ
Ｗ２が開成され、定常光カット用トランジスタＱ６、Ｑ
７のベースは定常光ホールドコンデンサＣ１、Ｃ２の電
位に固定される。したがつて、ＩＲＥＤ１の発光による
距離電流Ｉ１、Ｉ ２ のみが距離電流用オペアンプＯ
Ｐ２、ＯＰ３で増幅され、圧縮ダイオードＤ１、 Ｄ２
に流しこまれる。このあとで、圧縮ダイオードＤ１、
Ｄ２による差動電流Ｉ３、Ｉ４がＡＦ信号出力用差動増
幅器８に設けられたトランジスタＱ９、Ｑ８のそれ ぞ
れのベースへ印加され、ＡＦＩＣ６のＡＦ信号出力端子
Ｔ３を経由して距離信 号ＶＬとしてＣＰＵ２０へ送出
される。この、距離信号ＶＬを調整するには、クランプ
レベル設定回路３９のクランプ電流設定用抵抗Ｒ１１、
Ｒ１２の抵抗値を変更する。クランプ電流設定用抵抗Ｒ
１１、Ｒ１２の抵抗値を変更すると、オペアンプＯＰ 1
とクランプ電流出力トランジスタＱ５によりＡＦ信号出
力用差動増幅器８に設けられたトランジスタＱ９のベー
ス電流が調整される。
【０００６】上記構成のカメラ用測距装置ではクランプ
電流設定用抵抗Ｒ１１、Ｒ１２をＩＣ内に組込むと変更
したい場合、変更経費が増加し、かつ、変更工程に係わ
る時間が必要である等の難点がある。また、クランプ電
流設定用抵抗Ｒ１１、Ｒ１２をＩＣ外に外付け抵抗とし
て設けると、外付け部品の増加はできるだけ避けたいた
め、クランプレベルを自由に選択できない難点がある。
電流設定用抵抗Ｒ１１、Ｒ１２をＩＣ内に組込むと変更
したい場合、変更経費が増加し、かつ、変更工程に係わ
る時間が必要である等の難点がある。また、クランプ電
流設定用抵抗Ｒ１１、Ｒ１２をＩＣ外に外付け抵抗とし
て設けると、外付け部品の増加はできるだけ避けたいた
め、クランプレベルを自由に選択できない難点がある。
【０００７】
【目的】この発明はこのような従来のカメラ用測距装置
の、難点を解消するためになされたもので、補正データ
を記憶する補正データ記憶回路を設けることにより、ク
ランプレベルを自由に選択し、かつ、ＩＣ外のクランプ
電流設定用抵抗を削減できるカメラ用測距装置を提供す
ることを目的とする。
の、難点を解消するためになされたもので、補正データ
を記憶する補正データ記憶回路を設けることにより、ク
ランプレベルを自由に選択し、かつ、ＩＣ外のクランプ
電流設定用抵抗を削減できるカメラ用測距装置を提供す
ることを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、測距用発光素
子から被写体へ投光された光の反射光を受光する受光素
子と、受光素子で生成された第１、第２の受光電流が入
力され、差動演算結果を距離信号として出力する差動演
算回路と、差動演算回路に入力された受光電流に加算さ
れ、受光電流を段階的に補正する段階的補正電流生成回
路と、段階的補正電流生成回路で生成される段階的補正
電流の一つを指定する補正電流指定回路と、補正電流指
定回路を作動させる補正データを記憶する補正データ記
憶回路と、補正データ記憶手段から読出された補正デー
タにより前記補正電流指定手段を制御し、かつ、差動演
算回路から出力される補正された距離信号によりレンズ
の合焦制御をおこなう制御回路とを備えている。
子から被写体へ投光された光の反射光を受光する受光素
子と、受光素子で生成された第１、第２の受光電流が入
力され、差動演算結果を距離信号として出力する差動演
算回路と、差動演算回路に入力された受光電流に加算さ
れ、受光電流を段階的に補正する段階的補正電流生成回
路と、段階的補正電流生成回路で生成される段階的補正
電流の一つを指定する補正電流指定回路と、補正電流指
定回路を作動させる補正データを記憶する補正データ記
憶回路と、補正データ記憶手段から読出された補正デー
タにより前記補正電流指定手段を制御し、かつ、差動演
算回路から出力される補正された距離信号によりレンズ
の合焦制御をおこなう制御回路とを備えている。
【０００９】
【作用】受光素子で測距用発光素子から被写体へ投光さ
れた光の反射光を受光する。また、差動演算回路に受光
素子で生成された第１、第２の受光電流を入力する。こ
の、距離信号の補正は補正データ記憶回路から再生され
た補正データでおこない、制御回路で差動演算回路から
出力される補正された距離信号によりレンズの合焦制御
をおこなう。
れた光の反射光を受光する。また、差動演算回路に受光
素子で生成された第１、第２の受光電流を入力する。こ
の、距離信号の補正は補正データ記憶回路から再生され
た補正データでおこない、制御回路で差動演算回路から
出力される補正された距離信号によりレンズの合焦制御
をおこなう。
【００１０】
【実施例】以下、本発明のカメラ用測距装置の一実施例
を図面を参照して説明する。
を図面を参照して説明する。
【００１１】本発明のカメラ用測距装置は図１に示すよ
うに、ＡＦＩＣ６、ＰＳＤ３、ＩＲＥＤ１、発光ダイオ
ード駆動回路２、ＣＰＵ２０、レンズ駆動回路１８で構
成され、ＡＦＩＣ６は受光信号処理回路７、ＡＦ信号出
力用差動増幅器８、クランプレベル設定回路９、２ビッ
トクランプレベル指定回路２１、クランプレベル記憶回
路２２で構成される。なお、受光信号処理回路７及びＡ
Ｆ信号出力用差動増幅器８は従来と同じ回路であるから
図示および説明を省略する。
うに、ＡＦＩＣ６、ＰＳＤ３、ＩＲＥＤ１、発光ダイオ
ード駆動回路２、ＣＰＵ２０、レンズ駆動回路１８で構
成され、ＡＦＩＣ６は受光信号処理回路７、ＡＦ信号出
力用差動増幅器８、クランプレベル設定回路９、２ビッ
トクランプレベル指定回路２１、クランプレベル記憶回
路２２で構成される。なお、受光信号処理回路７及びＡ
Ｆ信号出力用差動増幅器８は従来と同じ回路であるから
図示および説明を省略する。
【００１２】図２に示すようにＡＦＩＣ６の受光信号処
理回路７から送出される差動電流Ｉ３ 、Ｉ４はＡＦ信
号出力用差動増幅器８に設けられたトランジスタＱ９、
Ｑ８のそれ ぞれのベースへ送出される。
理回路７から送出される差動電流Ｉ３ 、Ｉ４はＡＦ信
号出力用差動増幅器８に設けられたトランジスタＱ９、
Ｑ８のそれ ぞれのベースへ送出される。
【００１３】クランプレベル設定回路９は、オペアンプ
ＯＰ１、クランプ電流出力トランジスタＱ５、クランプ
用トランジスタＱ１〜Ｑ４、インバータ１０ａ、１０ｂ
で構成 され、クランプ用トランジスタＱ１〜Ｑ４のエ
ミッタは基準電位点に、コレクタは抵抗Ｒ１〜Ｒ ４ を介
してオペアンプＯＰ１の（＋）側と接続される。また、
クラン プ用トランジスタＱ１、Ｑ３のベースはインバ
ータ１０ａ、１０ｂの出力側と接続され、Ｑ２、Ｑ４の
ベースはインバータ１０ａ、１０ｂの入力側と接続され
ている。更に、一端が第２基準電圧ＶＲＥＦ２に接続さ
れた抵抗Ｒ５の他端はオペアンプＯＰ１の（＋）側と接
続される。つぎに、インバータ１０ａ、１０ｂの入力側
はそれぞれ２ビットクランプレベル指定端子Ｔ１、Ｔ２
を介して２ビットクランプレベル指定回路２１と接続さ
れる。また、Ｄフリップフロップ回路等で構成された２
ビットクランプレベル指定回路２１の入力側はＣＰＵ２
０の制御出力側と接続される。クランプレベル記憶回路
２２から再生された補正データでＣＰＵ２０は２ビット
クランプレベル指定回路２１を制御し、２ビットクラン
プレベル指定回路２１は制御に応じてクランプ用トラン
ジスタＱ１〜Ｑ４のうちの２つをオンにする。抵抗値
は、第２基準電圧Ｖ ＲＥＦ２ をＲ ５ とＲ １ 〜Ｒ ４ の内オ
ンした２つの抵抗で分圧することにより、クランプ電流
出力トランジスタＱ ５ に流す電流が、例えば０．１ｎＡ
〜３ｎＡになるように選択する。
ＯＰ１、クランプ電流出力トランジスタＱ５、クランプ
用トランジスタＱ１〜Ｑ４、インバータ１０ａ、１０ｂ
で構成 され、クランプ用トランジスタＱ１〜Ｑ４のエ
ミッタは基準電位点に、コレクタは抵抗Ｒ１〜Ｒ ４ を介
してオペアンプＯＰ１の（＋）側と接続される。また、
クラン プ用トランジスタＱ１、Ｑ３のベースはインバ
ータ１０ａ、１０ｂの出力側と接続され、Ｑ２、Ｑ４の
ベースはインバータ１０ａ、１０ｂの入力側と接続され
ている。更に、一端が第２基準電圧ＶＲＥＦ２に接続さ
れた抵抗Ｒ５の他端はオペアンプＯＰ１の（＋）側と接
続される。つぎに、インバータ１０ａ、１０ｂの入力側
はそれぞれ２ビットクランプレベル指定端子Ｔ１、Ｔ２
を介して２ビットクランプレベル指定回路２１と接続さ
れる。また、Ｄフリップフロップ回路等で構成された２
ビットクランプレベル指定回路２１の入力側はＣＰＵ２
０の制御出力側と接続される。クランプレベル記憶回路
２２から再生された補正データでＣＰＵ２０は２ビット
クランプレベル指定回路２１を制御し、２ビットクラン
プレベル指定回路２１は制御に応じてクランプ用トラン
ジスタＱ１〜Ｑ４のうちの２つをオンにする。抵抗値
は、第２基準電圧Ｖ ＲＥＦ２ をＲ ５ とＲ １ 〜Ｒ ４ の内オ
ンした２つの抵抗で分圧することにより、クランプ電流
出力トランジスタＱ ５ に流す電流が、例えば０．１ｎＡ
〜３ｎＡになるように選択する。
【００１４】次に上記構成のカメラ用測距装置での動作
を説明する。図３に示すＡＦＩＣ６のＡＦ信号出力端子
Ｔ３ から出力される距離信号ＶＬは、被写体ＳＵＢま
での距離が５ｍまではのように直線性がよい特性であ
る。距離が５ｍ〜８ｍになるとの特性はクランプレベ
ルが低い場合、 の様に直線性が悪くなり、ばらつきに
もよるが逆転現象が起こり、５ｍより近い出力となるこ
とがある。ここで〜の点線部分は、後述のとおり、
繰り返しや個体差によるばらつきを表す。はクラ
ンプレベルを変化させた場合の特性を示すもので、か
らへ重畳する電流が増えるに従い測定可能な距離が近
距離になるが、ばらつきによる距離の逆転現象は発生し
ない。この様な特性は、ＩＲＥＤ１の発光のばらつき、
ＰＳＤ３の受光感度のばらつき、ＡＦＩＣ６のノイズレ
ベルやカメラ内部の他の回路で発生するノイズ等に左右
され、カメラ毎に異なるため、このような特性はカメラ
作込み工程の中で判明する。従つて、カメラの製造工程
でどのレベルを選択するかを決定しこれをカメラごとに
記憶させておく必要がある。図１に示すクランプレベル
記憶回路２２はこれを記憶する回路である。
を説明する。図３に示すＡＦＩＣ６のＡＦ信号出力端子
Ｔ３ から出力される距離信号ＶＬは、被写体ＳＵＢま
での距離が５ｍまではのように直線性がよい特性であ
る。距離が５ｍ〜８ｍになるとの特性はクランプレベ
ルが低い場合、 の様に直線性が悪くなり、ばらつきに
もよるが逆転現象が起こり、５ｍより近い出力となるこ
とがある。ここで〜の点線部分は、後述のとおり、
繰り返しや個体差によるばらつきを表す。はクラ
ンプレベルを変化させた場合の特性を示すもので、か
らへ重畳する電流が増えるに従い測定可能な距離が近
距離になるが、ばらつきによる距離の逆転現象は発生し
ない。この様な特性は、ＩＲＥＤ１の発光のばらつき、
ＰＳＤ３の受光感度のばらつき、ＡＦＩＣ６のノイズレ
ベルやカメラ内部の他の回路で発生するノイズ等に左右
され、カメラ毎に異なるため、このような特性はカメラ
作込み工程の中で判明する。従つて、カメラの製造工程
でどのレベルを選択するかを決定しこれをカメラごとに
記憶させておく必要がある。図１に示すクランプレベル
記憶回路２２はこれを記憶する回路である。
【００１５】実際の写真を撮影する際には、ＣＰＵ２０
により測距開始前にクランプレベル記憶回路２２からク
ランプレベルを決める条件が読込まれ、それが、２ビッ
トクランプレベル指定回路２１に送出され図３のに示
す特性になることを防止している。
により測距開始前にクランプレベル記憶回路２２からク
ランプレベルを決める条件が読込まれ、それが、２ビッ
トクランプレベル指定回路２１に送出され図３のに示
す特性になることを防止している。
【００１６】上記実施例ではシングルビームについて説
明したが、マルチビームのカメラに適用してもよい。マ
ルチビームのカメラに適用するときはＩＲＥＤの発光出
力がビーム毎に異なるためクランプレベルを例えばＥＥ
ＰＲＯＭに記憶するよう構成してもよい。
明したが、マルチビームのカメラに適用してもよい。マ
ルチビームのカメラに適用するときはＩＲＥＤの発光出
力がビーム毎に異なるためクランプレベルを例えばＥＥ
ＰＲＯＭに記憶するよう構成してもよい。
【００１７】更に、受光素子のノイズレベルは受光素子
の受ける光量の大きさによつて変化するため被写体輝度
が高くなると、遠距離の場合と同様にばらつきが増加す
る。この様な場合に対応するため、被写体輝度によりク
ランプレベルを変化させることができるプログラムをＣ
ＰＵに内蔵しておけば、カメラ撮影時に被写体輝度を測
定し、そのあとで、クランプレベルを設定し測距すれば
遠距離でのばらつきを減少することができる。なお明る
い場合は絞りも大きく絞ることになるので被写体深度が
深くなり、遠距離側は測定誤差が少ないのでクランプレ
ベルによる補正を省略しても実用上差支えない。
の受ける光量の大きさによつて変化するため被写体輝度
が高くなると、遠距離の場合と同様にばらつきが増加す
る。この様な場合に対応するため、被写体輝度によりク
ランプレベルを変化させることができるプログラムをＣ
ＰＵに内蔵しておけば、カメラ撮影時に被写体輝度を測
定し、そのあとで、クランプレベルを設定し測距すれば
遠距離でのばらつきを減少することができる。なお明る
い場合は絞りも大きく絞ることになるので被写体深度が
深くなり、遠距離側は測定誤差が少ないのでクランプレ
ベルによる補正を省略しても実用上差支えない。
【００１８】
【発明の効果】補正データを記憶する補正データ記憶回
路を設けることにより、クランプレベルを自由に選択
し、かつ、ＩＣ外のクランプ電流設定用抵抗を削減でき
る。
路を設けることにより、クランプレベルを自由に選択
し、かつ、ＩＣ外のクランプ電流設定用抵抗を削減でき
る。
【００１９】この、クランプレベルによるカメラの特性
補正技術を適用すれば、ＩＣ製造時の種々の要因による
カメラの特性のばらつきを補正でき、カメラの特性のば
らつきを補正することでカメラの品質を一定化できる。
また、ＩＣのばらつきが補正できるのでＩＣの歩留りを
向上し、コストを削減できる。また、マルチビームの場
合ビーム毎にクランプレベルを設定し直すことができる
ので最適条件で使用できる。また、被写体が高輝度の時
も測距のばらつきを抑制できる。
補正技術を適用すれば、ＩＣ製造時の種々の要因による
カメラの特性のばらつきを補正でき、カメラの特性のば
らつきを補正することでカメラの品質を一定化できる。
また、ＩＣのばらつきが補正できるのでＩＣの歩留りを
向上し、コストを削減できる。また、マルチビームの場
合ビーム毎にクランプレベルを設定し直すことができる
ので最適条件で使用できる。また、被写体が高輝度の時
も測距のばらつきを抑制できる。
【図１】本発明のカメラ用測距装置の一実施例を示す構
成図
成図
【図２】本発明のカメラ用測距装置の一実施例を示すブ
ロック図
ロック図
【図３】本発明のカメラ用測距装置の特性図
【図４】従来のカメラ用測距装置のブロック図
３ ＰＳＤ（受光素子） ８ ＡＦ信号出力用差動増幅器（差動演算手段） ９ クランプレベル設定回路（段階的補正電流生成手
段） ２０ ＣＰＵ（制御手段） ２１ ２ビットクランプレベル指定回路（補正電流指定
手段） ２２ クランプレベル記憶回路（補正データ記憶手段）
段） ２０ ＣＰＵ（制御手段） ２１ ２ビットクランプレベル指定回路（補正電流指定
手段） ２２ クランプレベル記憶回路（補正データ記憶手段）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊藤 顕 千葉県四街道市鹿渡934−13番地 株式 会社精工舎千葉事業所内 (56)参考文献 特開 平３−81610（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−148214（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−211412（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G02B 7/28 - 7/40
Claims (1)
- 【請求項１】 測距用発光素子から被写体へ投光された
光の反射光を受光する受光素子と、前記受光素子で生成
された第１、第２の受光電流を入力され、差動演算結果
を距離信号として出力する差動演算手段と、前記差動演
算手段に入力された受光電流に加算され、前記受光電流
を段階的に補正する段階的補正電流生成手段と、前記段
階的補正電流生成手段で生成される段階的補正電流の一
つを指定する補正電流指定手段と、前記補正電流指定手
段を作動させる補正データを記憶する補正データ記憶手
段と、前記補正データ記憶手段から読出された補正デー
タにより前記補正電流指定手段を制御し、かつ、前記差
動演算手段から出力される補正された距離信号によりレ
ンズの合焦制御をおこなう制御手段とを備えたことを特
徴とするカメラ用測距装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7742992A JP2997968B2 (ja) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | カメラ用測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7742992A JP2997968B2 (ja) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | カメラ用測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05281460A JPH05281460A (ja) | 1993-10-29 |
| JP2997968B2 true JP2997968B2 (ja) | 2000-01-11 |
Family
ID=13633755
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7742992A Expired - Fee Related JP2997968B2 (ja) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | カメラ用測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2997968B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR970048872A (ko) * | 1995-12-30 | 1997-07-29 | 이대원 | 자동 초점 조절 방식의 반사율 보정 장치 및 그 방법 |
| JP4738656B2 (ja) * | 2000-07-07 | 2011-08-03 | 富士フイルム株式会社 | 測距装置 |
-
1992
- 1992-03-31 JP JP7742992A patent/JP2997968B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05281460A (ja) | 1993-10-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |