JP2994050B2 - 保安テスト支援装置 - Google Patents
保安テスト支援装置Info
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- JP2994050B2 JP2994050B2 JP3002744A JP274491A JP2994050B2 JP 2994050 B2 JP2994050 B2 JP 2994050B2 JP 3002744 A JP3002744 A JP 3002744A JP 274491 A JP274491 A JP 274491A JP 2994050 B2 JP2994050 B2 JP 2994050B2
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Description
に対して行う保安テストの実施を支援する保安テスト支
援装置関する。
テストの実施を支援する保安テスト支援装置としては、
例えば、特開昭63-135202号公報や特開昭62-118407号公
報に記載されているものがある。
条件を確認し、保安テストに先立って対象となる機器の
運転状態の変動を抑制し、テスト完了後、再び通常の運
転状態に戻して、保安テストをできるかぎり安定した状
態で実施できるようにしたものである。また、後者の保
安テスト支援装置は、保安テストの結果を記憶する記憶
手段を設け、この記憶手段に記憶された保安テストの履
歴を逐次表示できるようにしたものである。
良である場合、保安テストの対象となった機器を点検
し、ときには修理をするが、一般的に、一旦修理した機
器は、短期間のうちに異常を発生する可能性が高い。従
来の保安テスト支援装置は、このようなテスト結果を次
回の保安テストにまったく生かしておらず、これまでの
テスト間隔と同じ間隔で行うために、次回の保安テスト
が行われる前に機器不良を起こすことが度々あり、機器
不良を防ぐための保安テストを無意味なものにしてい
た。
に、保安テストの対象となった機器の不良発生原因につ
いては、従来、直接機器の各種箇所を点検して確認する
か、または支援装置から対象となっている機器の保安テ
スト履歴を操作者が呼び出し、操作者自身がこの膨大な
データを見て不良発生原因を推定していた。
は、前述したように保安テストの履歴表示に留まり、こ
の保安テストの履歴を次回の保安テストに生かし切れ
ず、有効な保安テストを行うことができないという問題
点があった。
て着目してなされたもので、保安テストの履歴を次回の
保安テストに生かして、保安テストをより有効なものに
し、プラントの安定運転を図ることができる保安テスト
支援装置を提供することを目的とする。
の保安テスト支援装置は、機器の不良原因を入力する入
力手段と、保安テストの結果から、前記機器が良好であ
るか否かを判断する機器状態判断手段と、前記保安テス
トの結果、および該保安テストの結果に対応させて前記
不良原因を記憶する記憶手段と、前記機器状態判断手段
により前記機器が不良であると判断されたときに、前記
記憶手段から、該保安テスト結果と類似している過去の
保安テストを選び出し、該過去の保安テストにおける不
良原因を抽出する不良原因抽出手段と、抽出された前記
不良原因を表示する表示手段と、を備えていることを特
徴とするものである。 ここで、前記表示手段は、前記不
良原因を表示すると共に、対応する前記過去の保安テス
トの結果も表示することが好ましい。 また、前記保安テ
スト支援装置は、定期的に前記機器の制御装置に対して
保安テストの実施を指示すると共に、前記機器状態判断
手段により前記機器が不良であると判断された場合に、
再度、前記機器の制御装置に対して保安テストの実施を
指示するテスト指示手段を備えていてもよい。
ストの実施間隔を記憶する実施間隔記憶手段と、前記実
施間隔記憶手段に記憶されている実施間隔に従って、対
象となっている機器の制御装置に対して保安テストの実
施を指示するテスト指示手段と、前記機器状態判断手段
により前記機器が不良であると判断された場合に、前記
実施間隔記憶手段に記憶されている実施間隔を短くする
実施間隔変更手段とを備えていてもよい。
施間隔を短くした後に行われる保安テストで、1回また
は2回以上連続して前記機器が良好であると判断された
ときに、前記実施間隔を元の実施間隔に変更することが
できるようにすることが好ましい。
器が不良であると判断されたときには、機器自体が不良
であるのかテスト環境等が悪かったのかを判断するため
に、再度保安テストを実施することが多い。また、機器
が不良であると判断され、実際に不良であった場合に
は、短期間のうちに再び故障を起こす可能性が高いため
に、次回の保安テストを早期に行うことも多い。
より、対象となっている機器が不良と判断されたとき
に、再度保安テストを行うために、テスト指示手段によ
り、直ちに、前記機器の制御装置に対して保安テストの
実施が指示され、自動的に再テストが実施される。ま
た、対象となっている機器が不良と判断されたときに、
実施間隔変更手段により、実施間隔記憶手段に記憶され
ている実施間隔が短くされ、次回の実施までの間隔が短
くなる。
次回の保安テストまでの期間を自動的に変えることによ
り、運転員の労力が削減されるのみならず、機器不良に
起因するプラント異常等を未然に防ぐことができ、プラ
ントの安定運転を図ることができる。
した場合には、直ちに、その機器を点検して修理する必
要がある。この修理では、予め不良原因が把握できる
と、修理不用な箇所まで修理する必要がなく、作業を短
時間で行える。そのため、本発明では、不良原因抽出手
段を設け、不良原因が直ちに運転員に分かるようにして
いる。
と対応させて記憶手段に記憶される。保安テストが実施
され、機器が不良であると判断されると、不良原因抽出
手段により、記憶手段に記憶されている過去の保安テス
トのうちから実施した保安テスト結果と類似しているも
のが選びだされ、これに対応する不良原因が抽出され
る。抽出された不良原因は、表示手段に表示される。
用して、不良原因を推定することにより、機器の修理作
業を素早く行うことができると共に、確実な修理を行う
ことができるので、プラントの安定運転を図ることがで
きる。
基づいて説明する。
0は、プラント内の各種機器を制御するプロセス機器制
御装置23と、プラント内の各種機器からのデータを処
理するプロセス情報処理装置24とに接続されている。
力する入力部11と、保安テストの実施間隔を記憶する
と共にタイマー機能を有し保安テスト実施時期を指定す
るテスト実施タイミング処理部12と、前記保安テスト
実施時期の経過後にプロセス情報処理装置24からのデ
ータに基づいて機器が保安テストの実施に適した状態で
あるか否かを判定するテスト許可条件判定処理部13
と、保安テストの結果等を記憶するテスト結果記憶部1
5と、各部からのデータを制御してテスト結果記憶部1
5に該データを記憶させると共にテスト結果記憶部15
に記憶されている内容を整理して各部に出力する記憶処
理部14と、各種データを表示する表示部16と、保安
テストの実行指示をプロセス機器制御装置23に対して
行うテスト指示処理部17と、プロセス情報処理装置2
4からの保安テスト結果データに基づいて対象機器が良
好であるか否かを判断するテスト結果判断部18とを有
している。プラント機器群26には、運転員の手動操作
により保安テストを実施できるように、テストスイッチ
28が設けられている。
うに、コンバインドサイクルが適用されたプラントの各
種プラント機器に対する保安テストのための装置として
設けられている。
気圧縮機26A、ガスタービン26B、発電機26C、
蒸気タービン26D、復水ポンプ26E、循環水ポンプ
26F、復水器逆洗弁26G、高圧蒸気加減弁26H、
低圧蒸気加減弁26I、高圧主蒸気止弁26J、低圧主
蒸気止弁26K、復水器26Lなどから構成されてお
り、各機器の状態を検出するためのセンサ(図示省略)
の出力がプラントの運転状態を示すプロセス情報として
プロセス情報処理装置24へ供給されるようになってい
る。
ト支援装置20の作用について、各種機器ごとの保安テ
ストを例にとり、具体的に説明する。
について、図3から図8に基づき説明する。図3は、高
圧主蒸気止弁26Jの保安テストにおける各部位の動作
を説明するためのものである。なお、同図において、符
号T1,T2はタイマ、A1,A2,A3,A4,A5,A6,
A7はAND論理を、O1,O2はOR論理を、N1,N
2,N3,N4はNOT論理を示している。
態がテスト実施可能状態になった時間として、高圧主蒸
気止弁26J全開状態が24時間継続した時間としてい
るため、高圧主蒸気止弁26Jの全開状態を監視して全
開状態が24時間継続したときテスト実施タイミング処
理部12内のタイマT1から信号を出力することとして
いる。これは、高圧主蒸気止弁26Jに対する保安テス
トの実施時期は1日1回であるため、前回のテストが行
なわれた後24時間後に保安テストを実施すればよい。
このため、高圧主蒸気止弁26Jが24時間全開状態に
なったときタイマT1からテスト時期を指定するための
信号を出力することとしている。さらに、高圧主蒸気止
弁26Jは24時間以内に1回閉じることが多いところ
から、高圧主蒸気止弁26Jに対するテスト時期を24
時間に設定すれば、高圧主蒸気止弁26Jに対する保安
テストを省略することが可能となるためである。すなわ
ち、高圧主蒸気止弁26Jに対する保安テストの目的は
弁がステックしておらず、トリップ時に閉じて正しく蒸
気を遮断できることを確認するものである。このため、
上記のようなテスト時期を設定することにより不必要な
テスト操作を省略することが可能となる。
を実施する場合、この保安テストの開始前に、プラント
の運転状態がテスト条件を満たすか否かの判定をテスト
許可条件判定処理部13で行う。この判定を行うに際し
ては、プラントの負荷、例えば発電機の負荷が50%以
上になった状態が10分以上継続、低圧主蒸気止弁26
K全開、高圧蒸気加減弁26H全開、低圧蒸気加減弁2
6I全開、復水器26Lの真空正常のAND条件を満た
すか否かの判定を行う。そして、このAND条件が満た
され、かつ高圧主蒸気止弁26Jが24時間全開状態に
なったときに、テスト指示処理部17からプロセス機器
制御装置23に高圧主蒸気止弁26Jに対する保安テス
トの実施を促す。テストスイッチ28が自動側に操作さ
れていたときには、実施指令によりテスト用電磁弁を励
磁し、高圧主蒸気止弁26Jを閉状態とする。
されていないときには、「高圧主蒸気止弁の開閉テスト
を実施してください。」の操作メッセージが表示装置3
2の画面上に表示される。そして、この操作メッセージ
を基に運転員が手動用のテストスイッチ28を操作すれ
ば、テスト用電磁弁が励磁され、高圧主蒸気止弁26J
が閉状態となる。また、操作メッセージは音声によりお
こなうことも可能である。操作メッセージを出力すれ
ば、運転員がテストスイッチ28を操作するのを忘れた
場合に効果的である。
テスト用電磁弁が非励磁状態となり、高圧主蒸気止弁2
6Jが全開状態に復帰し保安テストが終了する。保安テ
ストが終了すると、テスト結果から高圧主蒸気止弁26
Jが良好であるか否かが、テスト結果判断部18で判断
される。この判断を行うに際しては、次の3項目を基に
おこなわれる。 (1)テスト所要時間が規定値以内 (2)テスト中の微少時間での弁開度変化率が規定値 (3)正常な弁開閉パターン(時間対弁開度)とほぼ同一 上記3項目のすべての条件を満たしたときにはテスト結
果が良として表示され、それ以外のときにはテスト結果
が否として表示される。
定値(正常値)は主蒸気圧力をパラメータとした所要時
間をあらかじめ設定しておくことにより、より正確な判
定結果を得ることができる。また弁開閉パターンも主蒸
気圧力のパラメータとした複数のパターンを準備するこ
とによりより正確な判定結果を得ることが可能である。
また、保安テストは、負荷運転中におこなうが、中央
給電指令所からのAFC信号によってプラントが制御さ
れている場合には、負荷制御ALRモード(発電所側主
制御モード)とすることによりより安定な状態で保安テ
ストを実施することが可能となる。
トの運転状態が保安テストに適する状態にあるときにの
み保安テストを自動的に実施することができるため、プ
ラントの運転状態に悪影響を与えることなく、保安テス
トを実施することができるとともに運転員の負担を軽減
することができる。
図4を用いて説明する。保安テスト表示画面には、操作
項目名、テスト日時、テストの良否判断結果、動作曲線
などが表示される。本画面は、テスト中の間、常時表示
部16の画面に表示し、そのテスト過程を動作曲線によ
り監視することが可能であるが、例えば、結果が「否」
の場合にのみ自動的に表示することも可能である。ま
た、保安テストは、前回の実績が参考となることが多い
ため、前回もしくは、それ以前に実施した結果(図4中
の動作曲線のうち2点破線で示されているもの)を今回
実施(図4中の動作曲線のうち実線で示されているも
の)に付加して表示することも可能である。保安テスト
の結果は、保安テスト履歴として、テスト結果記憶部1
5に記憶され、この内容は、入力部11を操作すること
により、逐次、表示部16に表示させることができる。
保安テストにより高圧主蒸気止弁26Jが不良である
と判断されたときには、画面に「否」と表示されると共
に、不良原因も表示される。
チャートに従って説明する。保安テストを実施すると
(ステップ11)、テスト結果判断部18でテスト結果
の良否が判断される(ステップ12)。テスト結果が良
である場合には、直ちに画面上に「良」と表示される
(ステップ13)。テスト結果が不良である場合には、
記憶処理部14がテスト結果記憶部15内を検索し(ス
テップ14)、類似する実績がなければ(ステップ1
5)、テスト結果の「否」を表示すると共に、予め登録
されている不良原因候補を表示する(ステップ17)。
ここで、高圧主蒸気止弁26Jの不良原因として考えら
れるものとしては、「弁棒スティック異常」、「テスト
用電磁弁異常」、「弁開度検出系異常」が揚げられる
が、本実施例では、これら全てを表示する。また、類似
する実績があれば(ステップ15)、テスト結果の
「否」を表示すると共に、前述した不良原因候補のうち
類似する実績の不良原因を他の不良原因と区別して表示
する(ステップ16)。
「弁棒スティック異常」あったため、これを他の不良原
因と区別するために、そこの表示領域の色を変えてい
る。過去の類似する実績(図4中の動作曲線のうち1点
破線で示されているもの)は、今回の実績および前回の
実績と共に、画面上に表示される。
ると判断された後に行う機器の点検の際に、実際に確認
して、これを入力部11から保安テスト結果と対応させ
てテスト結果記憶部15に入力しておく。なお、ステッ
プ14およびステップ15における過去の実績から不良
原因の抽出動作は、記憶処理部14によって行われてい
る。このように、不良原因が表示されると、操作員は不
良原因を除去するための対応をとることになるが、実際
には、「再現テスト」と称して、再度同一の保安テスト
を繰り返して詳細原因の究明にあたることが多い。
的に実施している。この動作について図6のフローチャ
ートを用いて説明する。保安テストを実施して(ステッ
プ21)、テスト結果が良好であると判定されると(ス
テップ22)前述したように直ちに「良」と表示される
が(ステップ27)、テスト結果が不良であると判定さ
れると(ステップ22)、再度保安テストが実施される
(ステップ23)。そして、再テスト回数がカウントさ
れてから(ステップ24)、再テストの結果が判定され
る(ステップ25)。このとき、テスト結果が不良であ
れば、直ちに「否」と表示される。また、テスト結果が
良好であれば、再テストの回数が1回目か否かが判断さ
れた後(ステップ26)、再度、再テストが実施される
(ステップ23)。このテスト結果が不良である場合に
は(ステップ25)、画面に「否」と表示さ(ステップ
28)、テスト結果が良好である場合には(ステップ2
5)、2度の再テストが良好なので、最初に行った保安
テストはテスト環境等の影響によるテストミスと判断し
て、画面に「良」と表示する(ステップ27)。ここ
で、再テストの指示は、最初の保安テストと同様に、テ
スト指示処理部17で実施されるが、テスト許可条件判
定処理部13で判定では、タイマT1とのAND条件は
考慮されず、つまり、テスト時期に関しては考慮され
ず、高圧主蒸気止弁26Jがテストの実施に適した状態
であるか否かのみが考慮される。
うようにしているが、再テストの回数は、固定的に決定
できるものではなく、機器の重要性などを加味して機器
ごとに決定すべきものである。したがって、再テストの
回数は、機器の重要度が低いものであれば1回でもよい
し、また機器の重要度が高いものであれば3回以上行う
ようにしてもよい。
上のように、直ちに再テストを実施する方法があるが、
これとは別に、または、併用して、保安テストの実施間
隔を短縮して行なうことも可能である。つまり、保安テ
ストの結果が不良であった場合には、前述した再テスト
によるなどして原因を究明し、対策することになるが、
一度不具合を発生した機器は応々にして不具合が再発す
ることも考えられ、このため、次回の保安テストの実施
時期を早める(例えば通常の周期の半分にする)ことは
望ましいことである。これは、人間に例えていえば、年
1回の定期健康診断により体の異常が発見された場合、
これを完治させたとしても、以降当面の間は、診断の頻
度を例えば半年に一回とするという処置をとるようなも
のである。
安テストの実施間隔を短縮するものに関して、図7のフ
ローチャートを用いて説明する。保安テストを実施し
(ステップ31)、テスト結果が良好であれば(ステッ
プ32)、テストの実施間隔を短縮することなく、次回
の保安テストを実施する(ステップ37)。保安テスト
の結果が不良であれば(ステップ32)、保安テストの
実施間隔を短縮する(ステップ32)。実施間隔の短縮
は、テスト結果判断部18からの指示を受けて、テスト
実施タイミング処理部12が、自身に記憶している実施
間隔を変更することで行われる。そして、短縮された実
施間隔で次の保安テストが実施され(ステップ34)、
テスト結果が良好であるか否かの判定が行われる(ステ
ップ35)。このテスト結果が良好であれば、実施間隔
を元に戻し(ステップ36)、次回からは定例の実施間
隔で保安テストが実施される(ステップ37)。テスト
結果が不良であれば、実施間隔が短縮されたまま次回の
保安テストが実施される(ステップ37)。 なお、テ
スト結果が2回連続して不良と判定されたときに、さら
に実施間隔を短くするようにしてもよい。また、実施間
隔を元に戻すにあたり、1回のテスト結果の良好で実施
間隔を元に戻すのではなく、テスト結果が2回またはこ
れ以上連続して良好である場合に、実施間隔を戻すよう
にしてもよい。
について、図8に基づいて説明する。 高圧蒸気加減弁
26Hの保安テストを行う場合には、図8に示されるよ
うに、実施時期を1ヶ月とすることにより高圧主蒸気止
弁26Jと同様に保安テストを自動的に行うことができ
る。
の保安テストについて図9に基づいて説明する。STト
リップ電磁弁は、図2中に図示されていないが、高圧主
蒸気止弁26Jを制御するもので、高圧主蒸気止弁26
Jのアクチュエータに直列に2台接続されているもので
ある。
は、1台の電磁弁1の実施時期を1週間とし、他の1台
の電磁弁の実施時期を1週間+αとし、さらにテストを
実行するための判定条件として、蒸気タービン26Dが
停止フェイズでないこととする。蒸気タービンのトリッ
プは通常週に一回おこなわれるため、前回テスト実施の
1週間後に実施すればよい。すなわち、1週間以内にユ
ニット停止によりSTトリップ電磁弁が必らず非励磁状
態となるので、この動作がまさしくSTトリップ電磁弁
の保安テストとなり、保安テストを省略することが可能
となる。しかし、STトリップ電磁弁は非励磁状態でト
リップ信号を出力するようになっているため、誤動作防
止の観点から電磁弁を2台設け、インターロックをAN
D条件に組み、タービントリップ信号を生成するように
している。
は必ず片方ずつ実施しなければならない。すなわち両S
Tトリップ電磁弁が同時に非励磁状態になるとユニット
停止となるため、両STトリップ電磁弁の実施タイミン
グに若干の差αをもたせることとしている。この差αは
STトリップ電磁弁テストの所要時間以上にする必要が
ある。
トについて図10に基づいて説明する。ST先行非常調
速機回路は、蒸気タービン26Dの負荷が突然なくなる
とタービンの回転数が急激に増加するため、これを防止
するための回路である。なお、この回路は図2中には図
示されていない。ST先行非常調速機回路の保安テスト
は、各回路A,B,Cに対する実施時期を1週間に設定
し、保安テストを実施するための判定条件として起動フ
ェイズでなく、かつ停止フェイズでないこと、すなわち
蒸気タービンが運転中であることを条件として行う。
ついて図11に基づいて説明する。ST非常用油ポンプ
の保安テストの実施には、油ポンプが停止した状態が1
週間継続された時間を実施時期とし、テスト条件の判定
項目として起動フェイズでなくかつ停止フェイズでない
ことを検出する。そして実施指令により油ポンプを起動
を抜いて油圧を下げ、油ポンプを起動させる。そして油
ポンプを停止させる場合には、油ポンプの吐出圧が規定
値以上になったことが一定時間以上継続されたことを条
件にテスト弁を通常側とし油ポンプを停止させる。
ついて図12に基づいて説明する。
弁正洗位置が24時間継続されたときを実施時期とし、
海水系統マスタ進行中でないこと、循環水ポンプ26F
が運転中、復水器26Lが真空正常であることをテスト
条件の判定項目として実施する。
実施する場合には、復水器逆洗弁26Gの逆洗操作が自
動的に行われ、逆洗位置に至ったことを条件として30
分後に逆洗弁26Gを正洗位置へ戻す処理を行う。そし
て、逆洗弁26Gを逆洗状態あるいは正洗状態にあるか
否かにより実施結果の良否が表示される。そして実施結
果が否のときにはその推定原因として逆洗弁ステック、
逆洗弁モータの電気系の故障が表示される。
減弁26H、STトリップ電磁弁、先行非常調速機回
路、ST非常用油ポンプ、復水器逆洗弁26Gの保安テ
ストについて、具体的に説明したが、これらのものは、
高圧主蒸気止弁26J以外でも、高圧主蒸気止弁26と
同様に、保安テスト支援装置10により、再保安テス
ト、不良原因の表示等が実施されることは言うまでもな
い。
は、前述したように、テスト結果記憶部15に記憶され
るが、1つプラントにおいて保安テストの対象となる機
器は、多数存在し、かつ定期的に繰り返して保安テスト
が行われるので、保安テスト支援装置10に必要な記憶
容量は膨大なものになる。保安テストの結果の保存に
は、法令または各発電所等で定めた基準に基づく保管期
限があり、この期限を過ぎたものは、不必要なメモリ増
大、情報の混乱を避けるため、消去の対象となる。
考えられるので、図13を用いて、消去手法について説
明する。保安テストを実施し(ステップ41,42)、
この結果を保存する際には、テスト結果記憶部15内に
保存されているもののうち、保存期限を過ぎたものがあ
るか否かが、記憶処理部14で判断される(ステップ4
3)。保存期限の過ぎたものがなければ、このテスト結
果は、直ちにテスト結果記憶部15に保存される。保存
期限の過ぎたものがあれば、テスト結果の重要性や対象
となった機器の重要性などを考慮して、保存期限の過ぎ
たもののうち、以下の3種類の手法により消去される。
ケース1:保存期限の過ぎたものは全て消去される(ス
テップ44−1)。ケース2:保存期限の過ぎたものの
うち、テスト結果が不良であったもの以外は、全て消去
される(ステップ44−2)。したがって、保存期限の
過ぎたものでもテスト結果が不良であるものは保存され
る。ケース3:保存期限の過ぎたもののうち、テスト結
果が不良であったものと、テスト結果が良好のテスト項
目と実施期日以外、全て消去される(ステップ44−
3)。保存期限の過ぎたものの消去が終わると、テスト
結果が保存される(ステップ45)。このテスト結果の
保存では、再テスト結果は無論保存するが、再テスト前
のテスト結果を書き換えて保管するか、再テスト前のテ
スト結果に再テスト結果を付加して保管するかは、いず
れでも構わない。
珍しいテスト結果など保存が必ず必要なものに対して
は、テスト結果のデータの先頭などに消去不可を意味す
るコードなどを付加して、消去できないようにしてもよ
い。
したように、詳細に表示することもできるが、図14に
示すように、各機器に対する保安テストを集計した形で
簡易に、表示することもできる。この表示画面には、テ
スト項目と、実施時日時、実施結果、不良原因などが表
示される。これらは、必要に応じて逐次テスト結果記憶
部15から呼び出し、表示部16で表示することができ
ると共に、図1中には図示していないがプリンタから保
安テスト実施結果報告書として出力することもできる。
じて次回の保安テスト時期を早くすることができ、機器
不良に起因するプラント異常等が発生する前に、保安テ
ストを行うことができるので、プラント異常を未然に防
ぐことができ、プラントの安定運転を図ることができ
る。
て、不良原因を推定され、不良原因を把握することがで
きるので、機器の修理作業を素早く行うことができると
共に、確実な修理を行うことができるので、前述同様、
プラントの安定運転を図ることができる。
機能ブロック図である。
動作を示すための説明図である。
である。
ャートである。
のフローチャートである。
実施手順を示すためのフローチャートである。
動作を示すための説明図である。
トの動作を示すための説明図である。
ストの動作を示すための説明図である。
ストの動作を示すための説明図である。
動作を示すための説明図である。
ためのフローチャートである。
を説明するための説明図である。
ト実施タイミング処理部、13…テスト許可条件判定処
理部、14…記憶処理部、15…テスト結果記憶部、1
6…表示部、17…テスト指示処理部、18…テスト結
果判断部、23…プロセス機器制御装置、24…プロセ
ス情報処理装置、26…プラント機器群。
Claims (5)
- 【請求項1】プラント内の各種機器に対して行う保安テ
ストの実施を支援する保安テスト支援装置において、 前記機器の不良原因を入力する入力手段と、前記保安テストの結果から、前記機器が良好であるか否
かを判断する機器状態判断手段と、 前記保安テストの結果、および該保安テストの結果に対
応させて前記不良原因を記憶する記憶手段と、前記機器状態判断手段 により前記機器が不良であると判
断されたときに、前記記憶手段から、該保安テスト結果
と類似している過去の保安テストを選び出し、該過去の
保安テストにおける不良原因を抽出する不良原因抽出手
段と、 抽出された前記不良原因を表示する表示手段とを備えて
いることを特徴とする保安テスト支援装置。 - 【請求項2】前記表示手段は、前記不良原因を表示する
と共に、対応する前記過去の保安テストの結果も表示す
ることを特徴とする請求項1記載の保安テスト支援装
置。 - 【請求項3】定期的に前記機器の制御装置に対して保安
テストの実施を指示すると共に、前記機器状態判断手段
により前記機器が不良であると判断された場合に、再
度、前記機器の制御装置に対して保安テストの実施を指
示するテスト指示手段を備えていることを特徴とする請
求項1及び2のいずれか一項に記載の保安テスト支援装
置。 - 【請求項4】保安テストの実施間隔を記憶する実施間隔
記憶手段と、 前記実施間隔記憶手段に記憶されている実施間隔に従っ
て、前記機器の制御装置に対して保安テストの実施を指
示するテスト指示手段と、 前記機器状態判断手段により前記機器が不良であると判
断された場合に、前記実施間隔記憶手段に記憶されてい
る実施間隔を短くする実施間隔変更手段とを備えている
ことを特徴とする請求項1及び2のいずれか一項に記載
の保安テスト支援装置。 - 【請求項5】前記実施間隔変更手段は、一旦実施間隔を
短くした後に行われる保安テストで、1回または2回以
上連続して前記機器が良好であると判断されたときに、
前記実施間隔を元の実施間隔に変更することを特徴とす
る請求項4記載の保安テスト支援装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3002744A JP2994050B2 (ja) | 1991-01-14 | 1991-01-14 | 保安テスト支援装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3002744A JP2994050B2 (ja) | 1991-01-14 | 1991-01-14 | 保安テスト支援装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04242122A JPH04242122A (ja) | 1992-08-28 |
JP2994050B2 true JP2994050B2 (ja) | 1999-12-27 |
Family
ID=11537861
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3002744A Expired - Lifetime JP2994050B2 (ja) | 1991-01-14 | 1991-01-14 | 保安テスト支援装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2994050B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5495594B2 (ja) * | 2009-03-24 | 2014-05-21 | 株式会社東芝 | 放射線治療装置 |
JP5218453B2 (ja) * | 2009-04-10 | 2013-06-26 | オムロン株式会社 | 設備運転状態計測装置、設備運転状態計測方法、および制御プログラム |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63145588A (ja) * | 1986-12-09 | 1988-06-17 | 株式会社日立製作所 | 機器のメンテナンスガイダンス装置 |
JP2519064B2 (ja) * | 1987-07-31 | 1996-07-31 | 東京エレクトロン株式会社 | 半導体デバイスのパラメトリック検査方法 |
JPS6488892A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-03 | Nippon Telegraph & Telephone | Inspection timing setter |
JP2575808B2 (ja) * | 1988-06-01 | 1997-01-29 | 株式会社日立製作所 | プラントの保安テスト方法及び装置 |
-
1991
- 1991-01-14 JP JP3002744A patent/JP2994050B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04242122A (ja) | 1992-08-28 |
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