JP2994050B2

JP2994050B2 - 保安テスト支援装置

Info

Publication number: JP2994050B2
Application number: JP3002744A
Authority: JP
Inventors: 茂生白倉; 功四郎丸; 誠逸二川原; 雅之深井; 日下　　智
Original assignee: Chugoku Electric Power Co Inc; Hitachi Ltd
Current assignee: Chugoku Electric Power Co Inc; Hitachi Ltd
Priority date: 1991-01-14
Filing date: 1991-01-14
Publication date: 1999-12-27
Anticipated expiration: 2014-12-27
Also published as: JPH04242122A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、プラント内の各種機器
に対して行う保安テストの実施を支援する保安テスト支
援装置関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、プラントの各種機器に対する保安
テストの実施を支援する保安テスト支援装置としては、
例えば、特開昭63-135202号公報や特開昭62-118407号公
報に記載されているものがある。

【０００３】前者の保安テスト支援装置は、保安テスト
条件を確認し、保安テストに先立って対象となる機器の
運転状態の変動を抑制し、テスト完了後、再び通常の運
転状態に戻して、保安テストをできるかぎり安定した状
態で実施できるようにしたものである。また、後者の保
安テスト支援装置は、保安テストの結果を記憶する記憶
手段を設け、この記憶手段に記憶された保安テストの履
歴を逐次表示できるようにしたものである。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】保安テストの結果が不
良である場合、保安テストの対象となった機器を点検
し、ときには修理をするが、一般的に、一旦修理した機
器は、短期間のうちに異常を発生する可能性が高い。従
来の保安テスト支援装置は、このようなテスト結果を次
回の保安テストにまったく生かしておらず、これまでの
テスト間隔と同じ間隔で行うために、次回の保安テスト
が行われる前に機器不良を起こすことが度々あり、機器
不良を防ぐための保安テストを無意味なものにしてい
た。

【０００５】また、保安テストの結果が不良である場合
に、保安テストの対象となった機器の不良発生原因につ
いては、従来、直接機器の各種箇所を点検して確認する
か、または支援装置から対象となっている機器の保安テ
スト履歴を操作者が呼び出し、操作者自身がこの膨大な
データを見て不良発生原因を推定していた。

【０００６】このような従来の保安テスト支援装置で
は、前述したように保安テストの履歴表示に留まり、こ
の保安テストの履歴を次回の保安テストに生かし切れ
ず、有効な保安テストを行うことができないという問題
点があった。

【０００７】本発明は、このような従来の問題点につい
て着目してなされたもので、保安テストの履歴を次回の
保安テストに生かして、保安テストをより有効なものに
し、プラントの安定運転を図ることができる保安テスト
支援装置を提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の保安テスト支援装置は、機器の不良原因を入力する入
力手段と、保安テストの結果から、前記機器が良好であ
るか否かを判断する機器状態判断手段と、前記保安テス
トの結果、および該保安テストの結果に対応させて前記
不良原因を記憶する記憶手段と、前記機器状態判断手段
により前記機器が不良であると判断されたときに、前記
記憶手段から、該保安テスト結果と類似している過去の
保安テストを選び出し、該過去の保安テストにおける不
良原因を抽出する不良原因抽出手段と、抽出された前記
不良原因を表示する表示手段と、を備えていることを特
徴とするものである。ここで、前記表示手段は、前記不
良原因を表示すると共に、対応する前記過去の保安テス
トの結果も表示することが好ましい。また、前記保安テ
スト支援装置は、定期的に前記機器の制御装置に対して
保安テストの実施を指示すると共に、前記機器状態判断
手段により前記機器が不良であると判断された場合に、
再度、前記機器の制御装置に対して保安テストの実施を
指示するテスト指示手段を備えていてもよい。

【０００９】また、前記保安テスト支援装置は、保安テ
ストの実施間隔を記憶する実施間隔記憶手段と、前記実
施間隔記憶手段に記憶されている実施間隔に従って、対
象となっている機器の制御装置に対して保安テストの実
施を指示するテスト指示手段と、前記機器状態判断手段
により前記機器が不良であると判断された場合に、前記
実施間隔記憶手段に記憶されている実施間隔を短くする
実施間隔変更手段とを備えていてもよい。

【００１０】ここで、前記実施間隔変更手段は、一旦実
施間隔を短くした後に行われる保安テストで、１回また
は２回以上連続して前記機器が良好であると判断された
ときに、前記実施間隔を元の実施間隔に変更することが
できるようにすることが好ましい。

【００１１】

【００１２】

【作用】一般的に、保安テストにより、対象となった機
器が不良であると判断されたときには、機器自体が不良
であるのかテスト環境等が悪かったのかを判断するため
に、再度保安テストを実施することが多い。また、機器
が不良であると判断され、実際に不良であった場合に
は、短期間のうちに再び故障を起こす可能性が高いため
に、次回の保安テストを早期に行うことも多い。

【００１３】そこで、本発明では、機器状態判断手段に
より、対象となっている機器が不良と判断されたとき
に、再度保安テストを行うために、テスト指示手段によ
り、直ちに、前記機器の制御装置に対して保安テストの
実施が指示され、自動的に再テストが実施される。ま
た、対象となっている機器が不良と判断されたときに、
実施間隔変更手段により、実施間隔記憶手段に記憶され
ている実施間隔が短くされ、次回の実施までの間隔が短
くなる。

【００１４】このように、保安テストの結果に応じて、
次回の保安テストまでの期間を自動的に変えることによ
り、運転員の労力が削減されるのみならず、機器不良に
起因するプラント異常等を未然に防ぐことができ、プラ
ントの安定運転を図ることができる。

【００１５】保安テストにより機器が不良であると判明
した場合には、直ちに、その機器を点検して修理する必
要がある。この修理では、予め不良原因が把握できる
と、修理不用な箇所まで修理する必要がなく、作業を短
時間で行える。そのため、本発明では、不良原因抽出手
段を設け、不良原因が直ちに運転員に分かるようにして
いる。

【００１６】不良原因は、保安テストの度に、その結果
と対応させて記憶手段に記憶される。保安テストが実施
され、機器が不良であると判断されると、不良原因抽出
手段により、記憶手段に記憶されている過去の保安テス
トのうちから実施した保安テスト結果と類似しているも
のが選びだされ、これに対応する不良原因が抽出され
る。抽出された不良原因は、表示手段に表示される。

【００１７】このように、過去の保安テストの履歴を利
用して、不良原因を推定することにより、機器の修理作
業を素早く行うことができると共に、確実な修理を行う
ことができるので、プラントの安定運転を図ることがで
きる。

【００１８】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図１から図１４に
基づいて説明する。

【００１９】図１に示すように、保安テスト支援装置１
０は、プラント内の各種機器を制御するプロセス機器制
御装置２３と、プラント内の各種機器からのデータを処
理するプロセス情報処理装置２４とに接続されている。

【００２０】保安テスト支援装置１０は、各種情報を入
力する入力部１１と、保安テストの実施間隔を記憶する
と共にタイマー機能を有し保安テスト実施時期を指定す
るテスト実施タイミング処理部１２と、前記保安テスト
実施時期の経過後にプロセス情報処理装置２４からのデ
ータに基づいて機器が保安テストの実施に適した状態で
あるか否かを判定するテスト許可条件判定処理部１３
と、保安テストの結果等を記憶するテスト結果記憶部１
５と、各部からのデータを制御してテスト結果記憶部１
５に該データを記憶させると共にテスト結果記憶部１５
に記憶されている内容を整理して各部に出力する記憶処
理部１４と、各種データを表示する表示部１６と、保安
テストの実行指示をプロセス機器制御装置２３に対して
行うテスト指示処理部１７と、プロセス情報処理装置２
４からの保安テスト結果データに基づいて対象機器が良
好であるか否かを判断するテスト結果判断部１８とを有
している。プラント機器群２６には、運転員の手動操作
により保安テストを実施できるように、テストスイッチ
２８が設けられている。

【００２１】保安テスト支援装置１０は、図２に示すよ
うに、コンバインドサイクルが適用されたプラントの各
種プラント機器に対する保安テストのための装置として
設けられている。

【００２２】このプラントのプラント機器群２６は、空
気圧縮機２６Ａ、ガスタービン２６Ｂ、発電機２６Ｃ、
蒸気タービン２６Ｄ、復水ポンプ２６Ｅ、循環水ポンプ
２６Ｆ、復水器逆洗弁２６Ｇ、高圧蒸気加減弁２６Ｈ、
低圧蒸気加減弁２６Ｉ、高圧主蒸気止弁２６Ｊ、低圧主
蒸気止弁２６Ｋ、復水器２６Ｌなどから構成されてお
り、各機器の状態を検出するためのセンサ（図示省略）
の出力がプラントの運転状態を示すプロセス情報として
プロセス情報処理装置２４へ供給されるようになってい
る。

【００２３】次に、このように構成されている保安テス
ト支援装置２０の作用について、各種機器ごとの保安テ
ストを例にとり、具体的に説明する。

【００２４】まず、高圧主蒸気止弁２６Ｊの保安テスト
について、図３から図８に基づき説明する。図３は、高
圧主蒸気止弁２６Ｊの保安テストにおける各部位の動作
を説明するためのものである。なお、同図において、符
号Ｔ₁，Ｔ₂はタイマ、Ａ₁，Ａ₂，Ａ₃，Ａ₄，Ａ₅，Ａ₆，
Ａ₇はＡＮＤ論理を、Ｏ１，Ｏ２はＯＲ論理を、Ｎ₁，Ｎ
₂，Ｎ₃，Ｎ₄はＮＯＴ論理を示している。

【００２５】本実施例においては、テスト対象機器の状
態がテスト実施可能状態になった時間として、高圧主蒸
気止弁２６Ｊ全開状態が２４時間継続した時間としてい
るため、高圧主蒸気止弁２６Ｊの全開状態を監視して全
開状態が２４時間継続したときテスト実施タイミング処
理部１２内のタイマＴ₁から信号を出力することとして
いる。これは、高圧主蒸気止弁２６Ｊに対する保安テス
トの実施時期は１日１回であるため、前回のテストが行
なわれた後２４時間後に保安テストを実施すればよい。
このため、高圧主蒸気止弁２６Ｊが２４時間全開状態に
なったときタイマＴ₁からテスト時期を指定するための
信号を出力することとしている。さらに、高圧主蒸気止
弁２６Ｊは２４時間以内に１回閉じることが多いところ
から、高圧主蒸気止弁２６Ｊに対するテスト時期を２４
時間に設定すれば、高圧主蒸気止弁２６Ｊに対する保安
テストを省略することが可能となるためである。すなわ
ち、高圧主蒸気止弁２６Ｊに対する保安テストの目的は
弁がステックしておらず、トリップ時に閉じて正しく蒸
気を遮断できることを確認するものである。このため、
上記のようなテスト時期を設定することにより不必要な
テスト操作を省略することが可能となる。

【００２６】高圧主蒸気止弁２６Ｊに対する保安テスト
を実施する場合、この保安テストの開始前に、プラント
の運転状態がテスト条件を満たすか否かの判定をテスト
許可条件判定処理部１３で行う。この判定を行うに際し
ては、プラントの負荷、例えば発電機の負荷が５０％以
上になった状態が１０分以上継続、低圧主蒸気止弁２６
Ｋ全開、高圧蒸気加減弁２６Ｈ全開、低圧蒸気加減弁２
６Ｉ全開、復水器２６Ｌの真空正常のＡＮＤ条件を満た
すか否かの判定を行う。そして、このＡＮＤ条件が満た
され、かつ高圧主蒸気止弁２６Ｊが２４時間全開状態に
なったときに、テスト指示処理部１７からプロセス機器
制御装置２３に高圧主蒸気止弁２６Ｊに対する保安テス
トの実施を促す。テストスイッチ２８が自動側に操作さ
れていたときには、実施指令によりテスト用電磁弁を励
磁し、高圧主蒸気止弁２６Ｊを閉状態とする。

【００２７】なお、テストスイッチ２８が自動側に操作
されていないときには、「高圧主蒸気止弁の開閉テスト
を実施してください。」の操作メッセージが表示装置３
２の画面上に表示される。そして、この操作メッセージ
を基に運転員が手動用のテストスイッチ２８を操作すれ
ば、テスト用電磁弁が励磁され、高圧主蒸気止弁２６Ｊ
が閉状態となる。また、操作メッセージは音声によりお
こなうことも可能である。操作メッセージを出力すれ
ば、運転員がテストスイッチ２８を操作するのを忘れた
場合に効果的である。

【００２８】高圧主蒸気止弁２６Ｊが閉状態になった後
テスト用電磁弁が非励磁状態となり、高圧主蒸気止弁２
６Ｊが全開状態に復帰し保安テストが終了する。保安テ
ストが終了すると、テスト結果から高圧主蒸気止弁２６
Ｊが良好であるか否かが、テスト結果判断部１８で判断
される。この判断を行うに際しては、次の３項目を基に
おこなわれる。（１）テスト所要時間が規定値以内（２）テスト中の微少時間での弁開度変化率が規定値（３）正常な弁開閉パターン(時間対弁開度)とほぼ同一上記３項目のすべての条件を満たしたときにはテスト結
果が良として表示され、それ以外のときにはテスト結果
が否として表示される。

【００２９】なお、テスト所要時間や弁開度変化率の規
定値（正常値）は主蒸気圧力をパラメータとした所要時
間をあらかじめ設定しておくことにより、より正確な判
定結果を得ることができる。また弁開閉パターンも主蒸
気圧力のパラメータとした複数のパターンを準備するこ
とによりより正確な判定結果を得ることが可能である。
また、保安テストは、負荷運転中におこなうが、中央
給電指令所からのＡＦＣ信号によってプラントが制御さ
れている場合には、負荷制御ＡＬＲモード（発電所側主
制御モード）とすることによりより安定な状態で保安テ
ストを実施することが可能となる。

【００３０】このように、本実施例においては、プラン
トの運転状態が保安テストに適する状態にあるときにの
み保安テストを自動的に実施することができるため、プ
ラントの運転状態に悪影響を与えることなく、保安テス
トを実施することができるとともに運転員の負担を軽減
することができる。

【００３１】ここで、保安テスト結果の表示例について
図４を用いて説明する。保安テスト表示画面には、操作
項目名、テスト日時、テストの良否判断結果、動作曲線
などが表示される。本画面は、テスト中の間、常時表示
部１６の画面に表示し、そのテスト過程を動作曲線によ
り監視することが可能であるが、例えば、結果が「否」
の場合にのみ自動的に表示することも可能である。ま
た、保安テストは、前回の実績が参考となることが多い
ため、前回もしくは、それ以前に実施した結果（図４中
の動作曲線のうち２点破線で示されているもの）を今回
実施（図４中の動作曲線のうち実線で示されているも
の）に付加して表示することも可能である。保安テスト
の結果は、保安テスト履歴として、テスト結果記憶部１
５に記憶され、この内容は、入力部１１を操作すること
により、逐次、表示部１６に表示させることができる。
保安テストにより高圧主蒸気止弁２６Ｊが不良である
と判断されたときには、画面に「否」と表示されると共
に、不良原因も表示される。

【００３２】この不良原因の表示について図５のフロー
チャートに従って説明する。保安テストを実施すると
（ステップ１１）、テスト結果判断部１８でテスト結果
の良否が判断される（ステップ１２）。テスト結果が良
である場合には、直ちに画面上に「良」と表示される
（ステップ１３）。テスト結果が不良である場合には、
記憶処理部１４がテスト結果記憶部１５内を検索し（ス
テップ１４）、類似する実績がなければ（ステップ１
５）、テスト結果の「否」を表示すると共に、予め登録
されている不良原因候補を表示する（ステップ１７）。
ここで、高圧主蒸気止弁２６Ｊの不良原因として考えら
れるものとしては、「弁棒スティック異常」、「テスト
用電磁弁異常」、「弁開度検出系異常」が揚げられる
が、本実施例では、これら全てを表示する。また、類似
する実績があれば（ステップ１５）、テスト結果の
「否」を表示すると共に、前述した不良原因候補のうち
類似する実績の不良原因を他の不良原因と区別して表示
する（ステップ１６）。

【００３３】本実施例では、類似する実績の不良原因が
「弁棒スティック異常」あったため、これを他の不良原
因と区別するために、そこの表示領域の色を変えてい
る。過去の類似する実績（図４中の動作曲線のうち１点
破線で示されているもの）は、今回の実績および前回の
実績と共に、画面上に表示される。

【００３４】不良原因は、保安テストの結果が不良であ
ると判断された後に行う機器の点検の際に、実際に確認
して、これを入力部１１から保安テスト結果と対応させ
てテスト結果記憶部１５に入力しておく。なお、ステッ
プ１４およびステップ１５における過去の実績から不良
原因の抽出動作は、記憶処理部１４によって行われてい
る。このように、不良原因が表示されると、操作員は不
良原因を除去するための対応をとることになるが、実際
には、「再現テスト」と称して、再度同一の保安テスト
を繰り返して詳細原因の究明にあたることが多い。

【００３５】本実施例では、再度行う保安テストを自動
的に実施している。この動作について図６のフローチャ
ートを用いて説明する。保安テストを実施して（ステッ
プ２１）、テスト結果が良好であると判定されると（ス
テップ２２）前述したように直ちに「良」と表示される
が（ステップ２７）、テスト結果が不良であると判定さ
れると（ステップ２２）、再度保安テストが実施される
（ステップ２３）。そして、再テスト回数がカウントさ
れてから（ステップ２４）、再テストの結果が判定され
る（ステップ２５）。このとき、テスト結果が不良であ
れば、直ちに「否」と表示される。また、テスト結果が
良好であれば、再テストの回数が１回目か否かが判断さ
れた後（ステップ２６）、再度、再テストが実施される
（ステップ２３）。このテスト結果が不良である場合に
は（ステップ２５）、画面に「否」と表示さ（ステップ
２８）、テスト結果が良好である場合には（ステップ２
５）、２度の再テストが良好なので、最初に行った保安
テストはテスト環境等の影響によるテストミスと判断し
て、画面に「良」と表示する（ステップ２７）。ここ
で、再テストの指示は、最初の保安テストと同様に、テ
スト指示処理部１７で実施されるが、テスト許可条件判
定処理部１３で判定では、タイマＴ₁とのＡＮＤ条件は
考慮されず、つまり、テスト時期に関しては考慮され
ず、高圧主蒸気止弁２６Ｊがテストの実施に適した状態
であるか否かのみが考慮される。

【００３６】なお、この実施例では、再テストを２回行
うようにしているが、再テストの回数は、固定的に決定
できるものではなく、機器の重要性などを加味して機器
ごとに決定すべきものである。したがって、再テストの
回数は、機器の重要度が低いものであれば１回でもよい
し、また機器の重要度が高いものであれば３回以上行う
ようにしてもよい。

【００３７】保安テストの結果が不良であった場合、以
上のように、直ちに再テストを実施する方法があるが、
これとは別に、または、併用して、保安テストの実施間
隔を短縮して行なうことも可能である。つまり、保安テ
ストの結果が不良であった場合には、前述した再テスト
によるなどして原因を究明し、対策することになるが、
一度不具合を発生した機器は応々にして不具合が再発す
ることも考えられ、このため、次回の保安テストの実施
時期を早める（例えば通常の周期の半分にする）ことは
望ましいことである。これは、人間に例えていえば、年
１回の定期健康診断により体の異常が発見された場合、
これを完治させたとしても、以降当面の間は、診断の頻
度を例えば半年に一回とするという処置をとるようなも
のである。

【００３８】保安テストの結果が不良であった場合に保
安テストの実施間隔を短縮するものに関して、図７のフ
ローチャートを用いて説明する。保安テストを実施し
（ステップ３１）、テスト結果が良好であれば（ステッ
プ３２）、テストの実施間隔を短縮することなく、次回
の保安テストを実施する（ステップ３７）。保安テスト
の結果が不良であれば（ステップ３２）、保安テストの
実施間隔を短縮する（ステップ３２）。実施間隔の短縮
は、テスト結果判断部１８からの指示を受けて、テスト
実施タイミング処理部１２が、自身に記憶している実施
間隔を変更することで行われる。そして、短縮された実
施間隔で次の保安テストが実施され（ステップ３４）、
テスト結果が良好であるか否かの判定が行われる（ステ
ップ３５）。このテスト結果が良好であれば、実施間隔
を元に戻し（ステップ３６）、次回からは定例の実施間
隔で保安テストが実施される（ステップ３７）。テスト
結果が不良であれば、実施間隔が短縮されたまま次回の
保安テストが実施される（ステップ３７）。なお、テ
スト結果が２回連続して不良と判定されたときに、さら
に実施間隔を短くするようにしてもよい。また、実施間
隔を元に戻すにあたり、１回のテスト結果の良好で実施
間隔を元に戻すのではなく、テスト結果が２回またはこ
れ以上連続して良好である場合に、実施間隔を戻すよう
にしてもよい。

【００３９】次に、高圧蒸気加減弁２６Ｈの保安テスト
について、図８に基づいて説明する。高圧蒸気加減弁
２６Ｈの保安テストを行う場合には、図８に示されるよ
うに、実施時期を１ヶ月とすることにより高圧主蒸気止
弁２６Ｊと同様に保安テストを自動的に行うことができ
る。

【００４０】次に、ＳＴ(Steam Turbin)トリップ電磁弁
の保安テストについて図９に基づいて説明する。ＳＴト
リップ電磁弁は、図２中に図示されていないが、高圧主
蒸気止弁２６Ｊを制御するもので、高圧主蒸気止弁２６
Ｊのアクチュエータに直列に２台接続されているもので
ある。

【００４１】ＳＴトリップ電磁弁の保安テストの実施
は、１台の電磁弁１の実施時期を１週間とし、他の１台
の電磁弁の実施時期を１週間＋αとし、さらにテストを
実行するための判定条件として、蒸気タービン２６Ｄが
停止フェイズでないこととする。蒸気タービンのトリッ
プは通常週に一回おこなわれるため、前回テスト実施の
１週間後に実施すればよい。すなわち、１週間以内にユ
ニット停止によりＳＴトリップ電磁弁が必らず非励磁状
態となるので、この動作がまさしくＳＴトリップ電磁弁
の保安テストとなり、保安テストを省略することが可能
となる。しかし、ＳＴトリップ電磁弁は非励磁状態でト
リップ信号を出力するようになっているため、誤動作防
止の観点から電磁弁を２台設け、インターロックをＡＮ
Ｄ条件に組み、タービントリップ信号を生成するように
している。

【００４２】したがって、ＳＴトリップ電磁弁のテスト
は必ず片方ずつ実施しなければならない。すなわち両Ｓ
Ｔトリップ電磁弁が同時に非励磁状態になるとユニット
停止となるため、両ＳＴトリップ電磁弁の実施タイミン
グに若干の差αをもたせることとしている。この差αは
ＳＴトリップ電磁弁テストの所要時間以上にする必要が
ある。

【００４３】次に、ＳＴ先行非常調速機回路の保安テス
トについて図１０に基づいて説明する。ＳＴ先行非常調
速機回路は、蒸気タービン２６Ｄの負荷が突然なくなる
とタービンの回転数が急激に増加するため、これを防止
するための回路である。なお、この回路は図２中には図
示されていない。ＳＴ先行非常調速機回路の保安テスト
は、各回路Ａ，Ｂ，Ｃに対する実施時期を１週間に設定
し、保安テストを実施するための判定条件として起動フ
ェイズでなく、かつ停止フェイズでないこと、すなわち
蒸気タービンが運転中であることを条件として行う。

【００４４】次に、ＳＴ非常用油ポンプの保安テストに
ついて図１１に基づいて説明する。ＳＴ非常用油ポンプ
の保安テストの実施には、油ポンプが停止した状態が１
週間継続された時間を実施時期とし、テスト条件の判定
項目として起動フェイズでなくかつ停止フェイズでない
ことを検出する。そして実施指令により油ポンプを起動
を抜いて油圧を下げ、油ポンプを起動させる。そして油
ポンプを停止させる場合には、油ポンプの吐出圧が規定
値以上になったことが一定時間以上継続されたことを条
件にテスト弁を通常側とし油ポンプを停止させる。

【００４５】次に、復水器逆洗弁２６Ｇの保安テストに
ついて図１２に基づいて説明する。

【００４６】復水器逆洗弁２６Ｊの保安テストは、逆洗
弁正洗位置が２４時間継続されたときを実施時期とし、
海水系統マスタ進行中でないこと、循環水ポンプ２６Ｆ
が運転中、復水器２６Ｌが真空正常であることをテスト
条件の判定項目として実施する。

【００４７】復水器逆洗弁２６Ｇの保安テストを自動で
実施する場合には、復水器逆洗弁２６Ｇの逆洗操作が自
動的に行われ、逆洗位置に至ったことを条件として３０
分後に逆洗弁２６Ｇを正洗位置へ戻す処理を行う。そし
て、逆洗弁２６Ｇを逆洗状態あるいは正洗状態にあるか
否かにより実施結果の良否が表示される。そして実施結
果が否のときにはその推定原因として逆洗弁ステック、
逆洗弁モータの電気系の故障が表示される。

【００４８】以上、高圧主蒸気止弁２６Ｊ、高圧蒸気加
減弁２６Ｈ、ＳＴトリップ電磁弁、先行非常調速機回
路、ＳＴ非常用油ポンプ、復水器逆洗弁２６Ｇの保安テ
ストについて、具体的に説明したが、これらのものは、
高圧主蒸気止弁２６Ｊ以外でも、高圧主蒸気止弁２６と
同様に、保安テスト支援装置１０により、再保安テス
ト、不良原因の表示等が実施されることは言うまでもな
い。

【００４９】以上各種機器に対する保安テストの結果
は、前述したように、テスト結果記憶部１５に記憶され
るが、１つプラントにおいて保安テストの対象となる機
器は、多数存在し、かつ定期的に繰り返して保安テスト
が行われるので、保安テスト支援装置１０に必要な記憶
容量は膨大なものになる。保安テストの結果の保存に
は、法令または各発電所等で定めた基準に基づく保管期
限があり、この期限を過ぎたものは、不必要なメモリ増
大、情報の混乱を避けるため、消去の対象となる。

【００５０】保安テスト結果の消去には、種々の手法が
考えられるので、図１３を用いて、消去手法について説
明する。保安テストを実施し（ステップ４１，４２）、
この結果を保存する際には、テスト結果記憶部１５内に
保存されているもののうち、保存期限を過ぎたものがあ
るか否かが、記憶処理部１４で判断される（ステップ４
３）。保存期限の過ぎたものがなければ、このテスト結
果は、直ちにテスト結果記憶部１５に保存される。保存
期限の過ぎたものがあれば、テスト結果の重要性や対象
となった機器の重要性などを考慮して、保存期限の過ぎ
たもののうち、以下の３種類の手法により消去される。
ケース１：保存期限の過ぎたものは全て消去される（ス
テップ４４−１）。ケース２：保存期限の過ぎたものの
うち、テスト結果が不良であったもの以外は、全て消去
される（ステップ４４−２）。したがって、保存期限の
過ぎたものでもテスト結果が不良であるものは保存され
る。ケース３：保存期限の過ぎたもののうち、テスト結
果が不良であったものと、テスト結果が良好のテスト項
目と実施期日以外、全て消去される（ステップ４４−
３）。保存期限の過ぎたものの消去が終わると、テスト
結果が保存される（ステップ４５）。このテスト結果の
保存では、再テスト結果は無論保存するが、再テスト前
のテスト結果を書き換えて保管するか、再テスト前のテ
スト結果に再テスト結果を付加して保管するかは、いず
れでも構わない。

【００５１】なお、保存期限が過ぎたものでも、非常に
珍しいテスト結果など保存が必ず必要なものに対して
は、テスト結果のデータの先頭などに消去不可を意味す
るコードなどを付加して、消去できないようにしてもよ
い。

【００５２】保安テストの結果は、図４に基づいて説明
したように、詳細に表示することもできるが、図１４に
示すように、各機器に対する保安テストを集計した形で
簡易に、表示することもできる。この表示画面には、テ
スト項目と、実施時日時、実施結果、不良原因などが表
示される。これらは、必要に応じて逐次テスト結果記憶
部１５から呼び出し、表示部１６で表示することができ
ると共に、図１中には図示していないがプリンタから保
安テスト実施結果報告書として出力することもできる。

【００５３】

【発明の効果】本発明によれば、保安テストの結果に応
じて次回の保安テスト時期を早くすることができ、機器
不良に起因するプラント異常等が発生する前に、保安テ
ストを行うことができるので、プラント異常を未然に防
ぐことができ、プラントの安定運転を図ることができ
る。

【００５４】さらに、過去の保安テストの履歴を利用し
て、不良原因を推定され、不良原因を把握することがで
きるので、機器の修理作業を素早く行うことができると
共に、確実な修理を行うことができるので、前述同様、
プラントの安定運転を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例に係る保安テスト支援装置の
機能ブロック図である。

【図２】本実施例に係る発電プラントの系統図である。

【図３】本実施例に係る高圧主蒸気止弁の保安テストの
動作を示すための説明図である。

【図４】本実施例の保安テスト結果の表示画面の説明図
である。

【図５】本実施例の不良原因を推定するためのフローチ
ャートである。

【図６】本実施例の再保安テストの実施手順を示すため
のフローチャートである。

【図７】本実施例の実施間隔が短縮された保安テストの
実施手順を示すためのフローチャートである。

【図８】本実施例に係る高圧蒸気加減弁の保安テストの
動作を示すための説明図である。

【図９】本実施例に係るＳＴトリップ電磁弁の保安テス
トの動作を示すための説明図である。

【図１０】本実施例に係る先行非常調速機回路の保安テ
ストの動作を示すための説明図である。

【図１１】本実施例に係るＳＴ非常用油ポンプの保安テ
ストの動作を示すための説明図である。

【図１２】本実施例に係る復水器逆洗弁の保安テストの
動作を示すための説明図である。

【図１３】本実施例の保安テスト結果の記録手順を示す
ためのフローチャートである。

【図１４】本実施例の保安テスト実施結果報告書の内容
を説明するための説明図である。

【符号の説明】

１０…保安テスト支援装置、１１…入力部、１２…テス
ト実施タイミング処理部、１３…テスト許可条件判定処
理部、１４…記憶処理部、１５…テスト結果記憶部、１
６…表示部、１７…テスト指示処理部、１８…テスト結
果判断部、２３…プロセス機器制御装置、２４…プロセ
ス情報処理装置、２６…プラント機器群。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者二川原誠逸茨城県日立市幸町三丁目１番１号株式会社日立製作所日立工場内 (72)発明者深井雅之茨城県日立市幸町三丁目１番１号株式会社日立製作所日立工場内 (72)発明者日下智茨城県日立市幸町三丁目１番１号株式会社日立製作所日立工場内 (56)参考文献特開平１−305108（ＪＰ，Ａ) 特開昭64−36040（ＪＰ，Ａ) 特開昭63−145588（ＪＰ，Ａ) 特開昭64−88892（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) G01D 21/00 G05B 23/02 G07C 3/00 - 3/06

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】プラント内の各種機器に対して行う保安テ
ストの実施を支援する保安テスト支援装置において、前記機器の不良原因を入力する入力手段と、前記保安テストの結果から、前記機器が良好であるか否
かを判断する機器状態判断手段と、前記保安テストの結果、および該保安テストの結果に対
応させて前記不良原因を記憶する記憶手段と、前記機器状態判断手段により前記機器が不良であると判
断されたときに、前記記憶手段から、該保安テスト結果
と類似している過去の保安テストを選び出し、該過去の
保安テストにおける不良原因を抽出する不良原因抽出手
段と、抽出された前記不良原因を表示する表示手段とを備えて
いることを特徴とする保安テスト支援装置。
【請求項２】前記表示手段は、前記不良原因を表示する
と共に、対応する前記過去の保安テストの結果も表示す
ることを特徴とする請求項１記載の保安テスト支援装
置。
【請求項３】定期的に前記機器の制御装置に対して保安
テストの実施を指示すると共に、前記機器状態判断手段
により前記機器が不良であると判断された場合に、再
度、前記機器の制御装置に対して保安テストの実施を指
示するテスト指示手段を備えていることを特徴とする請
求項１及び２のいずれか一項に記載の保安テスト支援装
置。
【請求項４】保安テストの実施間隔を記憶する実施間隔
記憶手段と、前記実施間隔記憶手段に記憶されている実施間隔に従っ
て、前記機器の制御装置に対して保安テストの実施を指
示するテスト指示手段と、前記機器状態判断手段により前記機器が不良であると判
断された場合に、前記実施間隔記憶手段に記憶されてい
る実施間隔を短くする実施間隔変更手段とを備えている
ことを特徴とする請求項１及び２のいずれか一項に記載
の保安テスト支援装置。
【請求項５】前記実施間隔変更手段は、一旦実施間隔を
短くした後に行われる保安テストで、１回または２回以
上連続して前記機器が良好であると判断されたときに、
前記実施間隔を元の実施間隔に変更することを特徴とす
る請求項４記載の保安テスト支援装置。