JP2970897B2 - プローブカードの割り振り装置 - Google Patents

プローブカードの割り振り装置

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JP2970897B2 JP13264994A JP13264994A JP2970897B2 JP 2970897 B2 JP2970897 B2 JP 2970897B2 JP 13264994 A JP13264994 A JP 13264994A JP 13264994 A JP13264994 A JP 13264994A JP 2970897 B2 JP2970897 B2 JP 2970897B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プローブカードの割り
振り装置に係り、特にディスプレイ上にグラフィック的
に表示されたウエハとチップのレイアウトを見つつ割り
振り行うことができる割り振り装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体製品のプロセス工程にお
いては、一枚の半導体ウエハ上に縦横に整然と配列させ
て多数のチップを形成するが、これらのチップが全て良
品とは限らないので、プロセス工程の最終段に近くなっ
たところで、カッティングする前にウエハ状態のままで
個々のチップについて電気的特性の検査を行い、不良チ
ップをスクリーニングするようにしている。
【0003】この検査は一般的にはプローブ装置を用い
て行われている。このプローブ装置は、多数のプローブ
針を有するプローブカードを備えており、このプローブ
針を半導体ウエハ上の個々のチップが有する電極パッド
に接触させ、このプローブ針から所定の検査信号を加え
て個々のチップが基本的な電気的特性を有しているか否
かをテスタを介して試験するようになっている。この場
合、プローブ針は、1つのチップの電極パッド或いは複
数のチップの電極パッドに同時に接触し、1つのチップ
毎或いは複数のチップ毎同時に検査し、プローブカード
とチップとを相対移動させて原則的には全チップに対し
て検査が行われる。
【0004】ここで図15に基づいて一般的なプローブ
装置について説明する。プローブ装置2のプローブ本体
4には、半導体ウエハWを支持するウエハ載置台6が設
けられており、このウエハ載置台6はX、Y、Zステー
ジにより平面内(X方向及びY方向)及び高さ方向(Z
方向)に移動可能になされている。このウエハ載置台6
の上方には多数のプローブ針8を植設してなるリング状
のプローブカード10が固定されており、上記ウエハ載
置台6を移動させることにより、任意のチップの電極パ
ッドを上記プローブ針8に接触し得るようになってい
る。
【0005】プローブ本体4の上方には、一端を支点と
して起倒自在になされたテストヘッド12が設けられ、
これを倒した時に、図示しないポゴピンを介して上記各
プローブ針8と導通状態となり、テストヘッド12に接
続される図示しないテスタにより各チップの検査が行わ
れる。また、プローブ本体4には、この装置全体の動作
を制御したり、各チップに対する測定条件等を設定する
ためのコンピュータ14が並設されており、このディス
プレイ16には各種の情報、例えばプローブカード10
或いはその近傍に設けたマイクロスコープ18からのチ
ップの映像等を写し出せるようになっている。
【0006】ところで、最近にあってはプローブカード
の製造技術の向上やテスタの性能の向上にともなって、
2個、4個或いは8個等、複数のチップを同時に測定す
る装置が開発されており、この種の装置のプローブカー
ドは複数個のチップの電極パッドに同時に接触し得るだ
けの多数のプローブ針を有している。例えば図16にお
いて破線で示す境界線により略正方形状に成形された多
数のチップCを2個同時に検査するプローブカード10
は図17に示すように構成され、例えばその中心には2
個のチップCを横並びにした時と略同じ大きさの開口部
20を形成し、この縁部にその長さ方向に多数のプロー
ブ針8を植設して2個のチップの電極パッドに対して同
時接触可能としている。このようにプローブカードのプ
ローブ針が同時接触可能なチップの数を表す言葉として
マルチ数が使われ、その時の測定できるチップの並び方
向を特定するためにロケーションの言葉が用いられる。
【0007】例えば図18に示すような形状を1チップ
の大きさとすると図19(A)に示すように横方向に2
個配列したチップを同時に測定できるプローブカードは
マルチ数は2、ロケーションはX(方向)として表さ
れ、図19(B)に示すように縦方向に2個配列したチ
ップを同時に測定できるプローブカードはマルチ数は
2、ロケーションはYとして表される。同様にして、図
20(A)に示す場合はマルチ数は4、ロケーションは
X、図20(B)に示す場合はマルチ数は4、ロケーシ
ョンは2(Y)×2(X)、図20(C)はマルチ数は
4、ロケーションはY、図21(A)に示す場合はマル
チ数は8、ロケーションはX、図21(B)に示す場合
はロケーションは2(Y)×4(X)としてそれぞれ表
される。
【0008】ところで、所望する全チップを測定する場
合にプローブカードとウエハとをどのように相対移動さ
せてプローブ針を接触させれば効率的に検査することが
できるかという点は大きな関心事であり、測定前にオペ
レータはプローブカードに対するウエハの移動順序、す
なわちプローブカードの割り振りを設定する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上述のようにプローブ
カードの割り振りを設定する場合には、まずウエハ載置
台6上に実際にウエハWを載置し、これをマイクロスコ
ープ18によりディスプレイ16に写し出した状態でプ
ローブカードの基準位置を、表示されたチップ上に順次
割り付けて全チップに対してカードの割り振りを行うよ
うになっている。
【0010】しかしながら、この場合、実際のウエハを
マイクロスコープで写し出しながらカード割り振りを行
うことから、装置メモリには割り付け順序が座標として
記憶されているが、ディスプレイ上にはその割り振り順
序が何ら表示されるものでなく、後で割り振り順序を確
認する場合にはウエハを保持しているX、Yステージが
実際に割り振り順序に従って動くだけであり、これを十
分に確認できない場合があった。
【0011】また、測定後において再度、割り振り順序
を確認しようと思っても、電極パッドには単に針跡が付
いているだけなのでこの場合にも割り振り状態を十分に
確認することはできなかった。
【0012】本発明は、以上のような問題点に着目し、
これを有効に解決すべく創案されたものである。本発明
の目的は、グラフィック的に表示した半導体ウエハの表
示面上にグラフィック的なチップをレイアウト表示させ
てこれにカード割り振り位置も表示させることができる
プローブカードの割り振り装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点を
解決するために、半導体ウエハ上に形成された多数のチ
ップの電気的特性を、同時に複数個のチップと接触可能
な分のプローブ針を有するプローブカードを用いて検査
する時のプローブカードの割り振りを行うプローブカー
ドの割り振り装置において、入力手段と、ウエハ情報と
チップ情報とに基づいてイメージ上のウエハにイメージ
上のチップを配列して各チップに座標を付ける座標演算
手段と、この座標演算手段で求めた座標とチップを関連
させて記憶するチップ座標記憶部と、複数のカード割り
振りモードを予め記憶した割り振りモード記憶部と、前
記チップ座標記憶部の情報と前記割り振りモード記憶部
の情報とプローブカードの情報と前記入力手段からの指
令に基づいてカード割り振り位置を設定するカード割り
振り手段と、このカード割り振り手段で設定されたカー
ド割り振り位置を前記チップと関連させて記憶するカー
ド割り振り位置記憶部と、前記チップ座標記憶部の情報
に基づいてイメージ上のウエハにイメージ上の各チップ
をレイアウト表示すると共に前記カード割り振り位置記
憶部の情報に基づいてカード割り振り位置情報を表示す
る表示手段とを備えるように構成したものである。
【0014】
【作用】本発明は、以上のように構成したので、半導体
ウエハのサイズ、オリエンテーションフラットの方向等
のチップ情報やチップサイズ等のチップ情報を入力手段
から入力すると、この情報に基づいて座標演算手段はイ
メージ上のウエハに対してイメージ上のチップを縦横に
配列して各チップに対して座標を付与する。ここで得ら
れた座標情報はチップと関連させてチップ座標記憶部に
記憶されると同時に、そのウエハとチップのイメージが
重ね合わされて表示手段に表示される。
【0015】オペレータは、割り振りモード記憶部に記
憶された割り振りモードから所望のモードを選択し、こ
の表示画像を見ながら入力手段を用いてカード割り振り
を自動或いは手動で入力する。すると、カード割り振り
手段は、チップ座標記憶部の情報と割り振りモード記憶
部の情報とプローブカードの情報と入力手段からの指令
に基づいてカード割り振り位置を設定する。
【0016】ここで設定されたカード割り振り位置はチ
ップと関連させてカード割り振り位置記憶部に記憶され
ると同時に、表示手段にはウエハ、チップと同時に割り
振り位置情報が重ね合わされてレイアウト表示されるこ
とになる。従って、オペレータは、ウエハ上にカード割
り振り位置がどのようになっているかを視覚的に確認す
ることが可能となる。また、このような割り振り操作
は、実際のウエハやプローブ装置を用いることなくソフ
トウエア的に行なうことができる。
【0017】
【実施例】以下に、本発明に係るプローブカードの割り
振り装置の一実施例を添付図面に基づいて詳述する。図
1は本発明に係るプローブカードの割り振り装置を示す
ブロック図、図2はプローブカードの割り振り装置を構
成するコンピュータのブロック図、図3は図2に示すカ
ード割り振り部の自動割り振りモードを示す構成図、図
4はカード割り振り部の最適割り振りモードを示す構成
図、図5はカード割り振り部の任意割り振りモードを示
す構成図である。
【0018】本発明の割り振り装置22は図15に示す
ようにプローブ本体4に並設したコンピュータ14とし
て構成し、ここで作成したプローブカード割り振り用の
プログラムに従って、直接プローブ本体4の動作を制御
させるようにしてもよいし、別個独立に設けたコンピュ
ータにおいてプローブカード割り振り用のプログラムを
作成し、これを上記コンピュータ14に取り込んでプロ
ーブ本体4を動作させるようにしてもよい。
【0019】図2に示すようにこの割り振り装置22
は、LCD(液晶表示装置)、CRT(陰極線管)等よ
りなる表示手段24と、記憶装置26と、制御装置28
と、キーボード30やマウス32等の入力手段34をア
ドレスバス、制御バス、データバスよりなるバス36に
より相互に接続して構成されている。
【0020】この割り振り装置22を図1に基づいて具
体的に説明すると、各種のデータや指令を入力する入力
手段34は上述のようにキーボード30やマウス32等
よりなり、入力手段としては、これらに限定されない。
また、表示手段24は、実際に映像を写し出すLCDや
CRT等の表示部38とこの表示を制御する表示制御部
40とにより構成される。この表示部38においては、
後述するように半導体ウエハとこの中に縦横に配列され
る多数のチップがグラフィック的に表示され、同時にオ
ペレータによって或いは自動的に設定されたカード割り
振り位置を示す情報も表示される。
【0021】42は座標演算手段であり、上記入力手段
34より入力されたウエハサイズやオリエンテーション
フラット(オリフラ)の方向等のウエハ情報と、チップ
の縦横(x、y)のサイズ等のチップ情報とに基づいて
イメージ上のウエハ上に四角形のイメージ上のチップを
縦横に自動的に配列し、各チップに対して座標を付す。
ここで求められた各チップのイメージと座標とは関連付
けられて例えばRAM等よりなるチップ座標記憶部44
に記憶され、また、この記憶内容は表示制御部40を介
して表示部38に表示される。この時の表示状態は例え
ば図11(A)に示すように示され、オリフラの部分を
除いて円板状にグラフイック的に表示されたウエハ内に
多数のチップ像がグラフィック的に表示されたウエハマ
ップが表示される。
【0022】上記座標演算手段42には、予めウエハサ
イズ、オリフラの方向、チップサイズ、及びマルチ数や
ロケーションなどのプローブカードに関する情報等をフ
ァイルとして登録してある例えばROM等よりなるファ
イル記憶部46を接続して設けてもよく、入力手段34
から所望する品種ファイル名のパラメータを入力するこ
とにより、そのデータを座標演算手段42へ入力する。
【0023】48は例えばROM等よりなるカード割り
振りモード記憶部であり、この記憶部48内には、本実
施例においては自動割り振りモード、最適割り振りモー
ド、任意割り振りモードの3種類のモードが記憶されて
おり、後述するようにオペレータにより選択可能になさ
れている。
【0024】尚、割り振りモードは上記3種類に限定さ
れず、必要に応じて増減できるのは勿論である。ここで
自動割り振りモードとは、ウエハとプローブカードとの
コンタクト位置を自動的に計算してコンタクト位置を割
り振るモードであり、この時、コンタクト位置とウエハ
上のチップとの関係は縦横方向において均等にコンタク
トするように設定される。最適割り振りモードとは、ウ
エハ上でプローブカードがコンタクトする回数が最も少
なくなるように自動的にコンタクト位置を割り振るモー
ドである。任意割り振りモードとは、コンタクト位置を
マウス或いはキーボードのカーソル移動キーで移動させ
てウエハとカードとのコンタクト位置を任意に設定でき
るモードである。
【0025】50は複数のメニューを記憶するメニュー
記憶部であり、このメニュー記憶部50には、このコン
ピュータを動作する上で必要とされる各種の操作メニュ
ーや、測定条件設定時に必要とされるマップ初期化、カ
ードの割り振り時に使用するカード割り振り等のメニュ
ーが記憶されている。これらのメニューは必要に応じて
増減できるのは勿論である。
【0026】「マップ初期化」が選択されると、ウエハ
内の全てのチップがテスト対象チップとなる。「カード
割り振り」が選択されるとカード割り振りモードが動作
可能状態となる。
【0027】52はカード割り振り手段であり、この割
り振り手段52は上記チップ座標記憶部44の情報、カ
ード割り振りモード記憶部48の情報及び入力手段34
からの指令に基づいて前記ウエハのチップとプローブカ
ードとのコンタクト位置関係を設定するものである。
【0028】この場合、上記カード割り振り手段52
は、前述した3つの割り振りモードの内、選択されたモ
ードに従ってカード割り振り位置すなわちコンタクト位
置を設定する。従って、このカード割り振り手段52
は、上記3つの割り振りモードに対応させて図3に示す
自動割り振り部54、図4に示す最適割り振り部56、
図5に示す任意割り振り部58を併せて持っている。
【0029】図3に示す自動割り振り部54は、表示さ
れたウエハマップ上のX軸の最小値を求めるX軸最小値
部60A、X軸の最大値を求めるX軸最大値部60B、
Y軸の最小値を求めるY軸最小値部62A、Y軸の最大
値を求めるY軸最大値部62Bを有している。上記X軸
最小値部60A、X軸最大値部60BにはX方向はみ出
し量演算部64Aが接続され、これらの情報、カード情
報の内のカードX方向のチップ数NxよりX方向最大幅
の行位置においてカードを整数倍にレイアウトした時の
端部におけるはみ出し量Xhを求めるようになってい
る。この時の状態は図12(A)に示されており、図1
2(A)において上段はX方向最大幅のチップ列を示
し、下段は仮定的なカード割り振り位置を示す。この場
合プローブカードは一例としてX方向に4つ配列された
チップを同時に測定できるものであることからマルチ数
4で且つロケーションはXとなるカードを例にとって説
明する。
【0030】66Aは上記X方向はみ出し量演算部64
Aの出力に基づいて、カード割り振り位置がウエハの左
右(X方向)にて略均等になるようにX軸のカードレイ
アウトの左端開始位置Xsを求める左端開始位置決定部
66Aである。この時の状態は図12(B)に示されて
おり、チップ列に対するカードレイアウトの左右方向の
はみ出し量が略均等(差があってもチップ1つ分の差)
になるようにカード割り振り位置が決定される。この場
合、右方向から開始位置を決定するようにしてもよい。
同様にして、Y軸最小値部62A、Y軸最大値部62B
にもY方向はみ出し量演算部64Bが接続され、前述と
同様にY方向の下端部におけるはみ出し量Yhを求める
ようになっている。
【0031】また、上記Y方向はみ出し量演算部64B
には、同様にY方向における上端開始位置ys を求める
上端開始位置決定部66Bが接続されている。この場
合、下方向から開始位置を決定するようにしてもよい。
68は、上記左端及び上端開始位置決定部66A、66
Bの出力に基づいてウエハの左上部側を基準としてカー
ド割り振りを自動的に行う自動割り振り演算部68であ
る。このようにして求められたカード割り振り位置のレ
イアウトの一例は図11(C)に示される。
【0032】図4に示す最適割り振り部58は、図3に
示す自動割り振り部54と略同様に構成されているが、
異なる点は図3に示す自動割り振り部54はウエハ全面
に亘ってカード割り振り位置が均等にレイアウトされる
ように決定されるが(図11(C)参照)、図4に示す
最適割り振り部56はウエハ上のチップの各行、Y方向
にカードのロケーションが複数ある場合にはその複数行
毎に左端及び上端開始位置を決定してカード割り振り位
置を求める点にある。このように各行毎或いは複数行毎
に自動割り振りを行わせるために割り振り対象となる行
を示すインクリメント部67が設けられている。これに
より、最小のコンタクト数で全チップに対してコンタク
トが可能となる。このようにして求められたカード割り
振り位置のレイアウトの一例は図11(D)に示され
る。
【0033】図5に示す任意割り振り部58は、カード
基準位置決定部70を有しており、カードの基準位置、
例えば4つのチップを同時に測定できる4チャネルのプ
ローブカードにあっては第1チャネルを基準位置として
この第1チャネルをウエハチップ上のどの座標に位置さ
せるかを入力手段34からの指令により決定する。これ
により、カード割り振り位置をウエハ上の任意の場所に
レイアウトすることが可能となる。
【0034】ここで図1に戻り、72はカード割り振り
位置記憶部であり、上記カード割り振り手段52におい
て設定されたカード割り振り位置とチップとを関連させ
て記憶するようになっている。従って、この記憶内容に
基づいて前記表示部36にはグラフィック的に表示され
たチップ上にカード割り振り位置が重ね合わせて表示さ
れることになる。この時の表示状態は例えば図11
(C)或いは図11(D)に示されている。
【0035】次に、以上のように構成された装置の動作
を図6乃至図10に示すフローチャートも参照しつつ説
明する。尚、本実施例にあってはプローブカードのプロ
ーブ針が一度に接触して測定し得るチップ数は前述のよ
うにX方向に直線状に配列された4チップである場合を
例にとって説明する。従って、この時のプローブカード
情報は、マルチ数は4、ロケーションはXとして与えら
れる。また、この実施例にあっては入力手段32として
マウス30を用いた場合を例にとって説明する。
【0036】まず、装置を起動すると図14に示すよう
に初期画面が表示部38に表示され、「マップ初期
化」、「カード割り振り」等の各メニュー、ウエハやチ
ップ等に関する情報項目例えば品種名、ウエハサイズ、
チップサイズ、オリエンテーションフラットの方向やカ
ード情報項目、例えばマルチ数、ロケーションが表示さ
れて入力待ち状態となる(S1)。
【0037】入力待ち情報ではマウス釦が押して離され
たか、すなわちクリックされたか否かが常に判断され
(S2)、クリックされない場合(NO)には常に入力
待ち状態となる。マウス32がクリックされた場合には
(YES)、その時のマウスポインタ74が「マップ初
期化」を指しているか(S3)、「カード割り振り」を
指しているか(S4)が判断される。S3にてマウスポ
インタ74が「マップ初期化」を指していると、ウエハ
マップは初期化され(S5)、グラフィック的に描かれ
たウエハ内の全てのチップがテスト対象となった旨が表
示される。この場合、ウエハサイズ、オリフラの方向、
チップサイズ等は、初期化用に予め設定されたものが使
用され、例えば4、5、6、8インチウエハの内、8イ
ンチウエハ、オリフラの方向0°、90°、180°、
270°の内、0°がそれぞれ自動的に選択されること
になる。
【0038】一方、S4にて「カード割り振り」が選択
されると、次に品種名が入力済みか否かが判断され(S
6)、YESの場合には入力されたパラメータに基づい
てファイル記憶部46から該当するファイルが読み出さ
れて、ウエハサイズ、オリエンテーションフラットの方
向、チップサイズ、プローブカードの情報等が座標演算
手段40に取り込まれる(S7)。そして、この取り込
まれた情報に基づいてイメージ上のウエハ上にイメージ
上のチップが割り振られてこれに基づいて表示部38に
はウエハ上にチップがレイアウト表示されてウエハマッ
プが形成される(S8)。これと同時にレイアウト表示
される各チップには座標が付けられ、このチップ座標は
チップ座標記憶部44に記憶される(S9)。
【0039】この場合、ウエハセンタに位置する基点チ
ップを基準座標(0、0)として各表示チップの座標が
決定されることになる。この時の表示状態は図11
(A)に示されており、ウエハ像GW内に割振られた多
数のチップ像GCがグラフィック的に表示されて、ウエ
ハセンタに位置するチップが基準チップとなっている。
また、ウエハサイズ、チップサイズ、カード情報(デー
タ)等も表示部38に表示され、例えばこの場合にはカ
ードデータのマルチ数は4、ロケーションはXとなる。
【0040】また、S6にて品種名が入力されておらず
且つウエハサイズ、オリエンテーションフラットの方
向、チップサイズ、カードの情報(データ)も入力され
ていない場合には(S10)、入力待ち状態となり(S
11)、また、これらの全ての情報が入力手段34によ
りオペレータにより入力された場合には(S10のYE
S)、前述と同様にこの入力情報に基づいて座標演算手
段42はイメージ上のウエハ上にイメージ上のチップを
割り振り、この演算結果をチップ座標記憶部44に記憶
すると同時に表示部38に図11(A)に示すようにウ
エハGWとチップGCとをレイアウト表示する。チップ
のレイアウト表示がなされると同時に、この表示像の上
方のエリアには(図14参照)、「自動設定モード」、
「最適化モード」、「任意指定モード」等のカード割り
振りモード選択用のメニューが表示される(S12)。
【0041】次に、オペレータは、この3種類のカード
割り振りモードからマウスを用いて所望のモードを選択
する。まず、マウス釦が押されて離されたか否かが常時
判断され(S13)、YESの場合にはその時のマウス
ポインタ74が3種類のカード割り振りモードメニュー
のいずれかを指しているか否か判断される(S14)。
この判断は、割り振りモードメニューのいずれかが指示
されるまで行われる。
【0042】ここでまず、3種類のカード割り振りモー
ドの内、「自動設定」が選択された場合について説明す
る。S15において「自動設定」が選択されると、カー
ド割り振り手段52においてウエハの左右方向へ略均等
にカードが割り振られるように自動的に割り振りのレイ
アウトが計算される(S16)。
【0043】この計算手順は、まず、上記したチップ座
標記憶部44の記憶データに基づいてウエハマップ上の
全チップ座標の内、X軸方向における最小値、すなわち
X軸最小値=xmin と最大値、すなわちX軸最大値=x
max を求め(図11(B)参照)、これらの差より、カ
ード情報の内でプローブカードのX方向における一度に
同時測定可能なチップ数Nx、本実施例ではNx=4を
用いてX方向最大幅となる行位置にてカードを割り振っ
た時に、ウエハ端部にてどの位、カードがはみ出すかそ
のはみ出し量Xhを下記式に基づいて計算する。
【0044】 {(xmax −xmin )+1}/Nx=Q・・・R はみ出し量Xh=Nx−R 尚、Qは割り算の計算結果の商(整数)、Rはその余り
である。この時の計算を図示的に示すと図12(A)の
ようになる。本実施例では、上記式に具体的数値を入れ
ると下記式のようになる。
【0045】{(−4+4)+1}/4=2・・・1 はみ出し量Xh=4−1=3 ここで、xmax とxmin の差に1を加える理由は座標
(0、0)のチップを数に加えるためである。
【0046】次に、S17にてX軸方向におけるカード
レイアウト時の左端開始位置xs を下記式に基づいて計
算する。 xs =Xmin −[Xh/2] 但し、[Xh/2]は切り捨てを行った時の整数であ
る。
【0047】上記式の意味するところは、X方向にカー
ドレイアウトを施した時に、ウエハの両端からのはみ出
し量が略同じ量になるように設定するためである。この
時の計算を図式的に示すと図12(B)のようになる。
上記式に具体的数値を入れると下記式のようになる。 xs =−4−[3/2]=−5
【0048】すなわち座標(−5、0)がカードレイア
ウトの開始位置となり、ウエハの左端部からはチップ1
個分の長さがはみ出し、右端部からはチップ2個分の長
さがはみ出すことになる。尚、この実施例ではウエハの
左側からカードレイアウトを開始するようにしたが、こ
れをウエハ右側から行うようにしてもよいし、また、上
記式で[Xh/2]の値を切り捨てを行った時の整数と
規定したが、これを切り上げを行った時の整数と規定し
てもよい。
【0049】次に、S16及びS17にてX方向につい
て行ったと同様な処理をS18において、カードのY方
向についても同様に行い、Y軸の上端開始位置ys を求
める。このようにしてレイアウト開始座標(xs 、y
s )が求まったならばこの座標(xs 、ys )にプロー
ブカードの左上部(この実施例の場合にはY方向へは一
列しかないのでプローブカードの左端の第1チャネル)
を配置し、ここを基準としてX方向(行方向)及びY方
向(列方向)にウエハマップ上にカード割り振りをして
カードのレイアウトを行い、それを表示部38に表示す
る(S19)。この時の表示状態は図11(C)に示さ
れており、各カード割り振り位置の座標は、(xs 、y
s )=(x1、y1)、(x2、y2)=(x3、y
3)……(xn 、yn )のようになる。
【0050】また、ここで求められた各カード割り振り
位置の座標は、カード割り振り位置記憶部72に記憶さ
れ(S20)、最終的にファイル化され(S21)、こ
のファイル化されたプログラムに基づいてプローブ装置
が操作されることになる。このように自動割り振りモー
ドの場合には、図11(C)に示すようにウエハの中心
線を中心として左右に略均等になるようにカード割り振
り位置が決定される。
【0051】次に、カード割り振りモードの内、「最適
化モード」が選択された場合について説明する。この最
適化モードではプローブカードコンタクト回数が最も少
なくなるようにカード割り振り位置が自動的にレイアウ
トされる。
【0052】まず、図7のS15に戻り、このステップ
でNOとなって図9に示すS22にて「最適設定」が選
択されると(YES)、ウエハマップ上における割り振
り対象となるチップの行位置を示すインクリメント部6
7の記憶内容iを“0”にセットし(S23)、次に、
この記憶内容iを“1”だけインクリメントする(S2
4)。
【0053】次に、ウエハマップ上のこの第i行目(こ
こでは1行目)において最適なカードのレイアウトを行
う。この場合、カードレイアウト時の座標計算は、図7
のS16、図8のS17、S18の各ステップを第1行
目に関してのみ行うことによりなされ、左端開始位置を
求める(S25)。そして、ここで求めた左端開始位置
を基準として第1行目のカードレイアウトを決定し、そ
れを表示部38に表示する(S26)。
【0054】次に、第i行目は、ウエハチップの最終行
であるか否かが判断され(S27)、NOの場合にはS
24に戻り、インクリメント部67の内容iが1つ増加
されて同様な演算が繰り返して行われる。そして、ウエ
ハチップの最終行まで演算が行われてカードのレイアウ
トが行われたならば(S27−YES)、図8のS20
に行き、レイアウトされた各カード位置の座標が記憶さ
れることになる。この時の表示部38における表示状態
は図11(D)に示されており、カードのコンタクト回
数が最も少なくなるようにカード割り振り位置が決定さ
れている。
【0055】次に、カード割り振りモードの内、「任意
設定モード」が選択された場合について説明する。この
任意設定モードではオペレータにより任意の位置にカー
ド割り振りを行うことができる。
【0056】まず、図9のS22に戻り、このステップ
でNOとなって図10に示すS28にて「任意設定」が
選択されると(YES)、マウス釦が常時押して離され
たか否か判断され(S29、S30)、マウス釦が離さ
れた場合には、その時のマウスポインタ74が位置する
チップ座標(xn 、yn )に、カードレイアウトの左上
端を位置させて1つのレイアウトを表示する(S3
1)。そして、この時のマウスポインタ74の位置する
チップ座標を記憶する(S32)。
【0057】次に、カードレイアウトがウエハマップの
全てを埋めたか否かが判断され(S33)、NOの場合
には次に終了メニューが選択されたか否かが判断される
(S34)。終了メニューが選択されない場合には(N
O)、再度S29に戻り、次のレイアウト指示を待ち、
上記したレイアウト操作が繰り返して行われることにな
る。カードレイアウトを行っている途中における表示部
の表示状態は図11(E)に示されている。このように
して、カードレイアウトがウエハマップの全てを埋めた
場合(S33−YES)、或いは終了メニューが選択さ
れた場合(S34−YES)には図8のS20に戻り、
その時のカードレイアウト位置が記憶されてファイル化
されることになる。
【0058】図13は上述のようにして設定された最終
的なカードレイアウトの一例を示し、図13(A)は自
動設定モードにより設定されたカードレイアウトを、図
13(B)は最適化モードで設定されたカードレイアウ
トを、図13(C)は任意指定モードで設定されたカー
ドレイアウトをそれぞれ示し、図中の矢印はプローブカ
ードの基準チャネル(第1チャネル)の相対移動方向を
示す。
【0059】尚、プローブ針の保護のためにこれがウエ
ハエッジからはみ出ることを避ける場合には、例えば任
意設定モードを用いてカードレイアウトが全てウエハ面
内に納まるようにすればよく、この場合には、プローブ
針が2度コンタクトするチップも生ずることになる。
【0060】また、上記3種類以外のカード割り振りモ
ードとしては、例えば最初にカードがコンタクトする位
置のみをオペレータが指示し、他の部分については自動
割り振りを行わせるようにしたモードも設定できる。ま
た、予め或いはカードレイアウト決定後に、予め例えば
不良チップとして検査を行う必要のない測定不要チップ
を指定するが、このような測定不要チップにプローブ針
がコンタクトしてもそのチャネルに対しては検査信号を
選択的に流さないようにして検査時間の短縮化を図る。
【0061】以上のようにしてカード割り振りが決定し
てカードのレイアウトが終了したならば、この作成した
プログラムに基づいて図15に示すコンピュータ14か
らプローブ本体4に向けて指令を発し、実際の測定が、
カードレイアウトに従ってプローブカードのプローブ針
を順次移動させることによって実際のウエハ上の各チッ
プに対して行われることになる。
【0062】また、上記プログラムをプローブ装置とは
別体に設けたコンピュータ上にて作成した場合には、こ
こで作成したプログラムをフロッピディスク等に記録さ
せ、これをプローブ装置のコンピュータ14にロードし
て読み込ませることにより上記したように実際のウエハ
のチップの測定検査が行われる。
【0063】この場合には、プローブ装置以外のコンピ
ュータにてカード割り振り操作を行っているので、その
間、プローブ装置は稼働させることができ、スループッ
トを大幅に向上させることができる。
【0064】また、ウエハサイズ、チップサイズ、カー
ド情報等に基づいてグラフィック的に表示したウエハマ
ップを基にカード割り振り操作を行うことができるの
で、実際の半導体ウエハやプローブ装置を用いることな
くカード割り振り操作を行うことができる。
【0065】更には、カード割り振り位置(レイアウ
ト)は、グラフィック表示されたチップに重ねて表示で
きるので、オペレータは容易に視覚的にカードレイアウ
ト状況を認識することができ、確認作業を容易にしてカ
ード割り振り操作のミス設定の発生を確実に抑制するこ
とができる。
【0066】尚、上記実施例にあっては、図20(A)
に示すようにカード情報はマルチ数が4、ロケーション
がXのものについて説明したが、これに限定されず、ど
のようなカード情報のプローブカードにも適用し得るの
は勿論である。
【0067】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のプローブ
カードの割り振り装置によれば次のように優れた作用効
果を発揮することができる。グラフィック的に表示され
た半導体ウエハとチップを見ながら、プローブカードの
割り振りを行うことができる。従って、実際の半導体ウ
エハやプローブ装置を用いることなくソフトウエア上で
所望のカードレイアウトを設定することができることか
ら、プローブカード割り振りのためにプローブ装置を占
有することもなく、プローブ装置の稼働率を上げてスル
ープットを向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るプローブカードの割り振り装置を
示すブロック図である。
【図2】プローブカードの割り振り装置を構成するコン
ピュータのブロック図である。
【図3】図2に示すカード割り振り部の自動割り振りモ
ードを示す構成図である。
【図4】カード割り振り部の最適割り振りモードを示す
構成図である。
【図5】カード割り振り部の任意割り振りモードを示す
構成図である。
【図6】プローブカードの割り振り時のフローを示すフ
ローチャートである。
【図7】プローブカードの割り振り時のフローを示すフ
ローチャートである。
【図8】プローブカードの割り振り時のフローを示すフ
ローチャートである。
【図9】プローブカードの割り振り時のフローを示すフ
ローチャートである。
【図10】プローブカードの割り振り時のフローを示す
フローチャートである。
【図11】プローブカード割り振り時の表示部の表示状
態を示す図である。
【図12】プローブカード割り振り時の演算過程の一部
を模式的に示す図である。
【図13】カード割り振りが完了した時の表示部の表示
状態の一例を示す図である。
【図14】表示部の初期画面を示す図である。
【図15】一般的なプローブ装置を示す概略構成図であ
る。
【図16】半導体ウエハ上に形成されたチップの状態を
示す平面図である。
【図17】プローブカードの一例を示す平面図である。
【図18】チップの形状の一例を示す平面図である。
【図19】マルチ数2のプローブカードの測定可能なチ
ップ配列を示す図である。
【図20】マルチ数4のプローブカードの測定可能なチ
ップ配列を示す図である。
【図21】マルチ数8のプローブカードの測定可能なチ
ップ配列を示す図である。
【符号の説明】 2 プローブ装置 4 プローブ本体 6 ウエハ載置台 8 プローブ針 10 プローブカード 12 テストヘッド 14 コンピュータ 16 ディスプレイ 18 マイクロスコープ 22 割り振り装置 24 表示手段 26 記憶装置 28 制御装置 30 キーボード 32 マウス 34 入力手段 38 表示部 40 表示制御部 42 座標演算手段 44 チップ座標記憶部 46 ファイル記憶部 48 カード割り振りモード記憶部 50 メニュー記憶部 52 カード割り振り手段 54 自動割り振り部 56 最適割り振り部 58 任意割り振り部 74 マウスポインタ C チップ GW 半導体ウエハ像 GC チップ像 W 半導体ウエハ

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体ウエハ上に形成された多数のチッ
    プの電気的特性を、同時に複数個のチップと接触可能な
    分のプローブ針を有するプローブカードを用いて検査す
    る時のプローブカードの割り振りを行うプローブカード
    の割り振り装置において、入力手段と、ウエハ情報とチ
    ップ情報とに基づいてイメージ上のウエハにイメージ上
    のチップを配列して各チップに座標を付ける座標演算手
    段と、この座標演算手段で求めた座標とチップを関連さ
    せて記憶するチップ座標記憶部と、複数のカード割り振
    りモードを予め記憶した割り振りモード記憶部と、前記
    チップ座標記憶部の情報と前記割り振りモード記憶部の
    情報とプローブカードの情報と前記入力手段からの指令
    に基づいてカード割り振り位置を設定するカード割り振
    り手段と、このカード割り振り手段で設定されたカード
    割り振り位置を前記チップと関連させて記憶するカード
    割り振り位置記憶部と、前記チップ座標記憶部の情報に
    基づいてイメージ上のウエハにイメージ上の各チップを
    レイアウト表示すると共に前記カード割り振り位置記憶
    部の情報に基づいてカード割り振り位置情報を表示する
    表示手段とを備えたことを特徴とするプローブカードの
    割り振り装置。
  2. 【請求項2】 複数のメニューを記憶するメニュー記憶
    部を有することを特徴とする請求項1記載のプローブカ
    ードの割り振り装置。
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JP4995682B2 (ja) * 2007-09-27 2012-08-08 日置電機株式会社 回路基板検査装置および回路基板検査方法

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