JP2954668B2 - MTF operation circuit of LED array - Google Patents
MTF operation circuit of LED arrayInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、LEDプリンタ装置等の光源として使用さ
れるLEDアレイのMTF（変調伝達関数）演算回路について
のものである。The present invention relates to an MTF (Modulation Transfer Function) calculation circuit for an LED array used as a light source for an LED printer device or the like.
［従来の技術］ LEDアレイのプリンタヘッドには、多数の微小発光体
が直線状に配列されるLEDアレイと、LEDアレイに一定距
離を置いて対向配置されるセルフォックレンズアレイと
で構成される光学系がある。[Related Art] An LED array printer head includes an LED array in which a large number of minute light emitters are linearly arranged, and a SELFOC lens array which is arranged to face the LED array at a fixed distance. There is an optical system.
次に、LEDプリンタ装置の構成を第４図により説明す
る。Next, the configuration of the LED printer will be described with reference to FIG.
第４図の11は静電感光ドラム、12はコロナチャージ、
13はプリンタヘッドに組み込まれたLEDアレイ、14はト
ナー、15はトレー、16はトナー転写部、17は加熱定着部
である。In FIG. 4, 11 is an electrostatic photosensitive drum, 12 is a corona charge,
Reference numeral 13 denotes an LED array incorporated in the printer head, 14 denotes toner, 15 denotes a tray, 16 denotes a toner transfer unit, and 17 denotes a heat fixing unit.
コロナチャージ12によって帯電させられた静電感光ド
ラム11にLEDアレイ13の光を当てると、光の当たったと
ころだけ放電する。When light from the LED array 13 is applied to the electrostatic photosensitive drum 11 charged by the corona charge 12, only the portion where the light is applied is discharged.
トレー15から送られてきた紙には、静電感光ドラム11
の帯電部分に対応した位置にトナー転写部16でトナー14
が転写され、加熱定着部17でトナー14が紙に定着され
る。The paper sent from the tray 15 contains the electrostatic photosensitive drum 11
In the toner transfer section 16 at a position corresponding to the charged portion of
Is transferred, and the toner 14 is fixed on the paper by the heat fixing unit 17.
次に、第４図の静電感光ドラム11とLEDアレイ13の関
係を第５図により説明する。Next, the relationship between the electrostatic photosensitive drum 11 and the LED array 13 in FIG. 4 will be described with reference to FIG.
第５図の18はセルフォックレンズアレイであり、LED
アレイ13の光ビームを静電感光ドラム11上に照射する場
合、LEDアレイ13の発光光量にばらつきがあったり、LED
アレイ13とセルフォックレンズアレイ18との距離にばら
つきがあると、そのばらつきで印字品質が劣化する。そ
こで、LEDアレイ13から放射される各ビームの照射強度
を測定し、光量のばらつきを検査しなければならない。Reference numeral 18 in FIG. 5 denotes a SELFOC lens array,
When irradiating the light beam of the array 13 onto the electrostatic photosensitive drum 11, the light emission amount of the LED array 13 varies,
If the distance between the array 13 and the SELFOC lens array 18 varies, the variation degrades the print quality. Therefore, it is necessary to measure the irradiation intensity of each beam emitted from the LED array 13 and inspect the variation in the light amount.
次に、従来技術によるLEDアレイのMTF測定装置を第６
図により説明する。Next, the conventional LED array MTF measuring device
This will be described with reference to the drawings.
第６図では、セルフォックレンズアレイ18から一定距
離を隔てた位置にLEDアレイ13の照射光を受光するイメ
ージセンサ19を置き、LEDアレイ13を１発光体（以下、
これを１ドットという。）おきに点滅するパターンで発
光させる。LEDアレイ13の光ビーム放射面から一定距離
を離した位置で、照射ビームの光量分布をLEDアレイ13
の配列方向に測定する。In FIG. 6, an image sensor 19 for receiving the irradiation light of the LED array 13 is placed at a position separated by a certain distance from the SELFOC lens array 18, and the LED array 13 is connected to one light emitter (hereinafter, referred to as a light emitter).
This is called one dot. ) Emit light in a blinking pattern every other time. At a position at a certain distance from the light beam emission surface of the LED array 13, the light amount distribution of the irradiation beam is
In the direction of the array.
次に、第６図の波形観測手段21に表示される波形を第
７図により説明する。Next, the waveform displayed on the waveform observation means 21 in FIG. 6 will be described with reference to FIG.
第７図の縦軸は光強度であり、リップル状の波形が得
られる。LEDアレイ13のMTF測定とは、第７図の波形の個
々の極大値（以下、MAXという。）と極小値（以下、MIN
という。）から照射ビームの品質を評価する手段であ
り、例えば、１ドットおきの点滅パターンによる測定な
らば、波形のリップル比率が大きいほど光ビーム個々の
照射分解能は高くなる。The vertical axis in FIG. 7 is the light intensity, and a ripple-like waveform is obtained. The MTF measurement of the LED array 13 refers to the maximum value (hereinafter, referred to as MAX) and the minimum value (hereinafter, referred to as MIN) of the waveform in FIG.
That. ), The quality of the irradiation beam is evaluated. For example, in the case of measurement using a blink pattern every other dot, the irradiation resolution of each light beam increases as the ripple ratio of the waveform increases.
イメージセンサ19の受光面の受光強度分布を信号検出
手段20で検出し、波形測定手段21に例えばオシロスコー
プ等を用いて観測し、最大受光強度MAXと最小受光強度M
INからMTFを次式によって求める。The received light intensity distribution on the light receiving surface of the image sensor 19 is detected by the signal detecting means 20, and the waveform measuring means 21 is observed using, for example, an oscilloscope or the like.
The MTF is obtained from IN by the following equation.
MTF＝（MAX−MIN）／（MAX＋MIN） ………………（１） ［発明が解決しようとする課題］ 第６図では、イメージセンサ19によるMTF検出信号を
オシロスコープ等の波形観測手段21で波形観測し、MTF
を目視演算で求めているが、第６図の従来例では操作が
煩雑であること、測定精度が得られないこと、測定に時
間がかかること、オシロスコープ等の波形観測手段21を
用意しなければならないことなどの問題がある。MTF = (MAX−MIN) / (MAX + MIN) (1) [Problem to be Solved by the Invention] In FIG. 6, the MTF detection signal from the image sensor 19 is measured by a waveform observation means 21 such as an oscilloscope. Observe waveforms and use MTF
In the conventional example shown in FIG. 6, the operation is complicated, the measurement accuracy cannot be obtained, the measurement takes time, and the waveform observation means 21 such as an oscilloscope must be prepared. There is a problem that it must not be.
また、波形観測手段21にオシロスコープを用いない方
法として、MAXホールド回路、MINホールド回路等の電子
回路を用い、波形のMAXとMINを測定し、MTFを求めるこ
ともできる。As a method without using an oscilloscope for the waveform observing means 21, an MTF can be obtained by measuring MAX and MIN of a waveform using an electronic circuit such as a MAX hold circuit and a MIN hold circuit.
次に、MAXホールド回路、MINホールド回路の電子回路
を使用した場合の波形図を第８図により説明する。Next, a waveform diagram in the case where electronic circuits of the MAX hold circuit and the MIN hold circuit are used will be described with reference to FIG.
第８図アは入力信号波形、第８図イはMAXホールド回
路の出力波形、第８図ウはMINホールド回路の出力波
形、第８図エはMTFの演算値、第８図オはMTFの真値であ
る。8A is an input signal waveform, FIG. 8A is an output waveform of a MAX hold circuit, FIG. 8C is an output waveform of a MIN hold circuit, FIG. 8D is a calculated value of MTF, and FIG. True value.
第８図アのように、LEDアレイ13に不良発光などがあ
ると、第８図イ・ウのようにMTF検出信号波形に平坦な
区間が発生し、MTFの真値を求めるのが困難になる。If the LED array 13 has defective light emission as shown in FIG. 8A, a flat section is generated in the MTF detection signal waveform as shown in FIG. 8A, and it becomes difficult to obtain the true value of the MTF. Become.
MFXホールド回路とMINホールド回路を用いてMTFを求
めるためには、MAXとMINが共にホールドされていること
が必要であるが、第８図アのMTF検出信号に対してMINホ
ールド回路の出力がホールド状態になるのは不良発光区
間が過ぎた後である。In order to obtain MTF using the MFX hold circuit and the MIN hold circuit, it is necessary that both MAX and MIN are held. The hold state is set after the defective light emitting section has passed.
このため、不良発光区間に対するMTF値は測定から省
かれ、第８図エの測定結果になる。For this reason, the MTF value for the defective light emitting section is omitted from the measurement, resulting in the measurement result in FIG. 8D.
すなわち、第８図オのMTF3・４のように不良発光区間
のMTFは見掛け上０％になる。このため、真の測定結果
は得られなくなり、MTFの測定データ列が不足し、不良
発光のLEDアレイ13のドット番号をデータ列から知るこ
とができないなどの問題がある。That is, like the MTF 3.4 in FIG. 8, the MTF in the defective light emitting section is apparently 0%. For this reason, there is a problem in that a true measurement result cannot be obtained, the measurement data string of the MTF is insufficient, and the dot number of the LED array 13 that has failed light emission cannot be known from the data string.
この発明は、MAXホールド回路、MINホールド回路、ア
ナログ演算回路及びサンプルホールド回路の電子回路で
MTFを求める場合に、MTF検出信号のMINの周期を時定数
回路で論理的に検出し、MAXホールド回路・MINホールド
回路・サンプルホールド回路を制御するタイミング制御
回路を備えることで、発光不良の発生しているLEDアレ
イについてもMTF演算値を出力することのできるLEDアレ
イのMTF演算回路の提供を目的とする。The present invention relates to an electronic circuit of a MAX hold circuit, a MIN hold circuit, an analog operation circuit, and a sample hold circuit.
When calculating the MTF, the timing of the MIN cycle of the MTF detection signal is logically detected by a time constant circuit, and a timing control circuit that controls the MAX hold circuit, MIN hold circuit, and sample hold circuit is used. It is an object of the present invention to provide an LED array MTF operation circuit capable of outputting an MTF operation value for an LED array in which the operation is performed.
［課題を解決するための手段］ この目的を達成するため、この発明では、LEDアレイ
の発光をセルフォックレンズアレイを介してイメージセ
ンサで検出するLEDアレイ測定装置において、前記イメ
ージセンサの出力のMAXをホールドするMAXホールド回路
１と、前記イメージセンサの出力のMINをホールドするM
INホールド回路２と、MAXホールド回路１の出力とMINホ
ールド回路２の出力を入力とし、前記LEDアレイのMTFを
演算するアナログ演算回路４と、アナログ演算回路４の
出力をサンプルホールドするサンプルホールド回路５
と、スタート信号を入力とし、MAXホールド回路１とMIN
ホールド回路２とサンプルホールド回路５のタイミング
を制御するタイミング制御回路３とを備え、MAXホール
ド回路１とMINホールド回路２が共にホールドされたと
きと、MINホールド回路２にMINを検出してから前記LED
アレイの発光パターンのMTF周期より長い時間経過後、
次のMINが検出されないときに、アナログ演算回路４の
出力をサンプルホールドする。Means for Solving the Problems In order to achieve this object, according to the present invention, in an LED array measuring device for detecting light emission of an LED array by an image sensor via a selfoc lens array, a maximum output of the image sensor is provided. And a M which holds MIN of the output of the image sensor.
An analog operation circuit 4 that receives the output of the IN hold circuit 2, the output of the MAX hold circuit 1, and the output of the MIN hold circuit 2 and calculates the MTF of the LED array, and a sample and hold circuit that samples and holds the output of the analog operation circuit 4 5
And the start signal as input, and the MAX hold circuit 1 and MIN
A timing control circuit for controlling the timing of the hold circuit and the sample hold circuit, wherein when the MAX hold circuit and the MIN hold circuit are both held and when the MIN hold circuit detects MIN, led
After a lapse of time longer than the MTF period of the array emission pattern,
When the next MIN is not detected, the output of the analog operation circuit 4 is sampled and held.
［作 用］ 次に、この発明によるLEDアレイのMTF演算回路の構成
を第１図により説明する。[Operation] Next, the configuration of the MTF operation circuit of the LED array according to the present invention will be described with reference to FIG.
第１図の１はMAXホールド回路、２はMINホールド回
路、３はタインミング制御回路、４はアナログ演算回
路、５はサンプルホールド回路である。1 is a MAX hold circuit, 2 is a MIN hold circuit, 3 is a timing control circuit, 4 is an analog operation circuit, and 5 is a sample and hold circuit.
第１図のMAXホールド回路１とMINホールド回路２のV
inへは第７図または第８図アに示す受光強度に比例した
電圧が入力される。V of MAX hold circuit 1 and MIN hold circuit 2 in FIG.
is to in voltage proportional to the received light intensity shown in FIGS. 7 or FIG. 8 A is input.
タイミング制御回路３は、MAXホールド回路１とMINホ
ールド回路２のホールドタイミングを制御し、MAXホー
ルド回路１の出力電圧とMINホールド回路２の出力電圧
が共にホールド状態を得たときと、VinのMINが一度検出
されてからMTF周期より長い時間経過後、次のMINが検出
されないときに、論理的にMTFサンプル信号を発生さ
せ、アナログ演算回路４の出力電圧を入力とするサンプ
ルホールド回路５の出力電圧をホールドする。The timing control circuit 3 controls the hold timing of the MAX hold circuit 1 and the MIN hold circuit 2, and when the output voltage of the output voltage and the MIN hold circuit 2 of MAX hold circuit 1 are both obtain a hold state, the V in When a time longer than the MTF period has elapsed since the MIN was detected once, and when the next MIN is not detected, an MTF sample signal is logically generated, and the output of the analog operation circuit 4 is input to the sample and hold circuit 5. Hold the output voltage.
アナログ演算回路４は、MAXホールド回路１の出力電
圧とMINホールド回路２の出力電圧から式（１）を演算
する。The analog operation circuit 4 calculates Expression (1) from the output voltage of the MAX hold circuit 1 and the output voltage of the MIN hold circuit 2.
MAXホールド回路１は、第３図のVinの入力電圧の極大
値の逐次ホールドし、ホールド状態の間は論理レベル
「１」を出力する。The MAX hold circuit 1 successively holds the maximum value of the input voltage of Vin in FIG. 3, and outputs a logic level "1" during the hold state.
MINホールド回路２は、第３図のVinの入力電圧の極小
値を逐次ホールドし、ホールド状態の間は論理レベル
「１」を出力する。The MIN hold circuit 2 sequentially holds the minimum value of the input voltage of Vin in FIG. 3, and outputs a logic level "1" during the hold state.
MAXホールド回路１とMINホールド回路２は、第６図の
イメージセンサ19の出力を信号検出手段20を介して入力
とし、タイミング制御回路３はスタート信号を入力とし
てMAXホールド回路１とMINホールド回路２とサンプルホ
ールド回路５のタイミングを制御する。The MAX hold circuit 1 and the MIN hold circuit 2 receive the output of the image sensor 19 shown in FIG. 6 via the signal detecting means 20 and the timing control circuit 3 receives the start signal as the input and the MAX hold circuit 1 and the MIN hold circuit 2 And the timing of the sample hold circuit 5.
［実施例］ 次に、第１図のMAXホールド回路１、MINホールド回路
２、タイミング制御回路３の実施例の回路図を第２図に
より説明する。[Embodiment] Next, a circuit diagram of an embodiment of the MAX hold circuit 1, the MIN hold circuit 2, and the timing control circuit 3 of FIG. 1 will be described with reference to FIG.
第３図は第２図の動作波形図であり、第２図の〜
とVinおよびスタートとMTFサンプル、MAX、MINのそれぞ
れの動作波形を第３図に対応させて示している。FIG. 3 is an operation waveform diagram of FIG.
And V in and the start and MTF sample, MAX, are shown the respective operation waveforms of the MIN in association with Figure 3.
第２図のMAXホールド回路１はピークホールド回路で
あり、1Aと1Bは入力バイアス電流の小さいFET入力の演
算増幅器、1Cは比較器、1DはCMOSFETを使用したアナロ
グスイッチであり、制御入力が論理レベル「１」のと
きに導通する。The MAX hold circuit 1 shown in FIG. 2 is a peak hold circuit, 1A and 1B are operational amplifiers of FET input having a small input bias current, 1C is a comparator, 1D is an analog switch using a CMOSFET, and the control input is a logic. Conduction occurs when the level is “1”.
比較器1Cは入力電圧VinがMAXを過ぎたとき、論理レベ
ル「１」を出力する。1Eはホールド用のコンデンサで、
例えば0.1μＦのコンデンサである。Comparator 1C is when the input voltage V in is past the MAX, outputs a logic level "1". 1E is a hold capacitor,
For example, a 0.1 μF capacitor.
第２図のMINホールド回路２はボトムホールド回路で
あり、2A〜2Eは1A〜1Eと同じものである。比較器2Cは入
力電圧VinがMINを過ぎたとき、論理レベル「１」を出力
する。The MIN hold circuit 2 in FIG. 2 is a bottom hold circuit, and 2A to 2E are the same as 1A to 1E. Comparator 2C when the input voltage V in is past the MIN, and outputs a logic level "1".
タインミング制御回路３は、MAXホールド回路１とMIN
ホールド回路２が共にホールド状態を得たときに一定時
間（T1）、論理レベル「１」をMTFサンプルタイミング
として出力した後、MAXホールド回路１を一定時間
（T2）リセットする。The timing control circuit 3 includes the MAX hold circuit 1 and the MIN
After the logic level “1” is output as the MTF sampling timing for a certain time (T 1 ) when both the hold circuits 2 have obtained the hold state, the MAX hold circuit 1 is reset for a certain time (T 2 ).
また、MINホールド回路２がホールド状態を得てからM
TFの周期より長い一定時間（T6）を経過したときに一定
時間（T4）、論理レベル「１」をMTFサンプルタイミン
グとして出力した後、MAXホールド回路１を一定時間（T
5）リセットする。After the MIN hold circuit 2 has obtained the hold state,
After a fixed time (T 6 ), which is longer than the period of TF, a logic level “1” is output as the MTF sample timing for a fixed time (T 4 ), and then the MAX hold circuit 1 is turned on for a fixed time (T
5 ) Reset.
3A〜3Eは入力論理レベル「１」で動作する単安定マル
チバイブレータであり、出力パルス幅はMTFの周期に較
べて十分小さい関係にする。Reference numerals 3A to 3E denote monostable multivibrators which operate at the input logic level "1", and the output pulse width is set to be sufficiently smaller than the period of the MTF.
実施例では、T1〜T5＜＜T6＝1.1T、Ｔ＝MTFの周期と
し、T1〜T5＝0.2msにしている。In the embodiment, T 1 to T 5 << T 6 = 1.1 T, T = MTF, and T 1 to T 5 = 0.2 ms.
時間T6は電源＋Ｖと抵抗器3Gとコンデンサ3Jとシュミ
ットトリガ3Hで構成する遅延時間発生回路であり、MIN
ホールド回路２がホールド状態になったとき、電源＋Ｖ
から抵抗器3Gを介してコンデンサ3Jに充電を開始し、コ
ンデンサ3Jの充電電圧がシュミットトリガ3Hのハイレベ
ルしきい値電圧に達したとき、シュミットトリガ3Hの出
力論理レベルを「１」にする。実施例では、被測定LED
アレイのMTF周期が約3msなので、T6は約3.2msが適当で
ある。このため、＋Ｖを5Vにし、0.77C・Ｒ＝3.2msを満
足させるように抵抗器3Gを39kΩ、コンデンサ3Jを0.1μ
Ｆにしている。Time T 6 is a delay time generation circuit composed of a power supply + V, a resistor 3G, a capacitor 3J, and a Schmitt trigger 3H.
When the hold circuit 2 is in the hold state, the power supply + V
From the capacitor 3J via the resistor 3G, and when the charging voltage of the capacitor 3J reaches the high-level threshold voltage of the Schmitt trigger 3H, the output logic level of the Schmitt trigger 3H is set to “1”. In the embodiment, the measured LED
MTF period of the array so about 3 ms, T 6 is suitably about 3.2 ms. For this reason, + V is set to 5V, resistor 3G is set to 39kΩ, and capacitor 3J is set to 0.1μ so as to satisfy 0.77C · R = 3.2ms.
F.
次に、第１図のアナログ演算回路４とサンプルホール
ド回路５を説明する。Next, the analog operation circuit 4 and the sample hold circuit 5 of FIG. 1 will be described.
第１図の4A〜4Cは演算増幅器であり、それぞれの利得
は−１倍である。増幅器4Cの出力には（MAX＋MIN）が得
られ、演算増幅器4Bの出力には（MAX−MIN）が得られ
る。これらの出力は除算器4DのＹ入力とＸ入力に加えら
れる。4A to 4C are operational amplifiers, each having a gain of -1. (MAX + MIN) is obtained at the output of the amplifier 4C, and (MAX-MIN) is obtained at the output of the operational amplifier 4B. These outputs are applied to the Y and X inputs of divider 4D.
第１図のサンプルホールド回路５は、アナログ演算回
路４で得られたMTF演算電圧を逐次ホールドするので、
第３図に示すMTF演算結果が得られる。Since the sample and hold circuit 5 of FIG. 1 sequentially holds the MTF operation voltage obtained by the analog operation circuit 4,
The result of the MTF calculation shown in FIG. 3 is obtained.
なお、第１図のサンプルホールド回路５の代わりにA/
D変換器を使用することもできる。この場合は第１図のM
TFサンプルタイミングをA/D変換器の変換タイミング入
力として使用することもできるので、MTFデータをディ
ジタル化することができる。In addition, instead of the sample and hold circuit 5 in FIG.
D converters can also be used. In this case, M in FIG.
Since the TF sample timing can be used as the conversion timing input of the A / D converter, the MTF data can be digitized.
［発明の効果］ この発明によれば、MAXホールド回路、MINホールド回
路、アナログ演算回路及びサンプルホールド回路から構
成されるアナログ電子回路と、MTF周期異常を論理的に
検出し、アナログ電子回路を制御するタイミング制御回
路でMTFを演算しているので、従来技術の波形観測手段
が不要になり、０％からMTFを求めることができ、MTF検
出信号波形を実時間で追従してMTFを演算することがで
きる。According to the present invention, an analog electronic circuit including a MAX hold circuit, a MIN hold circuit, an analog arithmetic circuit, and a sample hold circuit, and an MTF cycle abnormality are logically detected and the analog electronic circuit is controlled. Since the MTF is calculated by the timing control circuit, the conventional technique for observing the waveform is no longer necessary, the MTF can be obtained from 0%, and the MTF can be calculated by following the MTF detection signal waveform in real time. Can be.
第１図はこの発明によるLEDアレイのMTF演算回路の構成
図、第２図は第１図のMAXホールド回路１、MINホールド
回路２、タイミング制御回路３の実施例の回路図、第３
図は第２図の動作波形図、第４図はLEDプリンタ装置の
構成図、第５図は第４図の静電感光ドラム11とLEDアレ
イ13の関係説明図、第６図は従来技術によるLEDアレイ
のMTF測定装置の構成図、第７図は第６図の波形観測手
段21に表示される波形図、第８図はMAXホールド回路・M
INホールド回路の電子回路を使用した場合の波形図であ
る。 １……MAXホールド回路、２……MINホールド回路、３…
…タイミング制御回路、４……アナログ演算回路、５…
…サンプルホールド回路。FIG. 1 is a configuration diagram of an MTF operation circuit of an LED array according to the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram of an embodiment of a MAX hold circuit 1, a MIN hold circuit 2, and a timing control circuit 3 of FIG.
2 is an operation waveform diagram of FIG. 2, FIG. 4 is a configuration diagram of the LED printer device, FIG. 5 is a diagram for explaining the relationship between the electrostatic photosensitive drum 11 and the LED array 13 of FIG. 4, and FIG. FIG. 7 is a block diagram of the MTF measuring device of the LED array, FIG. 7 is a waveform diagram displayed on the waveform observing means 21 of FIG. 6, and FIG.
FIG. 7 is a waveform diagram when an electronic circuit of an IN hold circuit is used. 1 ... MAX hold circuit, 2 ... MIN hold circuit, 3 ...
... Timing control circuit, 4 ... Analog arithmetic circuit, 5 ...
... Sample hold circuit.
Claims (1)
レイを介してイメージセンサで検出するLEDアレイのMTF
測定装置において、 前記イメージセンサの出力のMAXをホールドするMAXホー
ルド回路（１）と、 前記イメージセンサの出力のMINをホールドするMINホー
ルド回路（２）と、 MAXホールド回路（１）の出力とMINホールド回路（２）
の出力を入力とし、前記LEDアレイのMTFを演算するアナ
ログ演算回路（４）と、 アナログ演算回路（４）の出力をサンプルホールドする
サンプルホールド回路（５）と、 スタート信号を入力とし、MAXホールド回路（１）とMIN
ホールド回路（２）とサンプルホールド回路（５）のタ
イミングを制御するタイミング制御回路（３）とを備
え、 MAXホールド回路（１）とMINホールド回路（２）が共に
ホールドされたときと、MINホールド回路（２）にMINを
検出してから前記LEDアレイの発光パターンのMTF周期よ
り長い時間経過後、次のMINが検出されないときに、ア
ナログ演算回路（４）の出力をサンプルホールドするこ
とを特徴とするLEDアレイのMTF演算回路。An MTF of an LED array for detecting light emission of the LED array by an image sensor through a selfoc lens array.
In the measuring apparatus, a MAX hold circuit (1) for holding a MAX of the output of the image sensor, a MIN hold circuit (2) for holding a MIN of the output of the image sensor, and an output and a MIN of the MAX hold circuit (1). Hold circuit (2)
An analog operation circuit (4) for calculating the MTF of the LED array, a sample hold circuit (5) for sampling and holding the output of the analog operation circuit (4), and a MAX signal Circuit (1) and MIN
A timing control circuit (3) for controlling the timing of the hold circuit (2) and the sample hold circuit (5) is provided. When both the MAX hold circuit (1) and the MIN hold circuit (2) are held, After detecting the MIN in the circuit (2), after elapse of a time longer than the MTF cycle of the light emitting pattern of the LED array, when the next MIN is not detected, the output of the analog arithmetic circuit (4) is sampled and held. MTF calculation circuit of LED array.
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