JP2910103B2 - 画像記録方法及びその装置 - Google Patents

画像記録方法及びその装置

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JP2910103B2 JP1306460A JP30646089A JP2910103B2 JP 2910103 B2 JP2910103 B2 JP 2910103B2 JP 1306460 A JP1306460 A JP 1306460A JP 30646089 A JP30646089 A JP 30646089A JP 2910103 B2 JP2910103 B2 JP 2910103B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、レーザプリンタ等にて中間調画像を再現
する画像記録方法及びその装置に係り、特に、半導体レ
ーザの光量変調を行って中間調画像を再現する際に有効
な画像記録方法及びその装置に関する。
〔従来の技術〕
一般に、レーザプリンタにて中間調画像を再現する方
式としては、複数ドットで一画素が構成されるディザマ
トリクス方式(所謂面積階調法)や各画素単位でレーザ
出力を可変にするレーザ出力変調方式が知られている。
前者のタイプにあっては、一画素を構成するドット数
が増加すればするほど階調性を上げることはできるが、
逆に、解像度を低下させるという問題が生ずるため、解
像度を上げたいという要請下においては通常後者の方式
が採用される。
この場合において、後者のレーザ出力変調方式として
は、一画素の中でレーザの点灯時間を可変にするパルス
幅変調方式が主として採用されているが、他の方式とし
てレーザの光量を変調する光量変調方式も既に提供され
ており、この種の先行技術としては、例えば、ガスレー
ザ等からの出力を固定しておき、光路の途中に音響光学
変調器(以下AO変調器という)や電気光学変調器(EO変
調器)を介装し、レーザ光量を間接的に変調するものが
知られている(特開昭63−273832号公報参照)。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところで、この種の光量変調方式としては、ガスレー
ザ、AO変調器,EO変調器自体が高価であるばかりか、装
置構成が大型化してしまう分、小型化の要請にそぐわな
いという技術的課題が生ずる。
この種の技術的課題を解決するために、小型光源とし
て手軽に採用可能な半導体レーザに着目し、この半導体
レーザ自体の光量を直接的に変調したいという要請が高
まりつつある。
そこで、半導体レーザの諸特性のうち、光量変調を行
う上で重要と考えられる順電流−光出力特性に着目する
と、第42図に示すように、順電流I(以下駆動電流Iと
いう)の増加に伴って光出力Pはある閾値電流Ithから
急激に増加し始め、その後駆動電流Iの増加分に対し一
定の割合で増加し続ける。定格出力まではこの傾きη=
dp/dI(微分スロープ効率)は略一定となる。
それゆえ、上記微分スロープ効率ηの一定の範囲にお
いて画像データの濃度レベルに応じて駆動電流Iを適宜
変調するようにすれば、画像データの濃度レベルに応じ
た光出力を得ることができるはずである。
しかしながら、半導体レーザの光出力は、周囲温度の
変化や半導体レーザ自体の発熱により容易に変動してし
まう。
すなわち、半導体レーザの閾値電流Ithは温度Tが上
昇すると、以下の(I)式のように指数関数的に上昇す
るため、上記半導体レーザの光出力は、第43図に示すよ
うに、閾値電流Ithが周囲温度によって大きく変動する
ことにより容易に変動してしまうのである。
Ith=KIth0exp(T/T0) …(1) 但し、Kは比例定数、Ith0は温度T0のときの閾値電流
を示す。
従って、半導体レーザにおいて、画像データの濃度レ
ベルに応じた一定の光出力を得ることは極めて困難であ
り、このことが半導体レーザの光量変調を行う上での重
要な技術的課題になっている。
この発明は、上述した技術的課題を解決するためにな
されたものであって、画像データの濃度レベルに応じて
一定の光出力が得られるように半導体レーザの光量を変
調することができる画像記録方法及びその装置を提供す
るものである。
〔課題を解決するための手段〕
すなわち、この発明に係る画像記録方法は、第1図
(a)に示すように、各画素の多階調画像データDTの濃
度レベルに応じて半導体レーザ1からの光量を変調し、
感光体2上に各画素対応の潜像を形成すると共に、各潜
像を現像手段3にて可視像化する画像記録方法を前提と
し、上記半導体レーザ1の光量を変調するに際し、半導
体レーザ1の閾値電流Ithの温度変動を補正して駆動電
流変調域を決定する駆動電流変調域決定工程(工程)
と、決定された駆動電流変調域内で多階調画像データDT
の濃度レベルに応じた半導体レーザ1の駆動電流を生成
する駆動電流生成工程(工程)とを備えたものであ
る。
このような方法発明において、駆動電流変調域として
は、半導体レーザ1の駆動電流全域を対象としてもよい
が、上記半導体レーザ1の閾値電流Ith以内の領域にお
いては光出力がほとんどないので、その分、濃度階調数
の低い多階調画像データDTに対する光出力はほとんどな
く、濃度階調数の低い多階調画像データについては無効
ビットになり、多階調画像データの階調再現ビット領域
が狭くなるという事態を生ずる。このため、多階調画像
データDTの無効ビット数を低減させるという観点からす
れば、適宜のバイアス電流IBIASを重畳し、微分スロー
プ効率ηの一定の範囲を駆動電流変調域として用いるこ
とが好ましい。
そして、上記バイアス電流IBIASの設定ポイントとし
ては、上記微分スロープ効率ηが一定の領域にて駆動電
流を確実に変調するという観点からすれば、上記閾値電
流Ithレベル若しくはその直前近傍レベルに上記バイア
ス電流IBIASを設定するようにすることが好ましいが、
本方法発明にあっては、閾値電流Ithの直前近傍レベル
に上記バイアス電流IBIASを設定し、バイアス電流IBIAS
の設定ポイントでは、半導体レーザを発振せずに自然発
光状態に保つようにしたものである。
また、この発明に係る画像記録装置の第一の態様(第
一の装置発明)は、第1図(b)に示すように、各画素
の多階調画像データDTの濃度レベルに応じて半導体レー
ザ1からの光量を変調し、感光体2上に各画素対応の潜
像を形成すると共に、各潜像を現像手段3にて可視像化
する画像記録装置を前提とし、半導体レーザ1のフルパ
ワーに対応するフルパワー駆動電流値を半導体レーザ1
の非スキャン動作時に間欠的に検出するパワー制御手段
4と、半導体レーザ1の閾値電流Ithの最小変動値レベ
ル若しくはその直前近傍レベルにバイアス電流IBIAS
固定的に設定する固定バイアス電流源5と、上記フルパ
ワー駆動電流値と固定バイアス電流IBIASとの間を駆動
電流変調域として決定し、この駆動電流変調域にて多階
調画像データDTの濃度レベルに応じた駆動電流を決定す
る駆動電流変調手段6とを備えたものである。
また、この発明に係る画像記録装置の第二の態様(第
二の装置発明)は、第1図(c)に示すように、各画素
の多階調画像データDTの濃度レベルに応じて半導体レー
ザ1からの光量を変調し、感光体2上に各画素対応の潜
像を形成すると共に、各潜像を現像手段3にて可視像化
する画像記録装置を前提とし、半導体レーザ1の所定パ
ワーに対応する駆動電流値を半導体レーザ1の非スキャ
ン動作時に間欠的に検出するパワー制御手段7と、この
パワー制御手段7にて検出された所定の駆動電流値に基
づいて半導体レーザ1の閾値電流Ithレベル若しくはそ
の直前近傍レベルに設定されるバイアス電流IBIASを変
化させるバイアス電流可変手段8と、この可変バイアス
電流IBIASから一定領域を駆動電流変調域として決定
し、この駆動電流変調域にて多階調画像データDTの濃度
レベルに応じた駆動電流を決定する駆動電流変調手段9
とを備えたものである。
更に、この発明に係る画像記録装置の第三の態様(第
三の装置発明)は、第1図(d)に示すように、各画素
の多階調画像データDTの濃度レベルに応じて半導体レー
ザ1からの光量を変調し、感光体2上に各画素対応の潜
像を形成すると共に、各潜像を現像手段3にて可視像化
する画像記録装置を前提とし、半導体レーザ1の温度を
所定温度に制御するレーザ温度制御手段10と、このレー
ザ温度制御手段10で制御された所定温度における半導体
レーザ1の閾値電流Ithレベル若しくはその直前近傍レ
ベルにバイアス電流IBIASを固定的に設定する固定バイ
アス電流源11と、この固定バイアス電流IBIAS以上の一
定領域を駆動電流変調域として固定し、この固定駆動電
流変調域にて多階調画像データDTの濃度レベルに応じた
駆動電流を決定する駆動電流変調手段12とを備えたもの
である。
このような装置発明において、第一の装置発明のパワ
ー制御手段4としては、半導体レーザ1のフルパワーに
対応するフルパワー駆動電流値を検出するものである
が、ここでいう半導体レーザ1のフルパワーとは、半導
体レーザ1の最大定格光出力を意味するものではなく、
対象となる画像記録装置において使用する最大光出力の
ことを意味する。
また、第二の装置発明のパワー制御手段7及びバイア
ス電流可変手段8としては、バイアス電流IBIASを決定
する上で必要な半導体レーザ1のパワーレベルとしては
任意に選定して差し支えない。この場合において、装置
構成の簡略化という観点からすれば、半導体レーザ1の
フルパワーに対応する駆動電流を検出し、これに基づい
てバイアス電流IBIASを決定するようにすればよく、ま
た、バイアス電流IBIASの決定時間の短縮化や半導体レ
ーザ1の寿命を考慮すると、半導体レーザ1の低パワー
に対応する駆動電流を検出し、これに基づいてバイアス
電流IBIASを決定するようにすることが好ましい。
更に、上記各装置発明において、上記駆動電流変調域
6,9,12としては、多階調画像データDTの階調ビット数か
らそのまま駆動電流を決定するようにしてもよいし、ま
た、構成の簡略化という観点からすれば、多階調画像デ
ータDTの階調ビット数を少なくとも階調再現に必要なビ
ット数に低減させ、そのビット数から駆動電流を決定す
るようにすることが好ましい。
そしてまた、駆動電流変調手段6,9,12を設計する際に
は、多階調画像データDTを所定レベルの電流値に変換す
る機能手段であれば、連続的に変調したり、段階的に変
調したり適宜設計変更することができるが、画像再現精
度を考慮すると、駆動電流を連続的に変調する必要性は
乏しく、むしろ、装置構成の簡略化という観点から駆動
電流を段階的に変調する方式が好ましい。
このような方式を採用する際の具体的態様としては、
複数個の電流源からなる駆動電流源を有し、これらの電
流源を適宜組み合わせることにより所望の駆動電流を決
定するようにする等適宜設計変更することができる。
この場合において、上記駆動電流源の各電流源として
は、同一容量のものであってもよいし、適宜重み付けし
たものであってもよいが、駆動電流の変調レベルを任意
に調整できるという観点からすれば、適宜重み付けした
ものを用いるのが好ましい。
更に、適宜重み付けした電流源からなる駆動電流源を
用いるタイプにおいて、多階調画像データDTに対応する
駆動電流の値を微調整するという観点からすれば、各電
流源の重み付け係数を可変設定するように設計すること
が好ましい。更にまた、各電流源の重み付け係数を適宜
可変設定するように設計しておけば、重み付け係数を適
宜選定して、現像手段の画像再現特性を線形なものに補
正することにより、画像再現性をより良好に保つことが
可能になる。
また、この発明にあっては、半導体レーザ1の光量を
変調して中間調画像を再現するものを対象としている
が、パルス幅変調と適宜組み合わせることにより、中間
調画像を再現するように設計しても差し支えない。
〔作用〕
第1図(a)に示すような方法発明にあっては、工程
にて、半導体レーザ1の閾値電流Ithの温度変動が補
正された状態で駆動電流変調域が決定され、工程に
て、上記決定された駆動電流変調域内で多階調画像デー
タDTに基づく駆動電流が生成される。
このとき、上記駆動電流変調域は半導体レーザ1の閾
値電流Ith位置に追従して設定されるため、多階調画像
データDTに基づく駆動電流を上記駆動電流変調域内で適
宜変調させるようにすれば、多階調画像データDTに基づ
く駆動電流による半導体レーザ1のパワーレベルは略一
定に維持されるのである。
また、第1図(b)に示すような装置発明にあって
は、パワー制御手段4が半導体レーザ1のフルパワーに
対応したフルパワー駆動電流値を検出する一方、固定バ
イアス電流源5からは固定バイアス電流IBIASが供給さ
れており、駆動電流変調手段6は、上記フルパワー駆動
電流値と固定バイアス電流IBIASとの間を駆動電流変調
域とし、この駆動電流変調域にて多階調画像データDTに
基づく駆動電流を決定する。
そしてまた、第1図(c)に示すような装置発明にあ
っては、パワー制御手段7が半導体レーザ1の所定パワ
ーに対応する駆動電流値を検出し、バイアス電流可変手
段8がこの検出駆動電流値に基づいてバイアス電流I
BIASを決定し、駆動電流変調手段9は決定されたバイア
ス電流IBIASからの一定領域を駆動電流変調域とし、こ
の駆動電流変調域にて多階調画像データDTに基づく駆動
電流を決定する。
このため、第1図(b)(c)に示すような装置発明
にあっては、第2図に示すように、半導体レーザ1の閾
値電流Ithが温度変動に伴って変位し、半導体レーザ1
の特性が第2図に仮想線で示すように変化したとして
も、駆動電流変調域Aは、上記半導体レーザの閾値電流
Ithの変動分δに追従してA1あるいはA2のように設定さ
れることになるため、所定の多階調画像データDT(k)
の駆動電流Ikは上記変動分δに対応するΔIkだけ増加し
て設定されることになり、多階調画像データDT(k)に
対する半導体レーザ1のパワーPkは略一定に保たれる。
更に、第1図(d)に示すような装置発明にあって
は、上記レーザ温度制御手段10が半導体レーザ1の温度
を所定レベルに制御し、一方、上記固定バイアス電流源
11は固定バイアス電流IBIASを設定し、上記駆動電流変
調手段12が固定バイアス電流IBIASから一定領域の駆動
電流変調域Aにて多階調画像データDTに基づく駆動電流
を決定する。
このとき、第3図に示すように、上記半導体レーザ1
の温度Tは略一定に保たれるため、閾値電流Ithの変動
幅δは極めて微小なものに抑えられ、半導体レーザ1の
特性は略一義的に定められる。このため、駆動電流変調
域Aは一定領域に固定されることになり、多階調画像デ
ータDT(k)に対する駆動電流Ikが略一定になる分、半
導体レーザ1のパワーPkは略一定に保たれる。
〔実施例〕
以下、添付図面に示す実施例に基づいてこの発明を詳
細に説明する。
◎実施例1 目次 I.画像出力ユニットの全体構成 II.半導体レーザの基本構成 III.レーザ駆動回路 (1)基本構成 (2)APC回路 (3)変調回路 IV.装置の作動 (1)APC動作過程 (2)画像形成過程 I.画像出力ユニットの全体構成 この実施例は、256濃度階調(濃度零レベルを含む)
の入力画像データを記録画像として再現するレーザプリ
ンタにこの発明を適用したものである。
第4図はこの実施例において用いられるレーザ走査ユ
ニット(以下、ROS[Raster Output Scanner]という)
を示す。
同図において、符号20は半導体レーザ、21は半導体レ
ーザ20からのビームBmを回転動作中の反射面21aにて反
射することにより所定の走査範囲lに渡ってビームBmを
導くポリゴンミラー、22はポゴンミラー21を回転駆動さ
せるためのポリゴンモータ、23はポリゴンミラー21から
のビームBmを均等な画素間隔でドラム状の感光体24上に
導くように補正するfθレンズ、25は感光体24への入射
ビームBmの走査開始点を検出する位置検出センサ(以
下、SOSセンサ[Start Of Scan Sensor]という)、26
は感光体24の走査開始点に対応するビーム経路中に介装
されて前記SOSセンサ25にビームBmを導くミラーであ
る。
尚、上記感光体24の周囲には、感光体24が予め帯電さ
れる帯電器27、感光体24上の潜像がトナーにて可視像化
される現像器28、感光体24上のトナー像が図示外の記録
シートに転写される転写器29等の電子写真プロセスの各
種部品が配設されており、この実施例において、上記現
像器28は感光体24上の露光部を画像部として反転現像す
るようになっている。
II.半導体レーザの基本構成 第5図はこの実施例で用いられる半導体レーザ20の詳
細を示す。
同図において、半導体レーザ20は、ヒートシンク32が
取り付けられたステム31を有し、上記ヒートシンク32の
一部にレーザダイオードチップ(以下レーザチップとい
う)LDを配設すると共に、上記ステム31にはレーザチッ
プLDからのビームを受けるモニタダイオードチップ(以
下モニタチップという)MDを配設し、更に、上記ステム
31には頂部にビーム照射用の透孔34が開設されたキャッ
プ33を被せ、上記透孔34を透明ガラス35にて閉塞するよ
うにしたものである。
尚、第5図中、符号36,37は上記レーザチップLD及び
モニタチップMDのアノード端子であり、符号38は両者の
カソード共通端子になっている。
III.レーザ駆動回路 (1)基本構成 第6図は半導体レーザ20の光量を変調するためのレー
ザ駆動回路を示すブロック図である。
同図において、符号40は図示外の画像処理ユニットか
ら転送される8ビットの画像データDTをビデオクロック
VCKに同期して取り込むラッチ回路、41はラッチ回路40
からの画像データDTを通過遮断するゲート回路であり、
このゲート回路41の開閉タイミング信号としてはSOS駆
動信号SOSLDONが用いられる。このSOS駆動信号SOSLDON
はSOSセンサ25による走査開始点検出時にレーザチップL
Dを点灯させるSOS点灯区間設定信号であり、このSOS駆
動信号SOSLDONが上記ゲート回路41に入力され、SOS駆動
信号SOSLDONがローレベルのとき、言い換えれば、走査
開始点検出時以外のタイミングにて上記ケート回路41が
画像データDTを通過させ、SOS駆動信号SOSLDONがハイレ
ベルのときは、画像データDTを無条件にハイレベルに
し、レーザチップLDをフルパワー点灯させるようになっ
ている。また、43はゲート回路41からの画像データDTを
アナログデータに変換するDAコンバータ、45はDAコンバ
ータ43からの画像データのゲイン調整を行うアンプであ
る。
また、符号50は上記レーザチップLDのバイアス電流I
BIASを固定的に設定するバイアス電流源であり、60は上
記レーザチップLDの変調電流IMODを画像データDTの階調
レベルに応じて変化させる変調回路であり、上記レーザ
チップLDの駆動電流IはI=IBIAS+IMODになってい
る。
更に、符号70は半導体レーザ20フルパワー時(レーザ
チップLDをフルパワーで発光させた時)においてフルパ
ワー駆動電流値が得られるように上記変調電流IMODを調
整するオートパワーコントロール回路(以下APC回路と
いう)である。
(2)APC回路 このAPC回路70は、半導体レーザ20のモニタチップMD
からの電流を電圧に変換するI−V変換器71と、APC動
作時、言う換えれば、上記SOS駆動信号SOSLDONがハイレ
ベルのときに一定時間回路を閉じ、APC動作時以外にお
いて回路を開いて直前の入力データ値を保持するトラッ
クホールド回路72と、上記I−V変換器71からの出力の
ゲイン調整を行うアンプ73と、このアンプ73からの出力
に基づいて変調電流IMODを変化させ、レーザチップLDが
フルパワーで発光した際の変調電流レベルになるように
電流調整する電圧制御電流源74とからなる。
(3)変調回路 上記変調回路60の基本原理は、例えば第7図に示すよ
うに、エミッタ共通の二つのトランジスタQAQBからなる
差動電流スイッチであり、両トランジスタQAQBのエミッ
タ間に変調電流調整用の抵抗RARBを介在させて上記電圧
制御電流源74に接続したものである。そして、上記トラ
ンジスタQAのベース電圧V0+Vi(画像データDTの階調レ
ベルに相当)を基準電圧V0より上下させることにより、
上記変調電流IMODを変調するようにしたものである。
より具体的に述べると、簡単化のために、上記トラン
ジスタQAQBの特性が全く同じで、しかも、上記抵抗RA=R
B=Rと仮定し、上記QAのベース電圧の基準電圧V0から
の変位電圧Viと変調電流IMODとの関係を求めると、以下
の(2)式のようになる。
IMOD=(a/2R)Vi+(a/2)Ic−(a/2R)h・1n{(aIc-IMOD)
/IMOD} …(2) 但し、a:QAQBのベース接地電流増幅率 a≒1 h=kT/q k:ボルツマン定数1.38×10-23[J/K] T:絶対温度 q:電子の電荷1.60×10-19[C] 常温でh≒26[mV] Ic:電圧制御電流源の電流値 上記(2)式において、 右辺第3項の{(aIc-IMOD)/IMOD}は、トランジス
タQAQBのコレクタ電流の比であり、Viが充分に小さい領
域(第8図中のS領域)ではこの値は1に近くなるた
め、上記右辺第3項は無視できる。
よって、この領域では、 IMOD=(a/2R)Vi+(a/2)Ic …(2′) となり、変調電流IMODは、第8図に示すように、Viをパ
ラメータとしてリニアに変調されるのである。
IV.装置の作動 (1)APC動作過程 上記SOSセンサ25による走査開始点を検出する際に
は、第11図に示すように、SOS駆動信号SOSLDONにて上記
半導体レーザ20のレーザチップLDが所定時間tAPCだけ点
灯し、この間、APC回路70が働いて変調電流IMODの最大
値IMMAXの値を調整する。
このとき、上記半導体レーザ20の温度がT1であるとす
る、上記半導体レーザ20の特性は第9図中T1で示すよう
になり、上記APC回路70は、上記レーザチップLDのフル
パワーPMAXに対応する最大変調電流IMMAX(1)が生成
されるように電圧制御電流源74の電流値Icを制御する。
また、上記半導体レーザ20の温度がT2になったとする
と、上記半導体レーザ20の特性は第9図T2で示すように
なるが、上記APC回路70は、上記レーザチップLDのフル
パワーPMAXに対応する最大変調電流IMMAX(2)が生成
されるように電圧制御電流源74の電流値Icを制御する。
従って、半導体レーザ20の温度がT1の場合には、上記
半導体レーザ20の駆動電流変調域はIBIAS〜IBIAS+IMMAX
(1)となり、また、半導体レーザ20の温度がT2の場合
には、上記半導体レーザ20の駆動電流変調域はIBIAS〜I
BIAS+IMMAS(2)となる。
(2)画像形成過程 上記APC動作時において、上記レーザチップLDが点灯
すると、半導体レーザ20からのビームBmがSOSセンサ25
に入射される。すると、第11図に示すように、上記SOS
センサ25からの走査開始信号SOSが生成され、図示外の
カウンタが上記走査開始信号SOSの立ち上がりからビデ
オクックVCKを所定パルス数Xnだけ計数した段階で、レ
ーザ駆動回路は半導体レーザ20の書込み動作を開始す
る。尚、このときのAPC動作過程においては、第10図に
示すように、半導体レーザ20の温度がTであり、APC動
作にて最大変調電流がIMMAXに設定されているとする。
このとき、所定階調数の画像データDT(j)がアンプ
45を介して変調回路60に供給されると、第10図に示すよ
うに、上記変調回路60の差動電流スイッチを構成するト
ランジスタQAのベース電圧V0+Viが上記画像データDTの
階調数に対応して設定されることになり、上述したよう
な(2′)式に基づいて上記変調電流IMOD(j)が決定
される。このため、上記レーザチップLDにはIBIAS+IMOD
(j)の駆動電流I(j)が供給される。
より具体的に説明すると、、第4図に示すように、帯
電器27にて感光体24の表面電位を予め帯電した後に、上
記半導体レーザ20が画像書込み動作を開始したとする。
今、各画素PXi,PXi+1,PXi+2,PXi+3の駆動電流IがI
BIAS,IBIAS+IMOD(j1),IBIAS+IMOD(j2),IBIAS+IMOD(j
3)〔但し、IMOD(j1)<IMOD(j2)<IMOD(j3)=IMMAX〕であ
る場合には、夫々の半導体レーザの光出力Pは、夫々
Pi,Pi+1,Pi+2,Pi+3〔但し、Pi=0<Pi+1<Pi+2<Pi+3=
PMAX〕になり、各画素PXi,PXi+1,PXi+2,PXi+3に対応す
る感光体24上には、第12図に示すような電位分布の背景
部潜像H及び画像部潜像Z(具体的にはZi+1,Zi+2,
Zi+3)が形成される。
この後、上述した現像器28を所定の現像バイアスイVB
印加条件下で動作(反転現像)させると、現像バイアス
VBと各画像部潜像Zi+1,Zi+2,Zi+3との電位差ΔV(具体
的にはΔVi+1,ΔVi+2,ΔVi+3)に基づいて現像度合が
段階的に変化し、上記各電位差ΔVに応じた量のトナー
が感光体24側に転移する。すると、上記感光体24の各画
素に対応した領域には夫々上記電位差ΔVに対応した濃
度のトナー像TZ(具体的にはTZi+1,TZi+2,TZi+3)が形
成される。
この後、上記感光体24上のトナー像TZは転写器29にて
図示外の記録シートに転写され、図示外の定着器にて記
録シートに定着せしめられるのである。
◎実施例2 この実施例は、実施例1と同様に、256濃度階調(濃
度零レベルを含む)の入力画像データを記録画像として
再現するレーザプリンタにこの発明を適用したものであ
り、ROS構成及び半導体レーザ20構成は実施例1と同様
であるが、レーザ駆動回路の構成が実施例1と異なるも
のになっている。
以下、目次に従ってレーザ駆動回路を中心に装置の詳
細を説明する。
目次 I.レーザ駆動回路の全体構成 II.APC回路 (1)基本構成 (2)初期調整 III.変調回路 (1)スイッチ回路 (2)駆動電流源 (3)電流合成回路 IV.装置の作動 (1)APC動作過程 (2)画像形成過程 V.光量変調実験例 (1)実験装置 (2)実験結果 I.レーザ駆動回路の全体構成 第13図はこの実施例に係るレーザ駆動回路を示す。
同図において、符号81,82は半導体レーザ20のモニタ
チップMDからの出力のゲイン調整を行うゲイン調整用可
変抵抗及びアンプ、90は後述するモードコントロール信
号(Mode Cont.)及びオフセットオンオフ信号(Offset
ON/OFF)に基づいて動作し、上記モニタチップMDから
の出力に基づいてバイアス電流IBIASを可変設定するAPC
回路、100は画像データDTの濃度レベルに応じて駆動電
流を変調する駆動電流変調回路であって、スイッチ回路
120及び駆動電流源130を有し、画像データDTの濃度レベ
ルに応じた変調電流IMODを決定する変調電流生成回路11
0と、この変調電流生成回路110からの変調電流IMOD及び
APC回路90からのバイアス電流IBIASを合成する電流合成
回路140とを備えている。
この実施例において、上記スイッチ回路120は、三つ
のスイッチ121(具体的には121aないし121c)を有し、
画像データDTの濃度階調数に応じて上記スイッチ121a
いし121cを適宜オンオフさせるようにしたものである。
尚、この実施例においては、一般的に、レーザプリンタ
の特性として記録画像の再現濃度階調数として大体8濃
度階調(濃度零レベルを含む)程度であることを考慮
し、上記入力画像データDTをデコーダ111にて3ビット
データに変換した後、上記スイッチ回路120に入力する
ようになっている。一方、上記スイッチ回路120はSOS点
灯区間(SOS駆動信号SOSLDONがハイレベルのとき)にて
上記スイッチ121を総てオンさせるようになっている。
また、上記駆動電流源130は、上記スイッチ回路120の
各スイッチ121aないし121cに直列接続される複数個の電
流源131(具体的には131aないし131cを備えている。こ
の実施例において、上記各電流源131は、パワー調整抵
抗(Power Adj.)132にて単位基準電流I0が調整される
多数の単位電流源を有し、これらの単位電流源を任意の
数、並列に接続することによって重み付けを行うように
なっている。この実施例では、上記電流源131aないし13
1cが夫々I0,2I0,4I0を生成するようになっている。
II.APC回路 (1)基本構成 第14図はAPC回路90の基本構成を示すブロック図であ
る。
同図において、符号91はアンプ82からの出力電圧と比
較基準電圧Vcの大小を比較してその結果を出力するコン
パレータであり、この実施例では、レーザチップLDがフ
ルパワーのとき、アンプ82の出力がVcとなるように可変
抵抗81のボリウムが調整されている。また、92はAPC動
作中であることを示すカウントモードと、非APC動作中
であることを示すホールドモードとを選択するモードコ
ントロール信号(Mode Cont.)に応じて動作するカウン
タであり、カウントモードであるときに上記比較結果に
応じて発振器93からのクロックをカウントアップ又はカ
ウントダウンするようにしたものである。更に、符号94
は上記カウンタ92からの計数値をアナログデータに変換
するDAコンバータ、95は上記DAコンバータ94からの出力
に基づいたバイアス電流IBIASを生成する電流源であ
る。更にまた、符号96ないし98は後述する初期調整時に
おいて使用されるオフセット電流の供給停止系を構成す
るもので、96はオフセット電流源、97はオフセット電流
値を決定するための抵抗、98はオフセット電流の供給停
止のためのスイッチである。
(2)初期調整 上述したAPC回路90を可変バイアス電流源として用い
るためには、以下のような初期調整が必要になる(第15
図参照)。
先ず、上記変調電流IMODをゼロにしておき、APC回路9
0だけ働かせて光出力が例えば1mW(光パワーメータで測
定)になるように、上記ゲイン調整用可変抵抗81のボリ
ウムを調整する。このとき、フルパワー(この実施例の
フルパワーの目標値:10mW)発光の際に上記ゲイン調整
用可変抵抗81のボリウムを大きく動かさなくてもよいよ
うにするため、上記アンプ82のゲインを10倍にしてお
く。また、所定のオフセット電流IOS(使用するレーザ
によって値を決定する)を加えておく。
次に、上記APC回路90の出力電流を固定し(ホールド
モード)、加えておいたオフセット電流IOS(この場合
約7mA)を切ると、半導体レーザ20のレーザチップLDは
消灯する。この段階で、閾値電流Ithより僅かに小さい
バイアス電流IBIASが求められたことになる。
この場合、閾値電流Ithを直接的に求める方法を採用
しなかった理由は、どのくらいの光出力に達したところ
を閾値電流Ithとするかの判断が難しく、また、高精度
の光検知能力が必要になることによる。
そして、バイアス電流IBIASを固定したまま、今度は
最大変調電流IMMAXをかけて(スイッチ121をすべてオン
にする)、光出力が10mW(フルパワーの目標値)になる
ように、駆動電流源131のパワー調整用抵抗のボリウム
を調整する。
最後に、最大変調電流IMMAXをかけた状態で再度APC回
路90を働かせ、光出力が10mWになるように上記ゲイン調
整用抵抗81のボリウムを調整する。
以上により、このバイアス電流20の閾値電流Ith、微
分スロープ効率ηにあったバイアス電流IBIAS、最大変
調電流IMMAXが設定できたわけである。
尚、上記二つのボリウム調整は同じ半導体レーザ20で
ある限り、最初の一回だけ行うようにすればよい。
III.変調回路 (1)スイッチ回路 (1−A)基本原理 この実施例において、上記スイッチ回路120の各スイ
ッチ121の基本原理は、例えば第16図に示すように、エ
ミッタ共通の二つのトランジスタQAQBからなる差動電流
スイッチであり、両トランジスタQAQBのエミッタ端子を
駆動電流源130の対応する電流源131に接続したものであ
る。そして、上記トランジスタQAのベース電圧V0+Vi
基準電圧V0より上下させることにより、スイッチ121を
オンオフするようになっている。
より具体的には、簡単化のために、上記トランジスタ
QAQBの特性が全く同じと仮定すると、上記トランジスタ
QAのベース電圧Viとスイッチング電流Isとの関係は以下
の(3)式のようになる。
Is=[(a/{1+exp(−Vi/h)}]ID …(3) 但し、a:QAQBのベース接地電流増幅率 h=kT/q k:ボルツマン定数 T:絶対温度 q:電子の電荷 ID:駆動電流源の対応電流源電流値 である。
第17図は上記(3)式を満足するQAのベース電圧Vi
変調電流Isとの関係を示したグラフである。
よって、トランジスタQAのベースを基準電圧V0に対し
て僅かに上下に振らせることにより、スイッチング動作
を行うことが可能になるのである。
尚、この実施例においては、上記トランジスタQAの片
側駆動を行っているのは、両トランジスタQAQBのベース
を夫々逆相でドライブすると、スキューを生じてスイッ
チング電流が乱れてしまうという事態を回避するためで
ある。
(1−B)基本構成 第18図は上記スイッチ回路120のうち駆動電流源130の
所定の電流源131に接続されるスイッチ121の基本的構成
を示す回路図である。
同図において、QAQBは差動電流スイッチを構成するト
ランジスタ、RARBはトランジスタQAへのベース電圧レベ
ルを調整するための抵抗、QCは所謂エミッタフォロアと
して働き、トランジスタQBへのベース電圧印加用の電圧
源として機能するトランジスタ、RCはトランジスタQC
エミッタ電流を流すための抵抗、DAないしDFは基準電圧
を生成するための多段ダイオード、RDは上記ダイオード
DAないしDFに電流を流すための抵抗、CAはトランジスタ
QCのベース電圧の変動を低減させるためのコンデンサ、
QDはトランジスタQAの負荷として働く電流合成回路(後
述)のトランジスタ、REはトランジスタQBの負荷抵抗で
ある。
(1−C)改良構成 第19図は上記スイッチ121構成をスイッチング歪み及
び基準電圧の変動を防止するように更に改良したもので
ある。尚、第18図と同様な構成要素については第18図と
同様な符号を付してここではその詳細な説明を省略す
る。
同図における主な改良点は以下の通りである。
トランジスタQE,抵抗RHの追加 これは、トランジスタQAQBのベースから見たインピー
ダンスを略等しくして、トランジスタQAQBの立ち上が
り、立ち下がりの特性を揃え、スイッチング歪みの低減
を図るものである。
トランジスタQFの追加 トランジスタQAQBの負荷条件を同じにし、立ち上が
り、立ち下がりの特性を揃え、スイッチング歪みの低減
を図るものである。
トランジスタQGダイオードDGの追加 トランジスタQAがオフしたときにベース電位をゼロに
せず、スイッチング速度を向上させるものである。
コンデンサCBの追加 コンデンサCBの容量は、トランジスタQAの駆動波形が
きれいな方形波になるように実験的に定められるもので
あり、スイッチング歪みを低減させるものである。
コンデンサCCCDの追加 トランジスタQCのエミッタ電位の安定化を図るもので
ある。
尚、符号RFRGは上記トランジスタQEへのベース電圧レ
ベルを調整するための抵抗、R1はトランジスタQGのエミ
ッタ電流を流すための抵抗、CEはトランジスタQGのエミ
ッタ電位の安定化を図るためのコンデンサである。
(2)駆動電流源 (2−A)基本構成 第20図は駆動電流源130の基本構成を示す回路図であ
り、所謂カレントミラー方式を採用したものである。
同図において、QA及びRPは電流I1を決定するためのト
ランジスタ及び可変抵抗(前述のパワー調整抵抗として
働く)、QBはトランジスタQC,QD,QE,QF…のベース電流
を供給するためのトランジスタ、REC,RED,REE,REF…は
上記トランジスタQC,QD,QE,QF…のベースエミッタ間電
圧VBEのばらつきによる誤差を軽減するための抵抗であ
る。
そして、この実施例においては、上記各トランジスタ
QC,QD,QE,QF…のコレクタ電圧I1,I2,I3,I4…は総て同一
(この実施例ではI0)であり、第14図の電源131aないし
131cは、上記電流I0の各単位電流源を1個、2個、4個
とパラレルに使って重み付けを行ったものになってい
る。
(2−B)改良構成 第21図はスイッチ回路120が駆動電流源130に与える悪
影響をなくし、スイッチング歪みを低減させるために、
駆動電流源120を更に改良したものである。
同図における主な改良点は以下の通りである。
抵抗RAの追加 これは、トランジスタQBに充分なエミッタ電流を流
し、トランジスタQA,QC,QD,QE…のベース電位の安定化
を図るものである。
コンデンサCA,CB,CC…の追加 これも、トランジスタQA,QC,QD,QE…のベース電位の
安定化を図るものである。
(3)電流合成回路 (3−A)基本構成 第22図は変調電流IMODと上記バイアス電流IBIASとを
合成する電流合成回路を示す。
この電流合成回路140は,ベース接地のトランジスタQ
A(第18図,第19図のQDに相当)で変調電流IMODとバイ
アス電流IBIASとを合成するものであって、ベース接地
で受けて各スイッチング電流が合流するラインのインピ
ーダンスを下げることにより、スイッチ回路120の各ス
イッチングトランジスタ間の相互干渉を低減し、半導体
レーザ20の電流の歪みを抑えるようになっている。尚、
符号VAはベース電圧用電源である。
(3−B)改良構成 第23図は第22図の電流合成回路を更に改良したもので
ある。
同図における主な改良点は以下の通りである。
トランジスタQAのパワーアップ これは、ドライブ能力を強化したもので、負荷のイン
ダクタンス成分による歪みを低減させるようにしたもの
である。
バイアス電流IBIASの合成方法の変更,コイルLAの追
加 これは、レーザチップLDの駆動電流のAC成分(IMOD
とDC成分(IBIAS)とを分離することにより、スイッチ
回路120とAPC回路90との相互干渉を抑え、スイッチング
歪みを低減させるものである。
トランジスタQBの追加 これは、電源電流IPが常に略一定になるようにし、ス
イッチング歪みを低減させるようにしたものである。
尚、RAはトランジスタQBの負荷抵抗である。
このトランジスタQBは第19図のQFに相当するものであ
り、スイッチ回路120と電流合成回路140の両方の回路の
改良に寄与している。
IV.装置の作動 (1)APC動作過程 先ず、SOS点灯区間において、上記半導体レーザ20の
レーザチップLDがフルパワーで点灯すると、上記APC回
路90はバイアス電流IBIASを微調整し、変調区間では微
調整されたバイアス電流IBIASを固定する。
今、第24図に示すように、上記半導体レーザ20の特性
がTaである場合には、上記バイアス電流は閾値電流Ith
より僅かに小さいIBIAS(a)に可変設定され、また、
温度が上昇し、半導体レーザ20の特性がTbとなる場合に
は、上記バイアス電流は閾値電流Ithより僅かに小さいI
BIAS(b)に可変設定される。
このとき、上記夫々の特性のうちで上記閾値電流Ith
と各バイアス電流IBIASとの差は一定に保たれ、また、
上記半導体レーザ20のフルパワーPMAXに対応した最大変
調電流IMMAXはいずれも等しい大きさに設定されてい
る。
(2)画像形成過程 今、所定階調数の画像データDT(i)が変調電流生成
110のスイッチ回路120に入力されると、対応するスイッ
チ121が選択的にオン動作し、変調電流生成回路110は所
定の変調電流IMODを生成する。
このとき、第24図に示すように、上記半導体レーザ20
の特性がTaである場合には上記変調電流はIMOD(a)で
あり、また、上記半導体レーザ20の特性がTbである場合
には上記変調電流はIMOD(b)であるが、各変調電流I
MOD(a),IMOD(b)はいずれも同じ大きさになり、
結局、半導体レーザ20の特性が温度によって変動したと
しても、上記バイアス電流IBIASがその特性変動に追従
して変動することになるため、上記画像データDT(i)
に対応する駆動電流Iも上記半導体レーザ20の特性変動
に追従して相対的に移動することになる。それゆえ、上
記画像データDT(i)に対応する半導体レーザ20のパワ
ーPiは一定に保たれるのである。
次に、第25図に基づいて、この実施例に係る半導体レ
ーザ20のパワーレベルについて説明する。
同図において、DT(1)ないしDT(7)は3ビットの
画像データ[001][010][011][100][101][11
0][111]に対応したものである。そして、上記各画像
データDT(1)ないしDT(7)は、APC動作過程におい
て設定された変調域(IBIAS〜IBIAS+IMMAX)を7等分し
することにより夫々対応する変調電流IMOD(1)〜変調
電流IMOD(7)として生成される。このため、各画像デ
ータDT(1)ないしDT(7)に対応する駆動電流Iは夫
々の変調電流IMOD(1)〜IMOD(7)にバイアス電流I
BIASを付加したものになる。
このとき、各駆動電流Iに対応する半導体レーザ20の
パワーP1ないしP7は上記半導体レーザ20のフルパワー出
力を略7等分したものに設定される。
尚、画像データ[000]の変調電流IMODはゼロであ
り、このときの駆動電流IはIBIASに設定され、そのと
きの半導体レーザ20のパワーはほとんどゼロである。
このように、上記半導体レーザ20の光量が画像データ
DTの階調数に応じて変調されると、実施例1と同様に、
感光体24には夫々の画像データDTの濃度に応じた電位分
布の潜像が形成されると共に、各潜像が現像器28にて可
視像化され、感光体24上のトナー像が図示外の記録シー
トに転写されて中間調画像が記録再現されるのである。
特に、上述した記録動作過程にあっては、実施例1に
比べて画像の階調再現性が良好に保たれる。
すなわち、実施例1のタイプの記録動作過程において
は、半導体レーザ20の温度変動に伴って上記最大変調電
流IMMAXの大きさが変化するため、駆動電流変調域の大
きさ自体が変化してしまう。このとき、上記駆動電流変
調域を255段階に分割することは変わらないため、半導
体レーザ20の温度が変動すると、1ビット当たりの電流
量(光量)が異なってしまうばかりか、無効なビット
(光出力が出ない部分)の数も当然異なったものになっ
てしまい、その分、光量変調精度が若干ラフになってし
まう虞れがある。
ところが、この実施例によれば、半導体レーザ20の特
性に対する駆動電流変調域の相対位置関数を常に一定に
保つことができ、しかも、駆動電流変調域の大きさを一
定にすることができるため、1ビット当たりの電流量を
一定にすることができると共に、無効なビット数も一定
にすることができる。それゆえ、実施例1に比べて光量
変調精度を向上させることができる。
V.光量変調実験例 (1)実験装置 第26図は上記実施例に係る装置の光量変調状態を測定
するための光量測定装置である。
同図において、150は簡易的に光出力波形を観察する
ための高速ピンフォトダイオードからなる受光素子、Vm
は受光素子150に印加される電圧(この実施例では+15
(V))、Rmは受光素子150に逆バイアス電圧を加える
ための抵抗(この実施例では1KΩ)、Cm,Cnは受光素子
150の逆バイアス電圧を安定化させるためのコンデン
サ、RLは受光素子150の光出力電流を電圧に変換して取
り出すための抵抗(この実施例では560Ω)、151はデジ
タイジングオシロスコープ[Digitizing Osilloscope]
(この実施例ではヒューレット・パッカード社製HP1653
0A)、152は上記デジタイジングオシロスコープ151に光
出力を取り込むためのプローブである。
この測定装置においては、抵抗RLとプローブ入力容量
CINとによってポールができて波形がなまる。よって、
トランジェント特性を重視する場合にはRLを小さく設定
することが必要であり、また、測定のS/N比を重視する
場合にはRLを大きく設定することが必要である。
この測定装置において、RL=560ΩとしたのはS/N比を
重視したものであり、実際の光出力は観測された波形よ
りも立ち上がり、立ち下がりエッジが鋭くなっていると
考えられる。
尚、正確な光波形の測定には光オシロスコープ等を用
いることが好ましい。
(2)実験結果 上述した光量測定装置を用いて行う光量変調の実験、
測定は、実際の使用条件に近くするため、APC(10μ
s)→消灯(50μs)→変調(100μs)→消灯(50μ
s)というパターンの繰り返しで行った。また、変調部
分は、例えば(000)→(001)→(010)→(011)→
(100)→(101)→(110)→(111)のような8個のデ
ータを一組として、その繰り返しで変調を行った。
尚、一個のデータの長さは50nsであり、上記3ビット
の入力データの左側が上位ビット(MSB),右側は下位
ビット(LSB)である。
第27図(a)(b)はレーザの代わりに抵抗負荷をつ
ないだ場合の電流波形を示す。第27図(a)は入力デー
タが(000)→(001)→(010)→(011)→(100)→
(101)→(110)→(111)のとき、第27図(b)は(0
10)→(011)→(100)→(101)→(110)→(101)
→(100)→(011)のときを夫々示す。尚、第27図
(a)(b)の点線部分領域Wが一つのデータ領域を示
し、また、図中の括弧付きの数字が入力データを夫々示
す(以後の第27図各図においても同様)。
今、電流波形が第27図(a)のときの光出力波形を第
27図(c)ないし(f)に示す。
第27図(c)は変調区間の初め、第27図(d)は変調
区間の終わりである。同図によれば、波形の変化はほと
んど見られず、この間の温度変化の影響はほとんどない
ことが理解される。また、第27図(e)(f)は第27図
(c)(d)と同じ部分をデジタイジングオシロスコー
プ151のアキュームレートモード(Accumlate Mode:トレ
ースを重ねていくモード)で見たものである。このモー
ドを見ても、入力データに従って光出力が階段的に変化
していく様子が把握され、3ビット精度で光量変調され
ていることが理解される。
また、電流波形が第27図(b)のときの光出力波形を
第27図(g)(h)に示す。
第27図(g)は変調区間の初め、第27図(h)は変調
区間の終わりである。同図によれば、若干のヒステリシ
ス現象(電流が増えていく時と減っていく時とで同じデ
ータに対する電流値が異なる現象)は見られるものの、
入力データに従って光出力が階段的に変化していく様子
が把握され、3ビット精度で光量変調されていることが
理解される。
また、1ドット毎の全発光、消灯の繰り返しの場合の
光出力波形を第27図(i)(j)に示す。
第27図(i)は変調区間の初め、第27図(j)は変調
区間の終わりである。同図によれば、1ドット毎のオン
オフは確実にできており、変調区間の初めと終わりとで
波形の変化も見られないことが理解される。尚、同図に
おいて、立ち下がりが緩やかになっているのは、上述し
たように、測定装置の問題と思われる。
また、変調区間中、全発光で連続点灯させた場合の光
出力波形を第27図(k)(l)に示す。
第27図(K)は変調区間の始め、第27図(l)は変調
区間の終わりである。同図によれば、変調区間の始めと
終わりとで、光出力の変化はほとんど見られず、この間
のドループは問題にならないことが理解される。
尚、この実施例においては、半導体レーザの放熱は特
に考慮していない。
◎実施例3 目次 I.画像出力ユニットの全体構成 II.レーザ駆動回路 (1)基本構成 (2)駆動電流源の重み付け設定 III.装置の作動 I.画像出力ユニットの全体構成 この実施例は、所謂1パス2カラー(例えば赤色と黒
色)用レーザプリンタにこの発明を適用したものであ
る。
第28図において、符号200は例えば正帯電型の感光
体、201は感光体200を予め帯電する帯電器、202はこの
実施例で用いられるROS、203は例えば正極性の赤色トナ
ーが用いられるバイアス方式の第一現像器、204は例え
ば負極性の黒色トナーが用いられるバイアス方式の第二
現像器、205は感光体200上のトナー像の極性を揃える転
写前処理帯電器、206は記録シート207に感光体200上の
トナー像を転写させる転写器、208は感光体200側に静電
付着した記録シート207を剥離するための除電器、209は
感光体200上の残留トナーを除去するクリーナ、210は感
光体200上の残留電荷を除去するイレーサランプ、211は
転写工程後の記録シート207にトナー像を定着させる定
着器である。尚、この実施例において、上記第一現像器
203及び第二現像器204の入力画像濃度と記録画像濃度と
の関係を示す再現画像特性は、第30図YR(第一現像器特
性),YB(第二現像器特性)のように、夫々異なったも
のになっている。
この実施例において用いられるROS202の詳細を第29図
に示す。
同図において、221は一色目の画像形成用の半導体レ
ーザ、222は二色目の画像形成用の半導体レーザ、223は
両者のレーザ221,222からのビームBmを異なる角度にて
反射させるポリゴンミラー、224はそのポリゴンモー
タ、225はfθレンズ、226は一色目のレーザ221からの
ビームBmを感光体200の第一現像器203の手前に位置する
第一露光部E1に導くミラー、227は二色目のレーザ222か
らのビームBmを感光体200の第二現像器204の手前に位置
する第二露光部E2に導くミラー、228および229は一色目
及び二色目のレーザビームの走査開始位置を夫々検出す
るSOSセンサである。
また、上記ROS202の駆動制御系は以下のように構成さ
れている。
第28図において、符号230は一色目(赤色)及び二色
目(黒色)の256階調の多階調画像データDTR,DTBをデ
コーダにて3ビットデータに変換した後に出力する画像
処理ユニット、231は画像処理ユニット230からの画像デ
ータDTRを一旦格納して出力する先入れ先出し方式のメ
モリである所謂FIFO、232は画像処理ユニット230からの
画像データDTBを上記第一露光部E1と第二露光部E2との
ギャップGPに相当する走査時間分だけ格納した後出力す
るギャップメモリ、233は露光部が画像部となるように
一色目のレーザ221を画像データに応じて光量変調駆動
する第一レーザ駆動回路、234は非露光部が画像部とな
るように二色目のレーザ222を画像データに応じて光量
変調駆動する第二レーザ駆動回路である。尚、上記ポリ
ゴンモータ224は図示外のモータ駆動回路にて駆動制御
される。
II.レーザ駆動回路 (1)基本構成 第31図は上記第一及び第二レーザ駆動回路233,234の
基本的構成を示す回路図である。
この実施例に係る第一及び第二レーザ駆動回路233,23
4は、基本的に実施例2と同様に、バイアス電流IBIAS
可変設定するAPC回路90と、画像データDTの濃度階調数
(濃度零レベルを含んで8濃度階調)に応じて駆動電流
を変調する変調回路100とを備えているが、変調回路100
のうち特に駆動電流源130の構成が実施例2と異なるも
のになっている。尚、実施例2と同様な構成要素につい
ては実施例1と同様な符号を付してここではその詳細な
説明を省略する。
この実施例において、駆動電流源130は、第21図に示
すような基本的要素からなる七つの電流源131(具体的
には131aないし131g)と、各電流源131に直列的に接続
される可変抵抗133(具体的には133aないし131g)とか
らなり、上記可変抵抗133の各抵抗値を適宜変化させる
ことにより各電流源131からの電流を夫々K1I0,K2I0…K
7I0(K1〜K7:重み付け係数)に調整できるようになっ
ている。特に、この実施例にあっては、後述するよう
に、各現像器203,204の再現画像特性を考慮して上記各
重み付け係数K1〜K7が設定されている。
尚、この実施例において、上記スイッチ回路120は各
電流源131に接続される七つのスイッチ121にて構成され
ており、各スイッチ121が画像データDTに応じて選択的
にオン動作するようになっている。
(2)駆動電流源の重み付け設定 (2−A)第一レーザ駆動回路 第32図(a)は第一現像器203による露光量Pと画像
記録濃度Dとの関係を示す特性図(第30図YRに相当)で
ある。
同図において、上記画像濃記録濃度Dを等間隔で8段
階D0ないしD7に区分し、夫々に対応する露光量PをP0
いしP7とする。この場合、上記露光量P0ないしP7は非等
分なものになっている。
そして、第32図(b)に示すように、半導体レーザ22
1の特性に対し、上記露光量P0ないしP7に対応する変調
電流IMOD(0)ないしIMOD(7)を求め、夫々の変調電
流IMOD(0)ないしIMOD(7)に対して夫々画像データ
DT(0)ないしDT(7)[(000)(001)(010)…(1
10)(111)]を対応させるようにすればよい。尚、画
像データDT(0)[(000)]に対応する変調電流IMOD
(0)はゼロである。
このとき、各変調電流IMOD(1)ないしIMOD(7)が
生成されるように駆動電流源130の各電流源131の重み付
けを行うことが必要である。
(2−B)第二レーザ駆動回路 第33図(a)は第二現像器204による露光量Pと画像
記録濃度Dとの関係を示す特性図(第30図YBに相当)で
ある。
同図において、上記画像濃記録濃度Dを等間隔で8段
階D0ないしD7に区分し、夫々に対応する露光量PをP0
いしP7(P7はゼロ)とする。この場合、上記露光量P0
いしP7は非等分なものになっている。
そして、第33図(b)に示すように、半導体レーザ22
1の特性に対し、上記露光量P0ないしP7に対応する変調
電流IMOD(0)ないしIMOD(7)を求め、夫々の変調電
流IMOD(0)ないしIMOD(7)に対して夫々画像データ
DT(0)ないしDT(7)[(000)(001)(010)……
(110)(111)]を対応させるようにすればよい。尚、
画像データDT(0)[(000)]に対応する変調電流I
MOD(0)はIMMAXである。
このとき、各変調電流IMOD(0)ないしIMOD(6)が
生成されるように駆動電流源130の各電流源131の重み付
けを行うことが必要である。
尚、この実施例においては、8段階の非線形の電流変
調を行う上で、第一レーザ駆動回路233にあってはIMOD
(1)ないしIMOD(7)に対応する七つの電流源131
を、第二レーザ駆動回路234にあってはIMOD(0)ない
しIMOD(6)に対応する七つの電流源131を夫々用意
し、個々的に重み付けするようにしているが、生成すべ
き変調電流レベルが複数の電流源131を組み合わせるこ
とにより得られるような場合には、電流源131の組合せ
使用が可能になり、その分、電流源131の数を低減する
ことができる。
III.装置の作動 次に、この実施例に係る画像出力ユニットの作動につ
いて説明する。
上記画像処理ユニット230からの画像データDTR,DTB
はFIFO231あるいはギャップメモリ232を介して第一レー
ザ駆動回路233,第二レーザ駆動回路234へ送出される。
このとき、先ず、第一レーザ駆動回路233はレーザ221
を駆動し、感光体200の第一露光部E1に第34図(a)に
示すような露光部が画像部となる潜像Z1が形成される。
そして、この潜像Z1が第一現像器203にて現像バイアスV
B1のもとに現像されると、同図に示すように、第一トナ
ー像TN1が形成される。
この後、第二レーザ駆動回路234がレーザ222を駆動
し、感光体200の第二露光部E2に第34図(b)に示すよ
うな非露光部が画像部となる潜像Z2が形成される。そし
て、この潜像Z2が第二現像器204にて現像バイアスVB2
もとに現像されると、同図に示すように、第一トナー像
TN2が形成される。
そして、これらのトナー像TN1,TN2は転写前処理帯電
器205にて極性を揃えられた後、転写器206にて記録シー
ト207に転写され、しかる後、定着器211にて定着され
る。
このような記録動作過程においては、上記半導体レー
ザ221,222の光量変調制御は各現像器203,204の画像再現
特性を補正するように行われ、第35図に示すように、入
力画像濃度に対する記録画像濃度がリニアな関係にな
る。よって、二色カラー画像は極めて良好な状態で再現
されることになる。
◎実施例4 この実施例に係るレーザ駆動回路の基本的構成は、第
36図に示すように、実施例2と略同様であるが、バイア
ス電流IBIASを可変設定するAPC回路250が実施例2と異
なるものになっている。尚、実施例2と同様な構成要素
については実施例2と同様な符号を付してここではその
詳細な説明を省略する。
同図において、上記APC回路250は、半導体レーザ20の
モニタチップMDからの電流を電圧に変換するI−V変換
器251と、このI−V変換器251の出力をディジタル量に
変換するAD変換器252と、このAD変換器252からのデータ
に基づいて所定の演算を行う処理ロジック253と、この
処理ロジック253からの出力をアナログ量に変換するDA
変換器254と、このDA変換器254からの出力に基づいてバ
イアス電流IBIASを決定する電流源255とを備えている。
この実施例において、上記処理ロジック253は、第37
図に示すように、各APC動作サイクル毎に、モニタチッ
プMDの出力が所定値(この実施例では半導体レーザ20の
特性のリニア領域の閾値電流Ith寄りにて予め設定され
る低パワーPi)に達するまでバイアス電流増加信号を順
次増加させ、モニタチップMDの出力が所定値に達した段
階で、一定の差分電流ΔI(この実施例では所定パワー
Piに対応するAPC動作時の電流源255からの電流IAPCの値
と閾値電流Ithより若干低いレベルの電流値との差)に
対応する差分信号を上記バイアス電流増加信号から減算
し、これを一定に保持して次のAPC動作サイクルまで出
力し続けるものである。
従って、この実施例によれば、APC動作過程において
は、上記APC回路250は、第37図及び第38図に示すよう
に、APC区間として、モニタチップMDの出力が低パワーP
iの所定値に達するまでバイアス電流IBIASを順次増加さ
せ、モニタチップMDの出力が所定値に達した段階でI
BIAS=IMになったとすると、このIMから差分電流ΔIを
減算した値、すなわち、IM−ΔIをバイアス電流IBIAS
として設定し、以後ホールド区間としてその値を保持す
る。
このタイプにおいては、基本的に実施例2と同様な作
用、効果を奏するが、APC動作過程において半導体レー
ザ20をフルパワーで発光させる必要がないので、実施例
2に比べて、APC動作時間が短縮されるほか、APC動作時
の半導体レーザ20の点灯時間そのものの短縮分だけ半導
体レーザ20の寿命が延びる。
尚、この実施例においては、中間調画像再現用のレー
ザプリンタに上記APC回路250を採用しているが、二値画
像再現用のレーザプリンタ等に対しても上記APC回路250
を適用できることが勿論である。
◎実施例5 この実施例はレーザプリンタにこの発明を適用したも
のであるが、上記各実施例と異なり、第39図に示すよう
に、半導体レーザ20は温度制御系260にて一定温度に制
御されると共に、レーザ駆動回路270にて駆動制御され
ている。
この実施例において、上記温度制御系260は、上記半
導体レーザ20のステムあるいはギャップに温度センサ26
1及びペルチェ素子等の冷却素子262を取付け、上記温度
センサ261出力を温度補償回路263に入力し、この温度補
償回路263にて、温度センサ261の出力レベルに応じて上
記冷却素子262を制御し、半導体レーザ20を一定の温度T
0に維持するようにしたものである。
また、上記レーザ駆動回路270は、第40図に示すよう
に、上記一定温度T0における閾値電流Ithより僅かに低
いレベルのバイアス電流IBIASを設定する固定バイアス
電流源271と、実施例2と同様な構成の変調回路100(ス
イッチ回路120,駆動電流源130からなる変調電流生成回
路110並びに電流合成回路140)とで構成されている。
従って、この実施例によれば、上記温度制御系260が
半導体レーザ20の温度を一定に保つことになるため、半
導体レーザ20の特性は、第41図に示すように、ほとんど
変動することなく一定に設定される。
このため、所定の階調数の画像データDT(i)が変調
回路100のスイッチ回路120に入力された場合には、変調
電流生成回路110が上記画像データDT(i)に対応する
変調電流IMOD(i)を生成し、変調回路100の電流合成
回路140が変調電流IMOD(i)とバイアス電流IBIASとを
加算し,上記画像データDT(i)に対応する駆動電流I
を生成することになるが、この画像データDT(i)に対
する駆動電流Iは常時一定になり、これに伴う半導体レ
ーザ20の光出力Piも常時一定に保たれる。
よって、各階調数の画像データDTに対して適宜の駆動
電流を変調するようにすれば、各画像データDTの濃度デ
ータに応じて半導体レーザ20の光量が精度良く変調され
ることになる。
〔発明の効果〕
以上説明しきたように、請求項1記載の画像記録方法
によれば、半導体レーザの特性が温度変動したとして
も、その温度変動分を有効に補正しながら、半導体レー
ザの特性に追従して多階調画像データの濃度レベルに応
じた駆動電流を生成し、この駆動電流に基づいて半導体
レーザの光量を変調するようにしたので、所望の多階調
画像データの濃度レベルに応じた半導体レーザの光出力
を略一定に保つことができ、その分、半導体レーザの光
量変調精度を向上させ、多階調記録画像品質を良好に保
つことができる。
特に、請求項1記載の画像記録方法によれば、半導体
レーザの駆動電流変調域として閾値電流の直前近傍レベ
ルに設定されるバイアス電流以上を対象としたので、光
出力が得られない画像データの無効ビット数を最小限に
抑えることができることに加えて、バイアス電流の設定
ポイントでは、半導体レーザは発振せずに自然発光状態
であることから、半導体レーザからの光が感光体に照射
されて画像欠陥になる虞れを確実に回避することができ
る。
また、請求項2記載の画像記録装置によれば、半導体
レーザの特性が温度変動したとしても、半導体レーザの
フルパワーに対応した最大駆動電流に基づいて駆動電流
変調域を可変設定するようにしたので、所望の多階調画
像データの濃度レベルに応じた半導体レーザの光出力の
ばらつきを有効に抑えることができ、半導体レーザの光
量変調精度を向上させることができる。
更に、請求項3記載の画像記録装置によれば、半導体
レーザの特性が温度変動したとしても、半導体レーザの
所定パワーに対応した駆動電流に基づいてバイアス電流
を可変設定し、この可変バイアス電流から一定領域を駆
動電流変調域として設定するようにしたので、所望の多
階調画像データの濃度レベルに応じた半導体レーザの光
出力の安定化を確実に実現することが可能となり、その
分、半導体レーザの光量変調精度を請求項2記載のタイ
プに比べて更に向上させることができる。
特に、請求項4記載の画像記録装置によれば、半導体
レーザの低パワーに対応した駆動電流に基づいてバイア
ス電流を可変設定するようにしたので、バイアス電流を
可変設定する時間の短縮化を図ることができると共に、
バイアス電流設定時において半導体レーザのパワーを抑
えることが可能になる分、半導体レーザの寿命を延ばす
ことができる。
更にまた、請求項5記載の画像記録装置によれば、半
導体レーザの温度変化を補正して半導体レーザの特性の
温度変動を最小限に抑えるようにしたので、駆動電流変
調域を一義的に設定することが可能となり、所望の多階
調画像データの濃度レベルに応じた半導体レーザの光出
力の安定化を容易に実現することができ、半導体レーザ
の光量変調精度を向上させることができる。
また、請求項6ないし請求項9いずれか記載の画像記
録装置によれば、駆動電流変調手段として、複数個の電
流源からなる駆動電流源を有し、各電流源を適宜組み合
わせることにより駆動電流を決定するようにしたので、
連続的に駆動電流を変調する方式に比べて、駆動電流変
調手段の構成を簡略化することができる。
そして、請求項6記載の画像記録装置によれば、同一
電流源の数により駆動電流を決定するようにしたので、
整数倍の駆動電流を変調する上でその構成の簡略化を実
現することができる。
また、請求項7ないし請求項9いずれか記載の画像記
録装置によれば、複数個の重み付けした電流源を適宜組
み合わせることにより駆動電流を決定するようにしたの
で、駆動電流の変調レベルを任意に設定することができ
るばかりか、重み付けの異なる電流源を複数組み合わせ
て駆動電流を生成するようにすれば、少ない電流源数で
駆動電流の変調数を多く確保することが可能になる。
特に、請求項8記載の画像記録装置によれば、駆動電
流源の各電流源の重み付け係数を可変設定できるように
なっているので、画像データの濃度レベルに対応した駆
動電流を決定する際に駆動電流の変調幅を微調整するこ
とができる。そして、請求項9記載の画像記録装置によ
れば、現像手段の画像再現特性を線形なものに補正する
ことができるので、中間調画像の再現品質を極めて良好
に保つことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)はこの発明に係る画像記録方法の概略を示
す説明図、第1図(b)ないし(d)はこの発明に係る
画像記録装置の概略構成を夫々示す説明図、第2図は第
1図(b)(c)に係る画像記録装置の作用を示す説明
図、第3図は第1図(d)に係る画像記録装置の作用を
示す説明図、第4図は実施例1に係る画像記録装置のRO
Sを示す斜視図、第5図は実施例1で用いられる半導体
レーザの構成を示す一部破断斜視図、第6図は実施例1
で用いられるレーザ駆動回路を示すブロック図、第7図
は第6図の変調回路の基本構成を示す原理回路図、第8
図はその変調回路の動作を示す説明図、第9図はレーザ
駆動回路のAPC動作過程を示す説明図、第10図はレーザ
駆動回路の画像書き込み動作過程を説明図、第11図はRO
Sの全体シーケンスを示すタイミングチャート、第12図
は感光体上での画像形成過程を示す説明図、第13図は実
施例2に係る画像記録装置で用いられるレーザ駆動回路
を示すブロック図、第14図は第13図中のAPC回路の詳細
を示すブロック図、第15図はAPC回路の初期設定動作過
程を示す説明図、第16図は実施例2に係る変調回路のス
イッチ部分の基本構成を示す原理回路図、第17図はその
動作を示す説明図、第18図は上記スイッチ部分の詳細を
示す回路図、第19図は上記スイッチ部分の改良案を示す
回路図、第20図は実施例2に係る変調回路の電流源の詳
細を示す回路図、第21図は上記電流源の改良案を示す回
路図、第22図は実施例2に係る変調回路の電流合成部分
の詳細を示す回路図、第23図は上記電流合成部分の改良
案を示す回路図、第24図は実施例2のレーザ駆動回路の
動作過程を示す説明図、第25図は各画像データに対する
駆動電流と半導体レーザの光出力との関係を示す説明
図、第26図は実施例2に係る画像記録装置の半導体レー
ザ出力を簡易に測定するための装置構成を示す回路図、
第27図(a)ないし(1)は第26図に係る装置を用いて
測定した各種結果を示すグラフ、第28図は実施例3に係
る画像記録装置の全体構成を示すブロック図、第29図は
実施例3で用いられるROSの詳細を示す斜視図、第30図
は実施例3で用いられる現像器の再現画像特性を示すグ
ラフ図、第31図は実施例3で用いられるレーザ駆動回路
の詳細を示す回路図、第32図(a)(b)は第一レーザ
駆動回路の電流源の重み付け原理を示す説明図、第33図
(a)(b)は第二レーザ駆動回路の電流源の重み付け
原理を示す説明図、第34図(a)(b)は実施例3に係
る画像記録装置の画像記録過程を示す説明図、第35図は
実施例3の入力画像濃度と記録画像濃度との関係を示す
グラフ図、第36図は実施例4に係る画像記録装置に用い
られるレーザ駆動回路の詳細を示すブロック図、第37図
はレーザ駆動回路のバイアス電流の設定原理を示す説明
図、第38図はバイアス電流の設定過程を示すタイミング
チャート、第39図は実施例5に係る画像記録装置の要部
を示すブロック図、第40図はそのレーザ駆動回路の詳細
を示すブロック図、第41図はその動作過程を示す説明
図、第42図は半導体レーザの特性を示す説明図、第43図
は半導体レーザの特性の温度変動状態を示す説明図であ
る。 〔符号の説明〕 Ith…半導体レーザの閾値電流 IBIAS…バイアス電流 1…半導体レーザ 2…感光体 3…現像手段 4,7…パワー制御手段 5,11…固定バイアス電流源 6,9,12…駆動電流変調手段 8…バイアス電流可変手段 10…レーザ温度制御手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) B41J 2/44 B41J 2/52 H04N 1/23

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】各画素の多階調画像データ(DT)の濃度レ
    ベルに応じて半導体レーザ(1)からの光量を変調し、
    感光体(2)上に各画素対応の潜像を形成すると共に、
    各潜像を現像手段(3)にて可視像化する画像記録方法
    であって、 上記半導体レーザ(1)の光量を変調するに際し、 半導体レーザ(1)の閾値電流(Ith)の温度変動を補
    正し、上記閾値電流(Ith)の直前近傍レベルに設定さ
    れるバイアス電流(IBIAS)以上の領域を対象とした駆
    動電流変調域を決定する駆動電流変調域決定工程と、 決定された駆動電流変調域内で多階調画像データ(DT)
    の濃度レベルに応じた半導体レーザ(1)の駆動電流を
    生成する駆動電流生成工程とを備えた画像記録方法。
  2. 【請求項2】各画素の多階調画像データ(DT)の濃度レ
    ベルに応じて半導体レーザ(1)からの光量を変調し、
    感光体(2)上に各画素対応の潜像を形成すると共に、
    各潜像を現像手段(3)にて可視像化する画像記録装置
    であって、 半導体レーザ(1)のフルパワーに対応するフルパワー
    駆動電流値を半導体レーザ(1)の非スキャン動作時に
    間欠的に検出するパワー制御手段(4)と、 半導体レーザ(1)の閾値電流(Ith)の最小変動値レ
    ベル若しくはその直前近傍レベルにバイアス電流(I
    BIAS)を固定的に設定する固定バイアス電流源(5)
    と、 上記フルパワー駆動電流値と固定バイアス電流
    (IBIAS)との間を駆動電流変調域として決定し、この
    駆動電流変調域にて多階調画像データ(DT)の濃度レベ
    ルに応じた駆動電流を決定する駆動電流変調手段(6)
    とを備えた画像記録装置。
  3. 【請求項3】各画素の多階調画像データ(DT)の濃度レ
    ベルに応じて半導体レーザ(1)からの光量を変調し、
    感光体(2)上に各画素対応の潜像を形成すると共に、
    各潜像を現像手段(3)にて可視像化する画像記録装置
    であって、 半導体レーザ(1)の所定パワーに対応する駆動電流値
    を半導体レーザ(1)の非スキャン動作時に間欠的に検
    出するパワー制御手段(7)と、 このパワー制御手段(7)にて検出された所定の駆動電
    流値に基づいて半導体レーザ(1)の閾値電流(Ith
    レベル若しくはその直前近傍レベルに設定されるバイア
    ス電流(IBIAS)を変化させるバイアス電流可変手段
    (8)と、 この可変バイアス電流(IBIAS)から一定領域を駆動電
    流変調域として決定し、この駆動電流変調域にて多階調
    画像データ(DT)の濃度レベルに応じた駆動電流を決定
    する駆動電流変調手段(9)とを備えた画像記録装置。
  4. 【請求項4】請求項3記載のものにおいて、 パワー制御手段(7)は、半導体レーザ(1)の低パワ
    ーレベルの駆動電流値を検出電流値とし、バイアス電流
    可変手段(8)は、上記検出電流値から予め設定されて
    いる所定値を減算することにより上記バイアス電流(I
    BIAS)を決定するものであることを特徴とする画像記録
    装置。
  5. 【請求項5】各画素の多階調画像データ(DT)の濃度レ
    ベルに応じて半導体レーザ(1)からの光量を変調し、
    感光体(2)上に各画素対応の潜像を形成すると共に、
    各潜像を現像手段(3)にて可視像化する画像記録装置
    であって、 半導体レーザ(1)の温度を所定温度に制御するレーザ
    温度制御手段(10)と、 このレーザ温度制御手段(10)で制御された所定温度に
    おける半導体レーザの閾値電流(Ith)レベル若しくは
    その直前近傍レベルにバイアス電流(IBIAS)を固定的
    に設定する固定バイアス電流源(11)と、 この固定バイアス電流(IBIAS)以上の一定領域を固定
    駆動電流変調域として決定し、この固定駆動電流変調域
    にて多階調画像データ(DT)の濃度レベルに応じた駆動
    電流を決定する駆動電流変調手段(12)とを備えた画像
    記録装置。
  6. 【請求項6】請求項2ないし5いずれかに記載のものに
    おいて、 上記駆動電流変調手段(6,9,12)は、複数個の同一電流
    源からなる駆動電流源を有し、これらの電流源を適宜組
    み合わせることにより所望の駆動電流を決定するように
    したことを特徴とする画像記録装置。
  7. 【請求項7】請求項2ないし5いずれかに記載のものに
    おいて、 上記駆動電流変調手段(6,9,12)は、複数個の重み付け
    した電流源からなる駆動電流源を有し、これらの電流源
    を適宜組み合わせることにより所望の駆動電流を決定す
    るようにしたことを特徴とする画像記録装置。
  8. 【請求項8】請求項7記載のものにおいて、 上記駆動電流源の各電流源の重み付け係数を可変設定す
    るようにしたことを特徴とする画像記録装置。
  9. 【請求項9】請求項7若しくは8いずれかに記載のもの
    において、 上記駆動電流源の各電流源の重み付け係数は、現像手段
    の画像再現特性を線形なものに補正するように設定され
    ていることを特徴とする画像記録装置。
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