JP2888810B2 - 反強磁性層と磁性層の積層体、磁気抵抗効果素子及び磁気ヘッド - Google Patents
反強磁性層と磁性層の積層体、磁気抵抗効果素子及び磁気ヘッドInfo
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る反強磁性層と磁性層の積層体、並びにこれを用いた磁
気抵抗素子、磁気ヘッド及び磁気記録再生装置に関す
る。
生装置の再生用磁気ヘッドとして磁気抵抗効果型ヘッド
が用いられ始めている。高い磁気抵抗効果を示す材料と
しては、Dienyらによる Physical Review B、第43
巻、第1号、1297〜1300ペ−ジに記載の「Gian
t Magneto-resistance in Soft Ferromagnetic Multila
yers」のように2層の磁性層を非磁性層で分離し、一方
の磁性層に反強磁性層からの交換バイアス磁界を印加す
る多層膜が考案されている。また、上述の多層膜の磁性
層数を3層に増加し、高感度化を行った多層膜が星屋ら
による日本応用磁気学会誌、第18巻、355〜359
ペ−ジの「NiO反強磁性膜を用いたスピンバルブ積層
膜の巨大磁気抵抗」に記載されている。
い交換バイアス磁界を磁性層に印加することのできる材
料が望まれる。この反強磁性層材料の候補として、Hosh
inoらによる Japanese Journal of Applied Physics、
第35巻、第2A号、607〜612ペ−ジの「Exchan
ge Coupling between Antiferromagnetic Mn-Ir andFer
romagnrtic Ni-Fe Layers」に記載のMn−Ir系合金
がある。この論文によれば、Ir組成が20〜30at
%の時に、比較的高い交換バイアス磁界が磁性層に印加
される。
層と磁性層との積層体では、出来る限り高い交換バイア
ス磁界が磁性層に印加されていることが好ましい。3層
の磁性層を含むスピンバルブ多層膜において反強磁性層
としてMn−Ir系合金を用いる場合には、基板上に、
結晶配向性制御層、結晶構造制御層、Mn−Ir系合金
よりなる反強磁性層、磁性層がこの順に積層されている
積層体を含むことになる。ところで、このMn−Ir系
合金よりなる反強磁性層は、厚さと共に結晶構造が劣化
するため、その上に積層される磁性層に交換バイアス磁
界を印加することは難しい技術である。
磁性層の上に磁性層が積層された積層体のこのような問
題点に鑑みてなされたもので、Mn−Ir系合金よりな
る反強磁性層の上に積層された磁性層に反強磁性層から
高い交換バイアス磁界を印加することを目的とする。
r系合金反強磁性層とその上に積層された磁性層との積
層体について鋭意研究を重ねた結果、Mn−Ir系合金
反強磁性層を、結晶配向性制御層、結晶構造制御層の順
に形成した積層膜の上に形成し、それら結晶配向性制御
層及び結晶構造制御層の厚さをある範囲にすることによ
り、磁性層に印加される交換バイアス磁界が高くなるこ
とを見出し、本発明を完成するに至った。結晶構造制御
層は、その上に積層されるMn−Ir系合金反強磁性層
を面心立方構造にする作用をする。また、結晶配向性制
御層は、その上に積層される結晶構造制御層の面心立方
構造の(111)配向性を高める作用をする。
も結晶配向性制御層、結晶構造制御層、Mn−Ir系合
金よりなる反強磁性層及び磁性層がこの順に積層されて
いる積層体において、結晶配向性制御層を周期律表のIV
a族もしくはVa族元素からなる、又はIVa族もしくは
Va族元素を主成分とする合金からなる厚さ4〜7nm
の層とし、結晶構造制御層を面心立方構造を有する厚さ
5〜8nmの層とすることを特徴とする。
n−Ir系合金よりなる反強磁性層の結晶構造が面心立
方構造となり、さらに、(111)配向が強くなる。面
心立方構造を有するMn−Ir系合金よりなる反強磁性
層が強い(111)配向を有するときに、磁性層に印加
される交換バイアス磁界が高くなる。また、この積層体
を前述の3層の磁性層を有するスピンバルブ多層膜に応
用すると、高い磁気抵抗変化率を得ることができる。従
って、上記スピンバルブ多層膜は、磁気抵抗効果素子、
磁界センサ、磁気ヘッドなどに好適である。また、上記
磁気ヘッドを用いることにより、高性能磁気記録再生装
置を得ることができる。
施の形態を説明する。 [実施例1]積層構造による、磁性層に印加される交換
バイアス磁界の変化を調べるために、図1に断面構造を
略示する多層膜を形成した。基板11にはSi(10
0)単結晶を用いた。また、結晶配向性制御層12とし
て、Hfを用いた。結晶構造制御層13としては、厚さ
3nmのCuを用いた。反強磁性層14としては、厚さ
15nmのMn−22at%Ir合金を用いた。磁性層
15としては、厚さ5nmのNi−20at%Fe層を
用いた。保護層16には、厚さ5nmのHfを用いた。
本実施例では、Hfからなる結晶配向性制御層12の厚
さを変化させてその影響を調べた。
ング法を用いた。到達真空度は、8×10-5Pa、スパ
ッタリング時のAr圧力は0.02Paである。Hf層
及びFe−Mn層の形成時のスパッタリング条件は、イ
オンガンの加速電圧300V、イオン電流60mA、N
i−Fe層形成時のスパッタリング条件は、イオンガン
の加速電圧300V、イオン電流40mAであった。M
n−Ir合金層の形成時のスパッタリング条件は、イオ
ンガンの加速電圧600V、イオン電流60mAとし
た。Ni−Fe層形成時のターゲットにはNi−20a
t%Feを用い、Mn−Ir合金層形成時のターゲット
にはMn−20at%Irを用いた。
厚さとMn−Ir系反強磁性層の(111)面のX線回
折強度との関係を示す。図のように、Hf層厚が4から
7nmの時に、X線回折強度が1.5kcpsより強く
なる。このX線回折強度が1.5kcpsより強い場
合、その上に形成する結晶構造制御層(Cu層)13の
膜厚の調整によっては、Mn−Ir系合金14の(11
1)面のX線回折強度を3kcps以上とすることが可
能になる。
ついて調べた。この実験では、図1に断面構造を略示す
る多層膜の結晶配向性制御層12として、厚さ5nmの
Hfを用いた。結晶構造制御層13としては、Cuを用
い、Cu層厚を変化した。その他の条件は、図2の結果
を得た実験の場合と同様である。図3に、Cuからなる
結晶構造制御層13の厚さとMn−Ir系反強磁性層1
4の(111)面のX線回折強度との関係を示す。図に
示されているように、Cu層厚が5〜8nmの時に、X
線回折強度が3kcpsより強くなる。Mn−Ir系反
強磁性層14の(111)面のX線回折強度が3kcp
s以上あれば、Mn−Ir系反強磁性層はその下面から
5nm程度のところまで面心立方構造を維持することが
できる。
の厚さと、Mn−Ir系反強磁性層14から磁性層15
に印加される交換バイアス磁界との関係を示す。図に示
されているように、Cu層厚による交換バイアス磁界の
変化は、図3に示したX線回折強度の変化に対応してい
る。すなわち、交換バイアス磁界とX線回折強度との間
には密接な関係がある。従って、X線回折強度が3kc
psより強くなる時、すなわち、Cu層厚が5〜8nm
の時に、高い交換バイアス磁界(図4の例では1kA/
m以上)が得られる。
御層12の厚さを4〜7nmとし、Cuからなる結晶構
造制御層13の厚さを5〜8nmとすると、Mn−Ir
系反強磁性層14の(111)面のX線回折強度が強く
なる。磁性層15に印加される交換バイアス磁界とMn
−Ir系反強磁性層14の(111)面のX線回折強度
との間には密接な関係があり、(111)面のX線回折
強度が強くなる多層膜構造の時に、磁性層15に印加さ
れる交換バイアス磁界が高くなる。従って、図1に示し
た積層構造の多層膜では、結晶配向性制御層12の厚さ
を4〜7nmとし、結晶構造制御層13の厚さを5〜8
nmとすることが好ましい。
Hfを用いたが、周期律表のIVa族又はVa族元素を用
いても、同様の結果を得ることができる。また、周期律
表のIVa族又はVa族元素を主成分とする合金材料を用
いることもできる。また、本実施例では、結晶構造制御
層としてCuを用いたが、他の面心立方構造を有する金
属材料を用いても同様の結果を得ることができる。
むデュアルスピンバルブ多層膜を形成した。多層膜の積
層構造を図5の断面図に略示する。図5において、基板
31にはSi(100)単結晶を用いた。また、結晶配
向性制御層32として、厚さ5nmのHfを用いた。結
晶構造制御層33としては、厚さ7nmのCuを用い
た。反強磁性層34及び44としては、厚さ8nmのM
n−22at%Ir合金を用いた。磁性層35及び43
としては、厚さ2nmのNi−20at%Fe層を用い
た。磁性層36、38、40及び42としては、厚さ1
nmのCo層を用いた。非磁性層37及び41として
は、厚さ2.5nmのCuを用いた。磁性層39として
は、厚さ5nmのNi−20at%Fe層を用いた。
化率を示した。これは、反強磁性層に接する磁性層に高
い交換バイアス磁界が印加されているためである。
い、記録再生分離型磁気ヘッドを作製した。図6は、作
製した磁気ヘッドの一部分を切断して示した斜視図であ
る。上述の多層膜61をシ−ルド層62、63で挾んだ
部分が再生ヘッドとして働き、コイル64を挾む下部磁
極65、上部磁極66の部分が記録ヘッドとして働く。
また、電極68には、Cr/Cu/Crという多層構造
の材料を用いた。
2O3・TiCを主成分とする焼結体をスライダ用の基板
67とした。シ−ルド層、記録磁極にはスパッタリング
法で形成したNi−Fe合金を用いた。各磁性膜の膜厚
は、以下のようにした。上下のシ−ルド層62、63は
1.0μm、下部磁極65、上部66は3.0μm、各
層間のギャップ材としてはスパッタリングで形成したA
l2O3を用いた。ギャップ層の膜厚は、シ−ルド層と磁
気抵抗効果素子間で0.2μm、記録磁極間では0.4
μmとした。さらに再生ヘッドと記録ヘッドの間隔は約
4μmとし、このギャップもAl2O3で形成した。コイ
ル64には膜厚3μmのCuを使用した。
行ったところ、Ni−Fe単層膜を用いた磁気ヘッドと
比較して、7.2倍高い再生出力を得た。これは、本発
明の磁気ヘッドに高磁気抵抗効果を示す多層膜を用いた
ためと考えられる。
気ヘッドを用い、磁気記録再生装置を作製した。装置の
構造を図7に示す。図7(a)は装置の平面図、図7
(b)は図7(a)のA−A線に沿った断面図である。
磁気記録再生装置は、磁性膜を表面に担持して中心軸の
回りで回転する磁気記録媒体71、磁気記録媒体に対し
てデータの記録及び再生を行う磁気ヘッド73、磁気ヘ
ッド73を支持して磁気記録媒体上の所望の半径位置に
位置決めする機構、記録信号や再生信号を処理する記録
再生信号処理系75から主に構成される。
定され、スピンドル軸72によって回転駆動される。磁
気ヘッド73はアームに支持されたサスペンションに支
持されており、アームはロータリーアクチュエータ74
に固定されている。磁気ヘッド73はロータリーアクチ
ュエータ74の回転によって磁気記録媒体71上の所望
の位置に位置決めされる。記録再生信号処理系75は、
磁気ヘッド73に記録電流を流してデータを記録した
り、磁気ヘッド73より得られる電気信号を処理してデ
ータに変換する処理を行う。データの記録は、記録電流
に応じた記録磁界の変化を利用して磁気記録媒体上の磁
性膜の磁化方向を反転することにより行われる。また、
データの再生は、磁気記録媒体から発生する漏れ磁界を
再生ヘッドで検出し、それを電気信号に変換することに
よって行われる。
75TのCo−Ni−Pt−Ta系合金からなる材料を
用いた。磁気ヘッド73のトラック幅は1.5μmとし
た。磁気ヘッド73における磁気抵抗効果素子は、再生
出力が高いため、信号処理に負担をかけない高性能磁気
ディスク装置が得られた。
性層を、結晶配向性制御層、結晶構造制御層の順に形成
した積層膜の上に形成する場合には、結晶配向性制御層
を周期律表のIVa、Va族元素、あるいはIVa、Va族
元素を主成分とする合金とし、結晶配向性制御層の厚さ
を4〜7nmとし、さらに、結晶構造制御層を面心立方
構造を有する材料とし、結晶構造制御層の厚さを5〜8
nmにすることにより、Mn−Ir系合金よりなる反強
磁性層の結晶構造が面心立方構造となり、さらに、(1
11)配向が強くなる。面心立方構造を有するMn−I
r系合金よりなる反強磁性層が強い(111)配向を有
するときに、磁性層に印加される交換バイアス磁界が高
くなる。また、この積層体を前述の3層の磁性層を有す
るスピンバルブ多層膜に応用すると、高い磁気抵抗変化
率を得ることができる。従って、上記スピンバルブ多層
膜は、磁気抵抗効果素子、磁界センサ、磁気ヘッドなど
に好適である。また、上記磁気ヘッドを用いることによ
り、高性能磁気記録再生装置を得ることができる。
示す略断面図。
r系合金反強磁性層の(111)面のX線回折強度との
関係を示すグラフ。
r系合金反強磁性層の(111)面のX線回折強度との
関係を示すグラフ。
e系合金磁性層に印加される交換バイアス磁界との関係
を示すグラフ。
多層膜の積層構造を示す略断面図。
3,33…結晶構造制御層、14,34,44…Mn−
Ir系合金反強磁性層、15…磁性層、16…保護層、
35,39,43…Ni−Fe系合金磁性層、36,3
8,40,42…Co磁性層、37,41…非磁性層、
61…多層膜、62,63…シ−ルド層、64…コイ
ル、65…下部磁極、66…上部磁極、67…基板、6
8…電極、71…磁気記録媒体、72…磁気記録媒体駆
動部、73…磁気ヘッド、74…磁気ヘッド駆動部、7
5…記録再生信号処理系
Claims (5)
- 【請求項1】 基板上に、少なくとも結晶配向性制御
層、結晶構造制御層、Mn−Ir系合金よりなる反強磁
性層及び磁性層がこの順に積層されている積層体におい
て、 前記結晶配向性制御層は周期律表のIVa族もしくはVa
族元素からなる、又はIVa族もしくはVa族元素を主成
分とする合金からなる厚さ4〜7nmの層であり、前記
結晶構造制御層は面心立方構造を有する厚さ5〜8nm
の層であることを特徴とする積層体。 - 【請求項2】 請求項1に記載の積層体を含むことを特
徴とする磁気抵抗効果素子。 - 【請求項3】 基板上に、結晶配向性制御層、結晶構造
制御層、Mn−Ir系合金よりなる反強磁性層、磁性
層、非磁性層、磁性層、非磁性層、磁性層、Mn−Ir
系合金よりなる反強磁性層がこの順に積層されており、
請求項1に記載の積層体を含むことを特徴とする磁気抵
抗効果素子。 - 【請求項4】 基板上に、結晶配向性制御層、結晶構造
制御層、Mn−Ir系合金よりなる反強磁性層、磁性
層、非磁性層、磁性層、非磁性層、磁性層、Mn−Ir
系合金よりなる反強磁性層がこの順に積層されており、
請求項1に記載の積層体を含むことを特徴とする磁気ヘ
ッド。 - 【請求項5】 請求項4に記載の磁気ヘッドを用いたこ
とを特徴とする磁気記録再生装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP964897A JP2888810B2 (ja) | 1997-01-22 | 1997-01-22 | 反強磁性層と磁性層の積層体、磁気抵抗効果素子及び磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
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Publication Number | Publication Date |
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JPH10208215A JPH10208215A (ja) | 1998-08-07 |
JP2888810B2 true JP2888810B2 (ja) | 1999-05-10 |
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JP2003124541A (ja) | 2001-10-12 | 2003-04-25 | Nec Corp | 交換結合膜、磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気ランダムアクセスメモリ |
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- 1997-01-22 JP JP964897A patent/JP2888810B2/ja not_active Expired - Fee Related
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