JP2849033B2 - 光ディスク - Google Patents

光ディスク

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JP2849033B2
JP2849033B2 JP5282514A JP28251493A JP2849033B2 JP 2849033 B2 JP2849033 B2 JP 2849033B2 JP 5282514 A JP5282514 A JP 5282514A JP 28251493 A JP28251493 A JP 28251493A JP 2849033 B2 JP2849033 B2 JP 2849033B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、データ読取用の同期信
号を得るための同期マークと、データを示すマークのた
めのデータフィールドとを各トラックに有する光ディス
クに関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、サンプルドサーボ方式の記録フ
ォーマットを有する光ディスクにおいては、記録データ
読取用の同期信号を得るためにサーボフィールドのトラ
ック上に2つのマーク(ピット)からなる同期パターン
が形成され、その2つのマーク間距離はデータを示すマ
ーク部分におけるマーク間の最大距離である最大反転間
隔よりも長く採られている。例えば、最大反転間隔より
1T(Tは1ビット間隔)だけ長くなっている。ディス
ク演奏時には先ず、非同期のマスタクロックパルスによ
ってサーボ系を動作させつつ読取動作を行なって読取信
号から同期パターンを検出することが行なわれる。同期
パターンの検出後、読取信号からクロックマークが検出
され、それに同期してクロックパルスがPLL回路から
生成され、PLL回路がロックした状態に至ったときデ
ータ読取用の再生クロックパルスがPLL回路から得ら
れる。
【0003】回転速度が一定のCAV(Constant Angul
ar Velocity)型の光ディスクの場合には回転速度が定
速度に達した後は、同期パターンをその長さから容易に
検出することができるので、上記のように読取信号から
クロックパルスを再生することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、線速度
一定のCLV型の光ディスクの場合にはスピンドルの回
転速度が一定でないので、同期パターンをその長さから
容易に検出することができない。よって、マスタクロッ
クパルスの計数により最大反転間隔部分を検出し、それ
が所定の時間的長さとなるようにスピンドルサーボ制御
することになる。データ中の最大反転間隔kTとし、同
期パターンの長さを(k+1)Tとすると、2倍の周波
数のマスタクロックパルスを用いて同期パターンを検出
しようとする場合、同期パターンの長さは非同期のマス
タクロックパルスによる誤差を含んで(k+1)T±
0.5Tとなる。これに更にスピンドルの回転誤差が
0.5T以上あるならば同期パターンのマスタクロック
パルスによる計数値はkTとなり得る。従って、CLV
型の光ディスクの場合には同期パターンをデータ中の最
大反転間隔と区別して容易に検出することが難しいとい
う問題がある。
【0005】そこで、本発明の目的は、CLV型の場合
でも同期パターンをデータ中の最大反転間隔と区別して
容易に検出することができる光ディスクを提供すること
である。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の光ディスクは、
データ読取用の同期信号を得るための同期マークと、デ
ータを示すマークのためのデータフィールドとを各トラ
ックに備えた光ディスクであって、データの1ビット間
隔をTとし、同期マークのトラック方向の長さをnT
(nは整数)とし、同期マークを読み取って検出すると
きに生ずる検出誤差をαTとし、データを示すマークの
最大反転間隔をmT(mは整数)とすると、 (n−α)T>mT ただし、α≧2 mT×(n+α)/n<nT の2式を満たすように整数nを設定することを特徴とし
ている。
【0007】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ詳
細に説明する。図1(a),(b)は本発明の実施例と
して倍密度記録のCLV型の光ディスクのサーボフィー
ルドを示している。この光ディスクにおいて、各トラッ
クは例えば、0.4μm間隔で形成されている。図1
(a),(b)に示すように各トラックのサンプルフィ
ールドにはその先頭に11T(Tは1ビット間隔)の長
さの同期ピットがあり、その後にトラッキングサーボの
ために複数のピットが形成されている。同期ピットのピ
ット幅は例えば、0.2μmである。奇数トラックの各
サーボフィールドにおいては、図1(a)に示したよう
に、同期ピットの後エッジから15Tだけ離れて4Tの
長さの第1トラッキングピットがセグメントの終端方向
に向かってトラック中心より左側にウォブルピットとし
て位置し、第1トラッキングピットの後エッジから13
Tだけ離れて4Tの長さのクロックピットがトラック上
に位置する。更に、トラックピットの後エッジから13
Tだけ離れて4Tの長さの第2トラッキングピットがセ
グメントの終端方向に向かってトラック中心より右側に
ウォブルピットとして位置する。偶数トラックの各サー
ボフィールドにおいては、図1(b)に示したように、
同期ピットの後エッジから7Tだけ離れて4Tの長さの
第1トラッキングピットがセグメントの終端方向に向か
ってトラック中心より左側にウォブルピットとして位置
し、第1トラッキングピットの後エッジから13Tだけ
離れて4Tの長さのクロックピットがトラック上に位置
する。更に、クロックピットの後エッジから13Tだけ
離れて4Tの長さの第2トラッキングピットがセグメン
トの終端方向に向かってトラック中心より右側にウォブ
ルピットとして位置する。ウォブルピットはトラック中
心から例えば、0.2μmだけ離れた位置を中心に形成
されている。このようなサーボフィールドの後にデータ
フィールド(図示せず)が位置している。
【0008】図2は図1に示したサーボフィールドを有
する光ディスクの読取信号からデータ再生のタイミング
を司るクロックパルスを生成するクロックパルス生成回
路を示している。このクロックパルス生成回路において
は、ディスクにピックアップ11から情報読取用の光ビ
ームが照射され、ディスクからピックアップ11により
読み取った読取信号であるRF(高周波)信号がA/D
変換器12に供給される。RF信号はA/D変換器12
においてディジタルRF信号に変換された後、クロック
ピット位相検出部13、スレッショルド算出部14及び
エッジ間隔/同期検出部15に供給される。クロックピ
ット位相検出部13はクロックサンプリング信号に応じ
てディジタルRF信号からクロックピット波形の前後の
サンプル値差を示す位相エラー信号を得る。クロックピ
ット位相検出部13にはPLL回路16が接続され、P
LL回路16は再生クロックパルスを発生して切換スイ
ッチ19に供給し、位相エラー信号又は後述の周波数制
御信号に応じて再生クロックパルスの位相又は周波数を
制御する。切換スイッチ19はPLL回路16から出力
される再生クロックパルスとマスタクロックパルスとを
後述する第1周波数ロック信号に応じて選択的に出力す
る。マスタクロックパルスは図示しないパルス発生器か
ら発生される。切換スイッチ19から選択出力されたク
ロックパルスはA/D変換器12、エッジ間隔/同期検
出部15及びタイミング生成部17に供給される。
【0009】スレッショルド算出部14はディジタルR
F信号の正負のピークレベルを所定の周期毎に検出し、
その正負のピークレベルの中間値をスレッショルドレベ
ルとして算出する。エッジ間隔/同期検出部15はスレ
ッショルドレベルを上回るディジタルRF信号を検出し
たときその上回る時間を切換スイッチ19からのクロッ
クパルスの計数により求め、クロックパルスの計数値が
第1所定値以上であるとき同期ピットの検出を示す同期
検出信号を生成する。
【0010】エッジ間隔/同期検出部15にはタイミン
グ生成部17及び周波数エラー生成部18が接続されて
いる。タイミング生成部17は同期検出信号の発生時を
基準に切換スイッチ19からのクロックパルスを計数し
て上記のクロックサンプリング信号を生成し、そのクロ
ックサンプリング信号をクロックピット位相検出部13
に対して供給する。周波数エラー生成部18は同期検出
信号から同期信号の発生間隔をPLL回路16からの再
生クロックパルスを計数して求め、その再生クロックパ
ルスの計数値が第2所定値と比較され、その比較結果に
応じて周波数制御信号を発生する。周波数制御信号はP
LL回路16に供給され、周波数制御信号に応じて再生
クロックパルスの周波数が制御される。また、周波数エ
ラー生成部18は再生クロックパルスの周波数が第1所
定の範囲内に入ると第1周波数ロック信号を発生し、第
1所定の範囲よりも狭い第2所定の範囲内に入ると第2
周波数ロック信号を発生する。第1周波数ロック信号は
切換スイッチ19に供給され、第2周波数ロック信号は
PLL回路16に供給される。
【0011】かかる構成のクロックパルス生成回路にお
いて、初期状態では切換スイッチ19はマスタクロック
パルスを選択出力する。よって、ディスクからピックア
ップ1により読み出されたRF信号からA/D変換器1
2はマスタクロックパルスに応じてサンプル値を得てそ
れをディジタル化する。ディジタルRF信号の正負のピ
ークレベルの中間値がスレッショルド算出部14におい
てスレッショルドレベルとして算出される。そのスレッ
ショルドレベルを上回るディジタルRF信号が検出され
たときその上回る時間がマスタクロックパルスの計数に
よりエッジ間隔/同期検出部15において得られる。
【0012】エッジ間隔/同期検出部15はマスタクロ
ックパルスの計数値が第1所定値以上であるとき同期検
出信号を生成する。この同期検出信号の発生時を基準に
マスタクロックパルスを計数してクロックピットの読取
時点を示すクロックサンプリング信号がタイミング生成
部17において生成されてクロックピット位相検出部1
3に供給される。クロックピット位相検出部13はクロ
ックサンプリング信号に応じてディジタルRF信号から
クロックピット波形の前後のサンプル値差を示す位相エ
ラー信号を得る。
【0013】PLL回路16から発生された再生クロッ
クパルスは周波数エラー生成部18に供給され、同期検
出信号から同期信号の発生間隔が再生クロックパルスの
計数により得られる。そのクロックパルスの計数値が第
2所定値と比較され、その比較結果に応じて周波数制御
信号が発生される。初期状態では、この周波数制御信号
がPLL回路16の再生クロックパルスの周波数を制御
しており周波数制御ループ状態となっている。周波数エ
ラー生成部18は再生クロックパルスの周波数が第1所
定の範囲内に入ると第1周波数ロック信号を発生する。
第1周波数ロック信号に応じて切換スイッチ19はPL
L回路16から出力される再生クロックパルスをA/D
変換器12、エッジ間隔/同期検出部15及びタイミン
グ生成部17に中継供給する。よって、A/D変換器1
2、エッジ間隔/同期検出部15及びタイミング生成部
17がマスタクロックパルスに代わって再生クロックパ
ルスに応じて動作する。
【0014】周波数制御信号によって制御されている再
生クロックパルスの周波数の精度は複数の同期信号が検
出されるに従って高くなる。再生クロックパルスの周波
数が第2所定の範囲内に入ると第2周波数ロック信号が
発生される。第2周波数ロック信号に応じてPLL回路
16では周波数制御信号に代わってクロックピット位相
検出部13からの位相エラー信号に応じて再生クロック
パルスの位相が制御され、クロックパルス生成回路は位
相制御ループ状態となる。
【0015】図3は図1の光ディスクの回転速度を制御
するスピンドルサーボ回路を示している。このスピンド
ルサーボ回路においては、A/D変換器12の出力には
スレッショルド算出部21及びエッジ間隔検出部22が
接続されている。スレッショルド算出部21はA/D変
換器12から出力されたディジタルRF信号の正負のピ
ークレベルを所定の周期毎に検出し、その正負のピーク
レベルの中間値をスレッショルドレベルとして算出す
る。エッジ間隔検出部22はスレッショルドレベルを上
回るディジタルRF信号を検出したときその上回る時間
をクロックパルス生成回路の切換スイッチ19からの入
力クロックパルスの計数により求める。エッジ間隔検出
部22の出力には同期検出部23及び最大反転間隔ホー
ルド部24が接続されている。同期検出部23はエッジ
間隔検出部22で得られたクロックパルスの計数値が第
1所定値以上であるとき同期検出信号を生成する。最大
反転間隔ホールド部24はエッジ間隔検出部22で得ら
れた入力クロックパルスの計数値のうちの最大値を最大
反転間隔として保持する。最大反転間隔ホールド部24
の保持値はタイマ25によってリセットされる。タイマ
25は光ディスク演奏時に同期ピットが読み取られる周
期より大なる時間を計測し、計測するとリセット信号を
発生し、その時間計測動作を繰り返す。最大反転間隔ホ
ールド部24には第1比較演算部26が接続されてい
る。第1比較演算部26は最大反転間隔ホールド部24
の保持値である最大反転間隔と基準値とを比較し、誤差
信号を出力する。基準値は同期ピットの長さ11Tであ
る。
【0016】第1比較演算部26出力誤差信号は切換ス
イッチ27及び第1スピンドルロック検出部28に供給
される。第1スピンドルロック検出部28は第1比較演
算部26の出力誤差信号のレベルが第3所定の範囲内に
あるときイネーブル信号を発生して切換スイッチ27及
び同期保護部29に供給する。同期保護部29は同期検
出部23において生成された同期検出信号をイネーブル
信号の存在時には出力する。イネーブル信号の非存在時
には入力クロックパルスに応じて同期信号発生間隔毎に
パルス信号を出力する。同期保護部29には同期間隔測
定部30が接続されている。同期間隔測定部30は同期
保護部29の出力信号の発生間隔をクロックパルスに応
じて計数して第2比較演算部31に供給する。第2比較
演算部31は同期間隔測定部30の入力クロックパルス
の計数値と基準値とを比較し、誤差信号を出力する。こ
の基準値はスピンドルモータが正規の速度で回転してい
る時の計数値に相当する。第2比較演算部31の出力に
は切換スイッチ27と共に第2スピンドルロック検出部
32が接続されている。第2スピンドルロック検出部3
2は第2比較演算部31の出力誤差信号のレベルが第4
所定の範囲内にあるときスピンドルロックフラグを発生
する。
【0017】切換スイッチ27はイネーブル信号の非存
在時には第1比較演算部26の出力信号をスピンドル制
御信号として中継出力し、イネーブル信号の存在時には
第2比較演算部31の出力信号をスピンドル制御信号と
して中継出力する。切換スイッチ27の中継出力はD/
A変換器33を介してスピンドルモータ(図示せず)の
駆動回路34に供給される。
【0018】なお、スレッショルド算出部21は別途設
けているが、図2のスレッショルド算出部14を用いて
も良い。また、エッジ間隔検出部22及び同期検出部2
3も図2のエッジ間隔/同期検出部15を用いることも
できる。かかる構成のスピンドルサーボ回路において
は、入力クロックパルスは上記したクロックパルス生成
回路から供給されるので、初期状態ではマスタクロック
パルスに応じてスピンドル制御信号の発生動作が行なわ
れる。すなわち、ディスクからピックアップ11により
読み出されたRF信号からA/D変換器12はマスタク
ロックパルスに応じてサンプル値を得てそれをディジタ
ル化する。ディジタルRF信号の正負のピークレベルの
中間値がスレッショルド算出部21においてスレッショ
ルドレベルとして算出される。そのスレッショルドレベ
ルを上回るディジタルRF信号が検出されたときその上
回る時間がマスタクロックパルスの計数によりエッジ間
隔検出部22において得られる。同期検出部23はマス
タクロックパルスの計数値が第1所定値以上であるとき
同期検出信号を生成する。
【0019】エッジ間隔検出部22において得たマスタ
クロックパルスの計数値が最大反転間隔ホールド部24
に保持される。エッジ間隔検出部22はマスタクロック
パルスの計数値を順次出力するので、マスタクロックパ
ルスの計数値の今回値が最大反転間隔ホールド部24に
保持された値より大なるときは今回値が最大反転間隔ホ
ールド部24に新たに保持される。最大反転間隔ホール
ド部24の保持値と基準値とが第1比較演算部26にお
いて比較され、その誤差がスピンドル制御信号として切
換スイッチ27を介してD/A変換器33に供給され
る。アナログ化されたスピンドル制御信号に応じて駆動
回路34がスピンドルモータを駆動する。
【0020】第1比較演算部26からのスピンドル制御
信号のレベルが第3所定の範囲内にあるとき第1スピン
ドルロック検出部28はイネーブル信号を発生する。イ
ネーブル信号が発生すると、切換スイッチ27が第2演
算比較部31の出力信号を中継すると共に同期保護部2
9は同期検出部23において生成された同期検出信号を
同期間隔測定部30に出力する。同期間隔測定部30は
同期保護部29の出力信号の発生間隔を入力クロックパ
ルスに応じて計数し、その入力クロックパルスの計数値
と基準値が第2比較演算部31において比較され、誤差
信号が出力される。第2比較演算部31の出力誤差がス
ピンドル制御信号として切換スイッチ27を介してD/
A変換器33に供給される。アナログ化されたスピンド
ル制御信号に応じて駆動回路34がスピンドルモータを
駆動する。
【0021】また、第2比較演算部31から出力された
スピンドル制御信号のレベルが第4所定の範囲内にある
ときスピンドルロックフラグが第2スピンドルロック検
出部32から発生される。スピンドルロックフラグはデ
ィスクプレーヤのシステムコントローラ(図示せず)に
供給され、スピンドルモータの回転が正常に制御されて
いることが伝達されるようになっている。
【0022】クロックパルス生成回路において、PLL
回路16の再生クロックパルスの周波数が第1所定の範
囲内に入って第1周波数ロック信号が発生した場合に
は、PLL回路16から出力される再生クロックパルス
がマスタクロックパルスに代わって入力クロックパルス
としてスピンドルサーボ回路に供給される。よって、再
生クロックパルスに応じてA/D変換器12、エッジ間
隔検出部22、同期検出部23、同期保護部29及び同
期間隔測定部30が動作する。入力クロックパルスが再
生クロックパルスに代わった場合でも、上記の動作と同
様にイネーブル信号の非存在時には第1比較演算部26
からのスピンドル制御信号がスイッチ27を介してD/
A変換器33に供給され、イネーブル信号の存在時には
第2比較演算部31からのスピンドル制御信号がスイッ
チ27を介してD/A変換器33に供給される。
【0023】このように初期状態では同期信号の間隔の
検出はマスタクロックパルスで行なわれるので、同期信
号の間隔をnTとすると、正しい同期信号の間隔でも検
出精度は(n±1)Tである。従って、第1比較演算部
26からのスピンドル制御信号に応じた粗いスピンドル
制御時の回転精度での同期信号の間隔は、更に制御誤差
の回転変動分±1Tを考慮して(n±2)Tと推定され
る。よって、CLV型の光ディスクの回転数が高い時に
は同期ピットとデータの最大反転間隔mTと区別できる
ためにはmT=8Tの場合には (n−2)T>8T という条件が必要である。一方、光ディスクの回転数が
低い時にはデータの最大反転間隔8Tを同期ピットと間
違えないためには 8T×(n+2)/n<nT という条件が成立しなければならない。両式を満たす最
小の整数nは11であり、同期ピット長は11Tとな
る。
【0024】なお、上述の例は最大反転間隔mTを8T
とし、同期ピットを読み取って同期信号として検出する
ときに生ずる検出誤差を2Tとした場合であり、これら
の値に限定されることはない。また、同期マークを検出
するために読取信号から記録マークの最大反転間隔を検
出するときに、その検出区間をディスクの回転速度が最
小時における同期マークの出現間隔より長くしている。
【0025】
【発明の効果】以上の如く、本発明によれば、データ読
取用の同期信号を得るための同期マークと、データを示
すマークのためのデータフィールドとを各トラックに有
する光ディスクにおいて、データの1ビット間隔をTと
し、同期マークのトラック方向の長さをnTとし、同期
マークを読み取って検出するときに生ずる検出誤差をα
Tとし、データについてのマークの最大反転間隔をmT
とすると、(n−α)T>mT及びmT×(n+α)/
n<nTの2式を満たすようにnを設定するので、検出
誤差と共にディスクの回転数の変化を考慮して同期マー
クの長さを設定することができる。よって、CLV型の
光ディスクの場合でも同期パターンをデータ中の最大反
転間隔と正確に区別して検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による光ディスクのサーボフィールドを
示す図である。
【図2】クロックパルス生成回路を示すブロック図であ
る。
【図3】スピンドルサーボ回路を示すブロック図であ
る。
【主要部分の符号の説明】
11 ピックアップ 13 クロックピット位相検出部 14,21 スレッショルド算出部 15 エッジ間隔/同期検出部 16 PLL回路 17 タイミング生成部 18 周波数エラー生成部 22 エッジ間隔検出部 23 同期検出部 24 最大反転間隔ホールド部 30 同期間隔測定部

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 データ読取用の同期信号を得るための同
    期マークと、データを示すマークのためのデータフィー
    ルドとを各トラックに備えた光ディスクであって、 前記データの1ビット間隔をTとし、前記同期マークの
    トラック方向の長さをnT(nは整数)とし、前記同期
    マークを読み取って検出するときに生ずる検出誤差をα
    Tとし、前記データを示すマークの最大反転間隔をmT
    (mは整数)とすると、 (n−α)T>mT ただし、α≧2 mT×(n+α)/n<nT の2式を満たすように整数nを設定することを特徴とす
    る光ディスク。
  2. 【請求項2】 前記同期マークを検出するために読取信
    号から記録マークの最大反転間隔を検出するときに、そ
    の検出区間をディスクの回転速度が最小時における前記
    同期マークの出現間隔より長くしたことを特徴とする請
    求項1記載の光ディスク。
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