JP2848383B1 - 有機el素子の製造方法 - Google Patents

有機el素子の製造方法

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Abstract

【要約】 【課題】 電極間ショートの発生を防止した高歩留まり
の有機EL(エレクトロ・ルミネッセンス)素子の製造
方法を提供する。 【解決手段】 透明基板1の表面に一方向に向けて複数
本の第1の透明電極(陽極)2を形成する工程と、前記
第1の透明電極2上にこれと直交する方向に複数本の絶
縁性の隔壁3を形成する工程と、前記隔壁3上に有機層
4及び第2の電極(陰極)5,6を形成する工程と、前
記基板1上に封止ガラスキャップ7を接着して内部を真
空状態とする工程と、前記封止ガラスキャップ7の外側
からレーザ光9を前記隔壁3上へ照射し、前記第2の電
極5,6を分離する工程を含んでいる。第2電極を分離
するためのレーザの照射時に、封止ガラスキャップによ
り内部を真空状態としているため、第2電極のショート
が防止できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は有機EL(エレクト
ロ・ルミネッセンス)素子の製造方法に閑するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】近年の有機EL素子では、製造工程にレ
ーザ加工を利用する製造方法が提案されている。例え
ば、特開平9−50888号公報に述べられている製造
方法を図6に示す。先ず、図6(a)のように、透明な
ガラス基板101の表面上に透明な陽極102を形成し
た後、図6(b)のように、有機EL素子の画素を形成
する画素領域108が除去されるように絶縁物であるレ
ーザ保護層103を形成する。次に、図6(c)のよう
に、真空蒸着法により、有機材料からなる発光機能層1
04およぴ陰極材料105を形成した後、図6(d)の
ように、レーザ加工部分107の上方よりYAGレーザ
(SHG,THG含む)あるいはエキシマレーザからな
るレーザ光を照射して、レーザ加工部分107の発光機
能層104および陰極材料105を蒸発させて陰極10
6を形成することにより、画素領域108に対応した複
数の画素を有する有機EL素子が得られる。
【0003】また、他の製造方法を図7に示す。先ず、
図7の(a)のように、透明なガラス基板101上に図
6の場合と同様に透明な陽極102を形成した後、図7
(b)のように、有機物からなる発光機能層104、陰
極材料105を順次真空蒸着する。その後、図7(c)
のように、表面が陰極材料よりも反射率の低い状態のレ
ーザ吸収層109を形成した上で、図7(d)のよう
に、所定のレーザ光をレーザ加工部分107の上方より
照射して、レーザー吸収層109および陰極材料105
を蒸発させ、図7(e)のように、陰極106を形成す
ることにより、画素領域108に対応した複数の画素を
有する有機EL素子が得られる。
【0004】さらに、図8の製造方法では、また、図8
(a)のように、透明なガラス基板101の表面に透明
な陽極を形成した後、図8(b)のように、画素領域1
08が除去された形状でレーザ保護層103を形成す
る。次に、図8(c)のように、有機物からなる発光機
能層104、陰極材料105を真空蒸着法で順次形成
し、更にレーザー吸収層111を形成した後、図8
(d)のように、レーザ加工部分107の上方よりレー
ザ光を照射してレーザー加工部分107の発光機能層1
04、陰極材料105およびレーザ吸収層111を蒸発
させて除去すると、図8(e)のように陰極120が形
成されて画素領域108に対応した複数の画素を有する
有機EL素子が得られる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】前記した特開平9−5
0888号公報に記載された従来技術では、レーザ光を
照射したレーザ加工部分において発生する電極金属の滓
がレーザ加工後の表面へ再付着し、電極間ショートの原
因となって歩留まりを低減するという問題が生じてい
る。
【0006】本発明の目的は、電極間ショートの発生を
防止した高歩留まりの有機EL素子の製造方法を提供す
るものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の製造方法は、図
1の概念構成図を参照すると、透明基板1の表面に一方
向に向けて複数本の第1の透明電極(陽極)2を形成す
る工程と、前記第1の透明電極2上にこれと直交する方
向に複数本の絶縁性の隔壁3を形成する工程と、前記隔
壁3上に有機層4及び第2の電極(陰極)5,6を形成
する工程と、前記基板1上に封止ガラスキャップ7を接
着して内部を真空状態とする工程と、前記封止ガラスキ
ャップ7の外側からレーザ光9を前記隔壁3上へ照射
し、前記第2の電極5,6を分離する工程を含んでい
る。前記隔壁は、酸化シリコン膜、窒化シリコン膜、ポ
ジ型あるいはネガ型フォトレジストおよびドライフィル
ムレジストを用いることが可能である。また、前記第2
電極は、チタンを含有する金属、あるいはカーボンを含
有する金属を用いることが可能である。さらに、前記レ
ーザ光は、波長250nm以下のパルス発振レーザが用
いられる。また、前記封止ガラスキャップは不活性ガス
雰囲気内で接着を行い、真空封止を行うものであり、更
に前記封止ガラスキャップは、波長250nm以下の波
長を透過する物質で、好ましくは、石英もしくは合成石
英である。
【0008】このように、透明なガラス基板1の表面
に、ITO等の第1の電極2(陽極)、絶縁性隔壁3、
有機層4、第2の電極5、チタン層6を形成し、さらに
封止ガラスキャップ7をガラス基板1上に接着して内部
を真空状態にし、その上で封止ガラスキャップ7の外側
より複数本の隔壁3上ヘレーザ光9を照射し、第2の電
極5及びチタン層6を溶断し、隣接する第2の電極及び
チタン層6を電気的に絶縁することにより、レーザ光の
照射時のフォトアプレーション効果により蒸発した金
属、すなわち金属滓11は温度の低い封止ガラスキャッ
プ7の内壁に付着するので、各隔壁3上に形成する分離
部10に金属滓が再付着することは無い。更に、第2の
電極5の表面上はチタン層6で覆われており、このチタ
ン層6はフォトアプレーション時に真空状態にある封止
ガラスキャップ7内部に残存する微量な酸素と結合し酸
化チタンとなり、脱酸素効果が得られる。
【0009】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態について
図面を参照して説明する。図2及び図3は本発明の第1
の実施形態を工程順に示す断面図と平面図である。先
ず、図2(a)、図3(a)のように、透明なガラス基
板1の一表面上に、ITO膜によって所定間隔をおいて
複数本の第1の電極2が図の左右方向に向けて延長状態
に形成される。また、前記第1の電極2と直交するよう
に、前記第1の電極2上には、互いに間隔を置いて配置
された複数本の隔壁3が設けられる。前記隔壁3の間の
領域には、発光を行うための素子領域が形成される。こ
こで、前記隔壁3は、フォトレジストによって形成され
ており、2μm〜30μmの厚さ及び20μm〜30μ
mの幅を有している。さらに、前記第1の電極2の一側
領域には、後述する第2の電極を外部に引き出すための
引き出し電極14が設けられる。
【0010】次いで、図2(b)のように、前記隔壁3
に挟まれた素子領域、各隔壁3の両側面、隔壁3の上面
には、有機層4、第2の電極5、及びチタン層6を含め
た第2の電極5を形成する層が蒸着によって形成され
る。しかる上で、図2(c)及び図3(b)に示すよう
に、有機EL素子全体を保護する目的で、不活性ガス雰
囲気中において封止ガラスキャップ7をガラス基破上1
に接着し、更に封止ガラスキャップ7内部を真空状態に
する目的で、前記封止ガラスキャップ7の上面に設けた
孔8を用いて真空引きした後、孔8を封じる。そして、
前記封止ガラスキャツプ7の外側よりレーザー光9を隔
壁3上部へ照射する。これにより、図2(d)及び図3
(c)に示すように、前記第2の電極5及びチタン層8
が隔壁3上部で分離され、分離部10が形成される。図
4は、このようにして製造された有機EL素子の一部を
破断した斜視図である。
【0011】この構成では、隔壁3の両側面を覆うよう
に、有機層4、第2の電極5及びチタン層6を設け、隔
壁3の上面だけでチタン層6を含めた第2の電極5間の
電気絶縁を行うことができる。また、この構成を採用し
た場合、真空中でフォトアプレーションにより蒸発した
金属滓11はレーザー光照射部よりも温度の低い封止ガ
ラスキャップ7の内側に付着するためにレーザー光照射
部に形成された分離部10に再付着することはない。ま
た、封止ガラスキャップ7内部に微量残存する酸素を除
去できるので、ダークスポットと呼ばれる非発光部の発
生が抑制され、有機EL素子の寿命を向上できる利点が
ある。
【0012】図5は本発明の第2の実施形態を工程順に
示す断面図である。なお、前記第1の実施形態と等価な
部分には同一符号を付してある。先ず、図5(a),
(b)に示すチタン層6の形成までは前記第1の実施形
態と同じである。その上で、前記チタン層6を形成後、
カーボンを入れた抵抗加熱ボートに電流を流し、チタン
層6の表面に100nmの厚みでカーボン層12を蒸著
する。次いで、図5(c)に示すように、前記第1の実
施形態と同様に封止ガラスキャップ7を接着し、かつ内
部を真空引きした上で、レーザ光9を照射する。これに
より、図5(d)に示すように、エキシマレーザ光照射
後の隔壁3の上部において分離部10によって第2の電
極5間が絶縁され、第1の実施形態と同様の有機EL素
子が形成される。この実施形態においては、封止ガラス
キャップ7の内壁にカーボンを含む金属13が付着する
ため、隔壁の透明部は黒となり、素子動作時における発
光部である有機EL素子と非発光部の素子間分離部との
可視光領域でのコントラストが向上される。
【0013】
【実施例】ここで、図2を再度参照して、本発明の実施
例を説明する。先ず、図2(a)のように、ガラス基板
1として、1.1mmの厚さを有するガラス基板を使用
した。この場合、ガラス基板1を形成するガラスとして
は、アルカリ溶出分の少ない無アルカリガラスが望まし
いが、安価な低アルカリガラス基板、あるいは、溶出を
制御する目的で酸化シリコンなどを基板上に積層したソ
ーダライムガラスであっても良いことが確認された。次
に、ガラス基板1の一表面に、スパッタ法により、厚さ
100nmのITO膜を形成した。続いて、フォトリソ
グラフィ技術を用いて、ITO膜を同図の左右方向にス
トライプ状にパターニングして、第1の電極2を形成し
た。この場合、第1の電極2を形成するITO膜はアノ
ード電極として動作すると共に、有機層4で発光した光
を透過させて、ガラス基板1の外部に取り出すものであ
るから、低抵抗で、より光透過率の高いものであること
が望ましい。前記第1の電極2としてのITO膜パター
ンは、ラインピッチ0.33mm、ライン幅0.3m
m、長さ28mmを有しており、ガラス基板10上に1
28本形成された。
【0014】次に、前記第1の電極2を構成するITO
膜パターンと直交するように、隔壁3が形成される。こ
の実施例では、商品名「OFPR800」で、東京応化
工業(株)から販売されているポジ型フォトレジストを
スピンコートすることにより、厚さ5μmのレジスト膜
を形成した。続いて、前記ポジ型フォトレジストを90
℃で30分、熱処理した後、438nmの波長を有する
光を用いて、60mJの露光量で露光し、2.38%の
TMAH溶液で70秒間、現像および水洗し、次に、1
30℃の温度で30分間ベーキングを行うことによっ
て、第1の電極2に直交する幅30μmのレジスト隔壁
3を形成した。この時、隔壁3のパターンは0.33m
mのピッチおよぴ2〜5μmの高さを有しており、その
両側面は前記ガラス基板1の表面に対して実質上直立し
た状態を有していた。
【0015】続いて、図2(b)に示すように、隔壁3
を下方に向けた状態にして、前記処理を受けた基板を真
空蒸着装置の基板ホルダに固定し、抵抗加熱ボートに、
N,N’−ジフェニル−N.N’−ビス(αーナフチ
ル)−1,1’−ビフェニル−4.4’−ジアミン(α
−NPDと略称する)を入れる。別の抵抗加熱ボートに
トリス(8−キノリライト)アルミニウム錯体(Alq
3と称する)を入れ、真空蒸者装置内を1×10 Torr
以下程度に排気し、基破ホルダを回転させながら、αー
NPDの抵抗加熱ボートに電流を流して加熱し、厚さ5
0nmのα−NPD層を蒸着した。その後、基板ホルダ
の回転を継続しつつ、Alq3を入れた抵抗加熱ボート
に電流を流し、αーNPD層の表面に50nmの厚さの
Alq3層を蒸着した。このようにして、正孔輸送層、
発光層および電子輸送層を含む有機層4が蒸着によって
形成された。更に、真空蒸着装置内に、前記処理された
基板と、マグネシウムを入れた抵抗加熱ボートを搬入す
る一方、別の抵抗加熱ボートに銀を入れ、マグネシウ
ム:銀の比率を10:1となる蒸着速度で一度に蒸着し
300nmの厚みの第2の電極5を形成した。その後、
チタンを入れた抵抗加熱ボートに電流を流し、マグネシ
ウム:銀の表面に100nmの厚みのチタン層6を蒸着
した。
【0016】次に、図2(c)に示すように、有機EL
素子部を保護する目的で厚み1mmの石英製封止ガラス
キャップ7を、窒素ガス雰囲気のグローブボックス内で
ガラス基板1上へ接着した。その後、油回転ポンプによ
り封止ガラスキャップ7上部に設けた孔8を利用して、
封止ガラスキャップ7内部の圧力を10 pa台まで真
空排気し、孔8を封じた。次に、波長248nmのKr
Fエキシマレーザ光9を封止ガラスキャップ7の外側か
ら、繰り返し周波数20Hz、ビームサイズ27mm×
lOmm、ビームアバーチャ25μm×3μmの条件で
隔壁3の長手方向へ連続移動しながら照射した所、図2
(d)に示すように、隔壁3の上部で第2の電極5間が
電気絶縁された分離部10およびレーザ光照射時のフォ
トアプレーションによって蒸発した金属滓11は封止ガ
ラスキヤップ7の内壁に付着し、分離部10への再付着
が無い有機EL素子が得られた。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、第2電極
を分離するためのレーザの照射時に、封止ガラスキャッ
プにより内部を真空状態としているため、フォトアプレ
ーション効果による蒸発した金属滓は、レーザ照射部よ
りも温度の低い封止ガラスキャップ内壁に付着し、レー
ザ加工部分である溶断部に付着することはなく、第2電
極のショートが防止でき、製造歩留りを向上することが
可能となる。また、第2電極をチタンを含む構成とする
ことにより、エキシマレーザ光を真空状態下にあるチタ
ンに照射すると、チタンが蒸発する際に封止ガラスキャ
ップ内の酸素分子と結合し酸化チタンとなり、脱酸素効
果を有するため、酸素分子の作用によるダークスポット
と呼ばれる有機EL素子動作時の非発光部の発生が抑制
でき、素子寿命が向上する。あるいは、第2電極をカー
ボンを含む構成とすることにより、隔壁材料は透明性の
高い絶縁体を用いているために隔壁上部の第2電極を除
去すると隔壁上部の分離部は透明となるが、第2電極を
レーザ光によって溶断したときに蒸発したカーボンはガ
ラスキャップ内壁に再付着することから、隔壁の透明部
は黒となり、素子動作時における発光部である有機EL
素子と非発光部の素子間分離部との可視光領域でのコン
トラストが向上される。さらに、レーザ光源として波長
248nmのエキシマレーザを用いることにより、エキ
シマレーザは光子エネルギが高く、かつ短パルスのレー
ザ発振のためピーク出力が高いことから、光子エネルギ
が熱エネルギーに変換されても熱の拡散距離は20〜3
0nmと短いので、低温レーザ加工が可能となり、有機
EL素子部への熱ダメージを与えることもない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の製造方法を説明するための工程一部の
断面図である。
【図2】本発明の第1の実施形態を工程順に説明するた
めの縦断面図である。
【図3】本発明の第1の実施形態を工程順に説明するた
めの平面図である。
【図4】本発明により製造された有機EL素子の一部を
破断した斜視図である。
【図5】本発明の第2の実施形態を工程順に説明するた
めの縦断面図である。
【図6】従来の有機EL素子の製造方法の一例を工程順
に示す縦断面図である。
【図7】従来の有機EL素子の製造方法の他の例を工程
順に示す縦断面図である。
【図8】従来の有機EL素子の製造方法のさらに他の例
を工程順に示す縦断面図である。
【符号の説明】
1 ガラス基板 2 第1の電極(陽極) 3 隔壁 4 有機層 5 第2の電極(陰極) 6 チタン層 7 封止ガラスキャップ 9 エキシマレーザ光 10 分離部 11 金属滓 12 カーボン層

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 透明基板の表面上に一方向に延長された
    複数本の透明な第1電極を形成する工程と、前記第1電
    極上にこれと直交する方向に延長された複数本の絶縁性
    の隔壁を形成する工程と、前記隔壁上に正孔輸送層、発
    光層、電子輸送層の有機屠を形成し、かつその上の第2
    電極を形成する工程と、前記透明基板上に前記第1電
    極、隔壁、有機層、第2電極を覆う封止ガラスキャップ
    を接着し、かつこの封止ガラスキャップの内部を真空状
    態にする工程と、前記封止ガラスキャップの外部からレ
    ーザ光を前記隔壁上に照射して前記第2電極、有機層を
    溶断して分離する工程とを含むことを特徴とする有機E
    L素子の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記隔壁は酸化シリコン膜、窒化シリコ
    ン膜、ポジ型あるいはネガ型フォトレジストおよびドラ
    イフィルムレジストであることを特徴とする請求項1に
    記載の有機EL素子の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記第2電極はチタンを含有する金属ま
    たはカーボンを含有する金属であることを特徴とする請
    求項1または2に記載の有機EL素子の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記レーザ光は波長250nm以下のパ
    ルス発振レーザ光であることを特徴とする請求項1ない
    し3のいずれかに記載の有機EL素子の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記封止ガラスキャップは不活性ガス雰
    囲気内で粘り合わせ接着を行った上で、内部を真空引き
    していることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか
    に記載の有機EL素子の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記封止ガラスキャップは波長250n
    mの光を透過する材質で、好ましくは石英もしくは合成
    石英製であることを特徴とする請求項1ないし5のいず
    れかに記載の有機EL素子の製造方法。
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Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2918037B1 (ja) * 1998-06-18 1999-07-12 日本電気株式会社 カラー有機elディスプレイとその製造方法
TW471011B (en) 1999-10-13 2002-01-01 Semiconductor Energy Lab Thin film forming apparatus
JP4053209B2 (ja) * 2000-05-01 2008-02-27 三星エスディアイ株式会社 有機elディスプレイの製造方法
JP4112779B2 (ja) 2000-05-31 2008-07-02 三星エスディアイ株式会社 有機el素子の製造方法
JP4766628B2 (ja) * 2000-07-31 2011-09-07 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置および表示装置の製造方法
JP2003217833A (ja) * 2002-01-28 2003-07-31 Nippon Sheet Glass Co Ltd 有機エレクトロルミネッセンスディスプレイ用背面封止缶、及び該封止缶の製造方法
KR100777724B1 (ko) * 2002-02-07 2007-11-19 삼성에스디아이 주식회사 유기전자 발광소자와, 이의 기판 및 그 절단방법
KR20020025917A (ko) * 2002-02-15 2002-04-04 박병주 유기 전계발광 소자 제조 방법
JP2004165068A (ja) 2002-11-14 2004-06-10 Sanyo Electric Co Ltd 有機電界発光パネルの製造方法
US7338820B2 (en) * 2002-12-19 2008-03-04 3M Innovative Properties Company Laser patterning of encapsulated organic light emitting diodes
US20050199599A1 (en) * 2004-03-09 2005-09-15 Xinghua Li Method of fabrication of hermetically sealed glass package
US7151342B2 (en) * 2004-05-07 2006-12-19 E. I. Du Pont De Nemours And Company Processes for removing organic layers and organic electronic devices formed by the processes
US7341886B2 (en) * 2005-03-03 2008-03-11 Eastman Kodak Company Apparatus and method for forming vias
US7384816B2 (en) * 2005-03-03 2008-06-10 Eastman Kodak Company Apparatus and method for forming vias
JP2006252774A (ja) * 2005-03-07 2006-09-21 Ricoh Co Ltd 有機トランジスタ、及びディスプレイ装置
JP2006253162A (ja) * 2005-03-07 2006-09-21 Ricoh Co Ltd 有機トランジスタ、及びディスプレイ装置
JP4914016B2 (ja) * 2005-03-07 2012-04-11 株式会社リコー フレキシブルディスプレイ装置
JP2006253164A (ja) * 2005-03-07 2006-09-21 Ricoh Co Ltd 有機トランジスタ、及びディスプレイ装置
JP4539547B2 (ja) 2005-12-08 2010-09-08 セイコーエプソン株式会社 発光装置、発光装置の製造方法、及び電子機器
KR101703765B1 (ko) * 2009-02-05 2017-02-07 코닌클리케 필립스 엔.브이. 전계 발광 디바이스
CN103314642B (zh) * 2011-01-13 2016-07-06 株式会社钟化 有机el发光元件及其制造方法
JP6155020B2 (ja) * 2012-12-21 2017-06-28 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置及びその製造方法
JP6064619B2 (ja) * 2013-01-24 2017-01-25 大日本印刷株式会社 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法
US20140284584A1 (en) * 2013-03-25 2014-09-25 Nitto Denko Corporation Organic light emitting bipolar host materials
KR20150102180A (ko) * 2014-02-27 2015-09-07 삼성디스플레이 주식회사 레이저 빔 조사 장치 및 이를 이용한 유기 발광 디스플레이 장치의 제조 방법
WO2015129892A1 (ja) * 2014-02-28 2015-09-03 コニカミノルタ株式会社 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法と製造装置
JP7125104B2 (ja) * 2018-07-02 2022-08-24 株式会社Joled 表示パネル製造装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100366191B1 (ko) * 1993-11-04 2003-03-15 에스아이 다이아몬드 테크놀로지, 인코포레이티드 플랫패널디스플레이시스템및구성소자의제조방법
JP4124379B2 (ja) * 1995-08-08 2008-07-23 パイオニア株式会社 有機エレクトロルミネセンス素子
TW386609U (en) * 1996-10-15 2000-04-01 Koninkl Philips Electronics Nv Electroluminescent illumination apparatus

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Publication number Publication date
JPH11162639A (ja) 1999-06-18
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