JP2820300B2 - 差動増幅回路 - Google Patents
差動増幅回路Info
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Description
行なうダイナミック動作型の差動増幅回路に関するもの
である。
レベルの振り分け等の種々の用途に用いられている。論
理レベルの振り分けの例としては、トランジスタ・ト
ランジスタ・ロジック(TTL)入力の“H"レベル2.4V、
“L"レベル0.8VをMOS論理レベルとして“H"レベル5V、
“L"レベル0Vに変換するための半導体メモリのアドレス
バッファ等や、半導体メモリの記憶信号が“H"レベル
であるか、“L"レベルであるかを検知するセンスアンプ
等に用いられている。
を第2図に示す。
により、第1の入力信号Ain(例えば、2.4Vまたは0.8
V)と第2の入力信号Vr(例えば1.5V)との差動をと
り、ラッチ信号φ2の“H"レベルにより、差動的に決ま
った値を保持し、それを相補的な出力信号A,(例え
ば、5Vまたは0V)の形で出力する回路であり、Pチャネ
ル型の電界効果トランジスタ(以下、FETという)1〜
4、及びNチャネル型FET5〜13より構成されている。な
お、第2図のVccは電源電位(第1の電位)、Vssは接地
電位(第2の電位)である。
つつ第2図の動作を説明する。
(=Vssレベル)であり、出力信号A,はFET1,2を介し
て電源電位Vccにプリチャージされている。
し、FET5,7,9を通して出力信号が放電すると共に、FE
T6,8,10を通して出力信号Aが放電する。ここで、例え
ば入力信号Ainが0.8V、入力信号Vrが1.5Vであると、FET
9,10のうち、入力信号Vrをゲート入力とするFET10のコ
ンダクタンスの方が、入力信号Ainをゲート入力するFET
9のコンダクタンスより大きい。そのため、出力信号A
の方がより速く放電し、出力信号Aの電位がの電位
より低くなる。出力信号A,に電位差ができると、FET
5,6にコンダクタンスの差が生じる。さらに出力信号A
の電位がVcc−|Vtp|、(但し、VtpはPチャネル型FET
の閾値電圧)より低くなると、FET3がオンし、そのFET3
を通して出力信号を電源電位Vcc側に充電しはじめ、
出力信号A,の電位差がさらに大きくなる。
ル)になると、FET13がオンし、出力信号Aが接地電位V
ssレベルになると共に、出力信号が電源電位Vccレベ
ルとなり、その出力信号AがFET12,13を介して接地電位
Vssに、出力信号がFET3を介して電源電位Vccにそれぞ
れクランプされる。クランプ後は、入力信号Ain,Vrの
電位変化に関係なく、出力信号A,が電位Vss,Vccレベ
ルに保持される。
ラッチ信号φ2の2本の制御信号を必要とする上に、そ
の信号φ1,φ2における信号遅延のタイミング制御も必
要となる。このφ1,φ2の信号遅延が短かすぎると、出
力信号Aとの電位差を十分に確保できない状態でラッ
チ信号φ2が“H"レベルに立上ることにより、誤動作を
起こしやすかった。反対に、φ1,φ2の信号遅延が長す
ぎると、ラッチまでに時間がかかって入力信号Ain,Vr
のレベルを長く保持しなければならず、動作速度が遅く
なっていた。
幅回路を提供することにある。
提供することにある。
し、前記第2のノードと第1の電位を有する第1電源と
の間に接続される第1のトランジスタと、 前記第2のノードに接続される第2の制御電極を有
し、前記第1電源と前記第1のノードとの間に接続され
る第2のトランジスタと、 前記第2のノードに接続される第3の制御電極を有
し、前記第1のノードと前記第3のノードとの間に接続
される第3のトランジスタと、 前記第1のノードに接続される第4の制御電極を有
し、前記第2のノードと前記第4のノードとの間に接続
される第4のトランジスタと、 第1または第2の論理レベルを有する活性化信号が与
えられる第5の制御電極を有し、ソース電極またはドレ
イン電極の一方の電極が前記第3のノードに接続された
第5のトランジスタと、 第1の入力電位を有する第1の入力信号が与えられる
第6の制御電極を有し、前記第1の電位より低い第2の
電位を有する第2電源と前記第5のトランジスタのソー
ス電極またはドレイン電極の他方の電極との間に接続さ
れる第6のトランジスタを備えた第1電位決定回路と、 前記活性化信号が与えられる第7の制御電極を有し、
ソース電極またはドレイン電極の一方の電極が前記第4
のノードに接続された第7のトランジスタと、 前記第1の入力電位とは異なる第2の入力電位を有す
る第2の入力信号が与えられる第8の制御電極を有し、
前記第2の電源と前記第7のトランジスタのソース電極
またはドレイン電極の他方の電極との間に接続される第
8のトランジスタを備えた第2電位決定回路と、 第9の制御電極を有し、前記第2電源と前記第3のノ
ードとの間に接続される第9のトランジスタと、 入力が前記第1のノードに接続され、出力が前記第9
の制御電極に接続される第1のインバータを備えた第1
の電位検出回路であって、前記第1のノードの電位が前
記第1の電位と前記第2の電位との間の所定電位より小
さくなった時、前記第9のトランジスタを導通状態にす
る前記第1の電位検出回路と、 第10の制御電極を有し、前記第2の電源と前記第4の
ノードとの間に接続される第10のトランジスタと、 入力が前記第2のノードに接続され、出力が前記第10
の制御電極に接続される第2のインバータを備えた第2
の電位検出回路であって、前記第2のノードの電位が所
定電位より小さくなった時、前記第10のトランジスタを
導通状態にする前記第2の電位検出回路と、 前記活性化信号が与えられる第11の制御電極を有し、
前記第1電源と前記第1のノードとの間に接続される第
11のトランジスタと、 前記活性化信号が与えられる第12の制御電極を有し、
前記第1電源と前記第2のノードとの間に接続される第
12のトランジスタとを備え、 前記活性化信号が前記第1の論理レベルの場合、前記
第11及び第12のトランジスタが導通状態、前記第5及び
第7のトランジスタが実質的に非導通状態になり、前記
第1及び第2のノードの電位が実質的に前記第1の電位
になり、 前記活性化信号が前記第1の論理レベルから前記第2
の論理レベルに変化し、前記第11及び第12のトランジス
タが実質的に非導通状態、前記第5及び第7のトランジ
スタが導通状態になり、前記第1及び第2の入力信号が
前記第6及び第8の制御電極に与えられた場合、前記第
1及び第2のノードの電位が、前記第1及び第2の入力
電位の差に基づいてそれぞれ前記第1の電位から前記所
定電位に向かって放電し始め、前記第1または第2のノ
ードの一方のノード電位が前記所定電位に到達すると、
該一方のノードに接続される前記第1または第2の電位
検出回路が前記第9または第10のトランジスタを導通状
態にせしめることにより、該一方のノードの電位が実質
的に前記第2の電位に設定されると共に、該一方のノー
ドに接続される制御電極を有する前記第1または第2の
トランジスタが導通状態になり他方のノードの電位が実
質的に前記第1の電位に設定される差動増幅回路であ
る。
の回路図、第2図は従来の差動増幅回路の回路図、第3
図は第2図の動作波形図、第4図は第1図の動作波形
図、第5図はこの発明の第2の実施例を示す差動増幅回
路の回路図、第6図は第5図の動作波形図である。
〜6図を参照して説明する。
動作型の差動増幅回路の回路図である。この差動増幅回
路は、活性化信号φの“H"レベルにより、第1の入力信
号Ain(例えば2.4Vまたは0.8V)と第2の入力信号V
r(例えば1.5V)との電位差を検知して、第1の入力信
号Ainと第2の入力信号との大小関係によって相補的な
一定の出力信号(例えば5Vと0V)の形で出力する回路で
ある。この差動増幅回路はフリップフロップ回路20(以
下FF回路という)Nチャネル型トランジスタ27〜30(第
5乃至第8のトランジスタ)、33(第9のトランジス
タ)、34(第10のトランジスタ)およびインバータ3」
(第2のインバータ)、32(第1のインバータ)から構
成されている。FF回路20はPチャンネル型FET21(第11
のトランジスタ)、22(第12のトランジスタ)、23(第
2のトランジスタ)、24(第1のトランジスタ)及びN
チャンネル型FET25(第3のトランジスタ)、26(第4
のトランジスタ)を有しており、第1の電位である電源
電位Vcc(第1電源)には並列接続されたPチャネル型F
ET21,23のソースが共通接続され、これらのドレインは
出力ノードN1に共通接続されている。さらにこの第1の
出力ノードN1にはNチャネル型FET25のドレインが接続
され、このNチャネル型FET25のソースは第1のノードN
3に接続されている。これらと同様にPチャネル型FET2
2,24が電源電位Vccと第2の出力ノードN2との間に並列
接続されており、Nチャネル型FET26が第2の出力ノー
ドと第2のノードN4との間に接続されている。さらにP
チャネル型FET23とNチャネル型FET25とのゲートは第2
の出力ノードN2に共通に接続され、Pチャネル型FET24
とNチャネル型FET26とのゲートは第1の出力ノードN1
に共通に接続されている。Pチャネル型FET21,22のゲー
トには活性化信号φが共通に与えられる。第1,第2のノ
ードN3,N4にはNチャネル型FET27,28のドレインがそれ
ぞれ接続され、これらFET27,28のゲートには活性化信号
φが与えられる。また、Nチャネル型FET27,28のソース
にはNチャネル型FET29,30のドレインがそれぞれ接続さ
れ、これらFETのソースは第2の電位である接地電位Vss
(第2電源)に接続されている。第1,第2のノードN3,N
4には、さらにNチャネル型FET33,34のドレインがそれ
ぞれ接続されており、これらFET33,34のソースは電源電
位Vssに接続されている。さらに、これらFET33,34のゲ
ートにはインバータ32,31の出力が接続されている。イ
ンバータ32,31の入力はそれぞれ第1,第2の出力ノードN
1,N2に接続されている。出力ノードN1,N2には出力信号
A,が出力される。またNチャネル型FET29,30のゲート
には、入力信号Ain,Vrがそれぞれ与えられる。なお、
インバータ31とFET34及びインバータ32とFET33とで電位
設定手段を構成する。
図の動作波形図を参照しつつ説明する。
るため、FET21,22はオン状態である。このため、出力信
号A,はFET21,22を介して電源電位Vccにプリチャージ
されている。
と、FET27,28がオンし、FET25,27,29を通して出力信号
が放電すると共に、FET26,28,30を通して出力信号A
が放電する。ここで、例えば入力信号Ainが0.8V、入力
信号Vrが1.5Vであると、FET29,30のうち、入力信号Vrを
ゲート入力とするFET30のコンダクタンスの方が、入力
信号Ainをゲート入力するとFET29のコンダクタンスより
大きい。そのため、出力信号Aの方がよりも速く放電
し、出力信号Aの電位がの電位より低くなる。出力信
号A,に電位差ができると、FET25,26にもコンダクタン
スの差が生じる。さらに出力信号Aの電位がVcc−|Vtp
|より低くなると、FET23がオンし、そのFET23を通して
出力信号を電源電位Vcc側に充電しはじめ、出力信号
A,の電位差がさらに大きくなる。
値電圧以下になると、そのインバータ31の出力側ノード
N5が“H"レベルとなり、FET34がオンし、FET26,34を介
して出力信号Aを接地電位Vssレベルにクランプする。
また、出力信号Aの電位降下により、FET23がオンし、
そのFET23を通して出力信号を電源電位Vccレベルにク
ランプする。この時、インバータ32の出力側ノードN6が
“L"レベルであるため、FET33はオンしない。出力信号
A,のクランプ後は、入力信号Ain,Vrの電位変化に関
係なく、出力信号A,が電位Vss,Vccレベルに保持され
る。
る。そして、例えば入力信号Ainとして2.4V(>Vr)が
入力されると、前記とほぼ同様にして出力信号Aが“H"
レベル(=Vccレベル)、出力信号が“L"レベル(=V
ssレベル)となる。
(Vcc)と第2の電位のほぼ中間ぐらいの値とするのが
望ましい。もし、インバータ31,32の閾値電圧が第1の
電位(Vcc)近傍だと誤動作により出力信号をクランプ
してしまう可能性が高く、また、この閾値電圧が第2の
電位(Vss)近傍だと出力信号をクランプするのに時間
がかかってしまうからである。
でラッチ制御を行なうため、外部からのラッチ信号が不
要となり、活性化信号φのみで動作する。このため、活
性化信号φが“H"レベルになってから一定時間後に“H"
レベルとなる制御信号のタイミング制御が不要となり、
誤動作がなくなると共に動作速度の速い差動増幅が可能
となる。
の実施例を説明する。第5図はこの発明の第2の実施例
を示す差動増幅回路の回路図であり、第1図と同一要素
には同一符号を付してその説明を省略する。この差動増
幅回路では、第1の実施例において、第2の電位である
接地電位Vssに代えて逆相活性化信号を用いると共
に、FET27,28を省略した。さらに電位設定手段を構成す
るインバータ31,32及びFET33,34のうち、FET33,34に代
えてFET29,30にそれぞれ並列に接続されたNチャネル型
FET43,44を設けている。
を参照しつつ説明する。
性化信号が“H"から“L"レベルとなり、FET26,30を通
して出力信号Aが放電すると共にFET25,29を通して出力
信号が放電する。ここで、第1の実施例と同様に入力
信号Ainが0.8V,入力信号Vrが1.5Vだとすると、FET30の
コンダクタンスがFET29のコンダクタンスより大きいた
め、出力信号Aの方がよりも速く放電し、出力信号A
の電位がの電位より低くなる。出力信号A,に電位差
が出来るとFET25,26にもコンダクタンスの差が生じ出力
信号A,の放電速度の差はますます大きくなる。さらに
出力信号Aの電位がVcc−|Vtp|より低くなるとFET23
がオンし、出力信号が充電されはじめるため、出力信
号A,の電位差はさらに大きくなる。出力信号Aの電位
が下がりインバータ31の閾値電圧以下になるとインバー
タ31によりその出力が“H"レベルとなりFET44がオンす
る。従って出力信号Aが“L"レベルにクランプされ、出
力信号は電源電位Vccにクランプされる。
信号の2本の制御信号が必要だが、逆相関係のタイミ
ング制御は容易に形成することが可能なため、(たとえ
ばインバータ一段で出来る)第1の実施例とほぼ同様の
降下が期待できる。また、第1の実施例に比べ、第2の
実施例ではFETが2つ少ないという利点がある。
号が一定電位以下になるとラッチ制御を行うようにした
ので、外部からのラッチ信号が不要となり、活性化−ラ
ッチ間の細かいタイミング制御が不要となる。そのた
め、制御が簡単で、誤動作がなく、動作速度の速い安定
した差動増幅が可能となる。
Claims (1)
- 【請求項1】第1のノードと、第2のノードと、第3の
ノードと、第4のノードと、 前記第1のノードに接続される第1の制御電極を有し、
前記第2のノードと第1の電位を有する第1電源との間
に接続される第1のトランジスタと、 前記第2のノードに接続される第2の制御電極を有し、
前記第1電源と前記第1のノードとの間に接続される第
2のトランジスタと、 前記第2のノードに接続される第3の制御電極を有し、
前記第1のノードと前記第3のノードとの間に接続され
る第3のトランジスタと、 前記第1のノードに接続される第4の制御電極を有し、
前記第2のノードと前記第4のノードとの間に接続され
る第4のトランジスタと、 第1または第2の論理レベルを有する活性化信号が与え
られる第5の制御電極を有し、ソース電極またはドレイ
ン電極の一方の電極が前記第3のノードに接続された第
5のトランジスタと、 第1の入力電位を有する第1の入力信号が与えられる第
6の制御電極を有し、前記第1の電位より低い第2の電
位を有する第2電源と前記第5のトランジスタのソース
電極またはドレイン電極の他方の電極との間に接続され
る第6のトランジスタを備えた第1電位決定回路と、 前記活性化信号が与えられる第7の制御電極を有し、ソ
ース電極またはドレイン電極の一方の電極が前記第4の
ノードに接続された第7のトランジスタと、 前記第1の入力電位とは異なる第2の入力電位を有する
第2の入力信号が与えられる第8の制御電極を有し、前
記第2の電源と前記第7のトランジスタのソース電極ま
たはドレイン電極の他方の電極との間に接続される第8
のトランジスタを備えた第2電位決定回路と、 第9の制御電極を有し、前記第2電源と前記第3のノー
ドとの間に接続される第9のトランジスタと、 入力が前記第1のノードに接続され、出力が前記第9の
制御電極に接続される第1のインバータを備えた第1の
電位検出回路であって、前記第1のノードの電位が前記
第1の電位と前記第2の電位との間の所定電位より小さ
くなった時、前記第9のトランジスタを導通状態にする
前記第1の電位検出回路と、 第10の制御電極を有し、前記第2の電源と前記第4のノ
ードとの間に接続される第10のトランジスタと、 入力が前記第2のノードに接続され、出力が前記第10の
制御電極に接続される第2のインバータを備えた第2の
電位検出回路であって、前記第2のノードの電位が所定
電位より小さくなった時、前記第10のトランジスタを導
通状態にする前記第2の電位検出回路と、 前記活性化信号が与えられる第11の制御電極を有し、前
記第1電源と前記第1のノードとの間に接続される第11
のトランジスタと、 前記活性化信号が与えられる第12の制御電極を有し、前
記第1電源と前記第2のノードとの間に接続される第12
のトランジスタとを備え、 前記活性化信号が前記第1の論理レベルの場合、前記第
11及び第12のトランジスタが導通状態、前記第5及び第
7のトランジスタが実質的に非導通状態になり、前記第
1及び第2のノードの電位が実質的に前記第1の電位に
なり、 前記活性化信号が前記第1の論理レベルから前記第2の
論理レベルに変化し、前記第11及び第12のトランジスタ
が実質的に非導通状態、前記第5及び第7のトランジス
タが導通状態になり、前記第1及び第2の入力信号が前
記第6及び第8の制御電極に与えられた場合、前記第1
及び第2のノードの電位が、前記第1及び第2の入力電
位の差に基づいてそれぞれ前記第1の電位から前記所定
電位に向かって放電し始め、前記第1または第2のノー
ドの一方のノード電位が前記所定電位に到達すると、該
一方のノードに接続される前記第1または第2の電位検
出回路が前記第9または第10のトランジスタを導通状態
にせしめることにより、該一方のノードの電位が実質的
に前記第2の電位に設定されると共に、該一方のノード
に接続される制御電極を有する前記第1または第2のト
ランジスタが導通状態になり他方のノードの電位が実質
的に前記第1の電位に設定されることを特徴とする差動
増幅回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1510425A JP2820300B2 (ja) | 1988-10-11 | 1989-10-06 | 差動増幅回路 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25554288 | 1988-10-11 | ||
JP63-255542 | 1988-10-11 | ||
JP1510425A JP2820300B2 (ja) | 1988-10-11 | 1989-10-06 | 差動増幅回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2820300B2 true JP2820300B2 (ja) | 1998-11-05 |
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ID=26542271
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2820300B2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61107594A (ja) * | 1984-10-31 | 1986-05-26 | Toshiba Corp | センス増幅回路 |
JPS63197089A (ja) * | 1987-02-12 | 1988-08-15 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
-
1989
- 1989-10-06 JP JP1510425A patent/JP2820300B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61107594A (ja) * | 1984-10-31 | 1986-05-26 | Toshiba Corp | センス増幅回路 |
JPS63197089A (ja) * | 1987-02-12 | 1988-08-15 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
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