JP2809027B2 - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザの光をレ
ンズにより絞った光スポットを用いて、光ディスクの記
録層に情報を記録したり、あらかじめ記録されている情
報を再生・消去する光ディスク装置に関するものであ
る。
ンズにより絞った光スポットを用いて、光ディスクの記
録層に情報を記録したり、あらかじめ記録されている情
報を再生・消去する光ディスク装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】図5は光ディスク装置を示したブロック
図である。図5を用いて従来の技術を説明する。
図である。図5を用いて従来の技術を説明する。
【0003】図5を構成する51は光ディスク、52は
光ディスクの記録層、53は半導体レーザ、54は半導
体レーザ53の光出力を制御する半導体レーザ駆動回
路、55はコリメータ・レンズ、56は記録層52から
の反射光を検出する光検出器、57は1/4波長板、5
8は対物レンズである。59aは対物レンズ58を光デ
ィスク51の半径方向に移動させるアクチュエータ、5
9bは対物レンズ58を光ディスク51の厚み方向に移
動させるアクチュエータ、60は記録層52からの反射
光を光検出器56に入射させるビームスプリッタ、61
は光検出器56から光スポットと記録層52との焦点の
ずれ量や、追従するトラック中心からのずれ量を検出す
る信号検出回路、62はアクチュエータ59aを光ディ
スク51の半径方向に駆動させるトラッキング駆動回
路、63はアクチュエータ59bを光ディスク51の厚
み方向に駆動させるフォーカス駆動回路、64は光ディ
スク51を回転させるスピンドルモータである。
光ディスクの記録層、53は半導体レーザ、54は半導
体レーザ53の光出力を制御する半導体レーザ駆動回
路、55はコリメータ・レンズ、56は記録層52から
の反射光を検出する光検出器、57は1/4波長板、5
8は対物レンズである。59aは対物レンズ58を光デ
ィスク51の半径方向に移動させるアクチュエータ、5
9bは対物レンズ58を光ディスク51の厚み方向に移
動させるアクチュエータ、60は記録層52からの反射
光を光検出器56に入射させるビームスプリッタ、61
は光検出器56から光スポットと記録層52との焦点の
ずれ量や、追従するトラック中心からのずれ量を検出す
る信号検出回路、62はアクチュエータ59aを光ディ
スク51の半径方向に駆動させるトラッキング駆動回
路、63はアクチュエータ59bを光ディスク51の厚
み方向に駆動させるフォーカス駆動回路、64は光ディ
スク51を回転させるスピンドルモータである。
【0004】以上のように構成された光ディスク装置に
ついて、以下その動作について説明する。
ついて、以下その動作について説明する。
【0005】半導体レーザ53から、楕円状に拡がった
レーザ光は、コリメータ・レンズ55によって平行光に
変換される。コリメータ・レンズ55を通過したレーザ
光は、ビームスプリッタ60と1/4波長板57を通過
した後、対物レンズ58により集光される。集光して形
成された光スポットにより光ディスク51の記録層52
に情報の記録を行う。対物レンズ58により集光された
光スポットは、記録層52によって反射され、1/4波
長板57を通ってビームスプリッタ60に入射する。
レーザ光は、コリメータ・レンズ55によって平行光に
変換される。コリメータ・レンズ55を通過したレーザ
光は、ビームスプリッタ60と1/4波長板57を通過
した後、対物レンズ58により集光される。集光して形
成された光スポットにより光ディスク51の記録層52
に情報の記録を行う。対物レンズ58により集光された
光スポットは、記録層52によって反射され、1/4波
長板57を通ってビームスプリッタ60に入射する。
【0006】その入射ビームは、ビームスプリッタ60
によって反射され、光検出器56に入る。光検出器56
は4分割された光検出器を有し、公知である非点収差
法、プッシュプル法等により光スポットと記録層52と
の焦点のずれ量や追従するトラック中心からのずれ量を
検出する。
によって反射され、光検出器56に入る。光検出器56
は4分割された光検出器を有し、公知である非点収差
法、プッシュプル法等により光スポットと記録層52と
の焦点のずれ量や追従するトラック中心からのずれ量を
検出する。
【0007】光検出器56で検出された信号は信号検出
回路61に入る。信号検出回路61は、光スポットと記
録層52との焦点ずれ量をフォーカスエラー信号(F
E)、追従するトラック中心からのずれ量をトラッキン
グエラー信号(TE)として出力する。スピンドルモー
タ64は光ディスク51を所定の回転数で回転させる。
回路61に入る。信号検出回路61は、光スポットと記
録層52との焦点ずれ量をフォーカスエラー信号(F
E)、追従するトラック中心からのずれ量をトラッキン
グエラー信号(TE)として出力する。スピンドルモー
タ64は光ディスク51を所定の回転数で回転させる。
【0008】トラッキング駆動回路62は、トラッキン
グエラー信号(TE)によって追従するトラック中心に
光スポットが位置するようにアクチュエータ59aを光
ディスク51の半径方向に駆動させる。フォーカス駆動
回路63は、フォーカスエラー信号(FE)によって光
スポットの焦点を常に記録層52に一致させるようにア
クチュエータ59bを光ディスク51の厚み方向に駆動
させる。
グエラー信号(TE)によって追従するトラック中心に
光スポットが位置するようにアクチュエータ59aを光
ディスク51の半径方向に駆動させる。フォーカス駆動
回路63は、フォーカスエラー信号(FE)によって光
スポットの焦点を常に記録層52に一致させるようにア
クチュエータ59bを光ディスク51の厚み方向に駆動
させる。
【0009】さらに、図6を用いて半導体レーザ駆動回
路54について詳しく説明する。図6は従来の半導体レ
ーザ駆動回路54の一例を示す回路図である。
路54について詳しく説明する。図6は従来の半導体レ
ーザ駆動回路54の一例を示す回路図である。
【0010】図6を構成する65は光ディスク51の記
録層52からの反射光を検出する光検出器、66は光検
出器65により検出した反射光を演算してフォーカスエ
ラー信号FEを生成する演算器、67はフォーカスエラ
ー信号FEを絶対値化する絶対値化回路、68は光スポ
ットと記録層52との非合焦量に応じて半導体レーザ駆
動回路54の記録時の参照電圧VRECを設定する記録参
照電圧設定回路、53は半導体レーザ、69は半導体レ
ーザ53に組み込まれている光検出器、70は電流電圧
変換器、71は誤差アンプ、72は電流源、73は変調
段である。
録層52からの反射光を検出する光検出器、66は光検
出器65により検出した反射光を演算してフォーカスエ
ラー信号FEを生成する演算器、67はフォーカスエラ
ー信号FEを絶対値化する絶対値化回路、68は光スポ
ットと記録層52との非合焦量に応じて半導体レーザ駆
動回路54の記録時の参照電圧VRECを設定する記録参
照電圧設定回路、53は半導体レーザ、69は半導体レ
ーザ53に組み込まれている光検出器、70は電流電圧
変換器、71は誤差アンプ、72は電流源、73は変調
段である。
【0011】次に、この回路の記録時の動作について説
明する。まず、光検出器69が半導体レーザ53の後面
出射光をモニタし、半導体レーザ53の光出力に応じた
モニタ電流IMを生じる。モニタ電流IMは、電流電圧変
換器70によってモニタ電圧VMに変換される。モニタ
電圧VMは誤差アンプ71によって記録参照電圧設定回
路68で設定された参照電圧VRECと比較される。そし
て誤差アンプ71は、半導体レーザ53の駆動電圧VLD
を出力する。駆動電圧VLDは電流源72によって駆動電
流ILDに変換され、所定の光出力で半導体レーザ53を
光らせる。
明する。まず、光検出器69が半導体レーザ53の後面
出射光をモニタし、半導体レーザ53の光出力に応じた
モニタ電流IMを生じる。モニタ電流IMは、電流電圧変
換器70によってモニタ電圧VMに変換される。モニタ
電圧VMは誤差アンプ71によって記録参照電圧設定回
路68で設定された参照電圧VRECと比較される。そし
て誤差アンプ71は、半導体レーザ53の駆動電圧VLD
を出力する。駆動電圧VLDは電流源72によって駆動電
流ILDに変換され、所定の光出力で半導体レーザ53を
光らせる。
【0012】ここで、記録参照電圧設定回路68の動作
について説明する。まず光検出器65が、公知の非点収
差法等により記録層52からの反射光を検出する。そし
て演算器66は、検出された反射光を演算しフォーカス
エラー信号FEを生成する。このフォーカスエラー信号
FEは、絶対値化回路67によって絶対値化される。こ
の絶対値化回路67の出力FE2は、光スポットと記録
層52との非合焦量の絶対値量として記録参照電圧設定
回路68にはいる。記録参照電圧設定回路68では、記
録時に所定の光出力を得るための参照電圧VRECを非合
焦量の絶対値量FE2に応じて高くするよう補正してい
た。
について説明する。まず光検出器65が、公知の非点収
差法等により記録層52からの反射光を検出する。そし
て演算器66は、検出された反射光を演算しフォーカス
エラー信号FEを生成する。このフォーカスエラー信号
FEは、絶対値化回路67によって絶対値化される。こ
の絶対値化回路67の出力FE2は、光スポットと記録
層52との非合焦量の絶対値量として記録参照電圧設定
回路68にはいる。記録参照電圧設定回路68では、記
録時に所定の光出力を得るための参照電圧VRECを非合
焦量の絶対値量FE2に応じて高くするよう補正してい
た。
【0013】図7は、記録参照電圧設定回路68で設定
された参照電圧VRECによる記録層52上での光スポッ
トの半径方向の定性的な光強度の分布を示した図であ
る。
された参照電圧VRECによる記録層52上での光スポッ
トの半径方向の定性的な光強度の分布を示した図であ
る。
【0014】一般的に追記型や書換型の光ディスク51
に情報の記録を行う場合、図7のaの斜線部に示すよう
に所定の光スポット径d内で発生する所定の光エネルギ
ーを記録層52に与える熱記録方式が取られている。
に情報の記録を行う場合、図7のaの斜線部に示すよう
に所定の光スポット径d内で発生する所定の光エネルギ
ーを記録層52に与える熱記録方式が取られている。
【0015】記録時にフォーカス駆動回路63が追従で
きないような外部振動等により光スポットと記録層52
とが非合焦状態となった場合、参照電圧VRECが一定値
であれば光スポットの光強度分布は図7のbに示すよう
に合焦状態より低い光強度分布をなす。
きないような外部振動等により光スポットと記録層52
とが非合焦状態となった場合、参照電圧VRECが一定値
であれば光スポットの光強度分布は図7のbに示すよう
に合焦状態より低い光強度分布をなす。
【0016】そのため、所定の光スポット径内で発生す
る所定の光エネルギーを記録層52に与えることができ
ず、記録参照電圧設定回路68において図7のcに示す
ような光出力を得るよう非合焦量の絶対値量FE2に応
じて参照電圧VRECを高くするよう補正していた。
る所定の光エネルギーを記録層52に与えることができ
ず、記録参照電圧設定回路68において図7のcに示す
ような光出力を得るよう非合焦量の絶対値量FE2に応
じて参照電圧VRECを高くするよう補正していた。
【0017】そして情報の記録は、変調段73で半導体
レーザ53の光出力を記録データにより変調させて行わ
れる。
レーザ53の光出力を記録データにより変調させて行わ
れる。
【0018】フォーカス駆動回路63は、光ディスク5
1の面振れ等による非合焦量を補正し、常に所定の光ス
ポット径d内で発生する所定の光エネルギーを記録層5
2に与えるようにアクチュエータ59bを駆動してい
た。
1の面振れ等による非合焦量を補正し、常に所定の光ス
ポット径d内で発生する所定の光エネルギーを記録層5
2に与えるようにアクチュエータ59bを駆動してい
た。
【0019】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の光
ディスク装置では、フォーカス駆動回路が追従できない
ような外部振動等により光スポットと記録層とが非合焦
状態となった場合、記録時の半導体レーザの光出力を非
合焦量の絶対値量に応じて高くするよう補正していた。
ディスク装置では、フォーカス駆動回路が追従できない
ような外部振動等により光スポットと記録層とが非合焦
状態となった場合、記録時の半導体レーザの光出力を非
合焦量の絶対値量に応じて高くするよう補正していた。
【0020】そのため、光スポットと記録層とが非合焦
状態から合焦状態となり光出力を補正完了した直後で
は、非合焦量に応じて高く補正された光出力の予熱の影
響により正しく情報が記録されないという問題を有して
いた。
状態から合焦状態となり光出力を補正完了した直後で
は、非合焦量に応じて高く補正された光出力の予熱の影
響により正しく情報が記録されないという問題を有して
いた。
【0021】本発明はかかる点に鑑み、記録時に非合焦
量に応じて半導体レーザの光出力を補正完了した直後か
ら、正しく情報を記録する光ディスク装置を提供するこ
とを目的とする。
量に応じて半導体レーザの光出力を補正完了した直後か
ら、正しく情報を記録する光ディスク装置を提供するこ
とを目的とする。
【0022】
【課題を解決するための手段】第1の発明は、記録時に
前記半導体レーザの光出力を第1の所定の光出力に設定
する光出力制御手段と、光検出手段の出力により記録層
と光スポットとの非合焦量を検出するフォーカスエラー
信号生成手段と、前記フォーカスエラー信号生成手段の
出力を絶対値化する絶対値化手段と、前記光出力制御手
段により設定された第1の所定の光出力を前記絶対値化
手段の出力レベルに応じて補正する第1の光出力補正手
段と、前記第1の光出力補正手段が前記絶対値化手段の
出力レベルに応じて第1の所定の光出力を補正完了した
ことを検出する補正完了検出手段と、前記補正完了検出
手段が第1の所定の光出力を補正完了したことを検出し
てから所定の時間を計測する時間計測手段と、前記時間
計測手段の出力により前記半導体レーザの光出力を第1
の所定の光出力より低い第2の所定の光出力に設定する
第2の光出力補正手段とを有している。
前記半導体レーザの光出力を第1の所定の光出力に設定
する光出力制御手段と、光検出手段の出力により記録層
と光スポットとの非合焦量を検出するフォーカスエラー
信号生成手段と、前記フォーカスエラー信号生成手段の
出力を絶対値化する絶対値化手段と、前記光出力制御手
段により設定された第1の所定の光出力を前記絶対値化
手段の出力レベルに応じて補正する第1の光出力補正手
段と、前記第1の光出力補正手段が前記絶対値化手段の
出力レベルに応じて第1の所定の光出力を補正完了した
ことを検出する補正完了検出手段と、前記補正完了検出
手段が第1の所定の光出力を補正完了したことを検出し
てから所定の時間を計測する時間計測手段と、前記時間
計測手段の出力により前記半導体レーザの光出力を第1
の所定の光出力より低い第2の所定の光出力に設定する
第2の光出力補正手段とを有している。
【0023】
【0024】また第2の発明は、前記絶対値化手段の出
力レベルのピーク値を検出するピーク値検出手段と、前
記ピーク値検出手段の出力レベルに応じて第2の所定の
光出力のレベルを選択する光出力選択手段とを有してい
る。
力レベルのピーク値を検出するピーク値検出手段と、前
記ピーク値検出手段の出力レベルに応じて第2の所定の
光出力のレベルを選択する光出力選択手段とを有してい
る。
【0025】
【作用】第1の発明の構成により、光検出手段で検出さ
れた記録層からの反射光によりフォーカスエラー信号を
生成する。そして、フォーカスエラー信号は絶対値化手
段により絶対値化される。絶対値化手段の出力は、非合
焦量の絶対値量として第1の光出力補正手段に入力され
る。この第1の光出力補正手段は、光出力制御手段によ
り設定された第1の所定の光出力を光スポットと記録層
との非合焦量に応じて補正する。補正完了検出手段は、
第1の光出力補正手段が非合焦量に応じて第1の所定の
光出力を補正完了したことを検出する。これと同時に時
間計測手段は、所定の時間を計測し始める。第2の光出
力補正手段は時間計測手段が所定の時間を計測する間、
半導体レーザの光出力を第1の所定の光出力より低い第
2の所定の光出力に設定する。これにより、非合焦量に
応じて補正された光出力による予熱の影響を低減し、正
しく情報を記録できる。
れた記録層からの反射光によりフォーカスエラー信号を
生成する。そして、フォーカスエラー信号は絶対値化手
段により絶対値化される。絶対値化手段の出力は、非合
焦量の絶対値量として第1の光出力補正手段に入力され
る。この第1の光出力補正手段は、光出力制御手段によ
り設定された第1の所定の光出力を光スポットと記録層
との非合焦量に応じて補正する。補正完了検出手段は、
第1の光出力補正手段が非合焦量に応じて第1の所定の
光出力を補正完了したことを検出する。これと同時に時
間計測手段は、所定の時間を計測し始める。第2の光出
力補正手段は時間計測手段が所定の時間を計測する間、
半導体レーザの光出力を第1の所定の光出力より低い第
2の所定の光出力に設定する。これにより、非合焦量に
応じて補正された光出力による予熱の影響を低減し、正
しく情報を記録できる。
【0026】
【0027】また第2の発明の構成により、絶対値化手
段の出力レベルのピーク値をピーク検出手段により検出
する。光出力選択手段は、ピーク値検出手段の出力レベ
ルに応じて第2の所定の光出力を選択する。そして第2
の光出力補正手段は、第1の光出力補正手段により第1
の所定の光出力を補正完了した直後から所定時間を計測
する間、半導体レーザの光出力を選択された第2の所定
の光出力に設定する。
段の出力レベルのピーク値をピーク検出手段により検出
する。光出力選択手段は、ピーク値検出手段の出力レベ
ルに応じて第2の所定の光出力を選択する。そして第2
の光出力補正手段は、第1の光出力補正手段により第1
の所定の光出力を補正完了した直後から所定時間を計測
する間、半導体レーザの光出力を選択された第2の所定
の光出力に設定する。
【0028】
【実施例】本発明の光ディスク装置は、半導体レーザ駆
動回路54の具体的構成に特徴を持たせたものである。
動回路54の具体的構成に特徴を持たせたものである。
【0029】まず、第1の発明の一実施例について説明
する。図1は第1の発明の半導体レーザ駆動回路であ
る。図6に示した従来の半導体レーザ駆動回路54に、
新たに加えた構成要素を中心に説明する。
する。図1は第1の発明の半導体レーザ駆動回路であ
る。図6に示した従来の半導体レーザ駆動回路54に、
新たに加えた構成要素を中心に説明する。
【0030】図1において、1は時間計測回路、2,3
はアナログスイッチ、4はインバータである。
はアナログスイッチ、4はインバータである。
【0031】以上のように構成された半導体レーザ駆動
回路の記録時の動作について、図2の信号波形図を併用
して説明する。
回路の記録時の動作について、図2の信号波形図を併用
して説明する。
【0032】まず、光ディスクの記録層からの反射光量
を光検出器65で検出し、演算器66にて図2(a)に
示すようなフォーカスエラー信号FEが生成される。
を光検出器65で検出し、演算器66にて図2(a)に
示すようなフォーカスエラー信号FEが生成される。
【0033】そしてフォーカスエラー信号FEは、絶対
値化回路67によって絶対値化され非合焦量の絶対値量
FE2として記録参照電圧設定回路68に入る。
値化回路67によって絶対値化され非合焦量の絶対値量
FE2として記録参照電圧設定回路68に入る。
【0034】光ディスクの記録層と光スポットとが非合
焦状態であれば、記録参照電圧設定回路68は第1の所
定の参照電圧値VREC1を非合焦量の絶対値量FE2に応
じて高く補正する。それと同時に、記録参照電圧設定回
路68は第1の所定の参照電圧値VREC1の補正動作を行
っている間は図2(c)に示すように信号MOD1に”
HIGH”を出力する。
焦状態であれば、記録参照電圧設定回路68は第1の所
定の参照電圧値VREC1を非合焦量の絶対値量FE2に応
じて高く補正する。それと同時に、記録参照電圧設定回
路68は第1の所定の参照電圧値VREC1の補正動作を行
っている間は図2(c)に示すように信号MOD1に”
HIGH”を出力する。
【0035】このとき信号MOD2は、図2(d)に示
すように”LOW”を出力しており、アナログスイッチ
2は”ON”の状態であり、アナログスイッチ3は”O
FF”の状態にある。
すように”LOW”を出力しており、アナログスイッチ
2は”ON”の状態であり、アナログスイッチ3は”O
FF”の状態にある。
【0036】そして半導体レーザ駆動回路の参照電圧値
VRECには、記録参照電圧設定回路68により非合焦量
に応じて補正された参照電圧値が設定される。
VRECには、記録参照電圧設定回路68により非合焦量
に応じて補正された参照電圧値が設定される。
【0037】一方、信号MOD1は時間計測回路1に入
力される。信号MOD1は、記録参照電圧設定回路68
が第1の所定の参照電圧値VREC1を補正完了したと同時
に”HIGH”から”LOW”に変化する。
力される。信号MOD1は、記録参照電圧設定回路68
が第1の所定の参照電圧値VREC1を補正完了したと同時
に”HIGH”から”LOW”に変化する。
【0038】このとき時間計測回路1は、所定の時間t
1まで時間を計測し始める。また、時間計測回路1は所
定の時間t1まで計測すると同時に、所定の時間t1ま
で計測する間信号MOD2に図2(d)に示すようなパ
ルスを出力する。
1まで時間を計測し始める。また、時間計測回路1は所
定の時間t1まで計測すると同時に、所定の時間t1ま
で計測する間信号MOD2に図2(d)に示すようなパ
ルスを出力する。
【0039】この信号MOD2により、アナログスイッ
チ2は”OFF”状態、アナログスイッチ3は”ON”
状態となり半導体レーザ駆動回路の参照電圧値VRECに
は第1の所定の参照電圧値VREC1より低い第2の参照電
圧値VREC2が設定される。
チ2は”OFF”状態、アナログスイッチ3は”ON”
状態となり半導体レーザ駆動回路の参照電圧値VRECに
は第1の所定の参照電圧値VREC1より低い第2の参照電
圧値VREC2が設定される。
【0040】このときの、半導体レーザ駆動回路の参照
電圧値VRECのレベル波形を図2(e)に示す。
電圧値VRECのレベル波形を図2(e)に示す。
【0041】そして半導体レーザ駆動回路は、この参照
電圧値VRECに略比例した光出力で半導体レーザ53を
光らせる。
電圧値VRECに略比例した光出力で半導体レーザ53を
光らせる。
【0042】このように、記録時に光ディスクと光ディ
スクの記録層との非合焦量に応じて半導体レーザの光出
力を補正完了した直後の光出力を所定時間低く設定する
ことにより非合焦量に応じて補正された光出力による予
熱の影響を低減し、正しく情報を記録できる。
スクの記録層との非合焦量に応じて半導体レーザの光出
力を補正完了した直後の光出力を所定時間低く設定する
ことにより非合焦量に応じて補正された光出力による予
熱の影響を低減し、正しく情報を記録できる。
【0043】
【0044】
【0045】
【0046】
【0047】
【0048】
【0049】
【0050】
【0051】
【0052】
【0053】
【0054】
【0055】
【0056】次に、第2の発明の一実施例について説明
する。図3は第2の発明の半導体レーザ駆動回路の実施
例である。ここでは第1の発明の実施例に新たに加えた
構成要素を中心に説明する。
する。図3は第2の発明の半導体レーザ駆動回路の実施
例である。ここでは第1の発明の実施例に新たに加えた
構成要素を中心に説明する。
【0057】図3において、5は比較器、8,11はア
ナログスイッチ、9はダイオード、10はホールドコン
デンサ、12は補正参照電圧選択回路である。以上のよ
うに構成された半導体レーザ駆動回路の記録動作につい
て、図4の信号波形図を併用して説明する。
ナログスイッチ、9はダイオード、10はホールドコン
デンサ、12は補正参照電圧選択回路である。以上のよ
うに構成された半導体レーザ駆動回路の記録動作につい
て、図4の信号波形図を併用して説明する。
【0058】第2の発明は第1の発明の実施例と同様
に、まず図4(a)に示すフォーカスエラー信号FEは
絶対値化回路67で絶対値化される。そして、図4
(b)に示す絶対値化回路67の出力FE2は、比較器
5にて比較レベルVDFと比較され、比較器5は図4
(c)に示すような絶対値化回路67の出力FE2のピ
ーク値を検出しホールドするための信号HOLDを出力
する。
に、まず図4(a)に示すフォーカスエラー信号FEは
絶対値化回路67で絶対値化される。そして、図4
(b)に示す絶対値化回路67の出力FE2は、比較器
5にて比較レベルVDFと比較され、比較器5は図4
(c)に示すような絶対値化回路67の出力FE2のピ
ーク値を検出しホールドするための信号HOLDを出力
する。
【0059】信号HOLDは”HIGH”でアナログス
イッチ8,11をONにし、ダイオード9とホールドコ
ンデンサ10より絶対値化回路67の出力FE2のピー
ク値を検出しホールドする。
イッチ8,11をONにし、ダイオード9とホールドコ
ンデンサ10より絶対値化回路67の出力FE2のピー
ク値を検出しホールドする。
【0060】ホールドされたピーク値は補正参照電圧選
択回路12に入力され、補正参照電圧選択回路12は検
出しホールドされたピーク値のレベルに応じて第2の参
照電圧値VREC2のレベルを選択する。
択回路12に入力され、補正参照電圧選択回路12は検
出しホールドされたピーク値のレベルに応じて第2の参
照電圧値VREC2のレベルを選択する。
【0061】すなわち補正参照電圧選択回路12は、ホ
ールドされたピーク値のレベルが高い程第2の参照電圧
値VREC2のレベルに低いレベルを選択する。
ールドされたピーク値のレベルが高い程第2の参照電圧
値VREC2のレベルに低いレベルを選択する。
【0062】そして図4(d)の信号MOD1は、記録
参照電圧設定回路68により第1の所定の参照電圧値V
REC1を補正完了したと同時に”HIGH”から”LO
W”に変化する。
参照電圧設定回路68により第1の所定の参照電圧値V
REC1を補正完了したと同時に”HIGH”から”LO
W”に変化する。
【0063】これにより、時間計測回路1は所定の時間
t1まで計測を開始すると同時に、所定の時間t1まで
計測する間信号MOD2に、図4(e)に示すようなパ
ルスを出力する。
t1まで計測を開始すると同時に、所定の時間t1まで
計測する間信号MOD2に、図4(e)に示すようなパ
ルスを出力する。
【0064】この信号MOD2により、アナログスイッ
チ3はON状態、アナログスイッチ2はOFF状態とな
る。そして、半導体レーザ駆動回路の参照電圧VRECに
は、図4(f)に示すような第1の所定の参照電圧値よ
り低くかつ、絶対値回路67の出力FE2のピーク値の
レベルに応じて低くなるような第2の参照電圧値VREC2
を設定する。
チ3はON状態、アナログスイッチ2はOFF状態とな
る。そして、半導体レーザ駆動回路の参照電圧VRECに
は、図4(f)に示すような第1の所定の参照電圧値よ
り低くかつ、絶対値回路67の出力FE2のピーク値の
レベルに応じて低くなるような第2の参照電圧値VREC2
を設定する。
【0065】これにより、非合焦量に応じて補正された
光出力の予熱による影響を低減し、かつ記録層上での発
熱量を最適量にして情報を記録することができる。
光出力の予熱による影響を低減し、かつ記録層上での発
熱量を最適量にして情報を記録することができる。
【0066】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、記
録時に半導体レーザの光出力を第1の所定の光出力に設
定する光出力制御手段と、光検出手段の出力により記録
層と光スポットとの非合焦量を検出するフォーカスエラ
ー信号生成手段と、フォーカスエラー信号生成手段の出
力を絶対値化する絶対値化手段と、光出力制御手段によ
り設定された第1の所定の光出力を絶対値化手段の出力
レベルに応じて補正する第1の光出力補正手段と、第1
の光出力補正手段が絶対値化手段の出力レベルに応じて
第1の所定の光出力を補正完了したことを検出する補正
完了検出手段と、補正完了検出手段が第1の所定の光出
力を補正完了したことを検出してから所定の時間を計測
する時間計測手段と、時間計測手段の出力により前記半
導体レーザの光出力を第1の所定の光出力より低い第2
の所定の光出力に設定する第2の光出力補正手段とを備
えることにより、非合焦量に応じて補正された光出力に
よる予熱の影響を低減し、正しく情報を記録できる。
録時に半導体レーザの光出力を第1の所定の光出力に設
定する光出力制御手段と、光検出手段の出力により記録
層と光スポットとの非合焦量を検出するフォーカスエラ
ー信号生成手段と、フォーカスエラー信号生成手段の出
力を絶対値化する絶対値化手段と、光出力制御手段によ
り設定された第1の所定の光出力を絶対値化手段の出力
レベルに応じて補正する第1の光出力補正手段と、第1
の光出力補正手段が絶対値化手段の出力レベルに応じて
第1の所定の光出力を補正完了したことを検出する補正
完了検出手段と、補正完了検出手段が第1の所定の光出
力を補正完了したことを検出してから所定の時間を計測
する時間計測手段と、時間計測手段の出力により前記半
導体レーザの光出力を第1の所定の光出力より低い第2
の所定の光出力に設定する第2の光出力補正手段とを備
えることにより、非合焦量に応じて補正された光出力に
よる予熱の影響を低減し、正しく情報を記録できる。
【0067】
【0068】また、絶対値化手段の出力レベルのピーク
値を検出するピーク値検出手段と、ピーク値検出手段の
出力レベルに応じて第2の所定の光出力のレベルを選択
する光出力選択手段とを備えることにより、非合焦量に
応じて補正された光出力の予熱による影響を低減し、か
つ記録層上での発熱量を最適量にして情報を記録するこ
とができる。
値を検出するピーク値検出手段と、ピーク値検出手段の
出力レベルに応じて第2の所定の光出力のレベルを選択
する光出力選択手段とを備えることにより、非合焦量に
応じて補正された光出力の予熱による影響を低減し、か
つ記録層上での発熱量を最適量にして情報を記録するこ
とができる。
【図1】第1の発明の実施例の半導体レーザ駆動回路の
構成を示す回路図
構成を示す回路図
【図2】同第1の発明の実施例の動作を示す信号波形図
【図3】第2の発明の実施例の半導体レーザ駆動回路の
構成を示す回路図
構成を示す回路図
【図4】同第2の発明の実施例の動作を示す信号波形図
【図5】 従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図6】 従来の半導体レーザ駆動回路の構成を示す回路
図
図
【図7】 従来の半導体レーザ駆動回路による記録層上で
の光スポットの半径方向の定性的な光強度の分布を示し
た特性図
の光スポットの半径方向の定性的な光強度の分布を示し
た特性図
1 時間計測回路 2,3 アナログスイッチ 4 インバータ 5 比較器8, 11 アナログスイッチ 9 ダイオード 10 ホールドコンデンサ 12 補正参照電圧選択回路
Claims (2)
- 【請求項1】 基板に記録層を設けた光ディスクと、前
記光ディスクを所定の回転数で回転させるスピンドル制
御手段と、光源となる半導体レーザと、前記半導体レー
ザの出射光を収束させ前記記録層に光スポットを与える
光学手段と、前記光学手段に含まれる対物レンズを光軸
方向に微動させるフォーカス制御手段と、前記対物レン
ズを前記記録層と平行に微動させるトラッキング制御手
段と、前記記録層からの反射光を検出する光検出手段と
を有する光ディスク装置であって、 記録時に前記半導体レーザの光出力を第1の所定の光出
力に設定する光出力制御手段と、前記光検出手段の出力
により前記記録層と光スポットとの非合焦量を検出する
フォーカスエラー信号生成手段と、前記フォーカスエラ
ー信号生成手段の出力を絶対値化する絶対値化手段と、
前記光出力制御手段により設定された第1の所定の光出
力を前記絶対値化手段の出力レベルに応じて補正する第
1の光出力補正手段と、前記第1の光出力補正手段が前
記絶対値化手段の出力レベルに応じて第1の所定の光出
力を補正完了したことを検出する補正完了検出手段と、
前記補正完了検出手段が第1の所定の光出力を補正完了
したことを検出してから所定の時間を計測する時間計測
手段と、前記時間計測手段の出力により前記半導体レー
ザの光出力を前記第1の所定の光出力より低い第2の所
定の光出力に設定する第2の光出力補正手段とを備えた
光ディスク装置。 - 【請求項2】 第2の光出力補正手段は、絶対値化手段
の出力レベルのピーク値を検出するピーク値検出手段
と、前記ピーク値検出手段の出力に応じて第2の所定の
光出力を選択する光出力選択手段とを備えた請求項1記
載の光ディスク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5015172A JP2809027B2 (ja) | 1993-02-02 | 1993-02-02 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5015172A JP2809027B2 (ja) | 1993-02-02 | 1993-02-02 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06231462A JPH06231462A (ja) | 1994-08-19 |
JP2809027B2 true JP2809027B2 (ja) | 1998-10-08 |
Family
ID=11881395
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5015172A Expired - Fee Related JP2809027B2 (ja) | 1993-02-02 | 1993-02-02 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2809027B2 (ja) |
-
1993
- 1993-02-02 JP JP5015172A patent/JP2809027B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06231462A (ja) | 1994-08-19 |
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