JP2791414B2 - 光ファイバジャイロ - Google Patents

光ファイバジャイロ

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はセンシング用光ファイ
バコイルに光源からの光を右回り光、左回り光として分
岐供給したり、光ファイバコイルを伝搬した右回り光、
左回り光を干渉させるために用いられる光ICを備えた
光ファイバジャイロに関し、特に光ICにもとづくバイ
アスエラーを少なくした光ファイバジャイロに係わる。
【0002】
【従来の技術】光ファイバジャイロは光ファイバによっ
て形成されるコイルに右回り光と左回り光を与え、その
光ファイバコイルにその軸心まわりの回転角速度が加わ
ったとき、左、右両回り光間に位相差が生じるというサ
ニャック効果を利用したジャイロスコープである。
【0003】図2に光ICを使った従来の光ファイバジ
ャイロの構成を単純化して示す。光源11を出射した光
は光ファイバ12、更に光ファイバよりなる光カプラ1
3を通って、光IC(光集積回路)14に形成された光
導波路15の一端に導入される。光導波路15に導入さ
れた光は、光IC14の途中で光導波路16,17に分
岐されて光IC14の他端に達し、これより光ファイバ
コイル18の両端に右回り光、左回り光として入射され
る。光ファイバコイル18を伝搬した光は再び光ICに
戻って光導波路15で合波され、干渉し、その干渉光は
光IC14を出て光カプラ13で受光器19に分岐され
導かれる。
【0004】さてここで光ファイバコイル18に、その
軸心まわりの回転角速度が加わると、左、右両回り光に
サニャック効果による位相差が発生し、受光器19に到
達する干渉光に光量変動が生じる。この光量変動を回転
角速度に換算することによりジャイロの出力を得られ
る。但し、通常は左、右回り光の位相差の変化量が極め
て微小なため、右回り光又は左回り光の何れか一方に位
相変調をかけ、その同期成分を検出することによって検
出感度を向上させている。この点に関してはこの発明の
内容に関連しないので詳細説明は省略する。
【0005】光IC14は例えばニオブ酸リチウム結晶
(LiNbO3 )に、これよりわずかに屈折率の高い導
波路を形成することによって作製される。その光導波路
の作製方法は主としてTi拡散法、プロトン交換法の2
種類があり、前者はチタンを熱拡散して結晶内にドープ
し、後者はH+ とLi+ とを安息香酸溶液で交換して屈
折率差を得る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】図3に示した従来の光
ファイバジャイロの構造によれば、光ファイバカプラ1
3から光導波路15に入射する結合部21において光フ
ァイバと光導波路とのアライメントミス、光ファイバモ
ードと光導波路モードとの形状の違いにより、結合損失
が0.5dB程度であり損失となった漏れ光22は光I
C14の結晶内に放射され、光IC結晶内を伝搬し光I
C結晶の光導波路と平行な両側面23,24や裏面25
で反射を繰り返しながら出射側、つまり光ファイバコイ
ル18側の結合部26,27に到達して光ファイバコイ
ル18の光ファイバ内に混入する。
【0007】この光ファイバコイル18に混入した光は
光導波路15を導波する本来の光と光路が違うため、ジ
ャイロのバイアスエラーの原因となる。即ち光導波路1
5よりの導波光と、漏れ光とは光路長の違いによる位相
差が生じているからである。特に光導波路内で伝搬可能
な偏波モードは、TEモードかTMモードかの2種類で
あるが、漏れ光の偏波状態が導波光と違う場合には、こ
れらにそれぞれ影響を与える屈折率の温度係数が相違
し、そのため温度変化に対しては周期的な変動が生じる
ことになる。
【0008】この様な漏れ光の再結合を防ぎ、バイアス
変動の小さい光ファイバジャイロを提供することがこの
発明の目的である。例えば光IC14としてニオブ酸リ
チウム結晶を用いた場合、その結晶の屈折率n=2.1
7と、空気の屈折率n0 =1とは大きな屈折率差があ
り、IC14の側面23,24、裏面25において、臨
界角θc はsin-10 /n≒27°よりも大きな入射
角θの漏れ光22は全反射される。従来の光IC14の
側面23,24や裏面25は光学研磨されたように平滑
であるため、光IC14の結晶自体が光導波管の役割を
し、漏れ光22が結晶内を導波して光ファイバコイル1
8に混入することになる。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明では、光
ICの両側面と裏面が光を散乱させる程度の粗面とされ
ている。請求項2の発明では光ICの両側面及び裏面
に、反射光を低減する反射防止膜、又は光を吸収する光
吸収膜で覆われる。
【0010】
【作用】請求項1の発明の構成により漏れ光が粗面で散
乱され、光ファイバコイルと再結合する漏れ光が減少す
る。請求項2の発明の構成により、漏れ光は反射光防止
膜又は光吸収膜の存在により、漏れ光に対し、光導波路
として作用しなくなる。
【0011】請求項1の発明、請求項2の発明の何れ
も、漏れ光が光ファイバコイル内に再結合する量が著し
く減少し、ジャイロのバイアスエラーが少なくなる。
【0012】
【実施例】この発明は全体として、例えば図2に示した
従来のものとほぼ同様な構成であるが、特徴とする所
は、光IC14であり、その一例(請求項1の発明に対
応)を図1Aに示す。この実施例では光IC14の両側
面23,24と裏面25とが光を散乱させる粗面31と
される。この粗面31の形成は例えば#1000砥粒で
IC結晶を2〜3分間、通常の研磨法で研磨することに
より粗面とする。
【0013】このように構成されているため、光ファイ
バカプラ13から光IC14に入射された光のうち、光
導波路15から漏れた光22は側面23,24、裏面2
5の各粗面31に入射するごとに散乱され、光ファイバ
コイル18に再結合する量が減少する。図1Bに請求項
2の発明の実施例の要部である光IC14の断面を示
す。この実施例では側面23,24、裏面25を覆って
反射防止膜32が形成される。
【0014】単層の反射防止膜32の場合、次の様にそ
の屈折率na と膜厚dを設定すれば反射をゼロにするこ
とができる。 反射防止膜32の屈折率na =(nC o 1/2c :IC14の結晶屈折率,no :空気屈折率 膜厚 d=(2m+1) λ/(4na cosθ) m=0,1,2…,λ:波長,θ:入射角 例えば光IC14の結晶としてニオブ酸リチウム(nC
=2.17) を、使用波長としてλ=0.83μmを、
漏れ光22の入射角をθ=80°とするとna=1.4
7,d=0.81μmとなる。
【0015】na =1.47近辺の屈折率材料としては
例えばSiO2 (n=1.45) があり、蒸着などによ
り反射防止膜32として容易に形成することができる。
より厳密に反射を押さえるには反射防止膜32として多
層膜構造にすれば良い。ただし漏れ光22の入射角は8
0°以外も存在するのですべての角波の光を完全にゼロ
にすることは困難である。
【0016】反射防止膜32の別の材料として例えば屈
折率1.47付近のものとしては紫外線硬化形接着剤、
その他のコーティング材を用いることもできる。反射防
止膜32の代りに、光を吸収する光吸収膜を形成しても
よい。この光吸収膜としては例えばチタンやアルミニウ
ム等の金属を蒸着することによって形成することができ
る。光吸収膜の厚さは例えば1000Å乃至3000Å
程度が考えられる。この光吸収膜により漏れ光22が可
成り減衰して、光ファイバコイル18に再結合するもの
が著しく減少する。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように請求項1の発明によ
れば、光ICの側面及び裏面が粗面とされているため、
漏れ光が散乱して、光ファイバコイルへの再結合が著し
く減少する。請求項2の発明によれば光ICの側面及び
裏面が反射防止膜又は光吸収膜で覆われているため、漏
れ光の反射が防止され、あるいは漏れ光が吸収されて、
再び光ファイバコイルに混入するのが減少する。
【0018】従って請求項1及び2の何れの発明におい
てもジャイロのバイアスエラーを小さくすることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】Aは請求項1の発明の実施例の要部である光I
Cの断面図、Bは請求項2の発明の実施例の要部である
光ICの断面図である。
【図2】従来の光ファイバジャイロの例を示す図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01C 19/72 G02B 6/122

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光ICを使った光ファイバジャイロにお
    いて、 上記光ICのその光導波路と平行な2つの側面及び裏面
    が、光を散乱する程度の粗面とされていることを特徴と
    する光ファイバジャイロ。
  2. 【請求項2】 光ICを使った光ファイバジャイロにお
    いて、 上記光ICのその光導波路と平行な2つの側面及び裏面
    が、光の反射を減らす反射防止膜、又は光を吸収する光
    吸収膜で覆われていることを特徴とする光ファイバジャ
    イロ。
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