JP2782704B2 - 自動抜取り検査方法及びその装置 - Google Patents
自動抜取り検査方法及びその装置Info
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- JP2782704B2 JP2782704B2 JP25922791A JP25922791A JP2782704B2 JP 2782704 B2 JP2782704 B2 JP 2782704B2 JP 25922791 A JP25922791 A JP 25922791A JP 25922791 A JP25922791 A JP 25922791A JP 2782704 B2 JP2782704 B2 JP 2782704B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は自動抜取り検査方法及
びその装置に係り、特にベアリングのニードル等に使用
される小径のピンをセンタレス研削盤で研削した後、研
削された外径寸法を抜き取り測定する自動抜取り検査方
法及びその装置に関する。
びその装置に係り、特にベアリングのニードル等に使用
される小径のピンをセンタレス研削盤で研削した後、研
削された外径寸法を抜き取り測定する自動抜取り検査方
法及びその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】自動抜取り検査装置は、センタレス研削
盤で小径のピン外径を研削されたピンの中からピンを自
動的に抜き取る抜取り手段と、抜き取ったピンの外径寸
法を自動的に測定する測定手段とを備えている。抜取り
手段はセンタレス研削盤で研削されて収容網に落下する
途中の複数のピンから所定量のピンを採集すると共に採
集した所定量のピンを所定位置まで移動する。そして、
抜取り手段は所定位置まで移動した所定量のピンを漏斗
を介して一本づつチューブ内に落下し、チューブの端部
から一本づつ落下するピンを自動的に抜き取る。更に、
抜き取ったピンの外径寸法は測定手段で自動的に測定さ
れる。
盤で小径のピン外径を研削されたピンの中からピンを自
動的に抜き取る抜取り手段と、抜き取ったピンの外径寸
法を自動的に測定する測定手段とを備えている。抜取り
手段はセンタレス研削盤で研削されて収容網に落下する
途中の複数のピンから所定量のピンを採集すると共に採
集した所定量のピンを所定位置まで移動する。そして、
抜取り手段は所定位置まで移動した所定量のピンを漏斗
を介して一本づつチューブ内に落下し、チューブの端部
から一本づつ落下するピンを自動的に抜き取る。更に、
抜き取ったピンの外径寸法は測定手段で自動的に測定さ
れる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、センタ
レス研削盤で研削されたピンは、数本のピンが研削液
（クーラント）で互いに付着されているので、漏斗につ
まりが発生してピンが一本づつチューブ内に落下しなく
なり、ピンを一本づつ自動的に抜き取ることができない
という問題がある。
レス研削盤で研削されたピンは、数本のピンが研削液
（クーラント）で互いに付着されているので、漏斗につ
まりが発生してピンが一本づつチューブ内に落下しなく
なり、ピンを一本づつ自動的に抜き取ることができない
という問題がある。
【０００４】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、ピンの抜取りを確実おこなうことができる自動
抜取り検査方法及びその装置を提供することを目的とす
る。
もので、ピンの抜取りを確実おこなうことができる自動
抜取り検査方法及びその装置を提供することを目的とす
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成する為に、センタレス研削盤で外径が連続的に研削さ
れた複数の被研削部材のなかから所定量の被研削部材を
採集し、該採集した所定量の被研削部材を漏斗を介して
一本づつチューブ内に落下し、該チューブの端部から一
本づつ落下する被研削部材を抜き取って外径寸法を測定
する自動抜取り検査方法において、前記漏斗の周壁に設
けられた複数の吹出し口から、一定のインターバルをお
いて順次エアを吹き出し、研削液で付着している被研削
部材を一本づつ分離して前記チューブ内に落下させるこ
とを特徴とする。
成する為に、センタレス研削盤で外径が連続的に研削さ
れた複数の被研削部材のなかから所定量の被研削部材を
採集し、該採集した所定量の被研削部材を漏斗を介して
一本づつチューブ内に落下し、該チューブの端部から一
本づつ落下する被研削部材を抜き取って外径寸法を測定
する自動抜取り検査方法において、前記漏斗の周壁に設
けられた複数の吹出し口から、一定のインターバルをお
いて順次エアを吹き出し、研削液で付着している被研削
部材を一本づつ分離して前記チューブ内に落下させるこ
とを特徴とする。
【０００６】
【作用】本発明によれば、漏斗の周壁に複数の吹出し口
を設けると共に前記各々の吹出し口に「開放−閉塞」の
切り換え可能な切換え弁を連通した。そして、切換え弁
を一定のインターバルをおいて順次「開放−閉塞」作動
してエア供給源から供給されたエアを各々の吹出し口か
ら一定のインターバルをおいて順次吹き出すように設定
した。これにより、研削液で付着している数本の被研削
部材を一本づつに分離して、分離した被研削部材をチュ
ーブ内に落下することができる。
を設けると共に前記各々の吹出し口に「開放−閉塞」の
切り換え可能な切換え弁を連通した。そして、切換え弁
を一定のインターバルをおいて順次「開放−閉塞」作動
してエア供給源から供給されたエアを各々の吹出し口か
ら一定のインターバルをおいて順次吹き出すように設定
した。これにより、研削液で付着している数本の被研削
部材を一本づつに分離して、分離した被研削部材をチュ
ーブ内に落下することができる。
【０００７】
【実施例】以下添付図面に従って本発明に係る自動抜取
り検査方法及びその装置について詳説する。図１には本
発明に係る自動抜取り検査装置１０の全体図が示されて
いる。自動抜取り検査装置１０は抜取り手段１２及び測
定手段１４を備えていて、抜取り手段１２のロータアク
チュエータ１６は支柱１８を有している。支柱１８には
同軸上に回動軸２０が回動自在に支持されていて、回動
軸２０にはアーム２２の一端部が設けられている。ま
た、アーム２２の他端部には受け皿２４がアーム２２の
軸を中心に回動自在に支持されていて、受け皿２４は網
部材で形成されている。この受け皿２４は回動軸２０の
回動で位置Ａから位置Ｂ間を回動する。
り検査方法及びその装置について詳説する。図１には本
発明に係る自動抜取り検査装置１０の全体図が示されて
いる。自動抜取り検査装置１０は抜取り手段１２及び測
定手段１４を備えていて、抜取り手段１２のロータアク
チュエータ１６は支柱１８を有している。支柱１８には
同軸上に回動軸２０が回動自在に支持されていて、回動
軸２０にはアーム２２の一端部が設けられている。ま
た、アーム２２の他端部には受け皿２４がアーム２２の
軸を中心に回動自在に支持されていて、受け皿２４は網
部材で形成されている。この受け皿２４は回動軸２０の
回動で位置Ａから位置Ｂ間を回動する。
【０００８】受け皿２４の上方にはセンタレス研削盤２
８が設けられている。センタレス研削盤２８は砥石３０
及び調整車３２を備え、この砥石３０及び調整車３２は
前工程から搬送されてきた小径のピン（以下ワークと称
す。）３４、３４…の外径を鏡面状に研削する。研削さ
れたワーク３４、３４…はセンタレス研削盤２８から落
下し、受け皿２４はワーク３４、３４…が落下する位置
Ａに配置されている。従って、位置Ａに配置されている
受け皿２４に研削されたワーク３４、３４…が落下し
て、受け皿２４にワーク３４、３４…が採集される。
８が設けられている。センタレス研削盤２８は砥石３０
及び調整車３２を備え、この砥石３０及び調整車３２は
前工程から搬送されてきた小径のピン（以下ワークと称
す。）３４、３４…の外径を鏡面状に研削する。研削さ
れたワーク３４、３４…はセンタレス研削盤２８から落
下し、受け皿２４はワーク３４、３４…が落下する位置
Ａに配置されている。従って、位置Ａに配置されている
受け皿２４に研削されたワーク３４、３４…が落下し
て、受け皿２４にワーク３４、３４…が採集される。
【０００９】また、受け皿２４が位置Ａから１８０°回
動した位置Ｂの下方には、分離装置３６が設けられてい
る。そして、位置Ｂに配置された漏斗２４がアーム２２
の軸を中心に回動すると、受け皿２４内に採集されてい
るワーク３４、３４…が分離装置３６内に落下する。図
３に示すように分離装置３６は筒体３７Ａと逆円錐形の
漏斗３７Ｂとを備えている。筒体３７Ａの周壁には筒体
３７Ａと同軸方向に吹出し孔３９Ａ、３９Ｂ、３９Ｃが
それぞれ１２０°の間隔をおいて形成されていて（図４
参照）、吹出し孔３９Ａ、３９Ｂ、３９Ｃの下端部は漏
斗３７Ｂの上端部に開口している。更に、吹出し孔３９
Ａ、３９Ｂ、３９Ｃの上端部にはエア供給管４１Ａ、４
１Ｂ、４１Ｃが連通されている（図４参照）。
動した位置Ｂの下方には、分離装置３６が設けられてい
る。そして、位置Ｂに配置された漏斗２４がアーム２２
の軸を中心に回動すると、受け皿２４内に採集されてい
るワーク３４、３４…が分離装置３６内に落下する。図
３に示すように分離装置３６は筒体３７Ａと逆円錐形の
漏斗３７Ｂとを備えている。筒体３７Ａの周壁には筒体
３７Ａと同軸方向に吹出し孔３９Ａ、３９Ｂ、３９Ｃが
それぞれ１２０°の間隔をおいて形成されていて（図４
参照）、吹出し孔３９Ａ、３９Ｂ、３９Ｃの下端部は漏
斗３７Ｂの上端部に開口している。更に、吹出し孔３９
Ａ、３９Ｂ、３９Ｃの上端部にはエア供給管４１Ａ、４
１Ｂ、４１Ｃが連通されている（図４参照）。
【００１０】エア供給管４１Ａ、４１Ｂ、４１Ｃにはそ
れぞれ第１、第２、第３のソレノイドバルブ４３Ａ、４
３Ｂ、４３Ｃが設けられ、これらのソレノイドバルブ４
３Ａ、４３Ｂ、４３Ｃはエア供給源４５に連通されてい
る。第１、第２、第３のソレノイドバルブ４３Ａ、４３
Ｂ、４３Ｃは「開放−閉塞」の切り換え可能に構成され
ている。そして、第１、第２、第３のソレノイドバルブ
４３Ａ、４３Ｂ、４３Ｃが開放されると、エア供給源４
５から供給されたエアは吹出し孔３９Ａ、３９Ｂ、３９
Ｃの下端部から漏斗３７Ｂの上端部に吹き出される。
れぞれ第１、第２、第３のソレノイドバルブ４３Ａ、４
３Ｂ、４３Ｃが設けられ、これらのソレノイドバルブ４
３Ａ、４３Ｂ、４３Ｃはエア供給源４５に連通されてい
る。第１、第２、第３のソレノイドバルブ４３Ａ、４３
Ｂ、４３Ｃは「開放−閉塞」の切り換え可能に構成され
ている。そして、第１、第２、第３のソレノイドバルブ
４３Ａ、４３Ｂ、４３Ｃが開放されると、エア供給源４
５から供給されたエアは吹出し孔３９Ａ、３９Ｂ、３９
Ｃの下端部から漏斗３７Ｂの上端部に吹き出される。
【００１１】漏斗３７Ｂの尖鋭部にはチューブ３７Ｃが
一体形成され、チューブ３７Ｃは筒体３７Ａと同軸に下
方向に延長している。チューブ３７Ｃの内径はワーク３
４の外径より僅かに大きく形成されている。従って、吹
出し孔３９Ａ、３９Ｂ、３９Ｃの下端部から漏斗３７Ｂ
の上端部にエアが吹き出されると、漏斗３７Ｂ内のワー
ク３４、３４…にエアがかかり、ワーク３４、３４…が
漏斗３７Ｂ内で浮き上がる。
一体形成され、チューブ３７Ｃは筒体３７Ａと同軸に下
方向に延長している。チューブ３７Ｃの内径はワーク３
４の外径より僅かに大きく形成されている。従って、吹
出し孔３９Ａ、３９Ｂ、３９Ｃの下端部から漏斗３７Ｂ
の上端部にエアが吹き出されると、漏斗３７Ｂ内のワー
ク３４、３４…にエアがかかり、ワーク３４、３４…が
漏斗３７Ｂ内で浮き上がる。
【００１２】また、図１に示すようにチューブ３７Ｃ内
の下方にはチャック４０、４２、４４が縦方向に配置さ
れている。チャック４０、４２、４４は同一部材で構成
されているので、構成についてはチャック４０で説明し
てチャック４２、４４についての説明は省略する。チャ
ック４０は対向して配設された一対のチャック片で構成
され、一対のチャック片は開口位置と閉塞位置間を移動
するように構成されている。この一対のチャック片が開
口位置にある時、チャック４０の開口部はワーク３４の
外径より大きくなるように設定されている。従って、チ
ャック４０が開口位置にある時落下しているワーク３４
はチャック４０の開口部を通過し、チャック４０が閉塞
位置にある時落下しているワーク３４はチャックに当接
して停止する。
の下方にはチャック４０、４２、４４が縦方向に配置さ
れている。チャック４０、４２、４４は同一部材で構成
されているので、構成についてはチャック４０で説明し
てチャック４２、４４についての説明は省略する。チャ
ック４０は対向して配設された一対のチャック片で構成
され、一対のチャック片は開口位置と閉塞位置間を移動
するように構成されている。この一対のチャック片が開
口位置にある時、チャック４０の開口部はワーク３４の
外径より大きくなるように設定されている。従って、チ
ャック４０が開口位置にある時落下しているワーク３４
はチャック４０の開口部を通過し、チャック４０が閉塞
位置にある時落下しているワーク３４はチャックに当接
して停止する。
【００１３】そして、チャック４２がワーク３４を挟持
し、チャック４０、４４がワーク３４を停止または落下
する。チャック４２がワーク３４を挟持する場合、チャ
ック４０、４２をそれぞれ開口位置に保持すると共にチ
ャック４４を閉塞位置に保持する。これにより、案内部
３６Ｂの下端から落下したワーク３４はチャック４０、
４２を通過して、チャック４４に当接して停止する。ワ
ーク３４が停止するとチャック４２が閉塞位置の方向に
移動してワーク３４を挟持する。
し、チャック４０、４４がワーク３４を停止または落下
する。チャック４２がワーク３４を挟持する場合、チャ
ック４０、４２をそれぞれ開口位置に保持すると共にチ
ャック４４を閉塞位置に保持する。これにより、案内部
３６Ｂの下端から落下したワーク３４はチャック４０、
４２を通過して、チャック４４に当接して停止する。ワ
ーク３４が停止するとチャック４２が閉塞位置の方向に
移動してワーク３４を挟持する。
【００１４】また、チャック４２は移動手段（図示せ
ず）に設けられていて、これにより、チャック４２は後
述する測定手段１４までスライド移動する。図２に示す
ように測定手段１４は投光部５０及び受光部５２を有
し、投光部５０と受光部５２とは支持板５４の両端部に
設けられている。そして、チャック４２が投光部５０、
受光部５２間の略中央の位置までスライド移動される。
従って、チャック４２に挟持されているワーク３４に投
光部５０から光が投光され、投光された光は受光部５２
に受光される。これにより、チャック４２に挟持された
ワーク３４の外径が測定される。
ず）に設けられていて、これにより、チャック４２は後
述する測定手段１４までスライド移動する。図２に示す
ように測定手段１４は投光部５０及び受光部５２を有
し、投光部５０と受光部５２とは支持板５４の両端部に
設けられている。そして、チャック４２が投光部５０、
受光部５２間の略中央の位置までスライド移動される。
従って、チャック４２に挟持されているワーク３４に投
光部５０から光が投光され、投光された光は受光部５２
に受光される。これにより、チャック４２に挟持された
ワーク３４の外径が測定される。
【００１５】尚、図１上で６０は研削液を貯留する容器
であり、６２は研削されたワーク３４、３４…を受ける
網状の受け籠である。このように構成された本願発明に
係る自動抜取り検査装置の作用について説明する。先
ず、センタレス研削盤２８の砥石３０及び調整車３２で
前工程から搬送されてきたワーク３４、３４…の外径を
鏡面状に研削し、研削されたワーク３４、３４…はセン
タレス研削盤２８から網状の受け籠６２内に落下する。
この状態で、回動軸２０を受け皿２４が位置Ａ（すなわ
ち、砥石３０及び調整車３２で研削されたワーク３４、
３４…が落下する位置）に位置するまで回動して受け皿
２４でセンタレス研削盤２８から落下するワーク３４、
３４…を採集する。採集された数本のワーク３４、３４
…は研削液（クーラント）で互いに付着されている。
であり、６２は研削されたワーク３４、３４…を受ける
網状の受け籠である。このように構成された本願発明に
係る自動抜取り検査装置の作用について説明する。先
ず、センタレス研削盤２８の砥石３０及び調整車３２で
前工程から搬送されてきたワーク３４、３４…の外径を
鏡面状に研削し、研削されたワーク３４、３４…はセン
タレス研削盤２８から網状の受け籠６２内に落下する。
この状態で、回動軸２０を受け皿２４が位置Ａ（すなわ
ち、砥石３０及び調整車３２で研削されたワーク３４、
３４…が落下する位置）に位置するまで回動して受け皿
２４でセンタレス研削盤２８から落下するワーク３４、
３４…を採集する。採集された数本のワーク３４、３４
…は研削液（クーラント）で互いに付着されている。
【００１６】採集完了後、回動軸２０を１８０°回動し
て受け皿２４を位置Ｂまで回動し、位置Ｂに配置された
受け皿２４をアーム２２の軸を中心に回動する。これに
より、受け皿２４内に採集されたワーク３４、３４…が
分離装置３６の筒体３７Ａを介して漏斗３７Ｂ内に落下
する。この場合、第１、第２、第３のソレノイドバルブ
４３Ａ、４３Ｂ、４３Ｃは図５に示すように一定のイン
ターバルで「開放−閉塞」作動している。すなわち、第
１のソレノイドバルブ４３Ａが「開放」から「閉塞」に
なると同時に第２のソレノイドバルブ４３Ｂが「開放」
になり、第２のソレノイドバルブ４３Ｂが「開放」から
「閉塞」になると同時に第３のソレノイドバルブ４３Ｃ
が「開放」になる。そして、第３のソレノイドバルブ４
３Ｃが「開放」から「閉塞」になると、Ｔ秒後（Ｔ秒は
約１秒以下に設定されるが、１秒以上であってもよ
い。）に第１のソレノイドバルブ４３Ａが「開放」な
る。以下順次上述した作動を繰り返す。
て受け皿２４を位置Ｂまで回動し、位置Ｂに配置された
受け皿２４をアーム２２の軸を中心に回動する。これに
より、受け皿２４内に採集されたワーク３４、３４…が
分離装置３６の筒体３７Ａを介して漏斗３７Ｂ内に落下
する。この場合、第１、第２、第３のソレノイドバルブ
４３Ａ、４３Ｂ、４３Ｃは図５に示すように一定のイン
ターバルで「開放−閉塞」作動している。すなわち、第
１のソレノイドバルブ４３Ａが「開放」から「閉塞」に
なると同時に第２のソレノイドバルブ４３Ｂが「開放」
になり、第２のソレノイドバルブ４３Ｂが「開放」から
「閉塞」になると同時に第３のソレノイドバルブ４３Ｃ
が「開放」になる。そして、第３のソレノイドバルブ４
３Ｃが「開放」から「閉塞」になると、Ｔ秒後（Ｔ秒は
約１秒以下に設定されるが、１秒以上であってもよ
い。）に第１のソレノイドバルブ４３Ａが「開放」な
る。以下順次上述した作動を繰り返す。
【００１７】従って、エア供給源４５から供給されたエ
アは、吹出し孔３９Ａ、３９Ｂ、３９Ｃの下端部から前
述した一定のインターバルで漏斗３７Ｂの上端部に吹き
出される。そして、一定のインターバルで漏斗３７Ｂの
上端部にエアが吹き出されると、ワーク３４、３４…が
漏斗３７Ｂ内で移動して、研削用のクーラントで互いに
付着していたワーク３４、３４…を１本づつに分離す
る。１本づつに分離されたワーク３４、３４…は一本づ
つチューブ３７Ｃ内に供給されてチューブ３７Ｃの下端
から落下する。
アは、吹出し孔３９Ａ、３９Ｂ、３９Ｃの下端部から前
述した一定のインターバルで漏斗３７Ｂの上端部に吹き
出される。そして、一定のインターバルで漏斗３７Ｂの
上端部にエアが吹き出されると、ワーク３４、３４…が
漏斗３７Ｂ内で移動して、研削用のクーラントで互いに
付着していたワーク３４、３４…を１本づつに分離す
る。１本づつに分離されたワーク３４、３４…は一本づ
つチューブ３７Ｃ内に供給されてチューブ３７Ｃの下端
から落下する。
【００１８】この場合、チャック４０、４２をそれぞれ
開口位置に保持すると共にチャック４４を閉塞位置に保
持すると、チューブ３６Ｂの下端から落下したワーク３
４はチャック４０、４２を通過して、チャック４４に当
接して停止する。そして、ワーク３４が停止した後、チ
ャック４２を閉塞位置の方向に移動してワーク３４を挟
持する。
開口位置に保持すると共にチャック４４を閉塞位置に保
持すると、チューブ３６Ｂの下端から落下したワーク３
４はチャック４０、４２を通過して、チャック４４に当
接して停止する。そして、ワーク３４が停止した後、チ
ャック４２を閉塞位置の方向に移動してワーク３４を挟
持する。
【００１９】次いで、移動手段（図示せず）でチャック
４２を投光部５０、受光部５２間の略中央の位置までス
ライド移動する。従って、チャック４２に挟持されてい
るワーク３４に投光部５０から光が投光され、投光され
た光は受光部５２に受光される。これにより、ワーク３
４の外径が測定される。測定完了後、チャック４２を開
口してワーク３４を下方に落下する。
４２を投光部５０、受光部５２間の略中央の位置までス
ライド移動する。従って、チャック４２に挟持されてい
るワーク３４に投光部５０から光が投光され、投光され
た光は受光部５２に受光される。これにより、ワーク３
４の外径が測定される。測定完了後、チャック４２を開
口してワーク３４を下方に落下する。
【００２０】続いて、移動手段（図示せず）を作動して
チャック４２をチャック４０、４４間にリターンして、
前述した工程を順次切り返して新たなワーク３４の外径
を測定する。このようにして測定されたワーク３４の外
径寸法に基づいてワーク３４の外径寸法が設定された許
容範囲内に入るようにセンタレス研削盤２８の切込み量
を調整する。
チャック４２をチャック４０、４４間にリターンして、
前述した工程を順次切り返して新たなワーク３４の外径
を測定する。このようにして測定されたワーク３４の外
径寸法に基づいてワーク３４の外径寸法が設定された許
容範囲内に入るようにセンタレス研削盤２８の切込み量
を調整する。
【００２１】前記実施例ではエア供給源４５から供給さ
れたエアを３箇所の吹出し孔３９Ａ、３９Ｂ、３９Ｃか
ら一定のインターバルで吹き出したが、これに限らず、
複数箇所の吹出し孔から一定のインターバルで吹き出し
てもよい。前記実施例では非接触式の光学測定手段１４
でワーク３４の外径を測定したが、これに限らず、接触
式等の他の測定手段を使用してもよい。
れたエアを３箇所の吹出し孔３９Ａ、３９Ｂ、３９Ｃか
ら一定のインターバルで吹き出したが、これに限らず、
複数箇所の吹出し孔から一定のインターバルで吹き出し
てもよい。前記実施例では非接触式の光学測定手段１４
でワーク３４の外径を測定したが、これに限らず、接触
式等の他の測定手段を使用してもよい。
【００２２】また、前記実施例ではエア供給源４５から
供給されたエアを吹出し孔３９Ａ、３９Ｂ、３９Ｃの下
端部から一定のインターバルで漏斗３７Ｂの上端部に吹
き出して、研削用のクーラントで付着しているワーク３
４、３４…同士を１本づつに分離したが、これに限ら
ず、図６に示すように漏斗３７Ｂ内に攪拌用のボール７
０を設けてもよい。この場合、攪拌用のボール７０はプ
ラスチック材で形成され、またボール７０の直径はチュ
ーブ３７Ｃの内径より大きく設定されている。そして、
ボール７０が吹出し孔３９Ａ、３９Ｂ、３９Ｃから吹き
出されたエアで漏斗３７Ｂ内で動き回るので、研削用の
クーラントで付着しているワーク３４、３４…は１本づ
つに分離される。
供給されたエアを吹出し孔３９Ａ、３９Ｂ、３９Ｃの下
端部から一定のインターバルで漏斗３７Ｂの上端部に吹
き出して、研削用のクーラントで付着しているワーク３
４、３４…同士を１本づつに分離したが、これに限ら
ず、図６に示すように漏斗３７Ｂ内に攪拌用のボール７
０を設けてもよい。この場合、攪拌用のボール７０はプ
ラスチック材で形成され、またボール７０の直径はチュ
ーブ３７Ｃの内径より大きく設定されている。そして、
ボール７０が吹出し孔３９Ａ、３９Ｂ、３９Ｃから吹き
出されたエアで漏斗３７Ｂ内で動き回るので、研削用の
クーラントで付着しているワーク３４、３４…は１本づ
つに分離される。
【００２３】尚、本実施例では攪拌用のボール７０を使
用したが、これに限らず、その他の形状の攪拌片を使用
してもよい。
用したが、これに限らず、その他の形状の攪拌片を使用
してもよい。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る自動抜
取り検査方法及びその装置によれば、切換え弁を一定の
インターバルをおいて順次「開放−閉塞」の切り換え作
動してエア供給源から供給されたエアを各々の吹出し口
から一定のインターバルをおいて順次吹き出すように設
定した。これにより、研削液で付着している数本の被研
削部材を一本づつに分離して、分離した被研削部材をチ
ューブ内に落下することができるので、被研削部材の抜
取りを確実おこなうことができる。
取り検査方法及びその装置によれば、切換え弁を一定の
インターバルをおいて順次「開放−閉塞」の切り換え作
動してエア供給源から供給されたエアを各々の吹出し口
から一定のインターバルをおいて順次吹き出すように設
定した。これにより、研削液で付着している数本の被研
削部材を一本づつに分離して、分離した被研削部材をチ
ューブ内に落下することができるので、被研削部材の抜
取りを確実おこなうことができる。
【図１】本発明に係る自動抜取り検査装置の全体概略図
【図２】本発明に係る自動抜取り検査装置に使用されて
いる測定手段の概略図
いる測定手段の概略図
【図３】本発明に係る自動抜取り検査装置に使用されて
いる分離装置の断面図
いる分離装置の断面図
【図４】本発明に係る自動抜取り検査装置に使用されて
いる分離装置の概略平面図
いる分離装置の概略平面図
【図５】本発明に係る自動抜取り検査装置に使用されて
いる分離装置の作動状態を説明するタイミングチャート
いる分離装置の作動状態を説明するタイミングチャート
【図６】本発明に係る自動抜取り検査装置に使用されて
いる分離装置の他の実施例を示す断面図
いる分離装置の他の実施例を示す断面図
１０…自動抜取り検査装置 ２８…センタレス研削盤 ３６…分離装置 ３７Ｂ…漏斗 ３７Ｃ…チューブ ３４…ワーク ３９Ａ、３９Ｂ、３９Ｃ…吹出し孔 ４３Ａ、４３Ｂ、４３Ｃ…ソレノイドバルブ ４５…エア供給源
Claims (4)
- 【請求項１】 センタレス研削盤で外径が連続的に研削
された複数の被研削部材のなかから所定量の被研削部材
を採集し、該採集した所定量の被研削部材を漏斗を介し
て一本づつチューブ内に落下し、該チューブの端部から
一本づつ落下する被研削部材を抜き取って外径寸法を測
定する自動抜取り検査方法において、 前記漏斗の周壁に設けられた複数の吹出し口から、一定
のインターバルをおいて順次エアを吹き出し、 研削液で付着している被研削部材を一本づつ分離して前
記チューブ内に落下させることを特徴とする自動抜取り
検査方法。 - 【請求項２】 センタレス研削盤で外径が連続的に研削
された複数の被研削部材のなかから所定量の被研削部材
を採集し、該採集した所定量の被研削部材を漏斗を介し
て一本づつチューブ内に落下し、該チューブの端部から
一本づつ落下する被研削部材を抜き取って外径寸法を測
定する自動抜取り検査方法において、 ポッパ内に予め攪拌片を配置し、 前記漏斗の周壁に設けられた吹出し口からエアを吹き出
して攪拌片を前記漏斗内で運動させ、 研削液で付着している被研削部材を運動中の前記攪拌片
で一本づつ分離して前記チューブ内に落下させることを
特徴とする自動抜取り検査方法。 - 【請求項３】 センタレス研削盤で外径が連続的に研削
された複数の被研削部材のなかから所定量の被研削部材
を採集し、該採集した所定量の被研削部材を漏斗を介し
て一本づつチューブ内に落下し、該チューブの端部から
一本づつ落下する被研削部材を抜き取って外径寸法を測
定する自動抜取り検査装置において、 前記漏斗の周壁に複数の吹出し口を設けると共に前記各
々の吹出し口に開閉切り換え可能な切換え弁を連通し、 該切換え弁を一定のインターバルをおいて順次開閉作動
してエア供給源から供給されたエアを各々の吹出し口か
ら一定のインターバルをおいて順次吹き出し、 研削液で付着している被研削部材を一本づつ分離して前
記チューブ内に落下させることを特徴とする自動抜取り
検査装置。 - 【請求項４】 センタレス研削盤で外径が連続的に研削
された複数の被研削部材のなかから所定量の被研削部材
を採集し、該採集した所定量の被研削部材を漏斗を介し
て一本づつチューブ内に落下し、該チューブの端部から
一本づつ落下する被研削部材を抜き取って外径寸法を測
定する自動抜取り検査装置において、 前記漏斗の周壁に吹出し口を設けると共に直径寸法が前
記チューブの内径寸法より大きい攪拌片を前記漏斗内に
配置し、 前記吹出し口からエアを吹き出して前記攪拌片を漏斗内
で移動し、 研削液で付着している被研削部材を前記攪拌片で一本づ
つ分離して前記チューブ内に落下させることを特徴とす
る自動抜取り検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25922791A JP2782704B2 (ja) | 1991-10-07 | 1991-10-07 | 自動抜取り検査方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25922791A JP2782704B2 (ja) | 1991-10-07 | 1991-10-07 | 自動抜取り検査方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0596469A JPH0596469A (ja) | 1993-04-20 |
| JP2782704B2 true JP2782704B2 (ja) | 1998-08-06 |
Family
ID=17331173
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25922791A Expired - Fee Related JP2782704B2 (ja) | 1991-10-07 | 1991-10-07 | 自動抜取り検査方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2782704B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4716502B2 (ja) * | 2006-01-24 | 2011-07-06 | 四電エンジニアリング株式会社 | 振動式エアー選別機 |
| CN104493684B (zh) * | 2014-12-16 | 2016-10-05 | 天津大学 | 一种圆柱形零件研磨设备及其工件推进装置和研磨方法 |
-
1991
- 1991-10-07 JP JP25922791A patent/JP2782704B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0596469A (ja) | 1993-04-20 |
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